TWI818521B - 測量裝置及測量方法 - Google Patents

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Abstract

一種測量裝置，具備：時脈發生部，發生取樣時脈，該取樣時脈具有比被測量樣式中的符號週期更長的取樣週期，該被測量樣式包含預先決定的符號數的符號；取樣部，對應於取樣時脈，對被反覆輸入的被測量樣式進行取樣；及，測量部，對應於被反覆輸入的被測量樣式中的成為抖動之計測對象的符號遷移所對應之時序的取樣時脈，測量取樣部的取樣結果。

Description

測量裝置及測量方法
本發明關於測量裝置及測量方法。
在具有通訊功能的被測量元件的試驗中，測量裝置會測量被測量元件傳出之被測量訊號的抖動(jitter)。例如在如200GAUI和400GAUI的高速乙太網路(登錄商標)中，在規格書中規定有抖動測量方法。該規格書中，被測量元件輸出擬隨機樣式的一種也就是PRBS13Q樣式來作為被測量訊號。測量裝置被要求對被測量元件傳出之PAM-4(4脈幅調變)之被測量訊號的序列中的特定樣式所對應之符號遷移的抖動進行測量。
本發明的第1態樣中，提供一種測量裝置。測量裝置可具備：時脈發生部，發生取樣時脈，該取樣時脈具有比被測量樣式中的符號週期更長的取樣週期，該被測量樣式包含預先決定的符號數的符號。測量裝置可具備：取樣部，對應於取樣時脈，對被反覆輸入的被測量樣式進行取樣。測量裝置可具備：測量部，對應於被反覆輸入的被測量樣式中的成為抖動之計測對象的符號遷移所對應之時序的取樣時脈，測量取樣部的取樣結果。
取樣週期，可具有符號週期的2以上的整數倍的週期。
取樣週期，可具有符號週期的第1整數倍的週期。第1整數與預先決定的符號數，可為互質。
時脈發生部可具有分頻部，該分頻部對將符號週期作為1週期的時脈訊號進行分頻，產生取樣時脈。
時脈發生部可具有移位部，該移位部能夠切換是否要將取樣時脈移位符號週期的1週期量。
測量裝置可更具備：抖動算出部，基於已將取樣時脈移位符號週期的1週期量後的情況下的測量部的測量結果，以及未將取樣時脈移位的情況下的測量部的測量結果，算出EOJ(偶奇抖動)。
測量裝置可更具備：觸發產生部，在被輸入的被測量樣式中有預先決定的符號樣式發生的時序中產生觸發。測量部，可對應於觸發來測量取樣結果。
觸發產生部，可響應於被測量樣式中的與連續的預先決定的數量的取樣時脈對應的取樣樣式與預先決定的比較樣式一致的情形，產生觸發。
觸發產生部，可響應於取樣樣式與複數個比較樣式中的任一者一致的情形，產生觸發。
測量裝置可更具備：同步樣式產生部，產生與被測量樣式中的取樣樣式同步的同步樣式。觸發產生部，可響應於同步樣式與比較樣式一致的情形，產生觸發。
同步樣式產生部可具有：擬隨機樣式發生部，發生擬隨機樣式，該擬隨機樣式與藉由取樣時脈對用於被測量樣式的發生之擬隨機樣式進行疏化取樣後的樣式相同。同步樣式產生部可具有：樣式同步部，使擬隨機樣式發生部所發生的擬隨機樣式，與自被測量樣式對應於連續的預先決定的數量的取樣時脈而抽出的樣式同步。
被測量樣式，可包含具有3個以上位準的多值訊號的符號。測量裝置可更具備：閾值發生部，該閾值發生部發生與成為抖動的計測對象之符號遷移對應的位準的閾值。取樣部，可使用閾值對被測量樣式進行取樣。
閾值發生部，可在訓練模式中發生閾值，該閾值用來自被測量樣式抽出用於被測量樣式的發生之擬隨機樣式，該訓練模式使擬隨機樣式發生部所發生的擬隨機樣式與自被測量樣式抽出的擬隨機樣式同步。
本發明的第2態樣中，提供一種測量方法。測量方法可具備以下步驟：測量裝置發生取樣時脈，該取樣時脈具有比被測量樣式中的符號週期更長的取樣週期，該被測量樣式包含預先決定的符號數的符號。測量方法可具備以下步驟：測量裝置對應於取樣時脈，對被反覆輸入的被測量樣式進行取樣。測量方法可具備以下步驟：測量裝置對應於被反覆輸入的被測量樣式中的成為抖動之計測對象的符號遷移所對應之時序的取樣時脈，測量被測量樣式的取樣結果。
此外，上述發明內容並未列舉出本發明的全部特徵。又，該等特徵群的子組合亦可成為發明。
以下，透過發明的實施型態來說明本發明，但以下的實施型態並非限定申請專利範圍的發明。又，在發明的解決手段中並不一定需要實施型態中所說明的特徵的全部組合。
第1圖表示DUT 100(被試驗元件100)的構成之一例，該DUT傳出包含擬隨機樣式之被測量樣式。本圖的DUT 100，作為一例，傳出用於200GAUI和400GAUI的抖動測量的PRBS13Q來作為被測量樣式。DUT 100具備：PRBS發生器110、PRBS發生器120、映射部130、編碼部140。
PRBS發生器110發生擬隨機樣式，該擬隨機樣式用於DUT 100所傳出之多值(本例中為PAM-4的4值)的傳送資料中的最高有效位元(MSB)。在本圖的例子中，PRBS發生器110是13位元的擬隨機樣式發生器，反覆發生8191位元的擬隨機樣式。PRBS發生器110，每隔與例如26.5625GHz之類的高頻時脈訊號對應的符號週期，以1位元為單位逐次向映射部130輸出擬隨機樣式。
PRBS發生器120發生擬隨機樣式，該擬隨機樣式用於DUT 100所傳出之多值(本例中為PAM-4的4個值)的傳送資料中的最低有效位元(LSB)。在本圖的例子中，PRBS發生器120是13位元的擬隨機樣式發生器，反覆發生8191位元的擬隨機樣式。此處，PRBS發生器120發生將PRBS發生器110所輸出的擬隨機樣式移位4096位元後的擬隨機樣式。PRBS發生器120，同PRBS發生器110同樣每隔符號週期以1位元為單位逐次向映射部130輸出擬隨機樣式。
映射部130，連接至PRBS發生器110和PRBS發生器120。映射部130接收多值的傳送資料並映射至DUT 100輸出的符號，該傳送資料包含來自PRBS發生器110的最高有效位元和來自PRBS發生器120的最低有效位元。在本圖的例子中，映射部130將傳送資料轉換成格雷碼並映射至符號碼。
編碼部140，連接至映射部130。編碼部140，將自映射部130接收到的符號碼編碼成多值訊號。在本圖的例子中，編碼部140將符號碼編碼成具有4值的訊號位準之PAM-4訊號的符號。編碼部140，每隔符號週期傳出已編碼過的多值訊號的符號。藉此，編碼部140能夠反覆傳出例如為PRBS13Q的被測量樣式。
在以上例子中，DUT 100反覆傳出使用PAM-4訊號來作為符號的PRBS13Q的被測量樣式。作為上述的替代方案，DUT 100亦可反覆傳出包含預先決定之符號數的符號之其他被測量樣式。
在以上例子中，DUT 100內置有PRBS發生器110和PRBS發生器120，並具有傳出PRBS13Q等的被測量樣式的功能。作為上述的替代方案，在DUT 100不具有PRBS發生器110和PRBS發生器120的情況下，亦可在測量DUT 100的抖動的測量裝置側設置PRBS發生器110和PRBS發生器120，並對DUT 100供給傳送資料。
第2圖表示DUT 100傳出的被測量訊號之一例。DUT 100以每個符號週期1符號之方式，反覆傳出包含預先決定的符號數之符號的同一被測量樣式，來作為被測量訊號。在本例中，依時間順序將被反覆傳出的PRBS13Q的被測量樣式表示成PRBS[0]、PRBS[1]、…。PRBS13Q的各被測量樣式，由依時間順序表示成S[0]、S[1]、…、S[8190]的8191個符號所構成。
第3圖是表示映射部130所進行的格雷碼轉換的表。映射部130，將包含PRBS發生器110所輸出的最高有效位元(MSB)和PRBS發生器120所輸出的最低有效位元(LSB)的傳送資料，如本圖的表所示轉換成格雷碼，藉此轉換成可取為4個值0~3的多值的符號碼。
第4圖表示PAM-4訊號的符號遷移與閾值位準的關係。編碼部140，將來自映射部130的格雷碼0編碼成電壓位準V0的符號。同樣地，編碼部140，分別將來自映射部130的格雷碼1~3編碼成電壓位準V1~3的符號。
連續的2個符號，分別可取為電壓位準V0~3中的任意電壓位準。因此，在某個特定符號遷移的抖動測量中，將遷移前之符號的電壓位準與遷移後之符號的電壓位準的中點設定成閾值位準，並測量符號的訊號值跨越閾值位準的時序。例如，在測量自電壓位準V0的符號至電壓位準V3的符號之符號遷移中，將閾值位準設定成(V0+V3)/2。
如此，當測量多值訊號的符號間的符號遷移時，要求對應於符號遷移而適當切換閾值。相對於此，當測量2值訊號的符號間的符號遷移時，閾值可持續為高位準電壓和低位準電壓的中間電壓而保持固定。
第5圖表示成為抖動測量的對象之符號的樣式之一例。在本圖的例子中，將成為200GAUI和400GAUI的規格書所規定的抖動測量之對象的樣式，與參考樣式一併表示。本圖所示的表，針對「標籤」列所示的各標籤所表示的各個樣式，表示「說明」、「PAM4符號系列」、「最初的符號的位置」、「遷移開始位置」、「閾值位準」。
表示為「REF」的樣式，如「說明」所示，是DUT 100在被測量樣式的前頭中傳送的參考樣式。亦即，DUT 100，自各被測量樣式的前頭(「最初的符號位置」為1)傳送在「PAM4符號系列」中表示為「3333333」的長度7的樣式。
表示為「R03」的樣式，如「說明」所示，表示成為自符號0至符號3之上升的抖動測量的對象之樣式。「R03」是在「PAM4符號系列」中表示為「10000330」的樣式，自PRBS13Q中的第1830個符號位置(相當於S[1829])開始。成為抖動測量的對象之符號遷移，是自「10000」的最後一個「0」至「330」的最前面的「3」的符號遷移，該遷移開始位置是第1834個符號位置。因為「R03」是自符號0至符號3的符號遷移，所以抖動測量時使用的閾值是(V 0+V 3)/2 (參照第4圖)。同樣地，第5圖針對符號值在連續2個符號間變化之全部種類的符號遷移，各在PRBS13Q的被測量樣式中指定1處要成為抖動測量的對象之符號遷移。
第6圖表示本實施型態之測量裝置600的構成。對DUT 100的抖動進行測量的測量裝置，被要求自具有與高速時脈訊號同步之符號週期的被測量樣式中，確定與第5圖所示的樣式對應的符號遷移的時序，且若符號是多值訊號，則藉由與該符號遷移對應的閾值位準來檢測被測量訊號。在藉由與高速時脈訊號相當的處理速度來進行這樣的動作的情況下，測量裝置的電路規模會變大。然而，本實施型態之測量裝置600能夠使用比具有符號週期之時脈訊號更慢的取樣時脈，來測量被測量樣式中所包含的符號遷移的抖動。
測量裝置600，連接至DUT 100。測量裝置600具備：時脈發生部620、取樣部640、同步樣式產生部650、觸發產生部660、閾值發生部670、測量部680、抖動算出部690。時脈發生部620發生取樣時脈，該取樣時脈具有比被測量樣式中的符號週期更長的取樣週期，該被測量樣式包含預先決定的符號數的符號。取樣週期，可具有符號週期的2以上之整數倍的週期。本實施型態中，時脈發生部620對以被測量樣式的符號週期為1週期的時脈訊號進行分頻，而產生取樣時脈。
本實施型態中例示以下的情況：時脈發生部620發生對時脈訊號進行2×M分頻後之取樣時脈。M作為一例是16。此外，時脈發生部620可輸入被供給至DUT 100的時脈訊號來用於取樣時脈的發生。作為上述的替代方案，時脈發生部620亦可藉由時脈重建自DUT 100輸出的被測量訊號而再生時脈訊號，來用於取樣時脈的發生。
取樣部640，連接至DUT 100、時脈發生部620及閾值發生部670。取樣部640對應於來自時脈發生部620的取樣時脈，對自DUT 100反覆輸入的被測量樣式進行取樣。當被測量樣式的各被測量訊號為多值訊號時，取樣部640使用閾值發生部670所發生的閾值來對被測量樣式進行取樣。
此處，當取樣週期具有符號週期的第1整數部(2以上)的週期時，取樣部640針對被測量樣式的符號，每隔第1整數倍個符號進行一次取樣。因此，取樣部640能夠一邊每次偏移第1整數倍個符號，一邊在複數位置對被測量樣式進行取樣。時脈發生部620可決定取樣週期，以使得在能夠如此取樣的位置中，包含如第5圖所示之成為抖動的計測對象之全部符號遷移。
此處，時脈發生部620能夠決定該第1整數，使得該第1整數與被測量樣式的1循環中所含的符號數互質。在此情況下，取樣部640在被測量樣式被反覆第1整數次的過程中，能夠對全部符號各取樣1次。本實施型態的例子中，取樣部640重複輸入具有8191符號的被測量樣式，並每隔32(=2×M)個符號對被測量訊號的符號進行一次取樣。在此情況下，若取樣部640對第1循環的被測量樣式中的S[0]、S[32]、…、S[8160]進行取樣，會將第2循環的被測量樣式中的第8160+32-8191=1個符號S[1] 作為第8160+32個符號來進行取樣。藉由同樣的方式，取樣部640在每次被測量樣式反覆時使取樣的符號位置逐次偏移1個符號，而能夠在被測量樣式反覆32次的過程中對全部符號進行取樣。
同步樣式產生部650，連接至時脈發生部620和取樣部640。同步樣式產生部650使用來自時脈發生部620的取樣時脈產生與取樣樣式同步的同步樣式，該取樣樣式對應於被測量樣式中的連續的預先決定之數量的取樣時脈。該同步樣式，是要藉由樣式來確定由取樣部640取樣到的符號是對應被測量樣式中的哪個符號位置。
觸發產生部660，連接至時脈發生部620和同步樣式產生部650。觸發產生部660針對被輸入的被測量樣式，在如第5圖所示的預先決定之符號樣式發生的時序中產生觸發。本實施型態中，觸發產生部660響應於應該要由取樣部640取樣的取樣樣式與預先決定的比較樣式一致的情形而產生觸發。此處，觸發產生部660將同步樣式產生部650輸出的同步樣式使用來作為應該要由取樣部640取樣的取樣樣式，並響應於同步樣式與比較樣式一致的情形而產生觸發。
閾值發生部670，連接至觸發產生部660。閾值發生部670被設置成用來在被測量樣式包含具有3個以上位準的多值訊號的符號時，動態切換閾值。閾值發生部670，對應於觸發產生部660發生的觸發，發生與成為抖動的計測對象之符號遷移對應之位準的閾值。
測量部680，連接至取樣部640和觸發產生部660。測量部680，對應於被反覆輸入的被測量樣式中的成為抖動的計測對象之符號遷移所對應之時序的取樣時脈，測量取樣部640的取樣結果。測量部680，藉由對應於觸發產生部660發生的觸發來測量取樣部640的取樣結果，能夠僅選擇與成為抖動的計測對象之符號遷移對應之取樣結果來進行測量。
抖動算出部690，連接至測量部680。抖動算出部690，可為藉由設計用於算出抖動的專用電路來實現的專用硬體，亦可為專用電腦。作為上述的替代方案，抖動算出部690例如亦可為例如第21圖所例示的PC(個人電腦)、平板電腦、智慧型手機、工作站、伺服器電腦或泛用電腦等的電腦。抖動算出部690，基於測量部680的測量結果算出被測量樣式的抖動。又，抖動算出部690，為了最終算出被測量樣式的抖動，可控制時脈發生部620和同步樣式產生部650等的測量裝置600內的各組件。
根據以上所示的測量裝置600，能夠使用比具有符號週期的高速時脈訊號更慢的取樣時脈，來測量被測量樣式中所含的測量對象之符號遷移的抖動。又，在被測量訊號為多值訊號的情況下，測量裝置600能夠具備閾值發生部670，並且能夠藉由閾值發生部670發生與測量對象之符號遷移對應之位準的閾值。
第7圖表示本實施型態之時脈發生部620的構成。時脈發生部620具有：移位部700、分頻部730、可變延遲電路740。移位部700，輸入時脈訊號。時脈訊號是以符號週期為1週期的時脈，且各符號週期由H(高)位準的期間與L(低)位準的期間所構成。移位部700包含有以下的電路：能夠切換是否要將時脈發生部620最終輸出的取樣時脈移位符號週期的1週期量。
本實施型態中，移位部700包含2分頻器710與選擇器720。2分頻器710，藉由對時脈訊號進行2分頻，輸出在每個符號週期中H位準、L位準切換的2分頻時脈訊號。又，2分頻器710，輸出將2分頻時脈訊號反轉的反轉2分頻時脈訊號。反轉2分頻時脈訊號，在2分頻時脈訊號為H位準的符號週期中成為L位準，且在2分頻時脈訊號為L位準的符號週期中成為H位準。
選擇器720，連接至2分頻器710。選擇器720，對應於自抖動算出部690輸入的移位指示訊號，選擇輸出2分頻時脈訊號和反轉2分頻時脈訊號的任一者。選擇器720，當輸出反轉2分頻時脈訊號時，相較於輸出2分頻時脈訊號時的情況，是輸出自L位準遷移至H位準的時序移位了符號週期的1週期量之時脈訊號。
分頻部730，連接至移位部700。分頻部730，藉由對移位部700輸出的時脈訊號更進行M分頻，而輸出進行過2M分頻的時脈訊號。可變延遲電路740，連接至分頻部730。可變延遲電路740，使自分頻部730輸入的時脈訊號延遲與來自抖動算出部690之延遲量設定對應的延遲量，並作為取樣時脈來輸出。藉此，可變延遲電路740，為了測量抖動，使取樣時脈在例如符號週期程度的範圍內掃瞄，而能夠在各相位中對被測量訊號進行取樣。
第8圖表示本實施型態之移位部700的電路構成例。2分頻器710可藉由D-FF(D正反器)而實現，該D-FF具有D輸入、時脈輸入、Q輸出及反轉Q輸出。2分頻器710，藉由將反轉Q輸出輸入至D輸入，使Q輸出在每次時脈訊號上升時(自L位準遷移至H位準)反轉。藉此，2分頻器710的Q輸出在每個符號週期中每次時脈訊號上昇時，以H位準、L位準的順序切換。2分頻器710的反轉Q輸出，成為Q輸出的反轉值。
選擇器720，對應於來自抖動算出部690的移位指示訊號而選擇Q輸出或反轉Q輸出。藉此，選擇器720能夠對應於移位指示訊號而輸出已移位時脈訊號，該已移位時脈訊號的相位已適當移位了符號週期量。
第9圖表示本實施型態之取樣部640的構成。取樣部640具有比較器910與D-FF 920。
比較器910，比較來自DUT 100的被測量訊號與來自閾值發生部670的閾值。本實施型態之比較器910輸出以下的比較結果：響應於被測量訊號的位準高於閾值位準的情形而成為H位準，且響應於被測量訊號的位準低於閾值的情形而成為L位準。
D-FF 920，連接至比較器910。D-FF 920，對應於取樣時脈的上升將比較器910的比較結果鎖住，並作為比較結果而輸出。
第10圖表示本實施型態之同步樣式產生部650的構成。同步樣式產生部650具有：取樣樣式取得部1000、擬隨機樣式發生部1010、樣式同步部1020。
取樣樣式取得部1000，包含由縱向連續連接的複數個D-FF所構成的移位暫存器。取樣樣式取得部1000，藉由對應於取樣時脈將擷取進移位暫存器內的比較結果訊號依序移位，而取得被測量樣式中的與連續的預先決定數量的取樣時脈對應的取樣樣式A[0]～A[12](亦表示成A[12-0])。本實施型態中，取樣樣式取得部1000對應於擬隨機樣式發生部1010是與PRBS發生器110同樣使用13位元量的D-FF來發生PRBS的情形，而存放13符號量的比較結果訊號。
擬隨機樣式發生部1010包含移位暫存器與回饋電路，該移位暫存器由縱向連續連接的複數個D-FF所構成，該回饋電路包含複數個互斥或(XOR)元件，將2個以上的D-FF的輸出回饋至移位暫存器的第一個D-FF。擬隨機樣式發生部1010發生擬隨機樣式，該擬隨機樣式與藉由取樣時脈對用於被測量樣式的發生之擬隨機樣式進行疏化取樣(decimation)後的樣式相同。本實施型態之擬隨機樣式發生部1010，發生與以2M符號間隔對PRBS發生器110所發生的擬隨機樣式進行疏化取樣而得的樣式相同之擬隨機樣式B[12-0]。
樣式同步部1020，連接至取樣樣式取得部1000和擬隨機樣式發生部1010。樣式同步部1020在訓練模式中，進行使取樣樣式取得部1000輸出的取樣樣式與擬隨機樣式發生部1010發生的擬隨機樣式同步的處理，該訓練模式使擬隨機樣式發生部1010發生的擬隨機樣式與自被測量樣式抽出的擬隨機樣式同步。具體而言，樣式同步部1020，使擬隨機樣式發生部1010發生的擬隨機樣式，與對應於連續的預先設定數量(本實施型態中為13)之取樣時脈而自被測量樣式抽出的樣式同步。
樣式同步部1020具有AND(及)邏輯閘1030、一致檢測電路1040、OR(或)邏輯閘1050。AND邏輯閘1030將取樣時脈及OR邏輯閘1050的輸出之邏輯積輸出來作為擬隨機樣式發生部1010的時脈，而作為時脈邏輯閘發揮功能。具體而言，AND邏輯閘1030，在OR邏輯閘1050的輸出為邏輯H的情況下，將取樣時脈供給至擬隨機樣式發生部1010。又，AND邏輯閘1030，在OR邏輯閘1050的輸出為邏輯L的情況下，將AND邏輯閘1030的輸出作為邏輯L，而停止將取樣時脈供給至擬隨機樣式發生部1010。
一致檢測電路1040輸出樣式一致訊號，該樣式一致訊號在取樣樣式取得部1000輸出的取樣樣式A[12-0]與擬隨機樣式發生部1010輸出的取樣樣式B[12-0]一致時成為邏輯H，不一致時成為邏輯L。OR邏輯閘1050，在模式設定值成為邏輯L的訓練模式中，在樣式一致訊號為邏輯L的期間，輸出邏輯L而停止將取樣時脈供給至擬隨機樣式發生部1010。此處，如參照第13圖而將在之後描述地，在訓練模式中，閾值發生部670以取樣部640能夠自被測量樣式抽出PRBS發生器110所輸出的擬隨機樣式的方式，來設定閾值。
藉此，在訓練模式中，擬隨機樣式發生部1010的擬隨機樣式B[12-0]維持為相同值，另一方面，取樣樣式取得部1000的取樣樣式A[12-0]對應取樣時脈而變化。取樣樣式取得部1000的取樣樣式A[12-0]，成為對應取樣時脈而對PRBS發生器110所輸出的擬隨機樣式進行疏化取樣後的值。此處，每隔2M符號間隔對PRBS發生器110所發生的擬隨機樣式進行疏化取樣而取樣出PRBS發生器110所具有之位元數量的取樣樣式，是以與擬隨機樣式發生部1010所發生的擬隨機樣式相同的順序來發生。
一旦取樣樣式取得部1000的取樣樣式A[12-0]變化，最終會與擬隨機樣式B[12-0]一致。樣式一致訊號響應於此而成為邏輯H的結果，使OR邏輯閘1050的輸出也成為邏輯H而使取樣時脈被供給至擬隨機樣式發生部1010。此處，取樣樣式A[12-0]，是每隔2M符號間隔對PRBS發生器110所發生的擬隨機樣式進行疏化取樣後的樣式，以與擬隨機樣式發生部1010所發生的擬隨機樣式相同的順序來變化。因此，在這之後，擬隨機樣式發生部1010能夠以取樣時脈的時序，輸出與對被測量樣式中所含的PRBS發生器110的擬隨機樣式以2M符號間隔進行疏化取樣後的樣式一致的擬隨機樣式，來作為同步樣式B[12-0]。
在訓練模式中，一旦同步確立後，抖動算出部690將模式設定值設成邏輯H而設成測量模式。在測量模式中，擬隨機樣式發生部1010常時輸出與對PRBS發生器110的擬隨機樣式以2M符號間隔進行疏化取樣後的樣式同步的同步樣式，因此閾值發生部670可對應成為抖動之計測對象的符號遷移來使閾值變化，亦可藉此使取樣樣式取得部1000要取得的取樣樣式變成不同於對PRBS發生器110的擬隨機樣式以2M符號間隔進行疏化取樣後的樣式。
根據本實施型態之同步樣式產生部650，在訓練模式中，使自被測量樣式抽出的PRBS發生器110的擬隨機樣式的取樣樣式，與擬隨機樣式發生部1010的擬隨機樣式同步。藉此，同步樣式產生部650，即便在測量模式中閾值發生部670使閾值變化，也能夠輸出與對被測量樣式中所含的PRBS發生器110的擬隨機樣式進行疏化取樣後的樣式同步的同步樣式。
第11圖表示本實施型態之觸發產生部660的構成。觸發產生部660具有D-FF1、D-FF2、D-FF3以及複數個邏輯元件。D-FF1中，將固定的邏輯H輸入至D輸入，當來自同步樣式產生部650的同步樣式與參考樣式一致時將上升訊號輸入至時脈輸入，並將來自抖動算出部690的模式設定值的反轉值輸入至重置輸入。D-FF1在模式設定值成為邏輯L的訓練模式期間成為重置狀態，將要成為開始訊號的Q輸出設成邏輯L。藉此，輸入取樣時脈和開始訊號的AND邏輯閘，在訓練模式的期間停止對D-FF2和D-FF3供給取樣時脈。
D-FF1在自訓練模式切換至測量模式後，響應於同步樣式B[12-0]與對應第5圖的「REF」之參考樣式一致的情形，將開始訊號設為邏輯H。藉此，D-FF 1開始對D-FF2和D-FF3供給取樣時脈。此外，同步樣式B[12-0]與對PRBS發生器110輸出的擬隨機樣式進行疏化取樣後的樣式同步。於是，觸發產生部660，是使用與對直到第5圖的參考樣式開始之時序為止的PRBS發生器110的擬隨機樣式進行疏化取樣後的樣式對應的樣式，來作為與同步樣式B[12-0]進行比較的參考樣式REF[12-0]。
D-FF2中，將一致訊號輸入至D輸入，該一致訊號在同步樣式B[12-0]與複數個樣式P[0]～P[12]的任一者一致時成為邏輯H，且在同步樣式與複數個比較樣式P[0]～P[12]的任一者皆不一致時成為邏輯L。D-FF2在測量模式中檢測到參考樣式之後，在取樣時脈反轉的時序中鎖住一致訊號並自Q輸出來輸出。此處，複數個樣式P[0]～P[12]分別對應於第5圖的「R03」、「F30」、…中的計測對象之符號遷移的時序中的取樣樣式。觸發產生部660，與參考樣式同樣使用「R03」等中的計測對象之符號遷移的時序中的取樣樣式的各符號之MSB編組所對應的樣式，來作為複數個樣式P[0]～P[12]的各者。
D-FF3在測量模式中檢測到參考樣式之後，在取樣時脈的時序中，鎖住D-FF1輸出的比較樣式一致訊號，並作為觸發訊號而自Q輸出加以輸出。
第12圖是表示本實施型態之同步樣式產生部650和觸發產生部660的動作之一例的時序圖。本圖中針對以下各者表示伴隨橫方向之時間經過的波形：取樣時脈、同步樣式、開始訊號、供給至D-FF2和D-FF3的取樣時脈、一致訊號、D-FF2的輸出以及觸發訊號。
在時刻t2中，一旦同步樣式與參考樣式REF[12-0]一致，則D-FF1將開始訊號設為邏輯H，並開始對D-FF2和D-FF3供給取樣時脈。在時刻t4中，一旦同步樣式與樣式P[0]一致，一致訊號便會成為邏輯H。D-FF2在取樣時脈反轉的時序中將邏輯H的一致訊號鎖住，D-FF3在取樣時脈的時序中將D-FF2的輸出鎖住，並且在取樣時脈的下個循環也就是時刻t5中將觸發訊號設為邏輯H。
以上所示的觸發產生部660，能夠使用同步樣式，響應於以下的情形而產生觸發：被測量樣式中之連續的預先決定數量的取樣時脈所對應之取樣樣式，與計測對象之各符號遷移的時序所對應之被測量訊號的樣式也就是複數個比較樣式的任一者一致。
第13圖表示本實施型態之閾值發生部670的構成。閾值發生部670具有：移位暫存器1300、選擇器1310、選擇器1320及DAC(數位類比轉換器)1330。移位暫存器1300針對如第5圖所示的各符號遷移，根據符號遷移的出現順序來存放閾值的選擇值。本實施型態中，閾值有6種，因此移位暫存器1300針對各符號遷移存放3位元的選擇值。閾值的選擇值，例如數值0是表示符號值0-1之間的閾值(V 0+V 1)/2，數值1是表示符號值1-2之間的閾值(V 1+V 2)/2，數值2是表示符號值2-3之間的閾值(V 2+V 3)/2，數值3是表示符號值0-2之間的閾值(V 0+V 2)/2，數值4是表示符號值1-3之間的閾值(V 1+V 3)/2，數值5是表示符號值0-3之間的閾值(V 0+V 3)/2。
如第5圖所示計測對象之符號遷移是12個，因此移位暫存器1300根據在取樣時脈之取樣中出現的順序而存放有12個閾值的選擇值。並且，移位暫存器1300在每次被輸入邏輯H的觸發訊號時，使輸出之閾值的選擇值移位，且一旦輸出了最後的選擇值後便回到最初的選擇值。
選擇器1310對選擇值S12(=數值1)加以選擇，該選擇值S12選擇用來在訓練模式中對PRBS發生器110輸出的擬隨機樣式進行取樣之閾值(V 1+V 2)/2。此處，PRBS發生器110輸出的擬隨機樣式，在被轉換成格雷碼後被編碼至各符號的MSB。於是，閾值發生部670便可在訓練模式的期間藉由將閾值設為(V 1+V 2)/2，來對PRBS發生器110輸出的擬隨機樣式進行取樣。又，選擇器1310在測量模式中，選擇移位暫存器1300輸出的選擇值。
選擇器1320對應於來自選擇器1310的選擇值，自複數個數位閾值D01、D12、D23、D02、D13及D03中選擇與選擇值對應的數位閾值。DAC 1330，將被選擇的數位閾值DA(數位類比)轉換成類比閾值並輸出。
根據以上所示的閾值發生部670，在訓練模式中能夠發生用來自被測量樣式抽出擬隨機樣式的閾值，該擬隨機樣式用於被測量樣式之發生。又，閾值發生部670，在測量模式中能夠藉由在每次被輸入觸發訊號時切換閾值，來發生與計測對象的各符號遷移對應的閾值。
第14圖表示本實施型態之測量部680的構成。測量部680具有：計數器選擇部1400、複數個計數器部1410-0～11、計數器部1420及計數停止檢測部1430。計數器選擇部1400，在每次接收到觸發訊號時，對複數個計數器部1410-0～11中的測量對應符號遷移之計數器部1410輸出計數用時脈。計數器選擇部1400，對應第1個觸發使計數器部1410-0進行計數，對應第2個觸發使計數器部1410-1進行計數，以下同樣地使計數器部1410依序逐個進行計數。
計數器部1410-0～11的各者，是對應成為抖動的計測對象之各個符號遷移而設置。本實施型態中，如第5圖所示計測對象之符號遷移是12個，因此準備了12個計數器部1410。計數器部1410-0～11，在測量模式的開始前被重置。計數器部1410-0，在測量模式開始後，針對與第1個觸發對應的符號遷移計數比較結果訊號。具體而言，計數器部1410-0在比較結果訊號為0時不將數值向上計數，且在比較結果訊號為1時將數值向上計數。計數器部1410-1，針對與第2個觸發對應的符號遷移計數比較結果訊號。以下同樣地，計數器部1410-11，針對與第12個觸發對應的符號遷移計數比較結果訊號。並且，一旦因為被測量樣式的反覆而使計數器部1410輪完一輪，計數器部1410-0便針對與第13個觸發對應的符號遷移計數比較結果訊號，該第13個觸發對應至與被測量樣式中的第1個觸發所對應的符號遷移相同的符號位置。以下同樣地，計數器部1410-0～11在每次觸發時依序計數比較結果訊號，且在計數器部1410-11之後返回計數器部1410-0繼續進行計數。
計數器部1420，在測量模式開始前被重置。計數器部1420，與計數器部1410-11同樣輸入計數用時脈，對計數用時脈的數量進行計數。計數停止檢測部1430，響應於計數器部1420的計數值成為預先設定的計數次數，將計數停止訊號設為邏輯H，並使計數器部1410-0～11的計數停止。
藉由以上所示的測量部680，各計數器部1410針對被反覆輸入的被測量樣式中的與該計數器部1410對應之符號位置的符號遷移的比較結果，能夠各取樣例如100000次。例如，在自符號0至3的符號遷移中，若計數值為35000，則表示在取樣時脈的時序中，有65000次(65%)被計數成遷移前的狀態，且有35000次(35%)被計數成遷移後的狀態。此處，如自符號0至3的符號遷移，在符號值減少的符號遷移中，將遷移前的狀態計數成1，且將遷移後的狀態計數成0。因此，能夠藉由自計數次數100000減去計數值，來算出取樣時序中符號遷移後的比例。
抖動算出部690，一邊使可變延遲電路740的延遲量逐次以微小的延遲量來變化，一邊逐次反覆進行100000次上述計數，藉此能夠得到針對全種類(本實施型態中為12種類)的符號遷移的抖動直方圖。抖動直方圖，在各個相位中表示有多少比例是處於遷移後。
抖動算出部690，可將全種類的符號遷移的抖動直方圖加總，而算出針對全符號遷移的抖動直方圖。並且，抖動算出部690，可自針對全符號遷移的抖動直方圖，算出當BER(位元錯誤率)成為規格書所規定的數值(例如10 -4)時的峰對峰抖動值和RMS(均方根)抖動值。該峰對峰抖動值相當於200GAUI和400GAUI中的J4U抖動值，且RMS抖動值相當於200GAUI和400GAUI中的JRMS抖動值。
第15圖表示EOJ(Even Odd Jitter，偶奇抖動)的測量方法之一例。例如在200GAUI和400GAUI中是規定成，假設DUT 100是藉由複數個傳送器的交錯來輸出各符號，來對EOJ進行測量。EOJ的測量包含：(1)以成為被測量樣式的PRBS13Q的樣式長度(8191符號)的3倍間隔來測量符號遷移時間的平均值，以及(2)以成為被測量樣式的PRBS13Q的樣式長度(8191符號)的2倍間隔來測量符號遷移時間的平均值。
第15圖的上側表示(1)的測量方法。測量裝置600針對某個符號遷移i，計測第1個PRBS13Q、經過樣式長度的3倍後之第4個PRBS13Q、在這之後每隔樣式長度的3倍間隔之各PRBS13Q中的符號遷移時間的平均值T i,3。又，測量裝置600針對該符號遷移i，計測向後1個之第2個PRBS13Q、經過樣式長度的3倍後之第5個PRBS13Q、在這之後每隔樣式長度的3倍間隔之各PRBS13Q中的符號遷移時間的平均值T i,4。
第15圖的下側表示(2)的測量方法。測量裝置600針對某個符號遷移i，計測第1個PRBS13Q、經過樣式長度的2倍後之第3個PRBS13Q、更經過樣式長度的2倍後之第5個PRBS13Q、在這之後每隔樣式長度的2倍間隔之各PRBS13Q中的符號遷移時間的平均值T i,1。又，測量裝置600針對該符號遷移i，計測向後1個之第2個PRBS13Q、經過樣式長度的2倍後之第4個PRBS13Q、更經過樣式長度的2倍後之第6個PRBS13Q、在這之後每隔樣式長度的2倍間隔之各PRBS13Q中的符號遷移時間的平均值T i,2。
抖動算出部690，藉由以下的算式(1)算出符號遷移i的EOJ i。 EOJ i=|(T i,2－T i,1)－(T i,4－T i,3)|　　(1) 抖動算出部690，算出各符號遷移 i的EOJ i中最大的EOJ i，來作為DUT 100所傳出的被測量樣式的EOJ。
第16圖表示自被測量樣式的反覆中確定用於EOJ的測量之符號遷移的方法之第1例。測量裝置600根據本圖所示的樣式，來進行第15圖的上側所示的T i,3和T i,4的測量中所用之符號遷移的取樣。
本實施型態中，測量裝置600以2M(=32)符號間隔對具有8191符號的PRBS13Q的被測量樣式進行取樣。因此，測量裝置600能夠每經過被測量樣式的2M次反覆，便對被測量樣式的某個特定符號位置處的符號遷移i進行取樣。本圖中，以PRBS[0]、PRBS[1]…來表示被反覆輸入的被測量樣式，且在橫方向配置2M次的量的被測量樣式。本圖中，測量裝置600針對符號遷移i，以位於最左側的間隔2M次的被測量樣式PRBS[0]、PRBS[32]、PRBS[64]…來進行取樣。
此處，如第15圖的上側所示，成為T i,3的測量對象之符號遷移i，出現在被測量樣式的6次反覆中的第1次和第4次。第16圖中，若使被測量樣式PRBS[0]對應被測量樣式每6次反覆中的第1次(0 mod 6+1=1)被測量樣式，則在PRBS[32]取樣的符號遷移i對應至被測量樣式每6次反覆中的第3次(32 mod 6+1=3)被測量樣式。如第15圖的上側所示，第3次被測量樣式不被使用。
接著，在PRBS[64]取樣的符號遷移i對應至被測量樣式每6次反覆中的第5次(64 mod 6+1=5)被測量樣式。如第15圖的上側所示，第5次被測量樣式被使用於T i,4的測量。同樣地，在PRBS[96]取樣的符號遷移i對應至被測量樣式每6次反覆中的第1次(96 mod 6+1=1)被測量樣式，被使用於T i,3的測量，以下同樣重複進行。
如此，測量裝置600，關於第15圖的上側，能夠對與第1次被測量樣式T i,3及第5次被測量樣式的T i,4對應的符號遷移i進行反覆取樣。相對於此，僅根據第16圖最左側的被測量樣式，無法對與第15圖的上側中的第2次被測量樣式T i,4及第4次被測量樣式的T i,3對應的符號遷移i進行取樣。
於是，抖動算出部690為了對與第15圖的上側中的第2次被測量樣式T i,4及第4次被測量樣式的T i,3對應的符號遷移i進行取樣，使用移位指示訊號來指示使取樣時脈移位符號週期的一週期量。一旦取樣時脈向後偏移符號週期的一週期量，測量裝置600便能夠在已經在取樣時脈移位前對符號遷移i進行取樣過的被測量樣式的前1個被測量樣式中，對符號遷移i進行取樣。例如在第16圖中，測量裝置600能夠在PRBS[31]、PRBS[63]、PRBS[95]、…中對符號遷移i進行取樣。
在PRBS[31]取樣的符號遷移i，對應於被測量樣式的6次反覆中的第2次(31 mod 6+1=2)被測量樣式。如第15圖的上側所示，第2次被測量樣式使用於T i,4的測量。在PRBS[63]取樣的符號遷移i，對應於被測量樣式的6次反覆中的第4次(63 mod 6+1=4)被測量樣式，使用於T i,3的測量。在PRBS[95]取樣的符號遷移i，對應於被測量樣式的6次反覆中的第6次(95 mod 6+1=6)被測量樣式，不使用於T i,3和T i,4的測量。
如此，測量裝置600藉由使取樣時脈移位符號週期的1週期量，便能夠對與第15圖的上側中的第2次被測量樣式T i,4及第4次被測量樣式的T i,3對應的符號遷移i進行取樣。
第17圖表示自被測量樣式的反覆中確定用於EOJ的測量之符號遷移的方法之第2例。測量裝置600根據本圖所示的樣式，來進行第15圖的下側所示的T i,1及T i,2的測量中所用之符號遷移的取樣。
本圖中亦與第16圖同樣是以PRBS[0]、PRBS[1]…來表示被反覆輸入的被測量樣式，且在橫方向配置2M次的量的被測量樣式。測量裝置600針對符號遷移i，以位於最左側的間隔2M次的被測量樣式PRBS[0]、PRBS[32]、PRBS[64]、…來進行取樣。
此處如第15圖的下側所示，成為T i,1的測量對象之符號遷移i，出現在被測量樣式的6次反覆中的第1次、第3次及第5次。第17圖中，若使被測量樣式PRBS[0]對應被測量樣式每6次反覆中的第1次(0 mod 6+1=1)被測量樣式，則在PRBS[32]取樣的符號遷移i對應至被測量樣式每6次反覆中的第3次(32 mod 6+1=3)被測量樣式。又，在PRBS[64]取樣的符號遷移i對應至被測量樣式每6次反覆中的第5次(64 mod 6+1=5)被測量樣式。該等符號遷移皆如第15圖的下側所示，使用於T i,1的測量。以下同樣地，根據第17圖最左側的被測量樣式，僅能夠對使用於T i,1的測量的符號遷移i進行取樣。
抖動算出部690，為了對與第15圖的下側中的第2次、第4次及第6次被測量樣式的T i,2對應的符號遷移i進行取樣，使用移位指示訊號來指示使取樣時脈移位符號週期的一週期量。一旦取樣時脈向後偏移符號週期的一週期量，測量裝置600便能夠在已經在取樣時脈移位前對符號遷移i進行取樣過的被測量樣式的前1個被測量樣式中，對符號遷移i進行取樣。例如在第17圖中，測量裝置600能夠在PRBS[31]、PRBS[63]、PRBS[95]、…中對符號遷移i進行取樣。
在PRBS[31]取樣的符號遷移i，對應於被測量樣式的6次反覆中的第2次(31 mod 6+1=2)被測量樣式。如第15圖的下側所示，第2次被測量樣式使用於T i,2的測量。在PRBS[63]取樣的符號遷移i，對應於被測量樣式的6次反覆中的第4次(63 mod 6+1=4)被測量樣式，使用於T i,2的測量。在PRBS[95]取樣的符號遷移i，對應於被測量樣式的6次反覆中的第6次(95 mod 6+1=6)被測量樣式，使用於T i,2的測量。
如此，測量裝置600藉由使取樣時脈移位符號週期的1週期量，便能夠對與第15圖的下側中的第2次、第4次及第6次被測量樣式的T i,2對應的符號遷移i進行取樣。
第18圖表示本實施型態之計數器部1410的構成。為了實現第16圖及第17圖所示的EOJ的測量方法，第14圖所示的各計數器部1410可採用本圖所示的構成。
本圖所示的計數器部1410，包含交錯部1810與複數個計數器1820-0～2。交錯部1810，在每次要自被測量樣式對符號i進行取樣時，切換對比較結果訊號進行計數的計數器1820-0～2。交錯部1810，可在每次自計數器選擇部1400輸入計數用時脈時，切換計數器1820-0～2。
複數個計數器1820-0～2，響應於被交錯部1810選擇而對比較結果訊號進行計數。本實施型態中，計數器部1410包含3個計數器1820。計數器1820-0，針對自PRBS[0]、PRBS[96]、…取樣而來的符號遷移i之比較結果訊號進行計數。藉此，計數器1820-0能夠針對使用於T i,3的測量的符號遷移i之比較結果訊號進行計數。此外，在取樣時脈被移位了符號週期的1週期量的情況下，計數器1820-0能夠針對使用於T i,4的測量的符號遷移i之比較結果訊號進行計數。
計數器1820-1，針對自PRBS[32]、PRBS[128]、…取樣而來的符號遷移i之比較結果訊號進行計數。藉此，計數器1820-1能夠針對在T i,3及T i,4的測量的任一者中皆不使用的符號遷移i之比較結果訊號進行計數。此外，在取樣時脈被移位了符號週期的1週期量的情況下，計數器1820-1能夠針對使用於T i,3的測量的符號遷移i之比較結果訊號進行計數。
計數器1820-2，針對自PRBS[64]、PRBS[160]、…取樣而來的符號遷移i之比較結果訊號進行計數。藉此，計數器1820-2能夠針對使用於T i,4的測量的符號遷移i之比較結果訊號進行計數。此外，在取樣時脈被移位了符號週期的1週期量的情況下，計數器1820-2能夠針對在T i,3及T i,4的測量的任一者中皆不使用的符號遷移i之比較結果訊號進行計數。
此外，在第17圖的測量方法的情況下，計數器1820-0～2的任一者皆針對使用於T i,1的測量的符號遷移i之比較結果訊號進行計數。又，在取樣時脈被移位了符號週期的1週期量的情況下，計數器1820-0～2的任一者皆針對使用於T i,2的測量的符號遷移i之比較結果訊號進行計數。
加法器1830，算出複數個計數器1820-0～2的計數值的合計並加以輸出。藉此，加法器1830在第17圖的測量方法中，能夠輸出針對使用於T i,1或T i,2的測量的符號遷移i之合計計數值。
測量裝置600，使用本圖所示的計數器部1410，自第16圖最左側的被測量樣式針對應該要使用於T i,3及T i,4測量的符號遷移i之比較結果訊號進行計數。然後，測量裝置600使取樣時脈移位符號週期的1週期量，自第16圖最右側的被測量樣式針對應該要使用於T i,3及T i,4的測量的符號遷移i之比較結果訊號進行計數。使用該等測量結果，抖動算出部690能夠算出T i,3及T i,4。
又，測量裝置600，使用本圖所示的計數器部1410，自第17圖最左側的被測量樣式針對應該要使用於T i,1的測量的符號遷移i之比較結果訊號進行計數。然後，測量裝置600使取樣時脈移位符號週期的1週期量，自第17圖最右側的被測量樣式針對應該要使用於T i,2的測量的符號遷移i之比較結果訊號進行計數。使用該等測量結果，抖動算出部690能夠算出T i,1及T i,2。
如此，抖動算出部690，能夠基於將取樣時脈移位符號週期的1週期量的情況下之測量部680的測量結果，以及未對取樣時脈進行移位的情況下之測量部680的測量結果，來算出EOJ。
第19圖表示本實施型態的第1變化例之同步樣式發生部1900的構成。本變化例中，測量裝置600將全部的符號遷移作為抖動的計測對象。於是，測量裝置600響應於取樣樣式與參考樣式一致的情形，對應於在這之後的全部符號產生觸發。本變化例之測量裝置600具備同步樣式發生部1900和觸發產生部2000來代替同步樣式產生部650和觸發產生部660。
同步樣式發生部1900，連接至時脈發生部620和取樣部640。同步樣式發生部650，使用來自時脈發生部620的取樣時脈產生同步樣式，該同步樣式與被測量樣式中的與連續的預先決定數量的取樣時脈對應之取樣樣式同步。
同步樣式發生部1900，包含由縱向連續連接的複數個D-FF所構成的移位暫存器。同步樣式發生部1900，藉由對應於取樣時脈將擷取進移位暫存器內的比較結果訊號依序移位，而取得與被測量樣式中的連續的預先決定數量的取樣時脈對應的取樣樣式A[0]～A[12]。本實施型態中，同步樣式發生部1900與取樣樣式取得部1000同樣存放13符號量的比較結果訊號。
第20圖表示本實施型態的第2變化例之觸發產生部2000的構成。觸發產生部2000，連接至時脈發生部620和同步樣式發生部1900。觸發產生部2000，在作為同步樣式而供給的取樣樣式與參考樣式一致的時序之後，在全部的取樣時脈中產生觸發。
觸發產生部2000具有D-FF4、D-FF5以及複數個邏輯元件。D-FF4中，與第11圖所示的觸發產生部660內的D-FF1相同，將固定的邏輯H輸入至D輸入，當來自同步樣式產生部1900的同步樣式與參考樣式一致時將上升訊號輸入至時脈輸入，並將來自抖動算出部690的模式設定值的反轉值輸入至重置輸入。D-FF4在模式設定值成為邏輯L的訓練模式期間成為重置狀態，將要成為開始訊號的Q輸出設成邏輯L。D-FF4在自訓練模式切換成測量模式後，響應於同步樣式B[12-0]與第5圖的「REF」所對應之參考樣式一致的情形，而將開始訊號設為邏輯H。
D-FF5，將來自D-FF4的開始訊號輸入至D輸入，並將取樣時脈的反轉值輸入至時脈輸入。D-FF5，在取樣時脈反轉的時序中鎖住D-FF4所輸出的開始訊號，並作為圖中的開始訊號’而自Q輸出來輸出。連接至D-FF5的Q輸出的AND邏輯閘，藉由計算開始訊號’與取樣時脈的邏輯積，在測量模式中在取樣樣式中檢測到參考樣式的時序的下個取樣時脈的時序之後，在全部的取樣時脈中產生觸發。
此外，本變化例中，閾值發生部670為了將被測量樣式對應於全部的取樣時脈而發生與符號遷移對應之位準的閾值，可使第13圖所示的移位暫存器1300能夠存放被測量樣式的全符號數量(本實施例中為8191)之閾值選擇值。以上所示的變化例之測量裝置600中，能夠將反覆輸入的被測量樣式中的全部符號遷移作為抖動的計測對象。
本發明的各種實施方式，可參照流程圖及方塊圖來記載，於此處，方塊可表示：(1)操作所執行之製程的階段、或(2)具有執行操作的作用之裝置的部件。特定的階段及部件，可藉由專用電路、與儲存於電腦可讀取媒體上之電腦可讀取指令一同供給之可程式電路、及/或與儲存於電腦可讀取媒體上之電腦可讀取指令一同供給之處理器來構裝。專用電路可包括數位及/或類比硬體電路，可包括積體電路(integrated circuits；IC)及/或分立電路(discreet circuit)。可程式電路可包括可重構之硬體電路，所述可重構之硬體電路包括：邏輯AND、邏輯OR、邏輯XOR、邏輯NAND、邏輯NOR、及其他邏輯操作；及，正反器、電阻器、場可程式閘陣列(Field Programmable Gate Array；FPGA)及可程式邏輯陣列(programmable logic array；PLA)等之記憶體元件(memory elements)等。
電腦可讀取媒體可包含能夠儲存藉由適當設備所執行的指令之任意有形的元件(device)，其結果為，具有儲存於此處之指令之電腦可讀取媒體具備一產品，所述產品包括下述指令，所述指令可作成用於執行流程圖或方塊圖所指定的操作之手段並執行。作為電腦可讀取媒體的一例，可包括電子記憶媒體、磁記憶媒體、光記憶媒體、電磁記憶媒體及半導體記憶媒體等。作為電腦可讀取媒體的更具體的一例，亦可包括：軟性（註冊商標）磁碟(floppy disk)、磁片、硬碟、隨機存取記憶體(random-access memory；RAM)、唯讀記憶體(read-only memory；ROM)、可抹除可程式唯讀記憶體（erasable programmable read only memory；EPROM或快閃記憶體）、電子可抹除可程式唯讀記憶體(electrically erasable programmable read only memory；EEPROM)、靜態隨機存取記憶體(static random-access memory；SRAM)、光碟唯讀記憶體(compact disc read-only memory；CD-ROM）、數位多用途光碟(digital video disc；DVD)、藍光(註冊商標)光碟、記憶棒(memory stick)、積體電路卡等。
電腦可讀取指令可包含一或複數個程式語言之任意組合所記述之原始碼或目標碼中的任一個，包括組譯器指令、指令集架構(instruction set architecture；ISA)指令、機器指令、機器相關指令、微指令、韌體指令、狀態設定資料、或Smalltalk（註冊商標）、JAVA（註冊商標）、C＋＋等物件導向程式語言、及「C」程式語言或同樣的程式語言般之以往的程序型程式語言。
電腦可讀取指令可對通用電腦、特殊目的之電腦、或者其他電腦等的可程式資料處理裝置之處理器、或可程式電路，於本地或經由區域網路(local area network；LAN)、網際網路等廣域網(wide area network；WAN)提供，執行電腦可讀取指令，以作成用於執行流程圖或方塊圖所指定之操作之手段。作為處理器的一例，包括電腦處理器、處理單元、微處理器、數位訊號處理器、控制器及微控制器等。
第21圖示出本發明的複數個態樣可全體或部分地具體化之電腦2200的一例。安裝於電腦2200之程式，可使電腦2200作為與本發明的實施方式的裝置相關聯的操作或該裝置的一或複數個「部分(section)」發揮功能、或執行該操作或該一或複數個「部分」、及/或可使電腦2200執行本發明的實施方式的製程或該製程的階段。這樣的程式可藉由CPU 2212執行，以使電腦2200執行與本說明書所述之流程圖及方塊圖中的一些或全部方塊相關聯的特定操作。
依據本實施方式之電腦2200，包括CPU 2212、RAM 2214、圖形控制器(graphic controller)2216、及顯示設備2218，這些藉由主機控制器2210相互連接。電腦2200進而包括通訊介面2222、硬碟驅動器(hard disk drive)2224、DVD-ROM驅動器2226、及IC卡驅動器般的輸入輸出單元，這些經由輸入輸出控制器2220連接至主機控制器2210。電腦進而包括ROM 2230及鍵盤2242般的傳統的輸入輸出單元，經由這些輸入輸出晶片2240連接至輸入輸出控制器2220。
CPU 2212依據儲存於ROM 2230及RAM 2214內之程式而動作，並藉此控制各單元。圖形控制器2216，於提供至RAM 2214內之碼框緩衝器等或該圖形控制器2216本身之中，獲得CPU 2212所生成之影像資料，並使影像資料顯示於顯示設備2218上。
通訊介面2222經由網路與其他電子設備進行通訊。硬碟驅動器2224儲存電腦2200內的CPU 2212所使用之程式及資料。DVD-ROM驅動器2226自DVD-ROM 2201讀取程式或資料，並經由RAM 2214將程式或資料提供至硬碟驅動器2224。IC卡驅動器自IC卡讀取程式及資料、及/或將程式及資料寫入IC卡。
ROM 2230，於內部儲存啟動時電腦2200所執行的啟動程式(boot program)等、及/或與電腦2200的硬體相關之程式。輸入輸出晶片2240進而可經由平行埠、串聯埠、鍵盤埠、及滑鼠埠等，將各種輸入輸出單元連接至輸入輸出控制器2220。
程式是藉由DVD-ROM 2201或IC卡般的電腦可讀取記憶媒體所提供。程式自電腦可讀取記憶媒體中讀取出來，安裝於亦為電腦可讀取記憶媒體的一例之硬碟驅動器2224、RAM 2214、或ROM 2230中，並由CPU 2212所執行。這些程式內所述之資訊處理，被讀取至電腦2200，使程式與上述各種類型的硬體資源之間協作。裝置或方法可藉由隨著電腦2200的使用以實現資訊的操作或處理而構成。
例如，當在電腦2200及外部設備之間執行通訊時，CPU 2212可執行被載入至RAM 2214中的通訊程式，並基於通訊程式所記述之處理，對通訊介面2222指令通訊處理。通訊介面2222，於CPU 2212之控制下，讀取已儲存於RAM 2214、硬碟驅動器2224、DVD-ROM 2201、或IC卡般的記錄媒體內所提供的發送緩衝處理區域內之發送資料，並將所讀取的發送資料發送至網路、或將自網路上接收的接收資料寫入記錄媒體上所提供的接收緩衝處理區域等。
又，CPU 2212可對RAM 2214上的資料執行各種類型的處理，以使儲存於硬碟驅動器2224、DVD-ROM驅動器2226(DVD-ROM 2201)、IC卡等外部記錄媒體中之檔案或資料庫的全部或所需部分被讀取至RAM 2214。CPU 2212可繼而將處理後的資料回寫至外部記錄媒體。
各種類型的程式、資料、表格、及資料庫般的各種類型的資訊可儲存於記錄媒體，以接受資訊處理。CPU 2212可對自RAM 2214讀取出的資料，執行本揭示隨處記載之各種類型的處理，包括程式的指令序列所指定之各種類型的操作、資訊處理、條件判斷、條件分岐、無條件分岐、資訊之檢索/替換等，並將結果回寫至RAM 2214。又，CPU 2212可檢索記錄媒體內的檔案、資料庫等之中的資訊。例如，當分別具有與第二屬性的屬性值相關聯的第一屬性的屬性值之複數個條目被儲存於記錄媒體內時，CPU 2212可自該複數個條目之中，檢索與指定第一屬性的屬性值的條件一致之條目，並讀取被儲存於該條目內之第二屬性的屬性值，藉此，獲得與滿足預定條件之第一屬性相關聯之第二屬性的屬性值。
以上所說明之程式或軟體模組，可儲存於電腦2200上或電腦2200附近的電腦可讀取記憶媒體。又，連接至專用通訊網路或網際網路上之伺服器系統內所提供之硬碟或RAM般的記錄媒體，可作為電腦可讀取記憶媒體來使用，藉此，經由網路將程式提供至電腦2200。
以上，使用實施方式來說明本發明，但是本發明的技術範圍並非限定於上述實施方式所述之範圍。該發明所屬之技術領域中具有通常知識者清楚，可對上述實施方式施加各種更改或改善。由申請專利範圍的記載可了解，施加該種更改或改善的方式亦可包含於本發明的技術範圍。
應注意，申請專利範圍、說明書、及圖式中所示之裝置、系統、程式及方法中的動作、次序、步驟及階段等各處理的執行順序，只要未特別明示「在……之前」、「事先」等，並且，只要未將前一處理的輸出用於後續處理，能以任意的順序實現。關於申請專利範圍、說明書及圖式中的動作流程，即便為方便起見而使用「首先，」、「繼而，」等加以說明，並非意指必須以該順序實施。
100:DUT(被試驗元件) 110:PRBS發生器 120:PRBS發生器 130:映射部 140:編碼部 600:測量裝置 620:時脈發生部 640:取樣部 650:同步樣式產生部 660:觸發產生部 670:閾值發生部 680:測量部 690:抖動算出部 700:移位部 710:2分頻器 720:選擇器 730:分頻部 740:可變延遲電路 910:比較器 920:D-FF 1000:取樣樣式取得部 1010:擬隨機樣式發生部 1020:樣式同步部 1030:AND邏輯閘 1040:一致檢測電路 1050:OR邏輯閘 1300:移位暫存器 1310:選擇器 1320:選擇器 1330:DAC 1400:計數器選擇部 1410-0~11:計數器部 1420:計數器部 1430:計數停止檢測部 1810:交錯部 1820-0~2:計數器 1830:加法器 1900:同步樣式發生部 2000:觸發產生部 2200:電腦 2201:DVD-ROM 2210:主機控制器 2212:CPU 2214:RAM 2216:圖形控制器 2218:顯示設備 2220:輸入輸出控制器 2222:通訊介面 2224:硬碟驅動器 2226:DVD-ROM驅動器 2230:ROM 2240:輸入輸出晶片 2242:鍵盤
第1圖表示DUT 100的構成之一例，該DUT傳出包含擬隨機樣式的被測量樣式。 第2圖表示DUT 100傳出的被測量訊號之一例。 第3圖是表示映射部130所進行的格雷碼(Gray code)轉換的表。 第4圖表示PAM-4訊號的符號遷移與閾值位準的關係。 第5圖表示成為抖動測量的對象之符號的樣式之一例。 第6圖表示本實施型態之測量裝置600的構成。 第7圖表示本實施型態之時脈發生部620的構成。 第8圖表示本實施型態之移位部700的構成。 第9圖表示本實施型態之取樣部640的構成。 第10圖表示本實施型態之同步樣式產生部650的構成。 第11圖表示本實施型態之觸發產生部660的構成。 第12是表示本實施型態之同步樣式產生部650和觸發產生部660的動作之一例的時序圖。 第13圖表示本實施型態之閾值發生部670的構成。 第14圖表示本實施型態之測量部680的構成。 第15圖表示EOJ(Even Odd Jitter，偶奇抖動)的測量方法之一例。 第16圖表示自被測量樣式的反覆中確定用於EOJ的測量之符號遷移的方法之第1例。 第17圖表示自被測量樣式的反覆中確定用於EOJ的測量之符號遷移的方法之第2例。 第18圖表示本實施型態之計數器部1410的構成。 第19圖表示本實施型態的第1變化例之同步樣式發生部1900的構成。 第20圖表示本實施型態的第2變化例之觸發產生部2000的構成。 第21圖表示可將本發明的複數個態樣全體或部分地具現化之電腦2200之例子。
國內寄存資訊(請依寄存機構、日期、號碼順序註記) 無 國外寄存資訊(請依寄存國家、機構、日期、號碼順序註記) 無
100:DUT(被試驗元件)
600:測量裝置
620:時脈發生部
640:取樣部
650:同步樣式產生部
660:觸發產生部
670:閾值發生部
680:測量部
690:抖動算出部

Claims (14)

  1. 一種測量裝置，具備： 時脈發生部，發生取樣時脈，該取樣時脈具有比被測量樣式中的符號週期更長的取樣週期，該被測量樣式包含預先決定的符號數的符號； 取樣部，對應於前述取樣時脈，對被反覆輸入的前述被測量樣式進行取樣；及， 測量部，對應於被反覆輸入的前述被測量樣式中的成為抖動之計測對象的符號遷移所對應之時序的前述取樣時脈，測量前述取樣部的取樣結果。
  2. 如請求項1所述之測量裝置，其中， 前述取樣週期具有前述符號週期的2以上的整數倍的週期。
  3. 如請求項2所述之測量裝置，其中， 前述取樣週期具有前述符號週期的第1整數倍的週期； 前述第1整數與前述預先決定的符號數互質。
  4. 如請求項1～3中任一項所述之測量裝置，其中， 前述時脈發生部具有分頻部，該分頻部對將前述符號週期作為1週期的時脈訊號進行分頻，產生前述取樣時脈。
  5. 如請求項4所述之測量裝置，其中， 前述時脈發生部具有移位部，該移位部能夠切換是否要將前述取樣時脈移位前述符號週期的1週期量。
  6. 如請求項5所述之測量裝置，更具備： 抖動算出部，基於已將前述取樣時脈移位前述符號週期的1週期量後的情況下的前述測量部的測量結果，以及未將前述取樣時脈移位的情況下的前述測量部的測量結果，算出EOJ(偶奇抖動)。
  7. 如請求項1所述之測量裝置，更具備： 觸發產生部，在被輸入的前述被測量樣式中有預先決定的符號樣式發生的時序中產生觸發； 其中，前述測量部對應於前述觸發來測量前述取樣結果。
  8. 如請求項7所述之測量裝置，其中， 前述觸發產生部，響應於前述被測量樣式中的與連續的預先決定的數量的取樣時脈對應的取樣樣式與預先決定的比較樣式一致的情形，產生前述觸發。
  9. 如請求項8所述之測量裝置，其中， 前述觸發產生部，響應於前述取樣樣式與複數個比較樣式中的任一者一致的情形，產生觸發。
  10. 如請求項8或9所述之測量裝置，更具備： 同步樣式產生部，產生與前述被測量樣式中的前述取樣樣式同步的同步樣式； 其中，前述觸發產生部響應於前述同步樣式與前述比較樣式一致的情形，產生前述觸發。
  11. 如請求項10所述之測量裝置，其中， 前述同步樣式產生部具有： 擬隨機樣式發生部，發生擬隨機樣式，該擬隨機樣式與藉由取樣時脈對用於前述被測量樣式的發生之擬隨機樣式進行疏化取樣後的樣式相同；及， 樣式同步部，使前述擬隨機樣式發生部所發生的擬隨機樣式，與自前述被測量樣式對應於連續的預先決定的數量的取樣時脈而抽出的樣式同步。
  12. 如請求項11所述之測量裝置，其中， 前述被測量樣式包含具有3個以上位準的多值訊號的符號； 前述測量裝置更具備閾值發生部，該閾值發生部發生與成為抖動的計測對象之符號遷移對應的位準的閾值； 前述取樣部使用前述閾值對前述被測量樣式進行取樣。
  13. 如請求項12所述之測量裝置，其中， 前述閾值發生部在訓練模式中發生閾值，該閾值用來自前述被測量樣式抽出用於前述被測量樣式的發生之擬隨機樣式，該訓練模式使前述擬隨機樣式發生部所發生的擬隨機樣式與自前述被測量樣式抽出的擬隨機樣式同步。
  14. 一種測量方法，具備以下步驟： 測量裝置發生取樣時脈，該取樣時脈具有比被測量樣式中的符號週期更長的取樣週期，該被測量樣式包含預先決定的符號數的符號； 測量裝置對應於前述取樣時脈，對被反覆輸入的前述被測量樣式進行取樣；及， 測量裝置對應於被反覆輸入的前述被測量樣式中的成為抖動之計測對象的符號遷移所對應之時序的前述取樣時脈，測量前述被測量樣式的取樣結果。
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