TWI773381B - 電性檢測載板裝置 - Google Patents
電性檢測載板裝置 Download PDFInfo
- Publication number
- TWI773381B TWI773381B TW110121682A TW110121682A TWI773381B TW I773381 B TWI773381 B TW I773381B TW 110121682 A TW110121682 A TW 110121682A TW 110121682 A TW110121682 A TW 110121682A TW I773381 B TWI773381 B TW I773381B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- conductive
- area
- board device
- carrier board
- arm
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
一種電性檢測載板裝置,包含一傳導單元、一與該傳導單元相疊置的封裝單元,及一擴充單元。該傳導單元包括一信號層,該信號層界定出一待接區域並具有多個第一導電件及多個第二導電件。每一第一導電件具有一基部,及二自該基部往不同方向延伸的第一臂部。每一第二導電件具有一延伸至該待接區域的待接部,及一位於該待接部相反端的第二臂部。該封裝單元包括多個疊置於該信號層且彼此間隔的絕緣層,至少有一絕緣層圍繞界定出一連通於該待接區域與外界間的安裝區域。該擴充單元包括一經該安裝區域與該待接區域連接該等待接部的功能件。
Description
本發明是有關於一種執行電性測試的設備部件,特別是指一種電性檢測載板裝置。
現今積體電路晶片、印刷電路板的製程日益精進,不但構造型態越來越多元,隨著功能的多樣化,精細程度也越來越高,檢驗製造的成品是否為良品的檢測需求也隨之增長。對待測元件施行檢測時所須考量的技術要點,除了配合待測元件的外觀型態,更是時常需要針對各類待測元件的特殊功能達成客制化的檢測。
然而,若是針對各類待測元件皆分別製造專用化的檢測設備,不僅耗費的時間、人力、物力成本皆高,製造完成後配合檢測需求的可調整性也相對較差,對比目前半導體產業的蓬勃發展,在檢測的效能、性能的進展腳步是相對較為落後的。
因此,本發明之目的,即在提供一種易於額外擴充或優化檢測功能以因應檢測需求的電性檢測載板裝置。
於是,本發明電性檢測載板裝置,包含一傳導單元、一與該傳導單元相互疊置的封裝單元,及一與該傳導單元電連接的擴充單元。
該傳導單元包括至少一信號層,該至少一信號層圍繞界定出一待接區域,並具有多個第一導電件,及多個與該等第一導電件間隔設置的第二導電件。每一個第一導電件具有一基部,及二自該基部分別往不同方向延伸的第一臂部。每一個第二導電件具有一延伸至該待接區域的待接部,及一位於該待接部相反端的第二臂部。
該封裝單元包括多個疊置於該至少一信號層且彼此間隔的絕緣層,至少有一個絕緣層圍繞界定出一連通於該待接區域與外界間的安裝區域。
該擴充單元包括至少一個經由該安裝區域與該待接區域而連接於該等第二導電件之該等待接部的功能件。
本發明之功效在於:利用該擴充單元的該功能件,能在電連接於該至少一信號層的情況下,擴充除了單純電性傳導以外的檢測功能,以因應特殊的檢測需求,且即便在本發明電性檢測載板裝置已組裝完成的情況下,仍能經由該安裝區域及該待接區域更換該擴充單元的該功能件,進一步優化因應檢測需求而調整的檢測性能。
在本發明被詳細描述之前,應當注意在以下的說明內容中,類似的元件是以相同的編號來表示。
參閱圖1,為本發明電性檢測載板裝置之一第一實施例,本第一實施例包含一傳導單元1、一與該傳導單元1相互疊置的封裝單元2,及一與該傳導單元1電連接的擴充單元3。其中,該傳導單元1即用來接觸待測元件(圖未繪示)且主要用以傳遞檢測信號,在本第一實施例中,主要以待測元件為封裝晶片的情況來說明,但並不以檢測封裝晶片的使用情境為限。
同時參閱圖1與圖2,該傳導單元1包括一用以在檢測時傳導檢測訊號的信號層10,及多個與該信號層10相間隔且以導電材質製成,用以形成電磁屏蔽而優化檢測效能的屏蔽層14。該信號層10圍繞界定出一待接區域100,並具有多個第一導電件11、八個與該等第一導電件11間隔設置的第二導電件12,及二個與該等第一導電件11及該等第二導電件12相間隔的第三導電件13。每一個屏蔽層14具有一層板141,及多個自該層板141向外延伸的導臂件142。具體而言,該等屏蔽層14至少會配置在該信號層10的相反兩側,藉此在相反兩側對該信號層10形成電磁屏蔽,藉此優化主要檢測訊號在該信號層10中傳導的品質。除此之外,所述屏蔽層14也可以在測試時充當接地的電性結構,以穩定阻抗匹配而優化檢測品質。
每一個第一導電件11概呈長板狀或長桿狀,並具有一基部111,及二自該基部111分別往不同方向延伸的第一臂部112。每一個第二導電件12概呈彎曲而繞過同側的該第三導電件13,並具有一延伸至該待接區域100的待接部121,及一位於該待接部121相反端的第二臂部122。每一個第三導電件13具有一板部131,及二個自該板部131向外延伸的第三臂部132。其中,每一個第二導電件12之該第二臂部122是與該等第一導電件11之該等第一臂部112的其中之一朝向同方向;且該第三導電件13之該第三臂部132至少與其中一個第二導電件12的第二臂部122,或其中一個第一導電件11的第一臂部112朝向同方向。也就是說,該等第一臂部112、該等第二臂部122,及該等第三臂部132會往相反兩個方向延伸,藉此在相反兩側分別連接待測元件與測試主機。
要特別說明的是,所述第一導電件11、所述第二導電件12,及所述第三導電件13的型態,實際上可視所欲建構之本發明電性檢測載板裝置的整體型態調整,具體而言是使用適當數量的所述第一導電件11、所述第二導電件12,及所述第三導電件13,藉由適當的排列設置,共同構成該信號層10,而選用的數量及排列的相對位置並不以本第一實施例為限,可依照測試需求或者其他環境條件調整。
該封裝單元2包括多個疊置於該信號層10且彼此間隔的絕緣層21,其中一個位於最外側且與開設有該連通區域140之該屏蔽層14相疊的絕緣層21,圍繞界定出一連通於該待接區域100與外界間的安裝區域210,且另一個介於該信號層10與該屏蔽層14之間的該絕緣層21,也圍繞界定出一位置對應該待接區域100的安裝區域210。而其中一個屏蔽層14圍繞界定出一介於該待接區域100與該安裝區域之間的連通區域140,使得該待接區域100、該連通區域140,及該等安裝區域210,如圖3所呈現地都相互連通。
參閱圖3並配合圖2,該擴充單元3包括一個經由該安裝區域210、該連通區域140而配置於該待接區域100,進而連接於該等第二導電件12之該等待接部121的功能件31。其中,該功能件31是選自被動元件或積體電路晶片,因此可利用被動元件所能發揮的電性功能,甚至是積體電路晶片的多重功效,達成因應特定檢測而擴充功能的目的。
值得特別說明的是,由於該待接區域100、該連通區域140,直到該安裝區域210是由內而外連通至外界,只要得以拆卸該功能件31,該等第二導電件12的該等待接部121即會向外顯露,因此即便在本第一實施例已組裝完成的情況下,只要需要因應檢測需求而進行調整,仍能經由該安裝區域210、該連通區域140,及該待接區域100,以更換該功能件31的方式達成所需調整,進一步優化因應檢測需求而調整的檢測性能。
參閱圖4與圖5,為本發明電性檢測載板裝置之一第二實施例,本第二實施例與該第一實施例的區別在於:本第二實施例之該傳導單元1的該信號層10還圍繞界定出一與該待接區域100各自獨立的配置區域101,該傳導單元1還包括一設置於該配置區域101內的天線探針15,該天線探針15具有一位於該配置區域101內的結構部151,及一自該結構部151向外延伸的接臂部152。
本第二實施例除了同樣能藉由配置該功能件31而額外擴充檢測功能,該天線探針15在該接臂部152配合所述第一導電件11、所述第二導電件12,及所述第三導電件13連接於待測元件時,還能額外藉由彎折為特定型態的該結構部151,發揮接收或發射電磁波的功能,除了可藉此優化檢測品質,也可以因應特定檢測需求而再擴充功能。
參閱圖6,為本發明電性測試載板裝置的一第三實施例,本第三實施例與該第一實施例的區別在於:該至少一信號層10還具有多個自該等第一導電件11及該等第三導電件13往該屏蔽層14延伸,並與該屏蔽層14達成電性連接的導通件16。且至少有一個絕緣層21圍繞界定出多個分別供該等導通件16穿設的貫通孔219,使得該等導通件16能穿過所述絕緣層21而與該屏蔽層14接觸。藉由與該屏蔽層14電性連通的該等導通件16,除了透過該屏蔽層14達成信號屏蔽而優化檢測品質,該等導通件16更能提供不同方向的屏蔽效果,藉此使得電性屏蔽的效果更加全面,得以進一步再優化檢測品質。
綜上所述,本發明電性檢測載板裝置,令該等第二導電件12之該等待接部121配置於該待接區域100,且透過該等安裝區域210及該連通區域140使該待接區域100向外連通,故只要將該擴充單元3的該功能件31配置於該待接區域100,即可輕易因應特定的檢測需求而擴充額外的功能。因此,確實能達成本發明之目的。
惟以上所述者,僅為本發明之實施例而已,當不能以此限定本發明實施之範圍,凡是依本發明申請專利範圍及專利說明書內容所作之簡單的等效變化與修飾,皆仍屬本發明專利涵蓋之範圍內。
1:傳導單元
10:信號層
100:待接區域
101:配置區域
11:第一導電件
111:基部
112:第一臂部
12:第二導電件
121:待接部
122:第二臂部
13:第三導電件
131:板部
132:第三臂部
14:屏蔽層
140:連通區域
141:層板
142:導臂件
15:天線探針
151:結構部
152:接臂部
16:導通件
2:封裝單元
21:絕緣層
210:安裝區域
219:貫通孔
3:擴充單元
31:功能件
本發明之其他的特徵及功效,將於參照圖式的實施方式中清楚地呈現,其中:
圖1是一立體分解圖,說明本發明電性檢測載板裝置的一第一實施例;
圖2是一局部放大的立體圖,說明該第一實施例之一傳導單元的多個第一導電件、多個第二導電件,及一第三導電件;
圖3是一立體圖,說明該第一實施例之一功能單元,及該第一實施例組裝完成的情況;
圖4是一立體分解圖,說明本發明電性檢測載板裝置的一第二實施例;
圖5是一局部放大的立體圖,說明該第二實施例之該傳導單元的一天線探針;及
圖6是一立體分解圖,說明本發明電性檢測載板裝置的一第三實施例。
1:傳導單元
10:信號層
100:待接區域
11:第一導電件
12:第二導電件
13:第三導電件
14:屏蔽層
140:連通區域
141:層板
142:導臂件
2:封裝單元
21:絕緣層
210:安裝區域
3:擴充單元
31:功能件
Claims (10)
- 一種電性檢測載板裝置,包含: 一傳導單元,包括至少一信號層,該至少一信號層圍繞界定出一待接區域,並具有多個第一導電件,及多個與該等第一導電件間隔設置的第二導電件,每一個第一導電件具有一基部,及二自該基部分別往不同方向延伸的第一臂部,每一個第二導電件具有一延伸至該待接區域的待接部,及一位於該待接部相反端的第二臂部; 一封裝單元,與該傳導單元相互疊置,並包括多個疊置於該至少一信號層且彼此間隔的絕緣層,至少有一個絕緣層圍繞界定出一連通於該待接區域與外界間的安裝區域;及 一擴充單元,與該傳導單元電連接,並包括至少一個經由該安裝區域與該待接區域而連接於該等第二導電件之該等待接部的功能件。
- 如請求項1所述的電性檢測載板裝置,其中,該傳導單元還包括至少一與該至少一信號層相間隔且以導電材質製成的屏蔽層,該至少一屏蔽層圍繞界定出一介於該待接區域與該安裝區域之間的連通區域。
- 如請求項2所述的電性檢測載板裝置,其中,該傳導單元的該屏蔽層具有一圍繞出該連通區域的層板,及多個自該層板向外延伸的導臂件。
- 如請求項1所述的電性檢測載板裝置,其中,該傳導單元的該至少一信號層還圍繞界定出一與該待接區域各自獨立的配置區域,該傳導單元還包括一設置於該配置區域內的天線探針,該天線探針具有一位於該配置區域內的結構部,及一自該結構部向外延伸的接臂部。
- 如請求項1所述的電性檢測載板裝置,其中,每一個第二導電件之該第二臂部是與該等第一導電件之該等第一臂部的其中之一朝向同方向。
- 如請求項2所述的電性檢測載板裝置,其中,該至少一信號層還具有多個與該等第一導電件及該等第二導電件相間隔的第三導電件,每一個第三導電件具有一板部,及至少一自該板部向外延伸的第三臂部。
- 如請求項6所述的電性檢測載板裝置,其中,該至少一信號層還具有多個自該等第一導電件及該等第三導電件往該屏蔽層延伸,並與該屏蔽層達成電性連接的導通件。
- 如請求項7所述的電性檢測載板裝置,其中,至少有一個絕緣層圍繞界定出多個分別供該等導通件穿設的貫通孔。
- 如請求項6所述的電性檢測載板裝置,其中,該第三導電件之該第三臂部至少與其中一個第二導電件的第二臂部,或其中一個第一導電件的第一臂部朝向同方向。
- 如請求項1至9任一項所述的電性檢測載板裝置,其中,該擴充單元的該至少一功能件是選自被動元件或積體電路晶片。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW110121682A TWI773381B (zh) | 2021-06-15 | 2021-06-15 | 電性檢測載板裝置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW110121682A TWI773381B (zh) | 2021-06-15 | 2021-06-15 | 電性檢測載板裝置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TWI773381B true TWI773381B (zh) | 2022-08-01 |
TW202300921A TW202300921A (zh) | 2023-01-01 |
Family
ID=83807014
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW110121682A TWI773381B (zh) | 2021-06-15 | 2021-06-15 | 電性檢測載板裝置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
TW (1) | TWI773381B (zh) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6031282A (en) * | 1998-08-27 | 2000-02-29 | Advantest Corp. | High performance integrated circuit chip package |
US20050212546A1 (en) * | 2004-03-26 | 2005-09-29 | Mark Lynch | Method and apparatus for package testing |
TW201400819A (zh) * | 2012-06-22 | 2014-01-01 | Advanced Semiconductor Eng | 探針結構與薄膜式探針的製造方法 |
CN106716143A (zh) * | 2014-06-20 | 2017-05-24 | 艾科塞拉公司 | 测试插座组件和相关方法 |
CN109633505A (zh) * | 2017-10-06 | 2019-04-16 | 迈来芯科技有限公司 | 磁传感器灵敏度匹配校准 |
-
2021
- 2021-06-15 TW TW110121682A patent/TWI773381B/zh active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6031282A (en) * | 1998-08-27 | 2000-02-29 | Advantest Corp. | High performance integrated circuit chip package |
US20050212546A1 (en) * | 2004-03-26 | 2005-09-29 | Mark Lynch | Method and apparatus for package testing |
TW201400819A (zh) * | 2012-06-22 | 2014-01-01 | Advanced Semiconductor Eng | 探針結構與薄膜式探針的製造方法 |
CN106716143A (zh) * | 2014-06-20 | 2017-05-24 | 艾科塞拉公司 | 测试插座组件和相关方法 |
CN109633505A (zh) * | 2017-10-06 | 2019-04-16 | 迈来芯科技有限公司 | 磁传感器灵敏度匹配校准 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW202300921A (zh) | 2023-01-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI697681B (zh) | 用於測試集成天線的微電子器件的無線測試系統 | |
KR100511814B1 (ko) | 혼합 신호 인쇄 배선 보드 상의 단일 조립체를 위한저비용, 대용량의 rf 혼성 패키지 | |
US6460170B1 (en) | Connection block for interfacing a plurality of printed circuit boards | |
US20150015291A1 (en) | Cantilever probe card for high-frequency signal transmission | |
JP3415362B2 (ja) | インピーダンス制御相互連結装置 | |
JPH11329648A (ja) | Icデバイスソケット | |
JP2005505923A (ja) | マルチダイ相互接続システム | |
CN103120038B (zh) | 结构体和配线基板 | |
TWI438438B (zh) | 具有高頻內插器之測試系統 | |
WO2007049376A1 (ja) | 高周波モジュール | |
US20060138630A1 (en) | Stacked ball grid array packages | |
TW201740487A (zh) | 設置有天線的積體電路封裝裝置及其製造方法 | |
US9905918B2 (en) | Electronic apparatus and land grid array module | |
JP5572066B2 (ja) | テスト用ボード | |
TW202242424A (zh) | 用於半導體測試之電路板 | |
TWI773381B (zh) | 電性檢測載板裝置 | |
CN109655733B (zh) | 无损测试毫米波bga封装组件的方法 | |
US8951049B2 (en) | Electrical connector assembly with an adaptor for electrical connecting the electrical connector and the PCB | |
US7131047B2 (en) | Test system including a test circuit board including resistive devices | |
US6888227B2 (en) | Apparatus for routing signals | |
CN116564938A (zh) | 电性检测载板装置 | |
TWI801901B (zh) | 電性檢測元件及電性測試裝置 | |
CN107026666B (zh) | 无线通信组件 | |
TWI780813B (zh) | 具有屏蔽效果的電性檢測載板裝置 | |
KR101069523B1 (ko) | 회로보드와 회로보드에 구비된 프로브 카드 |