TWI807795B - 試劑保冷庫及包含其之自動分析裝置 - Google Patents

Abstract

本揭示之試劑保冷庫之特徵在於包含：試劑盤，其可保持供收容試劑之複數個試劑容器；容器，其將前述試劑盤收容於內部；驅動裝置，其使前述試劑盤沿水平方向旋轉；及風扇，其以可向前述試劑盤之旋轉方向送風之朝向設置於前述試劑盤。

Description

試劑保冷庫及包含其之自動分析裝置

本揭示係關於一種試劑保冷庫及包含其之自動分析裝置。

作為在生物體試料所含之核酸之檢查中所使用之核酸擴增技術，例如，有使用聚合酶連鎖反應(Polymerase Chain Reaction：PCR)法之技術。PCR法係利用耐熱性聚合酶與引物，藉由重複多數次溫度之升降循環而使靶核酸幾何級數擴增之技術，被廣泛利用在基因工學或生物學試驗法/檢測法等之領域中。

已知一種全自動地執行PCR之基因檢查裝置。一般而言，基因檢查裝置不是晝夜連續作動，例如在早上接通電源並作動8小時左右後將電源切斷。基因檢查裝置之作動中，因並行檢查複數個檢查項目，故PCR試劑保管於裝置內。因為了抑制使用PCR試劑的擴增時之非特異性擴增、或為了防止試劑本身之劣化等之理由，在調製試劑後長時間保管時，原則上要冷藏保管。因此，在使基因檢查裝置作動後，自冰箱取出供使用之試劑，設置於裝置。

在將PCR試劑在室溫之裝置內保管約8小時以上時，有可能在PCR產生試劑之劣化之影響或因乾燥所致之濃縮之影響。基於此種情形，先前，研究將試劑保管庫搭載於裝置內、在試劑保管庫內對PCR試劑進行保冷之技術。

例如於專利文獻1，揭示如下技術：「其包含：試劑庫30，其具有設置供收納收容有第1試劑之試劑容器6之開口部之試劑盒36、及密封前述開口部之試劑罩37；換氣部31，其將試劑庫30內之空氣進行換氣；及冷卻器35，其對試劑庫30內進行冷卻；且經由試劑盒36對收納於試劑庫30內之試劑容器6內之第1試劑及藉由換氣部31而流入試劑庫30內之外部空氣進行冷卻」。根據專利文獻1之方法，可防止因自試劑蒸發之成分所致之污染導致分析資料劣化(參照專利文獻1之要約)。

於專利文獻2中，揭示如下技術：「自動分析裝置之試劑保冷庫119之內部被三重壁構造包圍，將經冷卻之流體(冷卻水122d)在三重壁構造之內部循環、且將藉由熱交換而冷卻之空氣(冷卻空氣121b)導入直接試劑保冷庫119之內部，藉此可以緊湊之裝置進行有效率之冷卻，進而藉由利用冷卻空氣121b將試劑保冷庫119內設為大氣壓以上，而防止冷氣自試劑吸引用孔113噴出、外部空氣自該試劑吸引用孔113流入，從而抑制在試劑保冷庫119內產生結露。」(參照專利文獻2之要約)。

於專利文獻3中，揭示如下技術：「以低耗電且簡易之構造提供一種防止產生結露、進而將保冷庫內之溫度均一化之試劑保冷庫。其包含：冷媒配管，其設置於試劑保冷庫103之外壁之內部、使冷媒在該外壁之內部流通；送風管109，其設置於外壁之內部、將處於試劑保冷庫之外部之外部空氣導入試劑保冷庫之內部；及送風機構114，其設置於送風管、使外部空氣經由送風管擴散至試劑保冷庫之內部。藉由在外壁中被冷卻、且被取入試劑保冷庫之內部之外部空氣，將試劑保冷庫正壓化、且將內部溫度均一化。」(參照專利文獻3之要約)。

於專利文獻4中，揭示如下技術：「在試劑保冷庫300之內部，設置使試劑保冷庫300之內部之空氣循環之送風機340，送風機340之送風口向試劑保冷庫之底面370朝向斜下方，送風機340向試劑保冷庫300之底面370送風。」(參照專利文獻4之要約)。 [先前技術文獻] [專利文獻]

[專利文獻1]日本特開2012-112730號公報 [專利文獻2]日本特開2013-185980號公報 [專利文獻3]國際公開第2020/255488號 [專利文獻4]日本特開2015-64220號公報

[發明所欲解決之課題]

然而，於專利文獻1之試劑保冷庫中，因導入來自中心軸側之冷氣，故在無法均一地將冷氣向周嚮導入下，若不使試劑托盤始終旋轉，則在周向上產生冷卻不均。

於專利文獻2之方法中，因沿著試劑保冷庫之底面產生氣流，故無法消除不易產生上下方向之對流的上方為高溫且下方為低溫之溫度分佈，而難以將試劑保冷庫內之溫度一樣化。

於專利文獻3中，試劑保冷庫內之周向之流速之大小受冷氣之導入口與吸引口之位置關係影響，而試劑保冷庫內之溫度難以成為一樣。

於專利文獻4中，在以產生上面搬入出口之氣流為目的的風扇之設置方向、且為試劑保冷庫內之周向上難以實現溫度之一樣化及產生結露之一樣化。

因此，本揭示提供一種將試劑保冷庫內有效率地進行攪拌、而將溫度分佈一樣化之技術。 [解決課題之技術手段]

本揭示之試劑保冷庫之特徵在於包含：試劑盤，其可保持供收容試劑之複數個試劑容器；容器，其將前述試劑盤收容於內部；驅動裝置，其使前述試劑盤沿水平方向旋轉；及風扇，其以可向前述試劑盤之旋轉方向送風之朝向設置於前述試劑盤。

與本揭示相關聯之進一步之特徵，可根據本說明書之記述、附圖而明確化。又，本揭示之態樣藉由要素及多種要素之組合以及以下之詳細之記述與後附之申請專利範圍之樣態而達成、實現。本說明書之記述僅為典型之例示，在任何意義下並不限定本揭示之申請專利範圍或適用例。 [發明之效果]

根據本揭示之技術，可有效率地對試劑保冷庫內進行攪拌，而將溫度分佈一樣化。上述以外之課題、構成及效果可藉由以下之實施形態之說明而明確。

[第1實施形態] ＜自動分析裝置之構成例＞ 圖1係顯示第1實施形態之自動分析裝置之概略平面圖。如圖1所示般，自動分析裝置包含：試劑保冷庫100、檢體容器盤102、培養盤105、分注機構106、檢測部107、反應容器收納部109、分注晶片收納部110、廢棄部111、搬送裝置112、分注晶片安裝部113、及控制器200。

於檢體容器盤102內，收納有供收容血液或尿等之生物體樣品(以下稱為檢體)之複數個檢體容器101。於試劑保冷庫104內，收納有供收容用於分析檢體之各種試劑之複數個試劑容器8。於培養盤105內，收納有用於使檢體與試劑反應之複數個反應容器34。

分注機構106驅動設置於繞旋轉軸旋轉之臂之探針(圖1中未圖示)，藉由吸引及噴出之動作，將檢體自檢體容器101分注至反應容器34，且將試劑自試劑容器8分注至反應容器34。檢測部107對分注至反應容器34之檢體及試劑之反應液之特性進行檢測。

控制器200例如為電腦裝置，對自動分析裝置整體之動作進行控制。又，控制器200自檢測部107接收檢測結果，對於檢體中之測定對象物質進行分析。

於反應容器收納部109，收納有未使用之複數個反應容器34。於分注晶片收納部110，收納有未使用之複數個分注晶片32。已使用之反應容器34及分注晶片32被廢棄至廢棄部111。

搬送裝置112包含致動器，該致動器固持反應容器34及分注晶片32可沿三軸方向移動。搬送裝置112將收納於反應容器收納部109之反應容器34搬送至培養盤105、將收納於分注晶片收納部110之分注晶片32搬送至分注晶片安裝部113、或將已使用反應容器34作廢至廢棄部111。分注晶片32在分注晶片安裝部113中安裝於分注機構106之探針之前端。

＜試劑保冷庫之構成例＞ 圖2係顯示第1實施形態之試劑保冷庫100之構成之剖視圖。如圖2所示般，試劑保冷庫100包含：絕熱容器1、吸熱容器2、除熱機構3、散熱機構3b、旋轉軸4、旋轉定位機構5、試劑盤6、軸流風扇7、試劑容器8、分注孔9、排水口10、軸承軸封機構11、及支持台12。試劑保冷庫100與控制器200連接。

絕熱容器1係試劑保冷庫100之殼體。絕熱容器1例如藉由將外殼以塑膠之模具成形、於外殼之內部填充發泡苯乙烯等絕熱材而製作。若不考量耐久性，可無需外殼。絕熱容器1具有下側絕熱容器1a及上側絕熱容器1b，上側絕熱容器1b覆蓋下側絕熱容器1a之開口之上方。藉由如此般分割製作絕熱容器1，而試劑保冷庫100之分解及組裝、以及內部之保養維修變得容易。下側絕熱容器1a與上側絕熱容器1b之接合部分，例如如圖2所示般藉由設為嵌入構造，而可保持密閉性。上側絕熱容器1b具有可拆裝之蓋1c。蓋1c之嵌合於上側絕熱容器1b之部位，可由與上側絕熱容器1b相同之材質形成。

吸熱容器2可藉由將高熱傳導性之金屬(例如銅)之板材利用板金或製罐工法進行加工而製作。如圖2所示般，吸熱容器2之鉛直剖面形狀為兩端部為U字型、且上部開放。如後述般，吸熱容器2之平面形狀為圓形，在中央設置同心圓上之孔。亦即，吸熱容器2區劃出上部為開放之環狀之空間。

除熱機構3設置於吸熱容器2之底面及側面。除熱機構3可為供冷媒流通之配管，亦可為熱電元件(所謂帕爾帖元件)等。雖未圖示，但可將溫度被保持為一定之冷媒自外部供給至供冷媒流通之配管內。於除熱機構3為冷媒配管時，可以絕熱材包裹冷媒配管等之自絕熱容器1取出至外部之部分。藉此，可維持絕熱容器1之內部之絕熱性。

於圖2中，於設置於吸熱容器2之底面之除熱機構3為帕爾帖元件時，與吸熱容器2相接之側為相反側之散熱面成為高溫。因此，藉由在絕熱容器1之外底面設置散熱機構3b，而可自除熱機構3之散熱面散熱。

除熱機構3可夾著熱傳導性脂膏與吸熱容器2密接以獲得良好之熱傳導，亦可藉由硬銲而接合。吸熱容器2及除熱機構3可作為該等為一體化之構造體而收納於絕熱容器1。絕熱容器1無需與吸熱容器2及除熱機構3之一體構造體密接，在絕熱容器1與一體構造體之間可存在適度之空氣層。然而，藉由將該空氣層設為不與外部流通，而可維持絕熱容器1之內部之絕熱性。

旋轉定位機構5例如藉由步進馬達等馬達及齒輪等構成。旋轉定位機構5使旋轉軸4旋轉。試劑盤6固定於旋轉軸4，伴隨著旋轉軸4之旋轉而旋轉。於旋轉軸4與吸熱容器2之間設置有間隙。試劑盤6構成為可懸架地保持複數個試劑容器8。使用者可打開蓋1c將試劑容器8設置於試劑盤6。

旋轉軸4藉由軸承軸封機構11可旋轉地受約束，吸熱容器2、試劑盤6及旋轉軸4配置於鉛直方向同軸上。藉此，可防止因試劑盤6之旋轉而吸熱容器2與試劑容器8干涉。軸承軸封機構11配置於絕熱容器1與旋轉軸4之間，防止試劑保冷庫100內之空氣與外部之空氣之流通。軸承軸封機構11例如可藉由滾動軸承、機械軸封或曲徑軸封等構成。

軸流風扇7固定於試劑盤6，與試劑盤6之旋轉一起在吸熱容器2內旋轉。換言之，試劑盤6以試劑容器8之底部與軸流風扇7位於試劑盤6之下方之方式，支持試劑容器8及軸流風扇7。因此，軸流風扇7不會與懸架於試劑盤6之試劑容器8碰撞。

軸流風扇7係吸入方向與噴出方向位於一直線上、吸入側之面積與噴出側之面積相等之風扇。風扇之種類並不限定於軸流風扇7，只要吸入方向與噴出方向位於一直線上、且吸入側之面積與噴出側之面積相等即可。亦可使用例如斜流風扇或西洛哥風扇來取代軸流風扇7。關於軸流風扇7之配置之詳情將於後述。圖2中顯示軸流風扇7之框架為四角形者為例，但亦可為圓筒形之框架，還可為無框架。然而，藉由使用如包含至軸流風扇7之框架的軸向之投影面積為吸熱容器2內之剖面積之50%以上之大小之軸流風扇7，而可有效率地對試劑保冷庫100內進行冷卻。

軸流風扇7經由配線7a與外部之電源7c連接，藉由電源7c控制導通/關斷。於上側絕熱容器1b設置連接器7b，於連接器7b中可實現配線7a之拆裝。藉由卸除配線7a，而易於進行試劑保冷庫100之分解、組裝及保養維修。再者，軸流風扇7之驅動力亦可為電池，可將電池搭載於試劑盤6。

配線7a因試劑盤6之旋轉而在試劑保冷庫100內扭轉。然而，試劑盤6可藉由旋轉定位機構5進行正反雙向旋轉，即便最大亦為在1方向上旋轉2圈左右之可動範圍，因此若配線7a為通常之乙烯基塗層電纜，則即便固定亦無問題。於試劑盤6僅可沿一方向旋轉、或者試劑盤6向一方向之可動範圍為大時，只要將連接器7b設為旋轉式連接器即可。

分注孔9設置於上側絕熱容器1b，將分注滴管自外部插入分注孔9，而可對試劑容器8內之試劑進行分注。

排水口10設置於吸熱容器2之底面，排出在試劑保冷庫100內產生之結露水。於排水口10設置旋閥10a。旋閥10a在試劑保冷庫100內之冷卻過程中關閉，藉由在運轉結束後打開，而可排出結露水。若在打開旋閥10a之狀態下進行冷卻，則產生經冷卻而密度變高之重的空氣自排水口10向下方排出、而將高溫度之外部空氣自分注孔9拉入試劑保冷庫100內之流動，而使試劑保冷庫100內之溫度一下子上升。

支持台12支持絕熱容器1及旋轉定位機構5。

控制器200對旋轉定位機構5之驅動、電源7c之導通/關斷控制、及旋閥10a之驅動進行控制。控制器200可為控制搭載有試劑保冷庫100之自動分析裝置之整體動作之控制器，亦可為試劑保冷庫100專用控制器。再者，亦可由使用者手動控制旋轉定位機構5之驅動、電源7c之導通/關斷控制、及旋閥10a之驅動，來取代控制器200之控制。

圖3係用於說明試劑保冷庫100之各構成要素之位置關係之橫向剖視圖。試劑盤6中之試劑容器8之設置位置208沿徑向各設置2個。於分注試劑時，試劑容器8之設置位置208與分注孔9配置於同一半徑上。試劑容器8之設置位置208之周向之位置並無特別限制，只要藉由旋轉定位機構5之驅動可定位於分注孔9之下方即可。分注孔9於圖3中僅設置於1個半徑上，但亦可設置於複數個半徑上。

於設置2個軸流風扇7時，如安裝位置207a及207b般可安裝於中心角180°之位置。於設置3個軸流風扇7時，如安裝位置207a、207c及207d般，可安裝於中心角120°之位置。如此般，於設置相同性能之複數個軸流風扇7時，藉由等間隔地配置，而可將試劑保冷庫100內之空氣一樣攪拌。再者，軸流風扇7之數目亦可為1個。

軸流風扇7之送風方向217a～217d係由箭頭表示，以向周向之同一方向送風之方式配置複數個軸流風扇7。於使用複數個軸流風扇7時，以各個軸流風扇7之運轉條件成為相同之方式將驅動電壓設定為相等，且同時進行導通/關斷控制。

於圖3中以粗虛線表示蓋1c。蓋1c覆蓋吸熱容器2之一部分之區域之上方。若使用者在將試劑容器8設置於試劑盤6時使軸流風扇7連續運轉，如圖3所示般，藉由以軸流風扇7不位於蓋1c之下之方式使試劑盤6旋轉而進行定位，而可確保使用者之安全。

圖4係用於說明軸流風扇7對於試劑盤6之安裝方法之周向展開圖。軸流風扇7藉由固定機構301固定於試劑盤6。作為固定機構301之固定方式，例如可使用螺釘之緊固、或者利用彈性變形之鉚接等。在不自試劑容器8分注試劑時，如圖4所示般，以軸流風扇7位於分注孔9之正下方之方式，藉由旋轉定位機構5保持將試劑盤6。藉此，保管於試劑保冷庫100內之試劑不易受試劑保冷庫100外部之空氣之影響。於保冷過程中，在分注孔9內為下方為低溫、上方為低溫之穩定成層狀態，故不易產生因自然對流引起之與外部空氣之混合。為了進一步排除因自然對流引起之與外部空氣之混合之影響，可在與軸流風扇7上部之試劑盤6上之分注孔9對向之部位設置間隔件302，而可儘可能地減小試劑保冷庫100內與外部之連通部分。間隔件302係由絕熱性塑膠等絕熱材形成。

＜軸流風扇之效果之驗證＞ 圖5係用於說明第1實施形態之軸流風扇之效果之周向展開圖。於在試劑保冷庫100之保冷過程中使軸流風扇7運轉時與不使軸流風扇7運轉時之各個情形下，測定圖5所示之4個測定點401～404之溫度。測定點401係吸熱容器2之溫度之測定點。測定點402係吸熱容器2之內部空間之下側之溫度之測定點。測定點403係吸熱容器2之內部空間之上側之溫度之測定點。測定點404係上側絕熱容器1b之底面之溫度之測定點。

圖6係顯示不使軸流風扇7運轉時之各測定點之溫度變化之曲線圖。縱軸表示溫度，橫軸表示經過時間。保冷溫度範圍53，表示試劑保冷庫100對試劑保冷之目標溫度。曲線501表示測定點401之溫度之測定結果。曲線502表示測定點402之溫度之測定結果。曲線503表示測定點403之溫度之測定結果。曲線504表示測定點404之溫度之測定結果。無論測定點401～404之哪一者，均自測定開始時之室溫54開始測定。

如圖6所示般，於不使軸流風扇7運轉時，表示吸熱容器2之內部空間之下側之溫度變化的曲線502之溫度迅速下降而進入保冷溫度範圍53內。相對於此，表示吸熱容器2之內部空間之上側之溫度變化的曲線504之溫度下降速度緩慢，在曲線圖之顯示範圍內未達到保冷溫度範圍53。基於此種情形可知，在不使軸流風扇7運轉時，在吸熱容器2之內部空間產生溫度梯度。

圖7係顯示使軸流風扇7運轉時之各測定點之溫度變化之曲線圖。圖7之顯示範圍(比例)與圖6相同。保冷溫度範圍63表示試劑保冷庫100對試劑保冷之目標溫度。曲線601表示測定點401之溫度之測定結果。曲線602表示測定點402之溫度之測定結果。曲線603表示測定點403之溫度之測定結果。曲線604表示測定點404之溫度之測定結果。無論測定點401～404之哪一者，均自測定開始時之室溫64開始測定。

如圖7所示般，在使軸流風扇7運轉時，可知表示吸熱容器2之內部空間之上側之溫度變化的曲線603與表示吸熱容器2之內部空間之下側之溫度變化的曲線602以大致相同溫度發生變化，而消除溫度梯度。而且，曲線602、曲線603亦於某時間65進入保冷溫度範圍63，而達成冷卻之高速化。

＜第1實施形態之彙總＞ 如以上般，第1實施形態之試劑保冷庫100包含：試劑盤6，其可保持供收容試劑之複數個試劑容器8；吸熱容器2及絕熱容器1(容器)，其等將試劑盤6收容於內部；旋轉定位機構5(驅動裝置)，其使試劑盤6沿水平方向旋轉；及軸流風扇7(風扇)，其以可向試劑盤6之旋轉方向送風之朝向設置於試劑盤6。

如此般，藉由以面向軸地安裝於試劑盤6之周向之軸流風扇7送風，而於試劑保冷庫100內產生1次之循環流。該循環流只有與試劑容器8碰撞時之壓力損失，而無吸入噴出配管等固定流路之壓力損失，故可實現藉由軸流風扇7獲得之最大之風速。又，因試劑容器8位於循環流之中途，故循環流與試劑容器8碰撞而產生複雜之2次流動。藉此，不僅於周向而且亦於上下方向上對空氣進行攪拌，故試劑保冷庫100內之溫度分佈一樣化。作為結果，試劑保冷庫100之內面之吸熱面的熱傳遞率上升，自空氣向試劑保冷庫100之容器之移動熱量(每單位時間)增大。因此，由於可有效率地攪拌試劑保冷庫100內之空氣，故可縮短自電源接通時、至將試劑保冷庫100內之溫度自室溫冷卻至試劑之冷藏溫度為止之時間。

[第2實施形態] 於第2實施形態中，對於蓋1c之開閉時之軸流風扇7之驅動方法進行說明。

若在將試劑容器8設置於試劑盤6時進行蓋1c之開閉，則外部空氣侵入試劑保冷庫100內，因此試劑保冷庫100內之溫度上升。因此，於本實施形態之試劑保冷庫100中，在打開蓋1c之前使軸流風扇7停止，在關閉蓋1c之後再次開始軸流風扇7之送風。藉此，可早期恢復因蓋1c之開閉引起之溫度上升。其理由在於：藉由在蓋1c打開時不進行軸流風扇7之送風對空氣之攪拌而產生上下方向之溫度梯度(溫度分佈)，來抑制上下對流，故可使因外部空氣之侵入置換所致之熱交換最小化。又，藉由前述之試劑保冷庫100之內面之吸熱面之熱傳遞率之上升、與藉由空氣之攪拌而實現之溫度分佈之一樣化之效果，可在蓋1c之關閉時迅速地消除因蓋1c之打開而產生之溫度梯度及溫度上升。

以下，說明在使軸流風扇7運轉之狀態及不使軸流風扇7運轉之狀態之各個狀態下開閉蓋1c、並測定試劑保冷庫100內之溫度變化的實驗之結果。

圖8係顯示自保冷狀態打開蓋1c且再次關閉蓋1c時之試劑保冷庫100內之溫度變化之曲線圖。與圖6及圖7同樣地，縱軸表示溫度，橫軸表示經過時間。保冷溫度範圍73為與圖6之保冷溫度範圍53及圖7之保冷溫度範圍63相同之溫度範圍。曲線702a及702b表示測定點402之溫度之測定結果。曲線703a及703b表示測定點403之溫度之測定結果。

直至時序74為止之時間中，將試劑保冷庫100以保冷溫度運轉，並驅動軸流風扇7。曲線702a及703a表示在使軸流風扇7運轉之狀態下於時序74打開蓋1c、於時序75關閉時之溫度變化。另一方面，曲線702b及703b表示在即將打開蓋1c之時序74之前停止軸流風扇7、在緊跟在時序75關閉蓋1c之後再次開始軸流風扇7之運轉時之溫度變化。

如自圖8所示之結果可明確般，曲線703b之溫度上升小於曲線703a之溫度上升，且溫度恢復快。基於此種情形可知，藉由在打開蓋1c時停止軸流風扇7、在關閉蓋1c時使軸流風扇7運轉，即便在試劑保冷庫100內之溫度上升之情形下仍可迅速地冷卻至保冷溫度。

[變化例] 本揭示並不限定於上述之實施形態，而包含各種變化例。例如，上述之實施形態係為了容易理解地說明本揭示而詳細地進行說明者，未必一定包含所說明之所有構成。又，可將某實施形態之一部分置換成其他實施形態之構成。又，亦可將其他實施形態之構成添加於某實施形態之構成。又，對於各實施形態之構成之一部分，可追加、削除或置換其他實施形態之構成之一部分。

1:絕熱容器 1a:下側絕熱容器 1b:上側絕熱容器 1c:蓋 2:吸熱容器 3:除熱機構 3b:散熱機構 4:旋轉軸 5:旋轉定位機構 6:試劑盤 7:軸流風扇 7a:配線 7b:連接器 7c:電源 8:試劑容器 9:分注孔 10:排水口 10a:旋閥 11:軸承軸封機構 12:支持台 32:分注晶片 34:反應容器 53, 63, 73:保冷溫度範圍 54, 64:室溫 74, 75:時序 100:試劑保冷庫 101:檢體容器 102:檢體容器盤 105:培養盤 106:分注機構 107:檢測部 109:反應容器收納部 110:分注晶片收納部 111:廢棄部 112:搬送裝置 113:分注晶片安裝部 200:控制器 207a~207d:安裝位置 208:設置位置~ 217a~217d:送風方向 301:固定機構 302:間隔件 401~404:測定點 501~504, 601~604, 702a, 702b, 703a, 703b:曲線

圖1係顯示第1實施形態之自動分析裝置之構成之概略平面圖。 圖2係顯示第1實施形態之試劑保冷庫之構成之剖視圖。 圖3係用於說明試劑保冷庫之各構成要素之位置關係之橫向剖視圖。 圖4係用於說明軸流風扇對於試劑盤之安裝方法之周向展開圖。 圖5係用於說明軸流風扇之效果之周向展開圖。 圖6係顯示不使軸流風扇運轉時之各測定點之溫度變化之曲線圖。 圖7係顯示使軸流風扇運轉時之各測定點之溫度變化之曲線圖。 圖8係顯示自保冷狀態打開蓋且再次關閉蓋時之試劑保冷庫內之溫度變化之曲線圖。

1:絕熱容器

1a:下側絕熱容器

1b:上側絕熱容器

1c:蓋

2:吸熱容器

3:除熱機構

3b:散熱機構

4:旋轉軸

5:旋轉定位機構

6:試劑盤

7:軸流風扇

7a:配線

7b:連接器

7c:電源

8:試劑容器

9:分注孔

10:排水口

10a:旋閥

11:軸承軸封機構

12:支持台

100:試劑保冷庫

200:控制器

Claims (9)

1. 一種試劑保冷庫，其特徵在於包含：試劑盤，其可保持供收容試劑之複數個試劑容器；容器，其將前述試劑盤收容於內部；驅動裝置，其使前述試劑盤沿水平方向旋轉；及風扇，其以可向前述試劑盤之旋轉方向即前述水平方向送風之朝向設置於前述試劑盤；其中前述試劑盤以前述試劑容器之底部與前述風扇位於前述試劑盤之下方之方式，支持前述試劑容器及前述風扇。
2. 如請求項1之試劑保冷庫，其中前述風扇之吸引方向與噴出方向位於一直線上、且吸引側之面積與噴出側之面積相等。
3. 如請求項1之試劑保冷庫，其中前述風扇為軸流風扇、斜流風扇及西洛哥風扇之任一者。
4. 如請求項1之試劑保冷庫，其中複數個前述風扇等間隔且以成為相同之送風方向之方式設置於前述試劑盤。
5. 如請求項1之試劑保冷庫，其中前述風扇設置於前述試劑盤之下方，前述試劑保冷庫進一步包含間隔件，該間隔件設置於前述風扇之上方之前述試劑盤之上表面與前述容器之間。
6. 如請求項1之試劑保冷庫，其中前述容器具有：熱傳導性之吸熱容器，其在上部具有開口部，收容前述試劑盤；絕熱容器，其收容前述吸熱容器；及蓋，其設置於前述開口部之上方。
7. 如請求項6之試劑保冷庫，其中前述容器進一步具有設置於前述吸熱容器之側面或底面之除熱裝置。
8. 如請求項1之試劑保冷庫，其中前述試劑保冷庫進一步包含控制前述風扇之驅動之控制器，且前述容器包含蓋，前述控制器當前述容器內在保冷狀態下前述蓋為打開狀態時停止前述風扇，在前述蓋為關閉狀態之後使前述風扇運轉。
9. 一種自動分析裝置，其包含請求項1之試劑保冷庫。