TWI617960B - 檢測裝置及顯示裝置 - Google Patents

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TWI617960B
TWI617960B TW106110709A TW106110709A TWI617960B TW I617960 B TWI617960 B TW I617960B TW 106110709 A TW106110709 A TW 106110709A TW 106110709 A TW106110709 A TW 106110709A TW I617960 B TWI617960 B TW I617960B
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石崎剛司
倉澤隼人
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日本顯示器股份有限公司
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Abstract

本發明之檢測裝置具備：基板；複數條第1導電性細線，其設置於與基板平行之面上，且於第1方向延伸；複數條第2導電性細線，其設置於與第1導電性細線同一層上，且在與第1方向形成角度之第2方向延伸；第1組群，其配置於第1寬度之第1帶狀區域，且至少包含於第2方向相互偏移之2條第1導電性細線；及第2組群，其配置於第2寬度之第2帶狀區域，且至少包含於第1方向相互偏移之2條第2導電性細線。於第1帶狀區域與第2帶狀區域之交叉區域中，第1導電性細線與第2導電性細線相接。

Description

檢測裝置及顯示裝置
本發明係關於可檢測外部接近物體之檢測裝置，尤其係關於可基於靜電電容之變化而檢測外部接近物體之檢測裝置及顯示裝置。
近年來，稱作所謂觸控面板之可檢測外部接近物體之檢測裝置備受矚目。觸控面板係用於安裝於液晶顯示裝置等顯示裝置上或經一體化之附有觸控檢測功能之顯示裝置。並且，附有觸控檢測功能之顯示裝置藉由使各種按鈕圖像等顯示於顯示裝置，而能夠以觸控面板取代通常之機械式按鈕輸入資訊。由於具有此種觸控面板之附有觸控檢測功能之顯示裝置無需如鍵盤或滑鼠、按鍵等之輸入裝置，故除了電腦以外，於如行動電話之便攜式資訊終端等中亦有擴大使用之傾向。
作為觸控檢測裝置之方式，存在光學式、電阻式、靜電電容式等若干種方式。靜電電容式觸控檢測裝置使用於便攜式終端等，具有比較單純之構造，且可實現低耗電量。例如，於日本專利公開公報特開2010-197576號公報中，記載有透光性電極圖案之不可視化對策之觸控面板。
再者，於可檢測外部接近物體之檢測裝置中，為了薄型化、大畫面化或高精細化，而謀求檢測電極之低電阻化。檢測電極係使用ITO(Indium Tin Oxide：銦錫氧化物)等透光性導電氧化物作為透光性電 極之材料。要使檢測電極為低電阻，使用金屬材料等導電性材料較為有效。但，若使用金屬材料等導電性材料，則可能因顯示裝置之像素與金屬材料等導電性材料之干擾而視認到疊紋。
因此，於日本專利公開公報特開2014-041589號公報中，記載有檢測電極即使使用金屬材料等導電性材料之檢測電極，仍可降低視認到疊紋之可能性之檢測裝置。於日本專利公開公報特開2014-041589號公報記載之檢測裝置中，雖可降低視認到疊紋之可能性，但當可視光入射時在複數個檢測電極中繞射或散射之光強度圖案會變得近似複數個散亂之光點，而有可能視認到光點。
本發明係鑑於該問題而完成者，其目的係提供一種可檢測外部接近物體之檢測裝置及顯示裝置，其可使用金屬材料等導電性材料之檢測電極，且降低視認到複數個散亂之光點之可能性。
根據第1態樣，檢測裝置具備：基板；複數條第1導電性細線，其設置於與基板平行之面上，且於第1方向延伸；複數條第2導電性細線，其設置於與第1導電性細線同一層上，且在與第1方向形成角度之第2方向延伸；第1組群，其配置於第1寬度之第1帶狀區域，且至少包含於第2方向相互偏移之2條第1導電性細線；及第2組群，其配置於第2寬度之第2帶狀區域，且至少包含於第1方向相互偏移之2條第2導電性細線，於第1帶狀區域與第2帶狀區域之交叉區域中，第1導電性細線與第2導電性細線相接。
根據第2態樣，顯示裝置具備檢測裝置與顯示區域，且在與上述顯示區域重疊之區域，設有上述第1導電性細線與上述第2導電性細線。
1‧‧‧附有觸控檢測功能之顯示裝置
2‧‧‧像素基板
3‧‧‧對向基板
6‧‧‧液晶層
10‧‧‧附有觸控檢測功能之顯示部
10a‧‧‧顯示區域
10b‧‧‧邊框區域
10c‧‧‧端部區域
10d‧‧‧主檢測區域
11‧‧‧控制部
12‧‧‧閘極驅動器
13‧‧‧源極驅動器
14‧‧‧驅動電極驅動器
19‧‧‧COG
20‧‧‧顯示裝置
21‧‧‧TFT基板
22‧‧‧像素電極
24‧‧‧絕緣層
30‧‧‧檢測裝置
31‧‧‧基板
32‧‧‧彩色濾光片
32B、32G、32R‧‧‧色區域
33a‧‧‧導電性細線
33SU‧‧‧第1基準線
33SV‧‧‧第2基準線
33U‧‧‧第1導電性細線
33V‧‧‧第2導電性細線
33Y‧‧‧第3導電性細線
33x、33xx‧‧‧電性連接部
34a、34b‧‧‧連接配線
35‧‧‧偏光板
37‧‧‧配線
38‧‧‧保護層
39‧‧‧接著層
40‧‧‧觸控檢測部(檢測部)
42‧‧‧檢測信號放大部
43‧‧‧A/D轉換部
44‧‧‧信號處理部
45‧‧‧座標擷取部
46‧‧‧檢測時序控制部
61‧‧‧間隔件
65‧‧‧偏光板
66‧‧‧接著層
71、72‧‧‧可撓性印刷基板
331U‧‧‧第1主細線
331V‧‧‧第2主細線
332U‧‧‧第1輔助細線
332V‧‧‧第2輔助細線
AX、AXX‧‧‧交叉區域
C1、C1'‧‧‧電容元件
C2‧‧‧靜電電容
COML‧‧‧驅動電極
Cx1、Cx2‧‧‧電容
D‧‧‧介電質
DET‧‧‧電壓檢測器
Du‧‧‧方向
Dv‧‧‧方向
Dx‧‧‧方向
Dy‧‧‧方向
E1‧‧‧驅動電極
E2‧‧‧檢測電極
GCL‧‧‧掃描信號線
GU‧‧‧第1組群
GV‧‧‧第2組群
I0、I1‧‧‧電流
LC‧‧‧液晶元件
LY1‧‧‧直線
LY2‧‧‧直線
LY3‧‧‧直線
Pix‧‧‧像素
Reset‧‧‧充放電期間
S‧‧‧交流信號源
SCAN‧‧‧方向
Sg‧‧‧交流矩形波
SGL‧‧‧像素信號線
SL‧‧‧縫隙
SP‧‧‧間隔
SPix‧‧‧子像素
SW1‧‧‧第1基準長度
SW2‧‧‧第2基準長度
TDD‧‧‧虛設電極
TDL‧‧‧檢測電極
TDLB‧‧‧檢測區塊
Tr‧‧‧TFT元件
U11‧‧‧第1端部
U12‧‧‧第12端部
UA‧‧‧第1帶狀區域
UAa‧‧‧第1主帶狀區域
UAb‧‧‧第1輔助帶狀區域
V0、V1‧‧‧波形
VA‧‧‧第2帶狀區域
Vcom‧‧‧驅動信號
Vdet‧‧‧檢測信號
Vdet1‧‧‧輸出波形
Vdisp‧‧‧影像信號
Vout‧‧‧信號輸出
Vpix‧‧‧像素信號
Vscan‧‧‧掃描信號
WU‧‧‧特定寬度
WV‧‧‧特定寬度
YA‧‧‧第3帶狀區域
θ‧‧‧角度
β‧‧‧長度
γ‧‧‧長度
｜ΔV｜‧‧‧絕對值
圖1係顯示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置之一構成例之方塊圖。
圖2係為了說明靜電電容型觸控檢測方式之基本原理，而表示手指未接觸或接近之狀態之說明圖。
圖3係顯示圖2所示之手指未接觸或接近之狀態之等價電路之例之說明圖。
圖4係為了說明靜電電容型觸控檢測方式之基本原理，而表示手指接觸或接近之狀態之說明圖。
圖5係顯示圖4所示之手指接觸或接近之狀態之等價電路之例之說明圖。
圖6係顯示驅動信號及檢測信號之波形之一例之圖。
圖7係顯示安裝有附有觸控檢測功能之顯示裝置之模組之一例之圖。
圖8係顯示安裝有附有觸控檢測功能之顯示裝置之模組之一例之圖。
圖9係顯示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置之概略剖面構造之剖面圖。
圖10係顯示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置之像素配置之電路圖。
圖11係實施形態1之檢測電極之俯視圖。
圖12係用以說明實施形態1之檢測電極之配置方法之步驟圖。
圖13係實施形態2之檢測電極之俯視圖。
圖14係實施形態2之變化例1之檢測電極之俯視圖。
圖15係實施形態2之變化例2之檢測電極之俯視圖。
圖16係實施形態3之檢測電極之俯視圖。
圖17係實施形態4之檢測電極之俯視圖。
圖18係實施形態5之檢測電極之俯視圖。
圖19係實施形態6之檢測電極之俯視圖。
圖20係顯示自身靜電電容方式之觸控檢測之等價電路之一例之說明圖。
以下，針對用以實施發明之形態(實施形態)，一面參照圖式一面詳細說明。本發明不限於以下之實施形態所記載之內容。又，以下所記載之構成要素中包含本領域技術人員可容易設想者，或實質性相同者。再者，以下所記載之構成要素可適當組合。另，揭示僅為一例，本領域技術人員對於在確保發明主旨下進行適當變而可容易設想者，當然含在本發明之範圍內。又，為使說明更明確，圖式與實際之態樣相比，對於各部分之寬度、厚度、形狀等會有示意性顯示之情形，但僅為一例，並非限定本發明之解釋。又，本說明書與各圖中，對關於既有之圖式與上述者相同之要素，附加相同之符號，且適當省略詳細說明。
(實施形態1)
圖1係表示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置之一構成例之方塊圖。附有觸控檢測功能之顯示裝置1具備：附有觸控檢測功能之顯示部10、控制部11、閘極驅動器12、源極驅動器13、驅動電極驅動器14、及觸控檢測部(亦簡稱作檢測部)40。附有觸控檢測功能之顯示部10係將稱作所謂液晶顯示裝置之顯示裝置20與靜電電容型檢測裝置30一體化而成之裝置。另，附有觸控檢測功能之顯示部10亦可為於顯示裝置20之上安 裝有靜電電容型檢測裝置30之裝置。另，顯示裝置20亦可為例如有機EL(Electroluminescent：電致發光)顯示裝置。另，閘極驅動器12、源極驅動器13、或驅動電極驅動器14亦可設置於顯示部10。
如後述，顯示裝置20係按照自閘極驅動器12供給之掃描信號Vscan，按每1水平線依序掃描並進行顯示之裝置。控制部11係基於自外部供給之影像信號Vdisp，分別對閘極驅動器12、源極驅動器13、驅動電極驅動器14、及觸控檢測部40供給控制信號，以使該等相互同步動作之方式進行控制之電路(控制裝置)。
閘極驅動器12具有基於自控制部11供給之控制信號，依序選擇成為附有觸控檢測功能之顯示裝置10之顯示驅動之對象之1水平線之功能。
源極驅動器13係基於自控制部11供給之控制信號，對附有觸控檢測功能之顯示部10之後述各子像素SPix供給像素信號Vpix之電路。
驅動電極驅動器14係基於自控制部11供給之控制信號，對附有觸控檢測功能之顯示部10之後述驅動電極COML供給驅動信號Vcom之電路。
觸控檢測部40係如下之電路：基於自控制部11供給之控制信號、及自附有觸控檢測功能之顯示部10之檢測裝置30供給之檢測信號Vdet，檢測有無對檢測裝置30之觸控(後述之接觸或接近之狀態)，於有觸控時求出其於觸控檢測區域中之座標等。該觸控檢測部40具備：檢測信號放大部42、A/D轉換部43、信號處理部44、座標擷取部45、及檢測時序控制部46。
檢測信號放大部42將自檢測裝置30供給之檢測信號Vdet放大。檢測信號放大部42亦可具備低通類比濾波器，其去除檢測信號Vdet中所含之較高頻率成分(雜訊成分)而擷取觸控成分，並分別輸出該等成分。
(靜電電容型觸控檢測之基本原理)
檢測裝置30基於靜電電容型接近檢測之基本原理而動作，輸出檢測信號Vdet。參照圖1~圖6，針對實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置10之觸控檢測之基本原理進行說明。圖2係為了說明靜電電容型觸控檢測方式之基本原理，而顯示外部物體例如手指未接觸或接近之狀態之說明圖。圖3係顯示圖2所示之手指未接觸或接近之狀態之等價電路之例之說明圖。圖4係為了說明靜電電容型觸控檢測方式之基本原理，而表示手指接觸或接近之狀態之說明圖。圖5係顯示圖4所示之手指接觸或接近之狀態之等價電路之例之說明圖。圖6係表示驅動信號及檢測信號之波形之一例之圖。另，所謂外部物體，只要為產生後述之靜電電容之物體即可，例如可舉出上述手指或觸控筆。於本實施形態中，作為外部物體，以手指為例進行說明。
例如如圖3及圖5所示，電容元件C1及電容元件C1'具備驅動電極E1及檢測電極E2作為隔著介電質D而相互對向配置之一對電極。如圖3所示，電容元件C1其一端連接於交流信號源(驅動信號源)S，另一端連接於電壓檢測器(觸控檢測部)DET。電壓檢測器DET例如為圖1所示之檢測信號放大部42中所含之積分電路。
若自交流信號源S對驅動電極E1(電容元件C1之一端)施加特定頻率(例如數kHz至數百kHz左右)之交流矩形波Sg，則經由連接於檢測電極E2(電容元件C1之另一端)側之電壓檢測器DET，顯現輸出波形(檢測信號Vdet1)。
於手指未接觸(或接近)之狀態(非接觸狀態)下，如圖2及圖3所示，伴隨對於電容元件C1之充放電，與電容元件C1之電容值對應之電流I0流 動。如圖6所示，電壓檢測器DET將與交流矩形波Sg對應之電流I0之變動轉換成電壓之變動(實線之波形V0)。
另一方面，於手指接觸(或接近)之狀態(接觸狀態)下，如圖4所示，藉由手指而形成之靜電電容C2與檢測電極E2相接或位於其附近，而將於驅動電極E1及檢測電極E2之間之邊緣部分之靜電容量遮斷。因此，電容元件C1'之電容值變得小於電容元件C1之電容值。且，以圖5所示之等價電路觀察時，電流I1流動於電容元件C1'。如圖6所示，電壓檢測器DET將與交流矩形波Sg對應之電流I1之變動轉換成電壓之變動(虛線之波形V1)。此時，波形V1與上述波形V0相比振幅變小。藉此，波形V0與波形V1之電壓差值之絕對值｜ΔV｜會根據手指等自外部接近之物體之影響而變化。另，電壓檢測器DET較佳為高精度地檢測波形V0與波形V1之電壓差值之絕對值｜ΔV｜。因此，進而較佳為藉由電路內之切換，配合交流矩形波Sg之頻率而設置重設電容器之充放電期間Reset。
圖1所示之檢測裝置30按照自驅動電極驅動器14供給之驅動信號Vcom，按每1檢測區塊依序掃描而進行觸控檢測。
檢測裝置30自複數個後述之檢測電極TDL經由圖3或圖5所示之電壓檢測器DET，按每檢測區塊輸出檢測信號Vdet1，供給至觸控檢測部40之A/D轉換部43。
A/D轉換部43係以與驅動信號Vcom同步之時序，分別對自檢測信號放大部42輸出之類比信號進行取樣，且將其轉換為數位信號之電路。
信號處理部44具備數位濾波器，其降低對A/D轉換部43之輸出信號中所含之驅動信號Vcom進行取樣之頻率以外之頻率成分(雜訊成分)。信號處理部44係基於A/D轉換部43之輸出信號，檢測有無對檢測裝置30之觸 控之邏輯電路。信號處理部44進行僅提取由手指所引起之差值電壓之處理。由該手指所引起之差值電壓係上述波形V0與波形V1之差值之絕對值｜ΔV｜。信號處理部44亦可進行將每1檢測區塊之絕對值｜ΔV｜平均化之運算，而求得絕對值｜ΔV｜之平均值。藉此，信號處理部44可降低因雜訊所致之影響。信號處理部44將檢測出之由手指所引起之差值電壓與特定之臨限值電壓進行比較，若為該臨限值電壓以上，則判定為自外部接近之手指之接觸狀態，若小於臨限值電壓，則判定為手指之非接觸狀態。如此，觸控檢測部40可進行觸控檢測。
座標擷取部45係於信號處理部44中檢測出觸控時求出該觸控面板座標之邏輯電路。檢測時序控制部46以A/D轉換部43、信號處理部44、及座標擷取部45同步動作之方式進行控制。座標擷取部45將觸控面板座標作為信號輸出Vout輸出。
圖7及圖8係顯示安裝有實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置之模組之一例之俯視圖。圖7係顯示驅動電極之一例之俯視圖，圖8係顯示檢測電極之一例之俯視圖。
如圖7所示，附有觸控檢測功能之顯示裝置1具備TFT(Thin Film Transistor：薄膜電晶體)基板21、及可撓性印刷基板72。TFT基板21搭載COG(Chip On Glass：玻璃覆晶)19，且形成有與顯示裝置20(參照圖1)之顯示區域10a、及包圍顯示區域10a之邊框區域10b相對應之區域。COG19係安裝於TFT基板21之IC驅動器之晶片，且內置有圖1所示之控制部11、閘極驅動器12、源極驅動器13等顯示動作所需之各電路。又，於本實施形態中，閘極驅動器12、源極驅動器13或驅動電極驅動器14亦可形成於玻璃基板即TFT基板21。COG19及驅動電極驅動器14設於邊框區域10b。 另，COG19亦可內置有驅動電極驅動器14。該情形時，可縮小邊框區域10b。可撓性印刷基板72與COG19連接，經由可撓性印刷基板72自外部對COG19供給影像信號Vdisp或電源電壓。
如圖7所示，附有觸控檢測功能之顯示部10於重疊於顯示區域10a之區域設有複數個驅動電極COML。複數個驅動電極COML各自於沿著顯示區域10a之一邊之方向延伸，在沿著與顯示區域10a之一邊相交之另一邊之方向上設置間隔而排列。複數個驅動電極COML各自與驅動電極驅動器14連接。
如圖8所示，附有觸控檢測功能之顯示裝置1進而具備基板31、及可撓性印刷基板71。於可撓性印刷基板71上搭載有上述觸控檢測部40。另，觸控檢測部40可搭載於可撓性印刷基板71，亦可搭載於可撓性印刷基板71所連接之另一基板。基板31例如為透光性玻璃基板，且於圖7所示之TFT基板21之表面之垂直方向上與TFT基板21對向。如圖8所示，附有觸控檢測功能之顯示部10在與顯示區域10a重疊之區域設有複數個檢測電極TDL。複數個檢測電極TDL各自在與圖7所示之驅動電極COML之延伸方向交叉之方向延伸。如圖8所示，於相鄰之檢測電極TDL之間有間隔SP。又，複數個檢測電極TDL於驅動電極COML之延伸方向上設置間隔而排列。即，複數個驅動電極COML與複數個檢測電極TDL以立體交叉之方式配置，於互相重疊之部分形成靜電電容。
如後述，附有觸控檢測功能之顯示裝置1於顯示動作時，按每1水平線依序進行掃描。即，附有觸控檢測功能之顯示裝置1係與沿著附有觸控檢測功能之顯示部10之一邊之方向平行地進行顯示掃描(參照圖8)。另一方面，附有觸控檢測功能之顯示裝置1於觸控檢測動作時，藉由自驅動電 極驅動器14對驅動電極COML依序施加驅動信號Vcom，而每1檢測線依序進行掃描。即，附有觸控檢測功能之顯示部10係與沿著與附有觸控檢測功能之顯示部10之一邊相交之另一邊之方向平行地進行朝方向SCAN之掃描(參照圖7)。
如圖8所示，本實施形態之檢測電極TDL具有複數條第1導電性細線33U及複數條第2導電性細線33V。第1導電性細線33U及第2導電性細線33V各自相對於與顯示區域10a之一邊平行之方向互相於反方向傾斜。
複數條第1導電性細線33U及第2導電性細線33V各自為細幅，於顯示區域10a中，在與第1導電性細線33U及第2導電性細線33V之延伸方向交叉之方向(顯示區域10a之短邊方向)互相設置間隔而配置。複數條第1導電性細線33U及第2導電性細線33V之延伸方向之兩端連接於配置於邊框區域10b之連接配線34a、34b。藉此，複數條第1導電性細線33U及第2導電性細線33V互相電性連接，作為1個檢測電極TDL發揮功能。於複數條連接配線34a各自連接有配線37，檢測電極TDL與可撓性印刷基板71藉由配線37而連接。另，檢測電極TDL之一部分亦可配置於顯示區域10a外(邊框區域10b)。又，連接配線34a及連接配線34b亦可不配置於邊框區域10b，而配置於顯示區域10a內。複數條連接配線34a及連接配線34b亦可經由配線37而與觸控檢測部40連接，成為用以連接複數條第1導電性細線33U及第2導電性細線33V及觸控檢測部40之配線。
圖9係顯示附有觸控檢測功能之顯示裝置之概要剖面構造之剖面圖。如圖9所示，附有觸控檢測功能之顯示部10具備像素基板2、與垂直於該像素基板2之表面之方向對向配置之對向基板3、及設於像素基板2與對向基板3之間之液晶層6。
像素基板2包含：作為電路基板之TFT基板21、於該TFT基板21之上方陣列狀排列之複數個像素電極22、形成於TFT基板與像素電極22之間之複數個驅動電極COML、及將像素電極22與驅動電極COML絕緣之絕緣層24。於FTF基板21之下側經由接著層66而設有偏光板65。
對向基板3包含基板31、及形成於該基板31之一面之彩色濾光片32。於基板31之另一面，形成檢測裝置30之檢測電極TDL。如圖9所示，於基板31之上方設置檢測電極TDL。再者，於該檢測電極TDL之上，設有用以保護檢測電極TDL之第1導電性細線33U及第2導電性細線33V之保護層38。保護層38可使用丙烯酸系樹脂等透光性樹脂。於保護層38之上，經由接著層39設有偏光板35。
TFT基板21與基板31藉由間隔件61設置特定之間隔而對向配置。於由TFT基板21、基板31、及間隔件61所包圍之空間設置液晶層6。液晶層6係根據電場之狀態調變通過其層之光者，例如使用利用含FFS(邊緣場切換)之IPS(面內切換)等橫電場模式之液晶之顯示面板。另，亦可於圖9所示之液晶層6與像素基板2之間、及液晶層6與對向基板3之間，分別配設配向膜。
圖10係顯示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置之像素配置之電路圖。於圖9所示之TFT基板21，形成有圖10所示之各子像素SPix之薄膜電晶體元件(以下稱FTF元件)Tr、對各像素電極22供給像素信號Vpix之像素信號線SGL、驅動各TFT元件Tr之掃描信號線GCL等配線。像素信號線SGL及掃描信號線GCL在與TFT基板21之表面平行之平面延伸。設圖10所示之與子像素SPix之排列方向正交之方向(掃描信號線GCL之延伸方向)為方向Dx，設子像素SPix之排列方向(像素信號線SGL之延伸方向)為方向 Dy。於本實施形態中，方向Dy係人之視感度最高之色區域(後述)所排列之方向。方向Dx係在與對向基板3之表面平行之平面上相對於方向Dy正交之方向。
圖10所示之顯示裝置20具有陣列狀排列之複數個子像素SPix。子像素SPix各自具備TFT元件Tr及液晶元件LC。TFT元件Tr係由薄膜電晶體構成者，於該例中，以n通道MOS(Metal Oxide Semiconductor：金屬氧化物半導體)型TFT構成。TFT元件Tr之源極或汲極之一者連接於像素信號線SGL，閘極連接於掃描信號線GCL，源極或汲極之另一者連接於液晶元件LC之一端。液晶元件LC其一端連接於TFT元件Tr之源極或汲極之另一者，另一端連接於驅動電極COML。
子像素SPix藉由掃描信號線GCL與屬於顯示裝置20之相同列之另一子像素SPix互相連接。掃描信號線GCL連接於閘極驅動器12(參照圖1)，由閘極驅動器12供給掃描信號Vscan。又，子像素SPix藉由像素信號線SGL，與屬於顯示裝置20之相同行之另一子像素SPix互相連接。像素信號線SGL連接於源極驅動器13(參照圖1)，由源極驅動器13供給像素信號Vpix。再者，子像素SPix藉由驅動電極COML而與屬於相同列之另一子像素SPix互相連接。驅動電極COML連接於驅動電極驅動器14(參照圖1)。由驅動電極驅動器14供給驅動信號Vcom。即，於該例中，屬於相同列之複數個子像素SPix共有1條驅動電極COML。本實施形態之驅動電極COML之延伸方向與掃描信號線GCL之延伸方向平行。本實施形態之驅動電極COML之延伸方向並未限定於此。例如驅動電極COML之延伸方向亦可為與像素信號線SGL之延伸方向平行之方向。
圖1所示之閘極驅動器12以依序掃描掃描信號線GCL之方式進行驅 動。經由掃描信號線GCL，對子像素SPix之TFT元件Tr之閘極施加掃描信號Vscan(參照圖1)，依序選擇子像素SPix中之1水平線作為顯示驅動之對象。又，附有觸控檢測功能之顯示裝置1係藉由源極驅動器13對屬於1水平線之子像素SPix供給像素信號Vpix，而按每1水平線進行顯示。進行該顯示動作時，驅動電極驅動器14針對對應於該1水平線之驅動電極COML施加驅動信號Vcom。
圖9所示之彩色濾光片32中，週期性排列有例如著色成紅(R)、綠(G)、藍(B)三色之彩色濾光片之色區域32R、色區域32G及色區域32B。於上述圖10所示之各子像素SPix中，以R、G、B三色之色區域32R、色區域32G及色區域32B為1組而相對應，子像素將色區域32R、色區域32G及色區域32B作為1組而構成像素Pix。如圖9所示，彩色濾光片32在與TFT基板21垂直之方向與液晶層對向。另，彩色濾光片32若著色成不同顏色，則亦可與其他顏色組合。又，彩色濾光片32並未限定於三色之組合，亦可為四色以上之組合。
圖11係實施形態1之檢測電極之俯視圖。圖11所示之檢測電極TDL係圖8所示之檢測電極TDL之部分放大圖。圖8所示之檢測電極TDL中，雖看似均等之平行四邊形，但實際之檢測電極TDL之形狀為圖11所示之形狀。
第1導電性細線33U及第2導電性細線33V係以選自鋁(Al)、銅(Cu)、銀(Ag)、鉬(Mo)、鉻(Cr)及鎢(W)之1種以上之金屬層形成。又，第1導電性細線33U及第2導電性細線33V係以含有選自鋁(Al)、銅(Cu)、銀(Ag)、鉬(Mo)、鉻(Cr)及鎢(W)之1種以上之金屬材料之合金形成。又，第1導電性細線33U及第2導電性細線33V亦可為積層有複數層選自該等鋁(Al)、銅(Cu)、銀(Ag)、鉬(Mo)、鉻(Cr)及鎢(W)之1種以上之金屬材料或含有1種 以上之該等材料之合金之導電層之積層體。另，第1導電性細線33U及第2導電性細線33V除上述之金屬材料或金屬材料之合金之導電層外，亦可積層ITO((Indium Tin Oxide：氧化銦錫)等透光性導電氧化物之導電層。又，亦可積層組合有上述金屬材料及導電層之黑色化膜、黑色有機膜或黑色導電有機膜。
上述金屬材料之電阻較作為透明電極之材料之ITO等透光性導電氧化物更低。由於上述金屬材料與透光性導電氧化物相比具有遮光性，故透過率可能降低或可能視認到檢測電極TDL之圖案。於本實施形態中，1個檢測電極TDL具有複數條寬細之第1導電性細線33U及複數條第2導電性細線33V，第1導電性細線33U及第2導電性細線33V設置大於線寬之間隔而配置，從而可實現低電阻化與不可視化。其結果，檢測電極TDL低電阻化，可使附有觸控檢測功能之顯示裝置1薄型化、大畫面化或高精細化。
第1導電性細線33U及第2導電性細線33V之寬度較佳為1μm以上10μm以下，更佳為1μm以上5μm以下之範圍。因為若第1導電性細線33U及第2導電性細線33V之寬度為10μm以下，則顯示區域10a中覆蓋不以黑色矩陣或後述之掃描信號線GCL及像素信號線SGL抑制光之透過之區域即開口部之面積變小，有損開口率之可能性變低。又，因為若第1導電性細線33U及第2導電性細線33V之寬度為1μm以上，則形狀穩定，斷線之可能性變低。
參照圖8、圖10及圖11進行說明，檢測電極TDL係以特定之間距配置有複數個第1導電性細線33U及第2導電性細線33V，檢測電極TDL整體在與彩色濾光片32之各色區域32R、色區域32G及色區域32B之延伸方向平行之方向延伸。即，檢測電極TDL在與圖10所示之像素信號線SGL延伸之 方向Dy平行之方向延伸。以各第1導電性細線33U及第2導電性細線33V不對彩色濾光片32之特定之色區域遮光之方式，將第1導電性線33U及第2導電性細線33V構成為相互反向傾斜之細線片交叉連接之網眼狀。第1導電性細線33U及第2導電性細線33V相對於與色區域32R、色區域32G及色區域32B之延伸方向(方向Dy)平行之方向具有角度θ，且向互相反向之方向Du及方向Dv傾斜。第1導電性細線33U及第2導電性細線33V於電性連接之部位形成電性連接部33x。例如，角度θ為5度以上75度以下，較佳為25度以上40度以下，更佳為50度以上65度以下。
如此，檢測電極TDL包含向方向Du延伸之至少1條導電性細線33U，及與第1導電性細線33U交叉且朝方向Dv延伸之至少1條第2導電性細線33V。若複數條第1導電性細線33U與複數條第2導電性細線33V分別複數條交叉，則檢測電極TDL之1個網眼之形狀成為平行四邊形。
於本實施形態中，若設最接近連接配線34a之電性連接部33x為交界，則較最接近連接配線34a之電性連接部33x更接近連接配線34a之側、且最接近連接配線34a之電性連接部33x至連接配線34a之區域為檢測電極TDL之端部區域10c(參照圖11)。同樣地，較最接近連接配線34a之電性連接部33x更為遠離連接配線34a之側之區域為檢測電極TDL之主檢測區域10d。
連接配線34a周圍之檢測電極TDL之圖案與連接配線34b周圍之檢測電極之圖案線如圖8所示為對稱或點對稱。因此，以最接近連接配線34b之電性連接部33x為交界，較最接近連接配線34b之電性連接部33x更接近連接配線34b之側、且至連接配線34b為止之區域為檢測電極TDL之端部區域。同樣地，較最接近連接配線34b之電性連接部33x更為遠離連接配 線34b之側之區域為檢測電極TDL之主檢測區域。
如圖11所示，於檢測電極TDL之端部區域10c，於第1導電性細線33U延長之位置配置導電性細線33a，連接配線34a與主檢測區域10d之第1導電性細線33U經由導電性細線33a而電性連接。
圖7及圖9所示之驅動電極COML作為對顯示裝置20之複數個像素電極22賦予共通之電位之共通電極發揮功能，且亦作為藉由檢測裝置30之相互靜電電容方式進行觸控檢測時之驅動電極發揮功能。檢測裝置30係由設於像素基板2之驅動電極COML，與設於對向基板3之檢測電極TDL構成。
將驅動電極COML分割成在與圖7所示之顯示區域10a之另一邊平行之方向延伸之複數個電極圖案。檢測電極TDL由具有在與驅動電極COML之電極圖案之延伸方向交叉之方向延伸之複數條金屬配線之電極圖案構成。並且，檢測電極TDL於相對於TFT基板21(參照圖9)之表面垂直之方向上，與驅動電極COML對向。檢測電極TDL之各電極圖案各自連接於觸控檢測部40之檢測信號放大部42之輸入(參照圖1)。由驅動電極COML與檢測電極TDL相互交叉而成之電極圖案於其交叉部分產生靜電電容。
驅動電極COML例如使用ITO等具有透光性之導電性材料。另，檢測電極TDL及驅動電極COML(驅動電極區塊)不限於分割成複數個陣列狀之形狀。例如，檢測電極TDL及驅動電極COML亦可為梳齒形狀。或檢測電極TDL及驅動電極COML只要分割成複數個即可，分割驅動電極COML之峽奉之形狀可為直線，亦可為曲線。
根據該構成，於檢測裝置30中，進行相互靜電電容方式之觸控檢測動作時，驅動電極驅動器14係以作為驅動電極區塊分時依序掃描之方式進 行驅動，藉此依序選擇驅動電極COML之1檢測區塊。且，藉由自檢測電極TDL輸出檢測信號Vdet1，而進行1檢測區塊之觸控檢測。即，驅動電極區塊係與上述相互靜電電容方式之觸控檢測之基本原理之驅動電極E1對應，檢測電極TDL係與檢測電極E2對應者。檢測裝置30按照該基本原理檢測觸控輸入。互相立體交叉之檢測電極TDL及驅動電極COML將靜電電容式觸控感測器構成為陣列狀。藉此，藉由遍及檢測裝置30之觸控檢測面全體進行掃描，而可檢測產生來自外部之導體之接觸或接近之位置。
作為附有觸控檢測功能之顯示裝置1之動作方法之一例，附有觸控檢測功能之顯示裝置1分時進行觸控檢測動作(檢測期間)與顯示動作(顯示動作期間)。觸控檢測動作與顯示動作可分為任意方式進行。
另，於本實施形態中，由於驅動電極COML兼用顯示裝置20之共通電極，故於顯示動作期間，控制部11對經由驅動電極驅動器14選擇之驅動電極COML供給顯示用之共通電極電位即驅動信號Vcom。
於檢測期間不使用驅動電極COML，僅以檢測電極TDL進行檢測動作之情形時，例如基於後述之自身靜電電容方式之觸控檢測原理進行觸控檢測之情形時，驅動電極驅動器14亦可對檢測電極TDL供給觸控檢測用之驅動信號Vcom。
如此，檢測電極TDL之第1導電性細線33U及第2導電性細線33V之延伸方向相對於彩色濾光片32之各色區域32R、色區域32G及色區域32B之延伸方向(方向Dy)成角度θ。其結果，檢測電極TDL之第1導電性細線33U及第2導電性細線33V依序將彩色濾光片32之各色區域32R、色區域32G及色區域32B遮光，因此可抑制彩色濾光片32之特定色區域之透過率降低。其結果，實施形態1之檢測裝置不易具有明暗圖樣固定之週期，可降低視 認到疊紋之可能性。
於JP-A-2014-041589記載之技術中，可視光入射時以複數個檢測電極繞射或散射之光強度圖案會變得近似複數個散亂之光點。視認者雖可藉由將檢測裝置自身傾斜而改變散射之複數個光強度圖案之光點之位置或數量，但難以降低複數個光強度圖案之光點之視認。於JP-A-2014-041589記載之技術中，相鄰之細線片a及細線片b所成之角度為隨機。因此認為，視認者藉由將檢測裝置自身傾斜，容易產生新的繞射或散射，而易發現散亂之複數個光強度圖案之光點。
與此相對，實施形態1之相對於第1導電性細線33U及第2導電性細線33V之方向Dy所成之角度θ為固定。因此，對第1導電性細線33U及第2導電性細線33V入射可視光時，在各個第1導電性細線33U及第2導電性細線33V繞射或散射之光強度圖案將不易擴散。再者，在各個第1導電性細線33U及第2導電性細線33V繞射或散射之光強度圖案易集中於個4方向，且易發現一定之指向性。並且，視認者藉由將實施形態1之檢測裝置30自身傾斜，而容易避免易發現光強度圖案之角度。
對此，將實施形態1之複數個第1導電性細線33U配置於特定寬度WU之第1帶狀區域UA，且形成有至少包含互相於方向Dv偏移之2條第1導電性細線33U之複數個第1組群GU(參照圖11)。
同樣地，實施形態1之複數條第2導電性細線33V配置於特定寬度WV之第2帶狀區域VA，且形成有至少包含於方向Du偏移之2條第2導電性細線33V之複數個第2組群GV(參照圖11)。另，於本實施形態中，亦將特定寬度WU稱作第1寬度、將特定寬度WV稱作第2寬度。
圖12係用以說明實施形態1之檢測電極之配置方法之步驟圖。圖1及 圖12所示之複數條第1基準線33SU係於方向Dv等間距配置、且於方向Du延伸之假想線。第1基準線33SU係將第1帶狀區域UA於寬度方向(方向Dv)二等分之直線。同樣地，複數條第2基準線33SV係於方向Du等間距配置、且於方向Dv延伸之假想線。第2基準線33SV係將第2帶狀區域VA於寬度方向(方向Du)二等分之直線。以第1基準線33SU為中心之情形時，特定寬度WU為即使將第1導電性細線33U與第1基準線33SU偏移亦可之寬度。將於方向Dv相鄰之2條第1基準線33SU間之長度作為第1基準長度SW1時，特定寬度WU為第1基準長度SW1之1/20以上1/5以下。例如特定寬度WU為10μm以上30μm以下。以第2基準線33SV為中心之情形時，特定寬度WV為亦可使第2導電性細線33V與第2基準線33SV偏移之寬度。將於方向Du相鄰之2條第2基準線33SV間之長度作為第2基準長度SW2時，特定寬度WV為第2基準長度SW2之1/20以上1/5以下。例如特定寬度WV為10μm以上30μm以下。
即，第1導電性細線33U之長度為鄰接之上述第2基準線33SV間之長度(第2基準長度SW2)之2倍與第2帶狀區域VA之特定寬度WV之差以上。且第1導電性細線33U之長度為鄰接之第2基準線33SV間之長度(第2基準長度SW2)之2倍與第2帶狀區域VA之特定寬度WV之和以下。第2導電性細線33V之長度為鄰接之上述第1基準線33SU間之長度(第1基準長度SW1)之2倍與第1帶狀區域UA之特定寬度WU之差以上。且第2導電性細線33V之長度為鄰接之第1基準線33SU間之長度(第1基準長度SW1)之2倍與第1帶狀區域UA之特定寬度WU之和以下。
如圖12所示，以1條第1導電性細線33U之第1端部U11為基準點進行配置。於基準點中，將第1導電性細線33U相對於方向Dx所成之角度設為 角度α。於自第1導電性細線33U之第1端部U11朝向方向Du之第2基準長度SW2之2倍±長度β之位置，配置第1導電性細線33U之第2端部U12。此處，長度β在特定寬度WV/2以內，且為隨機選擇之長度。若決定第1導電性細線33U之第2端部U12自位置，則於自第1導電性細線33U之第2端部U12之位置相對於方向Dx成(90°-α)之角度之方向，於特定寬度WU/2以內之長度、且偏移隨機選擇之長度γ之位置，配置下一第1導電性細線33U之第1端部U11。重複上述之檢測電極TDL之配置方法，從而於沿著方向Du延伸之1個第1帶狀區域UA內，允許複數條第1導電性細線33U於方向Dv偏移並進行配置。第2導電性細線33V亦可同樣配置。
如圖11所示，於第1帶狀區域UA與第2帶狀區域VA交叉之交叉區域AX，可成為第1導電性細線33U與第2導電性細線33V相接之電性連接部33x。於包含於方向Dv互相偏移之2條第1導電性細線33U之交叉區域AX，2條第1導電性細線33U與1條第2導電性細線33V相接而具有2個電性連接部33x。於包含於方向Du互相偏移之2條第2導電性細線33V之交叉區域AX，具有2條第2導電性細線33V與1條第1導電性細線33U相接之2個電性連接部33x。其結果，抑制第1導電性細線33U與第2導電性細線33V十字交叉之部位。
即，於1條第1導電性細線33U中產生4個電性連接部33x。即，與1條第1導電性細線33U相接之第2導電性細線33V之數量為4條。1條第1導電性細線33U於一端、另一端及中間之2處與第2導電性細線33V相接。
又，於1條第2導電性細線33V中產生4個電性連接部33x。即，與1條第2導電性細線33V相接之第1導電性細線33U之數量為4條。1條第2導電性細線33V於一端、另一端及中間之2處與第1導電性細線33U相接。
(實施形態2)
接著，針對實施形態2之檢測裝置進行說明。圖13係實施形態2之檢測電極之俯視圖。另，對與上述之實施形態1所說明者相同之構成要素附加相同符號，並省略重複說明。
如圖8所示，於相鄰之檢測電極TDL之間有間隔SP。為抑制由視認者視認出間隔SP，而如圖13所示，配置有虛設電極TDD。
於虛設電極TDD中，複數條第1導電性細線33U配置於特定寬度WU之第1帶狀區域UA，且形成有至少包含於方向Dv互相偏移之2條第1導電性細線33U之複數個第1組群GU。
同樣地，於虛設電極TDD中，複數條第2導電性細線33V配置於特定寬度WV之第2帶狀區域VA，且形成有至少包含於方向Du互相偏移之2條第2導電性細線33V之複數個第2組群GV。
於虛設電極TDD中，於第1導電性細線33U及第2導電性細線33V之各者設置具有縫隙SL。縫隙SL未形成有構成第1導電性細線33U及第2導電性細線33V之材料，或已藉由蝕刻等予以去除，而成為僅有絕緣性材料之部分。縫隙SL設於鄰接之電性連接部33x之間。電性連接部33x至縫隙SL之距離為固定，藉此可不易視認縫隙SL自身。
虛設電極TDD具備在與構成檢測電極TDL之第1導電性細線33U及第2導電性細線33V相同之方向延伸之構成要素，因此可使間隔SP不可視化，且可降低視認出檢測電極TDL之可能性。
(實施形態2之變形例1)
圖14係實施形態2之變形例1之檢測電極之俯視圖。如圖14所示，虛設電極TDD之隔著縫隙SL之第1導電性細線33U於方向Dv偏移。同樣地， 虛設電極TDD之隔著縫隙SL之第2導電性細線33V於方向Du偏移。
(實施形態2之變形例2)
圖15係實施形態2之變形例2之檢測電極之俯視圖。如圖15所示，實施形態2之變形例2中，複數個縫隙SL配置於與方向Dy平行之直線LY1上、直線LY2上或直線LY3上。直線LY1係位於1個檢測電極TDL之方向Dx之一端之假想直線，直線LY2係位於1個檢測電極TDL之方向Dx之另一端之假想直線。直線LY3配置於直線LY1與直線LY2之間。例如，直線LY1至直線LY2之寬度WTDL為固定。藉此，隔著虛設電極TDD而鄰接之2個檢測電極TDL之寄生電容大致相同。另，亦可於直線LY1與直線LY2之間具有複數條直線LY3。即，於直線LY1與直線LY2之間之區域，亦可具有複數個以配置於同一直線上之複數個縫隙SL構成之行。
(實施形態3)
接著，針對實施形態3之檢測裝置進行說明。圖16係實施形態3之檢測電極之俯視圖。如圖16所示，於實施形態3中，第1導電性細線33U包含第1主細線331U與第1輔助細線332U。第2導電性細線33V包含第2主細線331V與第2輔助細線332V。另，對與上述實施形態1所說明者相同之構成要素附加相同符號，並省略重複說明。
如圖16所示，複數條第1主細線331U配置於特定寬度WU之第1主帶狀區域UAa。形成有至少包含於方向Dv互相偏移之2條第1主細線331U之複數個第1主組群GU1。複數條第1輔助細線332U配置於特定寬度WU之第1輔助帶狀區域UAb。形成有至少包含於方向Dv互相偏移之2條第1輔助細線332U之複數個第1輔助組群GU2。第1主帶狀區域UAa及第1輔助帶狀區域UAb於方向Dv交互以等間距配置。鄰接之第1主帶狀區域UAa與第1輔 助帶狀區域UAb之間之長度為第1基準長度SW1。
如圖16所示，複數條第2主細線331V配置於特定寬度WV之第2主帶狀區域VAa。形成有至少包含於方向Du互相偏移之2條第2主細線331V之複數個第2主組群GV1。複數條第2輔助細線332V配置於特定寬度WV之第2輔助帶狀區域VAb。形成有至少包含於方向Du互相偏移之2條第2輔助細線332V之複數個第2輔助組群GV2。第2主帶狀區域VAa及第2輔助帶狀區域VAb於方向Du交互以等間距配置。鄰接之第2主帶狀區域VAa與第2輔助帶狀區域VAb之間之長度為第2基準長度SW2。
第1主細線331U之長度為第2基準長度SW2之2倍與特定寬度WV之差以上，且第2基準長度SW2之2倍與特定寬度WV之和以下。於1條第1主細線331U產生2個電性連接部33x。條第2輔助細線332V與第1主細線331U之一端相接，另一第2輔助細線332V與第1主細線331U之另一端相接。再者，於第1主細線331U之中間，2條第2主細線331V相接。即，對1條第1主細線331U相接2條第2主細線331V及2條第2輔助細線332V(4條第2導電性細線33V)。
第1輔助細線332U之長度為特定寬度WV以下。於1條第1輔助細線332U產生2個電性連接部33x。1條第2主細線331V與第1輔助細線332U之一端相接，另一第2主細線331V與第1輔助細線332U之另一端相接。即，對1條第1輔助細線332U相接2條第2主細線331V(2條第2導電性細線33V)。
第2主細線331V之長度為第1基準長度SW1與特定寬度WU之差以上，且第1基準長度SW1與特定寬度WU之和以下。於1條第2主細線331V產生2個電性連接部33x。1條第1主細線331U與第2主細線331V之一端相 接，1條第1輔助細線332U與第2主細線331V之另一端相接。即，對1條第2主細線331V相接1條第1主細線331U及1條第1輔助細線332U(2條第1導電性細線33U)。
第2輔助細線332V之長度為特定寬度WU以下。於1條第2輔助細線332V生成2個電性連接部33x。1條第1主細線331U與第2輔助細線332V之一端相接，另一第1主細線331U與第2輔助細線332V之另一端相接。即，對1條第2輔助細線332V相接2條第1主細線331U(2條第1導電性細線33U)。
如圖16所示，於一部分交叉區域AX(交叉區域AX1)產生2個電性連接部33x。另一方面，於另一交叉區域AX(交叉區域AX2)不產生電性連接部33x。
於實施形態3中，與實施形態1相比，由第1導電性細線33U及第2導電性細線33V而形成之多角形之面積不易偏離。因此，於顯示區域10a中開口率易變得均一。
(實施形態4)
接著，針對實施形態4之檢測裝置進行說明。圖17係實施形態4之檢測電極之俯視圖。如圖17所示，於實施形態4中，檢測電極TDL包含第1導電性細線33U、第2導電性細線33V及第3導電性細線33Y。另，對與上述實施形態1說明者相同之構成要素附加相同符號，並省略重複說明。
如圖17所示，複數條第1導電性細線33U配置於特定寬度WU之第1帶狀區域UA。形成有至少包含於方向Dv互相偏移之2條第1導電性細線33U之複數個第1組群GU。
複數條第2導電性細線33V配置於特定寬度WV之第2帶狀區域VA。 形成有至少包含於方向Du互相偏移之2條第2導電性細線33V之複數個第2組群GV。
複數條第3導電性細線33Y配置於特定寬度WY之第3帶狀區域YA。形成有至少包含於方向Dx互相偏移之2條第3導電性細線33Y之複數個第3組群GY。另，於實施形態4中，亦將特定寬度WY稱作第3寬度。
複數條基準線33SY係於方向Dx等間距配置，且於方向Dy延伸之假想線。以基準線33SY為中心之情形時，特定寬度WY為即使將第3導電性細線33Y與基準線33SY偏移亦可之寬度。若將於方向Dx相鄰之2條基準線33SY間之長度設為第3基準長度SW3時，則特定寬度WY為第3基準長度SW3之1/20以上1/5以下。例如特定寬度WY為10μm以上30μm以下。
檢測電極TDL之1個網眼之形狀為六角形。即，藉由2條第1導電性細線33U、2條第2導電性細線33V及2條第3導電性細線33Y而形成六角形。
第1帶狀區域UA、第2帶狀區域VA、及第3帶狀區域YA交叉之交叉區域AXX中，1條第1導電性細線33U、1條第2導電性細線33V及1條第3導電性細線33Y相接。即，第3導電性細線33Y與第1導電性細線33U和第2導電性細線33V之交點即電性連接部33xx相接。交叉區域AXX係六角形之區域。於一部分交叉區域AXX中，產生1個電性連接部33xx。另一方面，於其他交叉區域AXX中不產生電性連接部33xx。
如此，檢測電極TDL除第1導電性細線33U及第2導電性細線33V外，亦可具備在與第1導電性細線33U及第2導電性細線33V不同之方向延伸之第3導電性細線33Y。
(實施形態5)
圖18係實施形態5之檢測電極之俯視圖。另，對與上述實施形態1說 明者相同之構成要素附加相同符號，並省略重複說明。
如圖18所示，第1帶狀區域UA包含以第1基準線33SU分隔之第1右區域UAa與第1左區域UAb。於實施形態5中，複數條第1導電性細線33U分別配置於第1右區域UAa及第1左區域UAb之任一者。第1導電性細線33U相對於第1基準線33SU之偏離量即長度γ係隨機地選自不含0之特定範圍內之值的值。即，作為長度γ所選擇之值之出現頻率相同。例如，長度γ係選自5μm至15μm之範圍內之值。
於1個第1帶狀區域UA中，配置於第1右區域UAa之第1導電性細線33U與配置於第1左區域UAb之第1導電性細線33U沿著方向Du交互排列。即，於1個第1帶狀區域UA中，配置於第1右區域UAa之第1導電性細線33U之相鄰之第1導電性細線33U係配置於第1左區域UAb，且配置於第1左區域UAb之第1導電性細線33U之相鄰之第1導電性細線33U係配置於第1右區域UAa。例如，第1導電性細線33U相對於第1基準線33SU之偏移方向係由亂數決定。該亂數係由電腦生成。在設計1個第1帶狀區域UA中所含之第1導電性細線33U時，電腦以正值與負值沿著方向Du交互顯現之方式控制亂數。
如圖18所示，第2帶狀區域VA包含以第2基準線33SV分隔之第2右區域VAa與第2左區域VAb。於實施形態5中，複數個第2導電性細線33V分別配置於第2右區域VAa及第2左區域VAb之任一者。第2導電性細線33V相對於第2基準線33SV之偏離量即長度β係隨機地選自不含0之特定範圍內之值的值。即，作為長度β所選擇之值之出現頻率相同。例如，長度β係選自5μm至15μm之範圍內之值。
於1個第2帶狀區域VA中，配置於第2右區域VAa之第2導電性細線 33V與配置於第2左區域VAb之第2導電性細線33V沿著方向Dv交互排列。即，於1個第2帶狀區域VA中，配置於第2右區域VAa之第2導電性細線33V之相鄰之第2導電性細線33V係配置於第2左區域VAb，且配置於第2左區域VAb之第2導電性細線33V之相鄰之第2導電性細線33V係配置於第2右區域VAa。例如，第2導電性細線33V相對於第2基準線33SV之偏移方向係藉亂數決定。該亂數係由電腦生成。在設計1個第2帶狀區域VA中所含之第2導電性細線33V時，電腦以正值與負值沿著方向Dv交互顯現之方式控制亂數。
根據上述構成，如圖18所示，第1導電性細線33U及第2導電性細線33V不為十字交叉。因此，電性連接部33x之周邊區域之開口率與其他區域之開口率之間之差變小，因此視認性提高。
(實施形態6)
圖19係實施形態6之檢測電極之俯視圖。如圖19所示，實施形態6之檢測電極TDL具有包含複數條第1導電性細線33U及複數條第2導電性細線33V之複數個檢測區塊TDLB。例如，複數個檢測區塊TDLB陣列狀排列於與基板31平行之平面上。複數個檢測區塊TDLB各自藉由配線37而連接於可撓性印刷基板71(參照圖8)。實施形態6之檢測裝置30非為相互靜電電容方式，而進行自身靜電電容方式之觸控檢測動作。
接著，參照圖20，針對自身靜電電容方式之觸控檢測之基本原理進行說明。圖20係顯示自身靜電電容方式之觸控檢測之等價電路之一例之說明圖。
如圖20所示，於檢測電極E2連接有電壓檢測器DET。電壓檢測器DET係包含經虛短路之運算放大器之檢測電路。若對非反轉輸入部(+)施 加特定頻率(例如數kHz至數百kHz左右)之交流矩形波Sg，則對檢測電極E2施加同電位之交流矩形波Sg。
於手指等導體未接觸或接近之狀態(非接觸狀態)下，流動與檢測電極E2所具有之電容Cx1對應之電流。電壓檢測器DET將與交流矩形波Sg對應之電流之變動轉換成電壓之變動(波形)。於手指等導體接觸或接近之狀態(接觸狀態)下，對檢測電極E2所具有之電容Cx1加入由接近檢測電極E2之手指產生之電容Cx2，流動與較非接觸狀態之電容更為增加之電容(Cx1+Cx2)對應之電流。電壓檢測器DET將與交流矩形波Sg對應之電流之變動轉換成電壓之變動(波形)。接觸狀態之波形之振幅與非接觸狀態之波形之振幅相比變大。藉此，接觸狀態之波形與非接觸狀態之波形之電壓差值之絕對值會根據手指等自外部接觸或接近之導體之影響而變化。開關SW於進行觸控檢測時成接通(打開)狀態，於不進行觸控檢測時成斷開(閉合)狀態，而進行電壓檢測器DET之重設動作。
又，應理解對於由上述實施形態所述之態樣所帶來之其他作用效果，由本說明書記載而明瞭者，或本領域技術人員可適當想到者，當然可藉由本發明獲得。
本發明可廣泛應用於以下態樣之檢測裝置及顯示裝置。
(1)一種檢測裝置，其具備：基板；複數條第1導電性細線，其設置於與上述基板平行之面上，且於第1方向延伸；複數條第2導電性細線，其設置於與上述第1導電性細線同一層上，且在與上述第1方向成角度之第2方向延伸；第1組群，其配置於第1寬度之第1帶狀區域，且至少包含於上述第2 方向互相偏移之2條上述第1導電性細線；及第2組群，其配置於第2寬度之第2帶狀區域，且至少包含於上述第1方向互相偏移之2條上述第2導電性細線，且於上述第1帶狀區域與上述第2帶狀區域之交叉區域中，上述第1導電性細線與上述第2導電性細線相接。
(2)如(1)之檢測裝置，其中於上述第1帶狀區域與上述第2帶狀區域之交叉區域中，具有上述第1導電性細線與上述第2導電性細線相接之兩個連接部。
(3)如(1)或(2)之檢測裝置，其中具有上述第1導電性細線與上述第2導電性細線相接之複數個連接部，於兩個連接部間之上述第1導電性細線或上述第2導電性細線具有縫隙。
(4)如(1)至(3)中任一項之檢測裝置，其中上述第1導電性細線與上述第2導電性細線所包圍之1個網眼為平行四邊形。
(5)如(1)至(4)中任一項之檢測裝置，其中設將上述第1帶狀區域於寬度方向二等分之直線為第1基準線，設將上述第2帶狀區域於寬度方向二等分之直線為第2基準線時，上述第1導電性細線之長度為鄰接之上述第2基準線間之長度之2倍與上述第2帶狀區域之第2寬度之差以上，且為鄰接之上述第2基準線間之長度之2倍與上述第2帶狀區域之第2寬度之和以下，上述第2導電性細線之長度為鄰接之上述第1基準線間之長度之2倍與上述第1帶狀區域之第1寬度之差以上，且為鄰接之上述第1基準線間之長 度之2倍與上述第1帶狀區域之第1寬度之和以下。
(6)如(1)之檢測裝置，其中上述第1導電性細線包含配置於第1寬度之第1主帶狀區域之第1主細線、及配置於第1寬度之第1輔助帶狀區域之第1輔助細線，上述第2導電性細線包含配置於第2寬度之第2主帶狀區域之第2主細線、及配置於第2寬度之第2輔助帶狀區域之第2輔助細線，1條上述第1主細線與2條上述第2主細線、及2條上述第2輔助細線相接，1條上述第1輔助細線與2條上述第2主細線相接，1條上述第2主細線與1條上述第1主細線、及1條上述第1輔助細線相接，1條上述第2輔助細線與2條上述第1主細線相接。
(7)如(1)之檢測裝置，其中具備：複數條第3導電性細線，其設置於與上述第1導電性細線同一層上，且在與上述第1方向及上述第2方向成角度之第3方向延伸；及第3組群，其配置於第3寬度之第3帶狀區域，且至少包含於相對於上述第3方向正交之方向互相偏移之2條上述第3導電性細線，於上述第1帶狀區域、上述第2帶狀區域及上述第3帶狀區域之交叉區域中，上述第1導電性細線、上述第2導電性細線及上述第3導電性細線相接。
(8)如(1)之檢測裝置，其中上述第1帶狀區域包含以將第1帶狀區域於上述第2方向二等分之第1基準線分隔之第1右區域及第1左區域， 於1個上述第1帶狀區域中，將配置於上述第1右區域之上述第1導電性細線，與配置於上述第1左區域之上述第1導電性細線沿著上述第1方向交替排列，上述第2帶狀區域包含以將第2帶狀區域於上述第1方向二等分之第2基準線分隔之第2右區域及第2左區域，於1個上述第2區域中，配置於上述第2右區域之上述第2導電性細線，與配置於上述第2左區域之上述第2導電性細線沿著上述第2方向交替排列。
(9)一種顯示裝置，其具備：檢測裝置、及顯示區域，且上述檢測裝置具備：基板；複數條第1導電性細線，其設置於與上述基板平行之面上，且於第1方向延伸；複數條第2導電性細線，其設置於與上述第1導電性細線同一層上，且在與上述第1方向成角度之第2方向延伸；第1組群，其配置於第1寬度之第1帶狀區域，且至少包含於上述第2方向互相偏移之2條上述第1導電性細線；第2組群，其配置於第2寬度之第2帶狀區域，且至少包含於上述第1方向互相偏移之2條上述第2導電性細線，且於上述第1帶狀區域與上述第2帶狀區域之交叉區域中，上述第1導電性細線與上述第2導電性細線相接，在與上述顯示裝置重疊之區域，設置上述第1導電性細線與上述第2導電性細線。
(10)如(9)之顯示裝置，其中於上述第1帶狀區域與上述第2帶狀區域之交叉區域中，具有上述第1導電性細線與上述第2導電性細線相接之兩個連接部。
(11)如(9)或(11)之顯示裝置，其中具有上述第1導電性細線與上述第2導電性細線相接之複數個連接部，於2個連接部間之上述第1導電性細線或上述第2導電性細線具有縫隙。
(12)如(9)至(11)中任一項之顯示裝置，其中上述第1導電性細線與上述第2導電性細線所包圍之1個網眼為平行四邊形。
(13)如(9)至(12)中任一項之顯示裝置，其中設將上述第1帶狀區域於寬度方向二等分之直線為第1基準線，設將上述第2帶狀區域於寬度方向二等分之直線為第2基準線時，上述第1導電性細線之長度為鄰接之上述第2基準線間之長度之2倍與上述第2帶狀區域之第2寬度之差以上，且為鄰接之上述第2基準線間之長度之2倍與上述第2帶狀區域之第2寬度之和以下，上述第2導電性細線之長度為鄰接之上述第1基準線間之長度之2倍與上述第1帶狀區域之第1寬度之差以上，且為鄰接之上述第1基準線間之長度之2倍與上述第1帶狀區域之第1寬度之和以下。
(14)如(9)之顯示裝置，其中上述第1導電性細線包含配置於第1寬度之第1主帶狀區域之第1主細線、及配置於第1寬度之第1輔助帶狀區域之第1輔助細線，上述第2導電性細線包含配置於第2寬度之第2主帶狀區域之第2主細 線、及配置於第2寬度之第2輔助帶狀區域之第2輔助細線， 1條上述第1主細線與2條上述第2主細線、及2條上述第2輔助細線相接，1條上述第1輔助細線與2條上述第2主細線相接，1條上述第2主細線與1條上述第1主細線、及1條上述第1輔助細線相接，1條上述第2輔助細線與2條上述第1主細線相接。
(15)如(9)之顯示裝置，其中具備：複數條第3導電性細線，其設置於與上述第1導電性細線同一層上，在與上述第1方向及上述第2方向成角度之第3方向延伸；及第3組群，其配置於第3寬度之第3帶狀區域，且至少包含於相對於上述第3方向正交之方向互相偏移之2條上述第3導電性細線，且於上述第1帶狀區域、上述第2帶狀區域及上述第3帶狀區域之交叉區域中，上述第1導電性細線、上述第2導電性細線及上述第3導電性細線相接。
(16)如(9)之顯示裝置，其中上述第1帶狀區域包含以將上述第1帶狀區域於上述第2方向二等分之第1基準線分隔之第1右區域及第1左區域，於1個上述第1帶狀區域中，配置於上述第1右區域之上述第1導電性細線，與配置於上述第1左區域之上述第1導電性細線沿著上述第1方向交替排列，上述第2帶狀區域包含以將第2帶狀區域於上述第1方向二等分之第2基準線分隔之第2右區域及第2左區域， 於1個上述第2帶狀區域中，配置於上述第2右區域之上述第2導電性細線，與配置於上述第2左區域之上述第2導電性細線沿著上述第2方向交替排列。
10a‧‧‧顯示區域
10b‧‧‧邊框區域
10c‧‧‧端部區域
10d‧‧‧主檢測區域
33a‧‧‧導電性細線
33SU‧‧‧第1基準線
33SV‧‧‧第2基準線
33U‧‧‧第1導電性細線
33V‧‧‧第2導電性細線
33x‧‧‧電性連接部
34a‧‧‧連接配線
37‧‧‧配線
AX‧‧‧交叉區域
Du‧‧‧方向
Dv‧‧‧方向
Dx‧‧‧方向
Dy‧‧‧方向
GU‧‧‧第1組群
GV‧‧‧第2組群
SW1‧‧‧第1基準長度
SW2‧‧‧第2基準長度
UA‧‧‧第1帶狀區域
VA‧‧‧第2帶狀區域
WU‧‧‧特定寬度
WV‧‧‧特定寬度

Claims (14)

  1. 一種檢測裝置，其具備：基板；複數條第1導電性細線，其設置於與上述基板平行之面上，且於第1方向延伸；複數條第2導電性細線，其設置於與上述第1導電性細線同一層上，且在與上述第1方向成角度之第2方向延伸；第1組群，其配置於第1寬度之第1帶狀區域，且至少包含於上述第2方向互相偏移之2條上述第1導電性細線；及第2組群，其配置於第2寬度之第2帶狀區域，且至少包含於上述第1方向互相偏移之2條上述第2導電性細線，且於上述第1帶狀區域與上述第2帶狀區域之交叉區域中，上述第1導電性細線與上述第2導電性細線相接，其中設將上述第1帶狀區域於寬度方向二等分之直線為第1基準線，設將上述第2帶狀區域於寬度方向二等分之直線為第2基準線時，上述第1導電性細線之長度為鄰接之上述第2基準線間之長度之2倍與上述第2帶狀區域之第2寬度之差以上，且為鄰接之上述第2基準線間之長度之2倍與上述第2帶狀區域之第2寬度之和以下，上述第2導電性細線之長度為鄰接之上述第1基準線間之長度之2倍與上述第1帶狀區域之第1寬度之差以上，且為鄰接之上述第1基準線間之長度之2倍與上述第1帶狀區域之第1寬度之和以下。
  2. 如請求項1之檢測裝置，其中於上述第1帶狀區域與上述第2帶狀區域之交叉區域中，具有上述第1導電性細線與上述第2導電性細線相接之兩個連接部。
  3. 如請求項1之檢測裝置，其中具有上述第1導電性細線與上述第2導電性細線相接之複數個連接部，於兩個連接部間之上述第1導電性細線或上述第2導電性細線具有縫隙。
  4. 如請求項1之檢測裝置，其中上述第1導電性細線與上述第2導電性細線所包圍之1個網眼為平行四邊形。
  5. 如請求項1之檢測裝置，其中具備：複數條第3導電性細線，其設置於與上述第1導電性細線同一層上，且在與上述第1方向及上述第2方向成角度之第3方向延伸；及第3組群，其配置於第3寬度之第3帶狀區域，且至少包含於相對於上述第3方向正交之方向互相偏移之2條上述第3導電性細線，於上述第1帶狀區域、上述第2帶狀區域及上述第3帶狀區域之交叉區域中，上述第1導電性細線、上述第2導電性細線及上述第3導電性細線相接。
  6. 如請求項1之檢測裝置，其中上述第1帶狀區域包含以將第1帶狀區域於上述第2方向二等分之第1 基準線分隔之第1右區域及第1左區域，於1個上述第1帶狀區域中，將配置於上述第1右區域之上述第1導電性細線，與配置於上述第1左區域之上述第1導電性細線沿著上述第1方向交替排列，上述第2帶狀區域包含以將第2帶狀區域於上述第1方向二等分之第2基準線分隔之第2右區域及第2左區域，於1個上述第2帶狀區域中，配置於上述第2右區域之上述第2導電性細線，與配置於上述第2左區域之上述第2導電性細線沿著上述第2方向交替排列。
  7. 一種檢測裝置，其具備：基板；複數條第1導電性細線，其設置於與上述基板平行之面上，且於第1方向延伸；複數條第2導電性細線，其設置於與上述第1導電性細線同一層上，且在與上述第1方向成角度之第2方向延伸；第1組群，其配置於第1寬度之第1帶狀區域，且至少包含於上述第2方向互相偏移之2條上述第1導電性細線；及第2組群，其配置於第2寬度之第2帶狀區域，且至少包含於上述第1方向互相偏移之2條上述第2導電性細線，且於上述第1帶狀區域與上述第2帶狀區域之交叉區域中，上述第1導電性細線與上述第2導電性細線相接，其中 上述第1導電性細線包含配置於第1寬度之第1主帶狀區域之第1主細線、及配置於第1寬度之第1輔助帶狀區域之第1輔助細線，上述第2導電性細線包含配置於第2寬度之第2主帶狀區域之第2主細線、及配置於第2寬度之第2輔助帶狀區域之第2輔助細線，1條上述第1主細線與2條上述第2主細線、及2條上述第2輔助細線相接，1條上述第1輔助細線與2條上述第2主細線相接，1條上述第2主細線與1條上述第1主細線、及1條上述第1輔助細線相接，1條上述第2輔助細線與2條上述第1主細線相接。
  8. 一種顯示裝置，其具備：檢測裝置、及顯示區域，且上述檢測裝置具備：基板；複數條第1導電性細線，其設置於與上述基板平行之面上，且於第1方向延伸；複數條第2導電性細線，其設置於與上述第1導電性細線同一層上，且在與上述第1方向成角度之第2方向延伸；第1組群，其配置於第1寬度之第1帶狀區域，且至少包含於上述第2方向互相偏移之2條上述第1導電性細線；第2組群，其配置於第2寬度之第2帶狀區域，且至少包含於上述第1 方向互相偏移之2條上述第2導電性細線，且於上述第1帶狀區域與上述第2帶狀區域之交叉區域中，上述第1導電性細線與上述第2導電性細線相接，在與上述顯示區域重疊之區域，設置上述第1導電性細線與上述第2導電性細線，其中設將上述第1帶狀區域於寬度方向二等分之直線為第1基準線，設將上述第2帶狀區域於寬度方向二等分之直線為第2基準線時，上述第1導電性細線之長度為鄰接之上述第2基準線間之長度之2倍與上述第2帶狀區域之第2寬度之差以上，且為鄰接之上述第2基準線間之長度之2倍與上述第2帶狀區域之第2寬度之和以下，上述第2導電性細線之長度為鄰接之上述第1基準線間之長度之2倍與上述第1帶狀區域之第1寬度之差以上，且為鄰接之上述第1基準線間之長度之2倍與上述第1帶狀區域之第1寬度之和以下。
  9. 如請求項8之顯示裝置，其中於上述第1帶狀區域與上述第2帶狀區域之交叉區域中，具有上述第1導電性細線與上述第2導電性細線相接之兩個連接部。
  10. 如請求項8之顯示裝置，其中具有上述第1導電性細線與上述第2導電性細線相接之複數個連接部，於2個連接部間之上述第1導電性細線或上述第2導電性細線具有縫隙。
  11. 如請求項8之顯示裝置，其中上述第1導電性細線與上述第2導電性細 線所包圍之1個網眼為平行四邊形。
  12. 如請求項8之顯示裝置，其中具備：複數條第3導電性細線，其設置於與上述第1導電性細線同一層上，在與上述第1方向及上述第2方向成角度之第3方向延伸；及第3組群，其配置於第3寬度之第3帶狀區域，且至少包含於相對於上述第3方向正交之方向互相偏移之2條上述第3導電性細線，且於上述第1帶狀區域、上述第2帶狀區域及上述第3帶狀區域之交叉區域中，上述第1導電性細線、上述第2導電性細線及上述第3導電性細線相接。
  13. 如請求項8之顯示裝置，其中上述第1帶狀區域包含以將第1帶狀區域於上述第2方向二等分之第1基準線分隔之第1右區域及第1左區域，於1個上述第1帶狀區域中，配置於上述第1右區域之上述第1導電性細線，與配置於上述第1左區域之上述第1導電性細線沿著上述第1方向交替排列，上述第2帶狀區域包含以將第2帶狀區域於上述第1方向二等分之第2基準線分隔之第2右區域及第2左區域，於1個上述第2帶狀區域中，配置於上述第2右區域之上述第2導電性細線，與配置於上述第2左區域之上述第2導電性細線沿著上述第2方向交替排列。
  14. 一種顯示裝置，其具備：檢測裝置、及顯示區域，且上述檢測裝置具備：基板；複數條第1導電性細線，其設置於與上述基板平行之面上，且於第1方向延伸；複數條第2導電性細線，其設置於與上述第1導電性細線同一層上，且在與上述第1方向成角度之第2方向延伸；第1組群，其配置於第1寬度之第1帶狀區域，且至少包含於上述第2方向互相偏移之2條上述第1導電性細線；第2組群，其配置於第2寬度之第2帶狀區域，且至少包含於上述第1方向互相偏移之2條上述第2導電性細線，且於上述第1帶狀區域與上述第2帶狀區域之交叉區域中，上述第1導電性細線與上述第2導電性細線相接，在與上述顯示區域重疊之區域，設置上述第1導電性細線與上述第2導電性細線，上述第1導電性細線包含配置於第1寬度之第1主帶狀區域之第1主細線、及配置於第1寬度之第1輔助帶狀區域之第1輔助細線，上述第2導電性細線包含配置於第2寬度之第2主帶狀區域之第2主細線、及配置於第2寬度之第2輔助帶狀區域之第2輔助細線，1條上述第1主細線與2條上述第2主細線、及2條上述第2輔助細線相接， 1條上述第1輔助細線與2條上述第2主細線相接，1條上述第2主細線與1條上述第1主細線、及1條上述第1輔助細線相接，1條上述第2輔助細線與2條上述第1主細線相接。
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