TWI796561B - 具有即時中斷驗證功能的記憶體驗證系統及方法 - Google Patents

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Abstract

本發明係一種具有即時中斷驗證功能的記憶體驗證系統及方法,包括一測試用電子裝置,該測試用電子裝置包括相耦接的一處理器及一待測記憶體,由該處理器執行一驗證程序,以對該待測記憶體進行驗證,當該處理器對該待測記憶體進行驗證的過程中,若發生異常時,該處理器即時地執行一中斷跳脫程序,以停止對該待測記憶體的驗證,並輸出及記錄一異常記錄資訊供確認,藉此改善傳統在驗證中發生異常時,只能切斷驗證用的電子裝置的電源,使得記錄的異常原因遺失,無法被查詢的問題,以達到降低驗證複雜度並且提升確認異常的即時性、效率性及便利性的目的。

Description

具有即時中斷驗證功能的記憶體驗證系統及方法
本發明係關於一種驗證系統及方法,尤指一種具有即時中斷驗證功能的記憶體驗證系統及方法。
傳統驗證通用快閃記憶體(Universal Flash Storage,UFS,以下簡稱UFS)的方式,是將該UFS設置在一測試平台上,透過該測試平台使用一Uboot(Universal Boot Loader)的方式對該UFS進行一驗證程序,以驗證該UFS是否有問題。
然而,上述對該UFS的驗證方式,一旦在驗證過程中發生異常時,將造成該驗證程序無法停止,導致檢測人員只能被迫關閉該測試平台的電源,以中止該驗證程序的執行,但是關閉該測試平台的同時,會導致儲存在該測試平台的一暫存器中的相關異常記錄資訊同時被清除,使得檢測人員無法即時地確認異常原因,造成驗證上的麻煩、複雜以及沒效率。
有鑑於上述現有技術所存在的問題,本發明的主要目的係提供一種具有即時中斷驗證功能的記憶體驗證系統及方法,藉由在驗證該UFS的過 程中,若發生異常時,則即時地中斷驗證的過程,並且即時地記錄異常原因供檢測人員即時確認,以改善驗證麻煩及提升效率。
為了達成上述目的所採取的技術手段,係令前述具有即時中斷驗證功能的記憶體驗證方法,主要係應用在一測試用電子裝置,該測試用電子裝置包括一處理器及一待測記憶體,該處理器耦接該待測記憶體,並且由該處理器執行一驗證程序,該驗證程序包括以下步驟:執行一初始化程序,以完成該測試用電子裝置的初始化;執行一檢測程序,以對該待測記憶體進行檢測;判斷對該待測記憶體進行檢測狀態是否滿足一異常條件;若是,則執行一中斷跳脫程序,以中斷該檢測程序並產生一異常記錄資訊。
根據上述方法可知,當該處理器判斷對該待測記憶體檢測狀態滿足該異常條件時,則代表在檢測該待測記憶體的過程中發生異常,此時該處理器即時地執行該中斷跳脫程序,以即時地中斷該檢測程序,並且產生及儲存該異常記錄資訊供檢測人員即時地查看異常原因,避免因為在檢測該待測記憶體的過程中發生異常時,因為無法暫停、終止該驗證程序而被迫必須要將該測試用電子裝置關機,造成記錄該異常原因的相關資訊遺失,導致驗證麻煩沒效率的問題,以達到降低驗證複雜度並且提升確認異常的即時性、效率性及便利性的目的。
為了達成上述目的所採取的另一技術手段,係令前述具有即時中斷驗證功能的記憶體驗證系統包括:一測試用電子裝置,其包括:一待測記憶體; 一處理器,具有一暫存器,該處理器耦接該待測記憶體,該處理器對該待測記憶體執行一驗證程序;其中,該處理器執行一初始化程序,以初始化該測試用電子裝置,該處理器取得該暫存器內的一返回程序位址資訊,該處理器執行一檢測程序以對該待測記憶體進行檢測,該處理器判斷對該待測記憶體檢測狀態是否滿足一異常條件,若是,該處理器執行一中斷跳脫程序以中斷該檢測程序,並產生一異常記錄資訊,該處理器根據該返回程序位址資訊返回至執行該驗證程序。
根據上述系統可知,由該處理器先執行該初始化程序,以初始化該測試用電子裝置的相關裝置參數資訊,使該測試用電子裝置被設定為可開始進行驗證的狀態,該處理器根據該暫存器中對應該驗證程序當前執行時的程序位址,取得該返回程序位址資訊並且儲存,該處理器接著執行該檢測程序,以對該待測記憶體進行檢測,該處理器則根據對該待測記憶體檢測狀態判斷滿足該異常條件時,則即時地執行該中斷跳脫程序以中斷該檢測程序,並且產生及儲存該異常記錄資訊,以供檢測人員確認,同時該處理器還根據該返回程序位址資訊對應返回至該驗證程序,方便執行後續的檢測,以達到降低驗證複雜度並且提升確認異常的即時性、效率性及便利性的目的。
10:測試用電子裝置
11:處理器
111:暫存器
12:待測記憶體
13:儲存單元
S31、S311、S312、S313、S32、S33、S34、S35、S36:步驟
圖1 係本發明較佳實施例的系統架構方塊圖。
圖2 係本發明較佳實施例的方法流程圖。
圖3 係本發明較佳實施例的另一方法流程圖。
圖4 係本發明較佳實施例的又一方法流程圖。
關於本發明具有即時中斷驗證功能的記憶體驗證系統的較佳實施例,請參考圖1所示,包括一測試用電子裝置10,該測試用電子裝置10包括一處理器11、一待測記憶體12及一儲存單元13,該處理器11分別耦接該待測記憶體12及該儲存單元13,該處理器11具有一暫存器111,以儲存程序的相關參數、程序執行的位址資訊等,其中上述程序包含一驗證程序;在本實施例中,該測試用電子裝置10的例子可包含(但不限於):一行動裝置、一平板電腦、一智慧型手機、一桌上型電腦、一筆記型電腦等。待測記憶體12的例子可包含(但不限於):各種嵌入式(embedded)儲存裝置(諸如符合UFS或EMMC規格之嵌入式儲存裝置)。於另一實施例中,待測記憶體12係可拆卸地裝設在測試用電子裝置10中,待測記憶體12的例子可包含(但不限於):可攜式儲存裝置(諸如符合SD/MMC、CF、MS、XD或UFS標準之記憶卡)、固態硬碟(solid state drive,SSD)。儲存單元13可以隨機存取記憶體(Random Access Memory,RAM)來實施,例如靜態隨機存取記憶體(Static RAM,SRAM)或動態隨機存取記憶體(Dynamic RAM,DRAM),其中該隨機存取記憶體可用來提供儲存空間給處理器11,以暫時地儲存資料,但本發明不限於此。
進一步地,在本實施例中,該測試用電子裝置10要對該待測記憶體12進行例如功能驗證、健康驗證時,由該處理器11執行一驗證程序,以對該待測記憶體12進行驗證,該驗證程序的過程包括一初始化程序及一檢測程序並且如下說明。
首先,該處理器11執行該初始化程序,以初始化該測試用電子裝置10,其中,該處理器11係將該測試用電子裝置10的裝置參數設定為一初始值,使該測試用電子裝置10被設定為可開始驗證該待測記憶體12的一準備狀 態。當完成該測試用電子裝置10的初始化後,該處理器11從該暫存器111中根據該驗證程序執行至當前的程序位址(也就是完成該初始化程序後的程序位址),取得一返回程序位址資訊,並且儲存在該儲存單元13中。在本實施例中,該返回程序位址資訊係可作為該處理器11在執行該驗證程序的過程中,返回該驗證程序完成該初始化程序後的程序位址,具體而言,係可於該處理器11執行完該檢測程序後,並且確認檢測的結果有異常時,根據該返回程序位址資訊返回至該驗證程序完成初始化後的參考位址,並且若後續有其它相關程序需執行時,則從根據該返回程位址資訊開始再次接續執行該驗證程序的後續步驟。
進一步的,該處理器11要儲存該返回程序位址資訊的時候,需要先暫停該驗證程序的執行,所以該處理器11會執行一初始化完成暫時中斷程序,以先暫停執行該驗證程序,此時,該處理器11從該暫存器111中取得該返回程序位址資訊並儲存在該儲存單元13中,並且接續執行該驗證程序的後續步驟。
當該處理器11儲存該返回程序位址資訊後,該處理器11接續執行一檢測程序,以對該待測記憶體12進行檢測。該處理器11根據對該待測記憶體12的檢測狀態判斷是否滿足一異常條件,若是,該處理器11執行一中斷跳脫程序以中斷該檢測程序,並且該處理器11產生一異常記錄資訊並儲存在該儲存單元13中後,該處理器11根據該返回程序位址資訊返回至該驗證程序,也就是返回至完成初始化並且開始執行該檢測程序之前,以供進行後續檢測,或者供檢測人員根據該異常記錄資訊,適應性調整對應的檢測程序,以便於檢測人員得以更方便、準確的方式對該待測記憶體12進行合適的驗證。
在本實施例中,前述的檢測狀態係指,當該處理器11執行該檢測程序時,會對應發送一個以上的檢測觸發訊號給該待測記憶體12,並且等待接收該待測記憶體12對應回傳的一個以上檢測回饋資訊,以對該待測記憶體12 進行迴圈式的反覆檢測,以期完整的驗證該待測記憶體12的功能,並且該處理器11會持續判斷在檢測狀態是否接收到該檢測回饋資訊,若否,則代表該處理器11未接收到該檢測回饋資訊,則該處理器11判斷滿足該異常條件,並且執行該中斷跳脫程序以中斷該檢測程序;當該處理器11接收到該檢測回饋資訊則輸出一驗證完成資訊。
在本實施例中,該處理器11進一步的會在發送該檢測觸發訊號給該待測記憶體12時,計時一等待回饋時間,當計時到達該等待回饋時間後未收到該檢測回饋資訊,則判斷滿足該異常條件,藉此還可避免訊號傳遞的延遲造成誤判斷的風險,進而更進一步的提升驗證的準確性。
當該處理器11執行該中斷跳脫程序以中斷該檢測程序後,該處理器11則對應產生一異常記錄資訊並且儲存在該儲存單元13中,以供檢測人員確認,在本實施例中,為了能夠更順暢且便於執行該驗證程序,以確認該待測記憶體12的狀態,該處理器11根據儲存在該儲存單元13內的返回程序位址資訊返回至該驗證程序,以回到該驗證程序完成初始化並且開始執行該檢測程序之前,並且檢測人員可根據該異常記錄資訊適應性調整該檢測程序或更換新的待測記憶體12,以供後續檢測。在本實施例中,該異常記錄資訊包括一程序異常原因資訊或一記憶體異常原因資訊。
根據上述內容,本發明進一步歸納出一具有即時中斷驗證功能的記憶體驗證方法,請參考圖1、2所示,係適用於一測試用電子裝置10,該測試用電子裝置10包括相耦接的一處理器11及一待測記憶體12,並且由該處理器11可執行一驗證程序,以對該待測記憶體12進行驗證,該驗證程序包括以下步驟:執行一初始化程序(S31),執行該初始化程序係用以完成該測試用電子裝置10的初始化; 執行一檢測程序(S32),執行該檢測程序係用以對該待測記憶體進行檢測;判斷對該待測記憶體進行檢測狀態是否滿足一異常條件(S33);若是,則執行一中斷跳脫程序,並產生一異常記錄資訊(S34);若否,則輸出一驗證完成資訊(S35);其中,前述當執行該中斷跳脫程序時,係用以中斷該檢測程序,並且產生對應的該異常記錄資訊。
當上述執行到「執行一初始化程序(S31)」的步驟時,請參考圖3所示,進一步包括以下次步驟:完成該測試用電子裝置的初始化(S311);取得一返回程序位址資訊(S312);儲存該返回程序位址資訊(S313),並且接續執行「執行一檢測程序(S32)」的步驟。
當上述步驟執行至「執行一檢測程序(S32)」的步驟,該處理器11對應發送一個以上的檢測觸發訊號給該待測記憶體12,並且等待接收該待測記憶體12對應回傳的一個以上檢測回饋資訊。
當上述步驟執行至「判斷對該待測記憶體進行檢測狀態是否滿足一異常條件(S33)」的步驟,該處理器11判斷是否接收到該檢測回饋資訊,若否,該處理器11判斷滿足該異常條件,則接續執行「若是,執行一中斷跳脫程序,並產生一異常記錄資訊(S34)」的步驟,若是判斷接收到該檢測回饋資訊,則繼續執行該檢測程序,或者完成該檢測程序,並且執行「輸出一驗證完成資訊(S35)」的步驟;其中,該處理器11判斷是否滿足該異常條件的時候,進一步該處理器11於發送該檢測觸發訊號給該待測記憶體12後還計時一等待回饋時間,並且當計時到達該等待回饋時間後還未收到該檢測回饋資訊,判斷滿足該異常條件。
當上述步驟執行「若是,則執行一中斷跳脫程序,並產生一異常記錄資訊(S34)」的步驟後,請參考圖4所示,該驗證程序進一步還包括以下步驟:讀取該返回程序位址資訊(S36),並且回到上述「執行一檢測程序(S32)」的步驟。
根據上述內容,本發明藉由該處理器11對該待測記憶體12驗證的過程中,若發生異常(如該驗證程序的執行錯誤、該待測記憶體12的故障)時,該處理器11即時地執行該中斷跳脫程序,以停止對該待測記憶體的驗證,並且即時地輸出、記錄對應地常記錄資訊,供檢測人員確認,藉此改善傳統在驗證過程中發生異常時,因為驗證程序無法中斷而被迫必須要切斷檢測該待測記憶體12的測試平台的電源,造成記錄的異常原因消失而無法被查詢的問題,以達到降低驗證複雜度,並提升異常原因確認的即時性、效率性及便利性的目的。
10:測試用電子裝置
11:處理器
111:暫存器
12:待測記憶體
13:儲存單元

Claims (6)

  1. 一種具有即時中斷驗證功能的記憶體驗證方法,適用於一測試用電子裝置,其包括一處理器、一儲存單元及一待測記憶體,該處理器耦接該待測記憶體以及該儲存單元,並且由該處理器執行一驗證程序,該驗證程序包括以下步驟:執行一初始化程序,以完成該測試用電子裝置的初始化;取得一返回程序位址資訊;儲存該返回程序位址資訊;執行一檢測程序,以對該待測記憶體進行檢測,其中,該處理器發送一個以上檢測觸發訊號給該待測記憶體,並且等待接收待測記憶體對應回傳的一個以上檢測回饋資訊;判斷對該待測記憶體進行檢測狀態是否滿足一異常條件,該處理器判斷是否接收到該檢測回饋資訊,若否,該處理器判斷滿足該異常條件;若是,則執行一中斷跳脫程序,以中斷該檢測程序並產生一異常記錄資訊,且將該異常記錄資訊儲存於該儲存單元。
  2. 如請求項1所述之具有即時中斷驗證功能的記憶體驗證方法,其中,進一步的,當該處理器發送該檢測觸發訊號後,該處理器計時一等待回饋時間,於計時到達該等待回饋時間未接收到該檢測回饋資訊,該處理器判斷滿足該異常條件。
  3. 如請求項2所述之具有即時中斷驗證功能的記憶體驗證方法,其中,進一步的,當上述步驟執行「若是,則執行一中斷跳脫程序,以中斷該檢測程序並產生一異常記錄資訊」的步驟後,該驗證程序進一步還包括以下步驟: 讀取該返回程序位址資訊,並且回到上述「執行一檢測程序,以對該待測記憶體進行檢測」的步驟。
  4. 一種具有即時中斷驗證功能的記憶體驗證系統,包括:一測試用電子裝置,其包括:一待測記憶體;一儲存單元;一處理器,具有一暫存器,該處理器耦接該待測記憶體以及該儲存單元,該處理器對該待測記憶體執行一驗證程序;其中,該處理器執行一初始化程序,以初始化該測試用電子裝置,該處理器取得該暫存器內的一返回程序位址資訊,該處理器執行一檢測程序以對該待測記憶體進行檢測,該處理器判斷對該待測記憶體檢測狀態是否滿足一異常條件,若是,該處理器執行一中斷跳脫程序以中斷該檢測程序,並產生一異常記錄資訊,且將該異常記錄資訊儲存於該儲存單元,該處理器根據該返回程序位址資訊返回至執行該驗證程序;其中,該處理器係發送一個以上的檢測觸發訊號給該待測記憶體,以對該待測記憶體進行檢測,並且等待接收該待測記憶體對應回傳的一個以上檢測回饋資訊;當該處理器未接收到該檢測回饋資訊,則判斷滿足該異常條件。
  5. 如請求項4所述之具有即時中斷驗證功能的記憶體驗證系統,其中,進一步的,當該處理器發送該檢測觸發訊號給該待測記憶體時,該處理器計時一等待回饋時間,並且於計時到達該等待回饋時間未接收到該檢測回饋資訊,則判斷滿足該異常條件。
  6. 如請求項4至5中任一項所述之具有即時中斷驗證功能的記憶體驗證系統,其中,該測試用電子裝置係一行動裝置、一平板電腦或一智慧型手機。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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TWI833574B (zh) * 2023-02-08 2024-02-21 南亞科技股份有限公司 記憶體測試驗證系統及記憶體測試驗證方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200847174A (en) * 2007-05-30 2008-12-01 Phison Electronics Corp System and method for testing memory device
TW200921687A (en) * 2007-11-13 2009-05-16 Inventec Corp Method for memory testing
TW201400836A (zh) * 2012-06-04 2014-01-01 Advantest Corp 測試系統

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200847174A (en) * 2007-05-30 2008-12-01 Phison Electronics Corp System and method for testing memory device
TW200921687A (en) * 2007-11-13 2009-05-16 Inventec Corp Method for memory testing
TW201400836A (zh) * 2012-06-04 2014-01-01 Advantest Corp 測試系統

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