TWI822912B - 聚酯薄膜及包含該聚酯薄膜之偏光板 - Google Patents

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Abstract

本發明提供一種在應用於影像顯示裝置時虹斑之產生少且可有助於提升偏光板之耐久性的聚酯薄膜。 本發明聚酯薄膜之面內相位差Re(590)為100nm以下，且在第1方向上之線膨脹係數為0/℃~4.0×10-5 /℃。在一實施形態中，上述在第1方向上之線膨脹係數及在與該第1方向正交之第2方向上之線膨脹係數之差的絕對值為1.0×10-5 /℃以下。

Description

聚酯薄膜及包含該聚酯薄膜之偏光板
本發明涉及聚酯薄膜及包含該聚酯薄膜之偏光板。
在影像顯示裝置(例如液晶顯示裝置、有機EL顯示裝置)中，由於其影像形成方式，多數情況下係於顯示單元之至少一側配置有偏光板。近年來，影像顯示裝置的功能、用途有變得更多樣化之傾向，而對其要求可耐受在更嚴酷之環境下使用。偏光板一般具有以2片保護薄膜包夾偏光件的構成，而保護薄膜廣泛使用三醋酸纖維素、丙烯酸系樹脂、環烯烴系樹脂等。另一方面，已有文獻基於如上述之耐久性的觀點，提議使用例如聚對苯二甲酸乙二酯(PET)或聚萘二甲酸乙二酯(PEN)這類機械特性、耐藥性、阻水性佳的聚酯薄膜作為偏光件保護薄膜(例如專利文獻1)。惟，雖然聚酯薄膜機械特性佳，但另一方面卻也具有雙折射，因此有時會導致虹斑產生等視辨性差之情形。尤其隨著近年來影像顯示裝置之高亮度化及高色純度化，所述虹斑之問題變得顯著。
另一方面，使用比以往更為廣泛使用之由三醋酸纖維素、丙烯酸系樹脂或環烯烴系樹脂所形成之保護薄膜來構成的偏光板有時會因溫度變化而於偏光件產生裂痕。近年來隨著影像顯示裝置之薄型化，而對偏光件要求薄膜化，另一方面隨著預想在高溫下使用的影像顯示裝置增加，而強烈需求不會於偏光件產生裂痕而耐久性佳的偏光板。
先前技術文獻 專利文獻 專利文獻1：日本特開平8-271733號公報
發明欲解決之課題 本發明是為了解決上述以往之課題而成者，其主要目的在於提供一種在應用於影像顯示裝置時虹斑之產生少且可有助於提升偏光板之耐久性的聚酯薄膜。
用以解決課題之手段 本發明聚酯薄膜之面內相位差Re(590)為100nm以下，且在第1方向上之線膨脹係數為0/℃~4.0×10-5 /℃。 在一實施形態中，上述在第1方向上之線膨脹係數及在與該第1方向正交之第2方向上之線膨脹係數之差的絕對值為1.0×10-5 /℃以下。 在一實施形態中，上述聚酯薄膜之定向函數(f)為0.01~0.24。 在一實施形態中，上述聚酯薄膜係由聚對苯二甲酸乙二酯及/或改質聚對苯二甲酸乙二酯形成。 在一實施形態中，上述改質聚對苯二甲酸乙二酯包含源自二乙二醇、1,4-丁二醇、1,3-丙二醇或間苯二甲酸之構成單元。 在一實施形態中，上述聚酯薄膜利用DSC測定之結晶化度為30%以上。 根據本發明之另一面向係提供一種偏光板。該偏光板具備偏光件與配置於偏光件之一側的上述聚酯薄膜。 在一實施形態中，上述聚酯薄膜在第1方向上之線膨脹係數與上述偏光件在與該第1方向平行之方向上之線膨脹係數之差的絕對值、及聚酯薄膜在與第1方向正交之第2方向上之線膨脹係數與該偏光件在與該第2方向平行之方向上之線膨脹係數之差的絕對值皆為3.5×10-5 /℃以下。 在一實施形態中，上述偏光件之厚度為20μm以下。 在一實施形態中，上述偏光板更包含配置於上述聚酯薄膜之上述偏光件側的易接著層。 在一實施形態中，上述易接著層包含微粒子。 在一實施形態中，上述易接著層的厚度為0.35μm以下。 在一實施形態中，上述易接著層的折射率為1.55以下。
發明效果 根據本發明，藉由將面內相位差設為100nm以下，並將預定方向之線膨脹係數設為0/℃~4.0×10-5 /℃，可提供一種在應用於影像顯示裝置時虹斑之產生少且可有助於提升偏光板之耐久性的聚酯薄膜。
以下說明本發明之較佳實施形態，惟本發明不受該等實施形態限定。
A.聚酯薄膜 上述聚酯薄膜之面內相位差Re(590)為100nm以下。在本發明中，藉由將面內相位差Re設為所述範圍，可獲得一種在應用於影像顯示裝置時虹斑之產生少的聚酯薄膜。聚酯薄膜之面內相位差Re(590)宜為80nm以下，較宜為60nm以下，更宜為55nm以下。只要為所述範圍，上述效果便更明顯。此外，面內相位差Re(590)愈小愈好，其下限理想上為0nm，例如可為1nm。此外，面內相位差Re(λ)係於23℃下以波長λnm之光測得之薄膜的面內相位差。因此，Re(590)係以波長590nm之光測得之薄膜的面內相位差。Re(λ)係令薄膜之厚度為d(nm)時，利用式：Re(λ)=(nx-ny)×d求得。此處，nx為面內之折射率成最大之方向(亦即慢軸方向)的折射率，ny為於面內與慢軸正交之方向的折射率。
上述聚酯薄膜在第1方向上之線膨脹係數為0/℃~4.0×10-5 /℃。只要為所述範圍，便可獲得一種可積層於偏光件而有效保護該偏光件並可防止該偏光件產生裂痕的聚酯薄膜。上述聚酯薄膜在第1方向上之線膨脹係數宜為0.2×10-5 /℃~4.0×10-5 /℃，且宜為1.0×10-5 /℃~4.0×10-5 /℃，更宜為1.5×10-5 /℃~4.0×10-5 /℃，尤宜為2.0×10-5 /℃~4.0×10-5 /℃，最宜為2.5×10-5 /℃~3.8×10-5 /℃。只要為所述範圍，上述效果便更明顯。在一實施形態中，上述第1方向相當於製造聚酯薄膜時之輸送方向(MD)。線膨脹係數可藉由依循JIS K 7197之TMA測定來決定。
在本發明中，藉由將面內相位差Re(590)及在第1方向上之線膨脹係數設為上述範圍，可提供一種在應用於影像顯示裝置時虹斑之產生少且可有助於提升偏光板之耐久性(防止裂痕產生)的聚酯薄膜。更詳細而言，上述聚酯薄膜可為經延伸步驟而得之延伸薄膜，藉由適當調整該延伸步驟中的製造條件，可平衡地控制面內相位差Re(590)及在第1方向上之線膨脹係數，結果可獲得一種如同上述由虹斑及耐久性之觀點來看作為偏光件保護薄膜有優異特性之聚酯薄膜。吾等認為可獲得如上述優異聚酯薄膜的原因之一在於藉由製造條件最佳化，不僅聚酯薄膜之線膨脹係數，還良好地調整了聚酯系樹脂之結晶性(結晶化度、定向性)。上述製造條件可舉如延伸條件(延伸溫度、延伸倍率、延伸速度、MD/TD延伸順序)、延伸前之預熱溫度、延伸後之熱處理溫度、延伸後之熱處理時間、延伸後之MD/TD方向的鬆弛率等。著眼於該等各種製造條件之最佳化而得以平衡地控制面內相位差Re(590)及在第1方向上之線膨脹係數乃本發明的一大成果。延伸溫度、延伸倍率及延伸速度可依各MD/TD作適當調整。此外，TD係指與製造聚酯薄膜時之輸送方向(MD)正交之方向。
上述聚酯薄膜在與上述第1方向正交之第2方向上之線膨脹係數宜為0/℃~4.0×10-5 /℃，且宜為1.0×10-5 /℃~4.0×10-5 /℃，更宜為1.5×10-5 /℃~4.0×10-5 /℃，尤宜為2.0×10-5 /℃~4.0×10-5 /℃，最宜為2.5×10-5 /℃~3.8×10-5 /℃。在一實施形態中，上述第2方向相當於TD。在第2方向上之線膨脹係數亦可藉由聚酯薄膜之製造條件(特別係延伸條件及熱處理條件)來控制。
聚酯薄膜在第1方向上之線膨脹係數與在第2方向上之線膨脹係數之差的絕對值宜為1.0×10-5 /℃以下，更宜為0.7×10-5 /℃以下。只要為所述範圍，防止偏光件產生裂痕之效果便明顯。
上述聚酯薄膜利用示差掃描熱量測定(DSC)所測定之結晶化度宜為30%以上，且宜為40%以上，更宜為50%以上。結晶化度的上限例如為70%。只要為所述範圍，便可獲得耐熱性及機械特性佳而適宜作為偏光件保護薄膜的聚酯薄膜。
上述聚酯薄膜中，結晶部分之配置宜在面內呈均勻狀態。例如宜將聚酯薄膜調整成使在第1方向與正交於第1方向的第2方向的結晶部分之量為相同程度。只要依上所述調整，便可獲得面內相位差小而不易產生虹斑的聚酯薄膜。結晶部分之配置可藉由聚酯薄膜製造時之延伸條件來調整。且，結晶部分之配置可藉由利用X射線繞射法(XRD)測定之結晶定向度來評估。
上述聚酯薄膜之定向函數(f)宜為0.01~0.24，較宜為0.05~0.20。該定向函數表示聚酯薄膜在第1方向(例如製造聚酯薄膜時的輸送方向(MD))上的結晶之定向性，若f＝1則為在第1方向上完全定向，若f＝0則為隨機，若f＝-0.5則為在正交於第1方向的第2方向上完全定向。只要定向函數(f)為上述範圍，便可提供一種在應用於影像顯示裝置時虹斑之產生特別少且可有助於提升偏光板之耐久性(防止裂痕產生)的聚酯薄膜。定向函數(f)例如係用傅立葉轉換紅外光譜光度計(FT-IR)並以偏光作為測定光，藉由衰減全反射分光(ATR：attenuated total reflection)測定來求得。具體而言，係在測定光(偏光)之振動方向平行於聚酯薄膜試料面之狀態及測定光(偏光)之振動方向正交於聚酯薄膜試料面之狀態下，分別使測定光入射試料來測定，並使用所獲得之光譜的1340cm-1 (結晶峰值)之強度I依下述式算出。在此，強度I係以1410cm-1 為參考峰值，而為1340cm-1 /1410cm-1 之值。 f=(3>cos2 θ>-1)/2 =[(R-1)(R0 +2)]/[(R+2)(R0 -1)] =(1-D)/[c(2D+1)] =-2×(1-D)/(2D+1) 惟， c=(3cos2 β-1)/2 β=90deg θ：分子鏈相對於延伸方向之角度 β：相對於分子鏈軸的躍遷偶極矩(β＝0) R0 =2cot2 β 1/R=D=(I//)/(I⊥) I⊥：在測定光(偏光)之振動方向正交於聚酯薄膜試料面之狀態下測定時的吸收強度 I//：在測定光(偏光)之振動方向平行於聚酯薄膜試料面之狀態下測定時的吸收強度
上述聚酯薄膜之厚度可因應目的或所期望之面內相位差等來設成適當之厚度。相位差薄膜之厚度代表上為10μm~100μm，宜為20μm~80μm，更宜為20μm~50μm。
上述聚酯薄膜的全光線透射率宜為80%以上，且宜為85%以上，90%以上更佳，尤宜為95%以上。上述聚酯薄膜之霧度宜為1.0%以下，且宜為0.7%以下，更宜為0.5%以下，尤宜為0.3%以下。
聚酯薄膜之透濕度宜為100g/m2 ・24hr以下，且宜為50g/m2 ・24hr以下，更宜為15g/m2 ・24hr以下。只要為所述範圍，便可獲得耐久性及耐濕性佳的偏光板。
本發明聚酯薄膜係由聚酯系樹脂形成。聚酯系樹脂可藉由羧酸成分與多元醇成分之縮合聚合來獲得。
羧酸成分可舉芳香族二羧酸、脂肪族二羧酸、脂環族二羧酸。芳香族二羧酸可舉例如對苯二甲酸、間苯二甲酸、苄基丙二酸、1,4-萘二甲酸、聯苯二甲酸、4,4'-氧基苯甲酸、2,5-萘二羧酸。脂肪族二羧酸可舉例如丙二酸、二甲基丙二酸、琥珀酸、戊二酸、己二酸、三甲基己二酸、庚二酸、2,2-二甲基戊二酸、壬二酸、癸二酸、延胡索酸、馬來酸、伊康酸、硫二丙酸、縮二羥乙酸。脂環族二羧酸可舉例如1,3-環戊烷二羧酸、1,2-環己烷二羧酸、1,3-環戊烷二羧酸、1,4-環己烷二羧酸、2,5-降莰烷二羧酸、金剛烷二羧酸。羧酸成分亦可為如酯、氯化物、酸酐這類衍生物，包含例如1,4-環己烷二羧酸二甲酯、2,6-萘二羧酸二甲酯、間苯二甲酸二甲酯、對苯二甲酸二甲酯及對苯二甲酸二苯酯。羧酸成分可單獨使用亦可將2種以上併用。
多元醇成分代表上可舉二元醇。二元醇可舉脂肪族二醇、脂環族二醇、芳香族二醇。脂肪族二醇可舉例如乙二醇、二乙二醇、三乙二醇、丙二醇、二丙二醇、1,3-丙二醇、2,4-二甲基-2-乙基己烷-1,3-二醇、2,2-二甲基-1,3-丙二醇(新戊二醇)、2-乙-2-丁-1,3-丙二醇、2-乙-2-異丁基-1,3-丙二醇、1,3-丁二醇、1,4-丁二醇、1,5-戊二醇、1,6-己二醇、3-甲-1,5-戊二醇、2,2,4-三甲基-1,6-己二醇。脂環族二醇可舉例如1,2-環己烷二甲醇、1,3-環己烷二甲醇、1,4-環己烷二甲醇、螺甘油、三環癸烷二甲醇、金剛烷二醇、2,2,4,4-四甲基-1,3-環丁二醇。芳香族二醇可舉例如4,4'-硫二酚、4,4'-亞甲基二酚、4,4'-(2-亞降莰基)二酚、4,4'-二羥聯苯、鄰苯二酚、間苯二酚及對苯二酚、4,4'-亞異丙基酚、4,4'-亞異丙基雙(2,6-二氯酚)2,5-萘二酚及對二甲苯二醇。多元醇成分可單獨使用亦可將2種以上併用。
上述聚酯系樹脂較宜使用聚對苯二甲酸乙二酯及/或改質聚對苯二甲酸乙二酯，更宜使用聚對苯二甲酸乙二酯。只要使用該等樹脂，便可獲得機械特性佳且虹斑之產生少的聚酯薄膜。聚對苯二甲酸乙二酯與改質聚對苯二甲酸乙二酯可混合後來使用。
改質聚對苯二甲酸乙二酯可舉例如包含源自二乙二醇、1,4-丁二醇、1,3-丙二醇或間苯二甲酸之構成單元的改質聚對苯二甲酸乙二酯。多元醇成分中之二乙二醇之比率宜大於0莫耳%且在10莫耳%以下，更宜大於0莫耳%且在3莫耳%以下。多元醇成分中之1,4-丁二醇之比率宜大於0莫耳%且在10莫耳%以下，更宜大於0莫耳%且在3莫耳%以下。多元醇成分中之1,3-丙二醇之比率宜大於0莫耳%且在10莫耳%以下，更宜大於0莫耳%且在3莫耳%以下。羧酸成分中之間苯二甲酸之比率宜大於0莫耳%且在10莫耳%以下，更宜大於0莫耳%且在8莫耳%以下。只要為所述範圍，便可獲得具有良好結晶性之聚酯薄膜。另，上述記載之莫耳%為相對於聚合物所有重複單元之合計的莫耳%。
聚酯系樹脂之重量平均分子量宜為10000~100000，更宜為20000~75000。只要為所述重量平均分子量，成形時之操作便容易，且可獲得具優異機械強度之薄膜。重量平均分子量可藉由GPC(溶劑：THF)來測定。
在一實施形態中，係提供一種附易接著層之聚酯薄膜。易接著層例如包含水系聚胺甲酸酯與唑啉系交聯劑。易接著層之詳細內容例如記載於日本特開2010-55062號公報中。本說明書中係援用該公報整體之記載作為參考。
在一實施形態中，上述易接著層包含任意適當之微粒子。藉由形成包含微粒子的易接著層，可有效抑制捲取時產生之黏結。上述微粒子可為無機系微粒子，亦可為有機系微粒子。無機系微粒子可舉例如二氧化矽、二氧化鈦、氧化鋁、二氧化鋯等無機氧化物；碳酸鈣、滑石、黏土、燒成高嶺土、燒成矽酸鈣、水合矽酸鈣、矽酸鋁、矽酸鎂、磷酸鈣等。有機系微粒子可舉例如聚矽氧系樹脂、氟系樹脂、(甲基)丙烯酸系樹脂等。該等中又以二氧化矽為佳。
上述微粒子之粒徑(數平均一次粒徑)宜為10~200nm，更宜為20~60nm。
上述易接著層之厚度宜為2μm以下，且宜為1μm以下，更宜為0.35μm以下。只要為所述範圍，便可獲得一種在應用於影像顯示裝置時不易阻礙其他構件之光學特性的附易接著層之聚酯薄膜。
在一實施形態中，上述易接著層之折射率宜為1.45~1.60。只要為所述範圍，便可獲得一種在應用於影像顯示裝置時不易阻礙其他構件之光學特性的附易接著層之聚酯薄膜。在一實施形態中，上述易接著層之折射率為1.54以上。
在一實施形態中，上述聚酯薄膜可於其至少一側具備抗黏結層。抗黏結層之構成可採用上述說明的易接著層之構成。理想上抗黏結層宜包含上述微粒子。
(聚酯薄膜之製造方法) 上述聚酯薄膜可經以下步驟製得：成形步驟，係將包含上述聚酯系樹脂的薄膜形成材料(樹脂組成物)形成為薄膜狀；延伸步驟，係將該已成形之薄膜延伸。理想上延伸步驟宜包含在薄膜延伸之前進行的薄膜預熱處理及在薄膜延伸之後進行的熱處理。在一實施形態中，聚酯薄膜係以長條狀(或從長條體裁切出之形狀)提供。
薄膜形成材料除上述聚酯系樹脂，還可包含有添加劑，亦可包含有溶劑。添加劑可因應目的採用任意適當之添加劑。添加劑之具體例可舉反應性稀釋劑、塑化劑、界面活性劑、充填劑、抗氧化劑、抗老止劑、紫外線吸收劑、調平劑、觸變劑、抗靜電劑、導電材、阻燃劑。添加劑之數量、種類、組合、添加量等可依目的適當設定。
由薄膜形成材料形成薄膜之方法可採用任意適當之成形加工法。具體例可舉：壓縮成形法、轉注成形法、射出成形法、擠製成形法、吹氣成形法、粉末成形法、FRP成形法、澆鑄塗敷法(例如流延法)、砑光成形法、熱壓法等。而宜為擠製成形法或澆鑄塗敷法。其係因可提高所得薄膜的平滑性，從而可獲得良好的光學均勻性。
薄膜之延伸方法代表上為雙軸延伸，更詳而言之為逐次雙軸延伸或同時雙軸延伸。宜採用同時雙軸延伸。只要透過同時雙軸延伸來延伸薄膜，便可獲得一種可平衡地控制面內相位差Re(590)及線膨脹係數而虹斑之產生特別少的聚酯薄膜。逐次雙軸延伸或同時雙軸延伸代表上係使用拉幅延伸機來進行。因此，薄膜之延伸方向代表上為薄膜之長度方向(MD)及寬度方向(TD)。
相對於薄膜之玻璃轉移溫度(Tg)，延伸溫度宜為Tg+5℃~Tg+50℃，且宜為Tg+5℃~Tg+30℃，更宜為Tg+5℃~Tg+10℃。藉由在所述溫度下延伸，可獲得一種面內相位差Re(590)及線膨脹係數經平衡控制的聚酯薄膜。且可獲得透明性佳之聚酯薄膜。
於MD之延伸倍率宜為1.1倍~5倍，且宜為1.1倍~4倍，更宜為1.5倍~3.5倍，尤宜為大於2倍且在3.2倍以下。只要為所述範圍，便可獲得一種可將面內相位差控制在所期望之範圍內，同時具有良好結晶性的聚酯薄膜。
於TD之延伸倍率宜為1.1倍~5倍，且宜為1.1倍~4倍，更宜為1.5倍~3.5倍，尤宜為大於2倍且在3.2倍以下。只要為所述範圍，便可獲一種可將面內相位差控制在所期望之範圍內，同時具有良好結晶性的聚酯薄膜。
於MD之延伸倍率與於TD之延伸倍率之比(TD延伸倍率/MD延伸倍率)宜為0.7~1.5，且宜為0.8~1.2，更宜為0.9~1。只要為所述範圍，便可獲得虹斑之產生特別少的聚酯薄膜。
於MD之延伸速度宜為5%/sec~400%/sec，且宜為5%/sec~150%/sec，更宜為8%/sec~150%/sec，以8%/sec~100%/sec更佳，尤宜為8%/sec~80%/sec，最宜為8%/sec~60%/sec。只要為所述範圍，便可獲得光學特性佳且具良好結晶性之聚酯薄膜。
於TD之延伸速度宜為5%/sec~150%/sec，且宜為5%/sec~100%/sec，更宜為8%/sec~100%/sec，尤宜為8%/sec~80%/sec，最宜為8%/sec~60%/sec。只要為所述範圍，便可獲得光學特性佳且具良好結晶性之聚酯薄膜。
預熱處理之溫度宜為80℃~150℃，更宜為90℃~130℃。又，預熱處理之時間宜為5秒~100秒，且宜為10秒~100秒，更宜為15秒~80秒。只要為所述範圍，便可獲得光學特性佳且具良好結晶性之聚酯薄膜。
熱處理之溫度宜為100℃~250℃，且宜為120℃~200℃，更宜為130℃~180℃。只要為所述範圍，便可獲得透明性佳且具良好結晶性之聚酯薄膜。熱處理之時間宜為1秒~50秒，且宜為2秒~50秒，更宜為2秒~40秒，尤宜為5秒~40秒，最宜為8秒~30秒。只要為所述範圍，便可獲得透明性佳且具良好結晶性之聚酯薄膜。
B.偏光板 圖1係本發明之一實施形態之偏光板的概略截面圖。偏光板100具備偏光件10與配置於偏光件10之一側的聚酯薄膜20。聚酯薄膜20可使用上述A項所說明之本發明聚酯薄膜。偏光件之另一側可配置任意適當之其他偏光件保護薄膜，亦可不配置偏光件保護薄膜。在一實施形態中，偏光件10與聚酯薄膜20(或其他偏光件保護薄膜)係透過接著劑層30積層。
在一實施形態中，上述偏光板可以使配置有上述聚酯薄膜之側成為視辨側的方式應用於影像顯示裝置。又，將上述偏光板應用於液晶顯示裝置時，具備聚酯薄膜之偏光板可配置於液晶單元之視辨側，亦可配置於背面側。
偏光件可採用任意適當的偏光件。例如，形成偏光件之樹脂薄膜可為單層樹脂薄膜亦可為二層以上之積層體。
由單層樹脂薄膜構成之偏光件的具體例，可舉如利用碘或二色性染料等二色性物質對聚乙烯醇(PVA)系薄膜、部分縮甲醛化PVA系薄膜、乙烯・乙酸乙烯酯共聚物系部分皂化薄膜等親水性高分子薄膜施予染色處理及延伸處理者，以及PVA之脫水處理物或聚氯乙烯之脫鹽酸處理物等多烯系定向薄膜等。若從光學特性佳的觀點來看，宜使用以碘將PVA系薄膜染色並進行單軸延伸所得的偏光件。
上述利用碘進行之染色譬如可將PVA系薄膜浸漬於碘水溶液中來進行。上述單軸延伸之延伸倍率宜為3~7倍。延伸可在染色處理後進行，亦可邊染色邊進行。又，亦可延伸後再染色。可因應需求對PVA系薄膜施行膨潤處理、交聯處理、洗淨處理、乾燥處理等。譬如，在染色前將PVA系薄膜浸漬於水中進行水洗，不僅可洗淨PVA系薄膜表面的污垢或抗黏結劑，還可使PVA系薄膜膨潤，從而防止染色不均等。
使用積層體而獲得之偏光件的具體例，可舉出樹脂基材與積層在該樹脂基材之PVA系樹脂層(PVA系樹脂薄膜)的積層體，或者是使用樹脂基材與塗佈形成於該樹脂基材之PVA系樹脂層的積層體而獲得之偏光件。使用樹脂基材與塗佈形成於該樹脂基材之PVA系樹脂層的積層體獲得之偏光件，例如可透過以下方式製作：將PVA系樹脂溶液塗佈於樹脂基材並使其乾燥，而於樹脂基材上形成PVA系樹脂層，從而獲得樹脂基材與PVA系樹脂層之積層體；及，將該積層體延伸並染色以將PVA系樹脂層製成偏光件。在本實施形態中，延伸在代表上包含使積層體浸漬於硼酸水溶液中並延伸。並且，延伸可因應需求更包含：在硼酸水溶液中延伸之前，在高溫(例如95℃以上)下將積層體進行空中延伸。可以直接使用所得樹脂基材/偏光件之積層體(即，可將樹脂基材作為偏光件之保護層)，亦可從樹脂基材/偏光件之積層體剝離樹脂基材並於該剝離面視目的積層任意適當的保護層後來使用。所述偏光件之製造方法的詳細內容記載於例如日本特開2012-73580號公報。本說明書中係援用該公報整體之記載作為參考。
偏光件之厚度舉例而言為1μm~80μm。在一實施形態中，偏光件之厚度宜為20μm以下，更宜為3µm~15µm。只要使用本發明聚酯薄膜，便可有效防止偏光件之裂痕，因此即便於高溫、溫度變化大等嚴苛之環境下，仍可使用薄偏光件。
偏光件與偏光件保護薄膜(聚酯薄膜)可透過任意適當之接著劑層積層。較佳為接著劑層由包含聚乙烯醇系樹脂之接著劑組成物形成。
上述偏光板中，聚酯薄膜在第1方向上之線膨脹係數與偏光件在與該第1方向平行之方向上之線膨脹係數之差的絕對值宜為3.5×10-5 /℃以下，且宜為3.3×10-5 /℃以下，更宜為3.0×10-5 /℃以下。只要為所述範圍，即便於高溫、溫度變化大等嚴苛之環境下，仍可防止偏光件之裂痕。聚酯薄膜在第1方向上之線膨脹係數與偏光件在與該第1方向平行之方向上之線膨脹係數之差的絕對值的下限愈小愈好，例如可為0.5×10-5 /℃。
上述偏光板中，聚酯薄膜在第2方向(與第1方向正交之方向)上之線膨脹係數及偏光件在與該第2方向平行之方向上之線膨脹係數之差的絕對值宜為3.5×10-5 /℃以下，且宜為3.3×10-5 /℃以下，更宜為3.0×10-5 /℃以下，尤宜為2.5×10-5 /℃以下。只要為所述範圍，即便於高溫、溫度變化大等嚴苛之環境下，仍可防止偏光件之裂痕。聚酯薄膜在第2方向上之線膨脹係數與偏光件在與該第2方向平行之方向上之線膨脹係數之差的絕對值的下限愈小愈好，例如可為0.5×10-5 /℃。
在一實施形態中，聚酯薄膜在第1方向上之線膨脹係數與偏光件在與該第1方向平行之方向上之線膨脹係數之差的絕對值、及聚酯薄膜在第2方向(與第1方向正交之方向)上之線膨脹係數與偏光件在與該第2方向平行之方向上之線膨脹係數之差的絕對值皆為3.5×10-5 /℃以下(宜為3.3×10-5 /℃以下)。只要為所述範圍，即便於高溫、溫度變化大等嚴苛之環境下，仍可防止偏光件之裂痕。
圖2為本發明之另一實施形態之偏光板之概略截面圖。偏光板200更具備配置於聚酯薄膜20之偏光件10側的易接著層40。在一實施形態中，係以使易接著層40成為偏光件10之側的方式將附易接著層之聚酯薄膜A配置於偏光件10上。易接著層可採用上述A項記載之易接著層。
C.影像顯示裝置 上述偏光板可應用在影像顯示裝置。影像顯示裝置之代表例可舉液晶顯示裝置、有機電致發光(EL)顯示裝置。影像顯示裝置可採用業界周知之構造，故而省略詳細說明。 實施例
以下，以實施例來具體說明本發明，惟本發明不受該等實施例限定。實施例之各特性的測定方法如以下所述。此外，只要無特別註記，實施例中之「份」及「%」即為重量基準。
(1)面內相位差Re(590) 將實施例及比較例中所使用之聚酯薄膜裁切成長5cm及寬5cm，製成測定試料。針對該測定試料，使用Axometrics公司製之製品名「Axoscan」測定面內相位差。測定波長為590nm，測定溫度為23℃。 (2)線膨脹係數 將聚酯薄膜及偏光件之線膨脹係數依據JIS K 7197，使用Hitachi High-Tech Science Corporation製之熱機械分析裝置「TMA7100」，以10℃/分鐘之速度從30℃升溫至150℃，並測定試驗薄膜在各溫度的變形量。然後，從在30℃~70℃之溫度範圍下之變形量求出該薄膜的線膨脹係數。另，當薄膜尺寸隨溫度上升而變大(膨脹)時定為正(+)，當薄膜尺寸隨溫度上升而變小(收縮)時則定為負(-)。 針對聚酯薄膜測定MD(第1方向)、TD(第2方向)之線膨脹係數。偏光件係測定偏光板上平行於該MD之方向及平行於該TD之方向的線膨脹係數。 (3)結晶化度 利用示差掃描熱量測定(DSC)測定實施例及比較例所用聚酯薄膜之結晶化度。求出在以10℃/分鐘將試料升溫至300℃的升溫中觀測到的發熱量及熔解熱量，並透過下述式求出結晶化度。另，發熱量及熔解熱量之測定係使用TA instruments公司製Q-2000來進行。 結晶化度(%)＝(測定所得熔解熱量-測定所得發熱量)/結晶化度100%聚對苯二甲酸乙二酯的熔解熱量(119mJ/mg)×100 (4)聚酯薄膜之定向函數(f) 聚酯薄膜之定向函數(f)係用傅立葉轉換紅外光譜光度計(PerkinElmer公司製，商品名「Frontier FT IR」)並以偏光作為測定光，藉由衰減全反射分光(ATR：attenuated total reflection)測定來求得。 具體而言，係在測定光(偏光)之振動方向平行於聚酯薄膜試料面之狀態及測定光(偏光)之振動方向正交於聚酯薄膜試料面之狀態下，分別使測定光入射試料來測定，再使用所獲得之光譜的1340cm-1 (結晶峰值)之強度I依下述式算出。在此，強度I係以1410cm-1 為參考峰值，而為1340cm-1 /1410cm-1 之值。 f=(3>cos2 θ>-1)/2 =[(R-1)(R0 +2)]/[(R+2)(R0 -1)] =(1-D)/[c(2D+1)] =-2×(1-D)/(2D+1) 惟， c=(3cos2 β-1)/2 β=90deg θ：分子鏈相對於延伸方向之角度 β：相對於分子鏈軸的躍遷偶極矩(β＝0) R0 =2cot2 β 1/R=D=(I//)/(I⊥) I⊥：在測定光(偏光)之振動方向正交於聚酯薄膜試料面之狀態下測定時的吸收強度 I//：在測定光(偏光)之振動方向平行於聚酯薄膜試料面之狀態下測定時的吸收強度 (5)虹斑 從LGD公司製液晶TV「45UH7500」取出液晶單元並剝除背光側之偏光板。於該液晶TV之已剝除偏光板之面，透過黏著劑將實施例及比較例中所得偏光板貼合成偏光件之吸收軸成為液晶TV之短邊側。再度設置貼合有實施例及比較例中所得偏光板的液晶單元，並將TV點亮為白顯示。 在已點亮之液晶TV的極角60°之角度下，以肉眼進行全方位確認，觀察有無虹斑。按以下基準進行評估。 ○：未觀察到虹斑 △：有觀察到些許虹斑 ×：有觀察到顯著的虹斑 (6)尺寸變化 將實施例及比較例所用聚酯薄膜裁切成100mm×100mm。將該裁切出薄膜用Mitutoyo Corporation製：CNC影像測定機 QuickVision(QV606)正確地測定尺寸。然後，放入100℃之加熱烘箱24小時後取出薄膜，並再次正確測定尺寸，求出尺寸變化。 (7)裂痕試驗(熱震加速試驗) 針對實施例及比較例所得偏光板，用冷熱衝撃試驗機(ESPEC製)來進行評估。 將實施例及比較例所得偏光板裁切成寬50mm×長150mm。此時，製作偏光件之吸收軸方向平行於裁切後之偏光板之橫向(短邊)的試樣與偏光件之透射軸方向平行於裁切後之偏光板之橫向(短邊)的試樣。透過丙烯酸系黏著劑貼合偏光板之未積層保護薄膜(聚酯薄膜)之面與厚0.5mm之無鹼玻璃，製出試樣。 將所得試樣放入冷熱衝擊試驗機的測試區，並耗時30分鐘將測試區內從室溫降溫至-40℃。接著，耗時30分鐘將測試區內升溫至85℃後，耗時30分鐘再度降溫至-40℃。以此從-40℃升溫至85℃並再度降溫至-40℃的步驟作為1個循環，並在反覆進行100個循環、200個循環後，取出積層體，以肉眼確認有無產生裂痕，並依以下基準進行評估。 ○：反覆200個循環後亦未觀察到裂痕。 △：反覆100個循環後未觀察到裂痕，但反覆200個循環後產生了裂痕。 ×：反覆100個循環後產生了裂痕。
[製造例1]製造聚酯薄膜A 將聚酯樹脂(聚對苯二甲酸乙二酯，Bell Polyester Products,Inc.製，IV值：0.75dl/g(在酚：1,1,2,2-四氯乙烷＝6：4混合溶劑 溶液濃度0.4g/dl 下進行測定))在100℃下進行10小時真空乾燥後，使用具備單軸擠製機(東洋精機公司製，螺桿徑25mm，氣缸設定溫度：280℃)、T型模具(寬500mm，設定溫度：280℃)、冷卻輥(設定溫度：50℃)及捲取機的薄膜製膜裝置，製作出厚度200μm的非晶性聚酯系樹脂薄膜。 將所得非晶性聚酯系樹脂薄膜用‎Bruckner公司製延伸機KAROIV進行同時雙軸延伸，而獲得聚酯薄膜A(面內相位Re(590)：89nm，厚度：22μm)。延伸倍率係於長度方向(MD)上設為3倍，於寬度方向(TD)設為3倍。延伸溫度設為90℃，延伸速度係MD、TD皆設為10%/sec。並於延伸處理後，在維持尺寸下，於140℃下進行熱處理10秒鐘。
[製造例2]製造聚酯薄膜B 除了將延伸速度於MD、TD皆設為50%/sec外，依與製造例1相同方式而獲得了聚酯薄膜B(面內相位Re(590)：41nm，厚度：22μm)。
[製造例3]製造聚酯薄膜C 將聚酯樹脂(聚對苯二甲酸乙二酯，Bell Polyester Products,Inc.製，間苯二甲酸改質量：2.5mol%(相對於聚合物所有重複單元之合計的mol數)，二乙二醇改質量：1.0mol%(相對於聚合物所有重複單元之合計的mol數)，IV值：0.77dl/g(在酚：1,1,2,2-四氯乙烷＝6：4混合溶劑 溶液濃度0.4g/dl 下進行測定))在100℃下進行10小時真空乾燥後，使用具備單軸擠製機(東洋精機公司製，螺桿徑25mm，氣缸設定溫度：280℃)、T型模具(寬500mm，設定溫度：280℃)、冷卻輥(設定溫度：50℃)及捲取機的薄膜製膜裝置，製作出厚度200μm的非晶性聚酯系樹脂薄膜。 將所得非晶性聚酯系樹脂薄膜用‎Bruckner公司製延伸機KAROIV進行同時雙軸延伸，而獲得聚酯薄膜C(面內相位Re(590)：52nm，厚度：22μm)。延伸倍率係於長度方向(MD)上設為3倍，於寬度方向(TD)設為3倍。延伸溫度設為85℃，延伸速度係MD、TD皆設為50%/sec。並於延伸處理後，在維持尺寸下，於180℃下進行熱處理10秒鐘。
[製造例4]製造聚酯薄膜D 將延伸倍率於長度方向(MD)設為2.5倍、於寬度方向(TD)設為2.5倍，並將延伸速度於MD、TD皆設為30%/sec，除此之外依與製造例1相同方式而獲得了聚酯薄膜D(面內相位Re(590)：68nm，厚度：35μm)。
[製造例5]製造聚酯薄膜E 將延伸倍率於長度方向(MD)設為4倍、於寬度方向(TD)設為4倍，並將延伸速度於MD、TD皆設為100%/sec，除此之外依與製造例1相同方式而獲得了聚酯薄膜D(面內相位Re(590)：51nm，厚度：20μm)。
[製造例6]製造聚酯薄膜F 除了將延伸速度於MD、TD皆設為2%/sec外，依與製造例1相同方式而獲得了聚酯薄膜F(面內相位Re(590)：114nm，厚度：25μm)。
[製造例7]製造聚酯薄膜G 將延伸倍率於MD、TD皆設為2倍，並將延伸速度於MD、TD皆設為2%/sec，除此之外依與製造例1相同方式而獲得了聚酯薄膜G(面內相位Re(590)：54nm，厚度：50μm)。
[製造例8]製造聚酯薄膜H 將聚酯樹脂(聚對苯二甲酸乙二酯，Bell Polyester Products,Inc.製，間苯二甲酸改質量：6.8mol%(相對於聚合物所有重複單元之合計的mol數)，二乙二醇改質量：1.0mol%(相對於聚合物所有重複單元之合計的mol數)，IV值0.85dl/g(在酚：1,1,2,2-四氯乙烷＝6：4混合溶劑 溶液濃度0.4g/dl 下進行測定)在100℃下進行10小時真空乾燥後，使用具備單軸擠製機(東洋精機公司製，螺桿徑25mm，氣缸設定溫度：280℃)、T型模具(寬500mm，設定溫度：280℃)、冷卻輥(設定溫度：50℃)及捲取機的薄膜製膜裝置，製作出厚度200μm的非晶性聚酯系樹脂薄膜。 將所得非晶性聚酯系樹脂薄膜用‎Bruckner公司製延伸機KAROIV進行同時雙軸延伸，而獲得聚酯薄膜H(面內相位Re(590)：110nm，厚度：22μm)。延伸倍率係於長度方向(MD)上設為3倍，於寬度方向(TD)設為3倍。延伸溫度設為90℃，延伸速度係MD、TD皆設為10%/sec。並於延伸處理後，在維持尺寸下，於140℃下進行熱處理10秒鐘。
[製造例9]製造聚酯薄膜I 將聚酯樹脂(聚對苯二甲酸乙二酯，Bell Polyester Products,Inc.製，間苯二甲酸改質量：2.5mol%(相對於聚合物所有重複單元之合計的mol數)，二乙二醇改質量：1.0mol%(相對於聚合物所有重複單元之合計的mol數)，IV值：0.77dl/g(在酚：1,1,2,2-四氯乙烷＝6：4混合溶劑 溶液濃度0.4g/dl 下進行測定)在100℃下進行10小時真空乾燥後，使用具備單軸擠製機(東洋精機公司製，螺桿徑25mm，氣缸設定溫度：280℃)、T型模具(寬500mm，設定溫度：280℃)、冷卻輥(設定溫度：50℃)及捲取機的薄膜製膜裝置，製作出厚度50μm的聚酯薄膜I(面內相位差Re(590)：17nm，厚度：50μm，)。
[製造例10]製造偏光件A 將厚度30μm之聚乙烯醇(PVA)系樹脂薄膜(Kuraray製，製品名「PE3000」)的長條捲料，利用輥延伸機沿長邊方向進行單軸延伸使其沿長邊方向成為5.9倍並同時施以膨潤、染色、交聯、洗淨處理，最後施以乾燥處理而製出厚度12μm之偏光件A。 具體而言，膨潤處理係於20℃之純水中一邊進行處理一邊延伸成2.2倍。接著，染色處理係一邊於碘濃度經調整成可使所得偏光件的單體透射率成為45.0%之碘與碘化鉀之重量比為1：7的30℃的水溶液中進行處理一邊延伸1.4倍。再來，交聯處理係採用二階段交聯處理，第一階段之交聯處理係一邊於40℃的硼酸與碘化鉀溶解而成的水溶液中進行處理一邊延伸1.2倍。第一階段之交聯處理的水溶液之硼酸含量係設為5.0重量%，而碘化鉀含量係設為3.0重量%。第二階段之交聯處理係一邊於65℃的硼酸與碘化鉀溶解而成的水溶液中進行處理一邊延伸1.6倍。第二階段之交聯處理的水溶液之硼酸含量係設為4.3重量%，而碘化鉀含量係設為5.0重量%。又，洗淨處理係以20℃之碘化鉀水溶液進行處理。洗淨處理之水溶液的碘化鉀含量係設為2.6重量%。最後，乾燥處理係於70℃下乾燥5分鐘而獲得偏光件A。
[實施例1] 基材係使用長條狀、吸水率0.75%、Tg75℃之非晶質間苯二甲酸共聚聚對苯二甲酸乙二酯(IPA共聚PET)薄膜(厚度：100μm)。於基材單面施以電暈處理，並於該電暈處理面上於25℃下塗佈以9：1之比含有聚乙烯醇(聚合度4200，皂化度99.2莫耳%)及乙醯乙醯基改質PVA(聚合度1200，乙醯乙醯基改質度4.6%，皂化度99.0莫耳%以上，日本合成化學工業公司製，商品名「GOHSEFIMER(註冊商標) Z200」)之水溶液後進行乾燥，形成厚度11μm之PVA系樹脂層，而製出積層體。 將所獲得之積層體於120℃之烘箱內在不同周速之輥件間沿縱方向(長邊方向)進行自由端單軸延伸2.0倍(空中輔助延伸)。 接著，使積層體浸漬於液溫30℃的不溶解浴(相對於水100重量份摻混4重量份之硼酸而得的硼酸水溶液)中30秒(不溶解處理)。 接著，一邊使其浸漬於液溫30℃的染色浴中一邊調整碘濃度、浸漬時間以使偏光板成為預定之透射率。本實施例係使其浸漬於相對於100重量份的水摻混0.2重量份的碘、1.5重量份的碘化鉀所得之碘水溶液中60秒(染色處理)。 接著，使其浸漬於液溫30℃的交聯浴(相對於水100重量份摻混3重量份的碘化鉀並摻混3重量份的硼酸而得之硼酸水溶液)中30秒(交聯處理)。 其後，一邊使積層體浸漬於液溫70℃之硼酸水溶液(相對於100重量份的水摻混4重量份硼酸、5重量份碘化鉀所得之水溶液)中，一邊於不同周速之輥件間沿縱方向(長邊方向)進行單軸延伸以使總延伸倍率達5.5倍(水中延伸)。 之後，使積層體浸漬於液溫30℃的洗淨浴(相對於水100重量份，摻混4重量份的碘化鉀而獲得之水溶液)中(洗淨處理)。 又，對製造例1中所製造之聚酯薄膜A進行電暈處理，並以使乾燥後膜厚為300μm之方式塗敷溶解有第一工業製藥公司製之商品名「SUPERFLEX 210R」15.2wt%與日本觸媒公司製之商品名「WS-700」2.7wt%的水溶液，再於80℃下使其乾燥1分鐘，而獲得附易接著層之聚酯薄膜A。 於上述積層體之PVA系樹脂層表面塗佈PVA系樹脂水溶液(日本合成化學工業公司製，製品名「GOHSEFIMER(註冊商標)Z-200」，樹脂濃度：3重量%)，並貼合上述附易接著層之聚酯薄膜A。將所得積層體以維持在60℃之烘箱加熱5分鐘。然後，將基材從PVA系樹脂層剝離，而獲得偏光板(偏光件B(透射率42.3%，厚度5μm)/保護薄膜(聚酯薄膜))。另，聚酯薄膜A與偏光件B宜以使聚酯薄膜A之MD方向大致平行於偏光件之吸收軸方向的方式積層。 將所得偏光板供於上述評估(2)～(7)。將結果列於表1。
[實施例2] 除了使用製造例2所得聚酯薄膜B來取代製造例1所製造之聚酯薄膜A外，依與實施例1相同方式而獲得了偏光板。 將所得偏光板供於上述評估(2)～(7)。將結果列於表1。
[實施例3] 於製造例10所得偏光件A之單面塗佈PVA系樹脂水溶液(日本合成化學工業公司製，商品名「GOHSEFIMER(註冊商標)Z-200」、樹脂濃度：3重量%)，並貼合製造例2所得聚酯薄膜B。將所得積層體以維持在60℃之烘箱加熱5分鐘而獲得偏光板。 將所得偏光板供於上述評估(2)～(7)。將結果列於表1。
[實施例4] 除了使用製造例3所得聚酯薄膜C來取代製造例1所製造之聚酯薄膜A外，依與實施例1相同方式而獲得了偏光板。 將所得偏光板供於上述評估(2)～(7)。將結果列於表1。
[實施例5] 除了使用製造例4所得聚酯薄膜D來取代製造例1所製造之聚酯薄膜A外，依與實施例1相同方式而獲得了偏光板。將所得偏光板供於上述評估(2)～(7)。將結果列於表1。
[實施例6] 除了使用製造例5所得聚酯薄膜E來取代製造例1所製造之聚酯薄膜A外，依與實施例1相同方式而獲得了偏光板。將所得偏光板供於上述評估(2)～(7)。將結果列於表1。
[比較例1] 除了使用製造例6所得聚酯薄膜F來取代製造例1所製造之聚酯薄膜A外，依與實施例1相同方式而獲得了偏光板。 將所得偏光板供於上述評估(2)～(7)。將結果列於表1。
[比較例2] 除了使用製造例6所得聚酯薄膜F來取代製造例1所製造之聚酯薄膜A外，依與實施例3相同方式而獲得了偏光板。 將所得偏光板供於上述評估(2)～(7)。將結果列於表1。
[比較例3] 除了使用製造例7所得聚酯薄膜G來取代製造例1所製造之聚酯薄膜A外，依與實施例1相同方式而獲得了偏光板。 將所得偏光板供於上述評估(2)～(7)。將結果列於表1。
[比較例4] 除了使用製造例8所得聚酯薄膜H來取代製造例1所製造之聚酯薄膜A外，依與實施例1相同方式而獲得了偏光板。 將所得偏光板供於上述評估(2)～(7)。將結果列於表1。
[比較例5] 除了使用聚酯薄膜J(東洋紡公司製，商品名「COSMOSHINE A4100」，面內相位Re(590)：7800nm，厚度：75μm)來取代製造例1所製造之聚酯薄膜A外，依與實施例1相同方式而獲得了偏光板。 將所得偏光板供於上述評估(2)～(7)。將結果列於表1。
[比較例6] 除了使用聚酯薄膜K(Mitsubishi Chemical Co.製，商品名「T100-J25」，面內相位Re(590)：525nm，厚度：25μm)來取代製造例1所製造之聚酯薄膜A外，依與實施例1相同方式而獲得了偏光板。 將所得偏光板供於上述評估(2)～(7)。將結果列於表1。
[比較例7] 除了使用製造例9所得聚酯薄膜I來取代製造例1所製造之聚酯薄膜A外，依與實施例1相同方式而獲得了偏光板。 將所得偏光板供於上述評估(2)～(7)。將結果列於表1。
[表1]
10:偏光件 20:聚酯薄膜 30:接著劑層 40:易接著層 100,200:偏光板 A:聚酯薄膜
圖1係本發明之一實施形態之偏光板的概略截面圖。 圖2為本發明之另一實施形態之偏光板之概略截面圖。
10:偏光件
20:聚酯薄膜
30:接著劑層
100:偏光板

Claims (12)

  1. 一種聚酯薄膜，其面內相位差Re(590)為100nm以下，在第1方向上之線膨脹係數為0/℃~4.0×10-5/℃，定向函數(f)為0.01~0.24。
  2. 如請求項1之聚酯薄膜，其中前述在第1方向上之線膨脹係數及在與該第1方向正交之第2方向上之線膨脹係數之差的絕對值為1.0×10-5/℃以下。
  3. 如請求項1之聚酯薄膜，前述聚酯薄膜係由聚對苯二甲酸乙二酯及/或改質聚對苯二甲酸乙二酯形成。
  4. 如請求項3之聚酯薄膜，其中前述改質聚對苯二甲酸乙二酯包含源自二乙二醇、1,4-丁二醇、1,3-丙二醇或間苯二甲酸之構成單元。
  5. 如請求項1之聚酯薄膜，其利用DSC測定之結晶化度為30%以上。
  6. 一種偏光板，具備偏光件與配置於偏光件之一側之如請求項1至5中任一項之聚酯薄膜。
  7. 如請求項6之偏光板，其中前述聚酯薄膜在第1方向上之線膨脹係數與前述偏光件在與該第1方向平行之方向上之線膨脹係數之差的絕對值、及聚酯薄膜在與第1方向正交之第2方向上之線膨脹係數與該偏光件在與該第2方向平行之方向上之線膨脹係數之差的絕對值皆為3.5×10-5/℃以下。
  8. 如請求項7之偏光板，其中前述偏光件之厚度為20μm以下。
  9. 如請求項6至8中任一項之偏光板，其更包含配置於前述聚酯薄膜之前述偏光件側的易接著層。
  10. 如請求項9之偏光板，其中前述易接著層包含微粒子。
  11. 如請求項9之偏光板，其中前述易接著層之厚度為0.35μm以 下。
  12. 如請求項9之偏光板，其中前述易接著層之折射率為1.55以下。
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