TWI760272B - 電子封裝件及其承載結構 - Google Patents

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黃偉益
陳宥辰
陳思先
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矽品精密工業股份有限公司
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  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)

Abstract

一種電子封裝件,係於其承載結構之基板本體上配置絕緣保護層,且該絕緣保護層具有複數開孔及至少一連通兩該開孔之開槽,以令該基板本體之銲墊對應外露於該些開孔,俾藉由該開槽連通兩該開孔,以形成一開口區,使該開口區不僅可置放一電子元件,且利於填入填充材。

Description

電子封裝件及其承載結構
本發明係有關一種半導體封裝結構,尤指一種電子封裝件及其承載結構。
隨著積體電路製作技術的進步,電子封裝件的設計與製作持續朝著細微化的趨勢發展,且由於其具備更大規模、高積集度的電子線路,因此相對應用產品之功能亦更加完整。
於此情況下,傳統利用通孔插裝技術(Through Hole Technology,簡稱THT)組裝於電路板上的電子封裝件,由於尺寸無法進一步的縮小,因而佔用電路板大量的空間,且通孔插裝技術係需依據各電子封裝件的每一腳位而於電路板上進行鑽孔,故此類型的電子封裝件之接腳實際上會佔用電路板相對兩側的空間,且該電子封裝件與電路板連接處的銲點亦較大。因此,現今的電子裝置之組裝程序中,已大量改採表面黏著技術(Surface Mounted Technology,簡稱SMT),以將電子封裝件組裝於電路板上。
使用SMT之電子封裝件,由於其各電極端(或接腳)係銲接電路板之同一表面上,因而不需在電路板上進行鑽孔。換言之,使用SMT將可在電路板之相對兩側同時組裝不同之電子封裝件,而大幅提昇電路板之空間利用率。此 外,由於採用SMT之電子封裝件之體積較小,故相較於傳統THT的電子封裝件,採用SMT之電子封裝件所能設置於電路板上之數量較為密集,因而符合電子裝置之輕薄短小、多功能、高速度及高頻化的需求,故SMT之組裝方式已成為主流的組裝方式。
圖1及圖1-1係為習知利用SMT組裝之電子封裝件1之剖視及局部上視平面示意圖。如圖1所示,係提供一表面覆蓋有防銲層13之基板本體10,且該基板本體10具有複數外露於該防銲層13開孔130之銲墊100,再利用網板印刷技術,於外露出該防銲層13之銲墊100上形成錫膏12。接著,將一被動元件11之電極端(terminal)110結合於該錫膏12上並回銲該錫膏12,使該被動元件11以其電極端110電性連接該基板本體10之銲墊100。之後,於該被動元件11下方之空間填入膠材14,以將該被動元件11固定於該基板本體10上。
惟,習知電子封裝件1中,注膠機具因受限該被動元件11而於注膠過程中,難以將該膠材14填滿該被動元件11之下方空間,因而容易產生氣泡(void)P,甚至於因無法填滿該下方空間而使錫膏12溢流,導致錫橋接之問題。
因此,如何克服上述習知技術的種種問題,實已成目前亟欲解決的課題。
鑑於上述習知技術之種種缺失,本發明係提供一種承載結構,係包括:基板本體,係具有複數銲墊;以及絕緣保護層,係配置於該基板本體上且具有複數開孔及至少一連通兩該開孔之開槽,以令各該銲墊對應外露於各該開孔。
前述之承載結構中,該開槽係呈十字形並包含有相交之橫向之第一區段及縱向之第二區段。例如,該第一區段係連通該複數開孔之其中兩者,該電子元件係位於相連通之兩該開孔與該第一區段內。
進一步,該第一區段之其中一側凸出該第二區段之長度係大於35微米。或者,該第二區段之寬度係大於130微米。亦或,該第二區段之其中一側凸出該第一區段之長度係大於50微米。
本發明亦提供一種電子封裝件,係包括:如前述之承載結構;以及電子元件,係藉由銲錫材料結合至該複數銲墊上。
前述之電子封裝件中,該電子元件係為被動元件。
前述之電子封裝件中,復包括形成於該開槽中之填充材,以令該填充材接觸結合該電子元件與該基板本體,使該電子元件固定於該基板本體上。
由上可知,本發明之電子封裝件及其承載結構中,主要藉由該開槽連通兩該開孔,以形成一開口區,使該開口區不僅可用於置放一電子元件,且利於填入該填充材,故相較於習知技術,本發明之電子封裝件,其於該電子元件與該基板本體之間並無配置該絕緣保護層,因而當該填充材注入該電子元件之下方空間時,能有效將該填充材填滿該電子元件之下方空間,以避免該填充材內產生氣泡之問題,甚至於能避免該銲錫材料溢流而導致錫橋接之問題。
1,2:電子封裝件
10,20:基板本體
100,200:銲墊
11:被動元件
110:電極端
12:錫膏
13:防銲層
130,230:開孔
14:膠材
2a:承載結構
21:電子元件
210a:第一電極端
210b:第二電極端
22:銲錫材料
23:絕緣保護層
231:開槽
231a:第一區段
231b:第二區段
24:填充材
A:開口區
C:交界區域
d,t:長度
P:氣泡
W:寬度
圖1係為習知電子封裝件之剖面示意圖。
圖1-1係為圖1之局部上視平面示意圖。
圖2係為本發明之電子封裝件之剖視示意圖。
圖2-1係為圖2之局部上視平面示意圖。
以下藉由特定的具體實施例說明本發明之實施方式,熟悉此技藝之人士可由本說明書所揭示之內容輕易地瞭解本發明之其他優點及功效。
須知,本說明書所附圖式所繪示之結構、比例、大小等,均僅用以配合說明書所揭示之內容,以供熟悉此技藝之人士之瞭解與閱讀,並非用以限定本發明可實施之限定條件,故不具技術上之實質意義,任何結構之修飾、比例關係之改變或大小之調整,在不影響本發明所能產生之功效及所能達成之目的下,均應仍落在本發明所揭示之技術內容得能涵蓋之範圍內。同時,本說明書中所引用之如「上」、「第一」、「第二」及「一」等之用語,亦僅為便於敘述之明瞭,而非用以限定本發明可實施之範圍,其相對關係之改變或調整,在無實質變更技術內容下,當亦視為本發明可實施之範疇。
圖2及圖2-1係為本發明之電子封裝件2之製法的剖面示意圖。如圖2所示,所述之電子封裝件2係包括:一承載結構2a、一設於該承載結構2a上之電子元件21、以及一填充於該電子元件21與該承載結構2a之間之填充材24。
所述之承載結構2a係包含一基板本體20,其例如為具有核心層與基板本體之封裝基板、無核心層(coreless)形式基板本體之封裝基板、具導電矽穿孔(Through-silicon via,簡稱TSV)之矽中介板(Through Silicon interposer,簡稱TSI)或其它板型,其包含至少一絕緣層及至少一結合該絕緣層之線路層,如至少一扇出(fan out)型重佈線路層(redistribution layer,簡稱RDL),且最外層之線路層係具有複數銲墊200。
於本實施例中,該承載結構2a亦包含一配置於該基板本體20上之絕緣保護層23,如綠漆、油墨等防銲材,其具有複數開孔230及至少一連通兩該 開孔230之開槽231,如圖2-1所示,以令各該銲墊200對應外露於各該開孔230,且相連通之該兩開孔230與該開槽231係作為開口區A。
再者,該開槽231係近似十字形,其橫向之第一區段231a(如短溝區)係連通兩該開孔230,使該電子元件21位於該兩開孔230與該第一區段231a內,如圖2-1所示,且該開槽231之縱向之第二區段231b(如長溝區)係與該第一區段231a相交而形成一交界區域C,而該第二區段231b相對該開孔230之其中一側之長度d可依需求設定。
所述之電子元件21係具有第一電極端210a與第二電極端210b,且該第一電極端210a與第二電極端210b係分別結合所對應之各該銲墊200。
於本實施例中,該電子元件21係為被動元件,如電阻、電容及電感。
再者,該第一電極端210a與第二電極端210b係藉由銲錫材料22結合至所對應之銲墊200,故於組裝時,當回銲該銲錫材料22後,該電子元件21能以其第一與第二電極端210a,210b電性連接該些銲墊200。例如,該開槽231之第一區段231a之其中一側凸出該第二區段231b之長度t(即該銲墊200與該交界區域C之間的距離)係大於35微米(um),以避免該銲墊200接觸銲錫材料22之面積過大而造成該電子元件21發生短路(short)的情況。
所述之填充材24係形成於該開槽231中,以接觸結合該電子元件21與該基板本體20。
於本實施例中,該填充材24係為絕緣材,如聚醯亞胺(polyimide,簡稱PI)、乾膜(dry film)、預浸材(prepreg,簡稱PP)、雙馬來醯亞胺三嗪(Bismaleimide Triazine,簡稱BT)、如環氧樹脂(epoxy)之封裝膠體或封裝材(molding compound),但不限於上述。
再者,於形成該填充材24時,係藉由注膠機具(圖略)由該開槽231之第二區段231b之其中一側將該填充材24填入該開槽231中,以免受限於該電子元件21,因而有利於填滿該開槽231。例如,該第二區段231b之寬度W係大於130微米(um),以利於作為該填充材24流入該開槽231的入口。較佳者,該第二區段231b之其中一側凸出該第一區段231a之長度d係大於50微米(um),使該填充材24易於流入該開槽231中(即該電子元件21與該基板本體20之間的空間)。
綜上所述,本發明之電子封裝件2主要藉由該開槽231之設計,以於該基板本體20上之絕緣保護層23形成一呈十字形的開口區A,使該開口區A不僅可用於置放一電子元件21,且利於填入該填充材24,故相較於習知技術,本發明之電子封裝件2之電子元件21與該基板本體20之間並無配置該絕緣保護層23,因而當該填充材24注入該電子元件21之下方空間時,能有效將該填充材24填滿該電子元件21之下方空間,以避免該填充材24內產生氣泡(void)之問題,甚至於能避免該銲錫材料22溢流而導致錫橋接之問題。
上述實施例係用以例示性說明本發明之原理及其功效,而非用於限制本發明。任何熟習此項技藝之人士均可在不違背本發明之精神及範疇下,對上述實施例進行修改。因此本發明之權利保護範圍,應如後述之申請專利範圍所列。
200:銲墊
21:電子元件
23:絕緣保護層
230:開孔
231:開槽
231a:第一區段
231b:第二區段
24:填充材
A:開口區
C:交界區域
d,t:長度
W:寬度

Claims (9)

  1. 一種承載結構,係包括:基板本體,係具有複數銲墊;以及絕緣保護層,係配置於該基板本體上且具有複數開孔及至少一連通兩該開孔之開槽,以令各該銲墊對應外露於各該開孔;其中,該開槽係呈十字形並包含有相交之橫向之第一區段及縱向之第二區段。
  2. 如請求項1所述之承載結構,其中,該第一區段係連通該複數開孔之其中兩者。
  3. 如請求項1所述之承載結構,其中,該電子元件係位於相連通之兩該開孔與該第一區段內。
  4. 如請求項1所述之承載結構,其中,該第一區段之其中一側凸出該第二區段之長度係大於35微米。
  5. 如請求項1所述之承載結構,其中,該第二區段之寬度係大於130微米。
  6. 如請求項1所述之承載結構,其中,該第二區段之其中一側凸出該第一區段之長度係大於50微米。
  7. 一種電子封裝件,係包括;如請求項1至6任一項所述之承載結構;以及電子元件,係藉由銲錫材料結合至該複數銲墊上。
  8. 如請求項7所述之電子封裝件,其中,該電子元件係為被動元件。
  9. 如請求項7所述之電子封裝件,復包括形成於該開槽中之填充材,以令該填充材接觸結合該電子元件與該基板本體。
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