CN114721894A - PCIe NVMe SSD断电保护功能的测试方法及装置 - Google Patents

PCIe NVMe SSD断电保护功能的测试方法及装置 Download PDF

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CN114721894A CN202210381859.6A CN202210381859A CN114721894A CN 114721894 A CN114721894 A CN 114721894A CN 202210381859 A CN202210381859 A CN 202210381859A CN 114721894 A CN114721894 A CN 114721894A
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罗发治
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谈敏
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Abstract

本发明涉及PCIeNVMeSSD断电保护功能的测试方法及装置，该方法，包括：判断SSD的PLP功能是否已被正确开启；若开启，对SSD发送随机写命令；循环递增式对SSD发送/断开PLN#信号，并校验SSD的数据完整性；判断SSD的数据完整性是否异常；若无异常，判断SSD是否已完成X‑1次发送/断开PLN#信号；若完成，对SSD发送PLN#信号并保持PLN#信号不断开；对SSD发送随机命令；判断SSD是否已停止执行随机命令；判断SSD的N轮测试是否已执行完毕；结束测试。本发明实现并精确覆盖指定时刻发送PLN#信号来触发或/断开PLP功能的场景，解决了通过手动来测试SSDPLP功能的不足。

Description

PCIe NVMe SSD断电保护功能的测试方法及装置
技术领域
本发明涉及SSD断电保护功能的测试技术领域，尤其是指PCIe NVMe SSD断电保护功能的测试方法及装置。
背景技术
目前，绝大部分的消费级笔记本电脑(以下简称笔记本)都支持M.2接口的PCIeNVMe SSD(以下简称SSD)，而导致SSD用户数据丢失的场景主要有以下两种：
场景一：用户按笔记本电源键直至其关机；
场景二：用户没有连接笔记本电池，且在笔记本使用过程中，其AC电源适配器突然断电；
以上这两种场景对于SSD而言，都可视为一种异常断电操作，这是因为主机在断电前，没有向SSD发送断电通知，从而导致SSD无法将其内部DRAM和SRAM上的数据保存到NandFlash中，最终有可能导致用户数据和SSD映射表的丢失。
为了解决场景一所可能带来的用户数据丢失问题，目前主流的笔记本厂商和SSD厂商联合开发了一种名为“断电保护(Power-Loss Protection，以下简称PLP)”功能，例如联想ThinkPad系列笔记本电脑，苹果MacBook系列笔记本等都支持PLP功能。当出现上述场景一的状况时，笔记本通过触发SSD的PLP功能，能使SSD在断电之前，使SSD能安全地将运行在其DRAM或SRAM缓存中的数据保存到其Nand Flash芯片中，以防损坏或丢失用户数据，以及保证SSD映射表的完整性，这样一来，在笔记本重启后，SSD能再次被识别且可用。要触发SSD的PLP功能，通常是通过笔记本对SSD发送一个持续一定时间的低电平信号(也被称为断电通知信号，Power-Loss Notification，以下简称PLN#信号)来实现，而当SSD的PLP功能未被触发时，其M.2接口中的Pin8引脚为高电平。通常，一个完整的PLP功能事件即为场景一所述的过程，这个过程可细分分以下三个阶段：
阶段一，PLN#信号建立的过程：该过程是指用户开始按下笔记本电源键的几十毫秒内(称该过程所需的时间为PLPSetup，不同的SSD可能有不同的PLPSetup，一般为几十毫秒)，若用户按电源键的时间不足PLPSetup，即PLN#信号的持续时间小于PLPSetup，则SSD会忽略该PLN#信号，不会触发其PLP功能；
阶段二，PLP功能实施的过程：该过程是从用户持续按笔记本电源键的时间大于PLPSetup开始，直到笔记本关机之前，也即PLN#信号稳定持续阶段，在此阶段中，SSD的PLP功能开始起作用，即SSD开始将其内部DRAM和SRAM上的数据保存到Nand Flash中，这个数据保存所需的时间称为PLPAssert(不同的SSD可能有不同的PLPAssert，一般为几秒-十几秒)；
阶段三，PLP功能实施完毕：当用户持续按笔记本电源键的时间大于PLPAssert时，主机不再发送PLN#信号，即当SSD保存完所有数据后，主机会断开PLN#信号，随即主机开始进入断电流程，此处的断电流程很短，一般为几毫秒，而此时的断电操作就不会影响SSD的数据完整性。
在上述的阶段一中，若PLN#建立时间不足PLPSetup，则SSD会忽略PLN#信号，会继续执行来自主机的命令；而在阶段二中，此时PLP功能开始实施，SSD不会执行来自主机的任何命令，若在此阶段PLN#信号突然断开(即用户不再按着电源键)，则SSD的PLP功能将会被打断，SSD恢复执行来自主机的命令。
目前，在测试SSD的PLP功能时，通常所用的方法是通过手动按笔记本电源键来测试SSD的PLP功能，这种方法虽然简单，但无法做到自动化，效率较低，且该方法由于是手动进行的，存在较大的误差，即无法精确覆盖指定时刻按下或松开电源键来触发或断开PLP功能的场景。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供PCIe NVMe SSD断电保护功能的测试方法及装置。
为了解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案：
第一方面，本实施例提供了一种PCIe NVMe SSD断电保护功能的测试方法，包括以下步骤：
判断SSD的PLP功能是否已被正确开启；
若已被正确开启，则对SSD发送一笔随机写命令；
循环递增式对SSD发送/断开PLN#信号，并校验SSD的数据完整性；
判断SSD的数据完整性是否异常；
若SSD的数据完整性无异常，则判断SSD是否已完成X-1次发送/断开PLN#信号；
若已完成X-1次，则对SSD发送PLN#信号并保持PLN#信号不断开；
对SSD发送随机命令；
判断SSD是否已停止执行随机命令；
若已停止执行随机命令，则判断SSD的N轮测试是否已执行完毕；
若已执行完毕，则结束测试。
其进一步技术方案为：所述判断SSD的PLP功能是否已被正确开启步骤之前，还包括：发送命令，以开启SSD的PLP功能。
其进一步技术方案为：所述循环递增式对SSD发送/断开PLN#信号，并校验SSD的数据完整性步骤之前，还包括：判断SSD是否能正常处理写命令；若能正常处理写命令，则执行所述循环递增式对SSD发送/断开PLN#信号，并校验SSD的数据完整性。
其进一步技术方案为：所述循环递增式对SSD发送/断开PLN#信号，并校验SSD的数据完整性步骤之中，对SSD发送递增PLN#信号，递增幅度为10ms，即发送PLN#信号持续10ms后，断开PLN#信号，并对SSD的数据完整性进行校验；发送PLN#信号持续20ms后，断开PLN#信号，并对SSD的数据完整性进行校验；发送PLN#信号持续30ms后，断开PLN#信号，并对SSD的数据完整性进行校验，以此类推，在每轮测试中，每次PLN#信号的保持时间递增10ms，共进行发送/断开PLN#信号X-1次。
第二方面，本实施例提供了一种PCIe NVMe SSD断电保护功能的测试装置，包括：第一判断单元，第一发送单元，发送校验单元，第二判断单元，第三判断单元，发送保持单元，第二发送单元，第四判断单元，第五判断单元及结束单元；
所述第一判断单元，用于判断SSD的PLP功能是否已被正确开启；
所述第一发送单元，用于若已被正确开启，则对SSD发送一笔随机写命令；
所述发送校验单元，用于循环递增式对SSD发送/断开PLN#信号，并校验SSD的数据完整性；
所述第二判断单元，用于判断SSD的数据完整性是否异常；
所述第三判断单元，用于若SSD的数据完整性无异常，则判断SSD是否已完成X-1次发送/断开PLN#信号；
所述发送保持单元，用于若已完成X-1次，则对SSD发送PLN#信号并保持PLN#信号不断开；
所述第二发送单元，用于对SSD发送随机命令；
所述第四判断单元，用于判断SSD是否已停止执行随机命令；
所述第五判断单元，用于若已停止执行随机命令，则判断SSD的N轮测试是否已执行完毕；
所述结束单元，用于若已执行完毕，则结束测试。
其进一步技术方案为：还包括：开启单元，用于发送命令，以开启SSD的PLP功能。
其进一步技术方案为：还包括：判断单元，用于判断SSD是否能正常处理写命令；若能正常处理写命令，则执行所述循环递增式对SSD发送/断开PLN#信号，并校验SSD的数据完整性。
其进一步技术方案为：所述发送校验单元中，对SSD发送递增PLN#信号，递增幅度为10ms，即发送PLN#信号持续10ms后，断开PLN#信号，并对SSD的数据完整性进行校验；发送PLN#信号持续20ms后，断开PLN#信号，并对SSD的数据完整性进行校验；发送PLN#信号持续30ms后，断开PLN#信号，并对SSD的数据完整性进行校验，以此类推，在每轮测试中，每次PLN#信号的保持时间递增10ms，共进行发送/断开PLN#信号X-1次。
第三方面，本实施例提供了一种计算机设备，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述所述的PCIe NVMe SSD断电保护功能的测试方法。
第四方面，本实施例提供了一种存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现如上述所述的PCIeNVMe SSD断电保护功能的测试方法。
本发明与现有技术相比的有益效果是：可自动实现并精确覆盖指定时刻发送PLN#信号来触发或/断开PLP功能的场景，有效解决了通过手动按下笔记本电源键来测试SSDPLP功能的不足，能够更好地满足需求。
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步描述。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的PCIe NVMe SSD断电保护功能的测试方法的流程示意图；
图2为本发明实施例提供的PCIe NVMe SSD断电保护功能的测试装置的示意性框图；
图3为本发明实施例提供的计算机设备的示意性框图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
还应当理解，在此本发明说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本发明。如在本发明说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
还应当进一步理解，在本发明说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
请参阅图1所示的具体实施例，本发明公开了一种PCIe NVMe SSD断电保护功能的测试方法，包括以下步骤：
其中，该方法的测试环境如下：硬件需求：待测SSD：支持PLP功能且接口为M.2的PCIe NVMe SSD；DriveMaster8配套的PCIe SSD Power Adaptor卡。软件需求：操作系统：Windows10系统；测试软件：ULink公司的DriveMaster8软件；测试脚本：DriveMaster8软件编写的测试脚本。
S1，判断SSD的PLP功能是否已被正确开启；若未被正确开启，则结束测试；
其中，在S1步骤之前，还包括：发送命令，以开启SSD的PLP功能。因为，PLP功能在出厂时一般默认是关闭的。
S2，若已被正确开启，则对SSD发送一笔随机写命令；
其中，在本实施例中，随机写命令为随机的正常写命令即可。
S3，循环递增式对SSD发送/断开PLN#信号，并校验SSD的数据完整性；
其中，在S3步骤之前，还包括：判断SSD是否能正常处理写命令；若能正常处理写命令，则执行所述循环递增式对SSD发送/断开PLN#信号，并校验SSD的数据完整性；若不能正常处理写命令，则结束测试。
具体地，在S3步骤之中，对SSD发送递增PLN#信号，递增幅度为10ms，即发送PLN#信号持续10ms后，断开PLN#信号，并对SSD的数据完整性(在本实施例中，SSD的数据完整性指的是S2步骤中已写入的数据完整性)进行校验；发送PLN#信号持续20ms后，断开PLN#信号，并对SSD的数据完整性进行校验；发送PLN#信号持续30ms后，断开PLN#信号，并对SSD的数据完整性进行校验，以此类推，在每轮测试中，每次PLN#信号的保持时间递增10ms，共进行发送/断开PLN#信号X-1次。此处X的值，应根据产品实际的一个完整PLP功能事件所需的时间来定，该时间T大致等于PLPSetup+PLPAssert，则X的次数定为(PLPSetup+PLPAssert)/10。
S4，判断SSD的数据完整性是否异常；若SSD的数据完整性异常，则结束测试；
S5，若SSD的数据完整性无异常，则判断SSD是否已完成X-1次发送/断开PLN#信号；若未完成X-1次，则返回执行S4步骤；
S6，若已完成X-1次，则对SSD发送PLN#信号并保持PLN#信号不断开；
S7，对SSD发送随机命令；
其中，在本实施例中，随机命令为读命令、写命令或其他命令均可。
S8，判断SSD是否已停止执行随机命令；若未停止执行随机命令，则结束测试；
S9，若已停止执行随机命令，则判断SSD的N轮测试是否已执行完毕；若未执行完毕，则返回执行S4步骤；
其中，在本实施例中，N的值根据实际情况而定，例如500或1000等。
S10，若已执行完毕，则结束测试。
本发明：可自动实现并精确覆盖指定时刻发送PLN#信号来触发或/断开PLP功能的场景，有效解决了通过手动按下笔记本电源键来测试SSD PLP功能的不足，能够更好地满足需求。
请参阅图2所示，本发明还公开了一种PCIe NVMe SSD断电保护功能的测试装置，包括：第一判断单元10，第一发送单元20，发送校验单元30，第二判断单元40，第三判断单元50，发送保持单元60，第二发送单元70，第四判断单元80，第五判断单元90及结束单元100；
所述第一判断单元10，用于判断SSD的PLP功能是否已被正确开启；
所述第一发送单元20，用于若已被正确开启，则对SSD发送一笔随机写命令；
所述发送校验单元30，用于循环递增式对SSD发送/断开PLN#信号，并校验SSD的数据完整性；
所述第二判断单元40，用于判断SSD的数据完整性是否异常；
所述第三判断单元50，用于若SSD的数据完整性无异常，则判断SSD是否已完成X-1次发送/断开PLN#信号；
所述发送保持单元60，用于若已完成X-1次，则对SSD发送PLN#信号并保持PLN#信号不断开；
所述第二发送单元70，用于对SSD发送随机命令；
所述第四判断单元80，用于判断SSD是否已停止执行随机命令；
所述第五判断单元90，用于若已停止执行随机命令，则判断SSD的N轮测试是否已执行完毕；
所述结束单元100，用于若已执行完毕，则结束测试。
其中，该装置还包括：开启单元，用于发送命令，以开启SSD的PLP功能。
其中，该装置还包括：判断单元，用于判断SSD是否能正常处理写命令；若能正常处理写命令，则执行所述循环递增式对SSD发送/断开PLN#信号，并校验SSD的数据完整性。
其中，所述发送校验单元中，对SSD发送递增PLN#信号，递增幅度为10ms，即发送PLN#信号持续10ms后，断开PLN#信号，并对SSD的数据完整性进行校验；发送PLN#信号持续20ms后，断开PLN#信号，并对SSD的数据完整性进行校验；发送PLN#信号持续30ms后，断开PLN#信号，并对SSD的数据完整性进行校验，以此类推，在每轮测试中，每次PLN#信号的保持时间递增10ms，共进行发送/断开PLN#信号X-1次。
需要说明的是，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，上述PCIe NVMeSSD断电保护功能的测试装置和各单元的具体实现过程，可以参考前述方法实施例中的相应描述，为了描述的方便和简洁，在此不再赘述。
上述PCIe NVMe SSD断电保护功能的测试装置可以实现为一种计算机程序的形式，该计算机程序可以在如图3所示的计算机设备上运行。
请参阅图3，图3是本申请实施例提供的一种计算机设备的示意性框图；该计算机设备500可以是终端，也可以是服务器，其中，终端可以是智能手机、平板电脑、笔记本电脑、台式电脑、个人数字助理和穿戴式设备等具有通信功能的电子设备。服务器可以是独立的服务器，也可以是多个服务器组成的服务器集群。
参阅图3，该计算机设备500包括通过系统总线501连接的处理器502、存储器和网络接口505，其中，存储器可以包括非易失性存储介质503和内存储器504。
该非易失性存储介质503可存储操作系统5031和计算机程序5032。该计算机程序5032包括程序指令，该程序指令被执行时，可使得处理器502执行一种PCIe NVMe SSD断电保护功能的测试方法。
该处理器502用于提供计算和控制能力，以支撑整个计算机设备500的运行。
该内存储器504为非易失性存储介质503中的计算机程序5032的运行提供环境，该计算机程序5032被处理器502执行时，可使得处理器502执行一种PCIe NVMe SSD断电保护功能的测试方法。
该网络接口505用于与其它设备进行网络通信。本领域技术人员可以理解，图3中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备500的限定，具体的计算机设备500可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
其中，所述处理器502用于运行存储在存储器中的计算机程序5032，以实现如下步骤：
步骤S1，判断SSD的PLP功能是否已被正确开启；
步骤S2，若已被正确开启，则对SSD发送一笔随机写命令；
步骤S3，循环递增式对SSD发送/断开PLN#信号，并校验SSD的数据完整性；
步骤S4，判断SSD的数据完整性是否异常；
步骤S5，若SSD的数据完整性无异常，则判断SSD是否已完成X-1次发送/断开PLN#信号；
步骤S6，若已完成X-1次，则对SSD发送PLN#信号并保持PLN#信号不断开；
步骤S7，对SSD发送随机命令；
步骤S8，判断SSD是否已停止执行随机命令；
步骤S9，若已停止执行随机命令，则判断SSD的N轮测试是否已执行完毕；
步骤S10，若已执行完毕，则结束测试。
应当理解，在本申请实施例中，处理器502可以是中央处理单元(CentralProcessing Unit，CPU)，该处理器502还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(DigitalSignal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。其中，通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
本领域普通技术人员可以理解的是实现上述实施例的方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成。该计算机程序包括程序指令，计算机程序可存储于一存储介质中，该存储介质为计算机可读存储介质。该程序指令被该计算机系统中的至少一个处理器执行，以实现上述方法的实施例的流程步骤。
因此，本发明还提供一种存储介质。该存储介质可以为计算机可读存储介质。该存储介质存储有计算机程序，其中计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现上述的PCIe NVMe SSD断电保护功能的测试方法。该存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现上述的方法。该程序指令包括以下步骤：
步骤S1，判断SSD的PLP功能是否已被正确开启；
步骤S2，若已被正确开启，则对SSD发送一笔随机写命令；
步骤S3，循环递增式对SSD发送/断开PLN#信号，并校验SSD的数据完整性；
步骤S4，判断SSD的数据完整性是否异常；
步骤S5，若SSD的数据完整性无异常，则判断SSD是否已完成X-1次发送/断开PLN#信号；
步骤S6，若已完成X-1次，则对SSD发送PLN#信号并保持PLN#信号不断开；
步骤S7，对SSD发送随机命令；
步骤S8，判断SSD是否已停止执行随机命令；
步骤S9，若已停止执行随机命令，则判断SSD的N轮测试是否已执行完毕；
步骤S10，若已执行完毕，则结束测试。
在一实施例中，所述判断SSD的PLP功能是否已被正确开启步骤之前，还包括：发送命令，以开启SSD的PLP功能。
在一实施例中，所述循环递增式对SSD发送/断开PLN#信号，并校验SSD的数据完整性步骤之前，还包括：判断SSD是否能正常处理写命令；若能正常处理写命令，则执行所述循环递增式对SSD发送/断开PLN#信号，并校验SSD的数据完整性。
在一实施例中，所述循环递增式对SSD发送/断开PLN#信号，并校验SSD的数据完整性步骤之中，对SSD发送递增PLN#信号，递增幅度为10ms，即发送PLN#信号持续10ms后，断开PLN#信号，并对SSD的数据完整性进行校验；发送PLN#信号持续20ms后，断开PLN#信号，并对SSD的数据完整性进行校验；发送PLN#信号持续30ms后，断开PLN#信号，并对SSD的数据完整性进行校验，以此类推，在每轮测试中，每次PLN#信号的保持时间递增10ms，共进行发送/断开PLN#信号X-1次。
所述存储介质可以是U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的计算机可读存储介质。
本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的。例如，各个单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式。例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。
本发明实施例方法中的步骤可以根据实际需要进行顺序调整、合并和删减。本发明实施例装置中的单元可以根据实际需要进行合并、划分和删减。另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以是两个或两个以上单元集成在一个单元中。
该集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分，或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，终端，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。
上述实施例为本发明较佳的实现方案，除此之外，本发明还可以其它方式实现，在不脱离本技术方案构思的前提下任何显而易见的替换均在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.PCIe NVMe SSD断电保护功能的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
判断SSD的PLP功能是否已被正确开启；
若已被正确开启，则对SSD发送一笔随机写命令；
循环递增式对SSD发送/断开PLN#信号，并校验SSD的数据完整性；
判断SSD的数据完整性是否异常；
若SSD的数据完整性无异常，则判断SSD是否已完成X-1次发送/断开PLN#信号；
若已完成X-1次，则对SSD发送PLN#信号并保持PLN#信号不断开；
对SSD发送随机命令；
判断SSD是否已停止执行随机命令；
若已停止执行随机命令，则判断SSD的N轮测试是否已执行完毕；
若已执行完毕，则结束测试。
2.根据权利要求1所述的PCIe NVMe SSD断电保护功能的测试方法，其特征在于，所述判断SSD的PLP功能是否已被正确开启步骤之前，还包括：发送命令，以开启SSD的PLP功能。
3.根据权利要求1所述的PCIe NVMe SSD断电保护功能的测试方法，其特征在于，所述循环递增式对SSD发送/断开PLN#信号，并校验SSD的数据完整性步骤之前，还包括：判断SSD是否能正常处理写命令；若能正常处理写命令，则执行所述循环递增式对SSD发送/断开PLN#信号，并校验SSD的数据完整性。
4.根据权利要求1所述的PCIe NVMe SSD断电保护功能的测试方法，其特征在于，所述循环递增式对SSD发送/断开PLN#信号，并校验SSD的数据完整性步骤之中，对SSD发送递增PLN#信号，递增幅度为10ms，即发送PLN#信号持续10ms后，断开PLN#信号，并对SSD的数据完整性进行校验；发送PLN#信号持续20ms后，断开PLN#信号，并对SSD的数据完整性进行校验；发送PLN#信号持续30ms后，断开PLN#信号，并对SSD的数据完整性进行校验，以此类推，在每轮测试中，每次PLN#信号的保持时间递增10ms，共进行发送/断开PLN#信号X-1次。
5.PCIe NVMe SSD断电保护功能的测试装置，其特征在于，包括：第一判断单元，第一发送单元，发送校验单元，第二判断单元，第三判断单元，发送保持单元，第二发送单元，第四判断单元，第五判断单元及结束单元；
所述第一判断单元，用于判断SSD的PLP功能是否已被正确开启；
所述第一发送单元，用于若已被正确开启，则对SSD发送一笔随机写命令；
所述发送校验单元，用于循环递增式对SSD发送/断开PLN#信号，并校验SSD的数据完整性；
所述第二判断单元，用于判断SSD的数据完整性是否异常；
所述第三判断单元，用于若SSD的数据完整性无异常，则判断SSD是否已完成X-1次发送/断开PLN#信号；
所述发送保持单元，用于若已完成X-1次，则对SSD发送PLN#信号并保持PLN#信号不断开；
所述第二发送单元，用于对SSD发送随机命令；
所述第四判断单元，用于判断SSD是否已停止执行随机命令；
所述第五判断单元，用于若已停止执行随机命令，则判断SSD的N轮测试是否已执行完毕；
所述结束单元，用于若已执行完毕，则结束测试。
6.根据权利要求5所述的PCIe NVMe SSD断电保护功能的测试装置，其特征在于，还包括：开启单元，用于发送命令，以开启SSD的PLP功能。
7.根据权利要求5所述的PCIe NVMe SSD断电保护功能的测试装置，其特征在于，还包括：判断单元，用于判断SSD是否能正常处理写命令；若能正常处理写命令，则执行所述循环递增式对SSD发送/断开PLN#信号，并校验SSD的数据完整性。
8.根据权利要求5所述的PCIe NVMe SSD断电保护功能的测试装置，其特征在于，所述发送校验单元中，对SSD发送递增PLN#信号，递增幅度为10ms，即发送PLN#信号持续10ms后，断开PLN#信号，并对SSD的数据完整性进行校验；发送PLN#信号持续20ms后，断开PLN#信号，并对SSD的数据完整性进行校验；发送PLN#信号持续30ms后，断开PLN#信号，并对SSD的数据完整性进行校验，以此类推，在每轮测试中，每次PLN#信号的保持时间递增10ms，共进行发送/断开PLN#信号X-1次。
9.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-4中任一项所述的PCIe NVMe SSD断电保护功能的测试方法。
10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现如权利要求1-4中任一项所述的PCIeNVMe SSD断电保护功能的测试方法。
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