TWI639844B - 電子元件預燒測試裝置及其應用之預燒爐 - Google Patents

電子元件預燒測試裝置及其應用之預燒爐 Download PDF

Info

Publication number
TWI639844B
TWI639844B TW106129025A TW106129025A TWI639844B TW I639844 B TWI639844 B TW I639844B TW 106129025 A TW106129025 A TW 106129025A TW 106129025 A TW106129025 A TW 106129025A TW I639844 B TWI639844 B TW I639844B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
test
burn
air
electronic components
bottom plate
Prior art date
Application number
TW106129025A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201913123A (zh
Inventor
楊孟堅
張余丞
Original Assignee
鴻勁精密股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 鴻勁精密股份有限公司 filed Critical 鴻勁精密股份有限公司
Priority to TW106129025A priority Critical patent/TWI639844B/zh
Priority to CN201810424203.1A priority patent/CN109425799B/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI639844B publication Critical patent/TWI639844B/zh
Publication of TW201913123A publication Critical patent/TW201913123A/zh

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/003—Environmental or reliability tests
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/01—Subjecting similar articles in turn to test, e.g. "go/no-go" tests in mass production; Testing objects at points as they pass through a testing station

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

一種電子元件預燒測試裝置及其應用之預燒爐，該預燒測試裝置係包含有測試治具及導風罩；該測試治具係設有測試板，並於該測試板上設有複數個測試套座，以供分別置入待測電子元件，另於該測試治具之底部設有導風罩，該導風罩內係設有底板，該底板與測試治具間則設有通道，另於該通道之一側設有入風口，該底板上則設有複數個出風口，而於預燒爐內執行電子元件之預燒測試作業時，即以該導風罩之入風口將熱風集中導入通道內，再由底板上之出風口排出，以對下層測試治具上之各待測電子元件集中吹送熱風，使各電子元件快速升溫至預設的測試溫度，以使各待測電子元件均勻與輸出的熱風作熱交換，並確保於預設的測試溫度執行測試作業，進而達到提升測試品質之效益。

Description

電子元件預燒測試裝置及其應用之預燒爐
本發明係提供一種可使電子元件快速升溫，並確保待測電子元件於預設的測試溫度內執行測試作業，而可提升測試品質之電子元件之預燒測試裝置。
在現今，電子元件於製作完成後，常需於高溫環境下進行預燒(Burn-in)測試作業，以淘汰出不良品，而確保產品品質；請參閱第1、2圖所示，習知電子元件之預燒(Burn-in)測試作業係備置有複數個預燒測試治具10及預燒爐(Burn-in Oven)，其中，該預燒測試治具10係設有一測試板11，並於該測試板11上設有複數個測試套座12，以分別置入待測之電子元件A；另該預燒爐係於爐體20內設有作業空間21，該作業空間21之一側設有連通熱風輸出裝置(圖式中未顯示)之送風通道22，並於該作業空間21與該送風通道22間設有複數個送風口23，該作業空間21之另側則設有排風通道24，並於該排風通道24與作業空間31間設有複數個排風口25；於執行預燒(Burn-in)測試作業時，其係將複數個具電子元件A之預燒測試治具10以適當間隔距離架設於爐體20之作業空間21內，而以熱風輸出裝置於送風通道22輸出熱風，並經由各送風口22將熱風輸入作業空間21內，熱風即流通經過各預燒測試治具10間之間隔空間，再由各排風口25及排風通道24排出，而各預燒測試治具10上之各電子元件A即受到各間隔空間內流通的熱風影響而升溫至預設的測試溫度，進而 使各電子元件A於高溫狀態下執行各電子元件A之預燒(Burn-in)測試作業；惟，該預燒爐(Burn-in Oven)之熱風流通方式於使用上仍有如下之缺弊：
1．各預燒測試治具10上之各電子元件A係分別受到各間隔空間內流通經過的熱風影響而升溫，使各電子元件A於高溫狀態下執行各電子元件A之預燒(Burn-in)測試作業；然而，當熱風輸出裝置於送風通道22輸出熱風時，由於熱風係由位於單一側之各送風口23輸入各間隔空間，使得鄰近於送風口23側之各電子元件A可以獲致較佳升溫效果，而鄰近於排風口25側之各電子元件A則因熱風的熱衰減而降低升溫效果，導致各電子元件A的溫度不一，而無法於均溫狀態下執行各電子元件A的測試作業，進而影響測試品質。
2．由於在執行預燒(Burn-in)測試作業時，係藉由熱風輸出裝置加熱，使輸出之熱風加熱至預設的測試溫度，然而鄰近於排風口25側之各電子元件A會因熱風的熱衰減而降低升溫效果，導致該鄰近於排風口25側之各電子元件A無法確保升溫至預設的測試溫度，進而影響測試品質。
有鑑於此，本發明人遂以其多年從事相關行業的研發與製作經驗，針對目前所面臨之問題深入研究，經過長期努力之研究與試作，終究研創出一種電子元件預燒測試裝置及其應用之預燒爐，以有效改善先前技術之缺點，此即為本發明之設計宗旨。
本發明之目的一，係提供一種電子元件預燒測試裝置及其應用之預燒爐，該預燒測試裝置係包含有測試治具及導風罩；該測試治具係設有測試板，並於該測試板上設有複數個測試套座，以供分別置入待測電子元件，另於該測試治具之底部設有導風罩， 該導風罩內係設有底板，該底板與測試治具間則設有通道，另於該通道之一側設有入風口，該底板上則設有複數個出風口，而於預燒爐內執行電子元件之預燒測試作業時，即以該導風罩之入風口將熱風集中導入通道內，再由底板上之出風口排出，以對下層測試治具上之各待測電子元件集中吹送熱風，以使各待測電子元件可均勻的與輸出的熱風作熱交換，進而達到提升測試品質之效益。
本發明之目的二，係提供一種電子元件預燒測試裝置及其應用之預燒爐，其係以該導風罩之入風口將熱風集中導入通道，再由出風口排出，而可對下層測試治具上之各待測電子元件集中吹送熱風，使各待測電子元件快速升溫至預設的測試溫度，進而確保於預設的測試溫度執行測試作業，以達到提升測試品質之效益。
習知部分：
10‧‧‧預燒測試治具
11‧‧‧測試板
12‧‧‧測試套座
20‧‧‧爐體
21‧‧‧作業空間
22‧‧‧送風通道
23‧‧‧送風口
24‧‧‧排風通道
25‧‧‧排風口
A‧‧‧電子元件
本發明部份：
30‧‧‧預燒測試裝置
31‧‧‧測試治具
311‧‧‧測試板
312‧‧‧測試套座
313‧‧‧插座
314‧‧‧把手
315‧‧‧架置部
32‧‧‧導風罩
321‧‧‧底板
322‧‧‧第一擋板
3221‧‧‧第一連接部
323‧‧‧第二擋板
3231‧‧‧第二連接部
324‧‧‧通道
325‧‧‧入風口
326‧‧‧第三擋板
327‧‧‧出風口
328‧‧‧導風板
40‧‧‧電子元件
50‧‧‧爐體
51‧‧‧作業空間
52‧‧‧送風通道
53‧‧‧送風口
54‧‧‧排風通道
55‧‧‧排風口
56‧‧‧承架
第1圖：習知電子元件預燒測試治具之外觀示意圖。
第2圖：習知電子元件預燒測試治具執行測試作業之示意圖。
第3圖：本發明預燒測試裝置之分解示意圖。
第4圖：本發明預燒測試裝置之組合示意圖。
第5圖：本發明預燒測試裝置之組合剖面示意圖。
第6圖：本發明預燒測試裝置執行測試作業之示意圖(一)。
第7圖：係第6圖剖面示意圖。
第8圖：本發明預燒測試裝置執行測試作業之示意圖(二)。
第9圖：本發明預燒測試裝置執行測試作業之示意圖(三)。
第10圖：係第9圖之A部分放大示意圖。
為使 貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉 一較佳實施例並配合圖式，詳述如後：
請參閱第3、4、5圖，本發明電子元件預燒測試裝置30係包含有測試治具31及導風罩32；該測試治具31係設有測試板311，並於該測試板311上設有複數個測試套座312，以供分別置入待測電子元件；於該測試板311之第一端設有與該各測試套座312電性連接之插座313，以供插接於預燒爐之電力系統的插頭，而使各測試套座312與預燒爐之訊號傳輸系統作電性連接，由於測試治具31之測試板311與預燒爐之電性連接方式係非本申請案的重點，因此不予贅述；另於該測試板311之第二端則設有把手314，以便操作人員操作使用，該測試板311之第一、二側緣則分別設有架置部315，以便架置於預燒爐內；於該測試治具31之底部裝設該導風罩32，該導風罩32係設有一底板321，並於該底板321之第一端緣向上彎折設有連接於該測試治具31底部之第一擋板322，第二端緣則向上彎折設有連接於該測試治具31底部之第二擋板323，並使該底板321與該測試治具31底部間形成有通道324；於本實施例中，該第一擋板322係向外彎折延伸設有第一連接部3221，該第二擋板323則向外彎折延伸設有第二連接部3231，並於該第一連接部3221及第二連接部3231分別以栓具穿伸鎖固於該測試治具31底部，於該通道324之第一側設有入風口325，第二側則設有第三擋板326，並於該底板321上開設有複數個分別對應該測試治具31之各測試套座312的出風口327，而使熱風可由該入風口325流通進入該通道324內，再由該底板321上之各出風口327往下排出；於本實施例中，該底板321係於第一側緣延伸設有一向下傾斜之導風板328，以集中導引熱風，使熱風易由該入風口325流通進入該通道324 內。
請參閱第6、7圖，本發明預燒測試裝置30於執行電子元件40之預燒(Burn-in)測試作業時，其係先於該測試治具31之測試板311上的各測試套座312分別置入待測之電子元件40；請參閱第8圖，接著將複數個具待測電子元件40之預燒測試裝置30架置於一預燒爐(Burn-in Oven)內，該預燒爐係設有爐體50，於該爐體50內則設有作業空間51，該作業空間51之一側設有連通熱風輸出裝置(圖式中未顯示)之送風通道52，並於該作業空間51與該送風通道52間設有複數個送風口53，該作業空間51之另側則設有排風通道54，並於該排風通道54與作業空間51間設有複數個排風口55，另於該各送風口53及各排風口55間分別設有承架56，以供架置測試治具31之架置部315，而使各預燒測試裝置30以適當間隔距離且上、下分層的架置於作業空間51內，另該測試治具31之插座313則插接於預燒爐之電力系統的插頭(圖式中未顯示)，而使各測試套座312與預燒爐之電力系統作電性連接。
請參閱第9、10圖，該預燒爐以熱風輸出裝置(圖式中未顯示)於送風通道52輸出已加熱至預設測試溫度的熱風，並經由各送風口52將已加熱至預設測試溫度的熱風輸入作業空間51內，當該熱風經由各送風口52流通進入作業空間51時，即利用該各導風罩32之導風板328集中導引熱風，使該熱風由該入風口325流通進入該測試治具31與該導風罩32間所形成之通道324內，再由該底板321上之各出風口327往下輸出，而利用各出風口327對下層另一測試治具31上之各待測電子元件40分別集中吹送熱風，該熱風再經由爐體50之排風口55及排風通道54排出，各待測電子元件40即分別與各出風口3 27輸出的熱風作熱交換，而升溫至預設的測試溫度，進而於高溫狀態下執行各電子元件40之預燒(Burn-in)測試作業；藉此，本發明之預燒測試裝置30於執行預燒測試作業時，係利用該導風罩32之入風口325將熱風集中導入通道324內，再由底板321上之各出風口327排出，以對下層測試治具上之待測電子元件集中吹送熱風，使電子元件快速升溫至預設的測試溫度，除了可使各待測電子元件均勻與輸出的熱風作熱交換外，且可確保各待測電子元件於預設的測試溫度執行測試作業，進而達到提升測試品質之實用效益。
據此，本發明實為一深具實用性及進步性之設計，然未見有相同之產品及刊物公開，從而允符發明專利申請要件，爰依法提出申請。

Claims (9)

  1. 一種電子元件預燒測試裝置，其係包含有：測試治具：係設有測試板，該測試板係設有至少一測試套座，以供置入待測之電子元件；導風罩：係設於該測試治具之下方，該導風罩係設有底板，並於該底板與該測試治具間設有至少一通道，該通道之第一側設有至少一入風口，該底板則設有至少一出風口，又該導風罩與該測試治具之測試板的至少一側緣之間設有至少一架置部。
  2. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件預燒測試裝置，其中，該導風罩之底板的出風口係對應該測試治具之測試套座。
  3. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件預燒測試裝置，其中，該導風罩之底板的第一端緣係向上彎折設有連接於該測試治具底部之第一擋板，該底板的第二端緣則向上彎折設有連接於該測試治具底部之第二擋板，使該底板與該測試治具底部間形成有該通道。
  4. 依申請專利範圍第3項所述之電子元件預燒測試裝置，其中，該導風罩之第一擋板係彎折延伸設有第一連接部，該第二擋板則彎折延伸設有第二連接部，並以該第一連接部及該第二連接部連結於該測試治具底部。
  5. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件預燒測試裝置，其中，該導風罩之通道的第二側係設有第三擋板。
  6. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件預燒測試裝置，其中，該導風罩之底板第一側緣延伸設有至少一向下傾斜之導風板。
  7. 一種應用電子元件預燒測試裝置之預燒爐，其係包含有：爐體：係設有作業空間，該作業空間之一側設有送風通道，並於該作業空間與該送風通道間設有至少一送風口，該作業空間之另一側則設有排風通道，並於該排風通道與該作業空間之間設有至少一排風口；至少一依申請專利範圍第1項所述之電子元件預燒測試裝置：係架置於該爐體之作業空間內，使該預燒測試裝置上之電子元件於該爐體內執行預燒測試作業。
  8. 依申請專利範圍第7項所述之應用電子元件預燒測試裝置之預燒爐，其中，該爐體係設有承架，以供架置該測試治具。
  9. 依申請專利範圍第8項所述之應用電子元件預燒測試裝置之預燒爐，其中，該爐體之送風通道係設有複數個該送風口，該爐體之排風通道則設有複數個該排風口，並於複數個該送風口及該排風口間設有複數個該承架，以供架置複數個該預燒測試裝置，並使各該預燒測試裝置以適當間隔距離且上、下分層的架置於該爐體之作業空間內。
TW106129025A 2017-08-25 2017-08-25 電子元件預燒測試裝置及其應用之預燒爐 TWI639844B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW106129025A TWI639844B (zh) 2017-08-25 2017-08-25 電子元件預燒測試裝置及其應用之預燒爐
CN201810424203.1A CN109425799B (zh) 2017-08-25 2018-05-04 电子组件预烧测试装置及其应用的预烧炉

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW106129025A TWI639844B (zh) 2017-08-25 2017-08-25 電子元件預燒測試裝置及其應用之預燒爐

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TWI639844B true TWI639844B (zh) 2018-11-01
TW201913123A TW201913123A (zh) 2019-04-01

Family

ID=65034107

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW106129025A TWI639844B (zh) 2017-08-25 2017-08-25 電子元件預燒測試裝置及其應用之預燒爐

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN109425799B (zh)
TW (1) TWI639844B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11353498B2 (en) 2020-02-06 2022-06-07 Hongbang Automation Co., Ltd. Feedback burn-in device of burn-in oven

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111289880A (zh) * 2020-03-25 2020-06-16 武汉精鸿电子技术有限公司 用于半导体芯片批量测试的高低温温箱

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050103034A1 (en) * 2003-11-14 2005-05-19 Micro Control Company Cooling air flow control valve for burn-in system
TW200700684A (en) * 2005-06-16 2007-01-01 Hsin Long Electric Machine Ind Co Ltd Air controlling structure of heating furnace
TWM404979U (en) * 2010-11-02 2011-06-01 King Yuan Electronics Co Ltd Pre-heating oven with frequencymodulation fan and heating adjustment device
TW201611143A (zh) * 2014-09-03 2016-03-16 Hsinho Advanced Technology Inc 預燒系統之冷卻氣流控制閘門機構
TW201704758A (zh) * 2015-07-23 2017-02-01 Hsinho Advanced Tech Inc 預燒系統之預燒板上導流均溫板機構

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05343490A (ja) * 1992-06-09 1993-12-24 Hitachi Ltd エージング方法及び装置
JP4578190B2 (ja) * 2004-09-22 2010-11-10 エスペック株式会社 バーンイン装置
CN201859154U (zh) * 2010-10-16 2011-06-08 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 一种挡风板
JP2016180730A (ja) * 2015-03-25 2016-10-13 合同会社Ｐｌｅｓｏｎ バーンイン試験装置の温度制御装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050103034A1 (en) * 2003-11-14 2005-05-19 Micro Control Company Cooling air flow control valve for burn-in system
TW200700684A (en) * 2005-06-16 2007-01-01 Hsin Long Electric Machine Ind Co Ltd Air controlling structure of heating furnace
TWM404979U (en) * 2010-11-02 2011-06-01 King Yuan Electronics Co Ltd Pre-heating oven with frequencymodulation fan and heating adjustment device
TW201611143A (zh) * 2014-09-03 2016-03-16 Hsinho Advanced Technology Inc 預燒系統之冷卻氣流控制閘門機構
TW201704758A (zh) * 2015-07-23 2017-02-01 Hsinho Advanced Tech Inc 預燒系統之預燒板上導流均溫板機構

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11353498B2 (en) 2020-02-06 2022-06-07 Hongbang Automation Co., Ltd. Feedback burn-in device of burn-in oven

Also Published As

Publication number Publication date
TW201913123A (zh) 2019-04-01
CN109425799A (zh) 2019-03-05
CN109425799B (zh) 2022-04-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI639844B (zh) 電子元件預燒測試裝置及其應用之預燒爐
US20170059181A1 (en) Oven appliance
CN204020230U (zh) 一种新型烘干炉热风循环装置
US20170055535A1 (en) Oven appliance
US11353498B2 (en) Feedback burn-in device of burn-in oven
CN111076522B (zh) 一种三相平衡高效均温的热风隧道炉烘干装置
CN104267712B (zh) 一种突跳式温控器的检测装置
US9568245B2 (en) Heating furnace
CN109655694A (zh) 一种可自动装载电源的多开门周转老化测试设备
TW201704758A (zh) 預燒系統之預燒板上導流均溫板機構
TWI680523B (zh) 基板烘烤設備
CN219224995U (zh) 自动化芯片老化测试装置
US10125999B2 (en) Oven appliance
KR20150033997A (ko) 카본히터를 이용한 전기 열풍기
CN207037274U (zh) 用于液晶面板老化的热循环装置
JP3006756B2 (ja) バーンイン試験装置
CN207877800U (zh) 一种补充加热型回火炉
TWI597483B (zh) 用於老化測試裝置之負壓冷卻系統以及使用該負壓冷卻系統之老化測試裝置
CN219390424U (zh) 一种电热鼓风干燥箱
JP2019152407A5 (zh)
TW201611143A (zh) 預燒系統之冷卻氣流控制閘門機構
CN202613962U (zh) 带有多个导风室的台车式电阻炉
CN207624496U (zh) 一种适用于电力变压器的冷却装置
US9759431B2 (en) Y-shaped oven flue
CN203550473U (zh) 一种进气装置