TWI791340B - 電阻器 - Google Patents
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Abstract
一種電阻器,其包括電阻本體、第一電極組件以及第二電極組件。電阻本體包括電阻層。第一電極組件包括對稱分佈於電阻層之兩側的二個第一電極,其中第一電極與電阻層電連接。第二電極組件包括對稱分佈於電阻層之兩側的二個第二電極,其中第二電極與電阻層電連接,且位於電阻層同一側的第一電極及第二電極分別與電阻層連接的位置具有等電位。本發明的電阻器通過伏安法檢測不會產生壓降,提高伏安法檢測阻值精度測量的準確性,故可以適用於對電阻值精度有高度要求的精密電路。
Description
本發明有關於一種電阻器,且特別是一種具有四個電極的電阻器,其透過四個電極的特性改變內部線路結構讓電流及電壓端量測不受干擾,故可以有效穩定元件單體之上板阻值(on board resistance)及上板後的穩定性。
目前,對待測電阻器的阻值測量,常採用伏安法進行檢測,即,將電壓表與待測電阻器進行並聯,並將電流錶與待測電阻器進行串聯。然而,目前的電阻器通常為兩個電極,在進行電壓檢測與電流檢測時,均是以這兩個電極作為檢測點來進行檢測,測量結果會受到壓降的影響,尤其是在對高精度阻值的待測電阻器進行阻值測量時,測量結果是待測電阻器的阻值精度測量值不準確。
目前的趨勢是檢測儀器需越來越精密,故對於電流檢測用電阻也要求越來越高,從以往5%精度需求一直往高精度方向需求越來越多,目前已經進入0.1%精度,但以往所謂的量測精度只局限於在單體上量測,且實際在電路板應用上卻達不到精度要求,以至於元件量測與實際上板後所測量到的阻值精度有一定的落差,而沒有達到實際0.1%的精度需求。
進一步地說,以往傳統部分電阻器僅有兩個電極,且使用的量測方法為電流電壓共線,測量結果會受到導線壓降的影響而造成精確度的損失。為了提升量測精度,針對兩個電極的電阻器,有人提出了四線量
測法,此方法是將電壓及電流分離但實質上還是在同一電極上量測,故實質上還是會受到干擾,所量測到的阻值會包含電極銅的部分,故此電阻器因包括了電極銅的阻值且受到溫飄而影響精度。
雖然目前業界已經有人提供了四電極的電阻器,但此電阻器採用上下導通方式,雖然是將電流點與電壓點分開了,但因為電壓電極的探針位置仍會採集到部分電極銅的阻值,導致量測到的阻值受到影響。因此,業界上對於能有效穩定元件單體之上板阻值(on board resistance)及上板後的穩定性之電阻器仍有迫切需求。
本發明的主要目的是提供一種電阻器,旨在解決兩個電極的電阻器採用伏安法進行檢測受到壓降影響而導致阻值精度有不夠準確的技術問題。於本發明技術方案中,電阻器的電阻本體包括電阻層,電阻器的第一電極組件包括對稱分佈於電阻層兩側的二個第一電極,第一電極與電阻層電連接,電阻器的第二電極組件包括對稱分佈於電阻層兩側的二個第二電極,第二電極與電阻層電連接,且位於電阻層同一側的第一電極及第二電極分別與電阻層連接的位置具有等電位。
根據上述電阻器的結構設計,在採用伏安法對本發明的電阻器進行檢測時,電壓表與電阻器的二個第一電極並聯,電流錶與電阻器的二個第二電極串聯,由於位於電阻層同一側的第一電極及第二電極分別與電阻層連接的位置具有等電位,第一電極與第二電極之間無壓降,電壓錶測得的電壓不會受到干擾,因此由電壓錶測得的電壓與電流錶測得的電流算出的電阻器的阻值準確性
高。本發明的電阻器通過伏安法檢測不會產生壓降,提高伏安法檢測阻值精度測量的準確性。
簡言之,本發明的電阻器具有四個電極,且其利用四個電極的特性改變內部線路結構讓電流及電壓端量測不受干擾,故可以有效穩定元件單體之上板阻值及上板後的穩定性。
1:電阻本體
11:電阻層
12:防焊層
2:第一電極組件
21:第一電極
22:第一導線
221:第一直導線
222:第二直導線
223:第五直導線
23、24、33:導線
3:第二電極組件
31:第二電極
32:第二導線
321:第三直導線
322:第四直導線
51:支撐層
52:黏著層
54、55:電極層
W1、X1、X2、X3、X4、X'1、X'2、X'3、X'4、R1、R'1、Y1、Z1:間距
W2、W3、S1、S'1、S2、S'2、R2、Y2、Y3、Z2、Z3:寬度
W4、Y4、Z4:長度
PH1、PH2、PH3、PH4、VH1、VH2:投影線
提供的附圖用以使本發明所屬技術領域具有通常知識者可以進一步理解本發明,並且被併入與構成本發明之說明書的一部分。附圖示出了本發明的示範實施例,並且用以與本發明之說明書一起用於解釋本發明的原理。
圖1為本發明一實施例中電阻器的結構示意圖。
圖2為本發明另一實施例中電阻器的結構示意圖。
圖3為本發明又一實施例中電阻器的結構示意圖。
圖4為本發明又一實施例中電阻器的結構示意圖。
圖5為本發明又一實施例中電阻器的結構示意圖。
圖6為本發明又一實施例中電阻器的結構示意圖。
圖7為本發明一實施例中電阻器的封裝結構示意圖。
圖8為本發明另一實施例中電阻器的封裝結構示意圖。
圖9為本發明一實施例中電阻器的封裝結構的剖面示意圖。
圖10為本發明另一實施例中電阻器的封裝結構的剖面示意圖。
圖11為本發明又一實施例中電阻器的封裝結構的剖面示意圖。
為利貴審查員瞭解本發明之技術特徵、內容與優點及其所能達成之功效,茲將本發明配合附圖,並以實施例之表達形式詳細說明如下,而其中所使用之圖式,其主旨僅為示意及輔助說明書之用,未必為本發明實施後之真實比例與精準配置,故不應就所附之圖式的比例與配置關係解讀、侷限本發明於實際實施上的權利範圍,合先敘明。
本發明提出一種電阻器,係在電阻本體的電阻層之相對兩側對稱地設置用於電壓錶的兩個第一電極,以及在電阻本體的電阻層之相對兩側對稱地設置用於連接電流錶的兩個第二電極。每一個第一電極透過第一導線電性連接於電阻層,每一個第二電極則可以直接或透過第二導線電性連接於電阻層,且電阻器被設計成位於電阻層同一側的第一電極及第二電極分別與電阻層連接的位置具有等電位,以解決傳統兩個電極的電阻器採用伏安法進行檢測受到壓降影響而導致阻值精度有不夠準確的技術問題。
請參照圖1,圖1為本發明一實施例中電阻器的結構示意圖。在圖1中,電阻器包括電阻本體1、第一電極組件2以及第二電極組件3。電阻本體1包括電阻層11。第一電極組件2包括對稱分佈於電阻層11兩側(例如電阻層11的左右兩側)的二個第一電極21。第二電極組件3包括對稱分佈於電阻層11兩側(例如電阻層11的左右兩側)的二個第二電極31。第一電極21與第二電極31與電阻層11電連接。電阻器的第一電極21及第二電極31可以經過適當設計,而使得位於電阻層11左側的第一電極21及第二電極31分別與電阻層11連接的位置具有等電位,以及位於電阻層11右側的第一電極21及第二電極31分別與電阻層11連接的位置具有等電位。
採用伏安法對本發明的電阻器進行檢測時,電壓錶與電阻器的二個第一電極21並聯,電流錶與電阻器的二個第二電極31串聯,由於位
於電阻層11同一側的第一電極21及第二電極31分別與電阻層11連接的位置具有等電位,第一電極21與第二電極31之間無壓降,電壓錶測得的電壓不會受到干擾,因此由電壓表測得的電壓與電流錶測得的電流算出的電阻器的阻值準確性高。本發明的電阻器通過伏安法檢測不會產生壓降,提高伏安法檢測阻值精度測量的準確性。
在圖1的實施例中,電阻層11之同一側的第一電極21與第二電極31的長度、寬度相同,而且對稱地分佈於電阻層11的另外兩側(例如電阻層11的上下兩側),即兩者的尺寸與面積相同。於此實施例中,第一電極組件2還包括兩個第一導線22,每一個第一導線22的一端與一個第一電極21連接,每一個第一導線22的另一端與電阻層11連接。第二電極組件3還包括兩個第二導線32,每一個第二導線32的一端與一個第二電極31連接,每一個第二導線32的另一端與電阻層11連接,且位於電阻層11同一側的第一導線22及第二導線32分別與電阻層11連接的位置具有等電位。
在此實施例中,為了讓電壓錶之探針與電流錶之探針可以連接於第一電極21與第二電極31之非干擾區,設計上會使第一電極21與第二電極31之干擾區盡量減小,來避免減小第一電極21與電阻層11之間的相互影響,以及減少第二電極31與電阻層11之間的相互影響,以藉此在電阻器通電後,位於電阻層11同一側的第一導線22及第二導線32分別與電阻層11連接的位置可以具有等電位。
為了達到上述目的,此實施例會將第一導線22的寬度S2設計成比第一電極21的連接端部的寬度S1小,以及將第二導線32的寬度S'2設計成比第二電極31的連接端部的寬度S'1小(註,於此實施例中,同一側的第二導線32與第一導線22彼此長度、寬度相同,而分佈對稱於電阻11的另外兩側,但本發明不以此為限制)。藉由上述設計,本發明的電阻器可利用上述
四個電極(兩個第一電極21與兩個第二電極31)的設計來改變內部線路結構讓電流及電壓端量測不受干擾,可以有效穩定元件單體之上板阻值及上板後的穩定性。
進一步地,每一個第一導線22包括相互垂直連接的第一直導線221與第二直導線222,第一直導線221遠離第二直導線222的一端與一個第一電極21連接,第二直導線222遠離第一直導線221的一端與電阻層11連接,且位於電阻層11同一側的第二導線32及第二直導線222分別與電阻層11連接的位置具有等電位。
另外,若電阻層11於水平方向(從左側到右側的方向)上的投影線PH1重疊於兩個第一直導線221任一者於水平方向上的投影線PH2,則阻值量測上會多了一塊干擾區,並降低阻值量測精度,因此,設計上會讓電阻層11之相對兩側(左右兩側)的間距X4、兩個第一直導線221之兩端間距X2、X3與兩個第一電極21之間間距X1滿足X4(X1-X2-X3)的關係式(即,兩個第一直導線221之兩端間距X2、X3與電阻層11之相對兩側的間距X4之和小於或等於二個第一電極21之間間距X1),以藉此讓電阻層11於水平方向上的投影線PH1不重疊於兩個第一直導線221於水平方向上的投影線PH2。
類似地,第二導線32包括相互垂直連接的第三直導線321與第四直導線322,第三直導線321遠離第四直導線322的一端與第二電極31連接,第四直導線322遠離第三直導線321的一端與電阻層11連接,且位於電阻層11同一側的第二直導線222及第四直導線322分別與電阻層11連接的位置具有等電位,其中於此實施例中,第三直導線321與第一直導線221彼此長度、寬度相同,但本發明不以此為限制。
另外,若電阻層11於水平方向(從左側到右側的方向)上的投影線PH1重疊於兩個第三直導線321任一者於水平方向上的投影線PH3,則阻值量測上會多了一塊干擾區,並降低阻值量測精度,因此,設計上會讓電阻層11之相對兩側(左右兩側)的間距X4、兩個第三直導線321之兩端間距X'2、X'3與兩個第二電極31之間間距X'1滿足X4(X'1-X'2-X'3)的關係式(即,兩個第三直導線321之兩端間距X'2、X'3與電阻層11之相對兩側的間距X4之和小於或等於二個第二電極31之間間距X'1),以藉此讓電阻層11於水平方向上的投影線PH1不重疊於兩個第一直導線221於水平方向上的投影線PH3。
請參照圖2,圖2為本發明另一實施例中電阻器的結構示意圖。不同於圖1的實施例,於此實施例中,電阻器更包括第五直導線223,其中第二直導線222與第四直導線322共線,並通過第五直導線223連接,且第五直導線223的側邊與電阻層11連接。當電阻器的導通長度小時,可將第二直導線222與第四直導線322共線,並通過第五直導線223連接,第五直導線223的側邊與電阻層11的接線端連接。
在此實施例中,此實施例會將第一導線22的寬度S2設計成比第一電極21的連接端部的寬度S1小,以及將第二導線32的寬度S'2設計成比第二電極31的連接端部的寬度S'1小,如此,第一電極21與第二電極31可以具有干擾區IR之外的非干擾區FR,以讓電流錶與電壓錶可以將探針配置於非干擾區FR,其中非干擾區FR內不同位置偏移量測,量測的精準度不會受到影響,使量測系統重複性趨近一致。
另外,當第一電極21與第二電極31為電流及電壓的關係時,當第五直導線223的寬度R2大於第一電極21與電阻層11之水平方向的間距R1時,作為電壓端偵測使用的第一電極21會多一段干擾區,此干擾區就是
會改變電流及電壓路徑,且可能會影響非干擾區的空間,導致影響阻值穩定度。因此,設計上會使得第五直導線223的寬度R2小於等於第一電極21與電阻層11之水平方向的間距R1,即R2R1。類似地,為了避免將第一電極21與第二電極31互換使用(即第一電極21與第二電極31分別改接電流錶與電壓錶)時也有類似問題,設計上會使得第五直導線223的寬度R2小於等於第二電極31與電阻層11之水平方向的間距R'1。
請參照圖3,圖3為本發明又一實施例中電阻器的結構示意圖。不同於圖1的實施例,圖3的第一電極21僅透過水平方向上的導線23電性連接於電阻層11,以及第二電極31不透過任何的導線而直接地與電阻層11電性連接。每一個導線23的一端與一個第一電極21連接,且每一個導線23的另一端與電阻層11連接。在電阻器通電後,位於電阻層11同一側的導線23及第二電極31分別與電阻層11連接的位置具有等電位。
另外,如前面所述,為了減少干擾,使得量測的阻值具有穩定性,會設計使得導線23的寬度Y2、第二電極31的寬度Y3、第二電極31與導線23之間間距Y1以及電阻層11於垂直方向上的長度Y4滿足Y4(Y1+Y2+Y3)的關係式(即,導線23的寬度Y2、第二電極31的寬度Y3以及第二電極31與導線23之間間距Y1之和大於等於電阻層11於垂直方向上的長度Y4),以藉此讓電阻層11於垂直方向上的投影線VH1僅部分而非完全重疊於第一電極21於垂直方向上的投影線VH2,使得第一電極21仍有部分的非干擾區可以供量測的探針接觸。
請參照圖4,圖4為本發明又一實施例中電阻器的結構示意圖。不同於圖1的實施例,圖4的第一電極21與第二電極31分別僅透過水平方向上的導線23、33電性連接於電阻層11。每一個導線23的一端與一個第一電極21連接,且每一個導線23的另一端與電阻層11連接。每一個導線33的一端與一個第二電極
31連接,且每一個導線33的另一端與電阻層11連接。在電阻器通電後,位於電阻層11同一側的導線23、33與電阻層11連接的位置具有等電位。
另外,如前面所述,為了減少干擾,使得量測的阻值具有穩定性,會設計使得導線23的寬度Z2、導線33的寬度Z3、導線23、33之間間距Z1以及電阻層11於垂直方向上的長度Z4滿足Z4(Z1+Z2+Z3)的關係式(即,導線23的寬度Z2、導線33的寬度Z3以及導線23、33之間間距Z1之和大於等於電阻層11於垂直方向上的長度Z4),以藉此讓電阻層11於垂直方向上的投影線VH1僅部分而非完全重疊於第一電極21於垂直方向上的投影線VH2,使得第一電極21仍有部分的非干擾區可以供量測的探針接觸。
請參照圖5,圖5為本發明又一實施例中電阻器的結構示意圖。不同於圖1的實施例,圖5的第一電極21僅透過垂直方向上的導線24電性連接於電阻層11,以及第二電極31不透過任何的導線而直接地與電阻層11電性連接。每一個導線24的一端與一個第一電極21連接,且每一個導線24的另一端與電阻層11連接。在電阻器通電後,位於電阻層11同一側的導線23及第二電極31分別與電阻層11連接的位置具有等電位。
另外,如前面所述,為了減少干擾,使得量測的阻值具有穩定性,會設計使得兩側之導線24於水平方向上的寬度W2、W3、兩側之導線24之間間距W1以及電阻層11於水平方向上的長度W4滿足W4(W1-W2-W3)的關係式(即,電阻層11於水平方向上的長度W4與兩側之導線24於水平方向上的寬度W2、W3之和小於等於側之導線24之間間距W1),以藉此讓電阻層11於水平方向上的投影線PH1不重疊於第一電極21於水平方向上的投影線PH4。
請參照圖6,圖6為本發明又一實施例中電阻器的結構示意圖。不同於圖2的實施例,第一電極21與第二電極31的尺寸不同,例如兩者寬度相同,但兩者長度不同,但本發明不以此為限制,也有可能是兩者長度、寬度彼此相同。
為了方便實際封裝的情況,能夠容置第一電極21與第二電極31的區域有可能大小不同,故需要將第一電極21與第二電極31的設計成尺寸不同。
於上述各實施例中,進一步地,電阻本體1還包括支撐層(未圖示),支撐層分別與電阻層11、第一電極組件2以及第二電極組件3連接。本實施例中,電阻層11、第一電極組件2以及第二電極組件3分別貼設在支撐層上,電阻本體1、第一電極組件2以及第二電極組件3均固定在支撐層上,從而可以避免第一電極組件2及第二電極組件3與電阻本體1之間產生位移,保證電阻器的正常工作順利進行,還可進一步保證電阻器在測試結果的準確性。
除此之外,上述第一導線22、第二導線32、導線23、24與33可以選擇性地鍍銅或不鍍銅。鍍銅雖然可以將第一導線22、第二導線32、導線23、24與33的電阻率降低,使得量測的阻值穩定度更好。然而,鍍銅後在防焊層塗覆後,會使得第一導線22、第二導線32、導線23、24與33對應的第一電極21與第二電極31產生位置上的高低差,在電阻器上板打件後,因為第一導線22、第二導線32、導線23、24與33較高,會造成第一電極21與第二電極31的焊接區懸空,導致電阻器失效,故較佳地,第一導線22、第二導線32、導線23、24與33不鍍銅。
請參照圖7與圖8,圖7為本發明一實施例中電阻器的封裝結構示意圖,以及圖8為本發明另一實施例中電阻器的封裝結構示意圖。電阻本體1還包括防焊層12,防焊層12塗覆於電阻層11背離支撐層的一側,且防焊層12還塗覆於二個相對設置的第一電極21之間、二個相對設置的第二電極31之間、以及相鄰的第一電極21與第二電極31之間。為了使得電阻器的貼片品質高,電阻本體1還包括防焊層12,防焊層12塗覆於電阻層11背離支撐層的一側,且防焊層12還塗覆於二個相對設置的第一電極21之間、二個相對設置的第二電極31之間、以及相鄰的第一電極21與第二電極31之間,防焊層12可有效避免電阻層11、第一電極21以及第二電極31之間短路。
請接著參照圖9,圖9為本發明一實施例中電阻器的封裝結構的剖面示意圖。於圖9實施例中,電阻器是由支撐層51、黏著層52、電阻層11、電極層54與防焊層12構成。黏著層52位於支撐層51之上,用於將電阻層11黏接於支撐層51。電阻層11位於黏著層52之上,以及電極層54與防焊層12形成電阻層11之上,且防焊層12位於電極層54之第一電極21與第二電極31之間,防焊層12還位於電極層54之兩個第一電極21之間,以及防焊層12更位於電極層54之兩個第二電極31之間。
請接著參照圖10,圖10為本發明另一實施例中電阻器的封裝結構的剖面示意圖。不同於圖9的實施例,電阻器是由支撐層51、電阻層11、電極層54與防焊層12構成,即缺少了黏著層52,其中電阻層11直接形成於支撐層51之上。
請接著參照圖11,圖11為本發明又一實施例中電阻器的封裝結構的剖面示意圖。不同於前面兩個實施例,電阻器是由電阻層11、電極層54、55與防焊層12構成,其中電極層54、55分別位於電阻層11之上與之下。於此實施例中,第一電極21可以是由電極層54形成,以及第二電極31可以是由電極層55形成,也就是透過兩個電極層54、55來形成四電極結構,而非前面實施例僅由一個電極層54來形成四電極結構,此結構特別適用於垂直電性電接的應用之中,例如先進的三維封裝技術。
綜上所述,本發明之電阻器可切確地能解決先前技術的問題(傳統兩個電極的電阻器採用伏安法進行檢測受到壓降影響而導致阻值精度有不夠準確的技術問題)與達到特定的技術效果(有效穩定元件單體之上板阻值及上板後的穩定性),且本發明亦未曾公開於申請前,誠已完全符合專利法之規定與要求。爰依法提出發明專利之申請,懇請惠予審查,並賜准專利,則實感德便。
惟,上述所揭之圖示及說明,僅為本發明之較佳實施例,非為限定本發明之保護範圍;大凡熟悉該項技藝之人士,其所依本發明之特徵範疇,所作之其它等效變化或修飾,皆應視為不脫離本發明之設計範疇。
1:電阻本體
11:電阻層
2:第一電極組件
21:第一電極
22:第一導線
221:第一直導線
222:第二直導線
3:第二電極組件
31:第二電極
32:第二導線
321:第三直導線
322:第四直導線
X1、X2、X3、X4、X'1、X'2、X'3、X'4:間距
S1、S'1、S2、S'2:寬度
PH1、PH2、PH3:投影線
Claims (11)
- 一種電阻器,包括:電阻本體,所述電阻本體包括電阻層;第一電極組件,所述第一電極組件包括對稱分佈於所述電阻層兩側的二個第一電極,所述第一電極與所述電阻層電連接;第二電極組件,所述第二電極組件包括對稱分佈於所述電阻層兩側的二個第二電極,所述第二電極與所述電阻層電連接,且位於所述電阻層同一側的所述第一電極及所述第二電極分別與所述電阻層連接的位置具有等電位;其中所述第一電極組件還包括第一導線,所述第一導線的一端與所述第一電極連接,所述第一導線的另一端與所述電阻層連接;所述第二電極組件還包括第二導線,所述第二導線的一端與所述第二電極連接,所述第二導線的另一端與所述電阻層連接,且位於所述電阻層同一側的所述第一導線及所述第二導線分別與所述電阻層連接的位置具有等電位;其中所述第一導線包括相互垂直連接的第一直導線與第二直導線,所述第一直導線遠離所述第二直導線的一端與所述第一電極連接,所述第二直導線遠離所述第一直導線的一端與所述電阻層連接,且位於所述電阻層同一側的所述第二導線及所述第二直導線分別與所述電阻層連接的位置具有等電位。
- 如請求項1所述之電阻器,其中所述第二導線包括相互垂直連接的第三直導線與第四直導線,所述第三直導線遠離所述第四直導線的一端與所述第二電極連接,所述第四直導線遠離所述第三直導線的一端與所述電阻層連接,且位於所述電阻層同一側的所述第二直導線及所述第四直導線分別與所述電阻層連接的位置具有等電位。
- 如請求項3所述之電阻器,其中所述第二直導線與所述第四直導線共線,並通過第五直導線連接,所述第五直導線的側邊與所述電阻層連接。
- 如請求項5所述之電阻器,其中所述第一導線的寬度比所述第一電極的連接端部的寬度小,以及所述第二導線的寬度比所述第二電極的連接端部的寬度小。
- 如請求項6所述之電阻器,其中所述第五直導線的寬度小於等於所述第一電極與所述電阻層之第一方向的間距,以及所述第五直導線的寬度小於等於所述第二電極與所述電阻層之所述第一方向的間距,其中所述第一方向為所述電阻層的所述一側至所述另一側的方向。
- 如請求項1-7其中任一項所述之電阻器,其中所述第一電極的尺寸相同於所述第二電極的尺寸。
- 如請求項1-7其中任一項所述之電阻器,其中所述電阻器由支撐層、黏著層、電阻層、電極層與防焊層構成,其中所述黏著層位於所述支撐層之上,並用於將所述電阻層黏接於所述支撐層,所述電阻層位於所述黏著層之上,以及所述電極層與防焊層形成所述電阻層之上,其中所述兩個第一電極與所述兩個第二電極形成於所述電極層。
- 如請求項1-7其中任一項所述之電阻器,其中所述電阻器由支撐層、電阻層、電極層與防焊層構成,其中所述電阻層位於所述支撐層之上,以及所述電極層與防焊層形成所述電阻層之上,其中所述兩個第一電極與所述兩個第二電極形成於所述電極層。
- 如請求項1-7其中任一項所述之電阻器,其中所述電阻器是由電阻層、兩個電極層與防焊層構成,其中所述兩個電極層分別位於所述電阻層之上與之下,所述兩個第一電極形成於所述電極層,以及所述兩個第二電極形成於所述另一個電極層。
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