TWI761113B

TWI761113B - 高溫試驗設備

Info

Publication number: TWI761113B
Application number: TW110107868A
Authority: TW
Inventors: 許海津; 林華偉; 曾威遠
Original assignee: 志聖工業股份有限公司
Priority date: 2021-03-05
Filing date: 2021-03-05
Publication date: 2022-04-11
Also published as: TW202235162A

Abstract

一種高溫試驗設備，適用於配合一設置於外部的攝像裝置使用，以進行至少一待測元件的高溫耐受試驗。該高溫試驗設備包含一機殼、至少一透視層體及一控溫裝置。該機殼可容裝該待測元件，並具有一位於頂側的觀測開口。該觀測開口與該攝像裝置對準，以供該攝像裝置獲取該待測元件的影像。該透視層體裝設於該觀測開口處。該控溫裝置設置於該機殼中且可受控發熱，藉以調節該機殼內的溫度。

Description

高溫試驗設備

本發明是有關於一種試驗設備，特別是指一種高溫試驗設備。

一般的電子元件在研發過程中或是製作完成後，常會藉由各種試驗來檢視元件的性能表現及信賴性(reliability)。其中，高溫耐受試驗是將電子元件放置在高溫試驗設備中，在預定的高溫試驗條件下檢視元件外觀及性能表現，屬於常見的試驗方式。一般來說，高溫試驗設備多為密閉性的設備，在試驗過程中通常不能隨時檢視元件狀態，因而不便於即時性地檢視受測元件的外觀。

因此，本發明的其中一目的，即在於提供一種能解決前述問題的高溫試驗設備。

於是，本發明高溫試驗設備在一些實施態樣中，適用於配合一設置於外部的攝像裝置使用，以進行至少一待測元件的高溫耐受試驗。該高溫試驗設備包含一機殼、至少一透視層體及一控溫裝置。該機殼可容裝該待測元件，並具有一位於頂側的觀測開口。該觀測開口與該攝像裝置對準，以供該攝像裝置獲取該待測元件的影像。該透視層體裝設於該觀測開口處。該控溫裝置設置於該機殼中且可受控發熱，藉以調節該機殼內的溫度。

在一些實施態樣中，該高溫試驗設備包含多層透視層體，該等透視層體相互間隔地層疊於該觀測開口處。

在一些實施態樣中，該待測元件由一載盤盛裝；該機殼具有位於不同側的一進料口及一出料口；該高溫試驗設備還包含一設置於該機殼內且能將該載盤及該待測元件從該進料口往該出料口輸送的傳送裝置。

在一些實施態樣中，該傳送裝置包括兩條在該進料口及該出料口之間延伸且相互間隔的傳送鏈帶，該等傳送鏈帶用於撐托該載盤的底部，且該等傳送鏈帶的位置高於該控溫裝置。

在一些實施態樣中，該等傳送鏈帶鄰近該控溫裝置的頂側。

在一些實施態樣中，該機殼內具有相連通的一定溫試驗區及一快速升溫區，該定溫試驗區處設置該透視層體及該控溫裝置並對應該出料口的位置，該快速升溫區對應該進料口的位置；該傳送裝置能將該載盤及該待測元件依序經過該快速升溫區、該定溫試驗區來進行輸送；該高溫試驗設備還包含一設置於該快速升溫區且升溫功率大於該控溫裝置的快速加熱裝置。

在一些實施態樣中，該快速加熱裝置包括一紅外線燈管，該紅外線燈管能在該載盤及該待測元件位於該快速升溫區時受控在一預定時間內持續發出紅外線。

在一些實施態樣中，該機殼形成至少一個熱風進風口；該紅外線燈管的高度大於該傳送裝置，且高度對應於該熱風進風口。

在一些實施態樣中，該控溫裝置包括至少一陶瓷加熱器。

在一些實施態樣中，該機殼包括一殼主體及一可開啟地裝設於該殼主體頂側的殼蓋，該觀測開口及該透視層體位於該殼蓋，該控溫裝置設置於該殼主體中。

本發明至少具有以下功效：藉由該等透視層體的設置，讓該攝像裝置能夠在該待測元件進行高溫耐受試驗時，即時性地進行該待測元件的外觀檢視。此外，藉由該傳送裝置的設置，能夠便利地將該待測元件在不同溫度條件下的定溫試驗區、快速升溫區之間進行輸送，以便於自動化地進行高溫耐受試驗。

參閱圖1至圖4，為本發明高溫試驗設備100的一實施例。該高溫試驗設備100能夠以單一機體使用，此外也能如圖4般將多個機體串接運行。每一高溫試驗設備100適用於配合一設置於外部的攝像裝置200使用，以進行至少一個裝設於一載盤300上的待測元件400的高溫耐受試驗。該高溫試驗設備100具體包含一機殼1、至少一透視層體2、一控溫裝置3、一快速加熱裝置4以及一傳送裝置5，其實施方式說明如下。

該機殼1可容裝該待測元件400以進行高溫試驗，並包括一殼主體11及一可開啟地裝設於該殼主體11頂側的殼蓋12。該殼蓋12形成一與該攝像裝置200對準的觀測開口121，該觀測開口121於本實施例呈長方形且可供該攝像裝置200獲取該待測元件400的影像。該機殼1具有位於不同側的一進料口111及一出料口112，且內部具有相連通的一定溫試驗區113及一快速升溫區114，並且形成至少一個熱風進風口115。該進料口111及該出料口112分別可供該載盤300、該待測元件400饋入及饋出。本實施例中，該進料口111及該出料口112分別位於該殼主體11的相對側，例如於圖中該進料口111是位於右側，該出料口112則是位於左側，如此的設置方式便於將該高溫試驗設備100串接使用。然而，在不同的實施方式中該進料口111及該出料口112的位置可視需要而調整，不以前述實施方式為限。該定溫試驗區113處設置該透視層體2及該控溫裝置3，並對應該出料口112的位置，是該待測元件400進行高溫試驗的主要空間。該快速升溫區114處設置該快速加熱裝置4且對應該進料口111的位置，可讓該待測元件400於該處進行快速加熱之處理程序。該熱風進風口115於本實施例是以兩個示例，可供高溫氣體從該處通入該機殼1中，以協同該控溫裝置3在該機殼1中形成用於對該待測元件400進行高溫試驗的高溫環境。

該透視層體2是以能耐受高溫的透明材質製作，且設置於該殼蓋12的該觀測開口121處，如此該待測元件400在該機殼1中進行高溫耐受試驗時，該攝像裝置200便能從該透視層體2的位置即時性地對該待測元件400進行外觀檢視。本實施例中，該透視層體2是以多層(例如兩層)示例，且該等透視層體2是上下間隔層疊地設置於該觀測開口121處，如此能提供較佳的隔熱效果，但其實施方式並不以特定層數為限。

該控溫裝置3設置於該機殼1的殼主體11中，且包括至少一個(本實施例是以多個示例)陶瓷加熱器，因而能受控發熱來調節該機殼1內的定溫試驗區113處的溫度。該快速加熱裝置4設置於該機殼1的快速升溫區114，其高度大於該傳送裝置5，且包括一個升溫功率大於該控溫裝置3的紅外線燈管。該紅外線燈管能在該載盤300及該待測元件400位於該快速升溫區114時受控在一預定時間內持續發出紅外線，使得經過該快速升溫區114的該待測元件400能受到快速升溫之處理程序。

該傳送裝置5設置於該機殼1內，且能將該載盤300及該待測元件400從該進料口111往該出料口112輸送，據以進行該待測元件400的高溫試驗程序。本實施例中，該傳送裝置5包括兩條在該進料口111及該出料口112之間延伸且相互間隔的傳送鏈帶51，該等傳送鏈帶51鄰近該控溫裝置3的頂側而能讓該待測元件400的底側鄰近加熱源，並用於撐托該載盤300的底部，能將該載盤300及該待測元件400依序經過該快速升溫區114、該定溫試驗區113來進行輸送。此外，該等傳送鏈帶51的高度係對應於該等熱風進風口115，如此從該等熱風進風口115通入的高溫氣體便能較直接地影響位於該載盤300中的該待測元件400的溫度。

參閱圖4，在實際使用上，可以將多台高溫試驗設備100相互串接使用，例如可將相鄰的兩台高溫試驗設備100的出料口112、進料口111對準緊靠連接，並讓各高溫試驗設備100的傳送鏈帶51首尾對準。如此一來，在將該等高溫試驗設備100的定溫試驗區113、快速升溫區114分別設定所需的溫度條件、升溫條件及試驗時間後，便可讓該待測元件400經由該等傳送鏈帶51依序運送經過該等定溫試驗區113及該等快速升溫區114來進行高溫耐受試驗。在該控溫裝置3、該快速加熱裝置4受控進行加熱或持溫程序時，該機殼1內還會通入高溫空氣，以確保該機殼1內的溫度均勻性。當該待測元件400在位於該等定溫試驗區113時，可由對準各台高溫試驗設備100之透視層體2處的攝像裝置200來進行外觀檢視，如此不但能夠實現自動化、即時性的外觀檢驗程序，同時也便於依據需要設定多重高溫試驗條件。

綜合上述，本發明高溫試驗設備100藉由該等透視層體2的設置，讓該攝像裝置200能夠在該待測元件400進行高溫耐受試驗時，即時性地進行該待測元件400的外觀檢視。此外，藉由該傳送裝置5的設置，能夠便利地將該待測元件400在不同溫度條件下的定溫試驗區113、快速升溫區114之間進行輸送，以便於自動化地進行高溫耐受試驗，故確實能達成本發明的目的。

惟以上所述者，僅為本發明之實施例而已，當不能以此限定本發明實施之範圍，凡是依本發明申請專利範圍及專利說明書內容所作之簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本發明專利涵蓋之範圍內。

100:高溫試驗設備 200:攝像裝置 300:載盤 400:待測元件 1:機殼 11:殼主體 111:進料口 112:出料口 113:定溫試驗區 114:快速升溫區 115:熱風進風口 12:殼蓋 121:觀測開口 2:透視層體 3:控溫裝置 4:快速加熱裝置 5:傳送裝置 51:傳送鏈帶

本發明之其他的特徵及功效，將於參照圖式的實施方式中清楚地呈現，其中：圖1是一立體圖，說明本發明高溫試驗設備的一實施例；圖2及圖3是呈現該高溫試驗設備之內部構造的立體剖視圖；圖4是一剖視示意圖，說明多個高溫試驗設備相互串接並配合攝像裝置使用的態樣。

100:高溫試驗設備

1:機殼

11:殼主體

111:進料口

12:殼蓋

2:透視層體

Claims

一種高溫試驗設備，適用於配合一設置於外部的攝像裝置使用，以進行至少一由一載盤盛裝的待測元件的高溫耐受試驗，該高溫試驗設備包含：一機殼，可容裝該待測元件，並具有一位於頂側的觀測開口、位於不同側的一進料口及一出料口，以及至少一個熱風進風口，該觀測開口與該攝像裝置對準，以供該攝像裝置獲取該待測元件的影像；至少一透視層體，裝設於該觀測開口處；一控溫裝置，設置於該機殼中且可受控發熱，藉以調節該機殼內的溫度；及一傳送裝置，設置於該機殼內且能將該載盤及該待測元件從該進料口往該出料口輸送，該傳送裝置包括兩條在該進料口及該出料口之間延伸且相互間隔以用於撐托該載盤的底部的傳送鏈帶，該等傳送鏈帶鄰近該控溫裝置的頂側，且高度對應於該熱風進風口。
如請求項1所述之高溫試驗設備，包含多層透視層體，該等透視層體相互間隔地層疊於該觀測開口處。
如請求項1所述之高溫試驗設備，其中，該機殼內具有相連通的一定溫試驗區及一快速升溫區，該定溫試驗區處設置該透視層體及該控溫裝置並對應該出料口的位置，該快速升溫區對應該進料口的位置；該傳送裝置能將該載盤及該待測元件依序經過該快速升溫區、該定溫試驗區來進行輸送；該高溫試驗設備還包含一設置於該快速升溫區且升溫功率大於該控溫裝置的快速加熱裝置。
如請求項3所述之高溫試驗設備，其中，該快速加熱裝置包括一紅外線燈管，該紅外線燈管能在該載盤及該待測元件位於該快速升溫區時受控在一預定時間內持續發出紅外線。
如請求項4所述之高溫試驗設備，其中，該紅外線燈管的高度大於該傳送裝置。
如請求項1所述之高溫試驗設備，其中，該控溫裝置包括至少一陶瓷加熱器。
如請求項1所述之高溫試驗設備，其中，該機殼包括一殼主體及一可開啟地裝設於該殼主體頂側的殼蓋，該觀測開口及該透視層體位於該殼蓋，該控溫裝置設置於該殼主體中。