TWI784638B - 光柵耦合器、光通訊系統以及光柵耦合器製造方法 - Google Patents

光柵耦合器、光通訊系統以及光柵耦合器製造方法 Download PDF

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Abstract

本文中實施例公開一種集成在光子使能電路中的光柵耦 合器和其製造方法。在一些實施例中，光柵耦合器包含：基底，包括矽晶圓；第一光柵區，蝕刻到基底中，其中第一光柵區包括具有第一預定高度的多個第一光柵；以及第二光柵區，蝕刻到基底中，其中第二光柵區包括具有第二預定高度的多個第二光柵，且其中第一預定高度和第二預定高度不相同。

Description

光柵耦合器、光通訊系統以及光柵耦合器製造方法
本發明實施例是有關於一種光柵耦合器、光通訊系統以及光柵耦合器製造方法。
光子集成是未來光通訊技術進步的關鍵技術。按比例縮小的光學構建元件實現有成本效益的、複雜的且超緊湊的光子電路，即包括形成於基底上或基底中的積體光柵耦合器(grating coupler；GC)且通過將進入或離開光子積體電路(photonic integrated circuit；PIC)的光耦合到自由空間中或耦合到光纖的光學裝置來互連的晶片。
這些光柵耦合器是有利的，因為其可在平面平臺(即，半導體基底)中或在平面平臺上緊密地結合在一起，以形成類似於積體電路(integrated circuit；IC)的平面封裝。此外，GC提供緊湊尺寸、易於製造、靈活放置以及晶圓級測試。此外，類似於半導體電子IC中的導體跡線的GC安裝於矽基底中或矽基底上，且可用於將光引導到PIC上的各種光學、電光以及光電子裝置或 元件。
在許多矽光子應用中，期望具有高耦合效率和寬頻寬的GC。此外，需要使用可見光的傳感應用，如LiDAR、具有減少的背反射的GC。由背反射引起的光學雜訊可增加干涉式裝置中的光學不穩定性且產生紋波和/或振盪。另外，如雷射器和光電二極體的光電子裝置通常對背反射敏感，因為其有助於雜訊產生，尤其在實施光回饋方案的光學電路中。對於高效光柵耦合器，進入晶片上波導的典型背反射可為約-17分貝，同時也報告了-10分貝和-8分貝的高背反射。當前的GC和其製造方法並不提供高耦合效率和低背反射特性。出於此原因，對於可見光應用，需要低背反射GC和其製造方法。
此背景技術部分中所公開的資訊僅期望為下文所描述的本發明的各種實施例提供上下文，且因此，此背景技術部分可包含不必為現有技術資訊的資訊(即，本領域的普通技術人員已知的資訊)。因此，在此背景技術部分中描述工作的範圍內，當前署名的發明人的工作以及在提交時可能原本不具有作為現有技術的資格的描述的各方面既不明確地也不隱含地被認作是針對本公開的現有技術。
根據本發明的實施例，一種光柵耦合器包括：基底，包括矽晶圓；第一光柵區，蝕刻於所述基底中，其中所述第一光柵區包括具有第一預定高度的多個第一光柵；以及第二光柵區，蝕刻於所述基底中，其中所述第二光柵區包括具有第二預定高度的 多個第二光柵，其中所述第一預定高度和所述第二預定高度不相同。
根據本發明的實施例，一種光通訊系統，包括：光纖；以及光子積體電路，包括光柵耦合器組合件，所述光柵耦合器組合件配置成將所述光纖中攜載的光耦合到所述光子積體電路中或耦合出所述光子積體電路，其中所述光柵耦合器組合件包括：基底，包括矽晶圓；第一光柵區，蝕刻在所述基底中，其中所述第一光柵區包括具有第一預定高度的多個第一光柵；以及第二光柵區，蝕刻在所述基底中，其中所述第二光柵區包括具有第二預定高度的多個第二光柵，其中所述第一預定高度和所述第二預定高度不相同。
根據本發明的實施例，一種光柵耦合器製造方法，包括：形成基底層；將第一光柵區蝕刻到所述基底層中，其中所述第一光柵區包括具有第一預定高度的多個第一光柵；以及將第二光柵區蝕刻到所述基底層中，其中所述第二光柵區包括具有第二預定高度的多個第二光柵，其中所述第一預定高度和所述第二預定高度不相同；以及在所述第一光柵區和所述第二光柵區上形成包括二氧化矽的包覆層。
100:示例性光收發器
101:數位控制電路
102:輸出波導
103:光子晶粒
105,125:放大器
107:光電二極體
109:控制區段
111:模/數轉換器電路
113:監視光電二極體
115,121:光柵耦合器
117:光調製器
119:光輸入
120:光輸出
123:接收器(Rx)
127:小封裝可插拔(SFP)介面電路
129:雷射驅動器
131:半導體雷射器
133:分光器
135:序列介面
137:耦合器
201:電磁波譜
203:O波段
205:E波段
207:S波段
209:C波段
211:L波段
300:光柵耦合器組合件
301:透明層
303:基底層
305:基底
306:入射角
307:第一光柵底板
308:第二光柵線
309,312:第一光柵空間
310:第二光柵空間
311:光柵元件
313:第二光柵底板
400A,400B:耦合損耗和背反射損耗
401A,401B:實標繪線
402A,402B:縱軸
403A,403B:橫軸
405A,405B:第二實標繪線
409:光柵週期
501,503,505,507:步驟
H1:厚度
H2,H3:第一高度
w1,w2,w3,w4:寬度
下文參考以下圖式詳細描述本公開的各種示例性實施例。僅出於說明的目的提供圖式且僅描繪本公開的示例性實施例以促進讀者對本公開的理解。因此，圖式不應被視為限制本公開的廣度、範圍或可應用性。應注意，出於圖示的清楚性和簡易性 起見，這些圖式未必按比例繪製。
圖1為示出根據一些實施例的示例性光收發器的示意圖。
圖2示出根據一些實施例的電磁波譜和光通訊波長帶。
圖3為根據一些實施例的用於降低背反射雜訊的積體1D變跡GC組合件的截面視圖。
圖4A示出根據一些實施例的具有含有單級蝕刻光柵的一個光柵區的變跡GC的測量的耦合損耗和背反射。
圖4B示出根據一些實施例的具有含有兩個不同級別的蝕刻光柵的兩個光柵區的變跡GC的測量的耦合損耗和背反射。
圖5示出根據一些實施例的用於製造具有含有兩個不同級別的蝕刻光柵的兩個光柵區的變跡GC的方法的流程圖。
下文參考隨附圖式描述本公開的各種示例性實施例以使本領域的普通技術人員能夠製造且使用本公開。如本領域的普通技術人員將顯而易見，在閱讀本公開之後，可在不脫離本公開的範圍的情況下對本文中所描述的實例進行各種改變或修改。因此，本公開不限於本文中所描述和示出的示例性實施例和應用。另外，本文中所公開的方法中的步驟的特定次序和/或層次僅為示例性方法。基於設計偏好，可重新佈置所公開的方法或製程的步驟的特定次序或層次，同時保持在本公開的範圍內。因此，本領域的普通技術人員將理解，本文中所公開的方法和技術以示例次序呈現各種步驟或動作，且除非另外明確陳述，否則本公開不限於所呈現的特定次序或層次。
如圖1中所示出，示例性光收發器100可包含光調製器117、監視光電二極體113以及光學光柵耦合器115和光學光柵耦合器121。在一些實施例中，光調製器117可包含兩個臂波導、高速相位調製器(high speed phase modulator；HSPM)、p-i-n相位調製器(p-i-n phase modulator；PIN-OM)、驅動器、馬赫-曾德爾干涉式(Mach-Zehnder interferometric；MZI)調製器以及校準電路。此外，光調製器117可接收連續波(continuous wave；CW)光輸入。另外，輸入的CW光通過1×2耦合器分裂成兩束光，分裂後的光隨後在兩個臂波導中同相地調製，且分相調製的光在輸出處通過2×1耦合器耦合。示例性光收發器100還可包含電性裝置和電路，所述電性裝置和電路包括放大器105和放大器125、模/數轉換器電路111、數位控制電路101、光電二極體107以及控制區段109。舉例來說，放大器105和放大器125可包括跨阻抗和限幅放大器(transimpedance and limiting amplifier；TIA/LA)。在一些實施例中，放大器105通過各種輸入介面(例如，小封裝可插拔(small form-factor pluggable；SFP)介面)接收I通道資料訊號和Q通道資料作為對光收發器100的輸入。此外，放大器105輸出所輸入I通道資料和Q通道資料的放大版本。如圖1中所繪示，調製器117從放大器105接收I通道資料訊號和Q通道資料訊號。在一些實施例中，示例性光收發器100可更包括具有雷射組合件的光子晶粒103。在一些實施例中，雷射器組合件可包括一個或多個半導體雷射器131、透鏡、用於引導一個或多個連續波(CW)光訊號的旋轉器，以及一個或多個雷射驅動器129。
在另外的實施例中，示例性光收發器100可包含配置成 從雷射器131接收光訊號的耦合器137和配置成將光訊號分裂成四個大致相等的功率光訊號的分光器133。在各種實施例中，可經由光波導將分裂功率訊號從分光器133傳輸到光調製器117。在一些實施例中，分光器133可耦合到至少一個耦合器137(例如輸入波導)和至少四個輸出波導102。在一些實施例中，分光器133可包括低損耗Y型接頭功率分配器。在一些實施例中，至少一個耦合器137(例如輸入波導)可包括單偏振光柵耦合器(single polarization grating coupler；SPGC)。
在一些實施例中，光調製器117可包括(例如)馬赫-曾德爾或環形調製器，且使得能夠調製連續波(CW)雷射輸入訊號。光調製器117還可包括高速和低速相位調製區段，且由控制區段109控制。在一些實施例中，光調製器117中的每一個的輸出中的至少一個可經由光柵耦合器115光學耦合到如光纖的光輸出120。在一些實施例中，光柵耦合器115可包括單偏振光柵耦合器(SPGC)。光調製器117的其它輸出可光學耦合到配置成提供從光調製器117的輸出到區段控制109的回饋路徑的監視光電二極體113。
此外，示例性光收發器100還可利用光柵耦合器121從光輸入119接收光訊號。在其它實施例中，光柵耦合器121可包括單偏振光柵耦合器(SPGC)和/或偏振分裂光柵耦合器(polarization splitting grating coupler；PSGC)。在利用PSGC的情況下，可利用兩個輸入或輸出波導。
在一些實施例中，示例性光收發器100採用光電二極體107，其可利用直接沉積在矽上的外延鍺/SiGe膜來實施。在其它 實施例中，光電二極體107可包括(例如)高速異質結光電電晶體，且可包括用於在1.3微米到1.6微米光波長範圍內吸收的集電極和基極區中的鍺(Ge)，且可集成在CMOS絕緣體上矽(silicon-on-insulator；SOI)晶圓上。光電二極體107可配置成將從PSGC 121接收的光訊號轉換成傳送(communicate)到接收器(Rx)123的電訊號，所述接收器(Rx)123可配置成組合資料流程，且對所接收的光訊號進行多路分用。此外，所接收的光訊號可(例如)由跨阻抗放大器125放大，且隨後傳送到小封裝可插拔(SFP)介面電路127。
在一些實施例中，示例性光收發器100還可包含耦合到序列介面135且配置成通過序列介面135傳送所接收的光資料的數位控制電路101。
如圖1中所繪示，光收發器100的光柵耦合器115和光柵耦合器121使得光能夠耦合到包括光收發器100的積體電路中和耦合出包括光收發器100的積體電路。在一些實施例中，光柵耦合器115和光柵耦合器121可包含中間(medium)蝕刻光柵和淺蝕刻光柵的區。
在一些實施例中，光收發器100的傳輸或接收光學路徑可包含連接到光柵耦合器115和光柵耦合器121的光波導。在一些實施例中，光柵耦合器121也可稱為光柵耦合器對。在一些實施例中，光柵耦合器對121的第一耦合器可配置成用於橫電(transverse electric；TE)模式，且光柵耦合器對121的第二耦合器可配置成用於橫磁(transverse magnetic；TM)模式。
在一些實施例中，光柵耦合器115和光柵耦合器121可 用於在圖2中所示出的電磁波譜201中接收或傳輸光通訊。舉例來說，光柵耦合器115和光柵耦合器121可接收1260奈米到1625奈米範圍內的波長區中的光訊號。在一些實施例中，光柵耦合器115和光柵耦合器121可配置成在以下五個波長帶中的至少一個中接收和/或傳輸光訊號：O波段203、E波段205、S波段207、C波段209以及L波段211。在一些實施例中，具有1260奈米到1360奈米範圍內的光學光波長的O波段203展現最小色度色散。因而，耦合到光柵耦合器115和/或光柵耦合器121且在O波段203中攜載光通訊的光纖可展現較小傳輸損耗。
在一些其它實施例中，耦合到光柵耦合器115和/或光柵耦合器121且在城域、長途、超長途或海底光網路中攜載光通訊的光纖還可在具有1530奈米到1565奈米範圍內的光學光波長的C波段209中展現低損耗。在一些實施例中，當C波段209中可用的頻寬不足時，耦合到光柵耦合器115和/或光柵耦合器121的光纖可在具有1565奈米到1625奈米範圍內的光波長的L波段211中攜載光通訊。在各種實施例中，耦合到光柵耦合器115和/或光柵耦合器121且在具有1460奈米到1530奈米範圍內的光波長的S波段207中攜載光下行通訊的光纖還可用於無源光網路(Passive-Optical Network；PON)中。儘管由於光纖玻璃中的殘餘水(OH基團)雜質而導致衰減，但具有1360奈米到1460奈米範圍內的光波長的E波段205還可用於使用耦合到光柵耦合器115和/或光柵耦合器121的光纖來攜載光通訊，此可能是所論述的光波段當中最不期望的。
圖3示出根據一些實施例的配置有兩個不同蝕刻級別的 光柵耦合器115和/或光柵耦合器121的光柵耦合器組合件300的截面視圖。光柵耦合器組合件300將平面外光束的單偏振分量與波導偏振模式耦合。在一些實施例中，光柵耦合器組合件300可包括基底305。在一些實施例中，基底305可為用於製造積體電路的矽(Si)基底，其還可包括形成於其上的二氧化矽層。在其它實施例中，基底305可為玻璃基底。
在實施例中，光柵耦合器組合件300形成於基底層303(例如矽層)的一部分中，所述基底層303(例如矽層)還界定與光柵耦合器組合件300耦合的矽波導。基底層303(例如矽層)的總厚度由H1表示。在一些實施例，基底層303(例如矽層)的厚度H1可優選地在約200奈米到500奈米的範圍內，以便使光柵耦合器組合件300的耦合效率(coupling efficiency；CE)最大化。
在一些實施例中，光柵耦合器組合件300和矽波導可由一個或多個透明層301覆蓋，所述透明層301可保留以用於其它PIC功能。在一些實施例中，一個或多個透明層301可包含由SiO2形成的包覆層。在其它實施例中，含有光柵耦合器組合件300的基底層303(例如矽層)可具有折射率neff，而一個或多個透明層301的包覆層可具有折射率ncladding。基底層303(例如矽層)的折射率可大於一個或多個透明層301的包覆層的折射率。
在實施例中，所公開的1D光柵耦合器組合件300可包括多個光柵元件311。在一些實施例中，多個光柵元件311可配置成將平面外所接收或所傳輸的光束與積體波導耦合。在實施例中，平面外光束可經由自由空間傳播和/或光纖與多個光柵元件311耦合。
在一些實施例中，光柵耦合器組合件300包含光柵元件311(例如第一光柵線)和第一光柵空間309、312。在一些實施例中，可在數值上優化光柵元件311(例如第一光柵線)的寬度w1、第一光柵空間309、312的寬度w2以使光纖與光柵耦合器組合件300之間的模式交疊最大化，從而在給定通訊波段(例如，C波段)中產生最大耦合效率CE。此外，還在數值上優化光柵元件311(例如第一光柵線)的數目以使耦合效率CE最大化。
在一些實施例中，光柵元件311(例如第一光柵線)可優選地蝕刻到基底層303(例如矽層)。與微影組合的乾式蝕刻或濕式蝕刻可用於此目的。在一些實施例中，光柵耦合器組合件300可包含兩個或大於兩個不同的蝕刻區。舉例來說，光柵耦合器組合件300可包含中間蝕刻區和淺蝕刻區。因而，相對於第一光柵底板307測量的中間蝕刻區中的第一光柵線的第一高度H2可優選地在約70奈米到210奈米的範圍內。此外，相對於第二光柵底板313測量的淺蝕刻區中的第二光柵線308的第二高度H3可優選地在約100奈米到210奈米的範圍內。光柵耦合器組合件300中具有兩個或大於兩個不同的蝕刻區的一個示例性優點是減少背反射損耗且增加給定通訊波段中的耦合效率CE。
在一些實施例中，中間蝕刻區和淺蝕刻區的形成可包含依序(例如，執行兩個蝕刻步驟)形成用於中間蝕刻區和淺蝕刻區的預定蝕刻罩幕圖案。在一些實施例中，通過曝光方法(如電子束(electron beam；EB)曝光和全息(holographic)曝光)中的任一種形成的不同圖案化光阻可用作罩幕以乾式蝕刻基底層303(例如矽層)，以便在中間蝕刻區和淺蝕刻區中形成光柵線。
在一些實施例中，中間蝕刻區中的光柵線311的寬度w1可不同於淺蝕刻區中的第二光柵線308的寬度w3。此外，第一光柵空間309、312的寬度w2還可不同於第二光柵空間310的寬度w4。在一些實施例中，寬度w1可在約10奈米到1000奈米的範圍內，寬度w2可在約10奈米到1000奈米的範圍內，寬度w3可在約10奈米到1000奈米的範圍內，且寬度w4可在約10奈米到1000奈米的範圍內。在一些實施例中，可在數值上優化第二光柵線308的寬度w3、第二光柵空間310的寬度w4以使光纖與光柵耦合器組合件300之間的模式交疊最大化，從而在給定通訊波段(例如，C波段)中產生最大耦合效率CE和最小背反射損耗。此外，還可在數值上優化第二光柵線308的數目以使耦合效率CE最大化且減少背反射損耗。
在一些實施例中，可使用任何半導體製造技術來製造中間蝕刻光柵區和淺蝕刻光柵區。此外，具有兩個或大於兩個蝕刻光柵區的光柵耦合器組合件300可包含於光學I/O介面模組中或高速光通訊系統中。
源自製程(微影/蝕刻)變化的幾何變化可負面地影響PIC光柵耦合器對雜訊的靈敏度和耦合效率。在光柵耦合器組合件300中形成多個蝕刻光柵區(例如，中間蝕刻光柵區和淺蝕刻光柵區)的一個示例性優點是通過簡單地移位光束的操作波長來減少幾何變化的負面影響。
如圖3中所繪示，平面外光束可以入射角θ入射到光柵耦合器組合件300上。在一些實施例中，在以下情況下，入射到光柵耦合器組合件300上的平面外光束可與對應耦合波導耦合：
Figure 110127533-A0305-02-0014-1
 其中n cladding 是一個或多個透明層301的包覆層的折射率，θ是入射角306，n eff 是基底層303(例如矽層)的折射率，λ是入射平面外光束的波長，a是光柵週期409，且m是表示繞射級(對於1D光柵耦合器等於1)的整數。此外，蝕刻深度(例如，深度H2和深度H3)可導致n eff 的移位。更確切地說，蝕刻深度的增加可減少n eff 。在一些實施例中，通過將θ入射角306設定在約5°到15°的範圍內，可實現與中間蝕刻光柵區和淺蝕刻光柵區的最大耦合效率。
圖4A示出根據一些實施例的具有一個光柵區的變跡GC的測量的耦合損耗和背反射損耗400A，所述一個光柵區具有單級(single level)蝕刻光柵且具有波長為1310奈米的光束。圖4A繪示表示以奈米(nm)為單位的光束的波長的橫軸403A。縱軸402A表示以分貝為單位的耦合功率。實標繪線401A表示變跡光柵耦合器的耦合損耗。第二實標繪線405A表示變跡光柵耦合器的矽波導背反射。具有單級蝕刻光柵的實例變跡光柵耦合器實施例的耦合損耗在1310奈米附近的光波長範圍處具有-3.09/2分貝的峰值，如第一實標繪線401A所繪示。可針對其它峰值波長設計其它實施例。具有單級蝕刻光柵的實例變跡光柵耦合器實施例的背反射在1310奈米附近繪示最小值-25分貝，如第二實標繪線405A所繪示。其它實施例可在不同波長處具有不同量值的最小值。在各種實施例中，光柵耦合器可在其中最小背反射波長可與最大耦合損耗波長一致或接近最大耦合損耗波長的過耦合狀態下操作。
圖4B示出根據一些實施例的具有一個光柵區的變跡GC 的測量的耦合損耗和背反射損耗400B，所述一個光柵區具有兩個不同蝕刻級別且具有波長為1310奈米的光束。圖4B繪示表示以奈米(nm)為單位的光束的波長的橫軸403B。縱軸402B表示以分貝為單位的耦合功率。實標繪線401B表示具有中間蝕刻級別和淺蝕刻級別的變跡光柵耦合器的耦合損耗。第二實標繪線405B表示具有中間蝕刻和淺蝕刻的變跡光柵耦合器的背反射損耗。
如圖4B中所繪示，具有中間蝕刻和淺蝕刻的實例變跡光柵耦合器實施例的耦合損耗在1310奈米附近的光波長範圍處具有-2.59/2分貝的峰值。因而，與具有單級蝕刻光柵的光柵耦合器相比，具有中間蝕刻和淺蝕刻的光柵耦合器在1310奈米附近的光波長範圍處具有改進的耦合效率。可針對其它峰值波長設計其它實施例。具有中間蝕刻和淺蝕刻的實例變跡光柵耦合器實施例的背反射在1310奈米附近繪示最小值-36.6分貝，如第二實標繪線405B所繪示。因而，與具有單級蝕刻光柵的光柵耦合器相比，具有中間蝕刻和淺蝕刻的光柵耦合器在1310奈米附近的光波長範圍處具有較低背反射損耗。其它實施例可在不同波長處具有不同量值的最小值。較低背反射損耗的一個示例性優點是減小的光學雜訊和增加的光學穩定性。另外，較低背反射降低光學回饋方案對雜訊的靈敏度。
現轉而參考圖5，示出根據一些實施例的用於製造具有中間光柵區和淺光柵區的光學光柵耦合器的方法的流程圖。如本文中所示出的流程圖提供各種過程動作的序列的實例。儘管以特定序列或次序來繪示，但除非另外規定，否則可修改動作的次序。因而，所示出的實施方式應僅理解為實例，且過程可以不同次序 執行，且一些動作可並存執行。另外，在本發明的各種實施例中，可省略一個或多個動作；因此，並非每一實現方式中都需要所有動作。其它過程流程是可能的。
在一些實施例中，光柵耦合器的物理佈局可用於使用半導體製造製程來完成且製造光子使能積體電路。通常稱為“幾何結構”的物理佈局可用於產生積體電路工具(tooling)，所述積體電路工具是一系列罩幕，其各自表示積體電路的層。接著由製造商使用所述工具以製造光子使能積體電路。
因而，圖5示出步驟501，其中可根據物理佈局光柵耦合器形成基底層303。在一個實施例中，所製造的基底層303為單晶Si晶圓。在其它實施例中，所製造的基底層303可為InP晶圓。
在步驟503處，可使用等離子蝕刻製程(例如，反應離子蝕刻)在基底層303中形成中間蝕刻光柵區。在其它實施例中，可使用乾式蝕刻製程形成中間蝕刻光柵區。中間蝕刻光柵區可包含在圖案化光柵之間具有寬度w1和寬度w2的圖案化光柵。在一些實施例中，中間蝕刻區中的圖案化光柵線的寬度w1和光柵之間的開放空間的寬度w2可為均勻的。可基於光柵耦合器的操作的預期波長來選擇中間蝕刻區中的光柵的第一高度H2。在非限制性實施例中，第一高度H2優選地在約70奈米到210奈米的範圍內。相關領域的技術人員將瞭解，由於蝕刻製程的變化，第一高度H2可在中間蝕刻區內稍微變化。
在步驟505處，可使用等離子蝕刻製程(例如，反應離子蝕刻)在基底層303中形成淺蝕刻光柵區。在其它實施例中，可使用乾式蝕刻製程形成淺蝕刻光柵區。淺蝕刻光柵區可包含在 圖案化光柵之間具有寬度w3和寬度w4的圖案化光柵。在一些實施例中，淺蝕刻區中的圖案化光柵線的寬度w3和光柵之間的開放空間的寬度w4可為均勻的。可基於光柵耦合器的操作的預期波長來選擇淺蝕刻區中的光柵的第二高度H3。在非限制性實施例中，第二高度H3優選地在約100奈米到210奈米的範圍內。相關領域的技術人員將瞭解，由於蝕刻製程的變化，第二高度H3可在淺蝕刻區內稍微變化。在另外的實施例中，可在矽基底中蝕刻三個或大於三個具有不同光柵高度的光柵區。
在圖5中，示出步驟507，形成由低折射率材料(如SiO2膜)構成的透明層301，以便覆蓋中間蝕刻區和淺蝕刻區中的光柵。在一些實施例中，覆蓋SiO2膜的厚度可針對光柵的每一區而改變，使得繞射強度朝向光柵耦合器的末端逐漸增加。
儘管上文已描述本公開的各種實施例，但應理解，所述實施例已僅借助於實例而非借助於限制呈現。同樣地，各種圖式可描繪實例架構或配置，提供所述實例架構或配置以使得本領域的普通技術人員能夠理解本公開的示例性特徵和功能。然而，此類技術人員將理解，本公開並不限於所示出的實例架構或配置，而可使用各種替代架構和配置實施。另外，如本領域的普通技術人員將理解，一個實施例的一個或多個特徵可與本文中所描述的另一實施例的一個或多個特徵組合。因此，本公開的廣度和範圍不應受任何上述示例性實施例限制。
還應理解，對本文中使用例如“第一”、“第二”等等編號的元件的任何參考通常不限制那些元件的數量或次序。實際上，這些編號在本文中用作區別兩個或大於兩個元件或元件的例 子的方便方式。因此，對第一元件和第二元件的參考不意味著僅可採用兩個元件或第一元件必須以某一方式在第二元件之前。
另外，本領域的普通技術人員將理解，可使用多種不同技術和技藝中的任一種來表示資訊和訊號。舉例來說，可由電壓、電流、電磁波、磁場或磁粒子、光場或光粒子或其任何組合來表示例如在上文描述中可能參考的資料、指令、命令、資訊、訊號、位元以及符號。
本領域的普通技術人員將進一步瞭解，可由電子硬體(例如，數位實施方案、類比實施方案或兩個的組合)、固件、併入有指令的各種形式的程式或設計代碼(為方便起見，其在本文中可稱為“軟體”或“軟體模組”)或這些技術的任何組合實施結合本文中所公開的各方面描述的各種說明性邏輯塊、模組、處理器、構件、電路、方法以及功能中的任一種。
為清楚地示出硬體、固件以及軟體的此可互換性，上文已大體關於其功能性描述了各種說明性元件、塊、模組、電路以及步驟。此功能性是實施為硬體、固件還是軟體或這些技術的組合取決於施加於整個系統上的特定應用和設計約束。本領域的技術人員可針對每一特定應用以不同方式來實施所描述的功能性，但此類實施決策並不導致脫離本公開的範圍。根據各種實施例，處理器、裝置、元件、電路、結構、機器、模組等可配置成執行本文中所描述的功能中的一個或多個。如本文中所使用的相對於指定操作或功能的術語“配置成”或“配置成用於”是指以物理方式構建、程式設計、佈置和/或格式化以執行指定操作或功能的處理器、裝置、元件、電路、結構、機器、模組、訊號等。
此外，本領域的普通技術人員將理解，本文中所描述的各種說明性邏輯塊、模組、裝置、元件以及電路可實施在積體電路(IC)內或由積體電路執行，所述積體電路可包含數位訊號處理器(digital signal processor；DSP)、專用積體電路(application specific integrated circuit；ASIC)、現場可程式設計閘陣列(field programmable gate array；FPGA)或其它可程式設計邏輯裝置或其任何組合。邏輯塊、模組以及電路可更包含天線和/或收發器以與網路內或裝置內的各種元件通訊。被程式設計為執行本文中的功能的處理器將變為特殊程式設計的或專用的處理器，且可實施為計算裝置的組合，例如，DSP與微處理器的組合、多個微處理器、與DSP核心結合的一個或多個微處理器或任何其它合適的配置來執行本文所描述的功能。
如果在軟體中實施，那麼可將功能作為一個或多個指令或代碼存儲在電腦可讀介質上。因此，本文中所公開的方法或演算法的步驟可實施為存儲在電腦可讀介質上的軟體。電腦可讀介質包含電腦存儲介質和通訊介質兩者，所述通訊介質包含可使得電腦程式或代碼能夠從一個地點轉移到另一地點的任何介質。存儲介質可為可由電腦存取的任何可用介質。借助於實例而非限制，此類電腦可讀介質可包含RAM、ROM、EEPROM、CD-ROM或其它光碟存儲裝置、磁片存儲裝置或其它磁性記憶體件，或可用於存儲呈指令或資料結構形式的所要程式碼且可由電腦存取的任何其它介質。
在此檔中，如本文中所使用的術語“模組”是指用於執行本文中所描述的相關聯功能的軟體、固件、硬體以及這些元件 的任何組合。另外，出於論述的目的，將各種模組描述為離散模組；然而，如將對本領域的普通技術人員顯而易見的是，可將兩個或大於兩個模組進行組合以形成執行根據本公開的實施例的相關聯功能的單個模組。
在一些實施例中，一種光柵耦合器包括：基底，包括矽晶圓；第一光柵區，蝕刻於所述基底中，其中所述第一光柵區包括具有第一預定高度的多個第一光柵；以及第二光柵區，蝕刻於所述基底中，其中所述第二光柵區包括具有第二預定高度的多個第二光柵，其中所述第一預定高度和所述第二預定高度不相同。
在一些實施例中，所述第一預定高度在70奈米到210奈米的範圍內。
在一些實施例中，所述第二預定高度在100奈米到210奈米的範圍內。
在一些實施例中，所述基底的厚度在200奈米到500奈米的範圍內。
在一些實施例中，所述光柵耦合器更包括蝕刻於所述基底中的第三光柵區，其中所述第三光柵區包括具有與所述第一預定高度和所述第二預定高度不相同的第三預定高度的第三多個光柵。
在一些實施例中，所述光柵耦合器配置成在1310奈米光波長附近操作。
在一些實施例中，一種光通訊系統，包括：光纖；以及光子積體電路，包括光柵耦合器組合件，所述光柵耦合器組合件配置成將所述光纖中攜載的光耦合到所述光子積體電路中或耦合 出所述光子積體電路，其中所述光柵耦合器組合件包括：基底，包括矽晶圓；第一光柵區，蝕刻在所述基底中，其中所述第一光柵區包括具有第一預定高度的多個第一光柵；以及第二光柵區，蝕刻在所述基底中，其中所述第二光柵區包括具有第二預定高度的多個第二光柵，其中所述第一預定高度和所述第二預定高度不相同。
在一些實施例中，所述第一預定高度在70奈米到210奈米的範圍內。
在一些實施例中，所述第二預定高度在100奈米到210奈米的範圍內。
在一些實施例中，所述基底的厚度在200奈米到500奈米的範圍內。
在一些實施例中，所述光纖與所述光柵耦合器組合件表面的法線之間的角度在5°到15°的範圍內。
在一些實施例中，所述光通訊系統組態成在1310奈米光波長附近操作。
在一些實施例中，一種光柵耦合器製造方法，包括：形成基底層；將第一光柵區蝕刻到所述基底層中，其中所述第一光柵區包括具有第一預定高度的多個第一光柵；以及將第二光柵區蝕刻到所述基底層中，其中所述第二光柵區包括具有第二預定高度的多個第二光柵，其中所述第一預定高度和所述第二預定高度不相同；以及在所述第一光柵區和所述第二光柵區上形成包括二氧化矽的包覆層。
在一些實施例中，所述多個第一光柵的所述第一預定高 度在70奈米到210奈米的範圍內。
在一些實施例中，所述多個第二光柵的所述第二預定高度在100奈米到210奈米的範圍內。
在一些實施例中，所述基底層的厚度在200奈米到500奈米的範圍內。
在一些實施例中，所述方法進一步將第三光柵區蝕刻到所述基底層中，其中所述第三光柵區包括具有與所述第一預定高度和所述第二預定高度不相同的第三預定高度的第三多個光柵。
在一些實施例中，中所述多個第一光柵和所述多個第二光柵具有均勻寬度。
在一些實施例中，選擇所述多個第一光柵和所述多個第二光柵中的每一光柵的寬度以使所述光柵耦合器與耦合到所述光柵耦合器的光纖之間的耦合損耗和背反射損耗最小化。
在一些實施例中，所述基底層由矽材料形成。
本公開中所描述的實施方案的各種修改對本領域的技術人員將易於顯而易見，並且在不脫離本公開的範圍的情況下，本文中所定義的一般原理可適用於其它實施方案。因此，本公開並不意圖限於本文中所繪示的實施方案，而應被賦予與本文中所公開的新穎特徵和原理相一致的最廣泛範圍。
300:光柵耦合器組合件
301:透明層
303:基底層
305:基底
307:第一光柵底板
308:第二光柵線
309,312:第一光柵空間
310:第二光柵空間
311:光柵元件
313:第二光柵底板
H1:厚度
H2,H3:第一高度
w1,w2,w3,w4:寬度

Claims (10)

  1. 一種光柵耦合器，包括：基底，包括矽晶圓；第一光柵區，蝕刻於所述基底中，其中所述第一光柵區包括具有第一預定高度的多個第一光柵及多個第一光柵空間；以及第二光柵區，蝕刻於所述基底中，其中所述第二光柵區包括具有第二預定高度的多個第二光柵及多個第二光柵空間，其中所述第一預定高度和所述第二預定高度不相同，其中所述多個第一光柵的其中之一的寬度與相鄰的所述第一光柵空間的寬度的和不相同於所述多個第二光柵的其中之一的寬度與相鄰的所述第二光柵空間的寬度的和。
  2. 如請求項1所述的光柵耦合器，其中所述第一預定高度在70奈米到210奈米的範圍內。
  3. 如請求項1所述的光柵耦合器，其中所述第二預定高度在100奈米到210奈米的範圍內。
  4. 如請求項1所述的光柵耦合器，其中所述基底的厚度在200奈米到500奈米的範圍內。
  5. 如請求項1所述的光柵耦合器，更包括蝕刻於所述基底中的第三光柵區，其中所述第三光柵區包括具有與所述第一預定高度和所述第二預定高度不相同的第三預定高度的第三多個光柵。
  6. 如請求項1所述的光柵耦合器，配置成在1310奈米 光波長附近操作。
  7. 一種光通訊系統，包括：光纖；以及光子積體電路，包括光柵耦合器組合件，所述光柵耦合器組合件配置成將所述光纖中攜載的光耦合到所述光子積體電路中或耦合出所述光子積體電路，其中所述光柵耦合器組合件包括：基底，包括矽晶圓；第一光柵區，蝕刻在所述基底中，其中所述第一光柵區包括具有第一預定高度的多個第一光柵及多個第一光柵空間；以及第二光柵區，蝕刻在所述基底中，其中所述第二光柵區包括具有第二預定高度的多個第二光柵及多個第二光柵空間，其中所述第一預定高度和所述第二預定高度不相同，其中所述多個第一光柵的其中之一的寬度與相鄰的所述第一光柵空間的寬度的和不相同於所述多個第二光柵的其中之一的寬度與相鄰的所述第二光柵空間的寬度的和。
  8. 如請求項7所述的光通訊系統，其中所述第一預定高度在70奈米到210奈米的範圍內。
  9. 一種光柵耦合器製造方法，包括：形成基底層；將第一光柵區蝕刻到所述基底層中，其中所述第一光柵區包括具有第一預定高度的多個第一光柵及多個第一光柵空間；以及 將第二光柵區蝕刻到所述基底層中，其中所述第二光柵區包括具有第二預定高度的多個第二光柵及多個第二光柵空間，其中所述第一預定高度和所述第二預定高度不相同，且所述多個第一光柵的其中之一的寬度與相鄰的所述第一光柵空間的寬度的和不相同於所述多個第二光柵的其中之一的寬度與相鄰的所述第二光柵空間的寬度的和；以及在所述第一光柵區和所述第二光柵區上形成包括二氧化矽的包覆層。
  10. 如請求項9所述的光柵耦合器製造方法，其中所述多個第一光柵的所述第一預定高度在70奈米到210奈米的範圍內。
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