CN115525486A - Ssd smbus温度报警及低功耗状态的测试验证方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及SSD SMBUS温度报警及低功耗状态的测试验证方法及装置,该方法,包括:读取固态硬盘的信息;判断VI D和D I D是否符合预先设定;读取固态硬盘的状态;判断SMART Warn i ng是否为FFh;记录合成温度值;进行数据写入;判断合成温度值是否大于设定阈值;停止数据写入;读取固态硬盘的状态;判断SMART Warn i ng是否为DFh;表示温度报警事件触发成功,记录合成温度值;将自动电源状态转换功能关闭,并设为低功耗状态;判断电源状态是否为低功耗状态;判断SMBUS是否能正常响应;若正常响应,表示SMBUS在低功耗状态正常运行。本发明可快速验证固态硬盘的SMBUS带外管理功能。
Description
技术领域
本发明涉及固态硬盘带外管理存储技术领域,尤其是指SSD SMBUS温度报警及低功耗状态的测试验证方法及装置。
背景技术
SMBUS(System Management Bus,系统管理总线,以下简称SMBUS)是基于I2C(Inter Integrated-Circuit,内部集成电路)协议开发的用于低速,高稳定性场景的通讯管理。其系统管理总线主要由SMCLK(SMBUS clock,系统管理总线串行时钟线,以下简称SMCLK)和SMDAT(SMBUS Data,系统管理总线串行数据线,以下简称SMDAT)2根信号线来实现数据的传输和通讯。在固态硬盘带内信号异常导致不能正常读取固态硬盘信息、温度等的情况下仍可以通过SMBUS带外信号对固态硬盘的健康状态进行实时监控,如获取固态硬盘的功耗,设备信息,温度等。BIOS(Basic Input Output System,基本输入输出系统)基于获取到的温度调节风扇转速从而优化整机声学效果。在批量采用固态硬盘的计算机上通过SMBUS带外信号访问机制,将大大提高计算机运维的工作效率及降低运维成本。因此测试固态硬盘在启用SMBUS后是否能在正常及低功耗模式下读取固态硬盘温度、设备信息及温度报警等机制是非常重要的。若支持SMBUS功能的固态硬盘不能在正常或低功耗模式下读取固态硬盘温度或温度报警机制失效,其将错失最佳处理故障时机,大大影响用户对固态硬盘产品的体验和信任度。
目前服务器平台都不支持固态硬盘低功耗功能,支持固态硬盘低功耗的电脑只有台式机和笔记本,然而此类电脑能支持SMBUS总线的M.2固态硬盘接口电脑在市面上均未发布。ULINK公司的Driver Master软件及配套的PSPA(PCIe固态硬盘Power Adaptor,PCIe固态硬盘电源适配器,以下简称PSPA)硬件无SMBUS物理走线且SMBUS测试相关命令尚未开发完成;SANBLAZE公司基于服务器的固态硬盘专用测试套件又不支持低功耗模式。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足,提供SSD SMBUS温度报警及低功耗状态的测试验证方法及装置。
为了解决上述技术问题,本发明采用如下技术方案:
第一方面,本实施例提供了一种SSD SMBUS温度报警及低功耗状态的测试验证方法,包括以下步骤:
读取固态硬盘的信息;
判断固态硬盘的信息中的VID和DID是否符合预先设定;
若符合预先设定,则读取固态硬盘的状态;
判断固态硬盘的状态中SMART Warning是否为FFh;
若SMART Warning为FFh,则记录固态硬盘当前的合成温度值;
对固态硬盘进行数据写入;
判断固态硬盘当前的合成温度值是否大于设定阈值;
若大于设定阈值,则停止对固态硬盘进行数据写入;
读取固态硬盘的状态;
判断固态硬盘的状态中SMART Warning是否为DFh;
若SMART Warning为DFh,则表示温度报警事件触发成功,记录固态硬盘当前的合成温度值;
将固态硬盘自动电源状态转换功能关闭,并将固态硬盘设置为低功耗状态;
判断固态硬盘的电源状态是否为低功耗状态;
若电源状态为低功耗状态,则判断SMBUS是否能正常响应并返回硬盘信息;
若SMBUS能正常响应并返回硬盘信息,则表示SMBUS在低功耗状态正常运行。
其进一步技术方案为:所述读取固态硬盘的信息步骤之前,还包括:检查固态硬盘控制器数据结构是否支持SMBUS;若支持SMBUS,则开启SMBUS功能。
其进一步技术方案为:所述判断固态硬盘的状态中SMART Warning是否为FFh步骤之后,还包括:若SMART Warning不为FFh,则表示检查到温度报警事件,记录固态硬盘当前的合成温度值。
其进一步技术方案为:所述判断固态硬盘当前的合成温度值是否大于设定阈值步骤之后,还包括:若不大于设定阈值,则继续对固态硬盘进行数据写入5分钟,再判断固态硬盘当前的合成温度值是否大于设定阈值,若仍不大于设定阈值,则表示温度感应器出现故障。
第二方面,本实施例提供了一种SSD SMBUS温度报警及低功耗状态的测试验证装置,包括:第一读取单元,第一判断单元,第二读取单元,第二判断单元,记录单元,写入单元,第三判断单元,停止单元,第三读取单元,第四判断单元,触发记录单元,关闭设置单元,第五判断单元,第六判断单元及运行单元;
所述第一读取单元,用于读取固态硬盘的信息;
所述第一判断单元,用于判断固态硬盘的信息中的VID和DID是否符合预先设定;
所述第二读取单元,用于若符合预先设定,则读取固态硬盘的状态;
所述第二判断单元,用于判断固态硬盘的状态中SMART Warning是否为FFh;
所述记录单元,用于若SMART Warning为FFh,则记录固态硬盘当前的合成温度值;
所述写入单元,用于对固态硬盘进行数据写入;
所述第三判断单元,用于判断固态硬盘当前的合成温度值是否大于设定阈值;
所述停止单元,用于若大于设定阈值,则停止对固态硬盘进行数据写入;
所述第三读取单元,用于读取固态硬盘的状态;
所述第四判断单元,用于判断固态硬盘的状态中SMART Warning是否为DFh;
所述触发记录单元,用于若SMART Warning为DFh,则表示温度报警事件触发成功,记录固态硬盘当前的合成温度值;
所述关闭设置单元,用于将固态硬盘自动电源状态转换功能关闭,并将固态硬盘设置为低功耗状态;
所述第五判断单元,用于判断固态硬盘的电源状态是否为低功耗状态;
所述第六判断单元,用于若电源状态为低功耗状态,则判断SMBUS是否能正常响应并返回硬盘信息;
所述运行单元,用于若SMBUS能正常响应并返回硬盘信息,则表示SMBUS在低功耗状态正常运行。
其进一步技术方案为:还包括:检查单元,用于检查固态硬盘控制器数据结构是否支持SMBUS;若支持SMBUS,则开启SMBUS功能。
其进一步技术方案为:还包括:检查记录单元,用于若SMART Warning不为FFh,则表示检查到温度报警事件,记录固态硬盘当前的合成温度值。
其进一步技术方案为:还包括:写入判断单元,用于若不大于设定阈值,则继续对固态硬盘进行数据写入5分钟,再判断固态硬盘当前的合成温度值是否大于设定阈值,若仍不大于设定阈值,则表示温度感应器出现故障。
第三方面,本实施例提供了一种计算机设备,所述计算机设备包括存储器及处理器,所述存储器上存储有计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述所述的SSD SMBUS温度报警及低功耗状态的测试验证方法。
第四方面,本实施例提供了一种存储介质,所述存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序包括程序指令,所述程序指令当被处理器执行时可实现如上述所述的SSDSMBUS温度报警及低功耗状态的测试验证方法。
本发明与现有技术相比的有益效果是:可快速高效地验证固态硬盘的SMBUS带外管理功能,如SMBUS读取固态硬盘状态、信息、温度报警机制及低功耗PS3下不能访问SMBUS等问题,能够更好地满足需求。
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步描述。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的SSD SMBUS温度报警及低功耗状态的测试验证方法的流程示意图;
图2为本发明实施例提供的SSD SMBUS温度报警及低功耗状态的测试验证装置的示意性框图;
图3为本发明实施例提供的计算机设备的示意性框图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
应当理解,当在本说明书和所附权利要求书中使用时,术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在,但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
还应当理解,在此本发明说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本发明。如在本发明说明书和所附权利要求书中所使用的那样,除非上下文清楚地指明其它情况,否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
还应当进一步理解,在本发明说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合,并且包括这些组合。
请参阅图1所示的具体实施例,本发明公开了一种SSD SMBUS温度报警及低功耗状态的测试验证方法,包括以下步骤:
其中,该方法的测试环境如下:待测计算机:Lenovo X1 Carbon 9th笔记本;备注:对于待测计算机,适用于支持低功耗的笔记本和台式计算机,而具体型号并不做强制要求。优选Lenovo X1 Carbon 9th笔记本作为待测计算机。待测固态硬盘:支持SMBUS协议的M.2固态硬盘。软件需求:操作系统:Linux Ubuntu 20.04操作系统;测试工具:NVME-cli;测试脚本:Shell测试脚本。
S1,读取固态硬盘的信息;
其中,在S1步骤之前,还包括:检查固态硬盘控制器数据结构是否支持SMBUS;若支持SMBUS,通过NVME set-feature命令开启SMBUS功能;若不支持SMBUS,则退出测试。
具体地,检查字节4004中的第1个位置(固态硬盘控制器数据结构)是否支持SMBUS;若第1个位置为1则支持SMBUS,则可开启SMBUS功能。
具体地,在S1步骤中,通过表1中SMBUS基本管理命令格式先发送SMBUS从地址写D4h,然后发送命令代码08h(代表读取固态硬盘的信息),最后发送从地址读D5h将获取固态硬盘通过SMBUS返回的固态硬盘信息。
表1
S2,判断固态硬盘的信息中的VID和DID是否符合预先设定;若不符合预先设定,则记录固态硬盘不良。
其中,VID:Vendor Identifier,厂家身份识别码;DID:Device Identifier,设备身份识别码。预先设定为VID=0x1CC4,DID=0x06A0。
S3,若符合预先设定,则读取固态硬盘的状态;
具体地,在S3步骤中,通过SMBUS基本管理命令发送命令代码00读取固态硬盘的状态。
其中,此处的基本管理命令与上面的管理命令的格式是一样的。
S4,判断固态硬盘的状态中SMART Warning是否为FFh;
其中,SMART:Self-Monitoring Analysis and Reporting Technology,自我监测、分析及报告技术;Warning:报警字节;FFh:无温度报警事件发生。
其中,在S4步骤之后,还包括:若SMART Warning不为FFh,则表示检查到温度报警事件,记录固态硬盘当前的合成温度值。BIOS得知该温度报警事件后会通过调高风扇速度来给固态硬盘降温,使其工作尽快恢复到最佳性能。
S5,若SMART Warning为FFh,则记录固态硬盘当前的合成温度值;
S6,对固态硬盘进行数据写入;
具体地,在S6步骤中,通过NVME write命令对固态硬盘进行数据写入。
S7,判断固态硬盘当前的合成温度值是否大于设定阈值;
其中,在S7步骤之前,还包括:通过NVME set-feature命令设定温度报警阀值。具体地,在本实施例中,设定温度报警阀值为40度或45度。
其中,在S7步骤之后,还包括:若不大于设定阈值,则继续对固态硬盘进行数据写入5分钟,再判断固态硬盘当前的合成温度值是否大于设定阈值,若仍不大于设定阈值,则表示温度感应器出现故障;若大于设定阈值,则满足温度报警触发条件,可以进行SMARTwarning字节的读取。
S8,若大于设定阈值,则停止对固态硬盘进行数据写入;
具体地,在S8步骤中,通过停止NVME write命令对固态硬盘的数据写入。
S9,读取固态硬盘的状态;
具体地,在S9步骤中,通过SMBUS基本管理命令发送命令代码00读取固态硬盘的状态。
S10,判断固态硬盘的状态中SMART Warning是否为DFh;
其中,DFh:发生了温度报警事件。
其中,在S10步骤之后,还包括:若SMART Warning不为DFh,则记录温度报警验证失败及记录固态硬盘当前的合成温度值。
S11,若SMART Warning为DFh,则表示温度报警事件触发成功,记录固态硬盘当前的合成温度值;
S12,将固态硬盘自动电源状态转换功能关闭,并将固态硬盘设置为低功耗状态;
S13,判断固态硬盘的电源状态是否为低功耗状态;若电源状态不为低功耗状态,则记录固态硬盘不良,进入低功耗状态失败。
S14,若电源状态为低功耗状态,则判断SMBUS是否能正常响应并返回硬盘信息;若SMBUS不能正常响应并返回硬盘信息,则记录固态硬盘不良,低功耗状态下SMBUS问题,SMBUS问题指的是SMBUS不能工作。
S15,若SMBUS能正常响应并返回硬盘信息,则表示SMBUS在低功耗状态正常运行。
本发明可快速高效地验证固态硬盘的SMBUS带外管理功能,如SMBUS读取固态硬盘状态、信息、温度报警机制及低功耗PS3下不能访问SMBUS等问题,能够更好地满足需求。
请参阅图2所示,本发明还公开了一种SSD SMBUS温度报警及低功耗状态的测试验证装置,包括:第一读取单元10,第一判断单元20,第二读取单元30,第二判断单元40,记录单元50,写入单元60,第三判断单元70,停止单元80,第三读取单元90,第四判断单元100,触发记录单元110,关闭设置单元120,第五判断单元130,第六判断单元140及运行单元150;
所述第一读取单元10,用于读取固态硬盘的信息;
所述第一判断单元20,用于判断固态硬盘的信息中的VID和DID是否符合预先设定;
所述第二读取单元30,用于若符合预先设定,则读取固态硬盘的状态;
所述第二判断单元40,用于判断固态硬盘的状态中SMART Warning是否为FFh;
所述记录单元50,用于若SMART Warning为FFh,则记录固态硬盘当前的合成温度值;
所述写入单元60,用于对固态硬盘进行数据写入;
所述第三判断单元70,用于判断固态硬盘当前的合成温度值是否大于设定阈值;
所述停止单元80,用于若大于设定阈值,则停止对固态硬盘进行数据写入;
所述第三读取单元90,用于读取固态硬盘的状态;
所述第四判断单元100,用于判断固态硬盘的状态中SMART Warning是否为DFh;
所述触发记录单元110,用于若SMART Warning为DFh,则表示温度报警事件触发成功,记录固态硬盘当前的合成温度值;
所述关闭设置单元120,用于将固态硬盘自动电源状态转换功能关闭,并将固态硬盘设置为低功耗状态;
所述第五判断单元130,用于判断固态硬盘的电源状态是否为低功耗状态;
所述第六判断单元140,用于若电源状态为低功耗状态,则判断SMBUS是否能正常响应并返回硬盘信息;
所述运行单元150,用于若SMBUS能正常响应并返回硬盘信息,则表示SMBUS在低功耗状态正常运行。
其中,该装置还包括:检查单元,用于检查固态硬盘控制器数据结构是否支持SMBUS;若支持SMBUS,则开启SMBUS功能。
其中,该装置还包括:检查记录单元,用于若SMART Warning不为FFh,则表示检查到温度报警事件,记录固态硬盘当前的合成温度值。
其中,该装置还包括:写入判断单元,用于若不大于设定阈值,则继续对固态硬盘进行数据写入5分钟,再判断固态硬盘当前的合成温度值是否大于设定阈值,若仍不大于设定阈值,则表示温度感应器出现故障。
需要说明的是,所属领域的技术人员可以清楚地了解到,上述SSD SMBUS温度报警及低功耗状态的测试验证装置和各单元的具体实现过程,可以参考前述方法实施例中的相应描述,为了描述的方便和简洁,在此不再赘述。
上述SSD SMBUS温度报警及低功耗状态的测试验证装置可以实现为一种计算机程序的形式,该计算机程序可以在如图3所示的计算机设备上运行。
请参阅图3,图3是本申请实施例提供的一种计算机设备的示意性框图;该计算机设备500可以是终端,也可以是服务器,其中,终端可以是智能手机、平板电脑、笔记本电脑、台式电脑、个人数字助理和穿戴式设备等具有通信功能的电子设备。服务器可以是独立的服务器,也可以是多个服务器组成的服务器集群。
参阅图3,该计算机设备500包括通过系统总线501连接的处理器502、存储器和网络接口505,其中,存储器可以包括非易失性存储介质503和内存储器504。
该非易失性存储介质503可存储操作系统5031和计算机程序5032。该计算机程序5032包括程序指令,该程序指令被执行时,可使得处理器502执行一种SSD SMBUS温度报警及低功耗状态的测试验证方法。
该处理器502用于提供计算和控制能力,以支撑整个计算机设备500的运行。
该内存储器504为非易失性存储介质503中的计算机程序5032的运行提供环境,该计算机程序5032被处理器502执行时,可使得处理器502执行一种SSD SMBUS温度报警及低功耗状态的测试验证方法。
该网络接口505用于与其它设备进行网络通信。本领域技术人员可以理解,图3中示出的结构,仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图,并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备500的限定,具体的计算机设备500可以包括比图中所示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者具有不同的部件布置。
其中,所述处理器502用于运行存储在存储器中的计算机程序5032,以实现如下步骤:
步骤S1,读取固态硬盘的信息;
步骤S2,判断固态硬盘的信息中的VID和DID是否符合预先设定;若不符合预先设定,则记录固态硬盘不良。
步骤S3,若符合预先设定,则读取固态硬盘的状态;
步骤S4,判断固态硬盘的状态中SMART Warning是否为FFh;
步骤S5,若SMART Warning为FFh,则记录固态硬盘当前的合成温度值;
步骤S6,对固态硬盘进行数据写入;
步骤S7,判断固态硬盘当前的合成温度值是否大于设定阈值;
步骤S8,若大于设定阈值,则停止对固态硬盘进行数据写入;
步骤S9,读取固态硬盘的状态;
步骤S10,判断固态硬盘的状态中SMART Warning是否为DFh;
步骤S11,若SMART Warning为DFh,则表示温度报警事件触发成功,记录固态硬盘当前的合成温度值;
步骤S12,将固态硬盘自动电源状态转换功能关闭,并将固态硬盘设置为低功耗状态;
步骤S13,判断固态硬盘的电源状态是否为低功耗状态;若电源状态不为低功耗状态,则记录固态硬盘不良,进入低功耗状态失败。
步骤S14,若电源状态为低功耗状态,则判断SMBUS是否能正常响应并返回硬盘信息;
步骤S15,若SMBUS能正常响应并返回硬盘信息,则表示SMBUS在低功耗状态正常运行。
应当理解,在本申请实施例中,处理器502可以是中央处理单元(CentralProcessing Unit,CPU),该处理器502还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(DigitalSignal Processor,DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。其中,通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
本领域普通技术人员可以理解的是实现上述实施例的方法中的全部或部分流程,是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成。该计算机程序包括程序指令,计算机程序可存储于一存储介质中,该存储介质为计算机可读存储介质。该程序指令被该计算机系统中的至少一个处理器执行,以实现上述方法的实施例的流程步骤。
因此,本发明还提供一种存储介质。该存储介质可以为计算机可读存储介质。该存储介质存储有计算机程序,其中计算机程序包括程序指令,所述程序指令当被处理器执行时可实现上述的SSD SMBUS温度报警及低功耗状态的测试验证方法。该存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序包括程序指令,所述程序指令当被处理器执行时可实现上述的方法。该程序指令包括以下步骤:
步骤S1,读取固态硬盘的信息;
步骤S2,判断固态硬盘的信息中的VID和DID是否符合预先设定;若不符合预先设定,则记录固态硬盘不良。
步骤S3,若符合预先设定,则读取固态硬盘的状态;
步骤S4,判断固态硬盘的状态中SMART Warning是否为FFh;
步骤S5,若SMART Warning为FFh,则记录固态硬盘当前的合成温度值;
步骤S6,对固态硬盘进行数据写入;
步骤S7,判断固态硬盘当前的合成温度值是否大于设定阈值;
步骤S8,若大于设定阈值,则停止对固态硬盘进行数据写入;
步骤S9,读取固态硬盘的状态;
步骤S10,判断固态硬盘的状态中SMART Warning是否为DFh;
步骤S11,若SMART Warning为DFh,则表示温度报警事件触发成功,记录固态硬盘当前的合成温度值;
步骤S12,将固态硬盘自动电源状态转换功能关闭,并将固态硬盘设置为低功耗状态;
步骤S13,判断固态硬盘的电源状态是否为低功耗状态;若电源状态不为低功耗状态,则记录固态硬盘不良,进入低功耗状态失败。
步骤S14,若电源状态为低功耗状态,则判断SMBUS是否能正常响应并返回硬盘信息;
步骤S15,若SMBUS能正常响应并返回硬盘信息,则表示SMBUS在低功耗状态正常运行。
在一实施例中,所述读取固态硬盘的信息步骤之前,还包括:检查固态硬盘控制器数据结构是否支持SMBUS;若支持SMBUS,则开启SMBUS功能。
在一实施例中,所述判断固态硬盘的状态中SMART Warning是否为FFh步骤之后,还包括:若SMART Warning不为FFh,则表示检查到温度报警事件,记录固态硬盘当前的合成温度值。
在一实施例中,所述判断固态硬盘当前的合成温度值是否大于设定阈值步骤之后,还包括:若不大于设定阈值,则继续对固态硬盘进行数据写入5分钟,再判断固态硬盘当前的合成温度值是否大于设定阈值,若仍不大于设定阈值,则表示温度感应器出现故障。
所述存储介质可以是U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory,ROM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的计算机可读存储介质。
本领域普通技术人员可以意识到,结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤,能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现,为了清楚地说明硬件和软件的可互换性,在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
在本发明所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的装置和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的。例如,各个单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式。例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。
本发明实施例方法中的步骤可以根据实际需要进行顺序调整、合并和删减。本发明实施例装置中的单元可以根据实际需要进行合并、划分和删减。另外,在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以是两个或两个以上单元集成在一个单元中。
该集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个存储介质中。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分,或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,终端,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。
上述实施例为本发明较佳的实现方案,除此之外,本发明还可以其它方式实现,在不脱离本技术方案构思的前提下任何显而易见的替换均在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.SSD SMBUS温度报警及低功耗状态的测试验证方法,其特征在于,包括以下步骤:
读取固态硬盘的信息;
判断固态硬盘的信息中的VID和DID是否符合预先设定;
若符合预先设定,则读取固态硬盘的状态;
判断固态硬盘的状态中SMART Warning是否为FFh;
若SMART Warning为FFh,则记录固态硬盘当前的合成温度值;
对固态硬盘进行数据写入;
判断固态硬盘当前的合成温度值是否大于设定阈值;
若大于设定阈值,则停止对固态硬盘进行数据写入;
读取固态硬盘的状态;
判断固态硬盘的状态中SMART Warning是否为DFh;
若SMART Warning为DFh,则表示温度报警事件触发成功,记录固态硬盘当前的合成温度值;
将固态硬盘自动电源状态转换功能关闭,并将固态硬盘设置为低功耗状态;
判断固态硬盘的电源状态是否为低功耗状态;
若电源状态为低功耗状态,则判断SMBUS是否能正常响应并返回硬盘信息;
若SMBUS能正常响应并返回硬盘信息,则表示SMBUS在低功耗状态正常运行。
2.根据权利要求1所述的SSD SMBUS温度报警及低功耗状态的测试验证方法,其特征在于,所述读取固态硬盘的信息步骤之前,还包括:检查固态硬盘控制器数据结构是否支持SMBUS;若支持SMBUS,则开启SMBUS功能。
3.根据权利要求1所述的SSD SMBUS温度报警及低功耗状态的测试验证方法,其特征在于,所述判断固态硬盘的状态中SMART Warning是否为FFh步骤之后,还包括:若SMARTWarning不为FFh,则表示检查到温度报警事件,记录固态硬盘当前的合成温度值。
4.根据权利要求1所述的SSD SMBUS温度报警及低功耗状态的测试验证方法,其特征在于,所述判断固态硬盘当前的合成温度值是否大于设定阈值步骤之后,还包括:若不大于设定阈值,则继续对固态硬盘进行数据写入5分钟,再判断固态硬盘当前的合成温度值是否大于设定阈值,若仍不大于设定阈值,则表示温度感应器出现故障。
5.SSD SMBUS温度报警及低功耗状态的测试验证装置,其特征在于,包括:第一读取单元,第一判断单元,第二读取单元,第二判断单元,记录单元,写入单元,第三判断单元,停止单元,第三读取单元,第四判断单元,触发记录单元,关闭设置单元,第五判断单元,第六判断单元及运行单元;
所述第一读取单元,用于读取固态硬盘的信息;
所述第一判断单元,用于判断固态硬盘的信息中的VID和DID是否符合预先设定;
所述第二读取单元,用于若符合预先设定,则读取固态硬盘的状态;
所述第二判断单元,用于判断固态硬盘的状态中SMART Warning是否为FFh;
所述记录单元,用于若SMART Warning为FFh,则记录固态硬盘当前的合成温度值;
所述写入单元,用于对固态硬盘进行数据写入;
所述第三判断单元,用于判断固态硬盘当前的合成温度值是否大于设定阈值;
所述停止单元,用于若大于设定阈值,则停止对固态硬盘进行数据写入;
所述第三读取单元,用于读取固态硬盘的状态;
所述第四判断单元,用于判断固态硬盘的状态中SMART Warning是否为DFh;
所述触发记录单元,用于若SMART Warning为DFh,则表示温度报警事件触发成功,记录固态硬盘当前的合成温度值;
所述关闭设置单元,用于将固态硬盘自动电源状态转换功能关闭,并将固态硬盘设置为低功耗状态;
所述第五判断单元,用于判断固态硬盘的电源状态是否为低功耗状态;
所述第六判断单元,用于若电源状态为低功耗状态,则判断SMBUS是否能正常响应并返回硬盘信息;
所述运行单元,用于若SMBUS能正常响应并返回硬盘信息,则表示SMBUS在低功耗状态正常运行。
6.根据权利要求5所述的SSD SMBUS温度报警及低功耗状态的测试验证装置,其特征在于,还包括:检查单元,用于检查固态硬盘控制器数据结构是否支持SMBUS;若支持SMBUS,则开启SMBUS功能。
7.根据权利要求5所述的SSD SMBUS温度报警及低功耗状态的测试验证装置,其特征在于,还包括:检查记录单元,用于若SMART Warning不为FFh,则表示检查到温度报警事件,记录固态硬盘当前的合成温度值。
8.根据权利要求5所述的SSD SMBUS温度报警及低功耗状态的测试验证装置,其特征在于,还包括:写入判断单元,用于若不大于设定阈值,则继续对固态硬盘进行数据写入5分钟,再判断固态硬盘当前的合成温度值是否大于设定阈值,若仍不大于设定阈值,则表示温度感应器出现故障。
9.一种计算机设备,其特征在于,所述计算机设备包括存储器及处理器,所述存储器上存储有计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-4中任一项所述的SSD SMBUS温度报警及低功耗状态的测试验证方法。
10.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序包括程序指令,所述程序指令当被处理器执行时可实现如权利要求1-4中任一项所述的SSDSMBUS温度报警及低功耗状态的测试验证方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202210375982.7A CN115525486A (zh) | 2022-04-11 | 2022-04-11 | Ssd smbus温度报警及低功耗状态的测试验证方法及装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN202210375982.7A CN115525486A (zh) | 2022-04-11 | 2022-04-11 | Ssd smbus温度报警及低功耗状态的测试验证方法及装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN115525486A true CN115525486A (zh) | 2022-12-27 |
Family
ID=84696395
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202210375982.7A Pending CN115525486A (zh) | 2022-04-11 | 2022-04-11 | Ssd smbus温度报警及低功耗状态的测试验证方法及装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN115525486A (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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