TWI621050B - 顯示裝置及其製造方法 - Google Patents
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Abstract
一種顯示裝置,包括一可撓性基板、複數個畫素單元、以及圖案化金屬層。可撓性基板具有實質上平坦的第一表面及相對第一表面之第二表面。可撓性基板包含第一部分和第二部分。第一部分具有第一厚度。第二部分具有第二厚度。第一厚度大於第二厚度。第二厚度和第一厚度的差為第三厚度。畫素單元配置於可撓性基板之第一表面。圖案化金屬層配置於可撓性基板之第二表面對應第二部分處。圖案化金屬層具有第四厚度。第三厚度大於第四厚度。
Description
本發明是有關於一種顯示裝置及其製造方法,且特別是有關於一種包括可撓性基板的顯示裝置及其製造方法。
在顯示裝置中,可局部或大面積地應用可撓性基板,藉此實現例如窄邊框、甚至是整體可撓之顯示裝置等目的。可撓性基板在彎折時,其上的元件可能受到應力,進而發生性質惡化或毀損。為了避免這樣的情況,一般會選擇調整形成在可撓性基板上的膜層的厚度。然而,這種方式可能會導致製程複雜化、由於高低差而導致的製程不均勻性、阻氣阻水效果的下降、甚至演色性和電性等性質的惡化。
本發明提供包括可撓性基板的顯示裝置及其製造方法。可減少元件受到之應力影響,同時能夠避免或減輕上述問題。
根據一些實施例,提供一種顯示裝置。此種顯示裝置包括可撓性基板、複數個畫素單元、以及圖案化金屬層。可撓性基板具有實質上平坦的第一表面及相對第一表面之第二表面。
可撓性基板包含第一部分和第二部分。第一部分具有第一厚度。第二部分具有第二厚度。第一厚度大於第二厚度。第二厚度和第一厚度的差為第三厚度。畫素單元配置於可撓性基板之第一表面。圖案化金屬層配置於可撓性基板之第二表面對應第二部分處。圖案化金屬層具有第四厚度。第三厚度大於第四厚度。
根據一些實施例,提供一種顯示裝置的製造方法。此種製造方法包括下列步驟。首先,提供支撐基板。形成圖案化金屬層在支撐基板上。接著,形成凹槽在支撐基板對應於未覆蓋圖案化金屬層處。塗佈可撓性材料於支撐基板及圖案化金屬層上,該可撓性材料填充入凹槽中,以形成可撓性基板,其中該可撓性基板具有第一表面以及一相對的第二表面,該第二表面面對於該支撐基板且第一表面實質上平坦。形成複數個畫素單元在可撓性基板之第一表面上。之後,分離可撓性基板和支撐基板,其中圖案化金屬層保留在可撓性基板上的第二表面上。
為了對本發明之上述及其他方面有更佳的瞭解,下文特舉實施例,並配合所附圖式詳細說明如下:
100‧‧‧可撓性基板
102‧‧‧第一表面
104‧‧‧第二表面
106‧‧‧第一部分
108‧‧‧第二部分
110‧‧‧畫素單元
112‧‧‧電晶體
114‧‧‧電晶體
116‧‧‧訊號線
118‧‧‧訊號線
120‧‧‧圖案化金屬層
200‧‧‧支撐基板
201‧‧‧輔助脫離層
202‧‧‧金屬層
204‧‧‧圖案化金屬層
206‧‧‧凹槽
208‧‧‧雷射
d‧‧‧深度
t1‧‧‧第一厚度
t2‧‧‧第二厚度
t3‧‧‧第三厚度
t4‧‧‧第四厚度
t5‧‧‧第五厚度
第1圖繪示根據實施例之一例示性顯示裝置。
第2圖繪示用於顯示裝置的一例示性電路配置。
第3A~3H圖繪示根據實施例之顯示裝置的一例示性製造方法其中數個步驟。
第4圖繪示根據實施例之顯示裝置的一例示性製造方法其中一替代步驟。
以下將參照所附圖式對於各種不同的實施例進行更詳細的說明。可以預期的是,一實施例中的元件和特徵,能夠被有利地納入於另一實施例中,然而並未對此作進一步的列舉。在此,當敘述有一元件時,並不排除同時有複數個該元件的情況,在適當的情況下,可以有一或多個該元件。在此,當敘述一元件配置於另一元件,或者以其他類似方式形容時,該元件可直接配置於該另一元件,或者可以有中介元件。
請參照第1圖,其繪示根據實施例之一例示性顯示裝置。該顯示裝置包括可撓性基板100、複數個畫素單元110、以及圖案化金屬層120。可撓性基板100具有實質上平坦的第一表面102及相對第一表面102之第二表面104。可撓性基板100包含第一部分106和第二部分108。第一部分106具有第一厚度t1。第二部分108具有第二厚度t2。第一厚度t1大於第二厚度t2。第二厚度t2和第一厚度t1的差為第三厚度t3。畫素單元110配置於可撓性基板100之第一表面102。圖案化金屬層120配置於可撓性基板100之第二表面104對應第二部分108處。圖案化金屬層120具有第四厚度t4。第三厚度t3大於第四厚度t4。
在一些實施例中,可撓性基板100為軟質基板,其具有可撓性與可彎曲性,其材料可包括例如聚亞醯胺(polyimide,
PI)、聚對苯二甲酸乙二酯(polyethylene terephthalate,PET)、聚萘二甲酸乙二酯(polyethylene naphthalate,PEN)、聚醯胺(polyamide,PA)等有機材料其中至少一者,但不以此為限。第二厚度t2和第一厚度t1之比值較佳大於10%,且小於50%,亦即,10%<t2/t1<50%。舉例而言,一般的第一厚度t1大於5μm(微米),且小於50μm。在一些實施例中,第二厚度t2大於2μm,且小於10μm,較佳是3μm~4μm,例如約為3.5μm。在一些實施例中,第四厚度t4和第三厚度t3的差可大於1μm,且小於25μm。一般而言,第四厚度t4實質上遠小於第一厚度t1、第二厚度t2、和第三厚度t3。舉例來說,第四厚度t4可與第一厚度t1、第二厚度t2、和第三厚度t3屬於不同數量級。在一些實施例中,第四厚度t4厚度為奈米等級,舉例來說,第四厚度t4厚度可小於1μm,但大於等於30nm(奈米),特別是大於等於100nm,以確保在製程中達成保護畫素單元110中之元件的效果。此點將在後續段落配合製造方法的實施例作更進一步的說明。
如第1圖所示,畫素單元110可包括至少一電晶體,該至少一電晶體係對應第二部分108設置。在第1圖中,只分別以一個電晶體表示各個畫素單元110,僅為例示並非用以限定本實施例。請配合參照第2圖,其繪示用於顯示裝置的一例示性電路配置,特別是用於有機發光二極體(OLED)顯示裝置的一例示性電路配置。當然,此一電路配置只是舉例說明用途,本發明並不受限於此一電路配置,也不受限於OLED顯示裝置,亦可以例如是液
晶顯示裝置、電致變色(electro-chromic)顯示裝置、或其它具有自發光或非自發光顯示特性之顯示裝置。如第2圖所示,畫素單元110可由彼此相交的訊號線116和訊號線118所定義。訊號線116、118例如可以是資料線、掃描線。各個畫素單元110可包括至少一個電晶體,例如包括二個電晶體112、114。電晶體112例如是開關電晶體。電晶體114例如是驅動電晶體。電晶體一般包括閘極、閘極絕緣層、半導體通道層、源極以及汲極。電晶體可為底閘型(bottom-gate)、頂閘型(top-gate)、雙閘型(dual-gate)、或其它型式的電晶體元件。半導體通道層的材料可包括矽(例如非晶矽、多晶矽、單晶矽、微晶矽、奈米晶矽)、氧化物半導體材料(例如氧化銦鎵鋅(IGZO)、氧化銦鎵(IGO)、氧化銦鋅(IZO)、氧化銦錫(ITO)、氧化鈦(TiO)、氧化鋅(ZnO)、氧化銦(InO)或氧化鎵(gallium oxide,GaO))、有機半導體材料、或是其它合適的半導體材料。各個畫素單元110可更包括其他常見之用於畫素單元的元件,在此不再贅述。
現在請參照第3A~3H圖,其繪示根據實施例之顯示裝置的一例示性製造方法。
首先,如第3A圖所示,提供支撐基板200。根據一些實施例,支撐基板200是是具有高剛硬性、低膨脹係數以及高楊氏係數性質的基板。在本實施例中,支撐基板110例如是無機基板,包括玻璃基板、石英基板、或矽基板,但不以此為限。
接著,形成圖案化金屬層在支撐基板200上。具體來說,如第3B圖所示,可先形成金屬層202在支撐基板200上。舉例來說,可藉由濺鍍(sputter)或化學氣相沉積(Chemical Vapor Deposition,CVD)方法將金屬材料形成在支撐基板200上。金屬材料例如可包括例如鋁(aluminum)、鉑(platinum)、銀(silver)、鈦(titanium)、鉬(molybdenum)、鋅(zinc)、錫(tin)等金屬或其合金,但不以此為限。再如第3C圖所示,例如藉由濕蝕刻或乾蝕刻移除部分金屬層202,以形成圖案化金屬層204在支撐基板200上。在一些實施例中,可如第4圖所示,先形成輔助脫離層201於支撐基板200上,然後金屬層202再形成於輔助脫離層201上。輔助脫離層201例如是由適合的有機材料如聚對二甲苯(parylene)、矽烷(silane)、矽氧烷(siloxane)、有機氟化物、氟矽烷(FAS)、及其組合來形成。舉例而言,輔助脫離層201可只有數奈米厚。輔助脫離層201之功能將在後續段落作更進一步的說明。
接下來,如第3D圖所示,形成凹槽206在支撐基板200對應於未覆蓋圖案化金屬層204處,例如是藉由圖案化金屬層204為遮罩或是與圖案化金屬層202步驟相同的遮罩進行乾蝕刻或濕蝕刻而形成。凹槽206具有深度d。舉例來說,可藉由蝕刻製程來形成凹槽206,一般常用氟化物做為蝕刻劑,但不以此為限。
接著,如第3E圖所示,塗佈可撓性材料於支撐基板200及圖案化金屬層204上,該可撓性材料填充入凹槽206中,以
形成可撓性基板100。可撓性材料例如聚亞醯胺(polyimide,PI)、聚對苯二甲酸乙二酯(polyethylene terephthalate,PET)、聚萘二甲酸乙二酯(polyethylene naphthalate,PEN)、聚醯胺(polyamide,PA)等有機材料其中至少一者,但不以此為限。可撓性基板100具有第一表面102與第二表面104,其中第二表面104面對支撐基板200而第一表面102為相對於支撐基板200的另一面,且第一表面102實質上平坦。可撓性基板100具有第一部分106和第二部分108,第一部分106具有第一厚度t1,第二部分108具有第二厚度t2,第一厚度t1大於第二厚度t2,第二厚度t2和第一厚度t1的差為第三厚度t3。凹槽206之深度d可實質上等於第三厚度t3。第一厚度t1、第二厚度t2、第三厚度t3之較適厚度如前所列,於此不再贅述。圖案化金屬層204位於可撓性基板100之第二表面104對應第二部分108處。圖案化金屬層204具有第五厚度t5。在一些實施例中,第五厚度t5大於等於30nm,特別是大於等於100nm。此外,圖案化金屬層204可能會因形成凹槽206的蝕刻製程而減薄,但須保留足以在後續步驟中保護將形成於其上方之元件的厚度。
受到可撓性材料本身特性和製程的影響,在一般的形成可撓性基板的製程之中,如聚亞醯胺之可撓性材料所形成的膜層的厚度難以降低,例如一般會大於5μm。然而,在此一製程方法中,凹槽206提供了足夠的深度,因此可撓性材料在圖案化金屬層204上可形成較薄的部分。這有助於將應力中性軸調整到顯示
裝置中須受到保護的元件,例如畫素單元110中之電晶體等等。如此一來,便可降低該些元件受到的應力影響。根據一些實施例,第二厚度t2和第五厚度t5的決定可配合應力中性軸之位置調整。在一些實施例中,除了須受到保護的元件之外,可撓性基板100較薄的第二部分108還可對應預定彎折的部分,例如非顯示區中的走線區或折疊顯示器中遮疊區等部分。
接下來,如第3F圖所示,形成複數個畫素單元110在可撓性基板100之第一表面102上。除了畫素單元110之外,也可形成其他顯示裝置之元件。舉例來說,可進行陣列製程,其包括形成畫素單元110的步驟在內,可形成多個導電層、介電層、阻隔層等等,在此不再贅述。製作可利用包括塗布、沉積、微影、蝕刻、離子植入與高溫處理等程序加以實現,但不以此為限。
之後,分離可撓性基板100和支撐基板200。如第3G圖所示,例如可使用雷射208從支撐基板200的下表面照射。在圖案化金屬層204直接形成在支撐基板200的實施例中,使用雷射208從支撐基板200的下表面照射,可能會使得在圖案化金屬層204和支撐基板200之介面發生反應,例如生成金屬氧化物,而有助於支撐基板200的分離。在形成有輔助脫離層201的實施例中,輔助脫離層201幫助支撐基板200的分離。
在前一步驟中,畫素單元110中較容易受到後續分離步驟影響的元件,特別是通道層可能會被雷射208損壞的電晶體,尤其例如是驅動電晶體,可配置在圖案化金屬層204上。如此一
來,在此步驟中,其便可受到圖案化金屬層204的保護,而不會被雷射208損壞。由於圖案化金屬層204提供保護效果,可提高分離步驟的製程容限。以鉬或鈦形成之圖案化金屬層204在後續接受308nm之雷射分離製程為例,大於等於300Å的第五厚度t5即可阻擋大部分的雷射(穿透率只有約1%),當第五厚度t5大於等於1000Å時,雷射甚至完全無法通過。藉此,可避免雷射製程傷害到電晶體,影響到電晶體之特性。
如第3H圖所示,分離可撓性基板100和支撐基板200之後,圖案化金屬層204保留在可撓性基板100之第二表面104上的部分成為前述至少一圖案化金屬層120。圖案化金屬層120位於對應第二部分108處。圖案化金屬層120具有第四厚度t4。第四厚度t4約等於第五厚度t5,之間可能有差異的原因是或許有部分圖案化金屬層204會因分離程序而消耗移除。第四厚度t4小於第三厚度t3。
在本發明所提供之顯示裝置及其製造方法中,由於為了減少元件受到之應力影響而減薄的是可撓性基板,因此能夠避免製程複雜化、由於高低差而導致的製程不均勻性、阻氣阻水效果的下降、和演色性與電性等性質的惡化等問題。
綜上所述,雖然本發明已以實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明。本發明所屬技術領域中具有通常知識者,在不脫離本發明之精神和範圍內,當可作各種之更動與潤飾。因此,本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
Claims (14)
- 一種顯示裝置,包括:一可撓性基板,具有實質上平坦的一第一表面及相對該第一表面之一第二表面,且該可撓性基板包含一第一部分和一第二部分,該第一部分具有一第一厚度,該第二部分具有一第二厚度,該第一厚度大於該第二厚度,該第二厚度和該第一厚度的差為一第三厚度;複數個畫素單元,配置於該可撓性基板之該第一表面,且該些畫素單元包括至少一電晶體;以及一圖案化金屬層,配置於該可撓性基板之該第二表面對應該第二部分處,該圖案化金屬層具有一第四厚度,且該第三厚度大於該第四厚度。
- 如申請專利範圍第1項所述之顯示裝置,其中該可撓性基板之材料包括聚亞醯胺、聚對苯二甲酸乙二酯、聚萘二甲酸乙二酯、和聚醯胺其中至少一者。
- 如申請專利範圍第1項所述之顯示裝置,其中該第二厚度和該第一厚度之比值大於10%且小於50%。
- 如申請專利範圍第1項所述之顯示裝置,其中該第四厚度和該第三厚度的差大於1μm且小於25μm。
- 如申請專利範圍第1項所述之顯示裝置,其中該第一厚度大於5μm且小於50μm。
- 如申請專利範圍第1項所述之顯示裝置,其中該第二厚度大於2μm且小於10μm。
- 如申請專利範圍第1項所述之顯示裝置,其中該第四厚度大於等於30nm。
- 如申請專利範圍第1項所述之顯示裝置,其中該至少一電晶體係對應該第二部分設置。
- 一種顯示裝置的製造方法,包括:提供一支撐基板;形成一圖案化金屬層在該支撐基板上;形成一凹槽在該支撐基板對應於未覆蓋該圖案化金屬層處;塗佈一可撓性材料於該支撐基板及該圖案化金屬層上,該可撓性材料填充入該凹槽中,以形成一可撓性基板,其中該可撓性基板具有一第一表面以及一相對的第二表面,該第二表面面對於該支撐基板且該第一表面實質上平坦;形成複數個畫素單元在該可撓性基板之該第一表面上;以及分離該可撓性基板和該支撐基板,其中該圖案化金屬層保留在該可撓性基板的該第二表面上。
- 如申請專利範圍第9項所述之顯示裝置的製造方法,其中該可撓性基板具有一第一部分和一第二部分,該第一部分具有一第一厚度,該第二部分具有一第二厚度,該第一厚度大於該第二厚度,該第二厚度和該第一厚度的差為一第三厚度。
- 如申請專利範圍第10項所述之顯示裝置的製造方法,其中該圖案化金屬層位於對應該第二部分處,該圖案化金屬層具有一第四厚度,且該第三厚度大於該第四厚度。
- 申請專利範圍第10項所述之顯示裝置的製造方法,其中該凹槽之深度實質上等於該第三厚度。
- 如申請專利範圍第9項所述之顯示裝置的製造方法,其中分離該可撓性基板和該支撐基板的步驟包括:使用雷射從該支撐基板的下表面照射。
- 如申請專利範圍第9項所述之顯示裝置的製造方法,更包含:形成一輔助脫離層於該支撐基板上,其中該圖案化金屬層係形成於該輔助脫離層上。
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