TWI840862B - 用於提供字元線電壓的電壓調節器 - Google Patents

Abstract

本揭露提供一種用於提供字元線電壓的電壓調節器。電壓調節器包括分壓器、比較器、升壓電路和旁路電晶體。分壓器耦接在字元線電壓與低參考電壓之間。分壓器包括在中間節點處串聯連接的電阻性元件。比較器根據中間節點當中的經分壓中間節點上的經分壓電壓值提供啟用訊號。升壓電路反應於啟用訊號而升壓字元線電壓。旁路電晶體的源極端連接到中間節點當中的第一中間節點。旁路電晶體的汲極端連接到中間節點當中的第二中間節點。旁路電晶體反應於具有在第一中間節點上的中間電壓值的控制訊號而被斷開。

Description

用於提供字元線電壓的電壓調節器

本揭露是有關於一種電壓調節器，且更確切地說，涉及一種用於提供字元線電壓的電壓調節器。

圖1示出根據先前實施例的電壓調節器的示意圖。電壓調節器10提供用於記憶體裝置（例如，動態隨機存取記憶體（dynamic random access memory；DRAM）裝置）的字元線電壓VCCP。電壓調節器10包括分壓器VD和升壓電路BC。分壓器VD包括在中間節點ND1、中間節點ND2和中間節點ND3處串聯連接的電阻器R1到電阻器R4。分壓器VD分壓字元線電壓VCCP以在中間節點ND3上產生經分壓電壓V3。經分壓電壓V3的電壓值與字元線電壓VCCP的電壓值相關聯。升壓電路BC根據經分壓電壓V3調整字元線電壓VCCP。因此，電壓調節器10穩定字元線電壓VCCP的電壓值。

為了避免字元線電壓VCCP基於工藝變化超出預設裝置規格的風險，電壓調節器10需要旁路電晶體PT來調整中間節點ND1、中間節點ND2之間的電阻值。如果旁路電晶體PT由低參考電壓VSS接通，那麼旁路電阻器R2。如果旁路電晶體PT由字元線電壓VCCP斷開，那麼不旁路電阻器R2。因此，關於字元線電壓VCCP的電壓值的調整餘量能夠被放大。

然而，當旁路電晶體PT被斷開時，閘極誘發汲極洩漏（gate induced drain leakage；GIDL）效應引起旁路電晶體PT的汲極端上的電荷流向旁路電晶體PT的基極端。此GIDL效應升高中間節點ND2上的電壓值V2。經分壓電壓V3的電壓值也被升高。因此，升壓電路BC基於經分壓電壓V3的電壓值的以上異常而執行誤操作。字元線電壓VCCP將不能夠達到裝置規格。

本揭露提供一種用於減小旁路電晶體的閘極誘發汲極洩漏（gate induced drain leakage；GIDL）效應的電壓調節器。

本揭露提供一種用於提供字元線電壓的電壓調節器。電壓調節器包括分壓器、比較器、升壓電路和旁路電晶體。分壓器耦接在字元線電壓與低參考電壓之間。分壓器包括在多個中間節點上串聯連接的多個電阻性元件。比較器連接到多個中間節點當中的經分壓中間節點。比較器根據經分壓中間節點上的經分壓電壓值提供啟用訊號。升壓電路耦接到比較器。升壓電路反應於啟用訊號而升壓字元線電壓。旁路電晶體的源極端連接到多個中間節點當中的第一中間節點。旁路電晶體的汲極端連接到多個中間節點當中的第二中間節點。旁路電晶體的閘極端接收控制訊號。旁路電晶體反應於具有在第一中間節點上的中間電壓值的控制訊號而被斷開。

基於以上描述，旁路電晶體反應於具有在第一中間節點上的中間電壓值的控制訊號而被斷開。中間電壓值低於字元線電壓的電壓值。因此，可減小旁路電晶體的GIDL效應。

為了使前述內容更易於理解，下文詳細地描述附有圖式的若干實施例。

本發明的部份實施例接下來將會配合附圖來詳細描述，以下的描述所引用的元件符號，當不同附圖出現相同的元件符號將視為相同或相似的元件。這些實施例只是本發明的一部份，並未揭示所有本發明的可實施方式。更確切的說，這些實施例只是本發明的專利申請範圍中的範例。

某些術語在整個描述和以下權利要求書中用於指代特定元件。如本領域技術人員將理解，電子設備製造商可用不同名稱來指代元件。本文檔並不意圖對名稱不同而非功能不同的元件進行區分。在以下描述中和在權利要求書中，術語“包含”、“包括”和“具有”以開放式方式使用，且因此應解釋為意指“包含但不限於……”因此，當在本揭露的描述中使用術語“包含”、“包括”和/或“具有”時，將表明存在對應特徵、區域、步驟、操作和/或元件，但不限於存在一個或多個對應特徵、區域、步驟、操作和/或組件。

應理解，當元件稱為“耦接到”、“連接到”或“傳導到”另一元件時，所述元件可直接連接到另一元件且建立直接電連接，或在這些元件之間可存在中間元件以用於中繼電連接（間接電連接）。相比之下，當元件稱為“直接耦接到”、“直接傳導到”或“直接連接到”另一元件時，不存在中間元件。

儘管例如第一、第二、第三等術語可用於描述不同組成元件，但此類組成元件不受這些術語限制。術語僅用於將說明書中的組成元件與其它組成元件區別開。權利要求書可不使用相同術語，而是可相對於元件所要求的順序使用術語第一、第二、第三等。因此，在以下描述中，第一組成元件可為權利要求中的第二組成元件。

圖2示出根據本揭露的第一實施例的電壓調節器的示意圖。參考圖2，電壓調節器100用於提供字元線電壓VCCP。字元線電壓VCCP可用於記憶體裝置。舉例來說，字元線電壓VCCP用於動態隨機存取記憶體（DRAM）裝置。在本實施例中，電壓調節器100包括分壓器110、比較器120、升壓電路130和旁路電晶體140。分壓器110耦接在字元線電壓VCCP與低參考電壓VSS之間。分壓器110包括電阻性元件R1、電阻性元件R2、電阻性元件R3和電阻性元件R4。電阻性元件R1、電阻性元件R2、電阻性元件R3和電阻性元件R4串聯連接在中間節點ND1、中間節點ND2和中間節點ND3上。在本實施例中，電阻性元件R1連接在字元線電壓VCCP與中間節點ND1之間。電阻性元件R2連接在中間節點ND1與中間節點ND2之間。電阻性元件R3連接在中間節點ND2與中間節點ND3之間。電阻性元件R4連接在中間節點ND3與低參考電壓VSS之間。分壓器110分壓字元線電壓VCCP的電壓值以在經分壓中間節點上產生經分壓電壓值DV。經分壓中間節點為中間節點ND3。

在本實施例中，比較器120連接到中間節點ND3。比較器120根據中間節點ND3上的經分壓電壓值DV提供啟用訊號EN。升壓電路130耦接到比較器120。升壓電路130從比較器120接收啟用訊號EN。升壓電路130反應於啟用訊號EN而升壓字元線電壓VCCP。

在本實施例中，比較器120比較經分壓電壓值DV與參考電壓值VREF，且根據經分壓電壓值DV與參考電壓值VREF之間的比較結果決定啟用訊號EN的電壓值。舉例來說，經分壓電壓值DV與字元線電壓VCCP的電壓值正相關。當經分壓電壓值DV低於參考電壓值VREF時，比較器120可提供具有高電壓值的啟用訊號EN。此比較結果指示字元線電壓VCCP的電壓值低於預設電壓值。因此，升壓電路130反應于具有高電壓值的啟用訊號EN而對字元線電壓VCCP進行升壓。當經分壓電壓值DV高於或等於參考電壓值VREF時，比較器120可提供具有低電壓值的啟用訊號EN。此比較結果指示字元線電壓VCCP的電壓值足夠。因此，升壓電路130反應於具有低電壓值的啟用訊號EN而停止對字元線電壓VCCP進行升壓。

在本實施例中，旁路電晶體140可為PMOS電晶體。旁路電晶體140的源極端S連接到中間節點ND1。旁路電晶體140的汲極端D連接到中間節點ND2。旁路電晶體140的閘極端G接收控制訊號SC。旁路電晶體140反應於具有低參考電壓VSS的電壓值的控制訊號SC而被接通。因此，電阻性元件R2被旁路（bypassed）。旁路電晶體140反應於具有在中間節點ND1上的中間電壓值V1的控制訊號SC而被斷開。

應注意，旁路電晶體140通過中間電壓值V1被斷開。中間電壓值V1低於字元線電壓VCCP的電壓值。因此，旁路電晶體140的閘極所誘發的汲極洩漏（gate induced drain leakage；GIDL）效應能夠被減小。

舉例來說，字元線電壓VCCP的電壓值為3伏特。中間節點ND1上的中間電壓值V1為1伏特。中間節點ND2上的中間電壓值V2為0.8伏特。中間電壓值V1與中間電壓值V2之間的電壓差為0.2伏特。所述電壓差比字元線電壓VCCP的電壓值與中間電壓值V2（2.2伏特）之間的電壓差低得多。因此，旁路電晶體140的GIDL效應能夠被減小。旁路電晶體140的汲極端D上的電荷不流向旁路電晶體140的基極端。因此，當旁路電晶體140被斷開時，中間電壓值V2不因為GIDL效應而被偏移。

在一些實施例中，旁路電晶體140的源極端S連接到中間節點ND2。旁路電晶體140的汲極端D連接到中間節點ND3。旁路電晶體140的閘極端G接收控制訊號SC。旁路電晶體140反應於具有低參考電壓VSS的電壓值的控制訊號SC而被接通。因此，電阻性元件R3被旁路。旁路電晶體140反應於具有在中間節點ND1上的中間電壓值V1的控制訊號SC而被斷開。

在本實施例中，比較器120的反相端連接到中間節點ND3。比較器120的非反相端連接到參考電壓值VREF。比較器120的輸出端耦接到升壓電路。

在本實施例中，電阻性元件R1、電阻性元件R2、電阻性元件R3和電阻性元件R4中的每一個為提供電阻值的元件。電阻性元件R1、電阻性元件R2、電阻性元件R3和電阻性元件R4中的每一個可由電阻器或至少一個電晶體實施。此外，為了促進對本揭露的精神的描述，將4個電阻性元件R1、電阻性元件R2、電阻性元件R3和電阻性元件R4用作本實施例中的實例。本揭露不限於本實施例中的電阻性元件的數目。在本揭露中，電阻性元件的數目大於2。

圖3示出根據本揭露的第二實施例的電壓調節器的示意圖。參考圖3，在本實施例中，電壓調節器200包括分壓器110、比較器120、升壓電路230和旁路電晶體240。分壓器110和比較器120的操作可通過參考圖2的相關描述來獲知，故不在此重述。

在本實施例中，旁路電晶體240為PMOS電晶體。第一中間節點ND1上的中間電壓值V1高於第二中間節點ND2上的中間電壓值V2。旁路電晶體240的源極端S連接到中間節點ND1。旁路電晶體240的汲極端D連接到中間節點ND2。旁路電晶體240的閘極端G接收控制訊號SC。旁路電晶體240反應於具有低參考電壓VSS的電壓值的控制訊號SC而被接通。因此，電阻性元件R2被旁路。旁路電晶體240反應於具有在中間節點ND1上的中間電壓值V1的控制訊號SC被斷開。

此外，為了避免旁路電晶體240的鎖存效應（latch-up effect）和本體效應（body effect），旁路電晶體240的基極端接收中間電壓值V1。換句話說，基極端連接到中間節點ND1。

在本實施例中，升壓電路230包括振盪器231和電荷泵電路232。振盪器231耦接到比較器120。振盪器231反應於啟用訊號EN的預設電壓值而產生振盪訊號OSC。電荷泵電路232耦接到振盪器231。電荷泵電路232反應於振盪訊號OSC而對字元線電壓VCCP進行升壓。

舉例來說，當經分壓電壓值DV低於參考電壓值VREF時，比較器120提供具有高電壓值（即，預設電壓值）的啟用訊號EN。振盪器231經啟用以反應于具有高電壓值的啟用訊號EN而產生振盪訊號OSC。電荷泵電路232接收振盪訊號OSC且對字元線電壓VCCP進行升壓。因此，字元線電壓VCCP的電壓值被電荷泵電路232抬升。另一方面，當經分壓電壓值DV高於或等於參考電壓值VREF時，比較器120提供具有低電壓值的啟用訊號EN。此比較結果指示字元線電壓VCCP的電壓值是足夠高的。因此，升壓電路230反應於具有低電壓值的啟用訊號EN而停止對字元線電壓VCCP進行升壓。振盪器231未被啟用且停止產生振盪訊號OSC。停用電荷泵電路232。因此，字元線電壓VCCP的電壓值並未被升壓。

在本實施例中，電壓調節器200更包括位準移位電路250。位準移位電路250耦接到旁路電晶體240的閘極端。位準移位電路250反應於具有第一值的設定訊號TM而產生具有中間電壓值V1的控制訊號SC，且反應於具有第二值的設定訊號TM而產生具有低參考電壓VSS的電壓值的控制訊號SC。在本實施例中，位準移位電路250的設定端用於接收設定訊號TM。位準移位電路250的高參考端接收中間電壓值V1。位準移位電路250的低參考端接收低參考電壓VSS。位準移位電路250的輸出端用於輸出控制訊號SC。在一些實施例中，位準移位電路250的高參考端可耦接到中間節點ND1。

設定訊號TM為數字代碼或用訊號表示電壓。舉例來說，位準移位電路250反應於具有值“1”的設定訊號TM而產生具有中間電壓值V1的控制訊號SC。因此，斷開旁路電晶體240。另一方面，位準移位電路250反應於具有值“0”的設定訊號TM而產生具有低參考電壓VSS的電壓值的控制訊號SC。因此，接通旁路電晶體240，使旁路電阻性元件R2。

圖4示出根據本揭露的第三實施例的電壓調節器的示意圖。參考圖4，在本實施例中，電壓調節器300包括分壓器110、比較器120、升壓電路130、旁路電晶體340_1、旁路電晶體340_2和位準移位電路350_1、位準移位電路350_2。分壓器110、比較器120以及升壓電路130的操作可通過參考圖2和圖3的相關描述來獲知，故不在此重述

在本實施例中，旁路電晶體340_1和旁路電晶體340_2中的每一個為PMOS電晶體。中間電壓值V1高於中間電壓值V2。中間電壓值V2高於第二中間節點ND3上的中間電壓值V3。旁路電晶體340_1的源極端S連接到中間節點ND1。旁路電晶體340_1的汲極端D連接到中間節點ND2。旁路電晶體340_1的閘極端G接收控制訊號SC1。旁路電晶體340_1反應於具有低參考電壓VSS的電壓值的控制訊號SC1而被接通。因此，電阻性元件R2被旁路。旁路電晶體340_1反應於具有在中間節點ND1上的中間電壓值V1的控制訊號SC1被斷開。旁路電晶體340_2的源極端S連接到中間節點ND2。旁路電晶體340_2的汲極端D連接到中間節點ND3。旁路電晶體340_2的閘極端G接收控制訊號SC2。反應於控制訊號SC2具有低參考電壓VSS的電壓值而接通旁路電晶體340_2。因此，旁路電阻性元件R3。旁路電晶體340_2反應於具有在中間節點ND2上的中間電壓值V2的控制訊號SC2被斷開。

此外，旁路電晶體340_1的基極端接收中間電壓值V1。換句話說，旁路電晶體340_1的基極端連接到中間節點ND1。旁路電晶體340_2的基極端接收中間電壓值V2。換句話說，旁路電晶體340_2的基極端連接到中間節點ND2。

在本實施例中，舉例來說，位準移位電路350_1反應於具有值“1”的設定訊號TM1而產生具有中間電壓值V1的控制訊號SC1，且反應於具有值“0”的設定訊號TM1而產生具有低參考電壓VSS的電壓值的控制訊號SC1。在本實施例中，位準移位電路350_1的設定端用於接收設定訊號TM1。位準移位電路350_1的高參考端接收中間電壓值V1。位準移位電路350_1的低參考端接收低參考電壓VSS。位準移位電路350_1的輸出端用於輸出控制訊號SC1。

位準移位電路350_2反應於具有值“1”的設定訊號TM2而產生具有中間電壓值V2的控制訊號SC2，且反應於具有值“0”的設定訊號TM2而產生具有低參考電壓VSS的電壓值的控制訊號SC2。在本實施例中，位準移位電路350_2的設定端用於接收設定訊號TM2。位準移位電路350_2的高參考端接收中間電壓值V2。位準移位電路350_2的低參考端接收低參考電壓VSS。位準移位電路350_2的輸出端用於輸出控制訊號SC2。

在本實施例中，可在電壓調節器300的測試時間期間決定設定訊號TM1和設定訊號TM2。設定訊號TM1和設定訊號TM2可保存在融合記憶體中。

圖5示出根據本揭露的第四實施例的電壓調節器的示意圖。參考圖5，在本實施例中，電壓調節器400包括分壓器110、比較器120、升壓電路130、旁路電晶體440和位準移位電路450。分壓器110、比較器120以及升壓電路130的操作可通過參考圖2的相關描述來獲知，故不在此重述

在本實施例中，旁路電晶體440為NMOS電晶體。旁路電晶體440的源極端S連接到中間節點ND2。旁路電晶體440的汲極端D連接到中間節點ND1。中間節點ND2上的中間電壓值V2低於中間節點ND1上的中間電壓值V1。旁路電晶體440的閘極端G接收控制訊號SC。旁路電晶體440反應於具有字元線電壓VCCP的電壓值的控制訊號SC而被接通。因此，電阻性元件R2被旁路。旁路電晶體440反應於具有在中間節點ND2上的中間電壓值V2的控制訊號SC被斷開。

此外，旁路電晶體440的基極端接收中間電壓值V2。換句話說，基極端連接到中間節點ND2。

舉例來說，低參考電壓VSS的電壓值為0伏特。中間節點ND1上的中間電壓值V1為2伏特。中間節點ND2上的中間電壓值V2為1.8伏特。中間電壓值V1與中間電壓值V2之間的電壓差為0.2伏特。所述電壓差比低參考電壓VSS的電壓值與中間電壓值V1（2伏特）之間的電壓差低得多。因此，可減小旁路電晶體140的GIDL效應。旁路電晶體140的汲極端D上的電荷不流向旁路電晶體140的基極端。因此，當旁路電晶體140斷開時，中間電壓值V1不由於GIDL效應而偏移。

在本實施例中，位準移位電路450耦接到旁路電晶體440的閘極端。位準移位電路450反應於具有第一值的設定訊號TM而產生具有字元線電壓VCCP的電壓值的控制訊號SC，且反應於具有第二值的設定訊號TM而產生具有中間電壓值V2的控制訊號SC。在本實施例中，位準移位電路450的設定端用於接收設定訊號TM。位準移位電路450的高參考端接收字元線電壓VCCP。位準移位電路450的低參考端接收中間電壓值V2。位準移位電路450的輸出端用於輸出控制訊號SC。在一些實施例中，位準移位電路450的低參考端可耦接到中間節點ND2。

舉例來說，位準移位電路450反應於具有值“1”的設定訊號TM而產生具有中間電壓值V2的控制訊號SC。因此，斷開旁路電晶體440。另一方面，位準移位電路450反應於具有值“0”的設定訊號TM而產生具有字元線電壓VCCP的電壓值的控制訊號SC。因此，旁路電晶體440被接通，以旁路電阻性元件R2。

在一些實施例中，電阻性元件R3能夠被另一旁路電晶體旁路。

綜上所述，電壓調節器的旁路電晶體反應於具有在第一中間節點上的中間電壓值的控制訊號而被斷開。中間電壓值低於字元線電壓的電壓值。因此，旁路電晶體的GIDL效應能夠被減小。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。

10、100、200、300、400:電壓調節器 110、VD:分壓器 120:比較器 130、230、BC:升壓電路 140、240、340_1、340_2、440、PT:旁路電晶體 231:振盪器 232:電荷泵電路 250、350_1、350_2、450:位準移位電路 D:汲極端 DV:經分壓電壓值 EN:啟用訊號 G:閘極端 ND1、ND2、ND3:中間節點 OSC:振盪訊號 R1、R2、R3、R4:電阻器/電阻性元件 S:源極端 SC、SC1、SC2:控制訊號 TM、TM1、TM2:設定訊號 V1、V2:中間電壓值 V3:經分壓電壓 VCCP:字元線電壓 VREF:參考電壓值 VSS:低參考電壓

本揭露包括隨附圖式以進一步被理解，且隨附圖式併入本說明書中並構成本說明書的一部分。圖式示出本揭露的例示性實施例，且與描述一起用來解釋本揭露的原理。 圖1示出根據先前實施例的電壓調節器的示意圖。 圖2示出根據本揭露的第一實施例的電壓調節器的示意圖。 圖3示出根據本揭露的第二實施例的電壓調節器的示意圖。 圖4示出根據本揭露的第三實施例的電壓調節器的示意圖。 圖5示出根據本揭露的第四實施例的電壓調節器的示意圖。

100:電壓調節器 110:分壓器 120:比較器 130:升壓電路 140:旁路電晶體 D:汲極端 DV:經分壓電壓值 EN:啟用訊號 G:閘極端 ND1、ND2、ND3:中間節點 R1、R2、R3、R4:電阻性元件 S:源極端 SC:控制訊號 V1、V2:中間電壓值 VCCP:字元線電壓 VREF:參考電壓值 VSS:低參考電壓

Claims (12)

1. 一種用於提供字元線電壓的電壓調節器，包括：分壓器，耦接在所述字元線電壓與低參考電壓之間，包括在多個中間節點上串聯連接的多個電阻性元件；比較器，連接到所述多個中間節點當中的經分壓中間節點，配置成根據所述經分壓中間節點上的經分壓電壓值提供啟用訊號；升壓電路，耦接到所述比較器，配置成反應於所述啟用訊號而升壓所述字元線電壓；以及旁路電晶體，其中所述旁路電晶體的源極端連接到所述多個中間節點當中的第一中間節點，所述旁路電晶體的汲極端連接到所述多個中間節點當中的第二中間節點，且所述旁路電晶體的閘極端接收控制訊號，其中所述旁路電晶體反應於具有在所述第一中間節點上的中間電壓值的所述控制訊號而被斷開，其中當所述旁路電晶體為PMOS電晶體時，所述第一中間節點上的所述中間電壓值與所述第二中間節點上的中間電壓值之間的電壓差低於所述字元線電壓的電壓值與所述第二中間節點上的所述中間電壓值之間的電壓差，其中當所述旁路電晶體為NMOS電晶體時，所述第一中間節點上的所述中間電壓值與所述第二中間節點上的所述中間電壓值之間的電壓差低於所述低參考電壓的電壓值與所述第一中間節點 上的所述中間電壓值之間的電壓差。
2. 如請求項1所述的電壓調節器，所述第一中間節點上的所述中間電壓值高於所述第二中間節點上的所述中間電壓值。
3. 如請求項1所述的電壓調節器，其中當所述旁路電晶體為PMOS電晶體時，所述旁路電晶體反應於具有所述低參考電壓的電壓值的所述控制訊號而被接通，使旁路所述第一中間節點與所述第二中間節點之間的至少一個電阻性元件。
4. 如請求項3所述的電壓調節器，其中所述電壓調節器更包括：位準移位電路，耦接到所述旁路電晶體的所述閘極端，配置成反應於具有第一值的設定訊號而產生具有所述中間電壓值的所述控制訊號，且反應於具有第二值的所述設定訊號而產生具有所述低參考電壓的所述電壓值的所述控制訊號。
5. 如請求項4所述的電壓調節器，其中所述位準移位電路的設定端接收所述設定訊號，所述位準移位電路的高參考端接收所述中間電壓值，所述位準移位電路的低參考端接收所述低參考電壓，且所述位準移位電路的輸出端輸出所述控制訊號。
6. 如請求項1所述的電壓調節器，其中當所述旁路電晶體為NMOS電晶體時，所述旁路電晶體反應於具有所述字元線電壓的電壓值的所述控制訊號而被接通，使旁路所述第一中間節點與所述第二中間節點之間的至少一個電阻性元件。
7. 如請求項6所述的電壓調節器，其中所述電壓調節器更包括：位準移位電路，耦接到所述旁路電晶體的所述閘極端，配置成反應於具有第一值的設定訊號而產生具有所述中間電壓值的所述控制訊號，且反應於具有第二值的所述設定訊號而產生具有所述字元線電壓的所述電壓值的所述控制訊號。
8. 如請求項7所述的電壓調節器，其中所述位準移位電路的設定端接收所述設定訊號，所述位準移位電路的高參考端接收所述字元線電壓，所述位準移位電路的低參考端接收所述中間電壓值，且所述位準移位電路的輸出端輸出所述控制訊號。
9. 如請求項1所述的電壓調節器，其中所述比較器比較所述經分壓電壓值與參考電壓值，且根據所述經分壓電壓值與參考電壓值之間的比較結果決定所述啟用訊號的電壓值。
10. 如請求項9所述的電壓調節器，其中當所述經分壓電壓值低於所述參考電壓值時，所述比較器提供具有高電壓值的所述啟用訊號，且當所述經分壓電壓值高於或等於所述參考電壓值時，提供具有低電壓值的所述啟用訊號。
11. 如請求項9所述的電壓調節器，其中所述比較器的反相端連接到所述經分壓中間節點，所述比較器的非反相端連接到所述參考電壓值，且所述比較器的輸出端耦接到所述升壓電路。
12. 如請求項1所述的電壓調節器，其中所述升壓電路包括：振盪器，耦接到所述比較器，配置成反應於所述啟用訊號的預設電壓值而產生振盪訊號；以及電荷泵電路，耦接到所述振盪器，配置成反應於所述振盪訊號而升壓所述字元線電壓。

Images