TWI671542B - 放射線測量器以及放射線攝影裝置 - Google Patents
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Abstract
在所述放射線測量器中，控制部是構成為根據氣壓計的測定值，基於第1電離電流及第2電離電流兩者對放射線量資訊進行修正，所述第1電離電流是由放射線與空氣的相互作用而產生的電子所引起，所述第2電離電流是由放射線與入射側電極的相互作用而產生的電子所引起。
Description
本發明是有關於一種放射線測量器及放射線攝影裝置，特別是有關於一種具備用以測定藉由放射線與空氣的相互作用而產生的電離電流的電離箱的放射線測量器及放射線攝影裝置。
先前，已知有具備用以測定藉由X線(放射線)與空氣的相互作用而產生的電流(電離電流)的檢測器(電離箱)的X線診斷裝置(放射線攝影裝置)。此種X線診斷裝置例如揭示於日本專利特開2014-54322號公報中。
所述日本專利特開2014-54322號公報中所述的X線診斷裝置具備對被測體照射X線的X線發生部。X線發生部包括X線管、具有線量測量部的X線照射部、以及具有X線控制部及高電壓發生器的高電壓發生部。此處，線量測量部具有使用電離箱的檢測器，所述電離箱在X線所入射的入射口及射出的射出口分別設置有電極(入射側電極及射出側電極)。
在電離箱中，藉由使放射線入射而使兩個電極之間的空氣發生電離，由此在兩個金屬板之間流動著電流(電離電流)。在如所述日本專利特開2014-54322號公報所述的現有的X線診斷裝
置中，藉由利用電流測定電路測定所述電離電流，而求出X線的放射線量(面積線量值)。此處，藉由放射線而使空氣的電子發生電離而產生的電流會因電離箱內的氣壓而發生變化。藉此，所測定的電流因電離箱內的氣壓而發生變化，故藉由電離箱內的氣壓發生變化，使得X線的線量亦發生變化。
又，電離電流的量因電離箱內的氣壓而發生變化。因此，在如所述日本專利特開2014-54322號公報所述的現有的X線診斷裝置中，以如下方式而構成：在X線診斷裝置上設置氣壓計，基於氣壓計所測定到的氣壓，根據氣壓對面積線量進行修正。再者，用以修正面積線量的修正係數是基於氣體的狀態方程式而求出。
但是，可想到如下問題點：當空氣的電離不僅藉由X線與空氣的相互作用而產生，而且藉由X線與其他構件(固體)的相互作用而產生時，存在利用基於所述氣體的狀態方程式而求出的修正係數，無法準確地修正面積線量的情況。
本發明是為了解決如上所述的問題而開發的，本發明的一個目的在於提供一種能夠更準確地修正放射線的放射線量的放射線測量器及放射線攝影裝置。
為了達成所述目的，本發明的第1方面的放射線測量器包括：電離箱，包含安裝在放射線所入射的入射口的入射側電極及安裝在射出口的射出側電極，用以測定藉由透過入射側電極的放
射線而產生的電離電流；氣壓計，測定電離箱內的氣壓；以及控制部，基於電離電流獲得放射線量資訊；且控制部是構成為：根據氣壓計的測定值，基於第1電離電流及第2電離電流兩者對放射線量資訊進行修正，所述第1電離電流是由放射線與空氣的相互作用而產生的電子所引起，所述第2電離電流是由放射線與入射側電極的相互作用而產生的電子所引起。
在本發明的第1方面的放射線測量器中，如上所述，控制部是構成為基於第1電離電流及第2電離電流兩者對放射線量資訊進行修正，所述第1電離電流是由放射線與空氣的相互作用所引起，所述第2電離電流是由放射線與入射側電極的相互作用所引起。此處，當放射線入射至包含入射側電極的電離箱時，藉由放射線與電離箱內的空氣的相互作用而產生的二次電子使空氣產生電離，並且藉由放射線與入射側電極的相互作用而產生的二次電子使空氣產生電離。而且，由放射線與電離箱內的空氣的相互作用所引起的電離中，空氣的氣壓的影響比較大。但是，由放射線與入射側電極的相互作用所引起的電離由於入射側電極並非氣體(由於為固體)，故而氣壓的影響比較小。因此，當設為空氣的氣壓對由放射線與電離箱內的空氣的相互作用所引起的第1電離電流以及由放射線與入射側電極的相互作用所引起的第2電離電流兩者均造成影響而對放射線量資訊進行有修正時，存在導致過度修正而無法準確地修正放射線量資訊的情況。因此，如上所述，藉由在分成由放射線與空氣的相互作用所引起且空氣的氣壓的影響
比較大的第1電離電流、與由放射線與入射側電極的相互作用所引起且空氣的氣壓的影響比較小的第2電離電流的基礎上，對放射線量資訊進行修正，可更準確地對放射線的放射線量資訊進行修正。
在所述第1方面的放射線測量器中，較佳為：控制部是以如下方式而構成：基於整個電離電流之中的第1電離電流的比例即第1比例及表示相對於氣壓變化的電離箱內的空氣的靈敏度的空氣側靈敏度比、以及整個電離電流之中的第2電離電流的比例即第2比例及表示相對於氣壓變化的入射側電極的靈敏度的電極側靈敏度比，對放射線量資訊進行修正。再者，靈敏度表示電離箱內的空氣及入射側電極各自對於氣壓的變化受到影響的程度。若如上所述而構成，則控制部可基於整個電離電流中的空氣側靈敏度比的影響的比例及整個電離電流中的電極側靈敏度比的影響的比例對放射線量資訊進行修正。由此，控制部是構成為基於空氣及入射側電極各自的受到電離箱內的氣壓變化的影響的比例不同的方面對放射線量資訊進行修正，故可更進一步準確地對X線的放射線量資訊進行修正。
在所述第1方面的放射線測量器中，較佳為：控制部是構成為將電極側靈敏度比設為1，基於藉由以下的式子而求出的修正係數，對放射線量資訊進行修正。
[數式2]
此處，由放射線與入射側電極的相互作用所引起的電離中，氣壓的影響比較小，故而將電極側靈敏度比設為1，藉此可適當地對放射線的放射線量資訊進行修正。
在所述第1方面的放射線測量器中，較佳為：控制部包含記憶媒體，在記憶媒體中，記憶有將氣壓與修正係數加以關聯的表，控制部是構成為：根據氣壓計的測定值自表中讀取修正係數，利用修正係數對放射線量資訊進行修正。若如上所述而構成，則只要讀取表中所記憶的修正係數即可對放射線量資訊進行修正，故可較實時藉由數式而計算修正係數更迅速地對放射線量資訊進行修正。藉此，可減輕控制部的負載。
所述第2方面的放射線攝影裝置包括：放射線照射部，對被測體照射放射線；放射線檢測部，檢測透過被測體的放射線；以及放射線測量器，設置在放射線照射部與放射線檢測部之間，測量自放射線照射部照射的放射線的線量；且放射線測量器包括：電離箱，包含安裝在放射線所入射的入射口的入射側電極及安裝在射出口的射出側電極，用以測定藉由透過入射側電極的放射線而產生的電離電流；氣壓計，測定電離箱內的氣壓；以及控制部，基於電離電流獲得放射線量資訊；控制部是構成為：根據氣壓計的測定值，基於第1電離電流及第2電離電流兩者對放射線量資訊進行修正，所述第1電離電流是由放射線與空氣的相互作用而產生
的電子所引起，所述第2電離電流是由放射線與入射側電極的相互作用而產生的電子所引起。
在所述第2方面的放射線攝影裝置中，如上所述，控制部是構成為：基於第1電離電流及第2電離電流兩者對放射線量資訊進行修正，所述第1電離電流是由放射線與空氣的相互作用所引起，所述第2電離電流是由放射線與入射側電極的相互作用所引起。此處，當放射線入射至包含入射側電極的電離箱時，藉由放射線與電離箱內的空氣的相互作用而產生的二次電子使空氣產生電離，並且藉由放射線與入射側電極的相互作用而產生的二次電子使空氣產生電離。而且，由放射線與電離箱內的空氣的相互作用所引起的電離中，空氣的氣壓的影響比較大。但是，由放射線與入射側電極的相互作用所引起的電離由於入射側電極並非氣體(由於為固體)，故而氣壓的影響比較小。因此，當設為空氣的氣壓對由放射線與電離箱內的空氣的相互作用所引起的第1電離電流及由放射線與入射側電極的相互作用所引起的第2電離電流兩者均造成影響而對放射線量資訊進行修正時，存在導致過度修正而無法準確地對放射線量資訊進行修正的情況。因此，如上所述，藉由在分成由放射線與空氣的相互作用所引起且空氣的氣壓的影響比較大的第1電離電流、及由放射線與入射側電極的相互作用所引起且空氣的氣壓的影響比較小的第2電離電流的基礎上對放射線量資訊進行修正，可更準確地對放射線的放射線量資訊進行修正。
1‧‧‧X線攝影裝置
2‧‧‧X線照射部
3‧‧‧FPD
4‧‧‧X線測量器
5‧‧‧支撐部
6‧‧‧被測體
7‧‧‧頂板
11‧‧‧電離箱
11a‧‧‧框體
11b‧‧‧入射側電極
11c‧‧‧射出側電極
12‧‧‧控制部
12a‧‧‧CPU
12b‧‧‧記憶體
12c‧‧‧修正係數表
13‧‧‧氣壓計
21‧‧‧X線管
22‧‧‧準直儀
E1‧‧‧第1電子
E2‧‧‧第2電子
圖1是示意性地表示本實施形態的X線攝影裝置的構成的整體構成圖。
圖2是示意性地表示本實施形態的X線攝影裝置的X線測量器的方塊圖。
圖3是表示本實施形態的X線攝影裝置中的X線透過X線測量器的狀態的示意性剖面圖。
圖4是對本實施形態的X線攝影裝置的針對各氣壓的作為目標的靈敏度比、利用現有的修正係數的靈敏度比及利用本發明的修正係數的靈敏度比進行比較的圖表。
圖5是表示本實施形態的X線攝影裝置中的X線與空氣的相互作用及入射側電極與X線的相互作用的示意性剖面圖。
圖6是僅表示本實施形態的X線攝影裝置中的X線與空氣的相互作用的示意性剖面圖。
以下，基於圖式對使本發明具體化的實施形態進行說明。
(X線攝影裝置的構成)
參照圖1~圖6，對本實施形態的X線攝影裝置1的構成進行說明。再者，X線攝影裝置1是申請專利範圍的「放射線攝
影裝置」的一例。所述X線攝影裝置1表示所謂島弧型(island type)的X線攝影裝置1的示例。
X線攝影裝置1如圖1所示，具備X線照射部2。X線照射部2是以對被測體6照射X線的方式而構成。具體而言，X線照射部2包含X線管21。X線管21是以產生X線的方式而構成。又，X線照射部2包含準直儀(collimator)22。準直儀22是以使X線束的範圍縮小的方式而構成，所述X線束是自X線管21產生且呈圓錐狀展開。例如，準直儀22是以與檢測X線的平板探測器(Flat Panel Detector，FPD)3的形狀(矩形狀)相吻合的方式，使X線束的範圍縮小。再者，X線是申請專利範圍的「放射線」的一例。又，X線照射部2是申請專利範圍的「放射線照射部」的一例。
X線攝影裝置1包括檢測透過被測體6的X線的FPD 3。FPD 3配置在被測體6的下方(被測體6的與X線照射部2側相反之側)。再者，FPD 3是申請專利範圍的「放射線檢測部」的一例。
X線攝影裝置1包括X線測量器4。X線測量器4設置在X線照射部2與FPD 3之間。具體而言，X線測量器4設置在準直儀22的下方(準直儀22的與X線管21側為相反側的X線放射口部)。而且，X線測量器4是以測量自X線照射部2照射的X線的線量的方式而構成。詳細而言，X線測量器4是以測量藉由X線管21而產生且經由準直儀22照射至被測體6的X線的放
射線量(面積線量)的方式而構成。如上所述，X線測量器4是用以管理被測體6的被照射放射線量。再者，所謂「放射線量」，是指被照射X線的照射面的所有線量，單位是「Gy．m2」等。再者，X線測量器4是申請專利範圍的「放射線測量器」的一例。又，放射線量是申請專利範圍的「放射線量資訊」的一例。
又，X線照射部2及X線測量器4由支撐部5支撐著。由支撐部5支撐著的X線照射部2及X線測量器4是相對於被測體6可相對移動而構成。
又，X線攝影裝置1具備頂板7。頂板7是以被測體6橫臥於頂板7的表面上的方式而構成。
(X線測量器的構成)
其次，參照圖2及圖3，對X線測量器4的構成進行說明。
X線測量器4如圖2所示，是以如下方式而構成：藉由測定電離電流，而求出X線的放射線量，所述電離電流是入射至電離箱11的X線使空氣電離成正電荷的離子與負電荷的電子而產生的。具體而言，X線測量器4包含電離箱11、控制部12及氣壓計13。氣壓計13是測定電離箱11內的氣壓。
如圖3所示，電離箱11包括箱狀的框體11a。框體11a例如由樹脂等所形成。又，電離箱11包括設置在X線所入射的入射口的入射側電極11b、以及X線所射出的射出側電極11c。入射側電極11b及射出側電極11c配置成相互對向。入射側電極11b及
射出側電極11c例如由氧化銦錫(Indium Tin Oxide，ITO)等的透明電極構成。又，入射側電極11b設置在框體11a的上表面側，射出側電極11c設置在框體11a的下表面側。
如圖2所示，控制部12包含基板測量裝置等資訊處理裝置，主要包含中央處理單元(Central Processing Unit，CPU)12a及記憶體12b。CPU 12a是以進行關於X線照射部2的X線照射的控制、FPD 3的檢測信號的讀取控制的方式而構成。在記憶體12b中，記憶有將氣壓與後述修正係數加以關聯的修正係數表12c。再者，記憶體12b是申請專利範圍的「記憶媒體」的一例。又，修正係數表12c是申請專利範圍的「表」的一例。
(修正係數)
在X線測量器4中，如圖3所示，藉由使X線入射至電離箱11，而使入射側電極11b與射出側電極11c之間的空氣電離成正電荷的離子與負電荷的電子。繼而，正電荷的離子移動至負側的入射側電極11b側，負電荷的電子移動至正側的射出側電極11c側。因此，兩個入射側電極11b與射出側電極11c之間通電，而在兩個入射側電極11b與射出側電極11c之間產生電離電流。藉由測定所述電離電流，而求出X線的放射線量。
此處，框體11a是以不密閉的方式而構成。即，在框體11a內(入射側電極11b與射出側電極11c之間)，充滿著空氣。又，藉由框體11a未密閉，而使框體11a內的空氣的氣壓受到電離箱11的周圍的環境的大氣壓的影響。即，伴隨著電離箱11的周
圍的環境的大氣壓的增減，框體11a內的空氣的氣壓發生變化。由此，在X線測量器4中，框體11a內的空氣的密度發生變化，電離電流亦發生變化。
<現有的修正係數>
因此，在現有的X線測量器(未圖示)中，利用對應於框體內的氣壓而修正的修正係數，對所測量到的X線的放射線量進行修正。此處，在框體內產生的電離電流與框體內的氣壓成比例關係，因此X線測量器所測量的X線的放射線量亦與框體內的氣壓成比例關係。藉此，基準大氣壓(設為P0)與所測量到的氣壓(設為P1)的比率、和基準大氣壓時的X線的放射線量(設為R0)與所測量到的氣壓時的X線的放射線量(設為R1)的比率相等。即，R1/R0=P1/P0，故而R1=R0．P1/P0。如上所述，氣壓產生有變化時的放射線量變化相當於P1/P0的程度，故藉由乘以其倒數，可抵消因氣壓而產生的變化。其結果為，現有的修正係數成為將氣壓除以基準大氣壓而求出的靈敏度比的倒數。即，靈敏度比(設為S)是藉由S=P1/P0而求出，修正係數(設為K)是藉由K=1/S而求出。
但是，當藉由利用所述方法而求出的修正係數對靈敏度比進行修正時，如圖4所示，在未達基準大氣壓的情況下，修正後的靈敏度比與作為目標的靈敏度比的差比較大。此處，關於修正係數，將修正係數乘以修正前的靈敏度比所得的修正後的靈敏度比必須處於額定氣壓範圍(約0.98~約1.02)內。額定氣壓範圍是
在X線測量器4的各別標準國際電工技術委員會(International Electrotechnical Commission，IEC)60580中有規定。但是，將現有的修正係數乘以修正前的靈敏度比所得的修正後的靈敏度比如表1所示，在800[hPa]時，超出額定氣壓範圍。此處，所謂修正前的靈敏度比，是指因氣壓的變化而使靈敏度比發生變化的狀態的值。
若利用現有的修正係數，則與作為目標的靈敏度比的差大的原因在於：如圖5所示，藉由X線而感應的電離電流的產生路徑有兩種。即，電離電流的產生路徑中，具有第1路徑作為第1條產生路徑，所述第1路徑是藉由因入射至電離箱11的X線與空氣的相互作用而產生的第1電子E1而使空氣產生電離，從而產生第1電離電流。又，電離電流的產生路徑中，具有第2路徑作為第2條產生路徑，所述第2路徑是藉由因入射至電離箱11的X線與入射側電極11b的相互作用而產生的第2電子E2而使空氣產生電離，從而產生第1電離電流。在現有的修正係數中，僅考慮第1路徑。
<本申請案的修正係數>
因此，在本實施形態的X線測量器4中，如圖4所示，
利用除了考慮第1路徑亦考慮第2路徑的修正係數。由此，如圖4所示，藉由本實施形態的修正係數加以修正的修正後的靈敏度比成為與作為目標的靈敏度比的差小的值。具體而言，如表2所示，在800[hPa]時，可使修正後的靈敏度比處於額定氣壓範圍內。
詳細而言，如圖5所示，以根據氣壓，基於由第1電子E1引起的第1電離電流及由第2電子E2引起的第2電離電流兩者對放射線量進行修正的方式而構成。具體而言，控制部12是基於空氣側靈敏度比及電極側靈敏度比對放射線量進行修正。空氣側靈敏度比表示相對於周圍的氣壓變化的電離箱11內的空氣的靈敏度。空氣側靈敏度比是基於將電離箱11內的氣壓除以基準大氣壓而獲得。又，電極側靈敏度比表示相對於氣壓變化的入射側電極11b的靈敏度。關於電極側靈敏度比，即使氣壓自基準大氣壓發生變化，在入射側電極11b亦不易發生變化，故而設為1。
又，控制部12是以基於修正係數對放射線量進行修正的方式而構成，所述修正係數是基於以下的式子而求出。具體而言，控制部12獲得將第1乘法值與第2乘法值相加所得的值的倒數作為修正係數。此處，第1乘法值是將整個電離電流之中的第1電離電流的比例即第1比例與空氣側靈敏度比相乘所得的值。第
2乘法值是將整個電離電流之中的第2電離電流的比例即第2比例與電極側靈敏度比相乘所得的值。即，修正係數是基於數式(1)而獲得。
此處，第1比例及第2比例可藉由如下所述的方法而求出。再者，以下所示的方法說到底只是求出第1比例及第2比例的方法的一例。首先，如圖5所示，設想X線測量器4包含在入射口的透明電極膜即入射側電極11b及在射出口的透明電極膜即射出側電極11c的情況。此時，當對X線測量器4照射X線時，產生由與空氣的相互作用所引起的第1電離電流以及由與入射側電極11b的相互作用所引起的第2電離電流。其次，如圖6所示，設想X線測量器4不含入射側電極11b及射出側電極11c的情況。此時，當對X線測量器4照射X線時，僅產生由與空氣的相互作用所引起的第1電離電流。
基於如上所述的假設(前提條件)，藉由進行電子光子輸送模擬(例如，高能量加速器研究機構的電子伽馬光子簇射版本5(Electron Gamma Shower version 5，EGS5))，而算出第1電離電流的量及第2電離電流的量。再者，電離電流由於受到透明電極膜的厚度及電極間的空氣的厚度的影響，故而考慮到實際的入射
側電極11b的厚度及入射側電極11b與射出側電極11c之間的空氣的厚度，來進行電子光子輸送模擬。又，在電子光子輸送模擬時，為了模擬氣壓的變化，一面改變作為輸入資料的空氣的密度，一面進行電子光子輸送模擬。
由此，第1比例是藉由將圖6所示的X線測量器4中所產生的電離電流(第1電離電流)的量除以圖5所示的X線測量器4中所產生的電離電流(第1電離電流+第2電離電流)的量而獲得。又，第2比例是藉由將自圖5所示的X線測量器4中所產生的電離電流(第1電離電流+第2電離電流)的量減去圖6所示的X線測量器4中所產生的電離電流(第1電離電流)的量所得的值，除以圖5所示的X線測量器4中所產生的電離電流(第1電離電流+第2電離電流)的量而獲得。
控制部12是以根據氣壓計13的測定值自修正係數表12c中讀取修正係數，利用修正係數對放射線量進行修正的方式而構成。具體而言，如表3所示，在記憶體12b中，記憶有將氣壓與修正係數加以關聯的修正係數表12c。
(本實施形態的效果)
在本實施形態中，可取得如下所述的效果。
在本實施形態中，如上所述，控制部12是以基於由X線與空氣的相互作用所引起的第1電離電流、及由X線與入射側電極11b的相互作用所引起的第2電離電流兩者對放射線量進行修正的方式而構成。此處，當X線入射至包含入射側電極11b的電離箱11時，藉由X線與電離箱11內的空氣的相互作用而產生的二次電子使空氣產生電離，並且藉由X線與入射側電極11b的相互作用而產生的二次電子使空氣產生電離。而且，由X線與電離箱11內的空氣的相互作用所引起的電離中，空氣的氣壓的影響比較大。但是，由X線與入射側電極11b的相互作用所引起的電離由於入射側電極11b並非氣體(由於為固體)，故而氣壓的影響比較小。因此，當設為空氣的氣壓對由X線與電離箱11內的空氣的相互作用所引起的第1電離電流、及由X線與入射側電極11b的相互作用所引起的第2電離電流兩者均造成影響而對放射線量進行修正時，存在導致過度修正而無法準確地對放射線量進行修正的情況。因此，如上所述，藉由在分成由X線與空氣的相互作用所引起且空氣的氣壓的影響比較大的第1電離電流、及由X線與入射側電極11b的相互作用所引起且空氣的氣壓的影響比較小的第2電離電流的基礎上對放射線量進行修正，可更準確地對X線的放射線量進行修正。
又，在本實施形態中，如上所述，控制部12是以基於第1比例及空氣側靈敏度比以及第2比例及電極側靈敏度比，對放射線量進行修正的方式而構成。此處，靈敏度表示電離箱11內的空
氣及入射側電極11b各自的對於氣壓的變化受到影響的程度。由此，控制部12可基於整個電離電流中的空氣側靈敏度比的影響的比例及整個電離電流中的電極側靈敏度比的影響的比例對放射線量進行修正。其結果為，控制部12是以基於空氣及入射側電極11b各自的受到電離箱11內的氣壓變化的影響不同的方面，對放射線量進行修正的方式而構成，故可更進一步準確地對X線的放射線量進行修正。
又，在本實施形態中，如上所述，對放射線量進行修正的修正係數是基於空氣側靈敏度比及電極側靈敏度比而獲得，所述空氣側靈敏度比是基於將電離箱11內的氣壓除以基準大氣壓而獲得，所述電極側靈敏度比是作為1而獲得。由此，由放射線與入射側電極11b的相互作用所引起的電離中，氣壓的影響比較小，故而將電極側靈敏度比設為1，藉此能夠適當地對放射線的放射線量進行修正。又，利用空氣側靈敏度比及電極側靈敏度比，藉由簡單的式子能夠獲得修正係數，所述空氣側靈敏度比可僅藉由所測量到的氣壓而獲得，所述電極側靈敏度比由於入射側電極11b為固體，故而不易受到氣壓的變化的影響，數值的變化少，因而可作為1而獲得。
又，在本實施形態中，如上所述，控制部12是以根據氣壓計13的測定值自表中讀取修正係數，利用修正係數對放射線量進行修正的方式而構成。由此，只要讀取表中所記憶的修正係數即可修正放射線量，故而可較實時計算修正係數更迅速地對放射線
量進行修正。其結果為，可減輕控制部12的負載。
(變形例)
再者，應認為，此次所揭示的實施形態在所有方面均為例示而並非起限制作用。本發明的範圍是藉由申請專利範圍而非所述實施形態的說明來揭示，且進而包含與申請專利範圍同等的涵義及範圍內的所有變更(變形例)。
例如，在所述實施形態中，控制部12成為設置在X線測量器4內的測量基板，但本發明並不限於此。在本發明中，控制部亦可為設置在外部的個人電腦(Personal Computer，PC)。
又，在所述實施形態中，第1比例是藉由整個電離電流之中的第1電離電流的比例而求出，但本發明並不限於此。在本發明中，第1比例亦可為在電離箱內電子(第1電子+第2電子)賦予至空氣的總能量之中的第1電子賦予至空氣的能量的比例。
又，在所述實施形態中，第2比例是藉由整個電離電流之中的第2電離電流的比例而求出，但本發明並不限於此。在本發明中，第2比例亦可為在電離箱內電子(第1電子+第2電子)賦予至空氣的總能量之中的第2電子賦予至空氣的能量的比例。
又，在所述實施形態中，修正係數是自修正係數表12c中讀取，但本發明並不限於此。在本發明中，修正係數亦可藉由數式而實時計算。
又，在所述實施形態中，X線攝影裝置1具備FPD 3，但在本發明中，並不限於此。在本發明中，X線攝影裝置亦可具備
FPD以外的可檢測X線的檢測器。
Claims (5)
- 一種放射線測量器，包括：電離箱，包含安裝在放射線所入射的入射口的入射側電極及安裝在射出口的射出側電極，用以測定藉由透過所述入射側電極的所述放射線而產生的電離電流；氣壓計，測定所述電離箱內的氣壓；以及控制部，基於所述電離電流獲得放射線量資訊；且所述控制部是構成為：根據所述氣壓計的測定值，基於第1電離電流及第2電離電流兩者對所述放射線量資訊進行修正，所述第1電離電流是藉由所述放射線與空氣的相互作用而產生的電子所引起，所述第2電離電流是藉由所述放射線與所述入射側電極的相互作用而產生的電子所引起。
- 如申請專利範圍第1項所述的放射線測量器，其中所述控制部是以如下方式而構成：基於整個所述電離電流之中的所述第1電離電流的比例即第1比例及表示相對於氣壓變化的所述電離箱內的空氣的靈敏度的空氣側靈敏度比、以及整個所述電離電流之中的所述第2電離電流的比例即第2比例及表示相對於氣壓變化的所述入射側電極的靈敏度的電極側靈敏度比，對所述放射線量資訊進行修正。
- 如申請專利範圍第2項所述的放射線測量器，其中所述控制部是構成為：將所述電極側靈敏度比設為1，基於藉由以下的式子而求出的修正係數，對所述放射線量資訊進行修正，
- 如申請專利範圍第3項所述的放射線測量器，其中所述控制部包含記憶媒體，在所述記憶媒體中，記憶有將氣壓與所述修正係數加以關聯的表，所述控制部是構成為：根據所述氣壓計的測定值自所述表中讀取所述修正係數，利用所述修正係數對所述放射線量資訊進行修正。
- 一種放射線攝影裝置，包括：放射線照射部，對被測體照射放射線；放射線檢測部，檢測透過所述被測體的所述放射線；以及放射線測量器，設置在所述放射線照射部與所述放射線檢測部之間，測量自所述放射線照射部照射的所述放射線的放射線量；且所述放射線測量器包括：電離箱，包括安裝在所述放射線所入射的入射口的入射側電極及安裝在射出口的射出側電極，用以測定藉由透過所述入射側電極的所述放射線而產生的電離電流；氣壓計，測定所述電離箱內的氣壓；以及控制部，基於所述電離電流獲得放射線量資訊；且所述控制部是構成為：根據所述氣壓計的測定值，基於第1電離電流及第2電離電流兩者對所述放射線量資訊進行修正，所述第1電離電流是由所述放射線與空氣的相互作用而產生的電子所引起，所述第2電離電流是由所述放射線與所述入射側電極的相互作用而產生的電子所引起。
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