TWI832538B - 雙向測試裝置 - Google Patents
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Abstract
公開了一種雙向測試裝置，雙向測試裝置包括工作台、位於工作台兩側的第一測試機構和第二測試機構，以及定位設置在工作台上的載具。其中，工作台和載具上分別設有位置相互匹配的第一避讓孔和第二避讓孔，使得載具上定位裝載的產品的待測試部位可以露出。這樣，分別移動設置在第一測試機構和第二測試機構上的第一探針和第二探針可以同步接觸待測試部位兩個相對面上的焊盤，實現雙面同時測試。由此，通過雙向測試裝置實現改進測試流程，既能夠提高效率並且精簡人力，又可以避免測試不良從而提高產品良率。
Description
本發明涉及電子產品測試技術領域，尤其涉及一種雙向測試裝置。
在電子產品的製造過程中，需要對產品的電路板上的焊盤進行測試。目前的測試過程，需要操作人員先在當前工站完成產品一面電路板的測試，再將產品送至下一工站對另一面的電路板進行測試。這樣多次取放測試，不僅容易造成測試不良，而且一個測試項目需要兩台雙向測試裝置以及兩個人力，成本太高。
本發明的目的在於提供一種雙向測試裝置，同時對產品的兩面電路板進行測試，有助於提高效率以及節省成本。
本發明實施例提供了一種雙向測試裝置，雙向測試裝置包括：工作台，工作台上設有第一避讓孔；第一測試機構，第一測試機構位於工作台的一側並且包括移動設置的第一探針；第二測試機構，第二測試機構位於工作台的另一側並且包括移動設置的第二探針；以及載具，載具定位設置在工作台上並且被配置為定位裝載產品，載具上設有第二避讓孔，第二避讓孔的位置與第一避讓孔相互匹配以使產品的待測試部位露出；其中，載具包括底座、第一蓋板和第二蓋板，底座上設有第二避讓孔，第一蓋板設置在底座上，第二蓋板設置在底座上，第一蓋板和第二蓋板被配置為蓋壓待測試部位的兩端於底座上；其中，第一探針和第二探針被配置為從兩側同步移動並分別接觸待測試部位兩個相對面上的焊盤。
進一步地，第一測試機構還包括第一探針座和第一驅動件，第一探針座上固定有第一探針，第一驅動件被配置為驅動第一探針座靠近或遠離工作台；第二測試機構還包括第二探針座和第二驅動件，第二探針座上固定有第二探針，第二驅動件被配置為驅動第二探針座靠近或遠離工作台。
進一步地，第一測試機構還包括第一導軸和第一直線軸承，第一直線軸承與第一導軸移動連接並與第一探針座固定連接；第二測試機構還包括第二導軸和第二直線軸承，第二直線軸承與第二導軸移動連接並與第二探針座固定連接。
進一步地，工作台上固定設置有定位台；載具通過定位台定位設置在工作台上。
進一步地，定位台上設有第三避讓孔；第三避讓孔的位置與第一避讓孔和第二避讓孔相互匹配，以使待測試部位露出。
進一步地，定位台上設有限位塊；載具通過限位塊定位設置在定位台上。
進一步地，限位塊朝向內側形成有凸起；載具固定於凸起和定位台之間。
進一步地，定位台上設有複數間隔分佈的磁鐵，磁鐵用於吸附固定載具。
進一步地，第一蓋板上設有第四避讓孔；其中，載具還包括：固定組件，固定組件設置在底座上並且位於第四避讓孔中，固定組件被配置為固定產品於底座上。
進一步地，固定組件包括：蓋壓件，蓋壓件設置在底座上，並且被配置為蓋壓產品於底座上；複位件，複位件分別與蓋壓件和底座連接，並且被配置為驅動蓋壓件脫離產品；以及卡扣，卡扣設置在底座上，並且被配置為固定蓋壓產品的蓋壓件。
進一步地，底座上設有第一仿形槽，第一蓋板上設有第二仿形槽；第一仿形槽和第二仿形槽與產品相互匹配。
進一步地，底座上設有承載件，承載件用於承載待測試部位；第一蓋板上設有按壓件，按壓件被配置為按壓待測試部位於承載件上。
進一步地，載具還包括：鎖緊件，鎖緊件設置在底座上，並且被配置為鎖緊蓋壓產品的第一蓋板。
進一步地，鎖緊件設置為T字型，並且鎖緊件一端轉動設置在底座上，鎖緊件被配置為相對底座轉動並蓋壓第一蓋板。
進一步地，第一蓋板上設有第一拉手，第一拉手用於驅動第一蓋板；第二蓋板上設有第二拉手，第二拉手用於驅動第二蓋板。
本發明實施例提供的雙向測試裝置包括工作台、位於工作台兩側的第一測試機構和第二測試機構，以及定位設置在工作台上的載具。其中，工作台和載具上分別設有位置相互匹配的第一避讓孔和第二避讓孔，使得載具上定位裝載的產品的待測試部位可以露出。這樣，分別移動設置在第一測試機構和第二測試機構上的第一探針和第二探針可以同步接觸待測試部位兩個相對面上的焊盤，實現雙面同時測試。由此，通過雙向測試裝置實現改進測試流程，既能夠提高效率並且精簡人力，又可以避免測試不良從而提高產品良率。
以下基於實施例對本發明進行描述，但是本發明並不僅僅限於這些實施例。在下文對本發明的細節描述中，詳盡描述了一些特定的細節部分。對本領域具有通常知識者來說沒有這些細節部分的描述也可以完全理解本發明。為了避免混淆本發明的實質，公知的方法、過程、流程、元件和電路並沒有詳細敘述。
此外，本領域具有通常知識者應當理解，在此提供的附圖都是為了說明的目的，並且附圖不一定是按比例繪製的。
除非上下文明確要求，否則在說明書的“包含”、“包含”等類似詞語應當解釋為包含的含義而不是排他或窮舉的含義；也就是說，是“包含但不限於”的含義。
在本發明的描述中，需要理解的是，術語“第一”、“第二”等僅用於描述目的，而不能理解為指示或暗示相對重要性。此外，在本發明的描述中，除非另有說明，“複數”的含義是兩個或兩個以上。
圖1是一種產品A的結構示意圖，如圖1所示，產品A包括待測試部位A1。需要說明的是，待測試部位A1包括印製電路板，印製電路板上具有焊盤，用於插接或貼裝元件。針對待測試部位A1的兩個相對面上的焊盤，需要一種雙向測試裝置同時從兩側對焊盤進行測試，從而提高測試效率、降低測試成本並且提高產品良率。易於被理解的是，產品A可以是圖1所示的數據線，還可以是手機、電腦、數碼相機等電子產品。
圖2與圖3是本發明實施例提供的一種雙向測試裝置不同視角的結構示意圖，如圖2與圖3所示，雙向測試裝置包括工作台1、第一測試機構2、第二測試機構3以及載具4。其中，定位裝載有產品A的載具4定位設置在工作台1上，以便對產品A進行測試。進一步地，第一測試機構2和第二測試機構3分別位於工作台1的兩側，並且分別包括移動設置的第一探針21和第二探針31，以便通過驅動第一探針21和第二探針31朝向工作台1移動實現對產品A的測試。
更進一步地，結合圖6和圖11所示，工作台1上設有第一避讓孔11，載具4上設有與第一避讓孔11位置相互匹配的第二避讓孔41。通過第一避讓孔11和第二避讓孔41，產品A的待測試部位A1可以露出以便探針穿過。由此，設置完載具4後，第一探針21和第二探針31可以從兩側同步移動並分別接觸待測試部位A1的兩個相對面上的焊盤，從而完成後續的測試工作。
結合圖3與圖4所示，在一種實施方式中，第一測試機構2還包括第一探針座22和第一驅動件23。具體地，第一探針21固定設置在第一探針座22上，第一驅動件23驅動第一探針座22靠近或遠離工作台1，即可帶動第一探針21靠近或遠離待測試部位A1的一側，實現對待測試部位A1一側焊盤的測試。需要說明的是，第一探針21的數量和位置根據產品A上焊盤的分佈進行設置。同時，第一探針座22的結構做適應性調整，以便分佈設置第一探針21。
對應地，結合圖3和圖5所示，第二測試機構3還包括第二探針座32和第二驅動件33。具體地，第二探針31固定設置在第二探針座32上，第二驅動件33驅動第二探針座32靠近或遠離工作台1，即可帶動第二探針31靠近或遠離待測試部位A1的另一側，實現對待測試部位A1另一側焊盤的測試。需要說明的是，第二探針31的數量和位置根據產品A上焊盤的分佈進行設置。同時，第二探針座32的結構做適應性調整，以便分佈設置第二探針31。
需要說明的是，第一驅動件23和第二驅動件33可以是任意的能夠驅動探針沿預定方向運動的驅動裝置。在本實施方式中，第一驅動件23和第二驅動件33為氣缸。作為一種可選的實施方式，第一驅動件23和第二驅動件33還可以為液壓缸、電缸、直線電機或者其他驅動裝置。也就是說，第一驅動件23和第二驅動件33的具體形式可以根據實際應用場景的需要（例如對於裝置製造的簡易性的需要，對於位置精度控制的需要，等等）進行選擇。
圖3結合圖4與圖5所示，在一種實施方式中，第一測試機構2還包括第一導軸24和第一直線軸承25。其中，第一直線軸承25與第一導軸24移動連接，並且與第一探針座22固定連接。由此，當第一驅動件23驅動第一探針座22移動時，第一直線軸承25沿著第一導軸24發生移動。對應地，第二測試機構3還包括第二導軸34和第二直線軸承35。其中，第二直線軸承35與第二導軸34移動連接，並且與第二探針座32固定連接。由此，當第二驅動件33驅動第二探針座32移動時，第二直線軸承35沿著第二導軸34發生移動。需要說明的是，本實施方式中的第一導軸24和第二導軸34為精密導軸，配合第一直線軸承25和第二直線軸承35保證了第一探針21和第二探針31移動的精度。
在一種實施方式中，第一測試機構2和第二測試機構3還分別包括至少一個緩衝器，用於將移動中的第一探針座22和第二探針座32起到緩衝作用。在本實施方式中，緩衝器為油壓緩衝器，可以在裝置工作過程中防止硬性碰撞導致裝置或產品損壞。
如圖7與圖8所示，在一種實施方式中，工作台1上固定設置有定位台12。進一步地，載具4定位設置在定位台12上，從而實現定位設置在工作台1上。在本實施方式中，定位台12的位置與工作台1上第一避讓孔11的位置相關，以確保載具4定位設置在定位台12上時，產品A的待測試部位A1能夠位於第一探針21和第二探針31之間，從而使第一探針21和第二探針31能夠移動至接觸待測試部位A1。
進一步地，結合圖6至圖9所示，定位台12上設有第三避讓孔121。在本實施方式中，第三避讓孔121的位置與第一避讓孔11和第二避讓孔41相互匹配。由此，待測試部位A1可以從三個避讓孔露出，以便第二探針31穿過進行後續的測試工作。
如圖8與圖9所示，在一種實施方式中，定位台12上設有限位塊122。在本實施方式中，載具4通過限位塊122定位設置在定位台12上。具體地，限位塊122的數量有三個，並且分佈在定位台12的邊緣處形成一個缺口以供設置載具4。當載具4通過該缺口插入時，三個限位塊122即可對載具4的兩側和一端起到限位和定位作用，從而確保第一探針21和第二探針31可以精准接觸待測試部位A1上的焊盤。
進一步地，如圖9所示，限位塊122朝向內側形成有凸起1221，載具4固定於凸起1221和定位台12之間。具體地，位於載具4兩側的限位塊122由頂部形成凸起1221。當載具4通過限位塊122形成的缺口插入時，載具4的底部插入凸起1221與定位台12底部形成的容置區域。由此，通過凸起1221可以對載具4的頂部起到限位和定位作用，從而確保第一探針21和第二探針31可以精准接觸待測試部位A1上的焊盤。
如圖9所示，在一種實施方式中，定位台12上埋設有複數間隔分佈的磁鐵123，通過磁鐵123可以吸附固定載具4。具體地，複數磁鐵123分別埋設於定位台12的底部和三個限位塊122中。當載具4插入時，複數磁鐵123對載具4起到進一步的定位作用，從而確保第一探針21和第二探針31可以精准接觸待測試部位A1上的焊盤。
如圖10所示，在一種實施方式中，載具4包括底座42、第一蓋板43以及第二蓋板44，第二避讓孔41設置在底座42上。其中，第一蓋板43和第二蓋板44分別設置在底座42上，並且被配置為蓋壓待測試部位A1的兩端於底座42上。由此，在產品A被固定的同時，待測試部位A1上的焊盤能夠露出以待後續的測試工作。需要說明的是，在本實施方式中，第一蓋板43和第二蓋板44轉動設置在底座42上。當產品A放置於底座42上後，朝向底座42轉動第一蓋板43和第二蓋板44即可蓋壓產品A的不同部位。
結合圖10和圖12所示，在一種實施方式中，第一蓋板43上設有第四避讓孔431。進一步地，載具4還包括固定組件45。具體地，固定組件45設置在底座42上並且位於第四避讓孔431中。在本實施方式中，固定組件45被配置為固定產品A於底座42上。由此，可以實現針對產品A的結構特徵，對產品A起到進一步的固定作用。
如圖10所示，在一種實施方式中，固定組件45包括設置在底座42上的蓋壓件451、複位件452以及卡扣453。其中，蓋壓件451被配置為蓋壓產品A於底座42上。進一步地，複位件452分別與蓋壓件451和底座42連接，並且被配置為驅動蓋壓件451脫離產品A。更進一步地，卡扣453被配置為固定蓋壓產品A的蓋壓件451。
需要說明的是，在本實施方式中，蓋壓件451轉動設置在底座42上。當產品A放置於底座42上並且被第一蓋板43和第二蓋板44蓋壓後，朝向底座42轉動蓋壓件451並用卡扣453對蓋壓件451進行固定，即可實現對產品A的進一步固定。需要進一步說明的是，本實施方式中，複位件452為扭轉彈簧，並且設置在蓋壓件451的轉動軸上。當測試完成後，打開卡扣453，蓋壓件451便可在複位件452的作用下自動脫離產品A，從而方便取出產品A。
如圖12所示，在一種實施方式中，底座42上設有第一仿形槽421，並且第一蓋板43上設有第二仿形槽432。易於被理解的是，第一仿形槽421和第二仿形槽432與產品A相互匹配。具體地，在本實施方式中，產品A為線材產品，第一仿形槽421和第二仿形槽432分別設置為匹配的U型凹槽，並且當第一蓋板43扣合後第一仿形槽421和第二仿形槽432配合形成一個圓孔，以將產品A限制並固定在第一仿形槽421和第二仿形槽432之間。需要說明的是，針對不同結構的產品A，第一仿形槽421和第二仿形槽432可以設置為對應結構的凹槽。
結合圖10與圖11所示，在一種實施方式中，底座42上設有承載件422，同時第一蓋板43上對應設置有按壓件433。其中，承載件422用於承載待測試部位A1，按壓件433被配置為按壓待測試部位A1於承載件422上。具體地，當產品A放置於底座42上之後，待測試部位A1的部分區域位於承載件422上，轉動第一蓋板43蓋壓產品A時，按壓件433跟隨轉動直至按壓待測試部位A1的部分區域，使得該部分區域被固定於承載件422和按壓件433之間，方便後續對待測試部位A1上的焊盤進行精准測試。
如圖10所示，在一種實施方式中，載具4還包括鎖緊件46。具體地，鎖緊件46設置在底座42上，並且被配置為鎖緊蓋壓產品A的第一蓋板43。由此，當第一蓋板43轉動至蓋壓產品A時，通過鎖緊件46即可鎖定第一蓋板43，防止第一蓋板43彈起導致產品A發生移動，避免了對後續測試工作的不良影響。需要說明的是，在本實施方式中，鎖緊件46設置為T字型，並且底部轉動設置在底座42上。當第一蓋板43進行蓋壓後，朝向第一蓋板43轉動鎖緊件46，以使鎖緊件46的頂部結構按壓第一蓋板43的上表面，從而實現防止第一蓋板43彈起。
如圖10所示，在一種實施方式中，第一蓋板43上設有第一拉手434，第二蓋板44上設有第二拉手441。易於被理解的是，第一拉手434用於驅動第一蓋板43，第二拉手441用於驅動第二蓋板44。具體地，當完成測試後，拿住第一拉手434便可驅動第一蓋板43朝遠離產品A的方向轉動。同時，拿住第二拉手441便可驅動第二蓋板44朝遠離產品A的方向轉動。由此，在解除對產品A的固定後，便可以取出完成測試後的產品A。
本發明實施例提供的雙向測試裝置包括工作台、位於工作台兩側的第一測試機構和第二測試機構，以及定位設置在工作台上的載具。其中，工作台和載具上分別設有位置相互匹配的第一避讓孔和第二避讓孔，使得載具上定位裝載的產品的待測試部位可以露出。這樣，分別移動設置在第一測試機構和第二測試機構上的第一探針和第二探針可以同步接觸待測試部位兩個相對面上的焊盤，實現雙面同時測試。另外，配合載具的具體結構，實現穩固地固定產品，從而使第一測試機構和第二測試機構能夠精准進行測試。由此，通過雙向測試裝置實現改進測試流程，既能夠提高效率並且精簡人力，又可以避免測試不良從而提高產品良率。
以上所述僅為本發明的優選實施例，並不用於限制本發明，對於本領域具有通常知識者而言，本發明可以有各種改動和變化。凡在本發明的精神和原理之內所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發明的保護範圍之內。
1:工作台
11:第一避讓孔
12:定位台
121:第三避讓孔
122:限位塊
1221:凸起
123:磁鐵
2:第一測試機構
21:第一探針
22:第一探針座
23:第一驅動件
24:第一導軸
25:第一直線軸承
3:第二測試機構
31:第二探針
32:第二探針座
33:第二驅動件
34:第二導軸
35:第二直線軸承
4:載具
41:第二避讓孔
42:底座
421:第一仿形槽
422:承載件
43:第一蓋板
431:第四避讓孔
432:第二仿形槽
433:按壓件
434:第一拉手
44:第二蓋板
441:第二拉手
45:固定組件
451:蓋壓件
452:複位件
453:卡扣
46:鎖緊件
A:產品
A1:待測試部位
［圖1］係本發明實施例提供的一種產品的結構示意圖。
［圖2］係本發明實施例提供的一種雙向測試裝置的結構示意圖。
［圖3］係本發明實施例提供的一種雙向測試裝置另一視角的結構示意圖。
［圖4］係本發明實施例提供的一種雙向測試裝置第一測試機構部分的機構示意圖。
［圖5］係本發明實施例提供的一種雙向測試裝置第二測試機構部分的結構示意圖。
［圖6］係本發明實施例提供的一種雙向測試裝置中複數避讓孔的位置關係示意圖。
［圖7］係本發明實施例提供的一種雙向測試裝置中載具安裝部分的結構示意圖。
［圖8］係本發明實施例提供的一種雙向測試裝置中載具安裝部分的爆炸示意圖。
［圖9］係本發明實施例提供的一種定位台的結構示意圖。
［圖10］係本發明實施例提供的一種載具的結構示意圖。
［圖11］係本發明實施例提供的一種載具另一視角的結構示意圖。
［圖12］係本發明實施例提供的一種載具第一蓋板部分的局部示意圖。
1:工作台
12:定位台
21:第一探針
22:第一探針座
23:第一驅動件
31:第二探針
32:第二探針座
33:第二驅動件
4:載具
A:產品
Claims (15)
- 一種雙向測試裝置，包含：工作台(1)，該工作台(1)上設有第一避讓孔(11)；第一測試機構(2)，該第一測試機構(2)位於該工作台(1)的一側並且包括移動設置的第一探針(21)；第二測試機構(3)，該第二測試機構(3)位於該工作台(1)的另一側並且包括移動設置的第二探針(31)；以及載具(4)，該載具(4)定位設置在該工作台(1)上並且被配置為定位裝載產品(A)，該載具(4)上設有第二避讓孔(41)，該第二避讓孔(41)的位置與該第一避讓孔(11)相互匹配以使該產品(A)的待測試部位(A1)露出；其中，該載具(4)包括底座(42)、第一蓋板(43)和第二蓋板(44)，該底座(42)上設有該第二避讓孔(41)，該第一蓋板(43)設置在該底座(42)上，該第二蓋板(44)設置在該底座(42)上，該第一蓋板(43)和該第二蓋板(44)被配置為蓋壓該待測試部位(A1)的兩端於該底座(42)上；其中，該第一探針(21)和該第二探針(31)被配置為從兩側同步移動並分別接觸該待測試部位(A1)兩個相對面上的焊盤。
- 如請求項1所述之雙向測試裝置，其中，該第一測試機構(2)還包括第一探針座(22)和第一驅動件(23)，該第一探針座(22)上固定有該第一探針(21)，該第一驅動件(23)被配置為驅動該第一探針座(22)靠近或遠離該工作台(1)；該第二測試機構(3)還包括第二探針座(32)和第二驅動件(33)，該第二探針座(32)上固定有該第二探針(31)，該第二驅動件(33)被配置為驅動該第二探針座(32)靠近或遠離該工作台(1)。
- 如請求項2所述之雙向測試裝置，其中，該第一測試機構(2)還包括第一導軸(24)和第一直線軸承(25)，該第一直線軸承(25)與該第一導軸(24)移動連接並與該第一探針座(22)固定連接；該第二測試機構(3)還包括第二導軸(34)和第二直線軸承(35)，該第二直線軸承(35)與該第二導軸(34)移動連接並與該第二探針座(32)固定連接。
- 如請求項1所述之雙向測試裝置，其中，該工作台(1)上固定設置有定位台(12)；該載具(4)通過該定位台(12)定位設置在該工作台(1)上。
- 如請求項4所述之雙向測試裝置，其中，該定位台(12)上設有第三避讓孔(121)；該第三避讓孔(121)的位置與該第一避讓孔(11)和該第二避讓孔(41)相互匹配，以使該待測試部位(A1)露出。
- 如請求項4所述之雙向測試裝置，其中，該定位台(12)上設有限位塊(122)；該載具(4)通過該限位塊(122)定位設置在該定位台(12)上。
- 如請求項6所述之雙向測試裝置，其中，該限位塊(122)朝向內側形成有凸起(1221)；該載具(4)固定於該凸起(1221)和該定位台(12)之間。
- 如請求項4所述之雙向測試裝置，其中，該定位台(12)上設有複數間隔分佈的磁鐵(123)，該磁鐵(123)用於吸附固定該載具(4)。
- 如請求項1所述之雙向測試裝置，其中，該第一蓋板(43)上設有第四避讓孔(431)；其中，該載具(4)還包含： 固定組件(45)，該固定組件(45)設置在該底座(42)上並且位於該第四避讓孔(431)中，該固定組件(45)被配置為固定該產品(A)於該底座(42)上。
- 如請求項9所述之雙向測試裝置，其中，該固定組件(45)包含：蓋壓件(451)，該蓋壓件(451)設置在該底座(42)上，並且被配置為蓋壓該產品(A)於該底座(42)上；複位件(452)，該複位件(452)分別與該蓋壓件(451)和該底座(42)連接，並且被配置為驅動該蓋壓件(451)脫離該產品(A)；以及卡扣(453)，該卡扣(453)設置在該底座(42)上，並且被配置為固定蓋壓該產品(A)的該蓋壓件(451)。
- 如請求項1所述之雙向測試裝置，其中，該底座(42)上設有第一仿形槽(421)，該第一蓋板(43)上設有第二仿形槽(432)；該第一仿形槽(421)和第二仿形槽(432)與該產品(A)相互匹配。
- 如請求項1所述之雙向測試裝置，其中，該底座(42)上設有承載件(422)，該承載件(422)用於承載該待測試部位(A1)；該第一蓋板(43)上設有按壓件(433)，該按壓件(433)被配置為按壓該待測試部位(A1)於該承載件(422)上。
- 如請求項1所述之雙向測試裝置，其中，該載具(4)還包含：鎖緊件(46)，該鎖緊件(46)設置在該底座(42)上，並且被配置為鎖緊蓋壓該產品(A)的該第一蓋板(43)。
- 如請求項13所述之雙向測試裝置，其中，該鎖緊件(46)設置為T字型，並且該鎖緊件(46)一端轉動設置在該底座(42)上，該鎖緊件(46)被配置為相對該底座(42)轉動並蓋壓該第一蓋板(43)。
- 如請求項1所述之雙向測試裝置，其中，該第一蓋板(43)上設有第一拉手(434)，該第一拉手(434)用於驅動該第一蓋板(43)；該第二蓋板(44)上設有第二拉手(441)，該第二拉手(441)用於驅動該第二蓋板(44)。
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Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20150057961A1 (en) * | 2012-05-07 | 2015-02-26 | Flextronics Ap, Llc. | Universal device multi-function test apparatus |
| US20170010306A1 (en) * | 2015-07-07 | 2017-01-12 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Probe card, thermal insulation cover assembly for probe card, and semiconductor device test apparatus including the same |
| TW201800758A (zh) * | 2016-06-22 | 2018-01-01 | 思達科技股份有限公司 | 測試裝置、夾持組件及探針卡載具 |
| TW201929629A (zh) * | 2017-12-20 | 2019-07-16 | 中華精測科技股份有限公司 | 多晶粒測試介面模組及其製造方法 |
| US20200057094A1 (en) * | 2018-08-14 | 2020-02-20 | Keysight Technologies, Inc. | Miniature test probe |
| TW202028761A (zh) * | 2019-01-18 | 2020-08-01 | 鴻勁精密股份有限公司 | 測試裝置之壓接器及其應用之測試分類設備 |
| US20210072307A1 (en) * | 2019-09-10 | 2021-03-11 | Siliconware Precision Industries Co., Ltd. | Inspection equipment and testing device thereof |
| TW202113376A (zh) * | 2019-09-27 | 2021-04-01 | 鴻勁精密股份有限公司 | 具天線之射頻電子元件的測試裝置及其應用之測試設備 |
| CN217034163U (zh) * | 2022-02-16 | 2022-07-22 | 宁波吉品科技有限公司 | 一种双面射频测试夹具 |
-
2022
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Patent Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20150057961A1 (en) * | 2012-05-07 | 2015-02-26 | Flextronics Ap, Llc. | Universal device multi-function test apparatus |
| US20170010306A1 (en) * | 2015-07-07 | 2017-01-12 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Probe card, thermal insulation cover assembly for probe card, and semiconductor device test apparatus including the same |
| TW201800758A (zh) * | 2016-06-22 | 2018-01-01 | 思達科技股份有限公司 | 測試裝置、夾持組件及探針卡載具 |
| TW201929629A (zh) * | 2017-12-20 | 2019-07-16 | 中華精測科技股份有限公司 | 多晶粒測試介面模組及其製造方法 |
| US20200057094A1 (en) * | 2018-08-14 | 2020-02-20 | Keysight Technologies, Inc. | Miniature test probe |
| TW202028761A (zh) * | 2019-01-18 | 2020-08-01 | 鴻勁精密股份有限公司 | 測試裝置之壓接器及其應用之測試分類設備 |
| US20210072307A1 (en) * | 2019-09-10 | 2021-03-11 | Siliconware Precision Industries Co., Ltd. | Inspection equipment and testing device thereof |
| TW202113376A (zh) * | 2019-09-27 | 2021-04-01 | 鴻勁精密股份有限公司 | 具天線之射頻電子元件的測試裝置及其應用之測試設備 |
| CN217034163U (zh) * | 2022-02-16 | 2022-07-22 | 宁波吉品科技有限公司 | 一种双面射频测试夹具 |
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