KR20170114938A - 검출 장치 및 표시 장치 - Google Patents

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Abstract

금속 재료 등의 도전성 재료의 검출 전극을 사용하면서, 복수의 산재하는 광의 점이 시인될 가능성을 저감할 수 있는, 외부 근접 물체를 검출 가능한 검출 장치 및 표시 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다. 검출 장치는, 기판과, 기판과 평행인 면 상에 형성되며, 제1 방향으로 연장되는 복수의 제1 도전성 세선과, 제1 도전성 세선과 동일층 상에 형성되며, 제1 방향과 각도를 이루는 제2 방향으로 연장되는 복수의 제2 도전성 세선과, 제1 폭의 제1 띠 형상 영역에 배치되고, 또한, 적어도 제2 방향으로 서로 어긋난 2개의 제1 도전성 세선을 포함하는 제1 그룹과, 제2 폭의 제2 띠 형상 영역에 배치되고, 또한, 적어도 제1 방향으로 서로 어긋난 2개의 제2 도전성 세선을 포함하는 제2 그룹을 구비한다. 제1 띠 형상 영역과 제2 띠 형상 영역의 교차 영역에서는, 제1 도전성 세선과 제2 도전성 세선이 접한다.

Description

검출 장치 및 표시 장치{DETECTION DEVICE AND DISPLAY DEVICE}
본 개시는 외부 근접 물체를 검출 가능한 검출 장치에 관한 것이며, 특히 정전 용량의 변화에 기초하여 외부 근접 물체를 검출 가능한 검출 장치 및 표시 장치에 관한 것이다.
최근, 소위 터치 패널이라 불리는, 외부 근접 물체를 검출 가능한 검출 장치가 주목받고 있다. 터치 패널은, 액정 표시 장치 등의 표시 장치 상에 장착 또는 일체화되는, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치에 사용되고 있다. 그리고, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치는, 표시 장치에 각종 버튼 화상 등을 표시시킴으로써, 터치 패널을 통상의 기계식 버튼의 대체로서 정보 입력을 가능하게 하고 있다. 이와 같은 터치 패널을 갖는 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치는, 키보드나 마우스, 키패드와 같은 입력 장치를 필요로 하지 않기 때문에, 컴퓨터 외에, 휴대 전화와 같은 휴대 정보 단말기 등에서도, 사용이 확대되는 경향이 있다.
터치 검출 장치의 방식으로서, 광학식, 저항식, 정전 용량식 등 몇 가지의 방식이 존재한다. 정전 용량식의 터치 검출 장치는, 휴대 단말기 등에 사용하며, 비교적 단순한 구조를 갖고, 또한 저소비 전력을 실현할 수 있다. 예를 들어, 일본 공개공보 특개2010-197576호 공보에는, 투광성 전극 패턴의 불가시화 대책이 이루어진 터치 패널이 기재되어 있다.
또한, 외부 근접 물체를 검출 가능한 검출 장치에서는, 박형화, 대화면화 또는 고정밀화를 위해, 검출 전극의 저저항화가 요구되고 있다. 검출 전극은, 투광성 전극의 재료로서 ITO(Indium Tin Oxide) 등의 투광성 도전 산화물이 사용되고 있다. 검출 전극을 저저항으로 하기 위해서는, 금속 재료 등의 도전성 재료를 사용하는 것이 유효하다. 그러나, 금속 재료 등의 도전성 재료를 사용하면, 표시 장치의 화소와 금속 재료 등의 도전성 재료의 간섭에 의해 므와레가 시인될 가능성이 있다.
따라서, 일본 공개공보 특개2014-041589호 공보에는, 검출 전극이 금속 재료 등의 도전성 재료의 검출 전극을 사용해도, 므와레가 시인될 가능성을 저감할 수 있는 검출 장치가 기재되어 있다. 일본 공개공보 특개2014-041589호 공보에 기재된 검출 장치에서는, 므와레가 시인될 가능성을 저감할 수 있지만, 가시광이 입사하면 복수의 검출 전극에서 회절 또는 산란하는 광강도 패턴이 복수의 산재하는 광의 점에 가까워져, 광의 점이 시인될 가능성이 있다.
본 발명은, 이러한 문제점을 감안하여 이루어진 것이며, 그 목적은, 금속 재료 등의 도전성 재료의 검출 전극을 사용하면서, 복수의 산재하는 광의 점이 시인될 가능성을 저감할 수 있는, 외부 근접 물체를 검출 가능한 검출 장치 및 표시 장치를 제공하는 것에 있다.
제1 형태에 따르면, 검출 장치는, 기판과, 상기 기판과 평행인 면 상에 형성되며, 제1 방향으로 연장되는 복수의 제1 도전성 세선과, 상기 제1 도전성 세선과 동일층 상에 형성되며, 상기 제1 방향과 각도를 이루는 제2 방향으로 연장되는 복수의 제2 도전성 세선과, 제1 폭의 제1 띠 형상 영역에 배치되고, 또한, 적어도 상기 제2 방향으로 서로 어긋난 2개의 상기 제1 도전성 세선을 포함하는 제1 그룹과, 제2 폭의 제2 띠 형상 영역에 배치되고, 또한, 적어도 상기 제1 방향으로 서로 어긋난 2개의 상기 제2 도전성 세선을 포함하는 제2 그룹을 구비하고, 상기 제1 띠 형상 영역과 상기 제2 띠 형상 영역의 교차 영역에서는, 상기 제1 도전성 세선과 상기 제2 도전성 세선이 접한다.
제2 형태에 따르면, 표시 장치는, 검출 장치와, 표시 영역을 구비하고, 상기 표시 영역과 중첩되는 영역에, 상기 제1 도전성 세선과 상기 제2 도전성 세선이 형성되어 있다.
도 1은 실시 형태 1에 따른 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치의 일 구성예를 도시하는 블록도.
도 2는 정전 용량형 터치 검출 방식의 기본 원리를 설명하기 위해, 손가락이 접촉 또는 근접하고 있지 않은 상태를 도시하는 설명도.
도 3은 도 2에 도시한 손가락이 접촉 또는 근접하고 있지 않은 상태의 등가 회로의 예를 도시하는 설명도.
도 4는 정전 용량형 터치 검출 방식의 기본 원리를 설명하기 위해, 손가락이 접촉 또는 근접한 상태를 도시하는 설명도.
도 5는 도 4에 도시한 손가락이 접촉 또는 근접한 상태의 등가 회로의 예를 도시하는 설명도.
도 6은 구동 신호 및 검출 신호의 파형의 일례를 도시하는 도면.
도 7은 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치를 실장한 모듈의 일례를 도시하는 도면.
도 8은 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치를 실장한 모듈의 일례를 도시하는 도면.
도 9는 실시 형태 1에 따른 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치의 개략 단면 구조를 도시하는 단면도.
도 10은 실시 형태 1에 따른 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치의 화소 배치를 도시하는 회로도.
도 11은 실시 형태 1에 따른 검출 전극의 평면도.
도 12는 실시 형태 1에 따른 검출 전극의 배치 방법을 설명하기 위한 공정도.
도 13은 실시 형태 2에 따른 검출 전극의 평면도.
도 14는 실시 형태 2의 변형예 1에 따른 검출 전극의 평면도.
도 15는 실시 형태 2의 변형예 2에 따른 검출 전극의 평면도.
도 16은 실시 형태 3에 따른 검출 전극의 평면도.
도 17은 실시 형태 4에 따른 검출 전극의 평면도.
도 18은 실시 형태 5에 따른 검출 전극의 평면도.
도 19는 실시 형태 6에 따른 검출 전극의 평면도.
도 20은 자기 정전 용량 방식의 터치 검출의 등가 회로의 일례를 도시하는 설명도.
이하, 발명을 실시하기 위한 형태(실시 형태)에 대하여, 도면을 참조하면서 상세하게 설명한다. 이하의 실시 형태에 기재한 내용에 의해 본 발명이 한정되는 것은 아니다. 또한, 이하에 기재한 구성 요소에는, 당업자가 용이하게 상정할 수 있는 것, 실질적으로 동일한 것이 포함된다. 또한, 이하에 기재한 구성 요소는 적절히 조합하는 것이 가능하다. 또한, 개시는 어디까지나 일례에 지나지 않고, 당업자에게 있어서, 발명의 주지를 유지한 적의 변경에 대하여 용이하게 상도할 수 있는 것에 대해서는, 당연히 본 발명의 범위에 함유되는 것이다. 또한, 도면은 설명을 보다 명확하게 하기 위해, 실제의 형태에 비해, 각 부의 폭, 두께, 형상 등에 대하여 모식적으로 도시되는 경우가 있지만, 어디까지나 일례이며, 본 발명의 해석을 한정하는 것은 아니다. 또한, 본 명세서와 각 도면에 있어서, 기출의 도면에 관하여 전술한 것과 마찬가지의 요소에는, 동일한 부호를 붙이고, 상세한 설명을 적절히 생략하는 경우가 있다.
(실시 형태 1)
도 1은 실시 형태 1에 따른 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치의 일 구성예를 도시하는 블록도이다. 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)와, 제어부(11)와, 게이트 드라이버(12)와, 소스 드라이버(13)와, 구동 전극 드라이버(14)와, 터치 검출부(간단히, 검출부라고도 함)(40)를 구비하고 있다. 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)는 소위 액정 표시 장치로 불리는 표시 장치(20)와 정전 용량형의 검출 장치(30)를 일체화한 장치이다. 또한, 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)는 표시 장치(20) 상에 정전 용량형의 검출 장치(30)를 장착한 장치이어도 된다. 또한, 표시 장치(20)는, 예를 들어 유기 EL 표시 장치이어도 된다. 또한, 게이트 드라이버(12), 소스 드라이버(13), 또는, 구동 전극 드라이버(14)는 표시부(10)에 설치되어 있어도 된다.
표시 장치(20)는, 후술하는 바와 같이, 게이트 드라이버(12)로부터 공급되는 주사 신호 Vscan에 따라서, 1수평 라인씩 순차적으로 주사하여 표시를 행하는 장치이다. 제어부(11)는 외부로부터 공급된 영상 신호 Vdisp에 기초하여, 게이트 드라이버(12), 소스 드라이버(13), 구동 전극 드라이버(14) 및 터치 검출부(40)에 대하여 각각 제어 신호를 공급하고, 이들이 서로 동기하여 동작하도록 제어하는 회로(제어 장치)이다.
게이트 드라이버(12)는 제어부(11)로부터 공급되는 제어 신호에 기초하여, 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)의 표시 구동의 대상으로 되는 1수평 라인을 순차적으로 선택하는 기능을 갖고 있다.
소스 드라이버(13)는 제어부(11)로부터 공급되는 제어 신호에 기초하여, 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)의, 후술하는 각 부화소 SPix에 화소 신호 Vpix를 공급하는 회로이다.
구동 전극 드라이버(14)는 제어부(11)로부터 공급되는 제어 신호에 기초하여, 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)의, 후술하는 구동 전극 COML에 구동 신호 Vcom을 공급하는 회로이다.
터치 검출부(40)는 제어부(11)로부터 공급되는 제어 신호와, 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)의 검출 장치(30)로부터 공급된 검출 신호 Vdet에 기초하여, 검출 장치(30)에 대한 터치(후술하는 접촉 또는 근접의 상태)의 유무를 검출하고, 터치가 있는 경우에 있어서 터치 검출 영역에 있어서의 그 좌표 등을 구하는 회로이다. 이 터치 검출부(40)는 검출 신호 증폭부(42)와, A/D 변환부(43)와, 신호 처리부(44)와, 좌표 추출부(45)와, 검출 타이밍 제어부(46)를 구비하고 있다.
검출 신호 증폭부(42)는 검출 장치(30)로부터 공급되는 검출 신호 Vdet를 증폭한다. 검출 신호 증폭부(42)는 검출 신호 Vdet에 포함되는 높은 주파수 성분(노이즈 성분)을 제거하고, 터치 성분을 취출하여 각각 출력하는 저역 통과 아날로그 필터를 구비하고 있어도 된다.
(정전 용량형 터치 검출의 기본 원리)
검출 장치(30)는 정전 용량형 근접 검출의 기본 원리에 기초하여 동작하고, 검출 신호 Vdet를 출력한다. 도 1∼도 6을 참조하여, 실시 형태 1의 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)에 있어서의 터치 검출의 기본 원리에 대하여 설명한다. 도 2는 정전 용량형 터치 검출 방식의 기본 원리를 설명하기 위해, 외부 물체, 예를 들어 손가락이 접촉 또는 근접하고 있지 않은 상태를 도시하는 설명도이다. 도 3은 도 2에 도시한 손가락이 접촉 또는 근접하고 있지 않은 상태의 등가 회로의 예를 도시하는 설명도이다. 도 4는 정전 용량형 터치 검출 방식의 기본 원리를 설명하기 위해, 손가락이 접촉 또는 근접한 상태를 도시하는 설명도이다. 도 5는 도 4에 도시한 손가락이 접촉 또는 근접한 상태의 등가 회로의 예를 도시하는 설명도이다. 도 6은 구동 신호 및 검출 신호의 파형의 일례를 도시하는 도면이다. 또한, 외부 물체란, 후술하는 정전 용량을 발생시키는 물체이면 되고, 예를 들어 상술한 손가락이나, 스타일러스를 들 수 있다. 본 실시 형태에서는, 외부 물체로서, 손가락을 예로 들어 설명한다.
예를 들어, 도 3 및 도 5에 도시한 바와 같이, 용량 소자 C1 및 용량 소자 C1'는, 유전체 D를 사이에 두고 서로 대향 배치된 한 쌍의 전극으로서 구동 전극 E1 및 검출 전극 E2를 구비하고 있다. 도 3에 도시한 바와 같이, 용량 소자 C1은, 그 일단이 교류 신호원(구동 신호원) S에 접속되고, 타단은 전압 검출기(터치 검출부) DET에 접속된다. 전압 검출기 DET는, 예를 들어 도 1에 도시한 검출 신호 증폭부(42)에 포함되는 적분 회로이다.
교류 신호원 S로부터 구동 전극 E1(용량 소자 C1의 일단)에 소정의 주파수(예를 들어 수㎑ 내지 수백㎑ 정도)의 교류 구형파 Sg를 인가하면, 검출 전극 E2(용량 소자 C1의 타단)측에 접속된 전압 검출기 DET를 통해, 출력 파형(검출 신호 Vdet1)이 나타난다.
손가락이 접촉(또는 근접)하고 있지 않은 상태(비접촉 상태)에서는, 도 2 및 도 3에 도시한 바와 같이, 용량 소자 C1에 대한 충방전에 수반하여, 용량 소자 C1의 용량값에 따른 전류 I0이 흐른다. 도 6에 도시한 바와 같이 전압 검출기 DET는, 교류 구형파 Sg에 따른 전류 I0의 변동을 전압의 변동(실선의 파형 V0)으로 변환한다.
한편, 손가락이 접촉(또는 근접)한 상태(접촉 상태)에서는, 도 4에 도시한 바와 같이, 손가락에 의해 형성되는 정전 용량 C2가 검출 전극 E2와 접하고 있거나 또는 근방에 있음으로써, 구동 전극 E1 및 검출 전극 E2 사이에 있는 프린지분의 정전 용량이 차단된다. 이 때문에, 용량 소자 C1'의 용량값은, 용량 소자 C1의 용량값보다도 작아진다. 그리고, 도 5에 도시한 등가 회로에서 보면, 용량 소자 C1'에 전류 I1이 흐른다. 도 6에 도시한 바와 같이, 전압 검출기 DET는, 교류 구형파 Sg에 따른 전류 I1의 변동을 전압의 변동(점선의 파형 V1)으로 변환한다. 이 경우, 파형 V1은, 상술한 파형 V0과 비교하여 진폭이 작아진다. 이에 의해, 파형 V0과 파형 V1의 전압 차분의 절댓값 |ΔV|는, 손가락 등의 외부로부터 근접하는 물체의 영향에 따라서 변화되게 된다. 또한, 전압 검출기 DET는, 파형 V0과 파형 V1의 전압 차분의 절댓값 |ΔV|를 고정밀도로 검출하는 것이 바람직하다. 이 때문에, 회로 내의 스위칭에 의해, 교류 구형파 Sg의 주파수에 맞추어, 콘덴서의 충방전을 리셋하는 기간 Reset가 설정되는 것이 보다 바람직하다.
도 1에 도시한 검출 장치(30)는 구동 전극 드라이버(14)로부터 공급되는 구동 신호 Vcom에 따라서, 1검출 블록씩 순차적으로 주사하여 터치 검출을 행한다.
검출 장치(30)는 복수의 후술하는 검출 전극 TDL로부터, 도 3 또는 도 5에 도시한 전압 검출기 DET를 통해, 검출 블록마다 검출 신호 Vdet1을 출력하고, 터치 검출부(40)의 A/D 변환부(43)에 공급한다.
A/D 변환부(43)는 구동 신호 Vcom에 동기한 타이밍에서, 검출 신호 증폭부(42)로부터 출력되는 아날로그 신호를 각각 샘플링하여 디지털 신호로 변환하는 회로이다.
신호 처리부(44)는 A/D 변환부(43)의 출력 신호에 포함되는, 구동 신호 Vcom을 샘플링한 주파수 이외의 주파수 성분(노이즈 성분)을 저감하는 디지털 필터를 구비하고 있다. 신호 처리부(44)는 A/D 변환부(43)의 출력 신호에 기초하여, 검출 장치(30)에 대한 터치의 유무를 검출하는 논리 회로이다. 신호 처리부(44)는 손가락에 의한 차분의 전압만 취출하는 처리를 행한다. 이 손가락에 의한 차분의 전압은, 상술한 파형 V0과 파형 V1의 차분의 절댓값 |ΔV|이다. 신호 처리부(44)는 1 검출 블록당의 절댓값 |ΔV|를 평균화하는 연산을 행하여, 절댓값 |ΔV|의 평균값을 구해도 된다. 이에 의해, 신호 처리부(44)는 노이즈에 의한 영향을 저감할 수 있다. 신호 처리부(44)는 검출한 손가락에 의한 차분의 전압을 소정의 역치 전압과 비교하여, 이 역치 전압 이상이면, 외부로부터 근접하는 손가락의 접촉 상태로 판단하고, 역치 전압 미만이면 손가락의 비접촉 상태로 판단한다. 이와 같이 하여, 터치 검출부(40)는 터치 검출이 가능해진다.
좌표 추출부(45)는 신호 처리부(44)에 있어서 터치가 검출되었을 때에, 그 터치 패널 좌표를 구하는 논리 회로이다. 검출 타이밍 제어부(46)는 A/D 변환부(43)와, 신호 처리부(44)와, 좌표 추출부(45)가 동기하여 동작하도록 제어한다. 좌표 추출부(45)는 터치 패널 좌표를 신호 출력 Vout로서 출력한다.
도 7 및 도 8은 실시 형태 1에 따른 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치를 실장한 모듈의 일례를 도시하는 평면도이다. 도 7은 구동 전극의 일례를 도시하는 평면도이고, 도 8은 검출 전극의 일례를 도시하는 평면도이다.
도 7에 도시한 바와 같이, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는 TFT(Thin Film Transistor) 기판(21)과, 플렉시블 프린트 기판(72)을 구비하고 있다. TFT 기판(21)은 COG(Chip On Glass)(19)를 탑재하고, 표시 장치(20)(도 1 참조)의 표시 영역(10a)과, 표시 영역(10a)을 둘러싸는 프레임 영역(10b)에 대응하는 영역이 형성되어 있다. COG(19)는, TFT 기판(21)에 실장된 IC 드라이버의 칩이며, 도 1에 도시한 제어부(11), 게이트 드라이버(12), 소스 드라이버(13) 등, 표시 동작에 필요한 각 회로를 내장한 것이다. 또한, 본 실시 형태에 있어서, 게이트 드라이버(12), 소스 드라이버(13), 또는, 구동 전극 드라이버(14)는 유리 기판인 TFT 기판(21)에 형성해도 된다. COG(19) 및 구동 전극 드라이버(14)는 프레임 영역(10b)에 설치된다. 또한, COG(19)는, 구동 전극 드라이버(14)를 내장하고 있어도 된다. 이 경우, 프레임 영역(10b)을 좁게 하는 것이 가능하다. 플렉시블 프린트 기판(72)은 COG(19)와 접속되어 있고, 플렉시블 프린트 기판(72)을 통해, 외부로부터 영상 신호 Vdisp나, 전원 전압이 COG(19)에 공급된다.
도 7에 도시한 바와 같이, 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)는 표시 영역(10a)에 중첩되는 영역에 복수의 구동 전극 COML이 형성되어 있다. 복수의 구동 전극 COML은, 각각, 표시 영역(10a)의 일변을 따른 방향으로 연장되어 있고, 표시 영역(10a)의 일변과 교차하는 타변을 따른 방향에 있어서, 간격을 두고 배열되어 있다. 복수의 구동 전극 COML은 구동 전극 드라이버(14)에 각각 접속되어 있다.
도 8에 도시한 바와 같이, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 기판(31)과, 플렉시블 프린트 기판(71)을 더 구비한다. 플렉시블 프린트 기판(71)에는, 상술한 터치 검출부(40)가 탑재되어 있다. 또한, 터치 검출부(40)는 플렉시블 프린트 기판(71)에 탑재되어 있지 않아도 되고, 플렉시블 프린트 기판(71)이 접속하는 다른 기판에 탑재되어 있어도 된다. 기판(31)은, 예를 들어 투광성의 유리 기판이며, 도 7에 도시한 TFT 기판(21)의 표면의 수직 방향에 있어서 TFT 기판(21)과 대향한다. 도 8에 도시한 바와 같이, 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)는 표시 영역(10a)과 중첩되는 영역에 복수의 검출 전극 TDL이 형성되어 있다. 복수의 검출 전극 TDL은, 각각, 도 7에 도시한 구동 전극 COML의 연장 방향과 교차하는 방향으로 연장되어 있다. 도 8에 도시한 바와 같이, 인접하는 검출 전극 TDL의 사이에는 간격 SP가 있다. 또한, 복수의 검출 전극 TDL은, 구동 전극 COML의 연장 방향에 있어서 간격을 두고 배열되어 있다. 즉, 복수의 구동 전극 COML과, 복수의 검출 전극 TDL은 입체 교차하도록 배치되어 있고, 서로 중첩되는 부분에서 정전 용량이 형성된다.
터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 후술하는 바와 같이, 표시 동작 시에, 1수평 라인씩 순차적으로 주사를 행한다. 즉, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는 표시 주사를, 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)의 1변을 따르는 방향과 평행으로 행한다(도 8 참조). 한편 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는 터치 검출 동작 시에, 구동 전극 드라이버(14)로부터 구동 전극 COML에 구동 신호 Vcom을 순차적으로 인가함으로써, 1검출 라인씩 순차적으로 주사를 행한다. 즉, 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)는, 방향 SCAN으로 주사를, 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)의 일변과 교차하는 타변을 따른 방향과 평행으로 행한다(도 7 참조).
도 8에 도시한 바와 같이, 본 실시 형태의 검출 전극 TDL은, 복수의 제1 도전성 세선(33U) 및 복수의 제2 도전성 세선(33V)을 갖고 있다. 제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)은, 각각, 표시 영역(10a)의 일변과 평행인 방향에 대하여 서로 역방향으로 경사져 있다.
복수의 제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)은 각각 세폭이며, 표시 영역(10a)에 있어서, 제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)의 연장 방향과 교차하는 방향(표시 영역(10a)의 짧은 변 방향)으로 서로 간격을 두고 배치되어 있다. 복수의 제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)의 연장 방향의 양단은, 프레임 영역(10b)에 배치된 접속 배선(34a, 34b)에 접속되어 있다. 이에 의해, 복수의 제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)은 서로 전기적으로 접속되어, 1개의 검출 전극 TDL로서 기능한다. 복수의 접속 배선(34a)에는 각각 배선(37)이 접속되어 있고, 검출 전극 TDL과 플렉시블 프린트 기판(71)이 배선(37)에 의해 접속된다. 또한, 검출 전극 TDL의 일부는 표시 영역(10a) 외(프레임 영역(10b))에 배치되어도 된다. 또한, 접속 배선(34a) 및 접속 배선(34b)도 프레임 영역(10b)이 아니라, 표시 영역(10a) 내에 배치되어도 된다. 복수의 접속 배선(34a) 및 접속 배선(34b)은 배선(37)을 통해, 터치 검출부(40)와 접속되어 있고, 복수의 제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)과 터치 검출부(40)를 접속하기 위한 배선으로 되어도 된다.
도 9는 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치의 개략 단면 구조를 도시하는 단면도이다. 도 9에 도시한 바와 같이, 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)는 화소 기판(2)과, 이 화소 기판(2)의 표면에 수직인 방향으로 대향하여 배치된 대향 기판(3)과, 화소 기판(2)과 대향 기판(3) 사이에 형성된 액정층(6)을 구비하고 있다.
화소 기판(2)은 회로 기판으로서의 TFT 기판(21)과, 이 TFT 기판(21)의 상방에 매트릭스 형상으로 배열된 복수의 화소 전극(22)과, TFT 기판(21)과 화소 전극(22) 사이에 형성된 복수의 구동 전극 COML과, 화소 전극(22)과 구동 전극 COML을 절연하는 절연층(24)을 포함한다. TFT 기판(21)의 하측에는, 접착층(66)을 개재하여 편광판(65)이 설치되어 있다.
대향 기판(3)은 기판(31)과, 이 기판(31)의 한쪽의 면에 형성된 컬러 필터(32)를 포함한다. 기판(31)의 다른 쪽의 면에는, 검출 장치(30)의 검출 전극 TDL이 형성된다. 도 9에 도시한 바와 같이, 기판(31)의 상방에 검출 전극 TDL이 형성된다. 또한, 이 검출 전극 TDL 상에는, 검출 전극 TDL의 제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)을 보호하기 위한 보호층(38)이 형성되어 있다. 보호층(38)은 아크릴계 수지 등의 투광성 수지를 사용할 수 있다. 보호층(38) 상에 접착층(39)을 개재하여 편광판(35)이 설치되어 있다.
TFT 기판(21)과 기판(31)은, 스페이서(61)에 의해 소정의 간격을 두고 대향하여 배치된다. TFT 기판(21), 기판(31) 및 스페이서(61)에 의해 둘러싸인 공간에 액정층(6)이 형성된다. 액정층(6)은 전계의 상태에 따라서 그곳을 통과하는 광을 변조하는 것이며, 예를 들어 FFS(프린지 필드 스위칭)를 포함하는 IPS(인플레인 스위칭) 등의 횡전계 모드의 액정을 사용한 표시 패널이 사용된다. 또한, 도 9에 도시한 액정층(6)과 화소 기판(2) 사이, 및 액정층(6)과 대향 기판(3) 사이에는 각각 배향막이 배설되어도 된다.
도 10은 실시 형태 1에 따른 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치의 화소 배치를 도시하는 회로도이다. 도 9에 도시한 TFT 기판(21)에는, 도 10에 도시한 각 부화소 SPix의 박막 트랜지스터 소자(이하, TFT 소자) Tr, 각 화소 전극(22)에 화소 신호 Vpix를 공급하는 화소 신호선 SGL, 각 TFT 소자 Tr을 구동하는 주사 신호선 GCL 등의 배선이 형성되어 있다. 화소 신호선 SGL 및 주사 신호선 GCL은, TFT 기판(21)의 표면과 평행인 평면으로 연장된다. 도 10에 도시한 부화소 SPix의 배열 방향과 직교하는 방향(주사 신호선 GCL의 연장 방향)을 방향 Dx로 하고, 부화소 SPix의 배열 방향(화소 신호선 SGL의 연장 방향)을 방향 Dy로 하여 나타내고 있다. 본 실시 형태에서는, 방향 Dy는, 인간의 시감도가 가장 높은 색 영역(후술)이 배열되는 방향이다. 방향 Dx는, 대향 기판(3)의 표면과 평행인 평면 상에 있어서 방향 Dy에 대하여 직교하는 방향이다.
도 10에 도시한 표시 장치(20)는 매트릭스 형상으로 배열된 복수의 부화소 SPix를 갖고 있다. 부화소 SPix는, 각각 TFT 소자 Tr 및 액정 소자 LC를 구비하고 있다. TFT 소자 Tr은, 박막 트랜지스터를 포함하는 것이며, 이 예에서는, n채널의 MOS(Metal Oxide Semiconductor)형의 TFT를 포함하고 있다. TFT 소자 Tr의 소스 또는 드레인 중 한쪽은 화소 신호선 SGL에 접속되고, 게이트는 주사 신호선 GCL에 접속되고, 소스 또는 드레인 중 다른 쪽은 액정 소자 LC의 일단에 접속되어 있다. 액정 소자 LC는, 일단이 TFT 소자 Tr의 소스 또는 드레인 중 다른 쪽에 접속되고, 타단이 구동 전극 COML에 접속되어 있다.
부화소 SPix는, 주사 신호선 GCL에 의해, 표시 장치(20)의 동일한 행에 속하는 다른 부화소 SPix와 서로 접속되어 있다. 주사 신호선 GCL은, 게이트 드라이버(12)(도 1 참조)와 접속되어, 게이트 드라이버(12)로부터 주사 신호 Vscan이 공급된다. 또한, 부화소 SPix는, 화소 신호선 SGL에 의해, 표시 장치(20)의 동일한 열에 속하는 다른 부화소 SPix와 서로 접속되어 있다. 화소 신호선 SGL은, 소스 드라이버(13)(도 1 참조)와 접속되어, 소스 드라이버(13)로부터 화소 신호 Vpix가 공급된다. 또한, 부화소 SPix는, 구동 전극 COML에 의해, 동일한 행에 속하는 다른 부화소 SPix와 서로 접속되어 있다. 구동 전극 COML은, 구동 전극 드라이버(14)(도 1 참조)와 접속되어, 구동 전극 드라이버(14)로부터 구동 신호 Vcom이 공급된다. 즉, 이 예에서는, 동일한 1행에 속하는 복수의 부화소 SPix가 1개의 구동 전극 COML을 공유한다. 본 실시 형태의 구동 전극 COML의 연장되는 방향은, 주사 신호선 GCL의 연장되는 방향과 평행이다. 본 실시 형태의 구동 전극 COML의 연장되는 방향은, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들어, 구동 전극 COML의 연장되는 방향은, 화소 신호선 SGL의 연장되는 방향과 평행인 방향이어도 된다.
도 1에 도시한 게이트 드라이버(12)는 주사 신호선 GCL을 순차적으로 주사하도록 구동한다. 주사 신호 Vscan(도 1 참조)이 주사 신호선 GCL을 통해, 부화소 SPix의 TFT 소자 Tr의 게이트에 인가되어, 부화소 SPix 중의 1수평 라인이 표시 구동의 대상으로서 순차적으로 선택된다. 또한, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 1수평 라인에 속하는 부화소 SPix에 대하여, 소스 드라이버(13)가 화소 신호 Vpix를 공급함으로써, 1수평 라인씩 표시가 행해진다. 이 표시 동작을 행할 때, 구동 전극 드라이버(14)는 그 1수평 라인에 대응하는 구동 전극 COML에 대하여 구동 신호 Vcom을 인가한다.
도 9에 도시한 컬러 필터(32)는, 예를 들어 적(R), 녹(G), 청(B)의 3색으로 착색된 컬러 필터의 색 영역(32R), 색 영역(32G) 및 색 영역(32B)이 주기적으로 배열되어 있다. 상술한 도 10에 도시한 각 부화소 SPix에, R, G, B의 3색의 색 영역(32R), 색 영역(32G) 및 색 영역(32B)이 1조로서 대응지어지고, 색 영역(32R), 색 영역(32G) 및 색 영역(32B)을 1조로 하여 화소 Pix가 구성된다. 도 9에 도시한 바와 같이, 컬러 필터(32)는 TFT 기판(21)과 수직인 방향에 있어서, 액정층(6)과 대향한다. 또한, 컬러 필터(32)는 상이한 색으로 착색되어 있으면, 다른 색의 조합이어도 된다. 또한, 컬러 필터(32)는 3색의 조합에 한정되지 않고, 4색 이상의 조합이어도 된다.
도 11은 실시 형태 1에 따른 검출 전극의 평면도이다. 도 11에 도시한 검출 전극 TDL은, 도 8에 도시한 검출 전극 TDL의 부분 확대도이다. 도 8에 도시한 검출 전극 TDL에 있어서는, 평행사변형이 균등하게 보이지만, 실제의 검출 전극 TDL의 형상은 도 11에 도시한 형상이다.
제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)은, 알루미늄(Al), 구리(Cu), 은(Ag), 몰리브덴(Mo), 크롬(Cr) 및 텅스텐(W)으로부터 선택된 1종 이상의 금속층으로 형성된다. 또는, 제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)은, 알루미늄(Al), 구리(Cu), 은(Ag), 몰리브덴(Mo), 크롬(Cr) 및 텅스텐(W)으로부터 선택된 1종 이상을 포함하는 금속 재료의 합금으로 형성된다. 또한, 제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)은, 이들 알루미늄(Al), 구리(Cu), 은(Ag), 몰리브덴(Mo), 크롬(Cr) 및 텅스텐(W)으로부터 선택된 1종 이상의 금속 재료 또는 이들 재료의 1종 이상을 포함하는 합금의 도전층이 복수 적층된 적층체로 해도 된다. 또한, 제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)은, 상술한 금속 재료 또는 금속 재료의 합금의 도전층 외에, ITO(Indium Tin Oxide) 등의 투광성 도전 산화물의 도전층이 적층되어 있어도 된다. 또한, 상술한 금속 재료 및 도전층을 조합한 흑색화막, 흑색 유기막 또는 흑색 도전 유기막이 적층되어 있어도 된다.
상술한 금속 재료는, 투명 전극의 재료로서 ITO 등의 투광성 도전 산화물보다도 저저항이다. 상술한 금속 재료는, 투광성 도전 산화물과 비교하여 차광성이 있기 때문에, 투과율이 저하될 가능성 또는 검출 전극 TDL의 패턴이 시인되어 버릴 가능성이 있다. 본 실시 형태에 있어서, 1개의 검출 전극 TDL이, 복수의 폭이 좁은 제1 도전성 세선(33U) 및 복수의 제2 도전성 세선(33V)을 갖고 있고, 제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)이, 선폭보다도 큰 간격을 두고 배치됨으로써, 저저항화와, 불가시화를 실현할 수 있다. 그 결과, 검출 전극 TDL이 저저항화되어, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는 박형화, 대화면화 또는 고정밀화할 수 있다.
제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)의 폭은 1㎛ 이상 10㎛ 이하인 것이 바람직하고, 또한 1㎛ 이상 5㎛ 이하의 범위에 있는 것이 보다 바람직하다. 제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)의 폭이 10㎛ 이하이면, 표시 영역(10a) 중 블랙 매트릭스 또는 후술하는 주사 신호선 GCL 및 화소 신호선 SGL에 의해 광의 투과가 억제되지 않는 영역인 개구부를 덮는 면적이 작아져, 개구율을 손상시킬 가능성이 낮아지기 때문이다. 또한, 제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)의 폭이 1㎛ 이상이면 형상이 안정되어, 단선될 가능성이 낮아지기 때문이다.
도 8, 도 10 및 도 11을 참조하여 설명하면, 검출 전극 TDL은, 복수의 제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)이 소정의 피치로 배치되어 있고, 검출 전극 TDL은, 전체로서, 컬러 필터(32)의 각 색 영역(32R), 색 영역(32G) 및 색 영역(32B)의 연장 방향과 평행인 방향으로 연장되어 있다. 즉, 검출 전극 TDL은, 도 10에 도시한 화소 신호선 SGL이 연장되는 방향 Dy와 평행인 방향으로 연장된다. 각 제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)이 컬러 필터(32)의 특정한 색 영역을 차광해 버리지 않도록, 제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)은, 서로 역방향으로 경사지는 세선편이 교차하여 접속된 메쉬 형상으로 되어 있다. 제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)은, 색 영역(32R), 색 영역(32G) 및 색 영역(32B)의 연장 방향(방향 Dy)과 평행인 방향에 대하여, 각도 θ를 갖고 서로 역방향의 방향 Du 및 방향 Dv로 경사진다. 제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)이 전기적으로 접속된 개소에서 전기적 접속부(33x)가 형성된다. 예를 들어, 각도 θ는 5도 이상 75도 이하이고, 바람직하게는 25도 이상 40도 이하, 더욱 바람직하게는 50도 이상 65도 이하이다.
이와 같이, 검출 전극 TDL은, 방향 Du로 연장되는 적어도 하나의 제1 도전성 세선(33U)과, 제1 도전성 세선(33U)과 교차하여 방향 Dv로 연장되는 적어도 하나의 제2 도전성 세선(33V)을 포함한다. 복수의 제1 도전성 세선(33U)과, 복수의 제2 도전성 세선(33V)이 각각 복수 교차하면, 검출 전극 TDL의 1개의 메쉬의 형상이 평행사변형으로 된다.
본 실시 형태에 있어서, 접속 배선(34a)에 가장 가까운 전기적 접속부(33x)를 경계로 한 경우, 접속 배선(34a)에 가장 가까운 전기적 접속부(33x)보다도 접속 배선(34a)에 가까운 측으로서, 접속 배선(34a)에 가장 가까운 전기적 접속부(33x)로부터 접속 배선(34a)까지의 영역이 검출 전극 TDL의 단부 영역(10c)이다(도 11 참조). 마찬가지로, 접속 배선(34a)에 가장 가까운 전기적 접속부(33x)보다도 접속 배선(34a)으로부터 먼 측의 영역이 검출 전극 TDL의 주 검출 영역(10d)이다.
접속 배선(34a)의 주위에 있어서의 검출 전극 TDL의 패턴과, 접속 배선(34b)의 주위에 있어서의 검출 전극의 패턴은, 도 8에 도시한 바와 같이 선 대칭 또는 점대칭으로 된다. 이 때문에, 접속 배선(34b)에 가장 가까운 전기적 접속부(33x)를 경계로 하여, 접속 배선(34b)에 가장 가까운 전기적 접속부(33x)보다도 접속 배선(34b)에 가까운 측 또한 접속 배선(34b)까지의 영역이 검출 전극 TDL의 단부 영역이다. 마찬가지로, 접속 배선(34b)에 가장 가까운 전기적 접속부(33x)보다도 접속 배선(34b)으로부터 먼 측의 영역이 검출 전극 TDL의 주 검출 영역이다.
도 11에 도시한 바와 같이, 검출 전극 TDL의 단부 영역(10c)에 있어서, 제1 도전성 세선(33U)이 연장된 위치에 도전성 세선(33a)이 배치되고, 접속 배선(34a)과 주 검출 영역(10d)의 제1 도전성 세선(33U)이 도전성 세선(33a)을 통해 전기적으로 접속되어 있다.
도 7 및 도 9에 도시한 구동 전극 COML은, 표시 장치(20)의 복수의 화소 전극(22)에 공통의 전위를 인가하는 공통 전극으로서 기능함과 함께, 검출 장치(30)의 상호 정전 용량 방식에 의한 터치 검출을 행할 때의 구동 전극으로서도 기능한다. 검출 장치(30)는 화소 기판(2)에 형성된 구동 전극 COML과, 대향 기판(3)에 형성된 검출 전극 TDL을 포함하고 있다.
구동 전극 COML은, 도 7에 도시한 표시 영역(10a)의 타변과 평행인 방향으로 연장되는 복수의 전극 패턴으로 분할되어 있다. 검출 전극 TDL은, 구동 전극 COML의 전극 패턴의 연장 방향과 교차하는 방향으로 연장되는 복수의 금속 배선을 갖는 전극 패턴을 포함하고 있다. 그리고, 검출 전극 TDL은, TFT 기판(21)(도 9 참조)의 표면에 대한 수직인 방향에 있어서, 구동 전극 COML과 대향하고 있다. 검출 전극 TDL의 각 전극 패턴은, 터치 검출부(40)의 검출 신호 증폭부(42)의 입력에 각각 접속된다(도 1 참조). 구동 전극 COML과 검출 전극 TDL에 의해 서로 교차한 전극 패턴은, 그 교차 부분에 정전 용량을 발생시키고 있다.
구동 전극 COML은, 예를 들어 ITO 등의 투광성을 갖는 도전성 재료가 사용된다. 또한, 검출 전극 TDL 및 구동 전극 COML(구동 전극 블록)은 스트라이프 형상으로 복수로 분할되는 형상에 한정되지 않는다. 예를 들어, 검출 전극 TDL 및 구동 전극 COML은 빗살 형상이어도 된다. 또는 검출 전극 TDL 및 구동 전극 COML은, 복수로 분할되어 있으면 되고, 구동 전극 COML을 분할하는 슬릿의 형상은 직선이어도, 곡선이어도 된다.
이 구성에 의해, 검출 장치(30)에서는, 상호 정전 용량 방식의 터치 검출 동작을 행할 때, 구동 전극 드라이버(14)가 구동 전극 블록으로서 시분할적으로 순차적으로 주사하도록 구동함으로써, 구동 전극 COML의 1검출 블록이 순차적으로 선택된다. 그리고, 검출 전극 TDL로부터 검출 신호 Vdet1이 출력됨으로써, 1검출 블록의 터치 검출이 행해진다. 즉, 구동 전극 블록은, 상술한 상호 정전 용량 방식의 터치 검출의 기본 원리에 있어서의 구동 전극 E1에 대응하고, 검출 전극 TDL은 검출 전극 E2에 대응하는 것이다. 검출 장치(30)는 이 기본 원리에 따라서 터치 입력을 검출한다. 서로 입체 교차한 검출 전극 TDL 및 구동 전극 COML은, 정전 용량식 터치 센서를 매트릭스 형상으로 구성하고 있다. 따라서, 검출 장치(30)의 터치 검출면 전체에 걸쳐 주사함으로써, 외부로부터의 도체의 접촉 또는 근접이 발생한 위치의 검출이 가능해지고 있다.
터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)의 동작 방법의 일례로서, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는 터치 검출 동작(검출 기간)과 표시 동작(표시 동작 기간)을 시분할로 행한다. 터치 검출 동작과 표시 동작은 어떻게 나누어 행해도 된다.
또한, 본 실시 형태에 있어서, 구동 전극 COML은 표시 장치(20)의 공통 전극을 겸용하므로, 표시 동작 기간에 있어서는, 구동 전극 드라이버(14)를 통해 선택되는 구동 전극 COML에, 제어부(11)가 표시용의 공통 전극 전위인 구동 신호 Vcom을 공급한다.
검출 기간에 구동 전극 COML을 사용하지 않고, 검출 전극 TDL만으로 검출 동작을 행하는 경우, 예를 들어 후술하는 자기 정전 용량 방식의 터치 검출 원리에 기초하여 터치 검출을 행하는 경우, 구동 전극 드라이버(14)는 검출 전극 TDL에 터치 검출용의 구동 신호 Vcom을 공급해도 된다.
이와 같이, 검출 전극 TDL의 제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)의 연장 방향이 컬러 필터(32)의 각 색 영역(32R), 색 영역(32G) 및 색 영역(32B)의 연장 방향(방향 Dy)에 대하여 각도 θ를 이룬다. 그 결과, 검출 전극 TDL의 제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)은, 컬러 필터(32)의 각 색 영역(32R), 색 영역(32G) 및 색 영역(32B)을 순서대로 차광하기 때문에, 컬러 필터(32)의 특정 색 영역에서의 투과율의 저하를 억제할 수 있다. 이 결과, 실시 형태 1에 따른 검출 장치는, 명암 모양이 일정한 주기를 갖기 어려워져, 므와레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다.
JP-A-2014-041589에 기재된 기술에서는, 가시광이 입사하면 복수의 검출 전극에서 회절 또는 산란하는 광강도 패턴이 복수의 산재하는 광의 점에 가까워진다. 시인자가 검출 장치 자체를 기울어지게 함으로써, 산재하는 복수의 광강도 패턴의 광의 점의 위치 또는 수를 변화시킬 수 있지만, 복수의 광강도 패턴의 광의 점의 시인을 저감시키는 것이 어렵다. JP-A-2014-041589에 기재된 기술에서는, 인접하는 세선편 a 및 세선편 b가 이루는 각도가 랜덤이다. 이 때문에, 시인자가 검출 장치 자체를 기울어지게 함으로써, 새로운 회절 또는 산란이 발생하기 쉬워, 산재하는 복수의 광강도 패턴의 광의 점이 발현되기 쉽다고 생각된다.
이에 반해, 실시 형태 1의 제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)의 방향 Dy에 대하여 이루는 각도 θ가 일정하다. 이 때문에, 제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)에, 가시광이 입사하면, 각각의 제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)에서 회절 또는 산란하는 광강도 패턴이 확산되기 어려워진다. 또한, 각각의 제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)에서 회절 또는 산란하는 광강도 패턴이 4방향으로 모이기 쉬워, 일정한 지향성이 발현되기 쉽다. 그리고, 시인자가 실시 형태 1에 따른 검출 장치(30) 자체를 기울어지게 함으로써, 광강도 패턴이 발현되기 쉬운 각도를 회피하기 쉬워진다.
따라서, 실시 형태 1의 복수의 제1 도전성 세선(33U)이 소정 폭 WU의 제1 띠 형상 영역 UA에 배치되고, 또한, 적어도 방향 Dv로 서로 어긋난 2개의 제1 도전성 세선(33U)을 포함하는 복수의 제1 그룹 GU가 형성되어 있다(도 11 참조).
마찬가지로, 실시 형태 1의 복수의 제2 도전성 세선(33V)이 소정 폭 WV의 제2 띠 형상 영역 VA에 배치되고, 또한, 적어도 방향 Du로 서로 어긋난 2개의 제2 도전성 세선(33V)을 포함하는 복수의 제2 그룹 GV가 형성되어 있다(도 11 참조). 또한, 본 실시의 형태에 있어서, 소정 폭 WU를 제1 폭, 소정 폭 WV를 제2 폭이라고도 한다.
도 12는 실시 형태 1에 따른 검출 전극의 배치 방법을 설명하기 위한 공정도이다. 도 11 및 도 12에 도시한 복수의 제1 기준선(33SU)은, 방향 Dv로 등피치로 배치되며, 방향 Du로 연장되는 가상선이다. 제1 기준선(33SU)은, 제1 띠 형상 영역 UA를 폭 방향(방향 Dv)으로 이등분하는 직선이다. 마찬가지로, 복수의 제2 기준선(33SV)은, 방향 Du로 등피치로 배치되며, 방향 Dv로 연장되는 가상선이다. 제2 기준선(33SV)은, 제2 띠 형상 영역 VA를 폭 방향(방향 Du)으로 이등분하는 직선이다. 소정 폭 WU는, 제1 기준선(33SU)을 중심으로 한 경우에, 제1 도전성 세선(33U)을 제1 기준선(33SU)으로부터 어긋나게 해도 되는 폭이다. 방향 Dv로 인접하는 2개의 제1 기준선(33SU) 간의 길이를 제1 기준 길이 SW1로 하면, 소정 폭 WU는 제1 기준 길이 SW1의 1/20 이상 1/5 이하이다. 예를 들어 소정 폭 WU는 10㎛ 이상 30㎛ 이하이다. 소정 폭 WV는, 제2 기준선(33SV)을 중심으로 한 경우에, 제2 도전성 세선(33V)을 제2 기준선(33SV)로부터 어긋나게 해도 되는 폭이다. 방향 Du로 인접하는 2개의 제2 기준선(33SV) 간의 길이를 제2 기준 길이 SW2로 하면, 소정 폭 WV는 제2 기준 길이 SW2의 1/20 이상 1/5 이하이다. 예를 들어 소정 폭 WV는 10㎛ 이상 30㎛ 이하이다.
즉, 제1 도전성 세선(33U)의 길이는, 인접하는 상기 제2 기준선(33SV) 간의 길이(제2 기준 길이 SW2)의 2배와 제2 띠 형상 영역 VA의 소정 폭 WV의 차 이상이다. 또한, 제1 도전성 세선(33U)의 길이는, 인접하는 제2 기준선(33SV) 간의 길이(제2 기준 길이 SW2)의 2배와 제2 띠 형상 영역 VA의 소정 폭 WV의 합 이하이다. 제2 도전성 세선(33V)의 길이는, 인접하는 상기 제1 기준선(33SU) 간의 길이(제1 기준 길이 SW1)의 2배와 제1 띠 형상 영역 UA의 소정 폭 WU의 차 이상이다. 또한, 제2 도전성 세선(33V)의 길이는, 인접하는 제1 기준선(33SU) 간의 길이(제1 기준 길이 SW1)의 2배와 제1 띠 형상 영역 UA의 소정 폭 WU의 합 이하이다.
도 12에 도시한 바와 같이, 1개의 제1 도전성 세선(33U)의 제1 단부 U11을 기준점에 배치한다. 기준점에 있어서, 방향 Dx에 대하여 제1 도전성 세선(33U)이 이루는 각도를 각도 α라 한다. 제1 도전성 세선(33U)의 제1 단부 U11로부터 방향 Du로 제2 기준 길이 SW2의 2배±길이 β의 위치에, 제1 도전성 세선(33U)의 제2 단부 U12를 배치한다. 여기서, 길이 β는 소정 폭 WV/2 이내로서, 랜덤하게 선택되는 길이이다. 제1 도전성 세선(33U)의 제2 단부 U12의 위치가 결정되면, 제1 도전성 세선(33U)의 제2 단부 U12의 위치로부터 방향 Dx에 대하여 (90°-α)의 각도를 이루는 방향으로, 소정 폭 WU/2 이내의 길이로서, 랜덤하게 선택되는 길이 γ분 어긋난 위치에, 다음의 제1 도전성 세선(33U)의 제1 단부 U11을 배치한다. 상술한 검출 전극 TDL의 배치 방법을 반복함으로써, 방향 Du를 따라서 연장되는 1개의 제1 띠 형상 영역 UA 내에, 복수의 제1 도전성 세선(33U)이 방향 Dv로 서로 어긋나는 것을 허용하면서 배치된다. 제2 도전성 세선(33V)도 마찬가지로 배치할 수 있다.
도 11에 도시한 바와 같이, 제1 띠 형상 영역 UA와, 제2 띠 형상 영역 VA가 교차하는 교차 영역 AX에 있어서, 제1 도전성 세선(33U)과, 제2 도전성 세선(33V)이 접하는 전기적 접속부(33x)가 생긴다. 방향 Dv로 서로 어긋난 2개의 제1 도전성 세선(33U)을 포함하는 교차 영역 AX에는, 2개의 제1 도전성 세선(33U)과, 1개의 제2 도전성 세선(33V)이 접하여 2개의 전기적 접속부(33x)가 있다. 방향 Du로 서로 어긋난 2개의 제2 도전성 세선(33V)을 포함하는 교차 영역 AX에는, 2개의 제2 도전성 세선(33V)과, 1개의 제1 도전성 세선(33U)이 접하여 2개의 전기적 접속부(33x)가 있다. 그 결과, 제1 도전성 세선(33U)과, 제2 도전성 세선(33V)이 십자 교차하는 개소가 억제된다.
즉, 1개의 제1 도전성 세선(33U)에 있어서 4개의 전기적 접속부(33x)가 생긴다. 즉, 1개의 제1 도전성 세선(33U)에 접하는 제2 도전성 세선(33V)의 수는 4개이다. 1개의 제1 도전성 세선(33U)이, 일단과, 타단과, 중간의 2개소에 있어서 제2 도전성 세선(33V)에 접하고 있다.
또한, 1개의 제2 도전성 세선(33V)에 있어서 4개의 전기적 접속부(33x)가 생긴다. 즉, 1개의 제2 도전성 세선(33V)에 접하는 제1 도전성 세선(33U)의 수는 4개이다. 1개의 제2 도전성 세선(33V)이, 일단과, 타단과, 중간의 2개소에 있어서 제1 도전성 세선(33U)에 접하고 있다.
(실시 형태 2)
다음에, 실시 형태 2에 따른 검출 장치에 대하여 설명한다. 도 13은 실시 형태 2에 따른 검출 전극의 평면도이다. 또한, 상술한 실시 형태 1에서 설명한 것과 동일한 구성 요소에는 동일한 부호를 붙이고 중복되는 설명은 생략한다.
도 8에 도시한 바와 같이, 인접하는 검출 전극 TDL의 사이에는 간격 SP가 있다. 시인자에 의해 간격 SP가 시인되어 버리는 것을 억제하기 위해, 도 13에 도시한 바와 같이, 더미 전극 TDD가 배치되어 있다.
더미 전극 TDD에 있어서, 복수의 제1 도전성 세선(33U)이 소정 폭 WU의 제1 띠 형상 영역 UA에 배치되고, 또한, 적어도 방향 Dv로 서로 어긋난 2개의 제1 도전성 세선(33U)을 포함하는 복수의 제1 그룹 GU가 형성되어 있다.
마찬가지로, 더미 전극 TDD에 있어서, 복수의 제2 도전성 세선(33V)이 소정 폭 WV의 제2 띠 형상 영역 VA에 배치되고, 또한, 적어도 방향 Du로 서로 어긋난 2개의 제2 도전성 세선(33V)을 포함하는 복수의 제2 그룹 GV가 형성되어 있다.
더미 전극 TDD에 있어서, 제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)의 각각에, 슬릿 SL이 형성되어 있다. 슬릿 SL은, 제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)을 구성하는 재료가 형성되어 있지 않거나, 에칭 등에 의해 제거되어 있어, 절연성 재료만이 있는 부분으로 되어 있다. 슬릿 SL은, 인접하는 전기적 접속부(33x)의 사이에 형성되어 있다. 전기적 접속부(33x)로부터 슬릿 SL까지의 거리가 일정함으로써, 슬릿 SL 자체를 시인하기 어렵게 할 수 있다.
더미 전극 TDD는, 검출 전극 TDL을 구성하는 제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)과 동일한 방향으로 연장되는 구성 요소를 구비하고 있으므로, 간격 SP를 불가시화 할 수 있음과 함께, 검출 전극 TDL이 시인될 가능성을 저감할 수 있다.
(실시 형태 2의 변형예 1)
도 14는 실시 형태 2의 변형예 1에 따른 검출 전극의 평면도이다. 도 14에 도시한 바와 같이, 더미 전극 TDD는, 슬릿 SL을 사이에 두는 제1 도전성 세선(33U)이 방향 Dv로 어긋나 있다. 마찬가지로, 더미 전극 TDD는, 슬릿 SL을 사이에 두는 제2 도전성 세선(33V)이 방향 Du로 어긋나 있다.
(실시 형태 2의 변형예 2)
도 15는 실시 형태 2의 변형예 2에 따른 검출 전극의 평면도이다. 도 15에 도시한 바와 같이, 실시 형태 2의 변형예 2에 있어서 복수의 슬릿 SL은, 방향 Dy에 평행인 직선 LY1 상, 직선 LY2 상 또는 직선 LY3 상에 배치되어 있다. 직선 LY1은, 1개의 검출 전극 TDL의 방향 Dx에서의 일단에 위치하는 가상 직선이고, 직선 LY2는, 1개의 검출 전극 TDL의 방향 Dx에서의 타단에 위치하는 가상 직선이다. 직선 LY3은 직선 LY1과 직선 LY2 사이에 배치된다. 예를 들어, 직선 LY1로부터 직선 LY2까지의 폭 WTDL은 일정하다. 이에 의해, 더미 전극 TDD를 사이에 두고 인접하는 2개의 검출 전극 TDL의 기생 용량이 개략 동등하게 된다. 또한, 직선 LY1과 직선 LY2 사이에 복수의 직선 LY3이 있어도 된다. 즉, 직선 LY1과 직선 LY2 사이의 영역에 있어서, 동일 직선 상에 배치된 복수의 슬릿 SL을 포함하는 열이 복수 있어도 된다.
(실시 형태 3)
다음에, 실시 형태 3에 따른 검출 장치에 대하여 설명한다. 도 16은 실시 형태 3에 따른 검출 전극의 평면도이다. 도 16에 도시한 바와 같이, 실시 형태 3에 있어서, 제1 도전성 세선(33U)은, 제1 주 세선(331U)과, 제1 보조 세선(332U)을 포함한다. 제2 도전성 세선(33V)은, 제2 주 세선(331V)과, 제2 보조 세선(332V)을 포함한다. 또한, 상술한 실시 형태 1에서 설명한 것과 동일한 구성 요소에는 동일한 부호를 붙이고 중복되는 설명은 생략한다.
도 16에 도시한 바와 같이, 복수의 제1 주 세선(331U)은, 소정 폭 WU의 제1 주 띠 형상 영역 UAa에 배치되어 있다. 적어도 방향 Dv로 서로 어긋난 2개의 제1 주 세선(331U)을 포함하는 복수의 제1 주 그룹 GU1이 형성되어 있다. 복수의 제1 보조 세선(332U)은, 소정 폭 WU의 제1 보조 띠 형상 영역 UAb에 배치되어 있다. 적어도 방향 Dv로 서로 어긋난 2개의 제1 보조 세선(332U)을 포함하는 복수의 제1 보조 그룹 GU2가 형성되어 있다. 제1 주 띠 형상 영역 UAa 및 제1 보조 띠 형상 영역 UAb는, 방향 Dv로 교대로 등피치로 배치되어 있다. 인접하는 제1 주 띠 형상 영역 UAa와 제1 보조 띠 형상 영역 UAb 사이의 길이가 제1 기준 길이 SW1이다.
도 16에 도시한 바와 같이, 복수의 제2 주 세선(331V)은, 소정 폭 WV의 제2 주 띠 형상 영역 VAa에 배치되어 있다. 적어도 방향 Du로 서로 어긋난 2개의 제2 주 세선(331V)을 포함하는 복수의 제2 주 그룹 GV1이 형성되어 있다. 복수의 제2 보조 세선(332V)은, 소정 폭 WV의 제2 보조 띠 형상 영역 VAb에 배치되어 있다. 적어도 방향 Du로 서로 어긋난 2개의 제2 보조 세선(332V)을 포함하는 복수의 제2 보조 그룹 GV2가 형성되어 있다. 제2 주 띠 형상 영역 VAa 및 제2 보조 띠 형상 영역 VAb는, 방향 Du로 교대로 등피치로 배치되어 있다. 인접하는 제2 주 띠 형상 영역 VAa와 제2 보조 띠 형상 영역 VAb 사이의 길이가 제2 기준 길이 SW2이다.
제1 주 세선(331U)의 길이는, 제2 기준 길이 SW2의 2배와 소정 폭 WV의 차 이상이며 제2 기준 길이 SW2의 2배와 소정 폭 WV의 합 이하이다. 1개의 제1 주 세선(331U)에는 2개의 전기적 접속부(33x)가 생겨 있다. 제1 주 세선(331U)의 일단에 1개의 제2 보조 세선(332V)이 접하고 있고, 제1 주 세선(331U)의 타단에 다른 제2 보조 세선(332V)이 접하고 있다. 또한, 제1 주 세선(331U)의 중간에서, 2개의 제2 주 세선(331V)이 접하고 있다. 즉, 1개의 제1 주 세선(331U)에 대하여, 2개의 제2 주 세선(331V) 및 2개의 제2 보조 세선(332V)(4개의 제2 도전성 세선(33V))이 접하고 있다.
제1 보조 세선(332U)의 길이는 소정 폭 WV 이하이다. 1개의 제1 보조 세선(332U)에는 2개의 전기적 접속부(33x)가 생겨 있다. 제1 보조 세선(332U)의 일단에 1개의 제2 주 세선(331V)이 접하고 있고, 제1 보조 세선(332U)의 타단에 다른 제2 주 세선(331V)이 접하고 있다. 즉, 1개의 제1 보조 세선(332U)에 대하여, 2개의 제2 주 세선(331V)(2개의 제2 도전성 세선(33V))이 접하고 있다.
제2 주 세선(331V)의 길이는, 제1 기준 길이 SW1과 소정 폭 WU의 차 이상이며 제1 기준 길이 SW1과 소정 폭 WU의 합 이하이다. 1개의 제2 주 세선(331V)에는 2개의 전기적 접속부(33x)가 생겨 있다. 제2 주 세선(331V)의 일단에 1개의 제1 주 세선(331U)이 접하고 있고, 제2 주 세선(331V)의 타단에 1개의 제1 보조 세선(332U)이 접하고 있다. 즉, 1개의 제2 주 세선(331V)에 대하여 1개의 제1 주 세선(331U) 및 1개의 제1 보조 세선(332U)(2개의 제1 도전성 세선(33U))이 접하고 있다.
제2 보조 세선(332V)의 길이는 소정 폭 WU 이하이다. 1개의 제2 보조 세선(332V)에는 2개의 전기적 접속부(33x)가 생겨 있다. 제2 보조 세선(332V)의 일단에 1개의 제1 주 세선(331U)이 접하고 있고, 제2 보조 세선(332V)의 타단에 다른 제1 주 세선(331U)이 접하고 있다. 즉, 1개의 제2 보조 세선(332V)에 대하여, 2개의 제1 주 세선(331U)(2개의 제1 도전성 세선(33U))이 접하고 있다.
도 16에 도시한 바와 같이, 일부의 교차 영역 AX(교차 영역 AX1)에 있어서는, 2개의 전기적 접속부(33x)가 생겨 있다. 한편, 그 밖의 교차 영역 AX(교차 영역 AX2)에 있어서는 전기적 접속부(33x)가 발생하지 않는다.
실시 형태 3에 있어서는, 실시 형태 1과 비교하여, 제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)에 의해 형성되는 다각형의 면적이 변동되기 어렵다. 이 때문에, 표시 영역(10a)에 있어서 개구율이 균일해지기 쉽다.
(실시 형태 4)
다음에, 실시 형태 4에 따른 검출 장치에 대하여 설명한다. 도 17은 실시 형태 4에 따른 검출 전극의 평면도이다. 도 17에 도시한 바와 같이, 실시 형태 4에 있어서, 검출 전극 TDL은, 제1 도전성 세선(33U)과, 제2 도전성 세선(33V)과, 제3 도전성 세선(33Y)을 포함한다. 또한, 상술한 실시 형태 1에서 설명한 것과 동일한 구성 요소에는 동일한 부호를 붙이고 중복되는 설명은 생략한다.
도 17에 도시한 바와 같이, 복수의 제1 도전성 세선(33U)은, 소정 폭 WU의 제1 띠 형상 영역 UA에 배치되어 있다. 적어도 방향 Dv로 서로 어긋난 2개의 제1 도전성 세선(33U)을 포함하는 복수의 제1 그룹 GU가 형성되어 있다.
복수의 제2 도전성 세선(33V)은, 소정 폭 WV의 제2 띠 형상 영역 VA에 배치되어 있다. 적어도 방향 Du로 서로 어긋난 2개의 제2 도전성 세선(33V)을 포함하는 복수의 제2 그룹 GV가 형성되어 있다.
복수의 제3 도전성 세선(33Y)은, 소정 폭 WY의 제3 띠 형상 영역 YA에 배치되어 있다. 적어도 방향 Dx로 서로 어긋난 2개의 제3 도전성 세선(33Y)을 포함하는 복수의 제3 그룹 GY가 형성되어 있다. 또한, 실시 형태 4에서는, 소정 폭 WY를 제3 폭이라고도 한다.
복수의 기준선(33SY)은, 방향 Dx로 등피치로 배치되며, 방향 Dy로 연장되는 가상선이다. 소정 폭 WY는, 기준선(33SY)을 중심으로 한 경우에, 제3 도전성 세선(33Y)을 기준선(33SY)으로부터 어긋나게 해도 되는 폭이다. 소정 폭 WY는, 방향 Dx로 인접하는 2개의 기준선(33SY) 간의 길이를 제3 기준 길이 SW3으로 하면 제3 기준 길이 SW3의 1/20 이상 1/5 이하이다. 예를 들어 소정 폭 WY는 10㎛ 이상 30㎛ 이하이다.
검출 전극 TDL의 1개의 메쉬의 형상은 육각형이다. 즉, 2개의 제1 도전성 세선(33U)과, 2개의 제2 도전성 세선(33V)과, 2개의 제3 도전성 세선(33Y)에 의해 육각형이 형성되어 있다.
제1 띠 형상 영역 UA와, 제2 띠 형상 영역 VA와, 제3 띠 형상 영역 YA가 교차하는 교차 영역 AXX에 있어서, 1개의 제1 도전성 세선(33U)과, 1개의 제2 도전성 세선(33V)과, 1개의 제3 도전성 세선(33Y)이 접하고 있다. 즉, 제1 도전성 세선(33U)과 제2 도전성 세선(33V)의 교점인 전기적 접속부(33xx)에 제3 도전성 세선(33Y)이 접하고 있다. 교차 영역 AXX는 육각형의 영역이다. 일부의 교차 영역 AXX에 있어서는, 1개의 전기적 접속부(33xx)가 생겨 있다. 한편, 그 밖의 교차 영역 AXX에 있어서는 전기적 접속부(33xx)가 생기지 않는다.
이와 같이, 검출 전극 TDL은, 제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V) 외에, 제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)과는 상이한 방향으로 연장되는 제3 도전성 세선(33Y)을 구비하고 있어도 된다.
(실시 형태 5)
도 18은 실시 형태 5에 따른 검출 전극의 평면도이다. 또한, 상술한 실시 형태 1에서 설명한 것과 동일한 구성 요소에는 동일한 부호를 붙이고 중복되는 설명은 생략한다.
도 18에 도시한 바와 같이, 제1 띠 형상 영역 UA는, 제1 기준선(33SU)에 의해 분리된 제1 우측 영역 UAa와, 제1 좌측 영역 UAb를 포함한다. 실시 형태 5에서는, 복수의 제1 도전성 세선(33U)은, 각각 제1 우측 영역 UAa 및 제1 좌측 영역 UAb 중 어느 하나에 배치되어 있다. 제1 기준선(33SU)에 대한 제1 도전성 세선(33U)의 어긋남량인 길이 γ는, 0을 포함하지 않는 소정 범위 내의 값으로부터 랜덤하게 선택된 값이다. 즉, 길이 γ로서 선택되는 값의 출현 빈도는 일정하다. 예를 들어, 길이 γ는 5㎛ 이상 15㎛의 범위에 있는 값으로부터 선택된다.
1개의 제1 띠 형상 영역 UA에 있어서, 제1 우측 영역 UAa에 배치되는 제1 도전성 세선(33U)과, 제1 좌측 영역 UAb에 배치되는 제1 도전성 세선(33U)이, 방향 Du를 따라서 교대로 배열되어 있다. 즉, 1개의 제1 띠 형상 영역 UA에 있어서, 제1 우측 영역 UAa에 배치되는 제1 도전성 세선(33U)의 인접하는 제1 도전성 세선(33U)은 제1 좌측 영역 UAb에 배치되고, 또한 제1 좌측 영역 UAb에 배치되는 제1 도전성 세선(33U)의 인접하는 제1 도전성 세선(33U)은 제1 우측 영역 UAa에 배치된다. 예를 들어, 제1 기준선(33SU)에 대하여 제1 도전성 세선(33U)이 어긋나는 방향은 난수에 의해 결정된다. 당해 난수는 컴퓨터에 의해 생성된다. 1개의 제1 띠 형상 영역 UA에 포함되는 제1 도전성 세선(33U)의 설계 시에 있어서, 컴퓨터는 양의 값과 음의 값이 방향 Du를 따라서 교대로 나타나도록 난수를 제어한다.
도 18에 도시한 바와 같이, 제2 띠 형상 영역 VA는, 제2 기준선(33SV)에 의해 분리된 제2 우측 영역 VAa와, 제2 좌측 영역 VAb를 포함한다. 실시 형태 5에서는, 복수의 제2 도전성 세선(33V)은, 각각 제2 우측 영역 VAa 및 제2 좌측 영역 VAb 중 어느 하나에 배치되어 있다. 제2 기준선(33SV)에 대한 제2 도전성 세선(33V)의 어긋남량인 길이 β는, 0을 포함하지 않는 소정 범위 내의 값으로부터 랜덤하게 선택된 값이다. 즉, 길이 β로서 선택되는 값의 출현 빈도는 일정하다. 예를 들어, 길이 β는 5㎛ 이상 15㎛의 범위에 있는 값으로부터 선택된다.
1개의 제2 띠 형상 영역 VA에 있어서, 제2 우측 영역 VAa에 배치되는 제2 도전성 세선(33V)과, 제2 좌측 영역 VAb에 배치되는 제2 도전성 세선(33V)이, 방향 Dv를 따라서 교대로 배열되어 있다. 즉, 1개의 제2 띠 형상 영역 VA에 있어서, 제2 우측 영역 VAa에 배치되는 제2 도전성 세선(33V)의 인접하는 제2 도전성 세선(33V)은 제2 좌측 영역 VAb에 배치되고, 또한 제2 좌측 영역 VAb에 배치되는 제2 도전성 세선(33V)의 인접하는 제2 도전성 세선(33V)은 제2 우측 영역 VAa에 배치된다. 예를 들어, 제2 기준선(33SV)에 대하여 제2 도전성 세선(33V)이 어긋나는 방향은 난수에 의해 결정된다. 당해 난수는 컴퓨터에 의해 생성된다. 1개의 제2 띠 형상 영역 VA에 포함되는 제2 도전성 세선(33V)의 설계 시에 있어서, 컴퓨터는 양의 값과 음의 값이 방향 Dv를 따라서 교대로 나타나도록 난수를 제어한다.
상술한 구성에 의해, 도 18에 도시한 바와 같이 제1 도전성 세선(33U) 및 제2 도전성 세선(33V)이 십자로 교차하지 않게 된다. 이 때문에, 전기적 접속부(33x)의 주변 영역에서의 개구율과 그 밖의 영역에서의 개구율 사이의 차가 작아지므로, 시인성이 향상된다.
(실시 형태 6)
도 19는 실시 형태 6에 따른 검출 전극의 평면도이다. 도 19에 도시한 바와 같이, 실시 형태 6에 따른 검출 전극 TDL은, 복수의 제1 도전성 세선(33U) 및 복수의 제2 도전성 세선(33V)을 포함하는 복수의 검출 블록 TDLB를 갖는다. 예를 들어, 복수의 검출 블록 TDLB는, 기판(31)과 평행인 평면 상에 매트릭스 형상으로 배열되어 있다. 복수의 검출 블록 TDLB는, 각각 배선(37)에 의해 플렉시블 프린트 기판(71)(도 8 참조)에 접속되어 있다. 실시 형태 6에 따른 검출 장치(30)는 상호 정전 용량 방식이 아니라, 자기 정전 용량 방식의 터치 검출 동작을 행한다.
다음에, 도 20을 참조하여, 자기 정전 용량 방식의 터치 검출의 기본 원리에 대하여 설명한다. 도 20은 자기 정전 용량 방식의 터치 검출의 등가 회로의 일례를 도시하는 설명도이다.
도 20에 도시한 바와 같이, 검출 전극 E2에 전압 검출기 DET가 접속되어 있다. 전압 검출기 DET는 이매지너리 쇼트된 오피 앰프를 포함하는 검출 회로이다. 비반전 입력부(+)에 소정의 주파수(예를 들어 수㎑ 내지 수백㎑ 정도)의 교류 구형파 Sg가 인가되면, 검출 전극 E2에 동전위의 교류 구형파 Sg가 인가된다.
손가락 등의 도체가 접촉 또는 근접하고 있지 않은 상태(비접촉 상태)에서는, 검출 전극 E2가 갖는 용량 Cx1에 따른 전류가 흐른다. 전압 검출기 DET는, 교류 구형파 Sg에 따른 전류의 변동을 전압의 변동(파형)으로 변환한다. 손가락 등의 도체가 접촉 또는 근접한 상태(접촉 상태)에서는, 검출 전극 E2가 갖는 용량 Cx1에, 검출 전극 E2에 근접하고 있는 손가락에 의해 발생하는 용량 Cx2가 더해져, 비접촉 상태의 용량보다도 증가한 용량(Cx1+Cx2)에 따른 전류가 흐른다. 전압 검출기 DET는, 교류 구형파 Sg에 따른 전류의 변동을 전압의 변동(파형)으로 변환한다. 접촉 상태에서의 파형의 진폭은, 비접촉 상태에서의 파형의 진폭과 비교하여 커진다. 이에 의해, 접촉 상태에서의 파형과 비접촉 상태에서의 파형의 전압 차분의 절댓값은, 손가락 등의 외부로부터 접촉 또는 근접하는 도체의 영향에 따라서 변화되게 된다. 스위치 SW는, 터치 검출을 행할 때에 온(개방) 상태로 되고, 터치 검출을 행하지 않을 때는 오프(폐쇄) 상태로 되어, 전압 검출기 DET의 리셋 동작을 행한다.
또한, 상술한 실시 형태에 있어서 설명한 형태에 의해 생성되는 다른 적의 효과에 대하여 본 명세서 기재로부터 명백한 것, 또는 당업자에게 있어서 적절히 상도할 수 있는 것에 대해서는, 당연히 본 발명에 의해 생성되는 것으로 이해된다.
본 발명은 이하의 형태에 따른 검출 장치 및 표시 장치에 널리 적용 가능하다.
(1) 기판과,
상기 기판과 평행인 면 상에 형성되며, 제1 방향으로 연장되는 복수의 제1 도전성 세선과,
상기 제1 도전성 세선과 동일층 상에 형성되며, 상기 제1 방향과 각도를 이루는 제2 방향으로 연장되는 복수의 제2 도전성 세선과,
제1 폭의 제1 띠 형상 영역에 배치되고, 또한, 적어도 상기 제2 방향으로 서로 어긋난 2개의 상기 제1 도전성 세선을 포함하는 제1 그룹과,
제2 폭의 제2 띠 형상 영역에 배치되고, 또한, 적어도 상기 제1 방향으로 서로 어긋난 2개의 상기 제2 도전성 세선을 포함하는 제2 그룹을 구비하고,
상기 제1 띠 형상 영역과 상기 제2 띠 형상 영역의 교차 영역에서는, 상기 제1 도전성 세선과 상기 제2 도전성 세선이 접하는 검출 장치.
(2) 상기 제1 띠 형상 영역과 상기 제2 띠 형상 영역의 교차 영역에 있어서, 상기 제1 도전성 세선과 상기 제2 도전성 세선이 접하는 접속부가 2개 있는 (1)에 기재된 검출 장치.
(3) 상기 제1 도전성 세선과 상기 제2 도전성 세선이 접하는 복수의 접속부를 갖고, 2개의 접속부 간에 있는 상기 제1 도전성 세선 또는 상기 제2 도전성 세선에는 슬릿이 있는 (1) 또는 (2)에 기재된 검출 장치.
(4) 상기 제1 도전성 세선과 상기 제2 도전성 세선이 둘러싸는 1개의 메쉬가 평행사변형인 (1) 내지 (3) 중 어느 한 항에 기재된 검출 장치.
(5) 상기 제1 띠 형상 영역을 폭 방향으로 이등분하는 직선을 제1 기준선이라 하고, 상기 제2 띠 형상 영역을 폭 방향으로 이등분하는 직선을 제2 기준선이라 하였을 때,
상기 제1 도전성 세선의 길이는, 인접하는 상기 제2 기준선 간의 길이의 2배와 상기 제2 띠 형상 영역의 제2 폭의 차 이상이며, 또한 인접하는 상기 제2 기준선 간의 길이의 2배와 상기 제2 띠 형상 영역의 제2 폭의 합 이하이고,
상기 제2 도전성 세선의 길이는, 인접하는 상기 제1 기준선 간의 길이의 2배와 상기 제1 띠 형상 영역의 제1 폭의 차 이상이며, 또한 인접하는 상기 제1 기준선 간의 길이의 2배와 상기 제1 띠 형상 영역의 제1 폭의 합 이하인 (1) 내지 (4) 중 어느 한 항에 기재된 검출 장치.
(6) 상기 제1 도전성 세선은, 제1 폭의 제1 주 띠 형상 영역에 배치되는 제1 주 세선과, 제1 폭의 제1 보조 띠 형상 영역에 배치되는 제1 보조 세선을 포함하고,
상기 제2 도전성 세선은, 제2 폭의 제2 주 띠 형상 영역에 배치되는 제2 주 세선과, 제2 폭의 제2 보조 띠 형상 영역에 배치되는 제2 보조 세선을 포함하고,
1개의 상기 제1 주 세선은, 2개의 상기 제2 주 세선과, 2개의 상기 제2 보조 세선에 접하고,
1개의 상기 제1 보조 세선은, 2개의 상기 제2 주 세선에 접하고,
1개의 상기 제2 주 세선은, 1개의 상기 제1 주 세선과, 1개의 상기 제1 보조 세선에 접하고,
1개의 상기 제2 보조 세선은, 2개의 상기 제1 주 세선에 접하는 (1)에 기재된 검출 장치.
(7) 상기 제1 도전성 세선과 동일층 상에 형성되며, 상기 제1 방향 및 상기 제2 방향과 각도를 이루는 제3 방향으로 연장되는 복수의 제3 도전성 세선과,
제3 폭의 제3 띠 형상 영역에 배치되고, 또한, 적어도 상기 제3 방향에 대하여 직교하는 방향으로 서로 어긋난 2개의 상기 제3 도전성 세선을 포함하는 제3 그룹을 구비하고,
상기 제1 띠 형상 영역과 상기 제2 띠 형상 영역과 상기 제3 띠 형상 영역의 교차 영역에서는, 상기 제1 도전성 세선과 상기 제2 도전성 세선과 상기 제3 도전성 세선이 접하는 (1)에 기재된 검출 장치.
(8) 상기 제1 띠 형상 영역은, 제1 띠 형상 영역을 상기 제2 방향으로 이등분하는 제1 기준선에 의해 분리된 제1 우측 영역과, 제1 좌측 영역을 포함하고,
1개의 상기 제1 띠 형상 영역에 있어서, 상기 제1 우측 영역에 배치되는 상기 제1 도전성 세선과, 상기 제1 좌측 영역에 배치되는 상기 제1 도전성 세선이 상기 제1 방향을 따라서 교대로 배열되고,
상기 제2 띠 형상 영역은, 제2 띠 형상 영역을 상기 제1 방향으로 이등분하는 제2 기준선에 의해 분리된 제2 우측 영역과, 제2 좌측 영역을 포함하고,
1개의 상기 제2 띠 형상 영역에 있어서, 상기 제2 우측 영역에 배치되는 상기 제2 도전성 세선과, 상기 제2 좌측 영역에 배치되는 상기 제2 도전성 세선이 상기 제2 방향을 따라서 교대로 배열되는 (1)에 기재된 검출 장치.
(9) 검출 장치와, 표시 영역을 구비하고,
상기 검출 장치는,
기판과,
상기 기판과 평행인 면 상에 형성되며, 제1 방향으로 연장되는 복수의 제1 도전성 세선과,
상기 제1 도전성 세선과 동일층 상에 형성되며, 상기 제1 방향과 각도를 이루는 제2 방향으로 연장되는 복수의 제2 도전성 세선과,
제1 폭의 제1 띠 형상 영역에 배치되고, 또한, 적어도 상기 제2 방향으로 서로 어긋난 2개의 상기 제1 도전성 세선을 포함하는 제1 그룹과,
제2 폭의 제2 띠 형상 영역에 배치되고, 또한, 적어도 상기 제1 방향으로 서로 어긋난 2개의 상기 제2 도전성 세선을 포함하는 제2 그룹을 구비하고,
상기 제1 띠 형상 영역과 상기 제2 띠 형상 영역의 교차 영역에서는, 상기 제1 도전성 세선과 상기 제2 도전성 세선이 접하고, 상기 표시 영역과 중첩되는 영역에, 상기 제1 도전성 세선과 상기 제2 도전성 세선이 형성되는 표시 장치.
(10) 상기 제1 띠 형상 영역과 상기 제2 띠 형상 영역의 교차 영역에 있어서, 상기 제1 도전성 세선과 상기 제2 도전성 세선이 접하는 접속부가 2개 있는 (9)에 기재된 표시 장치.
(11) 상기 제1 도전성 세선과 상기 제2 도전성 세선이 접하는 복수의 접속부를 갖고, 2개의 접속부 간에 있는 상기 제1 도전성 세선 또는 상기 제2 도전성 세선에는 슬릿이 있는 (9) 또는 (10)에 기재된 표시 장치.
(12) 상기 제1 도전성 세선과 상기 제2 도전성 세선이 둘러싸는 1개의 메쉬가 평행사변형인 (9) 내지 (11) 중 어느 한 항에 기재된 표시 장치.
(13) 상기 제1 띠 형상 영역을 폭 방향으로 이등분하는 직선을 제1 기준선이라 하고, 상기 제2 띠 형상 영역을 폭 방향으로 이등분하는 직선을 제2 기준선이라 하였을 때,
상기 제1 도전성 세선의 길이는, 인접하는 상기 제2 기준선 간의 길이의 2배와 상기 제2 띠 형상 영역의 제2 폭의 차 이상이며, 또한 인접하는 상기 제2 기준선 간의 길이의 2배와 상기 제2 띠 형상 영역의 제2 폭의 합 이하이고,
상기 제2 도전성 세선의 길이는, 인접하는 상기 제1 기준선 간의 길이의 2배와 상기 제1 띠 형상 영역의 제1 폭의 차 이상이며, 또한 인접하는 상기 제1 기준선 간의 길이의 2배와 상기 제1 띠 형상 영역의 제1 폭의 합 이하인 (9) 내지 (12) 중 어느 한 항에 기재된 표시 장치.
(14) 상기 제1 도전성 세선은, 제1 폭의 제1 주 띠 형상 영역에 배치되는 제1 주 세선과, 제1 폭의 제1 보조 띠 형상 영역에 배치되는 제1 보조 세선을 포함하고,
상기 제2 도전성 세선은, 제2 폭의 제2 주 띠 형상 영역에 배치되는 제2 주 세선과, 제2 폭의 제2 보조 띠 형상 영역에 배치되는 제2 보조 세선을 포함하고,
1개의 상기 제1 주 세선은, 2개의 상기 제2 주 세선과, 2개의 상기 제2 보조 세선에 접하고,
1개의 상기 제1 보조 세선은, 2개의 상기 제2 주 세선에 접하고,
1개의 상기 제2 주 세선은, 1개의 상기 제1 주 세선과, 1개의 상기 제1 보조 세선에 접하고,
1개의 상기 제2 보조 세선은, 2개의 상기 제1 주 세선에 접하는 (9)에 기재된 표시 장치.
(15) 상기 제1 도전성 세선과 동일층 상에 형성되며, 상기 제1 방향 및 상기 제2 방향과 각도를 이루는 제3 방향으로 연장되는 복수의 제3 도전성 세선과,
제3 폭의 제3 띠 형상 영역에 배치되고, 또한, 적어도 상기 제3 방향에 대하여 직교하는 방향으로 서로 어긋난 2개의 상기 제3 도전성 세선을 포함하는 제3 그룹을 구비하고,
상기 제1 띠 형상 영역과 상기 제2 띠 형상 영역과 상기 제3 띠 형상 영역의 교차 영역에서는, 상기 제1 도전성 세선과 상기 제2 도전성 세선과 상기 제3 도전성 세선이 접하는 (9)에 기재된 표시 장치.
(16) 상기 제1 띠 형상 영역은, 제1 띠 형상 영역을 상기 제2 방향으로 이등분하는 제1 기준선에 의해 분리된 제1 우측 영역과, 제1 좌측 영역을 포함하고,
1개의 상기 제1 띠 형상 영역에 있어서, 상기 제1 우측 영역에 배치되는 상기 제1 도전성 세선과, 상기 제1 좌측 영역에 배치되는 상기 제1 도전성 세선이 상기 제1 방향을 따라서 교대로 배열되고,
상기 제2 띠 형상 영역은, 제2 띠 형상 영역을 상기 제1 방향으로 이등분하는 제2 기준선에 의해 분리된 제2 우측 영역과, 제2 좌측 영역을 포함하고,
1개의 상기 제2 띠 형상 영역에 있어서, 상기 제2 우측 영역에 배치되는 상기 제2 도전성 세선과, 상기 제2 좌측 영역에 배치되는 상기 제2 도전성 세선이 상기 제2 방향을 따라서 교대로 배열되는 (9)에 기재된 표시 장치.
1 : 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치
2 : 화소 기판
3 : 대향 기판
6 : 액정층
10 : 터치 검출 기능을 구비한 표시부
10a : 표시 영역
10b : 프레임 영역
11 : 제어부
12 : 게이트 드라이버
13 : 소스 드라이버
14 : 구동 전극 드라이버
20 : 표시 장치
21 : TFT 기판
22 : 화소 전극
30 : 검출 장치
31 : 기판
32 : 컬러 필터
33a : 도전성 세선
33U : 제1 도전성 세선
33V : 제2 도전성 세선
33Y : 제3 도전성 세선
33x, 33xx : 전기적 접속부
331U : 제1 주 세선
331V : 제2 주 세선
332U : 제1 보조 세선
332V : 제2 보조 세선
37 : 배선
38 : 보호층
40 : 터치 검출부(검출부)
42 : 검출 신호 증폭부
43 : A/D 변환부
44 : 신호 처리부
45 : 좌표 추출부
46 : 검출 타이밍 제어부
AX, AXX : 교차 영역
COML : 구동 전극
GCL : 주사 신호선
Pix : 화소
SGL : 화소 신호선
SPix : 부화소
SL : 슬릿
TDL : 검출 전극
TDLB : 검출 블록
Tr : TFT 소자
UA : 제1 띠 형상 영역
UAa : 제1 주 띠 형상 영역
UAb : 제1 보조 띠 형상 영역
VA : 제2 띠 형상 영역
VAa : 제2 주 띠 형상 영역
VAb : 제2 보조 띠 형상 영역
Vcom : 구동 신호
Vdet : 검출 신호
Vdisp : 영상 신호
Vpix : 화소 신호
Vscan : 주사 신호
YA : 제3 띠 형상 영역

Claims (16)

  1. 기판과,
    상기 기판과 평행인 면 상에 형성되며, 제1 방향으로 연장되는 복수의 제1 도전성 세선과,
    상기 제1 도전성 세선과 동일층 상에 형성되며, 상기 제1 방향과 각도를 이루는 제2 방향으로 연장되는 복수의 제2 도전성 세선과,
    제1 폭의 제1 띠 형상 영역에 배치되고, 또한, 적어도 상기 제2 방향으로 서로 어긋난 2개의 상기 제1 도전성 세선을 포함하는 제1 그룹과,
    제2 폭의 제2 띠 형상 영역에 배치되고, 또한, 적어도 상기 제1 방향으로 서로 어긋난 2개의 상기 제2 도전성 세선을 포함하는 제2 그룹을 구비하고,
    상기 제1 띠 형상 영역과 상기 제2 띠 형상 영역의 교차 영역에서는, 상기 제1 도전성 세선과 상기 제2 도전성 세선이 접하는 검출 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제1 띠 형상 영역과 상기 제2 띠 형상 영역의 교차 영역에 있어서, 상기 제1 도전성 세선과 상기 제2 도전성 세선이 접하는 접속부가 2개 있는 검출 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 제1 도전성 세선과 상기 제2 도전성 세선이 접하는 복수의 접속부를 갖고, 2개의 접속부 간에 있는 상기 제1 도전성 세선 또는 상기 제2 도전성 세선에는 슬릿이 있는 검출 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 제1 도전성 세선과 상기 제2 도전성 세선이 둘러싸는 1개의 메쉬가 평행사변형인 검출 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 제1 띠 형상 영역을 폭 방향으로 이등분하는 직선을 제1 기준선이라 하고, 상기 제2 띠 형상 영역을 폭 방향으로 이등분하는 직선을 제2 기준선이라 하였을 때,
    상기 제1 도전성 세선의 길이는, 인접하는 상기 제2 기준선 간의 길이의 2배와 상기 제2 띠 형상 영역의 제2 폭의 차 이상이며, 또한 인접하는 상기 제2 기준선 간의 길이의 2배와 상기 제2 띠 형상 영역의 제2 폭의 합 이하이고,
    상기 제2 도전성 세선의 길이는, 인접하는 상기 제1 기준선 간의 길이의 2배와 상기 제1 띠 형상 영역의 제1 폭의 차 이상이며, 또한 인접하는 상기 제1 기준선 간의 길이의 2배와 상기 제1 띠 형상 영역의 제1 폭의 합 이하인 검출 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 제1 도전성 세선은, 제1 폭의 제1 주 띠 형상 영역에 배치되는 제1 주 세선과, 제1 폭의 제1 보조 띠 형상 영역에 배치되는 제1 보조 세선을 포함하고,
    상기 제2 도전성 세선은, 제2 폭의 제2 주 띠 형상 영역에 배치되는 제2 주 세선과, 제2 폭의 제2 보조 띠 형상 영역에 배치되는 제2 보조 세선을 포함하고,
    1개의 상기 제1 주 세선은, 2개의 상기 제2 주 세선과, 2개의 상기 제2 보조 세선에 접하고,
    1개의 상기 제1 보조 세선은, 2개의 상기 제2 주 세선에 접하고,
    1개의 상기 제2 주 세선은, 1개의 상기 제1 주 세선과, 1개의 상기 제1 보조 세선에 접하고,
    1개의 상기 제2 보조 세선은, 2개의 상기 제1 주 세선에 접하는 검출 장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 제1 도전성 세선과 동일층 상에 형성되며, 상기 제1 방향 및 상기 제2 방향과 각도를 이루는 제3 방향으로 연장되는 복수의 제3 도전성 세선과,
    제3 폭의 제3 띠 형상 영역에 배치되고, 또한, 적어도 상기 제3 방향에 대하여 직교하는 방향으로 서로 어긋난 2개의 상기 제3 도전성 세선을 포함하는 제3 그룹을 구비하고,
    상기 제1 띠 형상 영역과 상기 제2 띠 형상 영역과 상기 제3 띠 형상 영역의 교차 영역에서는, 상기 제1 도전성 세선과 상기 제2 도전성 세선과 상기 제3 도전성 세선이 접하는 검출 장치.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 제1 띠 형상 영역은, 제1 띠 형상 영역을 상기 제2 방향으로 이등분하는 제1 기준선에 의해 분리된 제1 우측 영역과, 제1 좌측 영역을 포함하고,
    1개의 상기 제1 띠 형상 영역에 있어서, 상기 제1 우측 영역에 배치되는 상기 제1 도전성 세선과, 상기 제1 좌측 영역에 배치되는 상기 제1 도전성 세선이 상기 제1 방향을 따라서 교대로 배열되고,
    상기 제2 띠 형상 영역은, 제2 띠 형상 영역을 상기 제1 방향으로 이등분하는 제2 기준선에 의해 분리된 제2 우측 영역과, 제2 좌측 영역을 포함하고,
    1개의 상기 제2 띠 형상 영역에 있어서, 상기 제2 우측 영역에 배치되는 상기 제2 도전성 세선과, 상기 제2 좌측 영역에 배치되는 상기 제2 도전성 세선이 상기 제2 방향을 따라서 교대로 배열되는 검출 장치.
  9. 검출 장치와,
    표시 영역을 구비하고,
    상기 검출 장치는,
    기판과,
    상기 기판과 평행인 면 상에 형성되며, 제1 방향으로 연장되는 복수의 제1 도전성 세선과,
    상기 제1 도전성 세선과 동일층 상에 형성되며, 상기 제1 방향과 각도를 이루는 제2 방향으로 연장되는 복수의 제2 도전성 세선과,
    제1 폭의 제1 띠 형상 영역에 배치되고, 또한, 적어도 상기 제2 방향으로 서로 어긋난 2개의 상기 제1 도전성 세선을 포함하는 제1 그룹과,
    제2 폭의 제2 띠 형상 영역에 배치되고, 또한, 적어도 상기 제1 방향으로 서로 어긋난 2개의 상기 제2 도전성 세선을 포함하는 제2 그룹을 구비하고,
    상기 제1 띠 형상 영역과 상기 제2 띠 형상 영역의 교차 영역에서는, 상기 제1 도전성 세선과 상기 제2 도전성 세선이 접하고, 상기 표시 영역과 중첩되는 영역에, 상기 제1 도전성 세선과 상기 제2 도전성 세선이 형성되는 표시 장치.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 제1 띠 형상 영역과 상기 제2 띠 형상 영역의 교차 영역에 있어서, 상기 제1 도전성 세선과 상기 제2 도전성 세선이 접하는 접속부가 2개 있는 표시 장치.
  11. 제9항에 있어서,
    상기 제1 도전성 세선과 상기 제2 도전성 세선이 접하는 복수의 접속부를 갖고, 2개의 접속부 간에 있는 상기 제1 도전성 세선 또는 상기 제2 도전성 세선에는 슬릿이 있는 표시 장치.
  12. 제9항에 있어서,
    상기 제1 도전성 세선과 상기 제2 도전성 세선이 둘러싸는 1개의 메쉬가 평행사변형인 표시 장치.
  13. 제9항에 있어서,
    상기 제1 띠 형상 영역을 폭 방향으로 이등분하는 직선을 제1 기준선이라 하고, 상기 제2 띠 형상 영역을 폭 방향으로 이등분하는 직선을 제2 기준선이라 하였을 때,
    상기 제1 도전성 세선의 길이는, 인접하는 상기 제2 기준선 간의 길이의 2배와 상기 제2 띠 형상 영역의 제2 폭의 차 이상이며, 또한 인접하는 상기 제2 기준선 간의 길이의 2배와 상기 제2 띠 형상 영역의 제2 폭의 합 이하이고,
    상기 제2 도전성 세선의 길이는, 인접하는 상기 제1 기준선 간의 길이의 2배와 상기 제1 띠 형상 영역의 제1 폭의 차 이상이며, 또한 인접하는 상기 제1 기준선 간의 길이의 2배와 상기 제1 띠 형상 영역의 제1 폭의 합 이하인 표시 장치.
  14. 제9항에 있어서,
    상기 제1 도전성 세선은, 제1 폭의 제1 주 띠 형상 영역에 배치되는 제1 주 세선과, 제1 폭의 제1 보조 띠 형상 영역에 배치되는 제1 보조 세선을 포함하고,
    상기 제2 도전성 세선은, 제2 폭의 제2 주 띠 형상 영역에 배치되는 제2 주 세선과, 제2 폭의 제2 보조 띠 형상 영역에 배치되는 제2 보조 세선을 포함하고,
    1개의 상기 제1 주 세선은, 2개의 상기 제2 주 세선과, 2개의 상기 제2 보조 세선에 접하고,
    1개의 상기 제1 보조 세선은, 2개의 상기 제2 주 세선에 접하고,
    1개의 상기 제2 주 세선은, 1개의 상기 제1 주 세선과, 1개의 상기 제1 보조 세선에 접하고,
    1개의 상기 제2 보조 세선은, 2개의 상기 제1 주 세선에 접하는 표시 장치.
  15. 제9항에 있어서,
    상기 제1 도전성 세선과 동일층 상에 형성되며, 상기 제1 방향 및 상기 제2 방향과 각도를 이루는 제3 방향으로 연장되는 복수의 제3 도전성 세선과,
    제3 폭의 제3 띠 형상 영역에 배치되고, 또한, 적어도 상기 제3 방향에 대하여 직교하는 방향으로 서로 어긋난 2개의 상기 제3 도전성 세선을 포함하는 제3 그룹을 구비하고,
    상기 제1 띠 형상 영역과 상기 제2 띠 형상 영역과 상기 제3 띠 형상 영역의 교차 영역에서는, 상기 제1 도전성 세선과 상기 제2 도전성 세선과 상기 제3 도전성 세선이 접하는 표시 장치.
  16. 제9항에 있어서,
    상기 제1 띠 형상 영역은, 제1 띠 형상 영역을 상기 제2 방향으로 이등분하는 제1 기준선에 의해 분리된 제1 우측 영역과, 제1 좌측 영역을 포함하고,
    1개의 상기 제1 띠 형상 영역에 있어서, 상기 제1 우측 영역에 배치되는 상기 제1 도전성 세선과, 상기 제1 좌측 영역에 배치되는 상기 제1 도전성 세선이 상기 제1 방향을 따라서 교대로 배열되고,
    상기 제2 띠 형상 영역은, 제2 띠 형상 영역을 상기 제1 방향으로 이등분하는 제2 기준선에 의해 분리된 제2 우측 영역과, 제2 좌측 영역을 포함하고,
    1개의 상기 제2 띠 형상 영역에 있어서, 상기 제2 우측 영역에 배치되는 상기 제2 도전성 세선과, 상기 제2 좌측 영역에 배치되는 상기 제2 도전성 세선이 상기 제2 방향을 따라서 교대로 배열되는 표시 장치.
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