TWI819583B - 電路基板的修補方法 - Google Patents
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Abstract
本發明的電路基板的修補方法包括以下步驟：首先，提供一電路基板。電路基板包括一板體、一金屬線路及一斷線瑕疵。金屬線路形成於板體的表面。斷線瑕疵位於板體的表面，且表示金屬線路斷路。接著，於對應斷線瑕疵的板體表面形成一粗糙部。粗糙部的表面粗糙度大於板體的表面。然後，於粗糙部填入一修補液體，以覆蓋金屬線路及斷線瑕疵。修補液體包括導電材料。最後，以一修補軌跡加熱該修補液體來形成一修補路線。修補路線結合於粗糙部，且電性連接金屬線路。
Description
本發明與電路基板及其製程方法有關，特別是指一種電路基板的修補方法。
電路基板例如印刷電路板PCB(Printed circuit board)或PWB(Printed wire board)，其是電子元件的重要支撐體，以讓各電子元件獲得電力及信號，來實現電子產品的各種電性功能及應用。
電路基板在製程中可能在出現線路圖案出現斷線瑕疵，而影響電路基板的品質及良率，因此，製程中需要透過視覺檢查方式來檢視電路基板的線路圖案，以找出存在斷線瑕疵的電路基板。
斷線瑕疵可以透過修補方式來復原斷線瑕疵，以讓斷線瑕疵回復電性連接。目前通常是透過沉積方式在斷線瑕疵位置逐層累積金屬(導電)材料來達到修補的效果，但這種方式修補的速度較慢，且需要精準控制電路基板與金屬(導電)材料滴落的高度，而不利於修補效率。
有鑑於上述缺失，本發明的電路基板的修補方法可以有效率地修補金屬線路的斷線瑕疵。
為了達成上述目的，本發明的電路基板的修補方法包括以下步驟：首先，提供一電路基板。電路基板包括一板體、一金屬線路及一斷線瑕疵。金屬線路形成於板體的表面。斷線瑕疵位於板體的表面，且表示金屬線路斷路。接著，於對應斷線瑕疵的板體表面形成一粗糙部。粗糙部的表面粗糙度大於板體的表面。然後，於粗糙部填入一修補液體，以覆蓋金屬線路及斷線瑕疵。修補液體包括導電材料。最後，以一修補軌跡加熱該修補液體來形成一修補路線。修補路線結合於粗糙部，且電性連接金屬線路。
為了達成上述目的，本發明的電路基板包括一板體、一金屬線路及一修補線路。板體包括一表面及形成於表面的一粗糙部。金屬線路連結板體的表面。修補線路連結板體的粗糙部，且電性連接金屬線路。
如此，本發明的電路基板及其修補方法可透過粗糙部的結構來提高修補液體的結合度，並降低雷射光線在粗糙部的反射率以增進修補線路的均勻度。再者，修補線路可透過修補軌跡來調整，以提高修補的彈性。本發明的電路基板及其修補方法是沿著修補軌跡加熱修補液體來形成對應的修補線路以提高修補效率。
10:修補方法
11-19:步驟
30:電路基板
31:板體
311:表面
313:粗糙部
315:縱向路徑
317:橫向路徑
33:金屬線路
331:修補線路
333:保護層
35:斷線瑕疵
50:雷射源
51:雷射改質光束
60:塗佈設備
61:修補液體
70:雷射源
71:雷射光束
80:清洗裝置
81:負壓氣體
90:塗佈設備
有關電路基板及其修補方法的構造、特點、修補流程將於以下的實施例予以說明，然而，應能理解的是，以下將說明的實施例以及圖式僅只作為示例性地說明，其不應用來限制本發明的申請專利範圍，其中：圖1是本發明的電路基板的修補方法的流程圖。
圖2是圖1的步驟11中具有斷線瑕疵的電路基板的示意圖。
圖3是圖1的步驟13中電路基板形成粗糙部的示意圖。
圖4是圖1的步驟15中塗佈設備對粗糙部塗佈的示意圖。
圖5是圖1的步驟17中雷射源的雷射光束延修補軌跡加熱形成修補線路的示意圖。
圖6是圖5的俯視圖。
圖7及圖8是延續圖1的步驟17以其他修補軌跡加熱形成修補線路的俯視圖。
圖9是圖1的步驟18中清除殘餘修補液體的示意圖。
圖10是圖1的步驟19中形成保護層的示意圖。
為了清楚地說明本發明實施例或習知技術中的技術方案，隨後對照附圖說明本發明的具體實施例。顯而易見地，隨後描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對於本領域通常知識者來講能輕易根據這些附圖獲得其他的附圖，並獲得其他的實施例。
為使圖面簡潔，各圖式中只示意性地表示出了與發明相關的部分，它們並不代表其作為產品的實際結構。另外，為使圖面簡潔便於理解，在有些圖中具有相同結構或功能的部件，僅示意性地繪示了其中的一個，或僅標出了其中的一個。在本文中，“一個”不僅表示“僅此一個”，也可以表示“多於一個”的情形。例如斷線瑕疵可以是一個或一個以上。
如圖1所示，電路基板的修補方法10包括六個步驟，步驟11是提供一電路基板，步驟13是形成一粗糙部，步驟15是塗佈一修補液體，步驟17是形成一修補線路，步驟18是清除修補線路以外的修補液體，步驟19是形成一保護層。
其他實施例中，修補方法10的步驟可以較少，例如省略步驟18或步驟19，或者步驟18及步驟19都被省略，如圖2所示，步驟11的電路基板30包括一板體31、一金屬線路33、一斷線瑕疵35。板體31是絕緣材料，且用以支持金屬線路33，板體31可以是玻璃、硬板、軟板或軟硬結合板。金屬線路33形成於板體31的表面311。斷線瑕疵35位於板體31的表面311，且表示金屬線路33斷路。在正常電路基板是不存在斷線瑕疵35，斷線瑕疵35是指金屬線路33是有斷路缺陷的導電線路。
其中，斷線瑕疵35可透過視覺系統來檢查，以識別電路基板30是否存在金屬線路33的斷線瑕疵35，斷線瑕疵35的數量可以是一個以上，例如二個、三個或更多。視覺系統例如自動光學檢測(AOI,Automated Optical Inspection)或透過感光耦合元件(CCD,Charge Coupled Device)來檢查，以有效率的找出需要修補的電路基板30。
如圖3所示，步驟13的粗糙部313是被形成在板體31的表面311，且對應斷線瑕疵35。步驟13的形成是透過雷射源50的雷射改質光束51作用在板體31的表面，以使板體31的表面311被改質而形成多條縱向路徑315及多條橫向路徑317。縱向路徑315是間隔並排，橫向路徑317是間隔並排，縱向路徑315及橫向路徑317是交錯排列。縱向路徑315及橫向路徑317的佈置是透過雷射改質光束51作用的軌跡，因此，其他實施例中，縱向路徑315及橫向路徑317可隨著雷射改質光束51的軌跡變化而有不同的圖案或路徑配置。如此，粗糙部313的表面粗糙度會大於板體31的表面311的表面粗糙度，例如表面311的表面粗糙度(Ra)是0.01μm，粗糙部313的表面粗糙度(Ra)會大於0.1μm。如此，粗糙部313的表面粗糙度可使步驟15的修補液體附著力更佳，而增進修補路線結合力。
再者，透過雷射改質光束51作用後，粗糙部會呈現粗糙碳化狀態，而形成深色(例如黑色)表面，以降低粗糙部的反射光線，本實施例中，雷射改質光束51處理後形成深色表面，以使步驟17的加熱中使用的雷射光束在粗糙部的反射率降低，而讓加熱的結果能更均勻。
如圖4所示，步驟15的塗佈是以一塗佈設備60將修補液體61塗佈在粗糙部313及局部的金屬線路33，以覆蓋金屬線路33及斷線瑕疵35。其他實施例中，步驟15的塗佈也可以透過點膠、溢流或其他方式來進行。修補液體61包含分散添加劑、助劑及離子或奈米粒子的導電材料，奈米粒子的導電材料例如錫(Sn)、銀(Ag)、銅(Cu)等，導電材料材料的可以是粒狀、粉末或其他狀態，修補液體61的黏度可被調整，以配合塗佈設備60的塗佈能力來調整。
塗佈方式可以是單點塗佈、線塗佈及面塗佈。單點塗佈是塗佈設備60在同一點填入修補液體61。線塗佈是塗佈設備60沿著單線路徑上進行塗佈。面塗佈是塗佈設備60沿著多條線路徑上進行塗佈，多條線路徑是間隔平行排列，而構成面狀。
如圖5及6所示，步驟17的修補線路331是透過一雷射源70的一雷射光束71，以使雷射光束71與修補液體61加熱反應而形成修補線路331，修補線路331是可導電的金屬線(路徑)。其中，雷射光束71沿著修補軌跡移動，以與修補液體61進行加熱反應，而讓修補液體61中的導電材料沉積在粗糙部，而形成修補線路331。修補軌跡自金屬線路33的一端延伸至另一端。
修補軌跡可隨電路基板30的板體31及金屬線路33環境配置來做規劃，而不受限於金屬線路33的原始圖案配置，以提升修補線路331的可規劃的彈性，並滿足不同的電路基板30。如圖6所示，修補軌跡形成的修補線路331是與金
屬線路33的線寬一致，且連接金屬線路33的二終端。圖7及圖8分別是另兩種修補軌跡形成的修補線路331，圖7的修補線路331是連接金屬線路33的側邊，且超出金屬線路33的延伸軌跡，圖8的修補線路331是連接金屬線路33的二相對側邊。因此，步驟17的修補軌跡可以被圖案化，來滿足多種圖案規劃。
如圖9所示，步驟18的清除是用以清除沒有被形成修補線路331的殘餘修補液體61，圖中修補線路331係以透視方式顯示粗糙部313位置。清洗方式可透過清洗裝置80提供的清洗溶劑來洗淨殘餘修補液體61。清洗溶劑包括有機溶劑，例如正己烷、異丙醇(IPA)、N-甲基吡咯烷酮(NMP)、乙醇、丙酮等。清除可先將清洗溶劑滴定在殘餘修補液體61上，接著，透過吸氣方式以負壓氣體81將清洗後的溶劑抽走，最後，以正壓氣體吹乾，來確認是否洗淨。若未洗淨，可重複清除流程。若已洗淨，則繼續步驟19。
如圖10所示，步驟19的保護層333是透過塗佈方式讓保護膠覆蓋在金屬線路33、粗糙部313、修補線路331及局部板體的表面311上，保護膠固化後形成保護層333。塗佈方式例如透過塗佈設備90或其他提供保護膠的程序，此外，塗佈設備60、90可以是相同的硬體或不同的硬體，差別在於提供的液體或膠的成分不同。保護層333可用以保護修補後形成的修補線路331，以避免被外力或其他製程影響而剝落，並可達到絕緣保護效果。
如此，本發明的電路基板及其修補方法可以有效地修補斷線瑕疵，並可較傳統沉積金屬(導電)材料方式更有效率地形成修補線路。
10:修補方法
11-19:步驟
Claims (6)
- 一種電路基板的修補方法，包括：提供一電路基板，該電路基板包括一板體、一金屬線路及一斷線瑕疵，該金屬線路形成於該板體的一表面，該斷線瑕疵位於該板體的表面，且表示該金屬線路斷路；於對應該斷線瑕疵的該板體的表面形成一粗糙部，該粗糙部的一表面粗糙度大於該板體的表面；於該粗糙部塗佈一修補液體，以使該修補液體覆蓋該金屬線路及該斷線瑕疵，該修補液體包括導電材料；及以一修補軌跡加熱該修補液體來形成一修補線路，該修補線路結合於該粗糙部，且電性連接該金屬線路。
- 如請求項1所述的電路基板的修補方法，其中，該形成該粗糙部包括透過一雷射改質光束。
- 如請求項1或2所述的電路基板的修補方法，其中，該粗糙部包括多條縱向路徑及多條橫向路徑，該多條縱向路徑及該多條橫向路徑是交錯間隔排列。
- 如請求項1或2所述的電路基板的修補方法，其中，該粗糙部包括一深色表面。
- 如請求項1所述的電路基板的修補方法，其中形成該修補線路包括一雷射光束，該修補軌跡是該雷射光束的作用路徑。
- 如請求項1所述的電路基板的修補方法，還包括清除該修補線路以外的該修補液體；及形成一保護層，該保護層覆蓋該金屬線路、該粗糙部及該修補線路。
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