TWI811607B

TWI811607B - 微控制器、微控制器的測試方法以及包含微控制器的系統

Info

Publication number: TWI811607B
Application number: TW109147083A
Authority: TW
Inventors: 邱達進; 涂結盛
Original assignee: 新唐科技股份有限公司
Priority date: 2020-12-31
Filing date: 2020-12-31
Publication date: 2023-08-11
Also published as: CN114690683A; TW202227966A

Abstract

一種微控制器的測試方法被提供。測試方法包括：由使用者經由外部的除錯工具設定測試條件以及觀察點，其中觀察點指向微控制器的存儲器；由微控制器中的控制電路判斷存儲器的資料是否滿足測試條件；以及當存儲器的資料滿足測試條件時，由控制電路控制微控制器輸出觸發信號，其中觸發信號用以觸發外部的儀器。另外，一種微控制器及包括微控制器的系統被提供。

Description

微控制器、微控制器的測試方法以及包含微控制器的系統

本發明是有關於一種微控制器，且特別是有關於一種應用於微控制器的測試方法。

相應的測試程式被載入微控制器以對微控制器進行除錯。具體來說，測試程式會被載入微控制器去做執行。在這個過程中，常需要外部的儀器去量微控制器產生的信號。透過量測結果來得知測試程式的運行流程是否與預想的相同。

在除錯過程中，可以監視微控制器當中的存儲區塊。當前述存儲區塊所儲存的數值滿足測試程式所設定的測試條件時（例如儲存的值大於一閥值），微控制器可以對應地改變其輸出信號（例如從低電壓準位轉態為高電壓準位），進而觸發外部儀器（例如風扇、示波器）進行其相應的功能。設計者可以根據當下量測到的信號的波形、信號的電壓狀態以及實際量測到的數值，來判斷測試結果與預想的是否一致。

然而，當欲改變測試條件時，測試程式也需要相應改變並重新載入微控制器。因此，在除錯過程中，可能需要多次去更改測試程式。此舉不但提高了除錯的複雜度，更平添許多變數。因此，需要一種解決手段，以在不需要反覆更改測試程式的情況下，完成對微控制器的除錯。

本發明提供一種微控制器及微控制器的測試方法，以在不需要反覆更改測試程式的情況下，完成對微控制器的除錯。

本發明的微控制器的測試方法包括：由使用者經由外部的除錯工具設定測試條件以及觀察點，其中觀察點指向微控制器的存儲器；由微控制器中的控制電路判斷存儲器的資料是否滿足測試條件；以及當存儲器的資料滿足測試條件時，由控制電路控制微控制器輸出觸發信號，其中觸發信號用以觸發外部的儀器。

本發明的微控制器的測試方法包括：由使用者經由外部的除錯工具設定測試條件以及觀察點，其中觀察點指向微控制器的存儲器；透過除錯工具輪詢存儲器的資料是否滿足測試條件；以及當存儲器的資料滿足測試條件時，由除錯工具輸出觸發信號，其中觸發信號用以觸發外部的儀器。

本發明的微控制器的測試方法包括：由使用者經由外部的除錯工具設定測試條件以及觀察點，其中觀察點指向微控制器的存儲器；透過除錯工具讀取存儲器，並由除錯工具判斷存儲器的資料是否滿足測試條件；以及當存儲器的資料滿足測試條件時，由除錯工具輸出觸發信號，其中觸發信號用以觸發外部的儀器。

本發明的微控制器包括存儲器以及控制電路。控制電路耦接存儲器、外部的除錯工具以及外部的儀器。控制電路用以判斷存儲器的資料是否滿足測試條件。控制電路並在存儲器的資料滿足該測試條件時，輸出觸發信號以觸發儀器。其中，測試條件以及觀察點由使用者經由外部的除錯工具設定，並且觀察點指向存儲器。

本發明的微控制器包括存儲器以及控制電路。控制電路耦接存儲器以及外部的除錯工具。控制電路用以判斷存儲器的資料是否滿足測試條件。當存儲器的資料滿足測試條件時，除錯工具輸出觸發信號，觸發信號用以觸發外部的儀器。其中，測試條件以及觀察點由使用者經由除錯工具設定，並且觀察點指向存儲器。

本發明的微控制器包括存儲器。存儲器用以儲存資料以供外部的除錯工具進行讀取。其中，除錯工具用以依據觀察點來持續讀取存儲器的資料，以判斷存儲器的資料是否滿足測試條件。當存儲器的資料滿足測試條件時，除錯工具輸出觸發信號以觸發外部的儀器。其中，測試條件以及觀察點由使用者經由除錯工具設定，並且觀察點指向存儲器。

本發明的包含微控制器的系統包括上述微控制器、除錯工具以及儀器。除錯工具耦接微控制器。儀器耦接微控制器與除錯工具。

基於上述，本發明可以透過除錯工具來設定觀察點與測試條件，使微控制器、除錯工具以及儀器達到連動的效果。最重要的是，當需要更改測試條件時，使用者只需要透過除錯工具來更改測試條件即可，而不需要透過去修改已載入微控制器的測試程式的方式來進行測試。因此，除錯的複雜度可以被降低。並且，可以不需要在反覆更改測試程式的情況下，就能完成對微控制器的除錯。

圖1A繪示為本發明第一實施例的微控制器的電路方塊圖。圖1A繪示出微控制器110、除錯工具120以及儀器130。微控制器110與除錯工具120相互耦接，微控制器110與儀器130相互耦接。儀器130的數量至少有一個。儀器130可以是風扇和/或示波器。微控制器110包括存儲器111、CPU 112、除錯介面113、觀察點內容114以及控制電路115。除錯工具（debugger tool）亦稱除錯程式、除錯器或調試器，是指用於除錯的電腦程式及工具。除錯工具可以顯示出錯誤所在位置的原始碼，並使其於整合開發環境裡也能看見，以便排錯、除錯。

一使用者可以經由除錯工具120來設定觀察點與相應的測試條件，其中觀察點可以指向微控制器110中的存儲器111。觀察點與相應的測試條件在除錯工具120的使用者介面可以一表達式來呈現。觀察點與相應的測試條件透過除錯介面113被儲存至觀察點內容114。也就是說，觀察點內容114可包括指向存儲器111的位址的資訊以及相應的測試條件。詳細來說，設定觀察點的作用在於監視特定地址（address，可能是一個用來儲存特定變量的位址）被CPU 112寫入資料或被CPU 112讀取資料的狀況。在本實施例中，觀察點內容114獨立於CPU 112被設置，然而本發明不以此為限。在其他實施例中，觀察點內容114可以是CPU 112的一部分。

觀察點與相應的測試條件透過除錯工具120與除錯介面113被建立於微控制器110的觀察點內容114，並且觀察點指向存儲器111。CPU 112可以例如一溫度感測器感測到的溫度值來持續更新存儲器111中的資料。CPU 112耦接觀察點內容114以及存儲器111。在第一實施例中，CPU 112可以依據觀察點內容114來監視以及判斷存儲器111所儲存的資料是否滿足測試條件（例如存儲器111所儲存的溫度值大於或等於50°C的一閾值），並透過給予一旗標來進行指示。舉例來說，在存儲器111所儲存的資料由不滿足測試條件轉為滿足測試條件時（例如存儲器111所儲存的資料由49°C度更新為50°C），CPU 112給予的旗標由0轉為1。相對地，在存儲器111所儲存的資料由滿足測試條件轉為不滿足測試條件時（例如存儲器111所儲存的資料由50°C度更新為49°C），CPU 112給予的旗標由1轉為0。

需特別說明的是，一般來說，在CPU程序執行到觀察點時，一指示條件成立（表示已執行到觀察點）的旗標會被產生並提供給CPU。CPU將依據這個指示條件成立的旗標而停止運行。然而，在本發明中，這個指示條件成立的旗標可以被設定為不提供給CPU。也就是說，當執行到觀察點時，可以僅提供指示條件成立的旗標給其它控制電路。因此，不同於一般在CPU 112執行到觀察點時會停止執行程序，在本發明中，CPU 112不會停止正在執行的程序。當存儲器111所儲存的資料滿足測試條件時，CPU 112給予旗標並繼續執行程序。控制電路115可以依據旗標的狀態（例如1）得知存儲器111所儲存的資料由滿足測試條件。此時，控制電路115可以產生觸發信號T（例如透過額外的一個指令指標（instruction pointer，IP）），並透過微控制器110本身的輸入輸出腳位輸出觸發信號T。儀器130耦接微控制器110，以接收觸發信號T。舉例來說，可以通過觸發信號T去觸發以啟動一風扇進行降溫。又或者，可以通過觸發信號T去觸發以啟動一示波器進行量測。

儀器130被觸發信號T觸發並啟動後，儀器130（例如一示波器）可以透過探棒（probe，未繪示）把微控制器110的信息傳回儀器130以進行量測。藉此，可以確認微控制器110的其他腳位的運作狀態是否正常。在第一實施例中，控制電路115可以透過通用型之輸入輸出（General-purpose input/output，GPIO）腳位輸出觸發信號T。

第一實施例可以透過於微控制器110設置控制電路115，以在測試條件滿足時去一個GPIO腳位，藉此使儀器130啟動以執行相應功能。然而本發明不以此為限，在其他實施例中，可以透過除錯工具120設定多個測試條件，並在不同的測試條件被滿足時觸發不同的微控制器110的腳位。另外，控制電路115也可以被設定為在測試條件成立一定次數後，才去觸發儀器130。

在第一實施例中，使用者可以透過除錯工具120設定觀察點與測試條件，以在微控制器110、除錯工具120以及儀器130之間達到連動的效果。更重要的是，當需要更改測試條件時（例如要將閾值由50°C改為60°C），使用者只需要透過除錯工具120來更改測試條件即可，而不需要去修改已載入微控制器的測試程式。

圖1B繪示為本發明第一實施例的微控制器的測試方法的步驟流程圖。請同時參見圖1A與圖1B，首先，通過除錯工具120去初始化觀察點內容114與控制電路115的相關設定。在此階段中，控制電路115被設定以選擇觸發信號T輸出的形態，以觸發微控制器110的腳位輸出高電壓準位、低電壓準位或信號脈衝（pulse）（步驟S110）。通過除錯工具120去初始化觀察點內容114，以完成觀察點與測試條件的設定，並清除旗標（例如重置為0）（步驟S120）。在完成觀察點內容114的初始化後，CPU 112持續監測存儲器111。CPU 112並在存儲器111所儲存的資料滿足測試條件時，改變旗標的狀態，例如由0變為1（步驟S130）。如果測試條件成立，則進行步驟S140，否則則回到步驟S130。在步驟S140中，觀察點內容114可以將判斷結果告知控制電路115（透過確認旗標的狀態）。在步驟S150中，控制電路115產生預定型態的觸發信號T，以觸發儀器130。儀器130（例如一示波器）被觸發後即開始測量微控制器110當下的信號波形。

在第一實施例中，控制電路115可以在初使化程序（即步驟S110）中被設定為在執行完步驟S150後，通過除錯工具120詢問是否進行另一個測試條件的初始化程序（步驟S160）。若是，則再次進入步驟S120。若否，則進入步驟S170，以由控制電路115來清除旗標。在其他實施例中，控制電路115也可以在初使化程序（即步驟S110）中被設定為完成一次觸發即停止動作。也就是說，執行完步驟S150之後直接接到步驟S170，以由控制電路115來清除旗標。

圖1C繪示為本發明第一實施例的微控制器的控制電路的電路示意圖。請同時參見圖1A與圖1C，控制電路115包括多工器M、閘控器G以及輸出腳位選擇器SEL。在初始化控制電路115的階段中，可以透過除錯工具120來選擇觸發信號T的輸出型態（通過選擇信號Ty）。選擇信號Ty是可以是表達為二進制的數值。多工器M可以依據選擇信號Ty來選擇多工器M要產生的對應形態的輸出信號。可選擇的形態有多種，並分別對應不同的數值。在圖1C中，可選擇的形態包括由高電壓準位轉態為低電壓準位的形態、由低電壓準位轉態為高電壓準位的形態、信號脈衝型態，或是其他類型的形態。舉例來說，若選擇信號Ty為1時（二進制表示為001），表示多工器M預設要輸出的信號是由低電壓準位轉態為高電壓準位的形態。

多工器M接收旗標F，並依據旗標F產生預設型態的輸出信號（例如是由低電壓準位轉態為高電壓準位的形態）。閘控器G接收多工器M的輸出以及致能信號S_EN。掌控閘控器G產生前述預設型態的輸出信號（即觸發信號T）的時機的關鍵在於致能信號S_EN。致能信號S_EN的電壓電平依據旗標F的狀態產生改變。具體來說，當旗標F由0轉1時，CPU 112產生高電壓準位的致能信號S_EN。當旗標F由1轉0時，CPU 112產生低電壓準位的致能信號S_EN。當致能信號S_EN處於高電壓準位時，多工器M的輸出信號可以通過閘控器G並如實輸出。輸出腳位選擇器SEL耦接微控制器110的多個輸出腳位，分別為腳位PA0~PAn。輸出腳位選擇器SEL經過設定以選擇閘控器G的輸出信號要通過哪個腳位進行輸出。藉此，預定型態的觸發信號T可以由控制電路115產生。

圖1D繪示為在第一實施例下控制電路的另一種實施型態的電路示意圖。請見圖1D，圖1D與圖1C的差異僅在於圖1D增加了設定電路C。設定電路C可設置在致能信號S_EN往閘控器G的輸出路徑上。設定電路C可以依據使用者的設定來累計旗標F從0變為1的次數，並在前述次數達到一閾值時，才將具有高電壓準位的致能信號S_EN輸出到閘控器G。在未達到前述閾值之前，設定電路C即便接收到處於高電壓準位的致能信號S_EN，也只會輸出低電壓準位的致能信號S_EN。簡單來說，設定電路C可以依據一使用者設定條件來延長輸出具有高電壓準位的致能信號S_EN的輸出時間點。設定電路C還可以被設定其他的設定條件，本發明對此不加以限制。

以硬體形式而言，控制電路115例如是微處理器（Microprocessor）、中央處理單元（central processing unit, CPU），或是其他可程式化之一般用途或特殊用途的微處理器（Microprocessor）、數字訊號處理器（Digital Signal Processor, DSP）、可程式化控制器、特殊應用積體電路（Application Specific Integrated Circuits, ASIC）、可程式化邏輯裝置（Programmable Logic Device, PLD）或其他類似裝置或這些裝置的組合。

圖2A繪示為本發明第二實施例的微控制器的電路方塊圖。圖2A繪示出微控制器210、除錯工具220與儀器230。微控制器210耦接除錯工具220，除錯工具220又耦接儀器230（例如示波器和/或風扇）。微控制器210包括存儲器211、CPU 212、除錯介面213以及觀察點內容214。與第一實施例類似的是，一使用者可以經由除錯工具220來設定觀察點與相應的測試條件，其中觀察點可以指向微控制器210中的存儲器211。觀察點與相應的測試條件透過除錯介面213被儲存至觀察點內容214。也就是說，觀察點內容214可包括指向存儲器211的位址的資訊以及相應的測試條件。存儲器211的資料（例如感測到的溫度值）由CPU 212持續更新。CPU 212可以依據觀察點內容214來監視以及判斷存儲器211所儲存的資料是否滿足測試條件。當存儲器211所儲存的資料滿足測試條件時，CPU 212給予相應狀態的旗標並繼續執行程序。

不同於圖1A所示微控制器110同時耦接除錯工具120與儀器130，圖2A中的微控制器210是透過除錯工具220間接耦接於儀器230。並且，微控制器210沒有設置第一實施例所述的控制電路控制電路115（不需要改變微控制器210原有的配置）。在第二實施例中，觸發儀器230的工作是由除錯工具220來進行。除錯工具220直接透過除錯介面213對CPU 212給予的旗標進行輪詢（polling），以得知測試條件成立的時機。一但測試條件成立後，由除錯工具220產生觸發信號T來觸發儀器230。

圖2B繪示為本發明第二實施例的微控制器的測試方法的步驟流程圖。請同時參見圖2A與圖2B，首先，通過初始化除錯工具220以選擇觸發信號T的形態（步驟S210）。以及，通過除錯工具220初始化觀察點與測試條件並清除觀察點的旗標（步驟S220）。接著，由除錯工具220對旗標進行輪詢，以透過旗標的狀態判斷測試條件是否成立（步驟S230）。舉例來說，當旗標為1時，表示測試條件成立。若判斷測試條件成立時，進入步驟S240。若判斷測試條件不成立時，持續執行步驟S230，直到測試條件成立。在步驟S240中，除錯工具220產生觸發信號T以觸發儀器230（例如一示波器）開始擷取微控制器210的信息。在步驟S250中，由除錯工具220詢問是否選擇測試另一個條件（包含對同一個條件觸發多次的情形）。若是，則回到步驟S220。若否，則進入步驟S260，由除錯工具220來清除旗標。

雖然觸發儀器的主體不同，但是第一實施例與第二實施例都能透過除錯工具來設定觀察點與測試條件，使微控制器、除錯工具以及儀器達到連動的效果。同樣地，當需要更改測試條件時，使用者只需要透過除錯工具220來更改測試條件即可，而不需要去修改已載入微控制器的測試程式。

圖3A繪示為本發明第三實施例的微控制器的電路方塊圖。圖3A繪示出微控制器310、除錯工具320以及儀器330（例如風扇和/或示波器）。一使用者可以經由除錯工具320來設定觀察點，其中觀察點可以指向微控制器310中的存儲器311。觀察點透過除錯介面313被儲存至觀察點內容314。也就是說，觀察點內容314可包括指向存儲器311的位址的資訊。存儲器311的資料（例如感測到的溫度值）由CPU 312持續更新。

與第二實施例的架構類似，微控制器310是透過除錯工具320間接耦接儀器330。並且，觸發儀器330的工作是由除錯工具320來進行。與第二實施例度不同的是，圖3A所示第三實施例是直接在除錯工具320裡設定測試條件。並且，除錯工具320直接且持續地讀取存儲器311所儲存的資料並自行判斷該資料是否滿足測試條件。也就是說，一旦CPU 312寫值在存儲器311裡，除錯工具320即可透過除錯介面313讀取該值，並判斷該值是否滿足測試條件。當判斷測試條件成立後，除錯工具320立即觸發儀器330。

圖3B繪示為本發明第三實施例的微控制器的測試方法的步驟流程圖。請同時參照圖3A與圖3B，首先，初始化除錯工具320以選擇觸發信號T的形態，並設定測試條件（步驟S310）。接著，直接由除錯工具320讀取存儲器311並判斷測試條件是否成立（步驟S320）。若測試條件不成立，則重複執行步驟S320。若測試條件成立，則進入步驟S330。在步驟S330中，除錯工具320產生觸發信號T以觸發儀器330。最後，由除錯工具320記錄測試條件成立的時間點以及相關的資料信息（步驟S340），並返回步驟S320。

上述第一至第三實施例都能透過除錯工具來設定觀察點與測試條件，使微控制器、除錯工具以及儀器達到連動的效果。最重要的是，當需要更改測試條件時，使用者只需要透過除錯工具來更改測試條件即可，而不需要透過去修改已載入微控制器的測試程式的方式來進行測試。因此，除錯的複雜度可以被降低。並且，可以不需要在反覆更改測試程式的情況下，就能完成對微控制器的除錯。

110、210、310:微控制器 111、211、311:存儲器 112、212、312:CPU 113、213、313:控制電路 114、214、314:觀察點內容 115:控制電路 120、220、320:除錯工具 130、230、330:儀器 C:設定電路 F:旗標 G:閘控器 M:多工器 S110~S170、S210~S260、S310~S340:步驟 S_EN:致能信號 SEL:輸出腳位選擇器 PA0~PAn:腳位 T:觸發信號 Ty:選擇信號

圖1A繪示為本發明第一實施例的微控制器的電路方塊圖。圖1B繪示為本發明第一實施例的微控制器的測試方法的步驟流程圖。圖1C繪示為本發明第一實施例的微控制器的控制電路的電路示意圖。圖1D繪示為在第一實施例下控制電路的另一種實施型態的電路示意圖。圖2A繪示為本發明第二實施例的微控制器的電路方塊圖。圖2B繪示為本發明第二實施例的微控制器的測試方法的步驟流程圖。圖3A繪示為本發明第三實施例的微控制器的電路方塊圖。圖3B繪示為本發明第三實施例的微控制器的測試方法的步驟流程圖。

110:微控制器

111:存儲器

112:CPU

113:除錯介面

114:觀察點內容

115:控制電路

120:除錯工具

130:儀器

T:觸發信號

Claims

一種微控制器的測試方法，適用於測試一微控制器，包括：由一使用者經由外部的一除錯工具(Debugger tool)設定一測試條件以及一觀察點(watchpoint)，並由該除錯工具測試該微控制器，其中該觀察點指向該微控制器的一存儲器；由該微控制器中的一控制電路判斷該存儲器的資料是否滿足該測試條件；以及當該微控制器的一程序執行到該觀察點並且該存儲器的資料滿足該測試條件時，由該控制電路控制該微控制器輸出一觸發信號，其中該觸發信號用以觸發外部的一儀器，其中該儀器被該觸發信號觸發並啟動以對該微控制器所回傳的一信號波形進行測量。
如請求項1所述的微控制器的測試方法，還包括：在該存儲器的資料滿足該測試條件時，給定一旗標(flag)，以做為該控制電路判斷該存儲器的資料是否滿足該測試條件的依據。
如請求項2所述的微控制器的測試方法，還包括：由該使用者經由該除錯工具發出一選擇信號，該控制器依據該選擇信號以自多個信號型態中選擇一個做為一預設信號型態；以及當該旗標由一第一狀態改變為一第二狀態時，由該控制電路產生具有該預設信號型態的一輸出信號做為該觸發信號。
一種微控制器的測試方法，適用於測試一微控制器，包括：由一使用者經由外部的一除錯工具設定一測試條件以及一觀察點，並由該除錯工具測試該微控制器，其中該觀察點指向該微控制器的一存儲器；透過該除錯工具輪詢(polling)該存儲器的資料是否滿足該測試條件；以及當該微控制器的一程序執行到該觀察點並且該存儲器的資料滿足該測試條件時，由該微控制器輸出一觸發信號，其中該觸發信號用以觸發外部的一儀器，其中該儀器被該觸發信號觸發並啟動以對該微控制器所回傳的一信號波形進行測量。
一種微控制器的測試方法，適用於測試一微控制器，包括：由一使用者經由外部的一除錯工具設定一測試條件以及一觀察點，並由該除錯工具測試該微控制器，其中該觀察點指向該微控制器的一存儲器；透過該除錯工具讀取該存儲器，並由該除錯工具判斷該存儲器的資料是否滿足該測試條件；以及當該微控制器的一程序執行到該觀察點並且該存儲器的資料滿足該測試條件時，由該微控制器輸出一觸發信號，其中該觸發信號用以觸發外部的一儀器，其中該儀器被該觸發信號觸發並啟動以對該微控制器所回傳的一信號波形進行測量。
一種微控制器，包括：一存儲器；以及一控制電路，耦接該存儲器、外部的一除錯工具以及外部的一儀器，其中該除錯工具被操作以設定一測試條件以及一觀察點，其中該在該除錯工具測試該微控制器的期間，該控制電路用以判斷該存儲器的資料是否滿足一測試條件，並在該微控制器的一程序執行到該觀察點並且該存儲器的資料滿足該測試條件時，該控制電路輸出一觸發信號，以觸發該儀器，以使該儀器對該微控制器所回傳的一信號波形進行測量。
如請求項6所述的微控制器，其中在該存儲器的資料滿足該測試條件時給定一旗標，以做為該控制電路判斷該存儲器的資料是否滿足該測試條件的依據。
一種微控制器，包括：一存儲器；以及一控制電路，耦接該存儲器以及外部的一除錯工具，其中該除錯工具被操作以設定一測試條件以及一觀察點，其中該在該除錯工具測試該微控制器的期間，該控制電路用以判斷該存儲器的資料是否滿足該測試條件，其中當該微控制器的一程序執行到該觀察點並且該存儲器的資料滿足該測試條件時，該控制電路輸出一觸發信號，該觸發信號用以觸發外部的一儀器，以使該儀器對該微控制器所回傳的一信號波形進行測量。
一種微控制器，包括：一存儲器，用以儲存資料以供外部的一除錯工具進行讀取，其中該除錯工具被操作以設定一測試條件以及一觀察點，測試該微控制器，並依據一觀察點來持續讀取該存儲器的資料，以判斷該存儲器的資料是否滿足一測試條件，當該微控制器的一程序執行到該觀察點並且該存儲器的資料滿足該測試條件時，該微控制器輸出一觸發信號以觸發外部的一儀器，以使該儀器對該微控制器所回傳的一信號波形進行測量。
一種包含微控制器的系統，包括：一微控制器；一除錯工具，耦接該微控制器，其中該除錯工具測試該微控制器，其中該除錯工具被操作以設定一測試條件以及一觀察點，其中當該微控制器的一程序執行到該觀察點並且該存儲器的資料滿足該測試條件時，該微控制器輸出一觸發信號；以及一儀器，耦接該微控制器與該除錯工具，其中該儀器被該觸發信號觸發並啟動以對該微控制器所回傳的一信號波形進行測量。