TWI834265B - 可自我測試的列驅動電路、顯示裝置及資訊處理裝置 - Google Patents
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Abstract
一種可自我測試的列驅動電路，其具有：多個驅動輸出單元，各用以輸出一閘控脈衝信號；一測試模式產生單元，用以在被致能時依一像素時鐘信號之控制驅使該些驅動輸出單元循序產生一所述閘控脈衝信號；以及一邏輯電路，與該些驅動輸出單元之輸出端耦接，具有至少一邏輯運算單元，所述至少一邏輯運算單元係用以在該測試模式產生單元被致能時對該些閘控脈衝信號進行至少一邏輯運算以產生至少一測試結果信號。
Description
本發明係有關顯示驅動技術，尤指一種可自我測試的列驅動電路。
一般的顯示器架構主要包括一像素陣列、一行驅動器(column driver)及一列驅動器(row driver)，其中，該行驅動器係用以提供類比電壓，該列驅動器係用以提供脈衝信號以控制該像素陣列之掃描時序。
當該像素陣列為一液晶像素陣列時，該列驅動器所提供的脈衝信號係用以選擇待顯示的一列像素，而該列像素的顯示灰階值則由該行驅動器所提供的類比電壓決定。另外，當該像素陣列為一發光二極體像素陣列或有機發光二極體像素陣列時，該列驅動器所提供的脈衝信號除了係用以選擇待顯示的一列像素以外，還可以決定該列像素的導通時間占空比。
為確保掃描操作沒問題，須在出廠前對列驅動器的輸出驅動功能進行測試。例如，對於有720個驅動輸出端的列驅動器而言，便須對其720個驅動輸出端逐一做功能測試。然而，當驅動輸出端的數目隨像素陣列往高解析度發展而大幅增加時，其驅動輸出端的功能測試便會面臨極大的挑戰。
此外，在AR(擴增實境)/VR(虛擬實境)近眼顯示器的應用中，以 MICRO OLED 或 MICRO LED 而言，行驅動器及列驅動器係全部整合在一LCM 模組內，致使外部無法由該LCM 模組的接腳測試到列驅動器的多個驅動輸出端。
為解決上述的問題，本領域亟需一新穎的可自我測試的列驅動電路。
本發明之一目的在於揭露一種可自我測試的列驅動電路，其可依多個閘控脈衝信號之至少一邏輯組合產生至少一測試結果信號以供判斷該列驅動電路之多個驅動輸出單元是否正常工作。
本發明之另一目的在於揭露一種顯示裝置，其可藉由前述的可自我測試的列驅動電路有效縮短測試時間，從而大幅降低製造成本。
本發明之又一目的在於揭露一種資訊處理裝置，其可藉由前述的可自我測試的列驅動電路有效縮短測試時間，從而大幅降低製造成本。
為達上述目的，一種可自我測試的列驅動電路乃被提出，其具有：
多個驅動輸出單元，各用以輸出一閘控脈衝信號；
一測試模式產生單元，用以在被致能時依一像素時鐘信號之控制驅使該些驅動輸出單元循序產生一所述閘控脈衝信號；以及
一邏輯電路，與該些驅動輸出單元之輸出端耦接，具有至少一邏輯運算單元，所述至少一邏輯運算單元係用以在該測試模式產生單元被致能時對該些閘控脈衝信號進行至少一邏輯運算以產生至少一測試結果信號。
在一實施例中，各所述邏輯運算單元之所述測試結果信號係一脈衝信號，該脈衝信號之脈衝期間對應所述像素時鐘信號之多個時鐘週期，且當該脈衝信號在該脈衝期間中之一所述時鐘週期處存在一反向脈衝時代表有一對應之所述驅動輸出單元出現異常。
在一實施例中，各所述邏輯運算單元可由一邏輯及運算實現。
在一實施例中，各所述邏輯運算單元可由一邏輯或運算實現。
為達上述目的，本發明進一步提出一種顯示裝置，其具有一像素陣列及用以驅動該像素陣列之一驅動電路，該驅動電路包含一可自我測試的列驅動電路，且該可自我測試的列驅動電路具有：
多個驅動輸出單元，各用以輸出一閘控脈衝信號；
一測試模式產生單元，用以在被致能時依一像素時鐘信號之控制驅使該些驅動輸出單元循序產生一所述閘控脈衝信號；以及
一邏輯電路，與該些驅動輸出單元之輸出端耦接，具有至少一邏輯運算單元，所述至少一邏輯運算單元係用以在該測試模式產生單元被致能時對該些閘控脈衝信號進行至少一邏輯運算以產生至少一測試結果信號。
在一實施例中，各所述邏輯運算單元之所述測試結果信號係一脈衝信號，該脈衝信號之脈衝期間對應所述像素時鐘信號之多個時鐘週期，且當該脈衝信號在該脈衝期間中之一所述時鐘週期處存在一反向脈衝時代表有一對應之所述驅動輸出單元出現異常。
在一實施例中，各所述邏輯運算單元可由一邏輯及運算實現。
在一實施例中，各所述邏輯運算單元可由一邏輯或運算實現。
為達上述目的，本發明進一步提出一種資訊處理裝置，其具有一中央處理單元及如前述之顯示裝置，其中，該中央處理單元係用以與顯示裝置通信。
在可能的實施例中，所述之資訊處理裝置可為一智慧型手持裝置、一攜帶型電腦、一穿戴裝置、一車載電腦或一門禁系統。
為使 貴審查委員能進一步瞭解本發明之結構、特徵及其目的，茲附以圖式及較佳具體實施例之詳細說明如後。
請參照圖1，其繪示本發明之可自我測試的列驅動電路之一實施例的方塊圖。如圖1所示，一可自我測試的列驅動電路100具有多個驅動輸出單元110、一測試模式產生單元120及一邏輯電路130。
該些驅動輸出單元110係用以輸出多個閘控脈衝信號V
G1~V
Gn，n為大於1之整數。
測試模式產生單元120係由一致能信號EN啟動，且其係在被致能時依一像素時鐘信號CLK之控制驅使該些驅動輸出單元110循序產生一所述閘控脈衝信號V
Gj，j = 1至n。
邏輯電路130係與該些驅動輸出單元110之輸出端耦接且具有至少一邏輯運算單元，其中，所述至少一邏輯運算單元係用以在測試模式產生單元120被致能時對該些閘控脈衝信號V
G1~V
Gn進行至少一邏輯運算以產生至少一測試結果信號V
TEST。測試結果信號V
TEST係一脈衝信號，該脈衝信號之脈衝期間對應像素時鐘信號CLK之多個時鐘週期，且當該脈衝信號在該脈衝期間中之一所述時鐘週期處存在一反向脈衝時代表有一對應之驅動輸出單元110出現異常。
詳細而言，各所述邏輯運算單元可由一邏輯或運算實現。請參照圖2，其繪示邏輯電路130之一實施例的電路圖。如圖2所示，邏輯電路130具有多個三輸入一輸出的或閘131，該些或閘131組成一n輸入一輸出的等效或閘，用以對該些閘控脈衝信號V
G1~V
Gn進行至少一邏輯或運算以產生測試結果信號V
TEST。當該些閘控脈衝信號V
G1~V
Gn都正常呈現時，測試結果信號V
TEST會呈現一完整的正向脈衝，其波形圖請參照圖3a；而當該些閘控脈衝信號V
G1~V
Gn中有部分信號出現異常時，測試結果信號V
TEST會在一正向脈衝中出現局部的反向脈衝。例如，假設第3個閘控脈衝信號V
G3未出現，則測試結果信號V
TEST會在一正向脈衝之第3個時鐘週期出現一反向脈衝，其波形圖請參照圖3b。
另外，雖然本發明在本實施例中只產生一個測試結果信號V
TEST，但本發明並不以此為限，本發明亦可將該些閘控脈衝信號V
G1~V
Gn分成多組，並採用多個等效或閘以產生多個測試結果信號V
TEST。
另外，各所述邏輯運算單元亦可由一邏輯及運算實現。在此情形下，只須將該些閘控脈衝信號V
G1~V
Gn及該些測試結果信號V
TEST反向，並以正向脈衝代表異常，即可檢查出有問題的驅動輸出單元110。
依上述的說明，本發明提出一種顯示裝置。請參照圖4，其繪示本發明之顯示裝置之一實施例的方塊圖。如圖4所示，一顯示裝置200具有一像素陣列210及用以驅動像素陣列210之一驅動電路220，其中驅動電路220包含一可自我測試的列驅動電路221，且該可自我測試的列驅動電路係由可自我測試的列驅動電路100實現。
依上述的說明，本發明進一步提出一種資訊處理裝置。請參照圖5，其繪示本發明之資訊處理裝置之一實施例的方塊圖。如圖5所示，一資訊處理裝置300具有一中央處理單元310及一顯示裝置320，其中，顯示裝置320係由顯示裝置200實現，且中央處理單元310係用以與顯示裝置200通信。
藉由前述所揭露的設計，本發明乃具有以下的優點：
一、本發明之可自我測試的列驅動電路可依多個閘控脈衝信號之至少一邏輯組合產生至少一測試結果信號以供判斷該列驅動電路之多個驅動輸出單元是否正常工作。
二、本發明之顯示裝置可藉由前述的可自我測試的列驅動電路有效縮短測試時間，從而大幅降低製造成本。
三、本發明之資訊處理裝置可藉由前述的可自我測試的列驅動電路有效縮短測試時間，從而大幅降低製造成本。
本案所揭示者，乃較佳實施例，舉凡局部之變更或修飾而源於本案之技術思想而為熟習該項技藝之人所易於推知者，俱不脫本案之專利權範疇。
綜上所陳，本案無論目的、手段與功效，皆顯示其迥異於習知技術，且其首先發明合於實用，確實符合發明之專利要件，懇請 貴審查委員明察，並早日賜予專利俾嘉惠社會，是為至禱。
100：可自我測試的列驅動電路
110：驅動輸出單元
120：測試模式產生單元
130：邏輯電路
131：或閘
200：顯示裝置
210：像素陣列
220：驅動電路
221：可自我測試的列驅動電路
300：資訊處理裝置
310：中央處理單元
320：顯示裝置
圖1繪示本發明之可自我測試的列驅動電路之一實施例的方塊圖。
圖2繪示圖1之可自我測試的列驅動電路之邏輯電路之一實施例的電路圖。
圖3a繪示圖2之邏輯電路之一工作波形圖，其代表所有的閘控脈衝信號都正常呈現。
圖3b繪示圖2之邏輯電路之一另一工作波形圖，其代表有一個閘控脈衝信號未呈現。
圖4繪示本發明之顯示裝置之一實施例的方塊圖。
圖5繪示本發明之資訊處理裝置之一實施例的方塊圖。
100：可自我測試的列驅動電路
110：驅動輸出單元
120：測試模式產生單元
130：邏輯電路
Claims (4)
- 一種可自我測試的列驅動電路，其具有：多個驅動輸出單元，各用以輸出一閘控脈衝信號；一測試模式產生單元，用以在被致能時依一像素時鐘信號之控制驅使該些驅動輸出單元循序產生一所述閘控脈衝信號；以及一邏輯電路，與該些驅動輸出單元之輸出端耦接，具有至少一邏輯運算單元，所述至少一邏輯運算單元係用以在該測試模式產生單元被致能時對該些閘控脈衝信號進行至少一邏輯運算以產生至少一測試結果信號；其中，各所述邏輯運算單元之所述測試結果信號係一脈衝信號，該脈衝信號之脈衝期間對應所述像素時鐘信號之多個時鐘週期，且當該脈衝信號在該脈衝期間中之一所述時鐘週期處存在一反向脈衝時代表有一對應之所述驅動輸出單元出現異常；且各所述邏輯運算單元係由一邏輯及運算實現或由一邏輯或運算實現。
- 一種顯示裝置，其具有一像素陣列及用以驅動該像素陣列之一驅動電路，該驅動電路包含一可自我測試的列驅動電路，且該可自我測試的列驅動電路具有：多個驅動輸出單元，各用以輸出一閘控脈衝信號；一測試模式產生單元，用以在被致能時依一像素時鐘信號之控制驅使該些驅動輸出單元循序產生一所述閘控脈衝信號；以及一邏輯電路，與該些驅動輸出單元之輸出端耦接，具有至少一邏輯運算單元，所述至少一邏輯運算單元係用以在該測試模式產生單元被致能時對該些閘控脈衝信號進行至少一邏輯運算以產生至少一測試結果信號； 其中，各所述邏輯運算單元之所述測試結果信號係一脈衝信號，該脈衝信號之脈衝期間對應所述像素時鐘信號之多個時鐘週期，且當該脈衝信號在該脈衝期間中之一所述時鐘週期處存在一反向脈衝時代表有一對應之所述驅動輸出單元出現異常；且各所述邏輯運算單元係由一邏輯及運算實現或由一邏輯或運算實現。
- 一種資訊處理裝置，其具有一中央處理單元及如申請專利範圍第2項所述之顯示裝置，其中，該中央處理單元係用以與顯示裝置通信。
- 如申請專利範圍第3項所述之資訊處理裝置，其係由一智慧型手持裝置、一攜帶型電腦、一穿戴裝置、一車載電腦和一門禁系統所組成之群組所選擇的一種電子裝置。
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TWI834265B true TWI834265B (zh) | 2024-03-01 |
| TW202409592A TW202409592A (zh) | 2024-03-01 |
Family
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Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009058125A2 (en) | 2007-10-29 | 2009-05-07 | Agere Systems Inc. | Method and apparatus for testing a memory device |
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009058125A2 (en) | 2007-10-29 | 2009-05-07 | Agere Systems Inc. | Method and apparatus for testing a memory device |
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