TWI737199B - 電子元件測試夾具 - Google Patents

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Abstract

本發明電子元件測試夾具包含:本體、複數夾具及啟動件;其中,本體具有複數個縱向貫穿的第一通孔及一橫向貫穿的第二通孔;該等夾具分別安裝於第一通孔內部,並於相對兩端分別形成夾持部及插接部,夾持部具有兩夾臂,而插接部形成有凸出本體的多數接線頭;啟動件具有相互連接的推桿及撥桿,該推桿具有一相鄰於夾持部的凸緣部。藉此,當啟動件由初始位置樞轉至啟動位置,凸緣部將被改變方向來推抵夾持部,使得兩夾臂由鬆脫狀態改變為將電子元件接腳夾持定位的夾緊狀態。

Description

電子元件測試夾具
本發明有關於一種夾持如電阻、電容、電桿等任意電子元件的測試夾具,特別是指一種能放入高熱環境中加熱來測試電子元件老化情況的夾具組件。
請參閱圖9所示,習知測試夾具主要透過將電子元件插入固定套91,再透過固定套91一側開口處設有安裝筒92來固定電子元件,且安裝筒92一側開口處的垂直兩側均設有穿過於安裝筒92的T型撥桿93,此外,安裝筒92外部兩側的T型撥桿93上均設有第一彈簧94,兩側T型撥桿93穿過安裝套92的端部設有夾板一側設有複數滾珠,當電子元件插入固定套91與安裝筒92內部時,由第一彈性夾臂95以及第二彈性夾臂96之間的第二彈簧97往內擠壓,使得插入安裝筒92的電子元件能透過固定套91以及連接桿98來固定支撐。
然而,該測試夾具在測試電子元件時,主要是透過安裝筒來固定被測量元件,然後才讓夾具上的兩組導電板分別去接觸元件的正、負極來進行測量,由於是透過安裝筒來固定被測量元件,故這樣的夾具僅使用於能對應安裝筒的元件,難以應用於其他不能對應該安裝筒的電子元件,此外,安裝不易且操作麻煩造成使用上的不便。
本發明的主要目的在於提供一種採用扳壓形式啟動件的測試夾具,使得夾具能透過單側施放力量來完成緊迫或開合狀態,方便使用者快速組裝或拆卸受測電子元件。
本發明的次要目的在於測試夾具在啟動件的扳壓過程中會產生提醒聲音,方便使用者確認受測電子元件被夾持定位,且啟動件在夾具緊迫狀態時會受到突起結構限位,避免受到彈力影響回彈而造成夾具自行鬆脫。
本發明的另一目的在於測試夾具中的夾具與啟動件之間的阻隔件具有一導熱設計,避免測試夾具放入高溫環境加熱時,熱能集中在啟動件與阻隔件之間的接觸位置,造成阻隔件形變而減少夾具所能產生的夾持力量。
本發明的再一目的在於測試夾具透過在本體的多個通孔設計,方便進行夾具、啟動件等零件的組裝作業,並能降地測試夾具的製造成本。
為達到上述目的,本發明電子元件測試夾具,包含:一本體、複數夾具以及一啟動件。
該本體具有複數個縱向貫穿的第一通孔以及一橫向貫穿的第二通孔;該等夾具分別安裝於該等第一通孔內部,並於該第一通孔的相對兩端分別形成一夾持部以及一插接部,該夾持部具有保持在鬆脫狀態的兩夾臂,而該插接部形成有複數個凸出該本體的接線頭;該啟動件可活動地組裝於該本體的該第二通孔,具有一插入該第二通孔的推桿以及一位於該本體外部的撥桿,該推桿相鄰於該等夾持部的一側,並具有一凸緣部。
其中,當該啟動件由一初始位置樞轉於一啟動位置,該凸緣部將被改變方向來推抵夾持部,該推桿將會形變產生作用於該夾臂的彈力性,使得該夾持部的兩臂由鬆脫狀態,改變為一夾緊狀態。
該本體的一外表面設有一位在該初始位置及該啟動位置之間的凸起部,當該撥桿在移動至該啟動位置時,能夠接觸並跨越該凸起部來產生一提醒聲音,且該撥桿將受到該凸起部的突起高度作用而保持定位於啟動位置。
其中,該凸起部包含一由該外表面凹設構成的凹孔以及一局部範圍嵌入該凹孔固定的球體。
關於該啟動件的設計, 於一實施例中,該推桿穿出該本體形成一擋部,且該擋部與該本體之間設有一彈性件,該彈性件產生一作用力使得該撥桿保持接觸於該本體的該外表面。
該啟動件在沿著該初始位置樞轉至該啟動位置時,該啟動件將沿著該第二通孔的一開口方向進行一往復運動,使得該撥桿透過位移來跨越該凸起部。
於一實施例中,該等夾具的其中一者具有一位於該夾持部與插接部之間的轉折部,使得該夾持部與該插接部分別位於相互平行間隔的兩不同縱向平面。
關於該本體,於一實施例中,該本體具有一垂直於該第一通孔以及該第二通孔的第三通孔,該第三通孔內部設有一穿接於該夾具的定位桿,且該定位桿上設有一凹緣,該凹緣用以設置一C形環,該C形環與該第一通孔的一內壁面共同形成一用以定位該夾具的限位空間。
關於該夾具,於一實施例中,該夾具包含一形成該夾臂與該等接線頭的第一夾片以及一形成另一夾臂的第二夾片,且該第一夾片的中央位置以及該第二夾片的端部位置分別具有一供該定位桿穿入的組接孔,該定位桿上設有兩互相間隔的該C型環,該等C型環其中一者與該第一通孔的其中一內壁面間隔,使該第一夾片設於該限位空間中,該等C型環的另一者與該第一通孔的另一內壁面直接接觸。
於一實施例中,該電子元件測試夾具進一步包含一設置於該第一通孔內部的阻隔件,該阻隔件可活動地組裝於該等夾具與該啟動件之間。
該阻隔件具有一接觸該本體的第一接觸端以及一接觸該等夾具的第二接觸端,該第一觸接端形成有一能容納該推桿的凹軌以及複數個位於該凹軌兩側的接觸部,而該第二接觸端形成有一連接該等接觸部的漸縮部。
於一可行實施例中,該凹軌內部開設有一嵌槽,而該嵌槽內部設有一導熱效率大於該阻隔件的導熱件,使得該啟動位置的推桿能夠直接接觸該導熱件;且該第二接觸端具有一連通該嵌槽的槽體。
由前述說明可知,本發明的特點在於啟動件具有插入該第二孔洞的推桿以及位於本體外部的撥桿,該推桿相鄰於夾持部的一側,並具有凸緣部,其中,當啟動件由初始位置樞轉於啟動位置,凸緣部將被改變方向來推抵夾持部,使得操作上,能透過扳壓並轉動該撥桿來帶動該推桿推抵該夾持部來夾持不同的電子元件,並透過撥桿本身長度所形成的力臂來節省操作夾具時所需要的力道,並能透過單一凸點來固定撥桿位置以維持夾具的固定,且測試夾具中的夾具與啟動件之間的阻隔件還具有一導熱元件,以避免測試夾具放入高溫環境加熱時,啟動件與阻隔件接觸點的局部高溫所造成的形變問題。
茲為便於更進一步對本發明之構造、使用及其特徵有更深一層明確、詳實的認識與瞭解,爰舉出較佳實施例,配合圖式詳細說明如下:
請參閱圖1至圖3所示,本發明電子元件測試夾具1,於一較佳實施例中包含:一本體2,複數夾具3、一啟動件4、複數阻隔件5以及複數支撐件6;該本體2具有複數個縱向貫穿的第一通孔21以及一橫向貫穿的第二通孔22,並在垂直於該第一通孔21以及該第二通孔22方向設有一第三通孔23以及一第四通孔24,其中,該第二通孔22、該第三通孔23以及該第四通孔24分別在不同高度位置來連通於該第一通孔21。
如圖3所示,該第一通孔21內部具有一對齊該第三通孔23位置的凸起壁211,使得該第三通孔23能夠貫通於該凸起壁211,並且該凸起壁211在沿著該第一通孔21的開口方向形成有一安裝孔212。
該複數夾具3分別一對一的安裝於該等第一通孔21內部,並於該第一通孔21的相對兩端分別形成一夾持部31以及一插接部32,該夾持部31具有保持在鬆脫狀態的兩夾臂33、34,而該插接部32形成有複數個凸出該本體2第一通孔21的接線頭35。
該夾具3是被一設置於該第三通孔23內部的定位桿7 穿接定位,該定位桿7的兩端位置與該第三通孔23接觸固定,而該定位桿7的中央位置設有兩形成間隔的凹緣71,且該等凹緣71分別安裝有一C形環72,其中,兩C形環72的其中一者與該第一通孔21的一內壁面213構成一限位空間73,而兩C形環72的其中另一者則是與該第一通孔21的該凸起壁211相接觸,使得該定位桿7固定在該本體2的第三通孔23內部無法相對移動。
此外,該夾具3包含一形成該夾臂33與該接線頭35的第一夾片3a以及一形成另一夾臂34的第二夾片3b,且該第一夾片3a的中央位置以及該第二夾片3b的端部位置分別具有一供該定位桿7穿入的組接孔36。其中,該第一夾片3a的夾臂33以及該第二夾片3b的夾臂34皆在該第一通孔21的開口端形成一水平段331、341,再由該水平段331、341依序向下延伸形成一縱向段332、342以及一能讓該縱向段332、342橫向平移的彎折段333、343構成。
如圖所示,該第一夾片3a是由該第一通孔21進入該本體2內部,再受到該定位桿7的穿設定位,後續將該C形環72安裝於該定位桿7,使得該第一夾片3a被固定在該限位空間73中,而該第二夾片3b是由該第一通孔21進入該本體2內部,並且穿入該凸起壁211的安裝孔212中,再受到該定位桿7的穿設定位。
再者,兩夾具3的其中一者具有一位於該夾持部31與插接部32之間的轉折部37,使得該夾持部31與該插接部32分別位於兩相互平行間隔的不同縱向平面。
再參閱圖2及圖4所示,該啟動件4可活動地組裝於該本體2的該第二通孔22,具有一插入該第二通孔22的推桿41以及一位於該本體2外部的撥桿42,該推桿41相鄰於該等夾持部31的一側,並具有一凸緣部43,該凸緣部43的凸起方向與該撥桿42的軸向方向相同。
其中,該推桿41穿出該本體2形成一位於該撥桿42相反側的擋部44,並且該擋部44與該本體2之間設有一彈性件45,該彈性件45產生一作用力使得該撥桿42保持接觸於該本體2外部。
請參閱圖2至圖4所示,該等阻隔件5可活動地一對一組裝於該等夾具3與該啟動件4之間,該阻隔件5具有一接觸該本體2的第一接觸端51以及一接觸該等夾具3的第二接觸端52,該第一觸接端51形成有一能容納該推桿41的凹軌53以及複數個位於該凹軌53兩側的接觸部54,而該第二接觸端52形成有一連接該等接觸部54的漸縮部55。
另外,該凹軌53內部開設有一嵌槽56,而該嵌槽56內部設有一導熱效率大於該阻隔件5的導熱件8,使得該推桿41能夠與該導熱件8表面直接接觸。其中,該第二接觸端52具有一連通該嵌槽56的槽體57。
請再參閱圖2及圖3所示,該等支撐件6具有一與該縱向段332相鄰的墊體61,並由該墊體61突出一定位柱62,讓該等支撐件6能夠一對一的進入該等第一通孔21,再由該定位柱62穿入該第四通孔24,使得該支撐件6能夠固定在該第一通孔21內部,避免與該墊體61相接觸的該縱向段332在受到作用力影響的狀態下產生不必要的形變。
請參閱圖5A所示,當該測試夾具1在一未使用狀態下,該夾具3的兩夾臂33、34是保持在一未接觸的鬆脫狀態,此時,該夾臂33是接觸在該支撐件6,該夾臂34是接觸在該阻隔件5,且該啟動件4的凸緣部43是朝向上方,連帶使得該撥桿42的軸向方向大致朝向上方。
請參閱圖5B所示,當該測試夾具1的啟動件4由一初始位置樞轉至一啟動位置時,該凸緣部43將被改變為一水平方向來推抵該阻隔件5,而該阻隔件5將會壓迫該夾臂34,使得該夾持部31的兩夾臂33、34由該鬆脫狀態改變為一能將電子元件固定的夾緊狀態。
請再參圖2所示,除此之外,該本體2的一外表面25設有一位在該初始位置及該啟動位置之間的凸起部26,於圖式較佳實施例中,該凸起部26包含一在該外表面25凹設構成的凹孔261以及一局部範圍嵌入該凹孔261固定的球體262。
請再參閱圖6A至圖6C所示,該啟動件4在沿著該初始位置樞轉至該啟動位置時,該撥桿42在移動至該啟動位置之前,將會先行接觸並跨越該凸起部26來產生一提醒聲音,同時該啟動件4將沿著該第二通孔22的一開口方向進行一往復運動,使得該撥桿42透過位移來跨越該凸起部26,後續該撥桿42在越過該凸起部26之後,將受到該凸起部26的突起高度以及該彈性件45的共同作用,使得該啟動件4在沒有其他一定大小的外力扳壓情況下,將會保持定位於該啟動位置。
本發明凸緣部43的凸起高度等同於兩夾臂33、34之間的間隔距離,因此,在該夾具3內部並未夾持任何電子元件的情況下,該推桿41的凸緣部43可自由樞轉。
請參閱圖7所示,但是,當該夾具3內部放置有電子元件的接腳,則該推桿41的凸緣部43將會受到該本體2與夾持部31兩者的共同緊迫。
請參閱圖8A及8B所示本發明的第二較佳實施例,本發明啟動件4可省略前述第一較佳實施例的擋部44以及彈性件45,主要透過變更該凸起部26的設計,將可以容納該球體262的該凹孔261體積增加(圖未示),且該凹孔261內部具有一彈性手段(圖未示),使得該撥桿42於移動過程中接觸到該凸起部26時,該凸起部26的該球體262將會朝向該本體2的方向進行移動,進而縮進該凹孔261中,後續該撥桿42通過後,該球體262將會因為彈性手段作用回彈凸出,藉以防止該撥桿42無故返回該初始位置。
1:測試夾具 2:本體 21:第一通孔 211:凸起壁 212:安裝孔 213:內壁面 22:第二通孔 23:第三通孔 24:第四通孔 25:外表面 26:凸起部 261:凹孔 262:球體 3:夾具 3a:第一夾片 3b:第二夾片 31:夾持部 32:插接部 33、34:夾臂 331、341:水平段 332、342:縱向段 333、343:彎折段 35:接線頭 36:組接孔 37:轉折部 4:啟動件 41:推桿 42:撥桿 43:凸緣部 44:擋部 45:彈性件 5:阻隔件 51:第一接觸端 52:第二接觸端 53:凹軌 54:接觸部 55:漸縮部
圖1為本發明電子元件測試夾具於一較佳實施例中的立體圖; 圖2為本發明電子元件測試夾具的分解圖; 圖3為圖1中AA線段的斷面圖; 圖4為圖1中BB線段的斷面圖; 圖5A為啟動件位在初始位置的斷面示意圖; 圖5B為啟動件位在啟動位置的斷面示意圖; 圖6A~6C為啟動件由初始位置樞轉至啟動位置的示意圖; 圖7為夾具夾持電子元件造成啟動件形變的斷面示意圖; 圖8A~8B為本發明於一第二實施例中啟動件由初始位置樞轉至啟動位置的示意圖;以及 圖9為習知測試夾具的示意圖。
1:測試夾具
2:本體
21:第一通孔
22:第二通孔
23:第三通孔
24:第四通孔
25:外表面
26:凸起部
261:凹孔
262:球體
3:夾具
3a:第一夾片
3b:第二夾片
31:夾持部
32:插接部
33、34:夾臂
331、341:水平段
332、342:縱向段
333、343:彎折段
35:接線頭
36:組接孔
37:轉折部
4:啟動件
41:推桿
42:撥桿
43:凸緣部
44:擋部
45:彈性件
5:阻隔件
51:第一接觸端
52:第二接觸端
53:凹軌
54:接觸部
55:漸縮部
57:槽體
6:支撐件
61:墊體
62:定位柱
7:定位桿
71:凹緣
72:C形環

Claims (13)

  1. 一種電子元件測試夾具,包含:一本體,具有複數個縱向貫穿的第一通孔以及一橫向貫穿的第二通孔;複數夾具,分別安裝於該等第一通孔內部,並於該第一通孔的相對兩端分別形成一夾持部以及一插接部,該夾持部具有保持在鬆脫狀態的兩夾臂,而該插接部形成有複數個凸出該本體的接線頭;一啟動件,可活動地組裝於該本體的該第二通孔,具有一插入該第二通孔的推桿以及一位於該本體外部的撥桿,該推桿相鄰於該等夾持部的一側,並具有一凸緣部;其中,當該啟動件由一初始位置樞轉至一啟動位置,該凸緣部將被改變方向來推抵該等夾持部,使得該夾持部的兩夾臂由該鬆脫狀態改變為一夾緊狀態。
  2. 如請求項1所述電子元件測試夾具,其中,該本體的一外表面設有一位在該初始位置及該啟動位置之間的凸起部,當該撥桿在移動至該啟動位置時,能夠接觸並跨越該凸起部來產生一提醒聲音,且該撥桿將受到該凸起部的突起高度作用而保持定位於啟動位置。
  3. 如請求項2所述電子元件測試夾具,其中,該凸起部包含一由該外表面凹設構成的凹孔以及一局部範圍嵌入該凹孔固定的球體。
  4. 如請求項1所述電子元件測試夾具,其中,該推桿穿出該本體形成一擋部,且該擋部與該本體之間設有一彈性件,該彈性件產生一作用力使得該撥桿保持接觸於該本體的該外表面。
  5. 如請求項1所述電子元件測試夾具,其中,該啟動件在沿著該初始位置樞轉至該啟動位置時,該啟動件將沿著該第二通孔的一開口方向進行一往復運動,使得該撥桿透過位移來跨越該凸起部。
  6. 如請求項1所述電子元件測試夾具,其中,該等夾具的其中一者具有一位於該夾持部與插接部之間的轉折部,使得該夾持部與該插接部分別位於相互平行間隔的兩不同縱向平面。
  7. 如請求項1所述電子元件測試夾具,其中,該本體具有一垂直於該第一通孔以及該第二通孔的第三通孔,該第三通孔內部設有一穿接於該夾具的定位桿,且該定位桿上設有凹緣,該凹緣用以設置一C形環,該C形環與該第一通孔的一內壁面共同形成一用以定位該夾具的限位空間。
  8. 如請求項7所述電子元件測試夾具,其中,該夾具包含一形成該夾臂與該等接線頭的第一夾片以及一形成另一夾臂的第二夾片,且該第一夾片的中央位置以及該第二夾片的端部位置分別具有一供該定位桿穿入的組接孔,該定位桿上設有兩互相間隔的該C型環,該等C型環其中一者與該第一通孔的其中一內壁面間隔,使該第一夾片設於該限位空間中,該等C型環的另一者與該第一通孔的另一內壁面直接接觸。
  9. 如請求項8所述電子元件測試夾具,其中,該第一夾片的夾臂以及該第二夾片的夾臂皆是由該第一通孔的開口端依序向下延伸形成一縱向段以及一能讓該縱向段橫向平移的彎折段構成。
  10. 如請求項1所述電子元件測試夾具,其中,該電子元件測試夾具進一步包含一設置於該第一通孔內部的阻隔件,該阻隔件可活動地組裝於該等夾具與該啟動件之間。
  11. 如請求項10所述電子元件測試夾具,其中,該阻隔件具有一接觸該本體的第一接觸端以及一接觸該等夾具的第二接觸端,該第一觸接端形成有一能容納該推桿的凹軌以及複數個位於該凹軌兩側的第一接觸部,而該第二接觸端形成有一連接該等第一接觸部的漸縮部。
  12. 如請求項11所述電子元件測試夾具,其中,該凹軌內部開設有一嵌槽,而該嵌槽內部設有一導熱效率大於該阻隔件的導熱件,使得該啟動位置的推桿能夠直接接觸該導熱件。
  13. 如請求項12所述電子元件測試夾具,其中,該第二接觸端具有一連通該嵌槽的槽體。
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Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW449045U (en) * 1999-08-05 2001-08-01 You Chuen Guei Automatic probe assembling machine
TWM345235U (en) * 2008-03-27 2008-11-21 Testfine Technologies Company Ltd Measurement fixture of chip resistor
CN101446597A (zh) * 2007-11-26 2009-06-03 矢崎总业株式会社 电导率测试夹具、具有电导率测试夹具的电导率测试设备以及测试电导率的方法
TW201142324A (en) * 2009-12-22 2011-12-01 Teradyne Inc Capacitive opens testing in low signal environments
US8558554B2 (en) * 2009-04-21 2013-10-15 Johnstech International Corporation Electrically conductive Kelvin contacts for microcircuit tester
TWM466265U (zh) * 2013-05-10 2013-11-21 Microtest Corp 具自動抵靠及夾持功能之測試治具
TW201543052A (zh) * 2014-05-07 2015-11-16 Synax Co Ltd 電子組件測量接觸模組
CN209069969U (zh) * 2018-09-15 2019-07-05 上海康博电子有限公司 一种电容检测用夹具

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW449045U (en) * 1999-08-05 2001-08-01 You Chuen Guei Automatic probe assembling machine
CN101446597A (zh) * 2007-11-26 2009-06-03 矢崎总业株式会社 电导率测试夹具、具有电导率测试夹具的电导率测试设备以及测试电导率的方法
TWM345235U (en) * 2008-03-27 2008-11-21 Testfine Technologies Company Ltd Measurement fixture of chip resistor
US8558554B2 (en) * 2009-04-21 2013-10-15 Johnstech International Corporation Electrically conductive Kelvin contacts for microcircuit tester
TW201142324A (en) * 2009-12-22 2011-12-01 Teradyne Inc Capacitive opens testing in low signal environments
TWM466265U (zh) * 2013-05-10 2013-11-21 Microtest Corp 具自動抵靠及夾持功能之測試治具
TW201543052A (zh) * 2014-05-07 2015-11-16 Synax Co Ltd 電子組件測量接觸模組
CN209069969U (zh) * 2018-09-15 2019-07-05 上海康博电子有限公司 一种电容检测用夹具

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