TWI824486B - 電子元件測試分選機及其控制方法 - Google Patents
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Abstract
本發明涉及一種電子元件測試分選機。具體地,根據本發明的一實施例,本發明提供的電子元件測試分選機包括:多個第一托盤,包括在第一托盤區域中可沿第一方向移動的第一裝載托盤和第一卸載托盤;移送手,能夠將電子元件裝載到所述第一托盤上或從所述第一托盤上卸載裝載的所述電子元件;至少一個第二托盤,能夠放置在與所述第一托盤區域相鄰的第二托盤區域中,所述第二托盤包括能夠安置所述電子元件的第二裝載托盤和第二卸載托盤;以及手,在所述第一托盤區域和所述第二托盤區域之間移動,所述手包括拾取器單元和開閉單元中的至少一個,所述拾取器單元能夠將所述電子元件從所述第一托盤和所述第二托盤中的一個移送到另一個,所述開閉單元能夠選擇性地開閉設置在所述第二托盤中的插座。
Description
發明領域
本申請涉及一種電子元件測試分選機及其控制方法。
發明背景
測試分選機(test handler)是支持對通過規定製造工程製造的半導體器件等電子元件進行測試並根據測試結果對電子元件的等級進行分類的機器。這樣的測試分選機可以通過將電子元件電連接到測試儀(tester)來測試諸如半導體器件的電子元件。
另一方面,現有的測試分選機將安置在梭子上的電子元件安置在測試插座中以測試電子元件,並將裝載到測試插座中的電子元件電連接到測試儀。另外,現有的測試插座內部形成有安置電子元件的空間,該空間通過蓋子開閉。
另一方面,測試插座中形成的空間需要開放以安置電子元件,若安置了電子元件,則需要再次閉合以進行測試。然而,為了根據需要打開和關閉測試插座中形成的空間,用戶很難將蓋子逐一開放。此外,當設置多個測試插座以同時測試多個電子元件時,用戶的工作量超負荷,因此延長了測試工程的時間。
因此,需要一種能夠自動開閉測試插座並同時開閉多個測試插座的電子元件測試分選機。
鑒於上述背景發明了本發明的一實施例,本發明的一個目的是提供一種電子元件測試分選機,能夠自動開閉測試插座並同時打開和關閉多個測試插座。
另外,本發明的一實施例的目的是提供一種電子元件測試分選機,能夠自動開閉測試插座,減輕用戶的工作量,縮短工程時間。
根據本發明的一方面,本發明可以提供一種電子元件測試分選機,包括:多個第一托盤,包括在第一托盤區域中可沿第一方向移動的第一裝載托盤和第一卸載托盤;移送手,能夠將電子元件裝載到所述第一托盤上或從所述第一托盤上卸載裝載的所述電子元件;至少一個第二托盤,能夠放置在與所述第一托盤區域相鄰的第二托盤區域中,所述第二托盤包括能夠安置所述電子元件的第二裝載托盤和第二卸載托盤;以及手,在所述第一托盤區域和所述第二托盤區域之間移動,所述手包括拾取器單元和開閉單元中的至少一個,所述拾取器單元能夠將所述電子元件從所述第一托盤和所述第二托盤中的一個移送到另一個,所述開閉單元能夠選擇性地開閉設置在所述第二托盤中的插座;所述移送手移送所述電子元件,將所述電子元件裝載到所述第一裝載托盤上,並卸載安置於所述第一卸載托盤上的電子元件,所述手移送安置在所述第一裝載托盤上的電子元件並裝載到所述第二裝載托盤上,卸載安置於所述第二卸載托盤上的電子元件並移送到所述第一卸載托盤上。
進一步地,本發明可以提供一種電子元件測試分選機,包括:緩
衝台,設置於所述第一托盤區域沿所述第一方向的一側,能夠安置所述電子元件;堆棧機,所述堆棧機上裝載有可安裝所述電子元件的客戶托盤;托盤推車,所述托盤推車上裝載有多個所述第二托盤;托盤移送器,能夠將多個所述第二托盤從所述第二托盤區域和所述托盤推車中的一個移送到另一個;以及控制部,能夠控制所述移送手、所述手和所述托盤移送器,所述控制部將電子元件從裝載在所述堆棧機上的所述客戶托盤移送到所述緩衝台,控制所述移送手移送安置於所述緩衝台上的電子元件並裝載到所述第一裝載托盤上,所述控制部控制所述手將電子元件從所述第一裝載托盤移送並裝載到放置在所述第二托盤區域的所述第二裝載托盤上,所述控制部控制所述托盤移送器將安置有所述電子元件的所述第二裝載托盤從所述第二托盤區域移送至所述托盤推車。
進一步地,本發明可以提供一種電子元件測試分選機,包括:緩衝台,設置於所述第一托盤區域沿所述第一方向的一側,能夠安置所述電子元件;堆棧機,所述堆棧機上裝載有可安裝所述電子元件的客戶托盤;托盤推車,所述托盤推車上裝載有多個所述第二托盤;托盤移送器,能夠將多個所述第二托盤從所述第二托盤區域和所述托盤推車中的一個移送到另一個;以及控制部,能夠控制所述移送手、所述手和所述托盤移送器,所述控制部控制所述托盤移送器將所述第二卸載托盤從所述托盤推車移送到所述第二托盤區域,所述控制部控制所述手將電子元件從放置在所述第二托盤區域的所述第二卸載托盤上卸載並移送到所述第一卸載托盤,所述控制部控制所述移送手將電子元件從所述第一卸載托盤上卸載並移送至所述緩衝台,並將安置在所述緩衝台上的電子元件移送到裝載在所述堆棧機上的所述客戶托盤上。
進一步地,本發明可以提供一種電子元件測試分選機,還包括:第一托盤導軌和第二托盤導軌,所述第一托盤導軌和所述第二托盤導軌在所述第一方向上,能夠引導多個所述第一托盤向所述第一方向移動,所述第一托盤導
軌可移動地支撐多個所述第一托盤中的任意一個,所述第二托盤導軌在從所述第一方向上偏離的第二方向上與所述第一托盤導軌間隔設置,並可移動地支撐多個所述第一托盤中的另一個,所述第一托盤中的一個設置在所述第一托盤中的另一個的上方,使得所述第一托盤中的一個可以獨立於所述第一托盤中的另一個移動。
進一步地,本發明可以提供一種電子元件測試分選機,還包括:緩衝台,設置於所述第一托盤區域沿所述第一方向的一側,能夠安置所述電子元件,所述緩衝台包括:第一緩衝部,設置於能夠放置所述移送手的把持區域內的規定位置上;以及第二緩衝部,能夠從無法放置所述移送手的脫離區域和所述把持區域中的一個區域移動到另一個區域,所述第二緩衝部被配置為可從所述第一緩衝部的上側沿所述第一方向移動。
進一步地,本發明可以提供一種電子元件測試分選機,其中,所述第一托盤包括:口袋支架,可沿所述第一方向移動;口袋台,具有向側方突出的懸掛區,所述口袋台可替換地支撐在所述口袋支架上;以及防脫離部,可放置於固定位置和自由位置中的任意一個位置,所述固定位置的至少一部分位於所述懸掛區上,使得所述口袋台不會從所述口袋支架脫離,所述自由位置允許所述口袋台從所述口袋支架脫離。
進一步地,本發明可以提供一種電子元件測試分選機,其中,所述手包括所述開閉單元,所述開閉單元包括:掛鉤部;以及支撐部,所述支撐部與所述掛鉤部間隔並與所述掛鉤部相對,所述掛鉤部與所述支撐部各自被配置為彼此接近或遠離以開閉所述插座。
進一步地,本發明可以提供一種電子元件測試分選機,包括:第一托盤,可在第一托盤區域內沿第一方向移動;第二托盤,可放置在沿偏離所述第一方向的第二方向上與所述第一托盤區域相鄰的第二托盤區域上,所述第二
托盤包括可以安置電子元件的插座;手,能夠將所述電子元件從所述第一托盤和所述第二托盤中的一個移送到另一個;以及手移送器,能夠將所述手向所述第一方向移送,所述手包括:手主體,由所述手移送器支撐;拾取器單元,包括拾取器主體以及多個拾取器,所述拾取器主體支撐在所述手主體上,以在所述第一托盤區域和所述第二托盤區域之間沿所述第二方向移動,所述拾取器可將所述拾取器主體單獨升高和降低;以及開閉單元,能夠選擇性地開閉所述插座,在被所述手主體支撐的同時,將所述手主體升高和降低。
進一步地,本發明可以提供一種電子元件測試分選機的控制方法,包括:第一托盤處理步驟,將電子元件裝載到移送手可以在第一托盤區域中沿第一方向移動的第一托盤上,或者從所述第一托盤中卸載裝載的所述電子元件;以及第二托盤處理步驟,手在與所述第一托盤區域相鄰的第二托盤區域和所述第一托盤區域之間移動,並且將所述電子元件從所述第一托盤和所述第二托盤中的一個移送到另一個,在所述第一托盤處理步驟中,所述移送手移送所述電子元件並裝載在第一裝載托盤上,卸載安置於第一卸載托盤上的電子元件,在所述第二托盤處理步驟中,所述手移送安置在所述第一托盤上的所述電子元件並裝載在第二裝載托盤上,卸載安置於第二卸載托盤上的所述電子元件並移送到所述第一卸載托盤上,開閉單元選擇性地開閉設置在所述第二托盤中的插座。
進一步地,本發明可以提供一種電子元件測試分選機的控制方法,還包括:緩衝裝載步驟,所述移送手從裝載在堆棧機上的客戶托盤移送電子元件並裝載到緩衝台上;以及推車裝載步驟,托盤移送器將安置有所述電子元件的所述第二裝載托盤從所述第二托盤區域移送到托盤推車,所述第一托盤處理步驟包括第一托盤裝載步驟,其中,所述移送手移送安置在所述緩衝台上的所述電子元件並裝載到所述第一裝載托盤上,所述第二托盤處理步驟包括第
二托盤裝載步驟,其中,所述手從所述第一裝載托盤移送電子元件並裝載到放置在所述第二托盤區域中的所述第二裝載托盤上。
進一步地,本發明可以提供一種電子元件測試分選機的控制方法,還包括:緩衝卸載步驟,其中,所述移送手卸載安置於緩衝台上的電子元件並移送到裝載在堆垛機上的客戶托盤上;以及推車卸載步驟,其中,托盤移送器將所述第二卸載托盤從托盤推車移送到所述第二托盤區域,所述第一托盤處理步驟包括第一托盤卸載步驟,其中,所述移送手從所述第一卸載托盤卸載電子元件並移送到所述緩衝台上,所述第二托盤處理步驟包括第二托盤卸載步驟,其中,所述手從放置在所述第二托盤區域中的所述第二卸載托盤上卸載所述電子元件並移送到所述第一卸載托盤上。
根據本發明的一實施例,具有可以自動開閉測試插座,並且可以同時開閉多個測試插座的效果。
另外,根據本發明的一實施例,具有可以自動開閉測試插座,減輕用戶的工作量,縮短工程時間的效果。
1:分選機
100:框架
200:堆棧機
300:緩衝台
310:第一緩衝部
320:第二緩衝部
400:移送手
410:把持部
500:梭子
501:第一托盤
510:第一裝載托盤
511:口袋台
511a:懸掛區
512:口袋支架
513:防脫離部
513a:固定區
520:第一卸載托盤
530:托盤導軌
531:第一托盤導軌
532:第二托盤導軌
600:第二托盤
601:第二裝載托盤
602:第二卸載托盤
610:托盤板
620:插座
621:閂鎖
622:蓋子
623:安置部
700:手
710:開閉單元
711:主體部
712:導軌部
712a:第一導軌
712b:第二導軌
713:掛鉤部
713a:第一支架
713b:掛鉤單元
713b-1:第一掛鉤構件
713b-2:第二掛鉤構件
713b-3:掛鉤輥
713b-4:傾斜面
714:支撐部
714a:第二支架
714b:支撐單元
714b-1:第一支撐輥
714b-2:第一支撐輥
715:開放制動器
720:拾取器單元
721:拾取器主體
722:拾取器
723:螺距可變部
723a:螺距導軌
723b:拾取器驅動單元
730:手主體
740:引導部
741:第一引導件
742:第二引導件
750:驅動部
751:第一驅動單元
752:第二驅動單元
800:手移送器
900:托盤移送器
1000:托盤推車
1100:控制部
CT:客戶托盤
FP:脫離區域
HP:把持區域
L1,L2:垂直長度
LTP1:第一裝載托盤區域
LTP2:第二裝載托盤區域
S10:控制方法
S100:緩衝器處理步驟
S110:緩衝裝載步驟
S120:緩衝卸載步驟
S200:第一托盤處理步驟
S210:第一托盤裝載步驟
S220:第二托盤裝載步驟
S300:第二托盤處理步驟
S310:第二托盤裝載步驟
S320:第二托盤卸載步驟
S330:開放步驟
S331:第一開放手移動步驟
S332:上升步驟
S332A:第一上升步驟
S332B:第二上升步驟
S333:第二開放手移動步驟
S334:第三開放手移動步驟
S340:關閉步驟
S341:第一閉合手移動步驟
S342:下降步驟
S342A:第一下降步驟
S342B:第二下降步驟
S343:第二閉合手移動步驟
S344:第三閉合手移動步驟
S350:移送步驟
S400:推車處理步驟
S410:推車裝載步驟
S420:推車卸載步驟
TP1:第一托盤區域
TP2:第二托盤區域
UTP1:第一卸載托盤區域
UTP2:第二卸載托盤區域
圖1是示出根據本發明一實施例的電子元件測試分選機的概念示意圖;圖2是圖1的堆棧機、緩衝台、移送手以及手移送器的立體圖;圖3是圖2的A部分的放大圖;圖4是圖2的移送手的仰視立體圖;圖5是圖1的第一托盤、第二托盤以及手的立體圖和局部放大圖;圖6是示出圖5的多個第一托盤在豎直方向上相互重疊的形態的放大圖;圖7是圖6的側視圖;
圖8是圖5的平面圖;圖9是圖8的B的放大圖;圖10是圖5的手的局部仰視立體圖;圖11是圖10的開閉單元的立體圖和局部放大圖;圖12是圖11的仰視立體圖;圖13是圖11的主視圖;圖14是圖10的拾取器單元的立體圖;圖15是依次示出圖5的打開設置在第二托盤中的插座的開放步驟的圖;圖16是接著圖15依次示出的打開設置在第二托盤中的插座的開放步驟的圖;圖17是依次示出圖5的關閉設置在第二托盤中的插座的關閉步驟的圖;圖18是接著圖17依次示出的關閉設置在第二托盤中的插座的關閉步驟的圖;圖19是示出根據本發明一實施例的電子元件測試分選機的控制方法的流程示意圖;圖20是具體示出圖19的開放步驟和關閉步驟的流程圖。
具體實施方式
下面結合附圖對用於實現本發明技術思想的具體實施例進行詳細說明。
此外,在本發明的說明中,如果確定相關已知配置或功能的詳細描述可能會模糊本發明的主旨,則將省略其詳細說明。
另外,當提到某個組件“連接”或“支撐”到另一個組件時,可以是直接連接到其他組件並由其他組件支撐,但應該理解,中間可能存在其他組件。
本文中所使用的術語僅用於說明特定實施例,並不用於限制本發明。除非上下文另有明確規定,否則單數表達包括複數表達。
此外,可以使用包括諸如第1、第2等序數的術語來說明各種組件,但是相應組件不受這些術語的限制。這些術語僅用於區分一個組件與另一個組件。
本文中所使用的“包括”的含義具體指特定特徵、區域、整數、步驟、操作、元件和/或組件;但不排除其他特定特徵、區域、整數、步驟、操作、元件和/或組件的存在或附加。
此外,本說明書中,上側、下方等的表述是參考附圖中的圖示來說明的,需要預先揭露的是,當對應對象的方向改變時,可能有不同的表達方式。另一方面,本說明書中,第一方向可以是圖1、圖2和圖5的x軸方向,第二方向可以是圖1、圖2和圖5的y軸方向。此外,豎直方向可以是圖1、圖2和圖5的z軸方向。
下面參考附圖對根據本發明一實施例的電子元件測試分選機1的具體配置進行說明。
以下,參考圖1和圖2,根據本發明一實施例的電子元件測試分選機1將通過預定製造工程製造的電子元件(圖未示)與測試儀電連接,之後可以根據測試結果對電子元件進行分類。例如,電子元件可以是半導體器件。此外,可以用各種形式製造電子元件測試分選機1以針對待測試的電子元件的類型進行優化。該電子元件測試分選機1可以與能夠測試電子元件的測試儀(圖未示)結合,並且可以將電子元件電連接到測試儀。該電子元件測試分選機1可以包括框架100、堆棧機200、緩衝台300、移送手400、梭子500、第二托盤600、手700、手移送器800、托盤移送器900、托盤推車1000和控制部1100。
框架100可以支撐堆棧機200、移送手400、梭子500、第二托盤600、
手700、手移送器800、托盤移送器900、托盤推車1000和控制部1100。該框架100可以提供移送客戶托盤CT的空間。此外,框架100可以包括能夠將客戶托盤CT從堆棧機200移送到與移送手400相鄰的位置的傳送帶(圖未示)。
堆棧機200可以存儲裝載有電子元件的客戶托盤CT。該堆棧機200可以由框架100支撐。此外,裝載在堆棧機200上的客戶托盤CT可以通過傳送帶移送到與移送手400相鄰的位置。
參考圖1和圖3,緩衝台300可以臨時裝載電子元件。此外,緩衝台300可以沿第一方向設置在第一托盤區域TP1的一側(例如,圖1的左側)。該緩衝台300可以包括第一緩衝部310和第二緩衝部320。
第一緩衝部310可以設置在把持區域HP內的規定位置上,並且可以固定到框架100。其中,把持區域HP是指能夠放置移送手400的區域。即,當第一緩衝部310設置在把持區域HP上時,移送手400可以移動至第一緩衝部310的上側,電子元件可由第一緩衝部310把持或由第一緩衝部310釋放。
第二緩衝部320可以從脫離區域FP和把持區域HP中的一個區域移動到另一個區域。其中,脫離區域FP是指無法放置移送手400的區域。即,脫離區域FP為移送手400的移動半徑以外的區域,當第二緩衝部320設置於脫離區域FP時,移送手400無法到達第二緩衝部320。該第二緩衝部320可以由緩衝導軌支撐以沿著設置在框架100中的緩衝導軌向第二方向移動。例如,第二緩衝部320可以向把持區域HP移動,以使移送手400可以到達。作為更詳細的示例,第二緩衝部320可以從第一緩衝部310的上側向第二方向移動,當放置在把持區域HP上時,第二緩衝部320可以與第一緩衝部310的上側重疊。
另一方面,緩衝台300還可以包括能夠向第二方向移動第二緩衝部320的緩衝制動器(圖未示)。
參考圖2和圖4,移送手400可以將裝載在緩衝台300上的電子元件
移送到梭子500。該移送手400可以在緩衝台300和客戶托盤CT之間移動以移送電子元件。此外,移送手400可以通過手移送器800沿第一方向和第二方向中的至少一個方向移動。該移送手400可以包括用於把持電子元件的把持部410。把持部410可以通過吸附電子元件來把持,並可以提供一個或多個。
另一方面,把持部410可以被配置為可圍繞沿豎直方向延伸的假想軸旋轉。當朝著一個方向放置在客戶托盤CT上的電子元件需要在與一個方向不同的另一方向上安置到第二托盤600上時,該把持部410可以在把持電子元件之後旋轉。例如,把持部410安置於客戶托盤CT上,使得電子元件的端子朝向一個方向,當形成在插座620中的端子朝向另一方向時,電子元件的端子可以旋轉以朝向另一個方向。因此,電子元件的端子可以連接到插座620中的端子,同時朝另一個方向放置在第二托盤600上。作為另一示例,當把持部410移送向一個方向伸長的矩形電子元件時,把持部410可以旋轉電子元件以對應於插座620的形狀,然後將電子元件安置在插座620上。
參考圖1和圖5,梭子500可以將電子元件從移送手400側移送到手700側。此外,梭子500可以包括在第一托盤區域TP1中沿第一方向可移動的第一托盤501。本說明書中,第一托盤區域TP1是指第一托盤501能夠沿第一方向移動的區域。可以提供多個該第一托盤501,並且多個第一托盤501可以包括第一裝載托盤510和第一卸載托盤520。
第一裝載托盤510可以是多個第一托盤501中安置有未測試的電子元件的第一托盤501。即,在測試之前,安置在緩衝台300上的電子元件可以通過移送手400裝載到第一裝載托盤510上。本說明書中,第一裝載托盤區域LTP1指的是第一裝載托盤510在第一托盤區域TP1中移動的區域。該第一裝載托盤510可以沿著下文描述的托盤導軌530向第一方向移動。此外,參考圖6和圖7,可以提供多個第一裝載托盤510,並且多個第一裝載托盤510彼此可以具有高度差。
換言之,多個第一裝載托盤510中的一個可以設置在另一個的上側以獨立於另一個移動。因此,多個第一裝載托盤510不相互干涉並且可以向相反方向移動。
第一卸載托盤520可以是多個第一托盤501中安置有測試完成的電子元件的托盤。即,在測試之後,安置在第二托盤600上的電子元件可以通過手700卸載並移送到第一卸載托盤520。本說明書中,第一卸載托盤區域UTP1是指第一托盤501中的第一卸載托盤520移動的區域。該第一卸載托盤520可以沿著下文描述的第二托盤導軌532向第一方向移動。此外,可以提供多個第一卸載托盤520,並且多個第一卸載托盤520彼此可以具有高度差。換言之,多個第一卸載托盤520中的一個可以設置在另一個的上側以獨立於另一個移動。因此,多個第一卸載托盤520不相互干涉並且可以向相反方向移動。
另一方面,參考圖8和圖9,第一裝載托盤510和第一卸載托盤520可以分別包括口袋台511、口袋支架512和防脫離部513。
口袋台511可以提供裝載多個電子元件的空間。該口袋台511可以可替換地支撐在口袋支架512上。此外,口袋台511可以設置在口袋支架512的上側。例如,口袋台511可以具有至少一個向側方突出的懸掛區511a。
口袋支架512可以沿著托盤導軌530向第一方向移動。該口袋支架512可以支撐口袋台511。
防脫離部513可以防止由口袋支架512支撐的口袋台511從口袋支架512脫離。該防脫離部513中可以形成可與懸掛區511a干涉的固定區513a。例如,固定區513a可以形成為朝第一方向從防脫離部513突出。另外,防脫離部513可以放置在固定位置和自由位置中的某一位置上。其中,如圖9所示,防脫離部513的自由位置是指沒有在懸掛區511a的上側設置固定區513a,可以從口袋支架512替換口袋台511的位置。另外,防脫離部513的固定位置是指防脫離部513的固定區513a位於懸掛區511a上側,使得口袋台511不會從口袋支架512脫離的位
置。儘管在本說明書中未圖示出,但是防脫離部513可以向第二方向移動以從自由位置移動到固定位置。該防脫離部513可以可滑動地支撐在口袋支架512上。此外,防脫離部513中可以形成球柱塞,且防脫離部513的移動可以由設置在口袋支架512中的引導構件,例如螺栓和球柱塞來引導。
再次參考圖5,托盤導軌530可以引導多個第一裝載托盤510向第一方向的移動。此外,托盤導軌530可以可滑動地支撐第一裝載托盤510和第一卸載托盤520。該托盤導軌530可以包括第一托盤導軌531和第二托盤導軌532。
第一托盤導軌531可以引導在多個第一裝載托盤510中,設置在另一個第一裝載托盤510上側的第一裝載托盤510的移動。此外,可以提供多個第一托盤導軌531,且多個第一托盤導軌531可以分別支撐第一裝載托盤510和第一卸載托盤520。例如,放置在第一裝載托盤區域LTP1上的第一托盤導軌531可以具有與放置在第一卸載托盤區域UTP1上的第一托盤導軌531的長度不同的長度。
第二托盤導軌532可以引導在多個第一裝載托盤510中,設置在另一個第一裝載托盤510下側的第一裝載托盤510的移動。此外,可以提供多個第二托盤導軌532,且多個第二托盤600可以分別支撐第一裝載托盤510和第一卸載托盤520。例如,放置在第一裝載托盤區域LTP1上的第二托盤導軌532可以具有與放置在第一卸載托盤區域UTP1上的第二托盤導軌532的長度不同的長度。
這樣,由於第一裝載托盤510移動的區域和第一卸載托盤520移動的區域不同,放置在第一裝載托盤區域LTP1上的托盤導軌530和放置在第一卸載托盤區域UTP1上的托盤導軌530可以具有不同的長度。因此,具有最小化放置托盤導軌530的空間並降低成本的效果。
再次參考圖1,第二托盤600可以提供安置多個電子元件的空間,並可以固定支撐多個電子元件。該第二托盤600可以放置在第二托盤區域TP2上。在本說明書中,第二托盤區域TP2是配置有第二托盤600的區域,是指與第
一托盤區域TP1相鄰的區域。此外,第二托盤600可以設置有多個,並可以包括第二裝載托盤601和第二卸載托盤602。
第二裝載托盤601可以是多個第二托盤600中安置有未測試的電子元件的第二托盤600。即,安置在第一裝載托盤510上的電子元件可以通過手700裝載到第二裝載托盤601上。本說明書中,第二裝載托盤區域LTP2是指在第二托盤區域TP2中放置第二裝載托盤601的區域。
第二卸載托盤602可以是多個第二托盤600中安置有測試完成的電子元件的第二托盤600。即,安置在第二托盤600上的電子元件可以通過手700卸載並移送到第一卸載托盤520。本說明書中,第二卸載托盤區域UTP2是指第二托盤區域TP2中第二卸載托盤602被放置的區域。
另一方面,第二托盤600可以包括托盤板610和插座620。
托盤板610可以支撐多個插座620。可以提供多個該托盤板610。例如,為了使多個托盤板610中的一個連接到測試儀以在測試進行期間安置電子元件,托盤板610可以放置在裝載位置。
插座620可以提供安置電子元件的空間,並選擇性地將安置的電子元件暴露於外部。此外,可以提供多個插座620。例如,插座620可以是蛤殼(clamshell socket)式插座。插座620可以包括閂鎖621、蓋子622和安置部623。
閂鎖621可以可旋轉式地連接到安置部623。該閂鎖621可以防止蓋子622旋轉,並可以與蓋子622一起旋轉。例如,當閂鎖621在規定角度範圍內旋轉時,蓋子622處於關閉狀態,當閂鎖621脫離規定角度範圍旋轉時,蓋子622可以處於開放狀態。此外,閂鎖621可以放置在不通過掛鉤部130旋轉的固定位置,同時保持蓋子622處於關閉狀態,並可以通過掛鉤部130旋轉以脫離固定位置。閂鎖621即使在固定位置時也可以將蓋子622保持在關閉狀態,另外,即使從固定位置脫離,如果旋轉的程度在上述規定角度範圍內,蓋子622也可以保持關閉
狀態。當閂鎖621脫離規定角度範圍旋轉時,可以釋放蓋子622的支撐。
蓋子622可以可旋轉式地連接到安置部623。此外,蓋子622可以通過閂鎖621的旋轉而被置於開放狀態和旋轉狀態中的某一種狀態。其中,蓋子622的開放狀態是指安置部623的至少一部分向外部開放,且安置於安置部623上的電子元件暴露於外部的狀態。此外,蓋子622的關閉狀態是指安置部623對外部關閉,且安置於安置部623上的電子元件與外部切斷的狀態。
安置部623可旋轉式地支撐閂鎖621和蓋子622,並可以提供安置電子元件的空間。
參考圖10至圖12,手700可以將安置在梭子500上的電子元件移送到第二托盤600,並可以將安置在第二托盤600上的電子元件移送到梭子500。該手700可以把持電子元件,並可以選擇性地開放第二托盤600的插座620。另外,手700可以通過手移送器800在第二托盤區域TP2上沿第一方向移動。該手700可以包括開閉單元710、拾取器單元720、手主體730、引導部740和驅動部750。
開閉單元710可以選擇性地開閉第二托盤600的插座620。此外,開閉單元710可以由手主體730支撐並可以沿著第一引導件741向豎直方向移動。此外,開閉單元710可以通過手移送器800沿第一方向移動。在這種情況下,開閉單元710由手主體730支撐,可以與拾取器單元720一體地沿著第一方向移動。該開閉單元710可以包括主體部711、導軌部712、掛鉤部713、支撐部714和開放制動器715。
主體部711可支撐導軌部712、掛鉤部713、支撐部714和開放制動器715。該主體部711可以沿著第一引導件741向豎直方向移動。
導軌部712可以引導掛鉤部713和支撐部714的移動。導軌部712可以設置在主體部711的底面上。此外,導軌部712可以包括第一導軌712a和第二導軌712b。
第一導軌712a可以引導掛鉤部713向第一方向的移動。該第一導軌712a可以在第一方向上延伸並且可以設置為多個。其中,第一方向可以定義為掛鉤部713和支撐部714在水平面上彼此接近或遠離的方向,第二方向可以定義為在水平面上垂直於第一方向的方向。
第二導軌712b可以引導支撐部714向第一方向的移動。該第二導軌712b可以在第一方向上延伸並且可以設置為多個。此外,第二導軌712b可以由主體部711支撐以在第二方向上與第一導軌712a間隔開。
掛鉤部713可設置為使閂鎖621或蓋子622相對於安置部623旋轉。該掛鉤部713可以移動以朝支撐部714靠近或從支撐部714隔離,從而開閉插座620。此外,掛鉤部713可以在第一方向上從支撐部714隔離。該掛鉤部713可以包括第一支架713a和掛鉤單元713b。
參考圖13,第一支架713a可以支撐多個掛鉤單元713b。該第一支架713a能夠可滑動地支撐在第一導軌712a上。此外,第一支架713a的垂直長度L1可以設置為長於第二支架714a的垂直長度L2。因此,掛鉤單元713b的下端部可以位於下文描述的支撐單元714b的下端部的下側。
可以提供多個掛鉤單元713b,並且多個掛鉤單元713b可以由第一支架713a支撐以在第二方向上彼此間隔開。該掛鉤單元713b可以包括第一掛鉤構件713b-1、第二掛鉤構件713b-2和掛鉤輥713b-3。
第一掛鉤構件713b-1和第二掛鉤構件713b-2可以支撐閂鎖621,並且可以在支撐閂鎖621的同時移動以旋轉閂鎖621。該第一掛鉤構件713b-1和第二掛鉤構件713b-2可以由第一支架713a支撐以在第二方向上彼此間隔開。此外,第一掛鉤構件713b-1和第二掛鉤構件713b-2可以由第一支架713a支撐,以分別放置在與第一支撐輥714b-1和第一支撐輥714b-2在第一方向上對應的位置。例如,第一掛鉤構件713b-1和第一支撐輥714b-1可以放置在沿第一方向延伸的假想直線
上。
另一方面,第一掛鉤構件713b-1和第二掛鉤構件713b-2各自形成為一側端部由第一支架713a支撐,另一側端部朝向支撐部714彎曲。此外,第一掛鉤構件713b-1和第二掛鉤構件713b-2可以在朝向支撐部714的另一側端部分別形成傾斜面713b-4。該傾斜面713b-4可以延伸以相對於第一方向以規定角度傾斜,傾斜面713b-4可以向下延伸。當閂鎖621解除對蓋子622的支撐,使蓋子622脫離關閉狀態的瞬間,蓋子622旋轉開放,傾斜面132a-1與蓋子622接觸,使得蓋子622不會瞬間以過大的旋轉角度旋轉並沿著蓋子622的上表面滑動。通過該傾斜面713b-4,可以防止蓋子622瞬間旋轉和損壞。
當插座620打開和關閉時,掛鉤輥713b-3可以支撐蓋子622。此外,掛鉤輥713b-3可以在支撐蓋子622的同時移動以旋轉蓋子622。掛鉤輥713b-3可以與第一支架713a的豎直移動對應來按壓蓋子622。該掛鉤輥713b-3可以設置在第一掛鉤構件713b-1和第二掛鉤構件713b-2之間。此外,掛鉤輥713b-3可以包括橡膠材料以最小化施加到蓋子622的衝擊。
支撐部714可設置為使閂鎖621或蓋子622相對於安置部623旋轉。該支撐部714可以移動以朝掛鉤部713靠近或從掛鉤部713隔離,從而開閉插座620。此外,支撐部714可以包括第二支架714a和支撐單元714b。
第二支架714a可以支撐多個支撐單元714b。該第二支架714a可滑動地支撐在第二導軌712b上。
可以提供多個支撐單元714b,多個支撐單元714b可以由第二支架714a支撐以在第二方向上彼此間隔開。該支撐單元714b可以包括第一支撐輥714b-1和第二支撐輥714b-2。
第一支撐輥714b-1和第二支撐輥714b-2可以支撐閂鎖621,並且可以在支撐閂鎖621的同時移動以旋轉閂鎖621。此外,第一支撐輥714b-1和第二支
撐輥714b-2可以與第二支架714a在豎直方向上的移動對應來按壓閂鎖621。該第一支撐輥714b-1和第二支撐輥714b-2可以包括緩衝構件,例如橡膠等,以最小化在與閂鎖621接觸時施加到閂鎖621的衝擊。
開放制動器715可以沿著第一導軌712a移動第一支架713a,且可以沿著第二導軌712b移動第二支架714a。
參考圖14,拾取器單元720可以把持或釋放電子元件。該拾取器單元720可以被支撐在手主體730上並可以沿著第二引導件742移動。即,拾取器單元720可以獨立於開閉單元710沿第二引導件742向第二方向移動。例如,拾取器單元720可以在第二托盤600的上側和梭子500的上側之間往復移動。此外,拾取器單元720可以通過手移送器800與開閉單元710一起沿著第一方向移動。該拾取器單元720可以包括拾取器主體721、拾取器722和螺距可變部723。
拾取器主體721可以支撐多個拾取器722。該拾取器主體721可以通過第二驅動單元752在第二方向上移動。
拾取器722可以把持或釋放電子元件。該拾取器722可以將多個電子元件從第二托盤600和梭子500中的一個移送到另一個。例如,可以提供五個拾取器722以同時把持五個電子元件。此外,拾取器722可以通過由泵(圖未示)形成的真空壓力或氣壓來把持電子元件。可以提供多個該拾取器722,多個拾取器722可以由拾取器主體721支撐。
螺距可變部723可以調整多個拾取器722之間的間隔。該螺距可變部723可以包括螺距導軌723a和拾取器驅動單元723b。
螺距導軌723a沿著第二方向延伸,並可以引導多個拾取器722在第二方向上的移動。該螺距導軌723a可以由拾取器主體721支撐。
拾取器驅動單元723b可以沿第二方向分別移動多個拾取器722,以調整多個拾取器722之間的間隔。例如,拾取器驅動單元723b可以包括制動器或
液壓缸。
這樣,多個拾取器722之間的間隔可以由螺距可變部723調整。然而,這僅僅是示例,螺距可變部723包括凸輪和凸輪從動件(圖未示),且可以通過驅動凸輪和凸輪從動件來調整多個拾取器722之間的間隔。此外,可以提供多個拾取器722以彼此獨立地升高和降低。
另一方面,開閉單元710和拾取器單元720在第一方向上的間隔可以與多個插座620在第一方向上的間隔相同。例如,開閉單元710和拾取器單元720可以通過在第一方向上一起移動而分別位於多個插座620上。在這種情況下,當開閉單元710開放放置在第二列的插座620時,拾取器單元720可以將電子元件安置在開放的第一列的插座620中。
因此,開閉單元710和拾取器單元720具有能夠更快地將電子元件安置在插座620中的效果。
手主體730可以支撐開閉單元710和拾取器單元720。此外,手主體730可以由手移送器800支撐,並且可以通過手移送器800沿第一方向移動。這樣,由於開閉單元710和拾取器單元720由手主體730支撐並一起移動,因此具有可以防止開閉單元710和拾取器單元720之間的碰撞的效果。此外,由於一個手移送器800沿第一方向移動開閉單元710和拾取器單元720,因此具有降低生產單價並最小化空間的效果。
引導部740可以引導開閉單元710的移動和拾取器單元720的移動。該引導部740可以包括第一引導件741和第二引導件742。
第一引導件741可以引導開閉單元710向豎直方向移動。該第一引導件741被支撐在手主體730上並可以向豎直方向延伸。此外,可以提供多個第一引導件741。
第二引導件742可以引導拾取器單元720向第二方向移動。該第二
引導件742被支撐在手主體730上並可以向第二方向延伸。此外,可以提供多個第二引導件742。
驅動部750可以包括能夠向豎直方向移動開閉單元710的第一驅動單元751和能夠向第二方向移動拾取器單元720的第二驅動單元752。例如,該驅動部750可以包括制動器或液壓缸。
手移送器800可以使移送手400向第一方向和第二方向中的至少一個方向移動。此外,手移送器800可以使手700向第一方向移動。例如,該手移送器800可以包括制動器或液壓缸。
托盤移送器900可以將第二托盤600從第二托盤區域TP2和托盤推車1000中的一個移送到另一個。例如,托盤移送器900可以將安置有待測試的電子元件的第二裝載托盤601從第二裝載托盤區域LTP2移送到托盤推車1000。此外,安置有測試完成的電子元件的第二卸載托盤602可以被移送到第二卸載托盤區域UTP2。
托盤推車1000可以保管多個第二托盤600。
控制部1100可以控制緩衝台300、移送手400、梭子500、手700、手移送器800、托盤移送器900和托盤推車1000的工作。該控制部1100可以由包括微處理器的演算裝置、傳感器等測定裝置和存儲器來實現,由於其實現方式對於本領域技術人員來說是顯而易見的,因此將省略對其的進一步詳細說明。
控制部1100可以執行以下控制以支持對未測試電子元件的測試。例如,控制部1100可以控制移送手400從裝載在堆棧機200上的客戶托盤CT移送電子元件並裝載到緩衝台300中。此外,控制部1100可以控制移送手400移送安置在緩衝台300上的電子元件並裝載到第一裝載托盤510上。該控制部1100可以控制手700從第一裝載托盤510移送電子元件並裝載到放置在第二裝載托盤區域LTP2中的第二裝載托盤601上。此外,控制部1100可以控制托盤移送器900將安
置有電子元件的第二裝載托盤601從第二裝載托盤區域LTP2移送到托盤推車1000。移送到托盤推車1000的電子元件可以連接到測試儀進行測試。
另一方面,測試完成的電子元件可以被裝載在第二卸載托盤602上,控制部1100可以執行以下控制以將測試完成的電子元件移送回客戶托盤CT。例如,控制部1100控制托盤移送器900將安置有電子元件的第二卸載托盤602從托盤推車1000移送到第二卸載托盤區域UTP2。此外,控制部1100控制手700從放置在第二卸載托盤區域UTP2中的第二卸載托盤602卸載電子元件並移送到第一卸載托盤520。該控制部1100可以控制移送手400從第一卸載托盤520卸載電子元件並移送到緩衝台300,以將移送到緩衝台300的電子元件移送到裝載在堆棧機200上的客戶托盤CT上。
控制部1100可以根據需要選擇性地執行電子元件裝載過程和卸載過程。例如,控制部1100可以在僅執行裝載過程之後執行卸載過程,也可以同時執行裝載過程和卸載過程。
另一方面,電子元件測試分選機1還可以包括能夠通過拍攝安置在梭子500上的電子元件來獲取圖像信息的視覺單元。該視覺單元可以位於梭子500的上部,可以包括能夠拍攝梭子500的相機和輔助相機拍攝梭子500的反射鏡,所述梭子500位於比相機的視角更寬的範圍內。控制部1100可以基於從視覺單元獲得的圖像信息來判斷安置在梭子500中的電子元件是否安置不良。
此外,電子元件測試分選機1還可以包括能夠拍攝開閉單元710的拍攝單元(圖未示)。該拍攝單元設置在開閉單元710下方,用於對開閉單元710進行拍攝,通過該拍攝單元,用戶可以觀察開閉單元710是否損壞或異常。
在下文中,將參考圖15至圖20說明根據本發明實施例的用於控制電子元件測試分選機1的電子元件測試分選機的控制方法S10。
電子元件測試分選機的控制方法S10可以控制電子元件測試分選
機1以將電子元件與測試儀電連接。該電子元件測試分選機的控制方法S10可以包括緩衝器處理步驟S100、第一托盤處理步驟S200、第二托盤處理步驟S300和推車處理步驟S400。
在緩衝處理步驟S100中,移送手400可以在緩衝台300和堆棧機200之間移送電子元件。該緩衝器處理步驟S100可以包括緩衝裝載步驟S110和緩衝卸載步驟S120。
在緩衝裝載步驟S110中,移送手400可以從裝載在堆棧機200上的客戶托盤CT移送電子元件並裝載到緩衝台300上。
在緩衝卸載步驟S120中,移送手400可以卸載安置在緩衝台300上的電子元件並移送到裝載在堆棧機200上的客戶托盤CT上。
在第一托盤處理步驟S200中,移送手400可以將電子元件從緩衝台300和第一托盤501中的一個移送到另一個。例如,在第一托盤處理步驟S200中,把持部410可以一個一個地把持電子元件並進行移送。該第一托盤處理步驟S200可以包括第一托盤裝載步驟S210和第二托盤裝載步驟S220。
在第一托盤裝載步驟S210中,移送手400可以移送安置在緩衝台300上的電子元件並裝載到第一裝載托盤510上。
在第二托盤裝載步驟S220中,移送手400可以從第一卸載托盤520卸載電子元件並移送到緩衝台300上。
在第二托盤處理步驟S300中,手700可以將電子元件從第一托盤501和第二托盤600中的一個移送到另一個。例如,在第二托盤處理步驟S300中,多個拾取器220可以同時把持和移送多個電子元件。該第二托盤處理步驟S300可以包括第二托盤裝載步驟S310、第二托盤卸載步驟S320、開放步驟S330、關閉步驟S340和移送步驟S350。
在第二托盤裝載步驟S310中,手700可以從第一裝載托盤510移送
電子元件並裝載到放置在第二托盤區域TP2中的第二裝載托盤601上。
在第二托盤卸載步驟S320中,手700從放置在第二托盤區域TP2中的第二卸載托盤602卸載電子元件並移送到第一卸載托盤520上。
在開放步驟S330中,開閉單元710可以使插座620向外部開放。該開放步驟S330可以包括第一開放手移動步驟S331、上升步驟S332、第二開放手移動步驟S333和第三開放手移動步驟S334。
在第一開放手移動步驟S331中,掛鉤部713和支撐部714可以朝向插座620下降,使得插座620位於掛鉤部713和支撐部714之間(參考圖15(a)、圖15(b))。此外,在第一開放手移動步驟S331中,掛鉤部713可以移動到第一方向的一側(例如,圖15的左側)以支撐閂鎖621。在這種情況下,支撐部714可以向第一方向的另一側(例如,圖15的右側)移動比掛鉤部713移動的距離更長的距離(參考圖12(c))。
在上升步驟S332中,支撐閂鎖621的掛鉤部713可以上升。該上升步驟S332可以包括第一上升步驟S332A和第二上升步驟S332B。
在第一上升步驟S332A中,掛鉤部713可以在支撐閂鎖621的同時從安置部623上升規定距離。在這種情況下,隨著掛鉤部713的上升,閂鎖621可以向與安置部623形成的角度增大的方向旋轉(參考圖15(d))。
在第二上升步驟S332B中,支撐部714可以與閂鎖621的旋轉對應上升,同時支撐閂鎖621。在這種情況下,支撐部714可以在與閂鎖621的旋轉初始位置相鄰的位置處支撐閂鎖621。這樣,由於在第二上升步驟S332B中支撐部714在支撐閂鎖621的上側的同時上升,因此閂鎖621可以緩慢旋轉而不會突然旋轉。
因此,具有能夠防止在插座620中產生振動,並且防止安置在插座620中的電子元件脫離原來的位置或對電子元件施加衝擊的效果。
另一方面,在第二上升步驟S332B中,在閂鎖621的旋轉期間,掛鉤部713可以上升,同時向第一方向的一側移動以接近支撐部714。
在第二開放手移動步驟S333中,支撐部714在支撐向與安置部623形成的角度增大的方向旋轉的閂鎖621的同時,可以向第一方向的一側(例如,圖16的左側)移動。此外,在第二開放手移動步驟S333中,當閂鎖621垂直於安置部623時,支撐部714可以移動以與閂鎖621間隔開。在這種情況下,蓋子622可以通過從關閉狀態旋轉脫離而由掛鉤輥713b-3支撐。即,通過掛鉤輥713b-3,可以防止蓋子622從關閉狀態脫離而突然打開,並且可以最小化施加到蓋子622的振動(參考圖16(e))。
在第三開放手移動步驟S334中,掛鉤部713在支撐向與安置部623形成的角度增大的方向旋轉的蓋子622的同時,可以向第一方向的另一側(例如,圖16的右側)移動。此外,在第三開放手移動步驟S334中,在掛鉤部713的移動期間,蓋子622可以在被掛鉤輥713b-3支撐的同時旋轉(參考圖16(f))。在第三開放手移動步驟S334後,掛鉤部713和支撐部714可以從安置部623上升(參考圖16(g))。
在關閉步驟S340中,插座620可以對外關閉。該閉合步驟S340可包括第一閉合手移動步驟S341、下降步驟S342、第二閉合手移動步驟S343和第三閉合手移動步驟S344。
在第一閉合手移動步驟S341中,掛鉤部713和支撐部714可以朝向插座620下降,使得插座620位於掛鉤部713和支撐部714之間(參考圖17(a)、圖17(b))。此外,在第一閉合手移動步驟S341中,掛鉤部713在為了向與安置部623形成的角度減小的方向旋轉蓋子622而支撐蓋子622的同時,可以向第一方向的一側(例如,圖17的左側)移動。在第一閉合手移動步驟S341中,在掛鉤部713的移動期間,蓋子622可以在被掛鉤輥713b-3支撐的同時旋轉(參考圖17(c))。
在下降步驟S342中,掛鉤部713可以下降以按壓蓋子622,或者支
撐部714可以下降以按壓閂鎖621。該下降步驟S342可以包括第一下降步驟S342A和第二下降步驟S342B。
在第一下降步驟S342A中,掛鉤部713可以按壓蓋子622,從而使蓋子622處於關閉狀態(參考圖17(d))。
在第二下降步驟S342B中,支撐閂鎖621的支撐部714可以下降,使得蓋子622不脫離關閉狀態(參考圖18(g))。
在第二閉合手移動步驟S343中,掛鉤部713可以向第一方向的另一側(例如,圖18的右側)移動,以脫離閂鎖621的旋轉路徑(參考圖18(e))。在這種情況下,掛鉤部713可以不放置在插座620的上方。
在第三閉合手移動步驟S344中,支撐部714在為了向與安置部623形成的角度減小的方向旋轉閂鎖621而支撐閂鎖621的同時,可以向第一方向的另一側(例如,圖18的右側)移動(參考圖18(f))。在第三閉合手移動步驟S344後,掛鉤部713和支撐部714向彼此隔離的方向移動,並可以從安置部623上升(參考圖18(h))。
在移送步驟S350中,托盤移送器900可以將放置在第二卸載托盤區域UTP2上的第二托盤600移送到第二裝載托盤區域LTP2。在這種情況下,放置在第二卸載托盤區域UTP2中的第二托盤600由於電子元件被卸載,插座620內部可以是空缺狀態。此外,在移送步驟S350中,可以將第二托盤600移送到第二裝載托盤區域LTP2以將電子元件裝載到內部空缺的插座620中。這樣,由於從第二托盤600卸載電子元件之後立即將電子元件裝載到第二托盤600,因此具有可以縮短工程時間的效果。
在推車處理步驟S400中,托盤移送器900可以將第二托盤600從第二托盤區域TP2和托盤推車1000中的一個移送到另一個。該推車處理步驟S400可以包括推車裝載步驟S410和推車卸載步驟S420。
在推車裝載步驟S410中,托盤移送器900可以將安置有電子元件的第二裝載托盤601從第二托盤區域TP2移送到托盤推車1000上。
在推車卸載步驟S420中,托盤移送器900可以將第二卸載托盤602從托盤推車1000移送到第二托盤區域TP2上。
以上,將本發明的實施例作為具體的實施形態進行了說明,但這些僅為示例,本發明不限於此,根據本說明書所公開的技術思想,其應被解釋為具有最廣泛的範圍。本領域技術人員可以通過組合/替換所公開的實施形態來實現未揭示的形狀的圖案,這並不脫離本發明的範圍。此外,本領域技術人員可以很容易地根據本說明書對所公開的實施形態進行變更或變形,顯然這樣的變更或變形均屬於本發明的權利範圍之內。
1:分選機
100:框架
200:堆棧機
300:緩衝台
310:第一緩衝部
320:第二緩衝部
500:梭子
501:第一托盤
510:第一裝載托盤
520:第一卸載托盤
530:托盤導軌
600:第二托盤
601:第二裝載托盤
602:第二卸載托盤
610:托盤板
620:插座
800:手移送器
900:托盤移送器
1000:托盤推車
1100:控制部
CT:客戶托盤
FP:脫離區域
HP:把持區域
LTP1:第一裝載托盤區域
LTP2:第二裝載托盤區域
TP1:第一托盤區域
TP2:第二托盤區域
UTP1:第一卸載托盤區域
UTP2:第二卸載托盤區域
Claims (11)
- 一種電子元件測試分選機,其特徵在於,包括: 多個第一托盤,包括在第一托盤區域中可沿第一方向移動的第一裝載托盤和第一卸載托盤; 移送手,能夠將電子元件裝載到所述第一托盤上或從所述第一托盤上卸載裝載的所述電子元件; 至少一個第二托盤,能夠放置在與所述第一托盤區域相鄰的第二托盤區域中,所述第二托盤包括能夠安置所述電子元件的第二裝載托盤和第二卸載托盤;以及 手,在所述第一托盤區域和所述第二托盤區域之間移動,所述手包括拾取器單元和開閉單元中的至少一個,所述拾取器單元能夠將所述電子元件從所述第一托盤和所述第二托盤中的一個移送到另一個,所述開閉單元能夠選擇性地開閉設置在所述第二托盤中的插座; 所述移送手移送所述電子元件,將所述電子元件裝載到所述第一裝載托盤上,並卸載安置於所述第一卸載托盤上的電子元件, 所述手移送安置在所述第一裝載托盤上的電子元件並裝載到所述第二裝載托盤上,卸載安置於所述第二卸載托盤上的電子元件並移送到所述第一卸載托盤上。
- 如請求項1所述的電子元件測試分選機,其特徵在於,還包括: 緩衝台,設置於所述第一托盤區域沿所述第一方向的一側,能夠安置所述電子元件; 堆棧機,所述堆棧機上裝載有可安裝所述電子元件的客戶托盤; 托盤推車,所述托盤推車上裝載有多個所述第二托盤; 托盤移送器,能夠將多個所述第二托盤從所述第二托盤區域和所述托盤推車中的一個移送到另一個;以及 控制部,能夠控制所述移送手、所述手和所述托盤移送器; 所述控制部將電子元件從裝載在所述堆棧機上的所述客戶托盤移送到所述緩衝台,控制所述移送手移送安置於所述緩衝台上的電子元件並裝載到所述第一裝載托盤上, 所述控制部控制所述手將電子元件從所述第一裝載托盤移送並裝載到放置在所述第二托盤區域的所述第二裝載托盤上, 所述控制部控制所述托盤移送器將安置有所述電子元件的所述第二裝載托盤從所述第二托盤區域移送至所述托盤推車。
- 如請求項1所述的電子元件測試分選機,其特徵在於,還包括: 緩衝台,設置於所述第一托盤區域沿所述第一方向的一側,能夠安置所述電子元件; 堆棧機,所述堆棧機上裝載有可安裝所述電子元件的客戶托盤; 托盤推車,所述托盤推車上裝載有多個所述第二托盤; 托盤移送器,能夠將多個所述第二托盤從所述第二托盤區域和所述托盤推車中的一個移送到另一個;以及 控制部,能夠控制所述移送手、所述手和所述托盤移送器; 所述控制部控制所述托盤移送器將所述第二卸載托盤從所述托盤推車移送到所述第二托盤區域, 所述控制部控制所述手將電子元件從放置在所述第二托盤區域的所述第二卸載托盤上卸載並移送到所述第一卸載托盤, 所述控制部控制所述移送手將電子元件從所述第一卸載托盤上卸載並移送至所述緩衝台,並將安置在所述緩衝台上的電子元件移送到裝載在所述堆棧機上的所述客戶托盤上。
- 如請求項1所述的電子元件測試分選機,其特徵在於,還包括: 第一托盤導軌和第二托盤導軌,所述第一托盤導軌和所述第二托盤導軌在所述第一方向上,能夠引導多個所述第一托盤向所述第一方向移動, 所述第一托盤導軌可移動地支撐多個所述第一托盤中的任意一個, 所述第二托盤導軌在從所述第一方向上偏離的第二方向上與所述第一托盤導軌間隔設置,並可移動地支撐多個所述第一托盤中的另一個, 所述第一托盤中的一個設置在所述第一托盤中的另一個的上方,使得所述第一托盤中的一個可以獨立於所述第一托盤中的另一個移動。
- 如請求項1所述的電子元件測試分選機,其特徵在於,還包括: 緩衝台,設置於所述第一托盤區域沿所述第一方向的一側,能夠安置所述電子元件, 所述緩衝台包括: 第一緩衝部,設置於能夠放置所述移送手的把持區域內的規定位置上;以及 第二緩衝部,能夠從無法放置所述移送手的脫離區域和所述把持區域中的一個區域移動到另一個區域, 所述第二緩衝部被配置為可從所述第一緩衝部的上側沿所述第一方向移動。
- 如請求項1所述的電子元件測試分選機,其特徵在於,所述第一托盤包括: 口袋支架,可沿所述第一方向移動; 口袋台,具有向側方突出的懸掛區,所述口袋台可替換地支撐在所述口袋支架上;以及 防脫離部,可放置於固定位置和自由位置中的任意一個位置,所述固定位置的至少一部分位於所述懸掛區上,使得所述口袋台不會從所述口袋支架脫離,所述自由位置允許所述口袋台從所述口袋支架脫離。
- 如請求項1所述的電子元件測試分選機,其特徵在於, 所述手包括所述開閉單元,所述開閉單元包括: 掛鉤部;以及 支撐部,所述支撐部與所述掛鉤部間隔並與所述掛鉤部相對, 所述掛鉤部與所述支撐部各自被配置為彼此接近或遠離以開閉所述插座。
- 一種電子元件測試分選機,其特徵在於,包括: 第一托盤,可在第一托盤區域內沿第一方向移動; 第二托盤,可放置在沿偏離所述第一方向的第二方向上與所述第一托盤區域相鄰的第二托盤區域上,所述第二托盤包括可以安置電子元件的插座; 手,能夠將所述電子元件從所述第一托盤和所述第二托盤中的一個移送到另一個;以及 手移送器,能夠將所述手向所述第一方向移送; 所述手包括:手主體,由所述手移送器支撐; 拾取器單元,包括拾取器主體以及多個拾取器,所述拾取器主體支撐在所述手主體上,以在所述第一托盤區域和所述第二托盤區域之間沿所述第二方向移動,所述拾取器可將所述拾取器主體單獨升高和降低;以及 開閉單元,能夠選擇性地開閉所述插座,在被所述手主體支撐的同時,將所述手主體升高和降低。
- 一種電子元件測試分選機的控制方法,其特徵在於,包括: 第一托盤處理步驟,將電子元件裝載到移送手可以在第一托盤區域中沿第一方向移動的第一托盤上,或者從所述第一托盤中卸載裝載的所述電子元件;以及 第二托盤處理步驟,手在與所述第一托盤區域相鄰的第二托盤區域和所述第一托盤區域之間移動,並且將所述電子元件從所述第一托盤和所述第二托盤中的一個移送到另一個, 在所述第一托盤處理步驟中, 所述移送手移送所述電子元件並裝載在第一裝載托盤上,卸載安置於第一卸載托盤上的所述電子元件, 在所述第二托盤處理步驟中, 所述手移送安置在所述第一托盤上的所述電子元件並裝載在第二裝載托盤上,卸載安置於第二卸載托盤上的所述電子元件並移送到所述第一卸載托盤上,開閉單元選擇性地開閉設置在所述第二托盤中的插座。
- 如請求項9所述的電子元件測試分選機的控制方法,其特徵在於,還包括: 緩衝裝載步驟,所述移送手從裝載在堆棧機上的客戶托盤移送電子元件並裝載到緩衝台上;以及 推車裝載步驟,托盤移送器將安置有所述電子元件的所述第二裝載托盤從所述第二托盤區域移送到托盤推車, 所述第一托盤處理步驟包括第一托盤裝載步驟,其中,所述移送手移送安置在所述緩衝台上的所述電子元件並裝載到所述第一裝載托盤上, 所述第二托盤處理步驟包括第二托盤裝載步驟,其中,所述手從所述第一裝載托盤移送電子元件並裝載到放置在所述第二托盤區域中的所述第二裝載托盤上。
- 如請求項9所述的電子元件測試分選機的控制方法,其特徵在於,還包括: 緩衝卸載步驟,其中,所述移送手卸載安置於緩衝台上的電子元件並移送到裝載在堆垛機上的客戶托盤上;以及 推車卸載步驟,其中,托盤移送器將所述第二卸載托盤從托盤推車移送到所述第二托盤區域, 所述第一托盤處理步驟包括第一托盤卸載步驟,其中,所述移送手從所述第一卸載托盤卸載電子元件並移送到所述緩衝台上, 所述第二托盤處理步驟包括第二托盤卸載步驟,其中,所述手從放置在所述第二托盤區域中的所述第二卸載托盤上卸載所述電子元件並移送到所述第一卸載托盤上。
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Citations (3)
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TWI628446B (zh) * | 2017-07-07 | 2018-07-01 | 鴻勁精密股份有限公司 | Electronic component test picking and sorting equipment |
US20190299220A1 (en) * | 2016-05-27 | 2019-10-03 | Doppstadt Familienholding Gmbh | Sorting system |
TWI707727B (zh) * | 2018-04-25 | 2020-10-21 | 韓商泰克元股份有限公司 | 電子部件測試用分選機 |
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Patent Citations (3)
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US20190299220A1 (en) * | 2016-05-27 | 2019-10-03 | Doppstadt Familienholding Gmbh | Sorting system |
TWI628446B (zh) * | 2017-07-07 | 2018-07-01 | 鴻勁精密股份有限公司 | Electronic component test picking and sorting equipment |
TWI707727B (zh) * | 2018-04-25 | 2020-10-21 | 韓商泰克元股份有限公司 | 電子部件測試用分選機 |
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