JP2022174652A - 測定装置および測定方法 - Google Patents

Abstract

【課題】通信機能を有する被測定デバイスの試験に用いる測定装置及び測定方法を提供する。【解決手段】測定装置６００は、予め定められたシンボル数のシンボルを含む被測定パターンにおけるシンボル周期よりも長いサンプリング周期を有するサンプリングクロックを発生するクロック発生部と、繰り返し入力される被測定パターンをサンプリングクロックに応じてサンプリングするサンプリング部と、繰り返し入力される被測定パターンにおけるジッタの計測対象となるシンボル遷移に対応するタイミングのサンプリングクロックに応じてサンプリング部のサンプリング結果を測定する測定部と、を備える。【選択図】図６

Description

本発明は、測定装置および測定方法に関する。

通信機能を有する被測定デバイスの試験において、測定装置は、被測定デバイスが送出する被測定信号のジッタを測定する。例えば、２００ＧＡＵＩおよび４００ＧＡＵＩのような高速なイーサネット（登録商標）においては、規格においてジッタ測定方法が定められている。この規格においては、被測定デバイスは、被測定信号として擬似ランダムパターンの一種であるＰＲＢＳ１３Ｑパターンを出力する。測定装置には、被測定デバイスが送出するＰＡＭ－４（４ Ｐｕｌｓｅ Ａｍｐｌｉｔｕｄｅ Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）の被測定信号のシーケンス中における特定のパターンに対応するシンボル遷移のジッタを測定することが求められる。

本発明の第１の態様においては、測定装置を提供する。測定装置は、予め定められたシンボル数のシンボルを含む被測定パターンにおけるシンボル周期よりも長いサンプリング周期を有するサンプリングクロックを発生するクロック発生部を備えてよい。測定装置は、繰り返し入力される被測定パターンをサンプリングクロックに応じてサンプリングするサンプリング部を備えてよい。測定装置は、繰り返し入力される被測定パターンにおけるジッタの計測対象となるシンボル遷移に対応するタイミングのサンプリングクロックに応じてサンプリング部のサンプリング結果を測定する測定部を備えてよい。

サンプリング周期は、シンボル周期の２以上の整数倍の周期を有してよい。

サンプリング周期は、シンボル周期の第１の整数倍の周期を有してよい。第１の整数および予め定められたシンボル数は、互いに素であってよい。

クロック発生部は、シンボル周期を１周期とするクロック信号を分周してサンプリングクロックを生成する分周部を有してよい。

クロック発生部は、サンプリングクロックをシンボル周期の１周期分シフトするか否かを切り替え可能なシフト部を有してよい。

測定装置は、サンプリングクロックをシンボル周期の１周期分シフトした場合の測定部の測定結果、およびサンプリングクロックをシフトしない場合の測定部の測定結果に基づいて、ＥＯＪ（Ｅｖｅｎ Ｏｄｄ Ｊｉｔｔｅｒ）を算出するジッタ算出部を更に備えてよい。

測定装置は、入力される被測定パターンに、予め定められたシンボルパターンが発生するタイミングでトリガを生成するトリガ生成部を更に備えてよい。測定部は、トリガに応じてサンプリング結果を測定してよい。

トリガ生成部は、被測定パターンにおける連続する予め定められた数のサンプリングクロックに応じたサンプリングパターンが、予め定められた比較パターンと一致することに応じてトリガを生成してよい。

トリガ生成部は、サンプリングパターンが、複数の比較パターンのいずれかに一致することに応じてトリガを生成してよい。

測定装置は、被測定パターンにおけるサンプリングパターンに同期した同期パターンを生成する同期パターン生成部を更に備えてよい。トリガ生成部は、同期パターンが比較パターンと一致することに応じてトリガを生成してよい。

同期パターン生成部は、被測定パターンの発生に用いられる擬似ランダムパターンをサンプリングクロックで間引きしたパターンと同じ擬似ランダムパターンを発生する擬似ランダムパターン発生部を有してよい。同期パターン生成部は、擬似ランダムパターン発生部が発生する擬似ランダムパターンを、被測定パターンから連続する予め定められた数のサンプリングクロックに応じて抽出したパターンに同期させるパターン同期部を有してよい。

被測定パターンは、３以上のレベルを有する多値信号のシンボルを含んでよい。測定装置は、ジッタの計測対象となるシンボル遷移に応じたレベルの閾値を発生する閾値発生部を更に備えてよい。サンプリング部は、閾値を用いて被測定パターンをサンプリングしてよい。

閾値発生部は、擬似ランダムパターン発生部が発生する擬似ランダムパターンを被測定パターンから抽出した擬似ランダムパターンに同期させるトレーニングモードにおいて、被測定パターンから被測定パターンの発生に用いられた擬似ランダムパターンを抽出するための閾値を発生してよい。

本発明の第２の態様においては、測定方法を提供する。測定方法は、測定装置が、予め定められたシンボル数のシンボルを含む被測定パターンにおけるシンボル周期よりも長いサンプリング周期を有するサンプリングクロックを発生することを備えてよい。測定方法は、測定装置が、繰り返し入力される被測定パターンをサンプリングクロックに応じてサンプリングすることを備えてよい。測定方法は、測定装置が、繰り返し入力される被測定パターンにおけるジッタの計測対象となるシンボル遷移に対応するタイミングのサンプリングクロックに応じて被測定パターンのサンプリング結果を測定することを備えてよい。

なお、上記の発明の概要は、本発明の特徴の全てを列挙したものではない。また、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。

擬似ランダムパターンを含む被測定パターンを送出するＤＵＴ１００の構成の一例を示す。 ＤＵＴ１００が送出する被測定信号の一例を示す。 マッピング部１３０によるグレイコード変換を示す表である。 ＰＡＭ－４信号のシンボル遷移と閾値レベルの関係を示す。 ジッタ測定の対象となるシンボルのパターンの一例を示す。 本実施形態に係る測定装置６００の構成を示す。 本実施形態に係るクロック発生部６２０の構成を示す。 本実施形態に係るシフト部７００の構成を示す。 本実施形態に係るサンプリング部６４０の構成を示す。 本実施形態に係る同期パターン生成部６５０の構成を示す。 本実施形態に係るトリガ生成部６６０の構成を示す。 本実施形態に係る同期パターン生成部６５０およびトリガ生成部６６０の動作の一例を示すタイミングチャートである。 本実施形態に係る閾値発生部６７０の構成を示す。 本実施形態に係る測定部６８０の構成を示す。 ＥＯＪ（Ｅｖｅｎ Ｏｄｄ Ｊｉｔｔｅｒ）の測定方法の一例を示す。 被測定パターンの繰り返しからＥＯＪの測定に用いられるシンボル遷移を特定する方法の第１例を示す。 被測定パターンの繰り返しからＥＯＪの測定に用いられるシンボル遷移を特定する方法の第２例を示す。 本実施形態に係るカウンタ部１４１０の構成を示す。 本実施形態の第１変形例に係る同期パターン発生部１９００の構成を示す。 本実施形態の第２変形例に係るトリガ生成部２０００の構成を示す。 本発明の複数の態様が全体的または部分的に具現化されてよいコンピュータ２２００の例を示す。

以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。

図１は、擬似ランダムパターンを含む被測定パターンを送出するＤＵＴ１００（被試験デバイス１００）の構成の一例を示す。本図のＤＵＴ１００は、一例として、２００ＧＡＵＩおよび４００ＧＡＵＩのジッタ測定に用いられるＰＲＢＳ１３Ｑを被測定パターンとして送出する。ＤＵＴ１００は、ＰＲＢＳ発生器１１０と、ＰＲＢＳ発生器１２０と、マッピング部１３０と、エンコード部１４０とを備える。

ＰＲＢＳ発生器１１０は、ＤＵＴ１００が送出する多値（本例においてはＰＡＭ－４の４値）の送信データにおける最上位ビット（ＭＳＢ：Ｍｏｓｔ Ｓｉｇｎｉｆｉｃａｎｔ Ｂｉｔ）用の擬似ランダムパターンを発生する。本図の例において、ＰＲＢＳ発生器１１０は、１３ビットの擬似ランダムパターン発生器であり、８１９１ビットの擬似ランダムパターンを繰り返し発生する。ＰＲＢＳ発生器１１０は、例えば２６．５６２５ＧＨｚといった高周波数のクロック信号に応じたシンボル周期毎に、擬似ランダムパターンを１ビットずつマッピング部１３０へと出力する。

ＰＲＢＳ発生器１２０は、ＤＵＴ１００が送出する多値（本例においてはＰＡＭ－４の４値）の送信データにおける最下位ビット（ＬＳＢ：Ｌｅａｓｔ Ｓｉｇｎｉｆｉｃａｎｔ Ｂｉｔ）用の擬似ランダムパターンを発生する。本図の例において、ＰＲＢＳ発生器１２０は、１３ビットの擬似ランダムパターン発生器であり、８１９１ビットの擬似ランダムパターンを繰り返し発生する。ここで、ＰＲＢＳ発生器１２０は、ＰＲＢＳ発生器１１０が出力する擬似ランダムパターンを４０９６ビットシフトした擬似ランダムパターンを発生する。ＰＲＢＳ発生器１２０は、ＰＲＢＳ発生器１１０と同様に、シンボル周期毎に、擬似ランダムパターンを１ビットずつマッピング部１３０へと出力する。

マッピング部１３０は、ＰＲＢＳ発生器１１０およびＰＲＢＳ発生器１２０に接続される。マッピング部１３０は、ＰＲＢＳ発生器１１０からの最上位ビットおよびＰＲＢＳ発生器１２０からの最下位ビットを含む多値の送信データを受け取って、ＤＵＴ１００が出力するシンボルにマッピングする。本図の例において、マッピング部１３０は、送信データをグレイコードに変換してシンボルコードにマッピングする。

エンコード部１４０は、マッピング部１３０に接続される。エンコード部１４０は、マッピング部１３０から受け取ったシンボルコードを多値信号にエンコードする。本図の例において、エンコード部１４０は、シンボルコードを４値の信号レベルを有するＰＡＭ－４信号のシンボルにエンコードする。エンコード部１４０は、エンコードした多値信号のシンボルを、シンボル周期毎に送出する。これにより、エンコード部１４０は、例えばＰＲＢＳ１３Ｑである被測定パターンを繰り返し送出することができる。

以上の例においては、ＤＵＴ１００は、シンボルとしてＰＡＭ－４信号を用いるＰＲＢＳ１３Ｑの被測定パターンを繰り返し送出する。これに代えて、ＤＵＴ１００は、予め定められたシンボル数のシンボルを含む他の被測定パターンを繰り返し送出してもよい。

以上の例においては、ＤＵＴ１００は、ＰＲＢＳ発生器１１０およびＰＲＢＳ発生器１２０を内蔵して、ＰＲＢＳ１３Ｑ等の被測定パターンを送出する機能を有する。これに代えて、ＤＵＴ１００がＰＲＢＳ発生器１１０およびＰＲＢＳ発生器１２０を有しない場合には、ＤＵＴ１００のジッタを測定する測定装置側にＰＲＢＳ発生器１１０およびＰＲＢＳ発生器１２０を設けて、ＤＵＴ１００に対して送信データを供給してもよい。

図２は、ＤＵＴ１００が送出する被測定信号の一例を示す。ＤＵＴ１００は、被測定信号として、シンボル周期毎に１シンボルずつ、予め定められたシンボル数のシンボルを含む同一の被測定パターンを繰り返し送出する。本例において、繰り返し送出されるＰＲＢＳ１３Ｑの被測定パターンを時系列順にＰＲＢＳ［０］、ＰＲＢＳ［１］、…と示す。ＰＲＢＳ１３Ｑの各被測定パターンは、時系列順にＳ［０］，Ｓ［１］，…，Ｓ［８１９０］で示される８１９１個のシンボルからなる。

図３は、マッピング部１３０によるグレイコード変換を示す表である。マッピング部１３０は、ＰＲＢＳ発生器１１０が出力する最上位ビット（ＭＳＢ）およびＰＲＢＳ発生器１２０が出力する最下位ビット（ＬＳＢ）を含む送信データを、本図の表に示すようにグレイコードに変換することにより、４つの値０～３をとり得る多値のシンボルコードに変換する。

図４は、ＰＡＭ－４信号のシンボル遷移と閾値レベルの関係を示す。エンコード部１４０は、マッピング部１３０からのグレイコード０を、電圧レベルＶ_０のシンボルにエンコードする。同様に、エンコード部１４０は、マッピング部１３０からのグレイコード１～３を、電圧レベルＶ_０～３のシンボルにそれぞれエンコードする。

連続する２つのシンボルは、それぞれ電圧レベルＶ_０～３のうちの任意の電圧レベルを取り得る。したがって、ある特定のシンボル遷移のジッタ測定においては、遷移前のシンボルの電圧レベルと遷移後のシンボルの電圧レベルとの中点を閾値レベルに設定し、シンボルの信号値が閾値レベルをまたぐタイミングを測定する。例えば、電圧レベルＶ_０のシンボルから電圧レベルＶ_３のシンボルへのシンボル遷移の測定においては、閾値レベルを（ＶＶ_０＋Ｖ_３）／２に設定する。

このように、多値信号のシンボル間でのシンボル遷移を測定する場合には、シンボル遷移に応じて閾値を適切に切り替えることが求められる。これに対し、２値信号のシンボル間でのシンボル遷移を測定する場合には、閾値はハイレベルの電圧およびローレベルの電圧の中間の電圧のまま一定に保ってよい。

図５は、ジッタ測定の対象となるシンボルのパターンの一例を示す。本図の例では、２００ＧＡＵＩおよび４００ＧＡＵＩの規格で定められたジッタ測定の対象となるシンボルのパターンを、参照パターンと共に示す。本図に示した表は、「ラベル」の列に示した各ラベルによって示されるパターンのそれぞれについて、「説明」と、「ＰＡＭ４シンボル系列」と、「最初のシンボルの位置」と、「遷移開始位置」と、「閾値レベル」とを示す。

「ＲＥＦ」と示したパターンは、「説明」に示したとおり、ＤＵＴ１００が、被測定パターンの先頭において送信する参照パターンである。すなわち、ＤＵＴ１００は、各被測定パターンの先頭（「最初のシンボル位置」が１）から、「ＰＡＭ４シンボル系列」に「３３３３３３３」と示した長さ７のパターンを送信する。

「Ｒ０３」と示したパターンは、「説明」に示したとおり、シンボル０からシンボル３への立ち上がりのジッタ測定の対象となるパターンを示す。「Ｒ０３」は、「ＰＡＭ４シンボル系列」に「１００００３３０」と示したパターンであり、ＰＲＢＳ１３Ｑにおける１８３０番目のシンボル位置（Ｓ［１８２９］に相当）から開始する。ジッタ測定の対象となるシンボル遷移は、「１００００」の最後の「０」から「３３０」の最初の「３」へのシンボル遷移であり、その遷移開始位置は１８３４番目のシンボル位置である。「Ｒ０３」は、シンボル０からシンボル３のシンボル遷移であるから、ジッタ測定時に用いる閾値は（Ｖ_０＋Ｖ_３）／２となる（図４参照）。同様に、図５は、連続する２つのシンボル間でシンボル値が変化する全ての種類のシンボル遷移について、ＰＲＢＳ１３Ｑの被測定パターン中に、ジッタ測定の対象となるシンボル遷移を１箇所ずつ指定する。

図６は、本実施形態に係る測定装置６００の構成を示す。ＤＵＴ１００のジッタを測定する測定装置は、高速なクロック信号に同期したシンボル周期を有する被測定パターンの中から図５に示したパターンに応じたシンボル遷移のタイミングを特定し、かつシンボルが多値信号であればそのシンボル遷移に対応する閾値レベルで被測定信号を検出することが求められる。このような動作を高速なクロック信号に相当する処理速度で行なう場合には、測定装置の回路規模が大きくなってしまう。そこで、本実施形態に係る測定装置６００は、シンボル周期を有するクロック信号よりも遅いサンプリングクロックを用いて被測定パターンに含まれるシンボル遷移のジッタを測定可能とする。

測定装置６００は、ＤＵＴ１００に接続される。測定装置６００は、クロック発生部６２０と、サンプリング部６４０と、同期パターン生成部６５０と、トリガ生成部６６０と、閾値発生部６７０と、測定部６８０と、ジッタ算出部６９０とを備える。クロック発生部６２０は、予め定められたシンボル数のシンボルを含む被測定パターンにおけるシンボル周期よりも長いサンプリング周期を有するサンプリングクロックを発生する。サンプリング周期は、シンボル周期の２以上の整数倍の周期を有してよい。本実施形態において、クロック発生部６２０は、被測定パターンのシンボル周期を１周期とするクロック信号を分周してサンプリングクロックを生成する。

本実施形態においては、クロック発生部６２０は、クロック信号を２×Ｍ分周したサンプリングクロックを発生する場合について例示する。Ｍは、一例として１６である。なお、クロック発生部６２０は、ＤＵＴ１００に供給されるクロック信号を入力してサンプリングクロックの発生に用いてよい。これに代えて、クロック発生部６２０は、ＤＵＴ１００が出力する被測定信号からクロックリカバリーによってクロック信号を再生してサンプリングクロックの発生に用いてもよい。

サンプリング部６４０は、ＤＵＴ１００、クロック発生部６２０、および閾値発生部６７０に接続される。サンプリング部６４０は、ＤＵＴ１００から繰り返し入力される被測定パターンを、クロック発生部６２０からのサンプリングクロックに応じてサンプリングする。被測定測定パターンの各被測定信号が多値信号の場合、サンプリング部６４０は、閾値発生部６７０が発生する閾値を用いて被測定パターンをサンプリングする。

ここで、サンプリング周期がシンボル周期の第１の整数倍（２以上）の周期を有する場合、サンプリング部６４０は、被測定パターンのシンボルを、第１の整数倍おきにサンプリングすることになる。したがって、サンプリング部６４０は、被測定パターンを、第１の整数倍おきにずらしながら複数箇所においてサンプリングしていくことができる。クロック発生部６２０は、このようにしてサンプル可能な箇所の中に、図５に示したようなジッタの計測対象となる全てのシンボル遷移が含まれるようにサンプリング周期を定めてよい。

ここで、クロック発生部６２０は、被測定パターンの１サイクルに含まれるシンボル数に対して互いに素となるようにこの第１の整数を定めることができる。この場合、サンプリング部６４０は、被測定パターンが第１の整数回繰り返される間に、全てのシンボルを１回ずつサンプリングすることができる。本実施形態の例においては、サンプリング部６４０は、８１９１シンボルを有する被測定パターンを繰り返し入力し、３２（＝２×Ｍ）おきに被測定信号のシンボルをサンプリングする。この場合、サンプリング部６４０は、１サイクル目の被測定パターンにおけるＳ［０］、Ｓ［３２］、…、Ｓ［８１６０］をサンプリングすると、８１６０＋３２番目のシンボルとして、２サイクル目の被測定パターンにおける８１６０＋３２－８１９１＝１番目のシンボルＳ［１］をサンプリングすることになる。同様にして、サンプリング部６４０は、被測定パターンが繰り返される毎にサンプリングするシンボルの位置を１つずつずらしていき、被測定パターンが３２回繰り返される間に全てのシンボルをサンプリングすることができる。

同期パターン生成部６５０は、クロック発生部６２０およびサンプリング部６４０に接続される。同期パターン生成部６５０は、クロック発生部６２０からのサンプリングクロックを用いて、被測定パターンにおける連続する予め定められた数のサンプリングクロックに応じたサンプリングパターンに同期した同期パターンを生成する。この同期パターンは、サンプリング部６４０によりサンプリングされたシンボルが、被測定パターンにおけるどのシンボル位置に対応するかをパターンによって特定するものである。

トリガ生成部６６０は、クロック発生部６２０および同期パターン生成部６５０に接続される。トリガ生成部６６０は、入力される被測定パターンに、図５に示したような予め定められたシンボルパターンが発生するタイミングでトリガを生成する。本実施形態において、トリガ生成部６６０は、サンプリング部６４０によりサンプリングされるべきサンプリングパターンが、予め定められた比較パターンと一致することに応じてトリガを生成する。ここで、トリガ生成部６６０は、同期パターン生成部６５０が出力する同期パターンを、サンプリング部６４０によりサンプリングされるべきサンプリングパターンとして用い、同期パターンが比較パターンと一致することに応じてトリガを生成する。

閾値発生部６７０は、トリガ生成部６６０に接続される。閾値発生部６７０は、被測定パターンが、３以上のレベルを有する多値信号のシンボルを含む場合に閾値を動的に切り替えるために設けられる。閾値発生部６７０は、トリガ生成部６６０が発生するトリガに応じて、ジッタの計測対象となるシンボル遷移に応じたレベルの閾値を発生する。

測定部６８０は、サンプリング部６４０およびトリガ生成部６６０に接続される。測定部６８０は、繰り返し入力される被測定パターンにおけるジッタの計測対象となるシンボル遷移に対応するタイミングのサンプリングクロックに応じて、サンプリング部６４０のサンプリング結果を測定する。測定部６８０は、トリガ生成部６６０が発生するトリガに応じてサンプリング部６４０のサンプリング結果を測定することにより、ジッタの計測対象となるシンボル遷移に対応するサンプリング結果のみを選択して測定することができる。

ジッタ算出部６９０は、測定部６８０に接続される。ジッタ算出部６９０は、ジッタ算出用に設計された専用回路によって実現された専用ハードウェアであってよく、専用コンピュータであってもよい。これに代えて、ジッタ算出部６９０は、例えば図２１に例示するような、ＰＣ（パーソナルコンピュータ）、タブレット型コンピュータ、スマートフォン、ワークステーション、サーバコンピュータ、または汎用コンピュータ等のコンピュータであってもよい。ジッタ算出部６９０は、測定部６８０の測定結果に基づいて、被測定パターンのジッタを算出する。また、ジッタ算出部６９０は、被測定パターンのジッタを最終的に算出するために、クロック発生部６２０および同期パターン生成部６５０等の測定装置６００内の各コンポーネントを制御してよい。

以上に示した測定装置６００によれば、シンボル周期を有する高速なクロック信号よりも遅いサンプリングクロックを用いて、被測定パターンに含まれる測定対象のシンボル遷移のジッタを測定することができる。また、被測定信号が多値信号である場合には、測定装置６００は、閾値発生部６７０を備えることができ、閾値発生部６７０によって測定対象のシンボル遷移に応じたレベルの閾値を発生することができる。

図７は、本実施形態に係るクロック発生部６２０の構成を示す。クロック発生部６２０は、シフト部７００と、分周部７３０と、可変遅延回路７４０とを有する。シフト部７００は、クロック信号を入力する。クロック信号は、シンボル周期を１周期とするクロックであって、各シンボル周期がＨ（ハイ）レベルの期間とＬ（ロー）レベルの期間で構成される。シフト部７００は、クロック発生部６２０が最終的に出力するサンプリングクロックをシンボル周期の１周期分シフトするか否かを切り替え可能とする回路を含む。

本実施形態において、シフト部７００は、２分周器７１０と、セレクタ７２０とを含む。２分周器７１０は、クロック信号を２分周することにより、シンボル周期毎にＨレベル、Ｌレベルが切り替わる２分周クロック信号を出力する。また、２分周器７１０は、２分周クロック信号を反転した反転２分周クロック信号を出力する。反転２分周クロック信号は、２分周クロック信号がＨレベルのシンボル周期においてＬレベルとなり、２分周クロック信号がＬレベルのシンボル周期においてＨレベルとなる。

セレクタ７２０は、２分周器７１０に接続される。セレクタ７２０は、ジッタ算出部６９０から入力されるシフト指示信号に応じて、２分周クロック信号および反転２分周クロック信号のいずれを出力するかを選択する。セレクタ７２０は、反転２分周クロック信号を出力した場合、２分周クロック信号を出力する場合と比較して、ＬレベルからＨレベルへと遷移するタイミングがシンボル周期の１周期分シフトしたクロック信号を出力することになる。

分周部７３０は、シフト部７００に接続される。分周部７３０は、シフト部７００が出力するクロック信号を更にＭ分周することにより、２Ｍ分周されたクロック信号を出力する。可変遅延回路７４０は、分周部７３０に接続される。可変遅延回路７４０は、分周部７３０から入力されるクロック信号を、ジッタ算出部６９０からの遅延量設定に応じた遅延量だけ遅延させてサンプリングクロックとして出力する。これにより、可変遅延回路７４０は、ジッタ測定のために、サンプリングクロックを例えばシンボル周期程度の範囲内でスイープさせて被測定信号を各位相においてサンプリング可能とする。

図８は、本実施形態に係るシフト部７００の回路構成例を示す。２分周器７１０は、Ｄ入力、クロック入力、Ｑ出力、および反転Ｑ出力を有するＤ－ＦＦ（Ｄフリップフロップ）によって実現されてよい。２分周器７１０は、反転Ｑ出力をＤ入力に入力することにより、クロック信号が立ち上がる（ＬレベルからＨレベルへの遷移）度に、Ｑ出力が反転する。これにより、２分周器７１０のＱ出力は、シンボル周期毎にクロック信号が立ち上がる度に、Ｈレベル、Ｌレベルの順に切り替わる。２分周器７１０の反転Ｑ出力は、Ｑ出力の反転値となる。

セレクタ７２０は、ジッタ算出部６９０からのシフト指示信号に応じてＱ出力または反転Ｑ出力を選択する。これにより、セレクタ７２０は、シフト指示信号に応じて適宜シンボル周期分位相をシフトさせたシフト済クロック信号を出力する。

図９は、本実施形態に係るサンプリング部６４０の構成を示す。サンプリング部６４０は、コンパレータ９１０と、Ｄ－ＦＦ９２０とを有する。

コンパレータ９１０は、ＤＵＴ１００からの被測定信号を、閾値発生部６７０からの閾値と比較する。本実施形態に係るコンパレータ９１０は、被測定信号のレベルが閾値レベルよりも高いことに応じてＨレベルとなり、被測定信号のレベルが閾値よりも低いことに応じてＬレベルとなる比較結果を出力する。

Ｄ－ＦＦ９２０は、コンパレータ９１０に接続される。Ｄ－ＦＦ９２０は、コンパレータ９１０の比較結果を、サンプリングクロックの立ち上がりに応じてラッチして、比較結果信号として出力する。

図１０は、本実施形態に係る同期パターン生成部６５０の構成を示す。同期パターン生成部６５０は、サンプリングパターン取得部１０００と、擬似ランダムパターン発生部１０１０と、パターン同期部１０２０とを有する。

サンプリングパターン取得部１０００は、縦続接続された複数のＤ－ＦＦにより構成されるシフトレジスタを含む。サンプリングパターン取得部１０００は、サンプリングクロックに応じてシフトレジスタ内に取り込む比較結果信号を順次シフトしていくことにより、被測定パターンにおける連続する予め定められた数のサンプリングクロックに応じたサンプリングパターンＡ［０］～Ａ［１２］（「Ａ［１２－０］」とも示す。）を取得する。本実施形態において、サンプリングパターン取得部１０００は、擬似ランダムパターン発生部１０１０がＰＲＢＳ発生器１１０と同様に１３ビット分のＤ－ＦＦを用いてＰＲＢＳを発生するのに対応して、１３シンボル分の比較結果信号を格納する。

擬似ランダムパターン発生部１０１０は、縦続接続された複数のＤ－ＦＦにより構成されるシフトレジスタと、複数の排他的論理和（ＸＯＲ）素子を含み、２以上のＤ－ＦＦの出力をシフトレジスタの初段のＤ－ＦＦにフィードバックする回路とを含む。擬似ランダムパターン発生部１０１０は、被測定パターンの発生に用いられる擬似ランダムパターンをサンプリングクロックで間引いたパターンと同じ擬似ランダムパターンを発生する。本実施形態に係る擬似ランダムパターン発生部１０１０は、ＰＲＢＳ発生器１１０が発生する擬似ランダムパターンを２Ｍシンボル間隔で間引きして得られるパターンと同一の擬似ランダムパターンＢ［１２－０］を発生する。

パターン同期部１０２０は、サンプリングパターン取得部１０００および擬似ランダムパターン発生部１０１０に接続される。パターン同期部１０２０は、擬似ランダムパターン発生部１０１０が発生する擬似ランダムパターンを被測定パターンから抽出した擬似ランダムパターンに同期させるトレーニングモードにおいて、サンプリングパターン取得部１０００が出力するサンプリングパターンと、擬似ランダムパターン発生部１０１０が発生する擬似ランダムパターンとを同期させる処理を行なう。具体的には、パターン同期部１０２０は、擬似ランダムパターン発生部１０１０が発生する擬似ランダムパターンを、被測定パターンから連続する予め定められた数（本実施形態においては１３）のサンプリングクロックに応じて抽出したパターンに同期させる。

パターン同期部１０２０は、ＡＮＤゲート１０３０と、一致検出回路１０４０と、ＯＲゲート１０５０とを有する。ＡＮＤゲート１０３０は、サンプリングクロックおよびＯＲゲート１０５０の出力の論理積を擬似ランダムパターン発生部１０１０のクロックとして出力することにより、クロックゲートとして機能する。具体的には、ＡＮＤゲート１０３０は、ＯＲゲート１０５０の出力が論理Ｈの場合には、サンプリングクロックを擬似ランダムパターン発生部１０１０へと供給する。また、ＡＮＤゲート１０３０は、ＯＲゲート１０５０の出力が論理Ｌの場合には、ＡＮＤゲート１０３０の出力を論理Ｌとして、擬似ランダムパターン発生部１０１０へのサンプリングクロックの供給を止める。

一致検出回路１０４０は、サンプリングパターン取得部１０００が出力するサンプリングパターンＡ［１２－０］と擬似ランダムパターン発生部１０１０が出力する擬似ランダムパターンＢ［１２－０］とが一致した場合に論理Ｈ、一致しなかった場合に論理Ｌとなるパターン一致信号を出力する。ＯＲゲート１０５０は、モード設定値が論理Ｌとなるトレーニングモードにおいては、パターン一致信号が論理Ｌの間、論理Ｌを出力して擬似ランダムパターン発生部１０１０へのサンプリングクロックの供給を止める。ここで、図１３を参照して後述するように、トレーニングモードにおいては、閾値発生部６７０は、ＰＲＢＳ発生器１１０が出力した擬似ランダムパターンを、サンプリング部６４０が被測定パターンから抽出できるように閾値を設定する。

これにより、トレーニングモードにおいては擬似ランダムパターン発生部１０１０の擬似ランダムパターンＢ［１２－０］は同じ値のまま維持される一方で、サンプリングパターン取得部１０００のサンプリングパターンＡ［１２－０］はサンプリングクロックに応じて変化する。サンプリングパターン取得部１０００のサンプリングパターンＡ［１２－０］は、ＰＲＢＳ発生器１１０が出力した擬似ランダムパターンをサンプリングクロックに応じて間引きした値となる。ここで、ＰＲＢＳ発生器１１０が発生する擬似ランダムパターンを２Ｍシンボル間隔毎に間引きしてＰＲＢＳ発生器１１０が有するビット数分をサンプリングしたサンプリングパターンは、擬似ランダムパターン発生部１０１０が発生する擬似ランダムパターンと同じ順序で発生する。

サンプリングパターン取得部１０００のサンプリングパターンＡ［１２－０］が変化すると、最終的に擬似ランダムパターンＢ［１２－０］と一致する。これに応じてパターン一致信号が論理Ｈとなる結果、ＯＲゲート１０５０の出力も論理Ｈとなって擬似ランダムパターン発生部１０１０にサンプリングクロックが供給されるようになる。ここで、サンプリングパターンＡ［１２－０］は、ＰＲＢＳ発生器１１０が発生する擬似ランダムパターンを２Ｍシンボル間隔で間引いたものであり擬似ランダムパターン発生部１０１０が発生する擬似ランダムパターンと同じ順序で変化する。したがって、これ以降、擬似ランダムパターン発生部１０１０は、サンプリングクロックのタイミングで、被測定パターンに含まれるＰＲＢＳ発生器１１０の擬似ランダムパターンを２Ｍシンボル間隔で間引いたパターンと一致する擬似ランダムパターンを同期パターンＢ［１２－０］として出力することができる。

トレーニングモードにおいて同期を一旦確立した後は、ジッタ算出部６９０はモード設定値を論理Ｈとして測定モードとする。測定モードにおいては、擬似ランダムパターン発生部１０１０が、ＰＲＢＳ発生器１１０の擬似ランダムパターンを２Ｍシンボル間隔で間引いたパターンと同期した同期パターンを常に出力するので、閾値発生部６７０は、ジッタの計測対象となるシンボル遷移に応じて閾値を変化させてよく、これによってサンプリングパターン取得部１０００が取得するサンプリングパターンがＰＲＢＳ発生器１１０の擬似ランダムパターンを２Ｍシンボル間隔で間引いたパターンとは異なるようになってもよい。

本実施形態に係る同期パターン生成部６５０によれば、トレーニングモードにおいて、被測定パターンから抽出したＰＲＢＳ発生器１１０の擬似ランダムパターンのサンプリングパターンと、擬似ランダムパターン発生部１０１０の擬似ランダムパターンとを同期させる。これにより、同期パターン生成部６５０は、測定モードにおいて閾値発生部６７０が閾値を変化させても、被測定パターンに含まれるＰＲＢＳ発生器１１０の擬似ランダムパターンを間引きしたものと同期した同期パターンを出力することができる。

図１１は、本実施形態に係るトリガ生成部６６０の構成を示す。トリガ生成部６６０は、Ｄ－ＦＦ１と、Ｄ－ＦＦ２と、Ｄ－ＦＦ３と、複数の論理素子とを有する。Ｄ－ＦＦ１は、Ｄ入力に固定の論理Ｈを入力し、クロック入力に同期パターン生成部６５０からの同期パターンと参照パターンとが一致した場合に立ち上がる信号を入力し、リセット入力にジッタ算出部６９０からのモード設定値の反転値を入力する。Ｄ－ＦＦ１は、モード設定値が論理Ｌとなるトレーニングモードの間、リセット状態となり、スタート信号となるＱ出力を論理Ｌとする。これにより、サンプリングクロックおよびスタート信号を入力するＡＮＤゲートは、トレーニングモードの間、Ｄ－ＦＦ２およびＤ－ＦＦ３に対するサンプリングクロックの供給を停止する。

Ｄ－ＦＦ１は、トレーニングモードから測定モードに切り替わった後、同期パターンＢ［１２－０］が図５の「ＲＥＦ」に対応する参照パターンと一致したことに応じて、スタート信号を論理Ｈとする。これにより、Ｄ－ＦＦ１は、Ｄ－ＦＦ２およびＤ－ＦＦ３に対するサンプリングクロックの供給を開始させる。なお、同期パターンＢ［１２－０］は、ＰＲＢＳ発生器１１０が出力する擬似ランダムパターンを間引いたパターンと同期している。そこで、トリガ生成部６６０は、同期パターンＢ［１２－０］と比較する参照パターンＲＥＦ［１２－０］として、図５の参照パターンが開始するタイミングまでのＰＲＢＳ発生器１１０の擬似ランダムパターンを間引いたパターンに対応するパターンを用いる。

Ｄ－ＦＦ２は、同期パターンＢ［１２－０］が複数のパターンＰ［０］～Ｐ［１２］のいずれかに一致する場合に論理Ｈとなり、同期パターンが複数の比較パターンＰ［０］～Ｐ［１２］のいずれかにも一致しない場合に論理Ｌとなる一致信号をＤ入力に入力する。Ｄ－ＦＦ２は、測定モードにおいて参照パターンが検出された以降において、サンプリングクロックを反転したタイミングで、一致信号をラッチしてＱ出力から出力する。ここで、複数のパターンＰ［０］～Ｐ［１２］は、図５の「Ｒ０３」、「Ｆ３０」、…における、計測対象のシンボル遷移のタイミングでのサンプリングパターンにそれぞれ対応する。トリガ生成部６６０は、参照パターンと同様に、複数のパターンＰ［０］～Ｐ［１２］のそれぞれとして、「Ｒ０３」等における計測対象のシンボル遷移のタイミングでのサンプリングパターンの各シンボルのＭＳＢの組に対応するパターンを用いる。

Ｄ－ＦＦ３は、測定モードにおいて参照パターンが検出された以降において、サンプリングクロックのタイミングで、Ｄ－ＦＦ１が出力する比較パターン一致信号をラッチして、トリガ信号としてＱ出力から出力する。

図１２は、本実施形態に係る同期パターン生成部６５０およびトリガ生成部６６０の動作の一例を示すタイミングチャートである。本図は、サンプリングクロック、同期パターン、スタート信号、Ｄ－ＦＦ２およびＤ－ＦＦ３に供給されるサンプリングクロック、一致信号、Ｄ－ＦＦ２の出力、およびトリガ信号のそれぞれについて、横方向の時間の経過に伴う波形を示す。

時刻ｔ２において同期パターンが参照パターンＲＥＦ［１２－０］と一致すると、Ｄ－ＦＦ１は、スタート信号を論理Ｈとし、Ｄ－ＦＦ２およびＤ－ＦＦ３へのサンプリングクロックの供給を開始させる。時刻ｔ４において同期パターンがパターンＰ［０］と一致すると、一致信号が論理Ｈとなる。Ｄ－ＦＦ２は、論理Ｈの一致信号をサンプリングクロックを反転したタイミングでラッチし、Ｄ－ＦＦ３は、Ｄ－ＦＦ２の出力をサンプリングクロックのタイミングでラッチして、サンプリングクロックの次のサイクルである時刻ｔ５においてトリガ信号を論理Ｈとする。

以上に示したトリガ生成部６６０は、同期パターンを用いて、被測定パターンにおける連続する予め定められた数のサンプリングクロックに応じたサンプリングパターンが、計測対象の各シンボル遷移のタイミングに対応する被測定信号のパターンである複数の比較パターンのいずれかに一致することに応じてトリガを生成することができる。

図１３は、本実施形態に係る閾値発生部６７０の構成を示す。閾値発生部６７０は、シフトレジスタ１３００と、セレクタ１３１０と、セレクタ１３２０と、ＤＡＣ１３３０とを有する。シフトレジスタ１３００は、図５に示したような各シンボル遷移について、閾値の選択値をシンボル遷移の出現順に格納する。本実施形態においては、閾値は６種類であるから、シフトレジスタ１３００は、各シンボル遷移について３ビットの選択値を格納する。閾値の選択値は、例えば、値０はシンボル値０－１の間の閾値（Ｖ_０＋Ｖ_１）／２を示し、値１はシンボル値１－２間の閾値（Ｖ_１＋Ｖ_２）／２を示し、値２はシンボル値２－３間の閾値（Ｖ_２＋Ｖ_３）／２を示し、値３はシンボル値０－２間の閾値（Ｖ_０＋Ｖ_２）／２を示し、値４はシンボル値１－３間の閾値（Ｖ_１＋Ｖ_３）／２を示し、値５はシンボル値０－３間の閾値（Ｖ_０＋Ｖ_３）／２を示す。

図５に示したように計測対象のシンボル遷移は１２個であるから、シフトレジスタ１３００は、閾値の選択値を、サンプリングクロックによるサンプリングにおいて出現する順番に１２個分格納する。そして、シフトレジスタ１３００は、論理Ｈのトリガ信号が入力される度に、出力する閾値の選択値をシフトしていき、最後の選択値を出力すると最初の選択値に戻る。

セレクタ１３１０は、トレーニングモードにおいてはＰＲＢＳ発生器１１０が出力する擬似ランダムパターンをサンプリングするための閾値（Ｖ_１＋Ｖ_２）／２を選択する選択値Ｓ１２（＝値１）を選択する。ここで、ＰＲＢＳ発生器１１０が出力する擬似ランダムパターンは、グレイコードに変換された後に各シンボルのＭＳＢにエンコードされる。そこで、閾値発生部６７０は、トレーニングモードの間、閾値を（Ｖ_１＋Ｖ_２）／２とすることによってＰＲＢＳ発生器１１０が出力する擬似ランダムパターンをサンプリング可能とする。また、セレクタ１３１０は、測定モードにおいては、シフトレジスタ１３００が出力する選択値を選択する。

セレクタ１３２０は、セレクタ１３１０からの選択値に応じて、複数のデジタル閾値Ｄ０１、Ｄ１２、Ｄ２３、Ｄ０２、Ｄ１３、およびＤ０３の中から、選択値に対応するデジタル閾値を選択する。ＤＡＣ１３３０は、選択されたデジタル閾値をアナログの閾値にＤＡ変換して出力する。

以上に示した閾値発生部６７０によれば、トレーニングモードにおいて、被測定パターンの発生に用いられた擬似ランダムパターンを被測定パターンから抽出するための閾値を発生することができる。また、閾値発生部６７０は、測定モードにおいてはトリガ信号が入力される度に閾値を切り替えることにより、計測対象の各シンボル遷移に対応する閾値を発生することができる。

図１４は、本実施形態に係る測定部６８０の構成を示す。測定部６８０は、カウンタ選択部１４００と、複数のカウンタ部１４１０－０～１１と、カウンタ部１４２０と、カウントストップ検出部１４３０とを有する。カウンタ選択部１４００は、トリガ信号を受ける度に、複数のカウンタ部１４１０－０～１１のうち対応するシンボル遷移を測定するカウンタ部１４１０に対してカウント用クロックを出力する。カウンタ選択部１４００は、１つ目のトリガに応じてカウンタ部１４１０－０によるカウントを行なわせ、２つ目のトリガに応じてカウンタ部１４１０－１によるカウントを行なわせ、以下同様にカウンタ部１４１０を１つずつ順番にカウントさせてよい。

カウンタ部１４１０－０～１１のそれぞれは、ジッタの計測対象となるそれぞれのシンボル遷移に対応して設けられる。本実施形態においては、図５に示したように計測対象のシンボル遷移は１２個であるから、カウンタ部１４１０は、１２個用意される。カウンタ部１４１０－０～１１は、測定モードの開始前にリセットされる。カウンタ部１４１０－０は、測定モードの開始後、１つ目のトリガに対応するシンボル遷移について、比較結果信号をカウントする。具体的には、カウンタ部１４１０－０は、比較結果信号が０の場合は値をカウントアップせず、比較結果信号が１の場合は値をカウントアップする。カウンタ部１４１０－１は、２つ目のトリガに対応するシンボル遷移について、比較結果信号をカウントする。以下同様に、カウンタ部１４１０－１１は、１２番目のトリガに対応するシンボル遷移について、比較結果信号をカウントする。そして、被測定パターンの繰り返しによりカウンタ部１４１０が一巡すると、カウンタ部１４１０－０は、被測定パターンにおける１つ目のトリガに対応するシンボル遷移と同じシンボル位置に対応する、１３番目のトリガに対応するシンボル遷移について、比較結果信号をカウントする。以下同様にして、カウンタ部１４１０－０～１１は、トリガの度に順番に比較結果信号をカウントし、カウンタ部１４１０－１１の次にはカウンタ部１４１０－０に戻ってカウントを継続する。

カウンタ部１４２０は、測定モードの開始前にリセットされる。カウンタ部１４２０は、カウンタ部１４１０－１１と同じカウント用クロックを入力して、カウント用クロックの数をカウントする。カウントストップ検出部１４３０は、カウンタ部１４２０のカウント値が予め設定されたカウント回数となったことに応じてカウントストップ信号を論理Ｈとし、カウンタ部１４１０－０～１１のカウントを停止させる。

以上に示した測定部６８０により、各カウンタ部１４１０は、繰り返し入力される被測定パターンにおけるそのカウンタ部１４１０に対応するシンボル位置のシンボル遷移の比較結果を、例えば１００，０００回ずつサンプリングすることができる。例えば、シンボル０から３へのシンボル遷移において、カウント値が３５，０００であったとすると、サンプリングクロックのタイミングにおいて、６５，０００回（６５％）は遷移前の状態、３５，０００回（３５％）は遷移後の状態としてカウントされたこととなる。ここで、シンボル３から０へのシンボル遷移のように、シンボル値が減少するシンボル遷移では、遷移前の状態が１とカウントされ、遷移後の状態が０とカウントされる。したがって、カウント値をカウント回数１００，０００から減じることで、サンプリングタイミングにおいてシンボル遷移後であった割合を算出することができる。

ジッタ算出部６９０は、可変遅延回路７４０の遅延量を微小遅延量ずつ変化させながら繰り返し１００，０００回ずつの上記のカウントを行なわせることにより、全種類（本実施形態においては１２種類）のシンボル遷移についてのジッタヒストグラムを得ることができる。ジッタヒストグラムは、それぞれの位相において、どのような割合で遷移後であったかを示す。

ジッタ算出部６９０は、全種類のシンボル遷移のジッタヒストグラムを合算して、全シンボル遷移についてのジッタヒストグラムを算出してよい。そして、ジッタ算出部６９０は、全シンボル遷移についてのジッタヒストグラムから、ＢＥＲ（Ｂｉｔ Ｅｒｒｏｒ Ｒａｔｅ）が規格によって定められた値（例えば１０^－４）となるときのピークツウピークジッタ値およびＲＭＳジッタ値を算出してよい。このピークツウピークジッタ値は、２００ＧＡＵＩおよび４００ＧＡＵＩにおけるＪ４Ｕジッタ値に相当し、ＲＭＳジッタ値は、２００ＧＡＵＩおよび４００ＧＡＵＩにおけるＪＲＭＳジッタ値に相当する。

図１５は、ＥＯＪ（Ｅｖｅｎ Ｏｄｄ Ｊｉｔｔｅｒ）の測定方法の一例を示す。例えば、２００ＧＡＵＩおよび４００ＧＡＵＩにおいては、ＤＵＴ１００が複数の送信器のインターリーブによって各シンボルを出力することを想定して、ＥＯＪを測定することを定めている。ＥＯＪの測定は、（１）被測定パターンとなるＰＲＢＳ１３Ｑのパターン長（８１９１シンボル）の３倍の間隔でシンボル遷移時間の平均値を測定すること、および（２）被測定パターンとなるＰＲＢＳ１３Ｑのパターン長（８１９１シンボル）の２倍の間隔でシンボル遷移時間の平均値を測定すること、を含む。

図１５の上側は、（１）の測定方法を示す。測定装置６００は、あるシンボル遷移ｉについて、１つ目のＰＲＢＳ１３Ｑと、パターン長の３倍後の４つ目のＰＲＢＳ１３Ｑと、それ以降パターン長の３倍間隔ずつの各ＰＲＢＳ１３Ｑとにおけるシンボル遷移時間の平均値Ｔ_ｉ，３を計測する。また、測定装置６００は、そのシンボル遷移ｉについて、１つ後となる２つ目のＰＲＢＳ１３Ｑと、パターン長の３倍後の５つ目のＰＲＢＳ１３Ｑと、それ以降パターン長の３倍間隔ずつの各ＰＲＢＳ１３Ｑとにおけるシンボル遷移時間の平均値Ｔ_ｉ，４を計測する。

図１５の下側は、（２）の測定方法を示す。測定装置６００は、あるシンボル遷移ｉについて、１つ目のＰＲＢＳ１３Ｑと、パターン長の２倍後の３つ目のＰＲＢＳ１３Ｑと、さらにパターン長の２倍後の５つ目のＰＲＢＳ１３Ｑと、それ以降パターン長の２倍間隔ずつの各ＰＲＢＳ１３Ｑとにおけるシンボル遷移時間の平均値Ｔ_ｉ，１を計測する。また、測定装置６００は、そのシンボル遷移ｉについて、１つ後となる２つ目のＰＲＢＳ１３Ｑと、パターン長の２倍後の４つ目のＰＲＢＳ１３Ｑと、さらにパターン長の２倍後の６つ目のＰＲＢＳ１３Ｑと、それ以降パターン長の２倍間隔ずつの各ＰＲＢＳ１３Ｑとにおけるシンボル遷移時間の平均値Ｔ_ｉ，２を計測する。

ジッタ算出部６９０は、シンボル遷移ｉのＥＯＪ_ｉを、以下の式（１）により算出する。
ＥＯＪ_ｉ＝｜（Ｔ_ｉ，２－Ｔ_ｉ，１）－（Ｔ_ｉ，４－Ｔ_ｉ，３）｜ （１）
ジッタ算出部６９０は、各シンボル遷移_ｉのＥＯＪ_ｉのうち最大となるＥＯＪ_ｉを、ＤＵＴ１００が送出する被測定パターンのＥＯＪとして算出する。

図１６は、被測定パターンの繰り返しからＥＯＪの測定に用いられるシンボル遷移を特定する方法の第１例を示す。測定装置６００は、図１５の上側に示したＴ_ｉ，３およびＴ_ｉ，４の測定に用いるシンボル遷移のサンプリングを、本図に示したパターンで行なう。

本実施形態においては、測定装置６００は、８１９１シンボルを有するＰＲＢＳ１３Ｑの被測定パターンを、２Ｍ（＝３２）シンボル間隔でサンプリングする。したがって、測定装置６００は、被測定パターンのある特定のシンボル位置にあるシンボル遷移ｉを、被測定パターンの２Ｍ回の繰り返し毎にサンプリングすることができる。本図においては、繰り返し入力される被測定パターンをＰＲＢＳ［０］、ＰＲＢＳ［１］…と示し、横方向に２Ｍ回分の被測定パターンを配置する。本図においては、測定装置６００は、シンボル遷移ｉを、最も左に位置する２Ｍ回おきの被測定パターンＰＲＢＳ［０］、ＰＲＢＳ［３２］、ＰＲＢＳ［６４］、…でサンプリングする。

ここで図１５の上側に示したように、Ｔ_ｉ，３の測定対象となるシンボル遷移ｉは、被測定パターンの６回分の繰り返しにおける１番目および４番目に現れる。図１６において、被測定パターンＰＲＢＳ［０］を被測定パターンの６回ずつの繰り返しにおける１番目（０ ｍｏｄ ６＋１＝１）の被測定パターンに対応させると、ＰＲＢＳ［３２］でサンプリングされるシンボル遷移ｉは、被測定パターンの６回ずつの繰り返しにおける３番目（３２ ｍｏｄ ６＋１＝３）の被測定パターンに対応する。図１５の上側に示すように、３番目の被測定パターンは使用されない。

次に、ＰＲＢＳ［６４］でサンプリングされるシンボル遷移ｉは、被測定パターンの６回ずつの繰り返しにおける５番目（６４ ｍｏｄ ６＋１＝５）の被測定パターンに対応する。図１５の上側に示すように、５番目の被測定パターンは、Ｔ_ｉ，４の測定に使用される。同様に、ＰＲＢＳ［９６］でサンプリングされるシンボル遷移ｉは、被測定パターンの６回ずつの繰り返しにおける１番目（９６ ｍｏｄ ６＋１＝１）の被測定パターンに対応し、Ｔ_ｉ，３の測定に使用され、以下同様に繰り返される。

このようにして、測定装置６００は、図１５の上側に関して、１番目の被測定パターンのＴ_ｉ，３および５番目の被測定パターンのＴ_ｉ，４に対応するシンボル遷移ｉを繰り返しサンプリングすることができる。これに対し、図１６の最も左側の被測定パターンのみからは、図１５の上側における２番目の被測定パターンのＴ_ｉ，４および４番目の被測定パターンのＴ_ｉ，３に対応するシンボル遷移ｉをサンプリングすることができない。

そこで、ジッタ算出部６９０は、図１５の上側における２番目の被測定パターンのＴ_ｉ，４および４番目の被測定パターンのＴ_ｉ，３に対応するシンボル遷移ｉをサンプリングするために、シフト指示信号を用いて、サンプリングクロックをシンボル周期の１周期分シフトすることを指示する。サンプリングクロックがシンボル周期の１周期分後ろにずれると、測定装置６００は、サンプリングクロックをシフトする前においてシンボル遷移ｉをサンプリングした被測定パターンの１つ前の被測定パターンにおいて、シンボル遷移ｉをサンプリングすることができる。例えば、図１６において、測定装置６００は、ＰＲＢＳ［３１］、ＰＲＢＳ［６３］、ＰＲＢＳ［９５］、…においてシンボル遷移ｉをサンプリングすることができる。

ＰＲＢＳ［３１］でサンプリングされるシンボル遷移ｉは、被測定パターンの６回ずつの繰り返しにおける２番目（３１ ｍｏｄ ６＋１＝２）の被測定パターンに対応する。図１５の上側に示すように、２番目の被測定パターンは、Ｔ_ｉ，４の測定に使用される。ＰＲＢＳ［６３］でサンプリングされるシンボル遷移ｉは、被測定パターンの６回ずつの繰り返しにおける４番目（６３ ｍｏｄ ６＋１＝４）の被測定パターンに対応し、Ｔ_ｉ，３の測定に使用される。ＰＲＢＳ［９５］でサンプリングされるシンボル遷移ｉは、被測定パターンの６回ずつの繰り返しにおける６番目（９５ ｍｏｄ ６＋１＝６）の被測定パターンに対応し、Ｔ_ｉ，３およびＴ_ｉ，４の測定には使用されない。

このように、測定装置６００は、サンプリングクロックをシンボル周期の１周期分シフトすることで、図１５の上側における２番目の被測定パターンのＴ_ｉ，４および４番目の被測定パターンのＴ_ｉ，３に対応するシンボル遷移ｉをサンプリングすることができる。

図１７は、被測定パターンの繰り返しからＥＯＪの測定に用いられるシンボル遷移を特定する方法の第２例を示す。測定装置６００は、図１５の下側に示したＴ_ｉ，１およびＴ_ｉ，２の測定に用いるシンボル遷移のサンプリングを、本図に示したパターンで行なう。

本図においても、図１６と同様に、繰り返し入力される被測定パターンをＰＲＢＳ［０］、ＰＲＢＳ［１］…と示し、横方向に２Ｍ回分の被測定パターンを配置する。測定装置６００は、シンボル遷移ｉを、最も左に位置する２Ｍ回おきの被測定パターンＰＲＢＳ［０］、ＰＲＢＳ［３２］、ＰＲＢＳ［６４］、…でサンプリングする。

ここで図１５の下側に示したように、Ｔ_ｉ，１の測定対象となるシンボル遷移ｉは、被測定パターンの６回分の繰り返しにおける１番目、３番目、および５番目に現れる。図１７において、被測定パターンＰＲＢＳ［０］を被測定パターンの６回ずつの繰り返しにおける１番目（０ ｍｏｄ ６＋１＝１）の被測定パターンに対応させると、ＰＲＢＳ［３２］でサンプリングされるシンボル遷移ｉは、被測定パターンの６回ずつの繰り返しにおける３番目（３２ ｍｏｄ ６＋１＝３）の被測定パターンに対応する。また、ＰＲＢＳ［６４］でサンプリングされるシンボル遷移ｉは、被測定パターンの６回ずつの繰り返しにおける５番目（６４ ｍｏｄ ６＋１＝５）の被測定パターンに対応する。これらは、いずれも図１５の下側に示すように、Ｔ_ｉ，１の測定に使用される。以下同様に、図１７の最も左側の被測定パターンからは、Ｔ_ｉ，１の測定に使用されるシンボル遷移ｉのみをサンプリングすることができる。

ジッタ算出部６９０は、図１５の下側における２番目、４番目、および６番目の被測定パターンのＴ_ｉ，２に対応するシンボル遷移ｉをサンプリングするために、シフト指示信号を用いて、サンプリングクロックをシンボル周期の１周期分シフトすることを指示する。サンプリングクロックがシンボル周期の１周期分後ろにずれると、測定装置６００は、サンプリングクロックをシフトする前においてシンボル遷移ｉをサンプリングした被測定パターンの１つ前の被測定パターンにおいて、シンボル遷移ｉをサンプリングすることができる。例えば、図１７において、測定装置６００は、ＰＲＢＳ［３１］、ＰＲＢＳ［６３］、ＰＲＢＳ［９５］、…においてシンボル遷移ｉをサンプリングすることができる。

ＰＲＢＳ［３１］でサンプリングされるシンボル遷移ｉは、被測定パターンの６回ずつの繰り返しにおける２番目（３１ ｍｏｄ ６＋１＝２）の被測定パターンに対応する。図１５の下側に示すように、２番目の被測定パターンは、Ｔ_ｉ，２の測定に使用される。ＰＲＢＳ［６３］でサンプリングされるシンボル遷移ｉは、被測定パターンの６回ずつの繰り返しにおける４番目（６３ ｍｏｄ ６＋１＝４）の被測定パターンに対応し、Ｔ_ｉ，２の測定に使用される。ＰＲＢＳ［９５］でサンプリングされるシンボル遷移ｉは、被測定パターンの６回ずつの繰り返しにおける６番目（９５ ｍｏｄ ６＋１＝６）の被測定パターンに対応し、Ｔ_ｉ，２の測定に使用される。

このように、測定装置６００は、サンプリングクロックをシンボル周期の１周期分シフトすることで、図１５の下側における２番目、４番目、および６番目の被測定パターンのＴ_ｉ，２に対応するシンボル遷移ｉをサンプリングすることができる。

図１８は、本実施形態に係るカウンタ部１４１０の構成を示す。図１６および図１７に示したＥＯＪの測定方法を実現するために、図１４に示した各カウンタ部１４１０は、本図に示した構成をとってよい。

本図に示したカウンタ部１４１０は、インターリーブ部１８１０と、複数のカウンタ１８２０－０～２とを含む。インターリーブ部１８１０は、被測定パターンからシンボルｉをサンプリングする毎に、比較結果信号をカウントするカウンタ１８２０－０～２を切り替える。インターリーブ部１８１０は、カウンタ選択部１４００からカウント用クロックが入力される度に、カウンタ１８２０－０～２を切り替えてよい。

複数のカウンタ１８２０－０～２は、インターリーブ部１８１０により選択されたことに応じて、比較結果信号をカウントする。本実施形態において、カウンタ部１４１０は、カウンタ１８２０を３個含む。カウンタ１８２０－０は、ＰＲＢＳ［０］、ＰＲＢＳ［９６］、…からサンプリングしたシンボル遷移ｉについての比較結果信号をカウントする。これにより、カウンタ１８２０－０は、Ｔ_ｉ，３の測定に使用されるシンボル遷移ｉについての比較結果信号をカウントすることができる。なお、サンプリングクロックがシンボル周期の１周期分シフトされている場合、カウンタ１８２０－０は、Ｔ_ｉ，４の測定に使用されるシンボル遷移ｉについての比較結果信号をカウントすることができる。

カウンタ１８２０－１は、ＰＲＢＳ［３２］、ＰＲＢＳ［１２８］、…からサンプリングしたシンボル遷移ｉについての比較結果信号をカウントする。これにより、カウンタ１８２０－１は、Ｔ_ｉ，３およびＴ_ｉ，４の測定のいずれにも使用されないシンボル遷移ｉについての比較結果信号をカウントすることができる。なお、サンプリングクロックがシンボル周期の１周期分シフトされている場合、カウンタ１８２０－１は、Ｔ_ｉ，３の測定に使用されるシンボル遷移ｉについての比較結果信号をカウントすることができる。

カウンタ１８２０－２は、ＰＲＢＳ［６４］、ＰＲＢＳ［１６０］、…からサンプリングしたシンボル遷移ｉについての比較結果信号をカウントする。これにより、カウンタ１８２０－２は、Ｔ_ｉ，４の測定に使用されるシンボル遷移ｉについての比較結果信号をカウントすることができる。なお、サンプリングクロックがシンボル周期の１周期分シフトされている場合、カウンタ１８２０－２は、Ｔ_ｉ，３およびＴ_ｉ，４の測定のいずれにも使用されないシンボル遷移ｉについての比較結果信号をカウントすることができる。

なお、図１７の測定方法の場合には、カウンタ１８２０－０～２は、いずれもＴ_ｉ，１の測定に使用されるシンボル遷移ｉについての比較結果信号をカウントする。また、サンプリングクロックがシンボル周期の１周期分シフトされている場合、カウンタ１８２０－０～２は、いずれもＴ_ｉ，２の測定に使用されるシンボル遷移ｉについての比較結果信号をカウントする。

加算器１８３０は、複数のカウンタ１８２０－０～２のカウント値の合計を算出して出力する。これにより加算器１８３０は、図１７の測定方法において、Ｔ_ｉ，１またはＴ_ｉ，２の測定に使用されるシンボル遷移ｉについての合計のカウント値を出力することができる。

測定装置６００は、本図に示したカウンタ部１４１０を用いて、図１６の最も左側の被測定パターンからＴ_ｉ，３およびＴ_ｉ，４の測定に使用されるべきシンボル遷移ｉについての比較結果信号をカウントする。その後、測定装置６００は、サンプリングクロックをシンボル周期の１周期分シフトさせて、図１６の最も右側の被測定パターンからＴ_ｉ，３およびＴ_ｉ，４の測定に使用されるべきシンボル遷移ｉについての比較結果信号をカウントする。これらの測定結果を用いて、ジッタ算出部６９０は、Ｔ_ｉ，３およびＴ_ｉ，４を算出することができる。

また、測定装置６００は、本図に示したカウンタ部１４１０を用いて、図１７の最も左側の被測定パターンからＴ_ｉ，１の測定に使用されるべきシンボル遷移ｉについての比較結果信号をカウントする。その後、測定装置６００は、サンプリングクロックをシンボル周期の１周期分シフトさせて、図１７の最も右側の被測定パターンからＴ_ｉ，２の測定に使用されるべきシンボル遷移ｉについての比較結果信号をカウントする。これらの測定結果を用いて、ジッタ算出部６９０は、Ｔ_ｉ，１およびＴ_ｉ，２を算出することができる。

このようにして、ジッタ算出部６９０は、サンプリングクロックをシンボル周期の１周期分シフトした場合の測定部６８０の測定結果、およびサンプリングクロックをシフトしない場合の測定部６８０の測定結果に基づいて、ＥＯＪを算出することができる。

図１９は、本実施形態の変形例に係る同期パターン発生部１９００の構成を示す。本変形例においては、測定装置６００は、全てのシンボル遷移をジッタの計測対象とする。そこで、測定装置６００は、サンプリングパターンが参照パターンと一致したことに応じて、それ以降全てのシンボルに対応してトリガを生成する。本変形例に係る測定装置６００は、同期パターン生成部６５０およびトリガ生成部６６０に代えて、同期パターン発生部１９００およびトリガ生成部２０００を備える。

同期パターン発生部１９００は、クロック発生部６２０およびサンプリング部６４０に接続される。同期パターン生成部６５０は、クロック発生部６２０からのサンプリングクロックを用いて、被測定パターンにおける連続する予め定められた数のサンプリングクロックに応じたサンプリングパターンに同期した同期パターンを生成する。

同期パターン発生部１９００は、縦続接続された複数のＤ－ＦＦにより構成されるシフトレジスタを含む。同期パターン発生部１９００は、サンプリングクロックに応じてシフトレジスタ内に取り込む比較結果信号を順次シフトしていくことにより、被測定パターンにおける連続する予め定められた数のサンプリングクロックに応じたサンプリングパターンＡ［０］～Ａ［１２］を取得する。本実施形態において、同期パターン発生部１９００は、サンプリングパターン取得部１０００と同様に、１３シンボル分の比較結果信号を格納する。

図２０は、本実施形態の変形例に係るトリガ生成部２０００の構成を示す。トリガ生成部２０００は、クロック発生部６２０および同期パターン発生部１９００に接続される。トリガ生成部２０００は、同期パターンとして供給されるサンプリングパターンが参照パターンと一致したタイミング以降、全てのサンプリングクロックにおいてトリガを生成する。

トリガ生成部２０００は、Ｄ－ＦＦ４と、Ｄ－ＦＦ５と、複数の論理素子とを有する。Ｄ－ＦＦ４は、図１１に示したトリガ生成部６６０内のＤ－ＦＦ１と同様であり、Ｄ入力に固定の論理Ｈを入力し、クロック入力に同期パターン生成部１９００からの同期パターンと参照パターンとが一致した場合に立ち上がる信号を入力し、リセット入力にジッタ算出部６９０からのモード設定値の反転値を入力する。Ｄ－ＦＦ４は、モード設定値が論理Ｌとなるトレーニングモードの間、リセット状態となり、スタート信号となるＱ出力を論理Ｌとする。Ｄ－ＦＦ４は、トレーニングモードから測定モードに切り替わった後、同期パターンＢ［１２－０］が図５の「ＲＥＦ」に対応する参照パターンと一致したことに応じて、スタート信号を論理Ｈとする。

Ｄ－ＦＦ５は、Ｄ入力にＤ－ＦＦ４からのスタート信号を入力し、クロック入力にサンプリングクロックの反転値を入力する。Ｄ－ＦＦ５は、Ｄ－ＦＦ４が出力するスタート信号を、サンプリングクロックを反転したタイミングでラッチして図中のスタート信号'としてＱ出力から出力する。Ｄ－ＦＦ５のＱ出力に接続されたＡＮＤゲートは、スタート信号'とサンプリングクロックとの論理積をとることにより、測定モードにおいてサンプリングパターンに参照パターンが検出されたタイミングの次のサンプリングクロックのタイミング以降、全てのサンプリングクロックにおいてトリガを生成する。

なお、本変形例においては、閾値発生部６７０は、被測定パターンを全てのサンプリングクロックに応じてシンボル遷移に応じたレベルの閾値を発生するために、図１３に示したシフトレジスタ１３００が、閾値の選択値を被測定パターンの全シンボル数分（本実施例において８１９１）格納できるようにしてよい。以上に示した変形例に係る測定装置６００においては、繰り返し入力される被測定パターンにおける全てのシンボル遷移をジッタの計測対象とすることができる。

本発明の様々な実施形態は、フローチャートおよびブロック図を参照して記載されてよく、ここにおいてブロックは、（１）操作が実行されるプロセスの段階または（２）操作を実行する役割を持つ装置のセクションを表わしてよい。特定の段階およびセクションが、専用回路、コンピュータ可読媒体上に格納されるコンピュータ可読命令と共に供給されるプログラマブル回路、および／またはコンピュータ可読媒体上に格納されるコンピュータ可読命令と共に供給されるプロセッサによって実装されてよい。専用回路は、デジタルおよび／またはアナログハードウェア回路を含んでよく、集積回路（ＩＣ）および／またはディスクリート回路を含んでよい。プログラマブル回路は、論理ＡＮＤ、論理ＯＲ、論理ＸＯＲ、論理ＮＡＮＤ、論理ＮＯＲ、および他の論理操作、フリップフロップ、レジスタ、フィールドプログラマブルゲートアレイ（ＦＰＧＡ）、プログラマブルロジックアレイ（ＰＬＡ）等のようなメモリ要素等を含む、再構成可能なハードウェア回路を含んでよい。

コンピュータ可読媒体は、適切なデバイスによって実行される命令を格納可能な任意の有形なデバイスを含んでよく、その結果、そこに格納される命令を有するコンピュータ可読媒体は、フローチャートまたはブロック図で指定された操作を実行するための手段を作成すべく実行され得る命令を含む、製品を備えることになる。コンピュータ可読媒体の例としては、電子記憶媒体、磁気記憶媒体、光記憶媒体、電磁記憶媒体、半導体記憶媒体等が含まれてよい。コンピュータ可読媒体のより具体的な例としては、フロッピー（登録商標）ディスク、ディスケット、ハードディスク、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）、リードオンリメモリ（ＲＯＭ）、消去可能プログラマブルリードオンリメモリ（ＥＰＲＯＭまたはフラッシュメモリ）、電気的消去可能プログラマブルリードオンリメモリ（ＥＥＰＲＯＭ）、静的ランダムアクセスメモリ（ＳＲＡＭ）、コンパクトディスクリードオンリメモリ（ＣＤ-ＲＯＭ）、デジタル多用途ディスク（ＤＶＤ）、ブルーレイ（登録商標）ディスク、メモリスティック、集積回路カード等が含まれてよい。

コンピュータ可読命令は、アセンブラ命令、命令セットアーキテクチャ（ＩＳＡ）命令、マシン命令、マシン依存命令、マイクロコード、ファームウェア命令、状態設定データ、またはＳｍａｌｌｔａｌｋ（登録商標）、ＪＡＶＡ（登録商標）、Ｃ＋＋等のようなオブジェクト指向プログラミング言語、および「Ｃ」プログラミング言語または同様のプログラミング言語のような従来の手続型プログラミング言語を含む、１または複数のプログラミング言語の任意の組み合わせで記述されたソースコードまたはオブジェクトコードのいずれかを含んでよい。

コンピュータ可読命令は、汎用コンピュータ、特殊目的のコンピュータ、若しくは他のコンピュータ等のプログラム可能なデータ処理装置のプロセッサまたはプログラマブル回路に対し、ローカルにまたはローカルエリアネットワーク（ＬＡＮ）、インターネット等のようなワイドエリアネットワーク（ＷＡＮ）を介して提供され、フローチャートまたはブロック図で指定された操作を実行するための手段を作成すべく、コンピュータ可読命令を実行してよい。プロセッサの例としては、コンピュータプロセッサ、処理ユニット、マイクロプロセッサ、デジタル信号プロセッサ、コントローラ、マイクロコントローラ等を含む。

図２１は、本発明の複数の態様が全体的または部分的に具現化されてよいコンピュータ２２００の例を示す。コンピュータ２２００にインストールされたプログラムは、コンピュータ２２００に、本発明の実施形態に係る装置に関連付けられる操作または当該装置の１または複数のセクションとして機能させることができ、または当該操作または当該１または複数のセクションを実行させることができ、および／またはコンピュータ２２００に、本発明の実施形態に係るプロセスまたは当該プロセスの段階を実行させることができる。そのようなプログラムは、コンピュータ２２００に、本明細書に記載のフローチャートおよびブロック図のブロックのうちのいくつかまたはすべてに関連付けられた特定の操作を実行させるべく、ＣＰＵ２２１２によって実行されてよい。

本実施形態によるコンピュータ２２００は、ＣＰＵ２２１２、ＲＡＭ２２１４、グラフィックコントローラ２２１６、およびディスプレイデバイス２２１８を含み、それらはホストコントローラ２２１０によって相互に接続されている。コンピュータ２２００はまた、通信インターフェイス２２２２、ハードディスクドライブ２２２４、ＤＶＤ－ＲＯＭドライブ２２２６、およびＩＣカードドライブのような入／出力ユニットを含み、それらは入／出力コントローラ２２２０を介してホストコントローラ２２１０に接続されている。コンピュータはまた、ＲＯＭ２２３０およびキーボード２２４２のようなレガシの入／出力ユニットを含み、それらは入／出力チップ２２４０を介して入／出力コントローラ２２２０に接続されている。

ＣＰＵ２２１２は、ＲＯＭ２２３０およびＲＡＭ２２１４内に格納されたプログラムに従い動作し、それにより各ユニットを制御する。グラフィックコントローラ２２１６は、ＲＡＭ２２１４内に提供されるフレームバッファ等またはそれ自体の中にＣＰＵ２２１２によって生成されたイメージデータを取得し、イメージデータがディスプレイデバイス２２１８上に表示されるようにする。

通信インターフェイス２２２２は、ネットワークを介して他の電子デバイスと通信する。ハードディスクドライブ２２２４は、コンピュータ２２００内のＣＰＵ２２１２によって使用されるプログラムおよびデータを格納する。ＤＶＤ－ＲＯＭドライブ２２２６は、プログラムまたはデータをＤＶＤ－ＲＯＭ２２０１から読み取り、ハードディスクドライブ２２２４にＲＡＭ２２１４を介してプログラムまたはデータを提供する。ＩＣカードドライブは、プログラムおよびデータをＩＣカードから読み取り、および／またはプログラムおよびデータをＩＣカードに書き込む。

ＲＯＭ２２３０はその中に、アクティブ化時にコンピュータ２２００によって実行されるブートプログラム等、および／またはコンピュータ２２００のハードウェアに依存するプログラムを格納する。入／出力チップ２２４０はまた、様々な入／出力ユニットをパラレルポート、シリアルポート、キーボードポート、マウスポート等を介して、入／出力コントローラ２２２０に接続してよい。

プログラムが、ＤＶＤ－ＲＯＭ２２０１またはＩＣカードのようなコンピュータ可読媒体によって提供される。プログラムは、コンピュータ可読媒体から読み取られ、コンピュータ可読媒体の例でもあるハードディスクドライブ２２２４、ＲＡＭ２２１４、またはＲＯＭ２２３０にインストールされ、ＣＰＵ２２１２によって実行される。これらのプログラム内に記述される情報処理は、コンピュータ２２００に読み取られ、プログラムと、上記様々なタイプのハードウェアリソースとの間の連携をもたらす。装置または方法が、コンピュータ２２００の使用に従い情報の操作または処理を実現することによって構成されてよい。

例えば、通信がコンピュータ２２００および外部デバイス間で実行される場合、ＣＰＵ２２１２は、ＲＡＭ２２１４にロードされた通信プログラムを実行し、通信プログラムに記述された処理に基づいて、通信インターフェイス２２２２に対し、通信処理を命令してよい。通信インターフェイス２２２２は、ＣＰＵ２２１２の制御下、ＲＡＭ２２１４、ハードディスクドライブ２２２４、ＤＶＤ－ＲＯＭ２２０１、またはＩＣカードのような記録媒体内に提供される送信バッファ処理領域に格納された送信データを読み取り、読み取られた送信データをネットワークに送信し、またはネットワークから受信された受信データを記録媒体上に提供される受信バッファ処理領域等に書き込む。

また、ＣＰＵ２２１２は、ハードディスクドライブ２２２４、ＤＶＤ－ＲＯＭドライブ２２２６（ＤＶＤ－ＲＯＭ２２０１）、ＩＣカード等のような外部記録媒体に格納されたファイルまたはデータベースの全部または必要な部分がＲＡＭ２２１４に読み取られるようにし、ＲＡＭ２２１４上のデータに対し様々なタイプの処理を実行してよい。ＣＰＵ２２１２は次に、処理されたデータを外部記録媒体にライトバックする。

様々なタイプのプログラム、データ、テーブル、およびデータベースのような様々なタイプの情報が記録媒体に格納され、情報処理を受けてよい。ＣＰＵ２２１２は、ＲＡＭ２２１４から読み取られたデータに対し、本開示の随所に記載され、プログラムの命令シーケンスによって指定される様々なタイプの操作、情報処理、条件判断、条件分岐、無条件分岐、情報の検索／置換等を含む、様々なタイプの処理を実行してよく、結果をＲＡＭ２２１４に対しライトバックする。また、ＣＰＵ２２１２は、記録媒体内のファイル、データベース等における情報を検索してよい。例えば、各々が第２の属性の属性値に関連付けられた第１の属性の属性値を有する複数のエントリが記録媒体内に格納される場合、ＣＰＵ２２１２は、第１の属性の属性値が指定される、条件に一致するエントリを当該複数のエントリの中から検索し、当該エントリ内に格納された第２の属性の属性値を読み取り、それにより予め定められた条件を満たす第１の属性に関連付けられた第２の属性の属性値を取得してよい。

上で説明したプログラムまたはソフトウェアモジュールは、コンピュータ２２００上またはコンピュータ２２００近傍のコンピュータ可読媒体に格納されてよい。また、専用通信ネットワークまたはインターネットに接続されたサーバーシステム内に提供されるハードディスクまたはＲＡＭのような記録媒体が、コンピュータ可読媒体として使用可能であり、それによりプログラムを、ネットワークを介してコンピュータ２２００に提供する。

以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。

特許請求の範囲、明細書、および図面中において示した装置、システム、プログラム、および方法における動作、手順、ステップ、および段階等の各処理の実行順序は、特段「より前に」、「先立って」等と明示しておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるのでない限り、任意の順序で実現しうることに留意すべきである。特許請求の範囲、明細書、および図面中の動作フローに関して、便宜上「まず、」、「次に、」等を用いて説明したとしても、この順で実施することが必須であることを意味するものではない。

１００ ＤＵＴ、１１０ ＰＲＢＳ発生器、１２０ ＰＲＢＳ発生器、１３０ マッピング部、１４０ エンコード部、６００ 測定装置、６２０ クロック発生部、６４０ サンプリング部、６５０ 同期パターン生成部、６６０ トリガ生成部、６７０ 閾値発生部、６８０ 測定部、６９０ ジッタ算出部、７００ シフト部、７１０ ２分周器、７２０ セレクタ、７３０ 分周部、７４０ 可変遅延回路、９１０ コンパレータ、９２０ Ｄ－ＦＦ、１０００ サンプリングパターン取得部、１０１０ 擬似ランダムパターン発生部、１０２０ パターン同期部、１０３０ ＡＮＤゲート、１０４０ 一致検出回路、１０５０ ＯＲゲート、１３００ シフトレジスタ、１３１０ セレクタ、１３２０ セレクタ、１３３０ ＤＡＣ、１４００ カウンタ選択部、１４１０－０～１１ カウンタ部、１４２０ カウンタ部、１４３０ カウントストップ検出部、１８１０ インターリーブ部、１８２０－０～２ カウンタ、１８３０ 加算器、１９００ 同期パターン発生部、２０００ トリガ生成部、２２００ コンピュータ、２２０１ ＤＶＤ－ＲＯＭ、２２１０ ホストコントローラ、２２１２ ＣＰＵ、２２１４ ＲＡＭ、２２１６ グラフィックコントローラ、２２１８ ディスプレイデバイス、２２２０ 入／出力コントローラ、２２２２ 通信インターフェイス、２２２４ ハードディスクドライブ、２２２６ ＤＶＤ－ＲＯＭドライブ、２２３０ ＲＯＭ、２２４０ 入／出力チップ、２２４２ キーボード

Claims (14)

1. 予め定められたシンボル数のシンボルを含む被測定パターンにおけるシンボル周期よりも長いサンプリング周期を有するサンプリングクロックを発生するクロック発生部と、
   繰り返し入力される前記被測定パターンを前記サンプリングクロックに応じてサンプリングするサンプリング部と、
   繰り返し入力される前記被測定パターンにおけるジッタの計測対象となるシンボル遷移に対応するタイミングの前記サンプリングクロックに応じて前記サンプリング部のサンプリング結果を測定する測定部と
   を備える測定装置。
2. 前記サンプリング周期は、前記シンボル周期の２以上の整数倍の周期を有する請求項１に記載の測定装置。
3. 前記サンプリング周期は、前記シンボル周期の第１の整数倍の周期を有し、
   前記第１の整数および前記予め定められたシンボル数は、互いに素である請求項２に記載の測定装置。
4. 前記クロック発生部は、前記シンボル周期を１周期とするクロック信号を分周して前記サンプリングクロックを生成する分周部を有する請求項１から３のいずれか一項に記載の測定装置。
5. 前記クロック発生部は、前記サンプリングクロックを前記シンボル周期の１周期分シフトするか否かを切り替え可能なシフト部を有する請求項４に記載の測定装置。
6. 前記サンプリングクロックを前記シンボル周期の１周期分シフトした場合の前記測定部の測定結果、および前記サンプリングクロックをシフトしない場合の前記測定部の測定結果に基づいて、ＥＯＪ（Ｅｖｅｎ Ｏｄｄ Ｊｉｔｔｅｒ）を算出するジッタ算出部を更に備える請求項５に記載の測定装置。
7. 入力される前記被測定パターンに、予め定められたシンボルパターンが発生するタイミングでトリガを生成するトリガ生成部を更に備え、
   前記測定部は、前記トリガに応じて前記サンプリング結果を測定する
   請求項１から６のいずれか一項に記載の測定装置。
8. 前記トリガ生成部は、前記被測定パターンにおける連続する予め定められた数のサンプリングクロックに応じたサンプリングパターンが、予め定められた比較パターンと一致することに応じて前記トリガを生成する請求項７に記載の測定装置。
9. 前記トリガ生成部は、前記サンプリングパターンが、複数の比較パターンのいずれかに一致することに応じてトリガを生成する請求項８に記載の測定装置。
10. 前記被測定パターンにおける前記サンプリングパターンに同期した同期パターンを生成する同期パターン生成部を更に備え、
    前記トリガ生成部は、前記同期パターンが前記比較パターンと一致することに応じて前記トリガを生成する請求項８または９に記載の測定装置。
11. 前記同期パターン生成部は、
    前記被測定パターンの発生に用いられる擬似ランダムパターンをサンプリングクロックで間引きしたパターンと同じ擬似ランダムパターンを発生する擬似ランダムパターン発生部と、
    前記擬似ランダムパターン発生部が発生する擬似ランダムパターンを、前記被測定パターンから連続する予め定められた数のサンプリングクロックに応じて抽出したパターンに同期させるパターン同期部と
    を有する請求項１０に記載の測定装置。
12. 前記被測定パターンは、３以上のレベルを有する多値信号のシンボルを含み、
    ジッタの計測対象となるシンボル遷移に応じたレベルの閾値を発生する閾値発生部を更に備え、
    前記サンプリング部は、前記閾値を用いて前記被測定パターンをサンプリングする
    請求項１１に記載の測定装置。
13. 前記閾値発生部は、前記擬似ランダムパターン発生部が発生する擬似ランダムパターンを前記被測定パターンから抽出した擬似ランダムパターンに同期させるトレーニングモードにおいて、前記被測定パターンから前記被測定パターンの発生に用いられた擬似ランダムパターンを抽出するための閾値を発生する請求項１２に記載の測定装置。
14. 測定装置が、予め定められたシンボル数のシンボルを含む被測定パターンにおけるシンボル周期よりも長いサンプリング周期を有するサンプリングクロックを発生することと、
    測定装置が、繰り返し入力される前記被測定パターンを前記サンプリングクロックに応じてサンプリングすることと、
    測定装置が、繰り返し入力される前記被測定パターンにおけるジッタの計測対象となるシンボル遷移に対応するタイミングの前記サンプリングクロックに応じて前記被測定パターンのサンプリング結果を測定することと
    を備える測定方法。

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