TWI631333B - 連接埠測試系統 - Google Patents

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TWI631333B
TWI631333B TW106112677A TW106112677A TWI631333B TW I631333 B TWI631333 B TW I631333B TW 106112677 A TW106112677 A TW 106112677A TW 106112677 A TW106112677 A TW 106112677A TW I631333 B TWI631333 B TW I631333B
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王震
翟慧慧
張永全
王彬
廖彥維
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緯創資通股份有限公司
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M13/00—Testing of machine parts

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)

Abstract

一種適於自動地對輸入輸出埠進行測試的連接埠測試系統包括承載座、轉盤、壓力測試裝置以及測試線材。轉盤可樞轉地配置於承載座上，且轉盤的軸向與承載座的表面的法線方向垂直。壓力測試裝置配置於轉盤上，並且壓力測試裝置適於隨轉盤沿其軸向樞轉。壓力測試裝置具有壓力感測器及壓力探頭。壓力探頭連接該壓力感測器，並且壓力探頭適於沿垂直轉盤的軸向的第一方向往復作動，以沿第一方向對插接於輸入輸出埠的測試線材進行施壓。

Description

連接埠測試系統
本發明是有關於一種的連接埠測試系統，且特別是有關於一種電子裝置的輸入輸出埠的壓力測試系統。
在目前的可攜式電子裝置中，為了同時滿足消費者的商務、辦公以及娛樂等各種需求，可攜式電子裝置通常具有多種的輸出輸入連接埠，例如通用序列匯流排（universal serial bus；USB）連接埠、高解析度多媒體介面(High Definition Multimedia Interface，HDMI )連接埠、網路線連接埠以及電源連接埠等。為了確保上述各種連接埠的功能的正常、穩定且長效地運作，電子裝置的輸出輸入連接埠在組裝完成後需經過各種的壓力穩定性測試，以確保產品的品質。
目前一般的電子裝置的輸出輸入連接埠的壓力穩定性測試皆是以人工手動作業的方式進行。然而，人工手動作業的測試方式常會發生手動測試施力力度無法標準化。或者，施力角度及施力方向無法精確地調整。此外，在測試過程中，測試人員易記錯測試次數，並且測試人員經長時間作業後易疲勞而使得測試作業必須中斷或停止。再者，測試的結果以人工來進行判斷，容易發生誤判的情形而造成測試作業的品質不穩定或不佳。因此，如何自動且標準化地進行電子裝置的輸出輸入埠的壓力穩定性測試，以改善上述人工手動作業方式易產生的問題，已成為本領域技術發展的重要課題。
本發明提供一種連接埠測試系統，其可對電子裝置的輸入輸出埠進行自動且標準化的壓力測試。
本發明的連接埠測試系統適於自動地對電子裝置的輸入輸出埠進行測試。連接埠測試系統包括承載座、轉盤以及壓力測試裝置。轉盤可樞轉地配置於承載座上，且轉盤的軸向與承載座的表面的法線方向垂直。壓力測試裝置配置於轉盤上，並且壓力測試裝置適於隨轉盤沿其軸向樞轉。壓力測試裝置具有壓力感測器及壓力探頭。壓力探頭連接該壓力感測器，並且壓力探頭適於沿垂直轉盤的軸向的第一方向往復作動，以沿第一方向對插接於輸入輸出埠的測試線材進行施壓。
在本發明的一實施例中，上述的連接埠測試系統還包括驅動裝置。驅動裝置電性連接轉盤，以驅動轉盤沿其軸向樞轉。
在本發明的一實施例中，上述的壓力測試裝置還包括區動源、第一載板以及壓桿。驅動源配置於轉盤上。第一載板耦接於驅動源，並且驅動源適於驅動第一載板沿第一方向往復作動。壓桿配置於第一載板上，並且壓桿適於抵壓在壓力感測器及壓力探頭上，以施壓於測試線材。
在本發明的一實施例中，上述的壓力測試裝置還包括固定凸塊以及施壓塊。固定凸塊固定於第一載板的表面，並且壓桿沿第一方向穿設於固定凸塊。施壓塊配置於壓桿與壓力感測器之間。壓桿適於抵壓於施壓塊，以對測試線材施壓。
在本發明的一實施例中，上述的壓力測試裝置還包括防脫落支柱。防脫落支柱於轉盤上並且沿測試線材的插入方向套設於與測試線材的插入端相對的一側。
在本發明的一實施例中，上述的壓力測試裝置還包括第二載板、導軌以及滑塊。第二載板固定於轉盤上。導軌沿第一方向配置於第二載板上。滑塊滑設於導軌上，並且防脫落支柱固定於滑塊上，以藉由滑塊的帶動沿第一方向往復移動。
在本發明的一實施例中，壓力測試裝置還包括限位開關，其配置於載板上，以限位壓力感測器及壓力探頭的移動行程。
在本發明的一實施例中，上述的連接埠測試系統還包括蜂槽式載板以及固定件。蜂槽式載板配置於電子裝置及承載座之間且具有多個定位孔。固定件分別固定於定位孔，且固定件抵壓電子裝置，以對應該壓力測試裝置於蜂槽式載板上定位電子裝置。
在本發明的一實施例中，上述的連接埠測試系統還包括升降機構。升降機構配置於蜂槽式載板及承載座之間，以調整蜂槽式載板相對於承載座的表面的垂直高度。
在本發明的一實施例中，上述的連接埠測試系統還包括光電感應器。光電感測器對應轉盤配置於承載座上，以感測轉盤的旋轉圈數。
基於上述，在本發明的多個實施例中，連接埠測試系統可用來對電子裝置的輸入輸出埠進行自動化的測試。此外，連接埠測試系統的壓力測試裝置可配置於轉盤上，並且隨轉盤沿其軸向樞轉。因此，壓力測試裝置可藉由轉盤的帶動，在不同的角度及方向上藉由壓力探頭對測試線材進行施壓，並且測試線材可將壓力傳遞至電子裝置的輸入輸出埠。此外，壓力測試裝置可根據壓力感測器的量測結果，來獲致所施加於測試線材上的壓力大小。因此，在發明的多個實施例中，壓力感測模組可準確地控制壓力探頭對於測試線材的所施加的壓力的大小、方向以及壓力施加於測試線材上的位置，而可相較人工手動作業的測試方式獲得更準確的測試結果。
為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。
圖1是依照本發明的一實施例的連接埠測試系統的示意圖。圖2A是圖1的連接埠測試系統的部分構件的示意圖。圖2B是圖1的連接埠測試系統的壓力測試裝置的示意圖。請參考圖1，連接埠測試系統100可用來對例如是筆記型電腦的電子裝置10的輸入輸出埠12進行壓力測試。在本實施例中，連接埠測試系統100包括承載座110、轉盤120以及壓力測試裝置130。轉盤120可樞轉地配置於承載座110上，並且轉盤120的軸向A1與承載座110的表面112的法線方向N1垂直。壓力測試裝置130配置於轉盤120上，並且壓力測試裝置130可隨轉盤120沿其軸向A1樞轉。
請參考圖2A及圖2B，壓力測試裝置130具有壓力感測器131a及壓力探頭131b。壓力探頭131b連接於壓力連接器131a，並且壓力探頭131b可沿垂直上述軸向A1的第一方向D1往復作動，以對插接於輸入輸出埠12的測試線材170進行施壓。此外，壓力感測器131a可感測壓力探頭131b對於測試線材170所施加的壓力大小。
詳細而言，測試線材170可拆卸地插接於電子裝置10的輸入輸出埠12，並且測試線材170的插接方向平行於上述轉盤120的軸向A1。此外，壓力探頭131b沿第一方向D1抵壓於測試線材170，以施加壓力於測試線材170上。在本實施例中，第一方向D1除可為如圖1所示的平行於承載座110的表面112的法線方向N1的方向之外，由於壓力測試裝置130可藉由轉盤120的帶動其樞轉至特定角度，並且特定角度的大小例如是45度。。因此，第一方向D1可為任何垂直轉盤120的軸向A1的方向。換言之，壓力測試裝置130可藉由轉盤120沿其軸向A1旋轉360度，以在不同角度及方向上對測試線材170的各個側面上的各個位置施加壓力。因此，壓力探頭131b對測試線材170的施壓角度及方向可精確地進行控制。此外，當連接埠測試系統100對於不同的測試線材170進行測試時，連接埠測試系統100可重複地於相同的施壓角度及方向上進行施壓及測試，而使測試過程及步驟可進一步地標準化，而獲致精確的測試結果。
電子裝置10的輸入輸出埠12可藉由插接於其中的測試線材170以及壓力測試裝置130來感測輸入輸出埠12內的各個側面及各個角度在測試線材170插接時所可能承受的壓力大小。相較以人工手動檢測時，壓力測試的角度、方向及位置無法標準化，藉由連接埠測試系統100來進行輸入輸出埠12的壓力測試，輸入輸出埠12的測試位置、方向以及角度可精準的掌控，並可針對輸入輸出埠12的特定角度及位置進行反覆的壓力測試。
在本實施例中，電子裝置10的輸入輸出埠12例如是通用序列匯流排連接埠。然而，在其他未繪示的實施例中，輸入輸出埠12也可為高解析度多媒體介面(High Definition Multimedia Interface，HDMI )連接埠、網路線連接埠、電源連接埠、耳機連接埠或是記憶卡連接埠等。
請再參考圖1，連接埠測試系統100還包括內嵌於承載座110中的控制器模組180及驅動裝置190，且控制器模組180電性連接驅動裝置190。在本實施例中，驅動裝置190例如包括驅動馬達，並且驅動裝置100可驅動轉盤120沿其軸向A1樞轉，進而帶動配置於其上的壓力測試裝置130進行360度旋轉。舉例而言，驅動裝置190在輸入輸出埠12的受測過程中會帶動轉盤120沿順時針方向樞轉若干圈，以使壓力測試裝置130在相同或不同角度及位置上進行若干次重複的施壓與測試。此外，如圖1所示，承載座110的表面上臨近轉盤120的位置可配置光電感測器122，以感測轉盤120的旋轉圈數，並且記錄壓力測試裝置130的測試次數。
在本實施例中，配置於轉盤120上的壓力測試裝置130需與驅動裝置190及控制器模組180電性連接，以由控制器模組180傳送控制訊號至壓力測試裝置130，並且將壓力感測器131a量測壓力大小的量測訊號傳送至控制器模組180。然而，若以電纜作為上述構件之間的電性連接手段，當轉盤120例如連續地沿順時針旋轉時，將造成電纜纏繞並甚而斷裂損壞。因此，在本實施例的驅動裝置190中可包括導電滑環（未繪示），使得電流及電性訊號可經由導電滑環輸送，而不影響轉盤120的樞轉。
請參考圖2B，壓力測試裝置130固定於轉盤120上並隨轉盤120樞轉。壓力測試裝置120包括驅動源135、第一載板133、壓桿134。驅動源135配置於轉盤120上，並且第一載板133耦接驅動源135。在本實施例中，驅動源135例如是電動缸，其可驅動第一載板133沿上述的第一方向D1方向進行往復運動。此外，壓桿134配置於第一載板133上，並可隨第一載板133移動。如圖2A及圖2B所示，壓桿134可抵壓於壓力感測器131a及壓力探頭131b上，進而使得壓力探頭131b抵壓於測試線材170，並且藉由測試線材170將壓力傳遞至電子裝置10的輸入輸出埠12中。
圖2B僅繪示兩支壓桿134為例來做說明。然而，本實施例的壓力測試裝置130的壓桿134的配置位置與數量可根據實際的壓力測試對象及步驟來做適當的調整與變化。
如圖2B所示，壓力測試裝置130還可包括固定凸塊133a及施壓塊131c塊。固定凸塊133a固定於第一載板133的表面，並且壓桿134沿第一方向D1穿設於固定凸塊133a。此外，施壓塊131c則配置於壓桿134與壓力感測器131a之間。
在本實施例中，壓桿134可同時抵壓於施壓塊131c上，以藉由施壓塊131c將各壓桿134所施加的壓力均勻地傳遞至壓力感測器131a及測試線材12上。此外，如圖2B所示，壓力測試裝置130還可包括套設於壓桿134上的緩衝件134a。緩衝件134a例如是螺旋彈簧，其可抵壓於施壓塊131c與固定凸塊133a之間，以於壓桿134接觸施壓塊131c時提供緩衝力。
在本實施例中，驅動源135可根據由上述圖1所示的控制器模組180所接收到的控制信號，來調整第一載板133的作動行程以及壓桿134所提供的壓力大小。因此，在電子裝置10的輸入輸出埠12進行壓力測試的過程中，壓力測試裝置130在各角度及位置上所施加的壓力大小可被精確的控制，避免以人工手動操作時，產生施力大小不均，使得測試流程無法標準化的問題。
如圖2A及圖2B所示，壓力測試裝置130具有第二載板138以及配置於其上的防脫落支柱136。第二載板138沿第一方向D1平行配置於第一載板133與轉盤120之間，並且第二載板138固定於轉盤120上。防脫落支柱136藉由如圖2A所示的滑塊138a及導軌138b沿第一方向D1滑設於第二載板138上。
詳細而言，導軌138b可沿第一方向D1配置於第二載板138上，並且滑塊138a滑設於導軌138b上。此外，防脫落支柱136可固定於滑塊138a上，以藉由滑塊138a的帶動沿滑軌138b在第一方向D1上往復移動。
如圖2B所示，本實施例的第一載板133可具有沿第一方向D1延伸配置的滑槽133b。防脫落支柱136可穿過滑槽133b並且暴露於第一載板133的表面上，並且防脫落支柱136藉由滑塊138a沿滑槽133b往復滑動。如圖2A所示，防脫落支柱136可沿測試線材170的插入方向套設在相對於測試線材170的插入端的一側，使得測試線材170可穩固地插接於輸入輸出埠12中，以避免測試線材170在進行壓力測試的過程中，因受到來自側向的壓力而由電子裝置10的輸入輸出埠12中脫落。
在本實施例中，防脫落支柱136可對應電子裝置10的置放位置以及測試線材170的插接位置沿第一方向D1往復調整其本身的位置，以套設在測試線材170上。此外，當轉盤120帶動壓力測試裝置130樞轉時，套設於測試線材170上的防脫落支柱136可沿測試線材170的中央軸樞轉，以在壓力測試裝置130的壓力探頭131b於不同角度及方向上對測試線材170施壓時，防脫落支柱13都可持續對測試線材170提供支撐力量，以防止測試線材170由電子裝置10及其輸入輸出埠12中脫落。
請再參考圖2B，在本實施例中，壓力測試裝置130另具有沿第一方向D1配置於第二載板138的相對兩側的上限位開關137a以及下限位開關137b。上限位開關137a及下限位開關137b可在第一方向D1上對於第一載板133及配置於其上的壓桿134、壓力感測器131a及壓力探頭131b進行移動行程的限位。在本實施例中，上限位開關137a及下限位開關137b可防止使用者誤觸動壓力測試裝置130的開關並驅使第一載板133移動，而造成測試線材170的損壞。或是，驅動源135在完成預定的機械行程後，仍持續工作而未停止，造成驅動源135內部的例如是步進電機元件的損壞。
圖3A是圖1的連接埠測試系統的部分構件的示意圖。圖3B是圖3A的連接埠測試系統的部分構件的側視示意圖。請參考圖3A及圖3B，在本實施例中，連接埠測試系統100具有配置於承載座110的表面112上的蜂槽式載板162以及用於將電子裝置10固定於蜂槽式載板162上的多個固定件164。如圖3A所示，蜂槽式載板162上具有多個定位孔162a，並且固定件164可根據電子裝置10的大小及置放位置分別固定於不同的定位孔162a。
在本實施例中，固定件164將電子裝置10抵壓固定於蜂槽式載板162上，以避免輸入輸出埠12在進行壓力測試的過程中，電子裝置10發生移動的情形。如圖3A所示，固定件164可包括螺鎖部164a以及抵壓部164b。螺鎖部164a可將固定件164螺鎖固定於蜂槽式載板162的定位孔162a。抵壓部164b可抵壓電子裝置10的上表面，並且抵壓部164b的抵壓位置相對於蜂槽式載板162的表面的垂直高度可根據電子裝置10的厚度進行適當的調整。
如圖3B所示，連接埠測試系統100還具有升降機構166，其配置於蜂槽式載板162與承載座110之間。升降機構166可用來調整蜂槽式載板162相對於承載座110的表面112的垂直高度，以對應壓力測試裝置130來調整電子裝置10的受測位置的高度。
圖4A是圖2A的測試線材的放大示意圖。圖4B是圖4A的測試線材沿AA’剖線的截面示意圖。請參考圖4A及圖4B ，在本實施例中，上述的壓力測試裝置130可由圖4B中的初始點P1開始，依序沿測試線材170的截面周圍的八個箭頭方向，根據所設定的施加壓力的大小朝測試線材170的中心軸的方向，來對測試線材170的各個側面以及稜角重複地進行施壓。
如圖4B所示，在上述的八個箭頭方向中相鄰的箭頭方向之間分別具有夾角θ a、θ b或θ c。此外，可由測試線材170的截面的邊長計算出夾角θ a與夾角θ b的和是等於夾角θ b與夾角θ c的和並且和的大小為90度。壓力測試裝置130可根據前述的旋轉角度的設定及位移方式來對測試線材170施加壓力，藉以對電子裝置10的輸入輸出埠12進行壓力測試。
圖4B所繪示的實施例是以可連接通用序列匯流排連接埠且截面為矩形的測試線材170為例來做說明。在其他未繪示的實施例中，測試線材170也可為具有圓形截面的線材。壓力測試裝置130可在測試線材170的圓形截面周圍的八個方向上，以例如是每45度為一角度間隔的方式，依序朝測試線材170的中心軸的方向對測試線材170的表面施壓。在本發明中，壓力測試裝置130可根據輸入輸出埠12所插接的測試線材170的截面形狀來設定施壓的方向、位置以及壓力測試的作動行程，以準確地控制壓力測試裝置130對於測試線材170的施壓角度方向。
綜上所述，在本發明的多個實施例中，連接埠測試系統具有壓力測試裝置以及用來控制及驅動壓力測試裝置的控制器模組及驅動裝置。因此，驅動裝置及控制器模組可自動地控制及驅動壓力測試裝置對於電子裝置的輸入輸出埠進行壓力測試。此外，壓力測試裝置配置於轉盤上，並且轉盤可帶動壓力測試裝置進行360度的樞轉，使得壓力測試裝置的壓桿及壓力探頭可藉由驅動源的帶動沿不同的角度及方向上施壓於測試線材，並經由測試線材將壓力傳遞至輸入輸出連接埠。再者，壓力探頭施加於測試線材上的壓力大小也可準確地藉由控制器模組來進行控制。因此，在本發明的多個實施例中，連接埠測試系統可改善傳統以人力手動進行測試時，對於測試線材的施壓方向、大小以及測試流程及次數無法標準化的問題，進而獲致更準確的測試結果並提升受測產品的生產品質，且可減少測試所需的時間及人力成本。
雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。
10‧‧‧電子裝置
12‧‧‧輸入輸出埠
100‧‧‧連接埠測試系統
110‧‧‧承載座
112‧‧‧表面
120‧‧‧轉盤
122‧‧‧光電感測器
130‧‧‧壓力測試裝置
131a‧‧‧壓力感測器
131b‧‧‧壓力探頭
131c‧‧‧施壓塊
133‧‧‧第一載板
133a‧‧‧固定凸塊
133b‧‧‧滑槽
134‧‧‧壓桿
134a‧‧‧緩衝件
135‧‧‧驅動源
136‧‧‧防脫落支柱
137a‧‧‧上限位開關
137b‧‧‧下限位開關
138‧‧‧第二載板
138a‧‧‧滑塊
138b‧‧‧導軌
162‧‧‧蜂槽式載板
162a‧‧‧定位孔
164‧‧‧固定件
164a‧‧‧螺鎖部
164b‧‧‧抵壓部
166‧‧‧升降機構
170‧‧‧測試線材
180‧‧‧控制器模組
190‧‧‧驅動裝置
A1‧‧‧軸向
D1‧‧‧第一方向
N1‧‧‧法線方向
P1‧‧‧初始點
θa、θb或θc‧‧‧夾角
圖1是依照本發明的一實施例的連接埠測試系統的示意圖。 圖2A是圖1的連接埠測試系統的部分構件的示意圖。 圖2B是圖1的連接埠測試系統的壓力測試裝置的示意圖。 圖3A是圖1的連接埠測試系統的部分構件的示意圖。 圖3B是圖1的連接埠測試系統的部分構件的示意圖。 圖4A是圖2A的測試線材的放大示意圖。 圖4B是圖4A的測試線材沿AA’剖線的截面示意圖。

Claims (11)

  1. 一種連接埠測試系統，適於自動地對一電子裝置的一輸入輸出埠進行測試，該連接埠測試系統包括：一承載座；一轉盤，可樞轉地配置於該承載座的表面上，且該轉盤的軸向與該承載座的表面的法線方向垂直；以及一壓力測試裝置，配置於該轉盤上，且該壓力測試裝置適於沿該轉盤的軸向隨該轉盤樞轉一特定角度，該壓力測試裝置具有一壓力感測器及一壓力探頭，其中該壓力探頭連接該壓力感測器，且該壓力探頭適於沿垂直該轉盤的軸向的一第一方向往復作動，以沿該第一方向對插接於該輸入輸出埠的一測試線材進行施壓，其中該第一方向是垂直該轉盤的軸向的任意方向，該轉盤旋轉該壓力測試裝置以施壓於該測試線材的不同側面。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的連接埠測試系統，更包括一驅動裝置，電性連接該轉盤，以驅動該轉盤沿其軸向樞轉。
  3. 如申請專利範圍第1項所述的連接埠測試系統，其中該壓力測試裝置更包括：一驅動源，配置於該轉盤上；一第一載板，耦接於該驅動源，並且該驅動源適於驅動該第一載板沿該第一方向往復作動；以及至少一壓桿，配置於該第一載板上，並且該至少一壓桿適於抵壓在該壓力感測器及該壓力探頭上，以施壓於該測試線材。
  4. 如申請專利範圍第3項所述的連接埠測試系統，其中該壓力測試裝置更包括：一固定凸塊，固定於該第一載板的表面，並且該至少一壓桿沿該第一方向穿設於該固定凸塊；以及一施壓塊，配置於該至少一壓桿與該壓力感測器之間，其中該至少一壓桿適於抵壓於該施壓塊，以對該測試線材施壓。
  5. 如申請專利範圍第4項所述的連接埠測試系統，其中該壓力測試裝置更包括一緩衝件，套設於該至少一壓桿上，並且該緩衝件可移動地抵壓於該施壓塊與該固定凸塊之間。
  6. 如申請專利範圍第1所述的連接埠測試系統，其中該壓力測試裝置更包括一防脫落支柱，配置於該轉盤上，並且沿該測試線材的插入方向套設於與該測試線材的插入端相對的一側。
  7. 如申請專利範圍第6所述的連接埠測試系統，其中該壓力測試裝置更包括：一第二載板，固定於該轉盤上；一導軌，沿該第一方向配置於該第二載板上；以及一滑塊，滑設於該導軌上，其中該防脫落支柱固定於該滑塊上，以藉由該滑塊的帶動沿該第一方向往復移動。
  8. 如申請專利範圍第7項所述的連接埠測試系統，其中該壓力測試裝置更包括至少一限位開關，配置於該第二載板上，以限位該壓力感測器及該壓力探頭的移動行程。
  9. 如申請專利範圍第1項所述的連接埠測試系統，更包括一蜂槽式載板以及多個固定件，該蜂槽式載板配置於該電子裝置及該承載座之間且具有多個定位孔，其中該些固定件分別固定於該些定位孔，且該些固定件抵壓於該電子裝置，以對應該壓力測試裝置於該蜂槽式載板上定位該電子裝置。
  10. 如申請專利範圍第9項所述的連接埠測試系統，更包括一升降機構，配置於該蜂槽式載板及該承載座之間，以調整該蜂槽式載板相對於該承載座的表面的垂直高度。
  11. 如申請專利範圍第1項所述的連接埠測試系統，更包括一光電感應器，對應該轉盤配置於該承載座上，以感測該轉盤的旋轉圈數。
TW106112677A 2017-03-27 2017-04-14 連接埠測試系統 TWI631333B (zh)

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