TWI616842B - 用於3d掃描之轉盤周邊設備 - Google Patents

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馬修 列克
丹尼爾 J. 凱瑟
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Abstract

實例係關於一種用於三維(3D)掃描之轉盤周邊設備。在一些實例中，在由該轉盤周邊設備旋轉一真實世界物件時獲得該物件之3D掃描資料。將定位命令發送至該轉盤周邊設備以旋轉該物件。在該轉盤周邊設備位於一非傾斜及/或傾斜位置中時收集該3D掃描資料。

Description

用於3D掃描之轉盤周邊設備
本發明係有關於用於3D掃描之轉盤周邊設備。
一物件之三維(3D)模型具有許多用途。3D模型可用於多種應用中，該等應用包括但不限於電影及視訊遊戲資產、醫療矯正術及彌補術、工業設計等等。
依據本發明之一實施例，係特地提出一種轉盤周邊設備，其包含：一底部部分，其具有一下部表面以擱置於一三維(3D)掃描裝置之下的一掃描表面上；一頂部部分，其具有一上部表面，一物件在由該3D掃描裝置進行之一3D掃描期間擱置於該上部表面上；一旋轉機構，其用於根據定位命令而在該3D掃描期間使該頂部部分與該物件一起旋轉，其中該旋轉機構在該頂部部分旋轉時位於一傾斜位置中；及一介面，其用以在該3D掃描期間自一計算裝置接收該等定位命令。
可使用捕捉系統以數位地捕捉與真實世界物件之形狀及外觀相關的資料。可接著使用經捕捉資料以建構物件之三維(3D)模型。可使用不同技術以收集與真實世界物件之形狀相關的資料，諸如接觸式掃描器、飛行時間雷射掃描器、三角量測雷射掃描器、結構化光掃描器等等。舉例而言，可使用手持式裝置以藉由在手持式裝置被重新定位時進行距離量測而收集形狀資料。在此實例中，手持式裝置使用內部座標系統來追蹤其位置，內部座標系統用以參考距離量測。
本文中之實例描述促進3D掃描之轉盤周邊設備。3D捕捉技術允許使用者將物件置放於表面上且掃描物件以自所有側建立完整3D模型。所產生之模型為具有紋理之3D網狀結構，且掃描程序涉及自變化的定向漸進地掃描物件以及將此等掃描拼接在一起以建立單一完整模型。轉盤周邊設備在3D掃描期間旋轉物件，其中捕捉及對準增量掃描以擬合及延伸現有模型。
現在參看圖式，圖1為用於3D掃描之實例轉盤周邊設備100的方塊圖。轉盤周邊設備100可為可與具有3D掃描能力之計算裝置通訊的任何周邊裝置(例如，通用串列匯流排(USB)周邊設備、無線周邊設備等等)。在圖1之實施例中，計算裝置200包括控制器110、旋轉機構112、介面115、頂部部分118，及底部部分120。
控制器110可為一或多個中央處理單元(CPU)、微處理器，及/或適合於擷取及執行儲存於韌體或某一其他非暫時性機器可讀儲存媒體中之指令的其他硬體裝置。控制器110可使用介面以處理用於控制旋轉機構112之命令。替代擷取及執行指令或除了擷取及執行指令以外，控制器110亦可包括包含數個電子組件之一或多個電子電路以用於進行下文所描述之功能性。
介面115可包括數個電子組件以用於與計算裝置通訊。舉例而言，介面115可為乙太網路介面、通用串列匯流排(USB)介面、IEEE 1394 (FireWire)介面、外部串列進階技術附接(eSATA)介面，或適合於與掃描裝置通訊之任何其他實體連接介面。替代地，介面115可為無線介面，諸如無線區域網路(WLAN)介面或近場通訊(NFC)介面。如下文所詳述，在操作中，介面115可用以將資料發送至計算裝置之對應介面及自計算裝置之對應介面接收資料。
旋轉機構112可貼附至頂部部分118，且包括用於在3D掃描期間旋轉頂部部分118之組件。舉例而言，旋轉機構112可包括附接至頂部部分118之旋轉軸件。在此實例中，旋轉軸件可運用由電源供電之馬達而旋轉。電源可經由介面115 (亦即，USB介面)而連接，或在無線轉盤周邊設備100之狀況下為電池(未圖示)。旋轉機構112亦可經組配以修改經掃描物件之傾角。
頂部部分118可定位於轉盤周邊設備100之頂部處且具有上部表面(未圖示)以用於固持物件。上部表面可防滑，使得物件在頂部部分118被重新定位時保持靜止。舉例而言，轉盤周邊設備100可為具有在底部部分120上旋轉之頂部部分118的圓柱形基座，其充當基底。底部部分120之下部表面擱置於掃描表面上。
圖2為經由網路245而與掃描裝置250通訊之實例計算裝置200的方塊圖。如圖2所說明及下文所描述，計算裝置200可與掃描裝置250通訊以捕捉及處理3D掃描資料。計算裝置200亦與諸如圖1之轉盤周邊設備100的轉盤周邊設備通訊。
如所說明，計算裝置200可包括數個模組202至214，而掃描裝置250可包括數個模組252至254。該等模組中之每一者可包括編碼於非暫時性機器可讀儲存媒體上且可由各別裝置200、250之處理器執行的一系列指令。另外或作為替代方案，每一模組可包括一或多個硬體裝置，其包括用於實施下文所描述之功能性的電子電路系統。
計算裝置200可為智慧型電話、筆記型電腦、桌上型電腦、平板電腦、工作站、行動裝置，或適合於執行下文所描述之功能性的任何其他裝置。如下文所詳述，計算裝置200可包括一系列模組202至214以用於使能夠捕捉及處理3D掃描資料。
掃描介面202可管理與掃描裝置250之通訊。具體言之，掃描介面202可起始與掃描裝置250之連接且接著將掃描資料發送至掃描裝置250或自掃描裝置250接收掃描資料。
投影儀203將視覺提示投影於真實世界物件上及周圍。舉例而言，投影儀203可包括發光二極體(LED)以用於在掃描循環期間提供視覺提示(亦即，經掃描定向、下一掃描循環定向等等)。掃描UI模組210可在掃描程序期間使用投影儀203以指示使用者定位轉盤周邊設備100及/或真實世界物件以供掃描。
3D模型化模組204可處理掃描裝置250之掃描資料以產生3D模型。3D模型化模組204之3D資料掃描模組206獲得及處理來自掃描裝置250之掃描資料。隨著真實世界物件由轉盤周邊設備100重新定位，3D資料掃描模組206可指導掃描裝置250進行掃描循環。一掃描循環包括數個掃描遍次(scan pass)，該數個掃描遍次中之每一者在物件位於一不同位置中時被採取且可經組合以針對物件建立形狀及外觀資料之完整3D集合。舉例而言，為了以3D形式掃描物件，掃描裝置250可以一系列圖案之形式將結構化可見光及/或結構化紅外光投影於物件上且捕捉及分析經反射光。接著使用物件上之結構化光圖案之失真以計算物件之形狀、深度及紋理。掃描裝置250亦可捕捉物件之影像以作為表面紋理而應用於所產生之模型。
3D資料掃描模組206亦可使用掃描裝置250以進行背景掃描。背景掃描允許物件與背景(例如，掃描表面、轉盤周邊設備100等等)區分。可在將物件置放於掃描表面上之前進行背景掃描。此背景掃描亦可包括多次掃描，其中轉盤周邊設備100自動地旋轉至傾斜及非傾斜位置。
3D資料掃描模組206亦可使用掃描裝置250以進行預掃描。在預掃描期間，掃描裝置250在轉盤周邊設備100將物件旋轉360度時快速地掃描物件。快速掃描用以獲得初步掃描資料以用於建立初步物件模型，其允許使用者檢閱物件之總體形狀且觀測掃描程序如何漸進地添加細節。
拼接模組208基於由3D資料掃描模組206獲得之掃描資料而建立3D模型。具體言之，拼接模組208可將3D掃描資料之掃描遍次拼接在一起以建立真實世界物件之完整3D模型。每一掃描遍次可隨著其由3D資料掃描模組206獲得而由拼接模組208拼接至先前掃描遍次。舉例而言，掃描遍次可經分析以識別物件之獨特特徵以用於在適當點處覆疊掃描遍次。在拼接所有掃描遍次之後，建立真實世界物件之完整3D模型。
掃描UI模組210呈現用於進行真實世界物件之3D掃描的使用者介面(亦即，3D掃描應用之使用者介面)。掃描UI模組210之定位模組212可使用投影儀203以隨著物件由轉盤周邊設備100重新定位以供掃描而提供視覺提示。在3D資料掃描模組206進行預掃描之後，定位模組212可直接地將視覺提示提供於物件、轉盤周邊設備100及環繞其之掃描表面上。舉例而言，視覺提示可如下文關於圖5所描述。視覺提示可隨著進行掃描遍次而由定位模組212更新。舉例而言，可在掃描表面上識別已完成掃描遍次，且亦可展示物件在轉盤周邊設備100上之當前位置。
即時模型模組214可在進行掃描的同時產生物件之即時表示(例如，來自攝影機之影像串流)。隨著完成每一掃描遍次且更新模型，可更新即時表示以在使用者介面中反映來自掃描遍次之新細節。即時模型亦可允許使用者在使用者介面中重新定位模型，使得可檢查模型之所有側。
掃描裝置250可為計算裝置200之周邊設備或積體組件。掃描裝置250為適合於捕捉3D資料之任何裝置，諸如結構化光攝影機裝置、雷射掃描器等等。如下文所詳述，掃描裝置250可包括一系列模組252至254以用於捕捉3D資料。
在圖2中，掃描裝置250包括攝影機252以用於捕捉結構化光。舉例而言，攝影機252可包括標準攝影機與紅外線攝影機之組合，其中標準攝影機用以捕捉物件之表面上的紋理化且紅外線攝影機用以捕捉形狀資料。紅外線攝影機可分析投影於物件之表面上的結構化紅外光(例如，星場等等)之圖案以獲得形狀資料。在此狀況下，結構化紅外光可由3D資料啟用器254投影。
圖3為供計算裝置200執行以用於捕捉及處理3D掃描資料之實例方法300的流程圖。儘管下文參考圖1之轉盤周邊設備100及圖2之計算裝置200而描述方法300之執行，但可使用用於執行方法300之其他合適裝置。方法300可以儲存於非暫時性機器可讀儲存媒體(諸如機器可讀儲存媒體120)上之可執行指令之形式及/或以電子電路系統之形式予以實施。
圖3為供配備有用於3D掃描之轉盤周邊設備100之計算裝置200執行之實例方法300的流程圖。儘管下文參考圖2之計算裝置200及圖1之周邊設備裝置100而描述方法300之執行，但可使用用於執行方法300之其他合適裝置。方法300可以儲存於非暫時性機器可讀儲存媒體(諸如機器可讀儲存媒體120)上之可執行指令之形式及/或以電子電路系統之形式予以實施。
方法300可在區塊302中開始且繼續至區塊304，其中計算裝置200導引使用者將轉盤周邊設備100定位於掃描表面上。舉例而言，計算裝置200可將用於轉盤周邊設備100之位置的視覺提示投影於掃描表面上。在區塊306中，計算裝置200導引使用者將真實世界物件置放於轉盤周邊設備100上。舉例而言，計算裝置200可將識別用於物件之位置及定向的另一視覺提示投影於轉盤周邊設備100之上部表面上。
在區塊308中，計算裝置200進行物件之預掃描以產生初步模型。在區塊310中，計算裝置200自使用者獲得掃描參數。舉例而言，使用者可指定具有與經掃描物件之形狀相似之形狀的參考物件。
在區塊312中，計算裝置200針對物件之當前位置進行掃描遍次。隨著進行掃描遍次，將掃描遍次拼接至初步模型中以改良其細節。在區塊314中，計算裝置200判定是否存在更多掃描遍次以供進行(亦即，掃描循環是否完成)。若存在更多掃描遍次以供進行，則在區塊316中，計算裝置200導引使用轉盤周邊設備100以旋轉物件。在旋轉物件之後，方法300返回至區塊312，其中計算裝置200進行下一掃描遍次。
若不存在更多掃描遍次以供進行，則在區塊318中，計算裝置200判定是否應進行額外掃描循環。舉例而言，可針對物件之不同定向(亦即，傾角)進行多次掃描循環。若存在額外掃描循環以供進行，則在區塊320中，計算裝置200使用轉盤周邊設備100以改變物件之傾角。在轉盤周邊設備100上改變物件之傾角之後，方法300返回至區塊312以起始第二掃描循環。
若使用者對3D模型滿意，則在區塊322中，計算裝置200清理3D模型。舉例而言，計算裝置200可移除偽影且完成3D模型之拼接。方法300可隨後繼續進行至區塊324，其中方法300可停止。
圖4A為實例轉盤周邊設備400之圖形表示。如所展示，轉盤周邊設備400具有頂部部分402及底部部分404。頂部部分402具有上部表面406。物件可置放於上部表面406上以供3D掃描。隨著進行3D掃描，頂部部分402可在掃描循環期間旋轉物件。以此方式，物件之不同透視圖可用以針對掃描循環之每一掃描遍次收集3D掃描資料。
圖4B為位於傾斜位置中之實例轉盤周邊設備400之圖形表示。相似於圖4A，轉盤周邊設備400具有頂部部分402及底部部分404。在圖4B中，頂部部分402傾斜使得物件在掃描循環期間在上部表面406上傾斜。因為物件傾斜，所以物件之額外透視圖可用以收集3D掃描資料以進一步增強3D模型。
在一些狀況下，穩定化元件可與轉盤周邊設備400一起使用以在掃描循環期間使物件在上部表面406上保持靜止。穩定化元件之實例包括但不限於磁體、黏接性油灰等等。在其他狀況下，定位元件可與轉盤周邊設備400一起使用以改變物件在上部表面406上之位置。舉例而言，楔狀物可用以在掃描循環期間在所要定向上輔助支撐物件。
圖5為用於在3D資料捕捉期間提供視覺提示之實例使用者介面500的圖解。可將使用者介面500投影至掃描表面上以展示掃描循環在3D資料捕捉期間之進度。如所描繪，使用者介面500展示物件在掃描循環之掃描遍次期間的定向，其包括：物件位置502；已完成掃描遍次504A、504B、504C、504D；下一掃描遍次506；及未來掃描遍次508A、508B、508C。
物件位置502展示經掃描物件之位置及方向。隨著物件由轉盤周邊設備100移動，物件位置502可被即時地更新。當掃描遍次完成時，使用者介面500經更新以展示已完成遍次504A至504D。如所展示，掃描遍次504D剛剛已完成，且轉盤周邊設備100將要針對下一掃描遍次506重新定位物件。當下一掃描遍次506及未來掃描遍次508A至508C完成時，掃描循環完成。在此階段，可判定使用者是否對3D模型滿意。
前述揭示內容描述用於3D掃描之轉盤周邊設備之數個實例。以此方式，本文中所揭示之實例藉由在3D掃描期間自動地重新定位物件而使能夠進行3D資料捕捉。
100、400‧‧‧轉盤周邊設備
110‧‧‧控制器
112‧‧‧旋轉機構
115‧‧‧介面
118、402‧‧‧頂部部分
120、404‧‧‧底部部分
200‧‧‧計算裝置
202‧‧‧模組/掃描介面
203‧‧‧模組/投影儀
204‧‧‧三維(3D)模型化模組
206‧‧‧三維(3D)資料掃描模組
208‧‧‧拼接模組
210‧‧‧掃描使用者介面(UI)模組
212‧‧‧定位模組
214‧‧‧即時模型模組
250‧‧‧掃描裝置
252‧‧‧模組/攝影機
254‧‧‧模組/三維(3D)資料啟用器
300‧‧‧方法
302、304、306、308、310、312、314、316、318、320、322、324‧‧‧區塊
406‧‧‧上部表面
500‧‧‧使用者介面
502‧‧‧物件位置
504A、504B、504C、504D‧‧‧已完成掃描遍次
506‧‧‧下一掃描遍次
508A、508B、508C‧‧‧未來掃描遍次
以下詳細描述參考圖式，其中：
圖1為用於3D掃描之實例轉盤周邊設備的方塊圖；
圖2為與掃描裝置通訊以用於捕捉及處理3D掃描資料之實例計算裝置的方塊圖；
圖3為供配備有用於3D掃描之轉盤周邊設備之計算裝置執行之實例方法的流程圖；
圖4A為實例轉盤周邊設備之圖形表示；
圖4B為位於傾斜位置中之實例轉盤周邊設備之圖形表示；且
圖5為用於在3D掃描期間提供視覺提示之實例使用者介面的圖解。

Claims (14)

  1. 一種轉盤周邊設備，其包含：一底部部分，其具有一下部表面以擱置於一三維(3D)掃描裝置之下的一掃描表面上；一頂部部分，其具有一上部表面，供一物件在由該3D掃描裝置進行之一3D掃描期間擱置於該上部表面上；一旋轉機構，其用於根據定位命令而在該3D掃描期間使該頂部部分與該物件一起旋轉，其中該旋轉機構在該頂部部分旋轉時位於一傾斜位置中；及一介面，其用以在該3D掃描期間自一運算裝置接收該等定位命令。
  2. 如請求項1之轉盤周邊設備，其中該物件在一非傾斜位置中旋轉經歷一第一掃描循環且在該傾斜位置中旋轉經歷一第二掃描循環。
  3. 如請求項2之轉盤周邊設備，其中該物件在該物件之一預掃描期間旋轉。
  4. 如請求項1之轉盤周邊設備，其中該轉盤周邊設備基於由一投影機投影之一視覺提示而定位於該掃描表面上。
  5. 如請求項1之轉盤周邊設備，其中該轉盤周邊設備進一步包含置放於該上部表面上以在該頂部部分旋轉時穩定化該物件之複數個穩定化元件。
  6. 一種用以使用轉盤周邊設備用於三維(3D)掃描之方法，該方法包含：進行物件之複數個掃描遍次以獲得3D掃描資料； 將複數個定位命令發送至該轉盤周邊設備，其中該物件在該複數個掃描遍次期間由該轉盤周邊設備於一傾斜及非傾斜位置中旋轉；使用一投影機以於該物件旋轉時投影與該物件之一位置相關的一視覺提示；及使用該3D掃描資料以產生該物件之一3D模型，其中該3D模型之一即時表示隨著該複數個3D掃描遍次中之每一者併入至該3D模型中而展示於一使用者介面上。
  7. 如請求項6之方法，其進一步包含：將一轉盤視覺提示提供於一掃描表面上，其中該轉盤周邊設備基於該轉盤視覺提示而定位於該掃描表面上。
  8. 如請求項7之方法，其進一步包含：將一物件視覺提示提供於該轉盤周邊設備上，其中該物件基於該物件視覺提示而定位於該轉盤周邊設備上。
  9. 如請求項6之方法，其進一步包含：基於一物件之一預掃描而產生一初步模型，其中該物件在該預掃描期間由該轉盤周邊設備旋轉，且其中該複數個掃描遍次被併入至該初步模型中以產生該3D模型。
  10. 如請求項6之方法，其進一步包含：指導一使用者將複數個穩定化元件置放於該轉盤周邊設備上以穩定化該物件。
  11. 一種非暫時性機器可讀儲存媒體，其編碼有可由一處理器執行用以使用一轉盤周邊設備於三維(3D)掃描之指令，該機器可讀儲存媒體包含用以進行如下操作之指令： 基於一物件之一預掃描而產生一初步模型，其中該物件在該預掃描期間由該轉盤周邊設備旋轉；進行該物件之複數個掃描遍次以獲得3D掃描資料；將複數個定位命令發送至該轉盤周邊設備，其中該物件在該複數個掃描遍次期間由該轉盤周邊設備於一傾斜及非傾斜位置中旋轉；使用一投影機以於該物件旋轉時投影與該物件之一位置相關的一視覺提示；及使用該3D掃描資料以基於該初步模型而產生該物件之一3D模型，其中該3D模型之一即時表示隨著該複數個3D掃描遍次中之每一者併入至該初步3D模型中而展示於一使用者介面上。
  12. 如請求項11之非暫時性機器可讀儲存媒體，該等指令進一步用以進行如下操作：將一轉盤視覺提示提供於一掃描表面上，其中該轉盤周邊設備基於該轉盤視覺提示而定位於該掃描表面上。
  13. 如請求項12之非暫時性機器可讀儲存媒體，該等指令進一步用以進行如下操作：將一物件視覺提示提供於該轉盤周邊設備上，其中該物件基於該物件視覺提示而定位於該轉盤周邊設備上。
  14. 如請求項11之非暫時性機器可讀儲存媒體，該等指令進一步用以進行如下操作：指導一使用者將複數個穩定化元件置放於該轉盤周邊設備上以穩定化該物件。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9852543B2 (en) 2015-03-27 2017-12-26 Snap Inc. Automated three dimensional model generation
CN108520462B (zh) * 2018-03-30 2020-07-24 阿里巴巴集团控股有限公司 基于区块链的业务执行方法及装置、电子设备
CN108876401B (zh) 2018-05-29 2022-03-01 创新先进技术有限公司 基于区块链的商品理赔方法及装置、电子设备
CN110702029A (zh) * 2019-09-27 2020-01-17 广东工业大学 一种基于qt图形界面的三维形貌测量机控制方法
KR102611537B1 (ko) * 2021-06-04 2023-12-08 한국전자통신연구원 초고품질의 디지털 데이터 생성 방법 및 장치

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20060188143A1 (en) * 2002-07-10 2006-08-24 Marek Strassenburg-Kleciak Scanning system for three-dimensional objects
TW201329509A (zh) * 2012-01-10 2013-07-16 Walsin Lihwa Corp 立體掃瞄裝置及其立體掃瞄方法
CN103236076A (zh) * 2013-04-11 2013-08-07 武汉大学 基于激光影像的物体三维模型重建系统及方法
CN104424662A (zh) * 2013-08-23 2015-03-18 三纬国际立体列印科技股份有限公司 立体扫描装置

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB9515311D0 (en) 1995-07-26 1995-09-20 3D Scanners Ltd Stripe scanners and methods of scanning
US5838428A (en) * 1997-02-28 1998-11-17 United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy System and method for high resolution range imaging with split light source and pattern mask
US6353222B1 (en) * 1998-09-03 2002-03-05 Applied Materials, Inc. Determining defect depth and contour information in wafer structures using multiple SEM images
JP2002098521A (ja) 2000-09-26 2002-04-05 Minolta Co Ltd ３次元形状データ生成装置
KR100382905B1 (ko) 2000-10-07 2003-05-09 주식회사 케이씨아이 치아 컴퓨터 모델링용 삼차원 스캐너 시스템
KR100672819B1 (ko) 2004-06-24 2007-01-22 주식회사 케이씨아이 삼차원 스캐닝 시스템용 구동장치 및 이를 이용한 치아컴퓨터 모델링용 삼차원 스캐닝 시스템
JP2006068903A (ja) * 2004-08-31 2006-03-16 Hitachi Koki Co Ltd 卓上切断機
US7478601B2 (en) * 2005-02-16 2009-01-20 Dean Stoops Robotic turntable
US7305120B2 (en) 2005-04-28 2007-12-04 Benq Corporation Optimized method of scanning and measuring a three-dimensional object
EP2527784A1 (de) * 2011-05-19 2012-11-28 Hexagon Technology Center GmbH Optisches Messverfahren und Messsystem zum Bestimmen von 3D-Koordinaten auf einer Messobjekt-Oberfläche
US8849620B2 (en) 2011-11-18 2014-09-30 Nike, Inc. Automated 3-D modeling of shoe parts
CN202372154U (zh) * 2011-12-13 2012-08-08 深圳市爱尔创科技有限公司 齿科三维模型扫描仪
KR20130103060A (ko) * 2012-03-09 2013-09-23 삼성전기주식회사 3차원 측정 장치 및 방법
KR101410452B1 (ko) 2012-05-31 2014-06-25 주식회사 메디트 3차원 스캐닝 장치
KR101358631B1 (ko) 2012-06-01 2014-02-04 주식회사 디오에프연구소 카메라와 프로젝터가 스테이지 수평 회전축 회전유동부와 결합된 2축 모션부를 갖춘 치과용 데스크탑 3차원 스캐너
KR101468933B1 (ko) * 2012-12-17 2014-12-10 주식회사 아이엠씨인터랙티브 소형 턴테이블을 구비한 3차원 이미지 획득용 촬영시스템
KR101477185B1 (ko) * 2013-03-21 2014-12-29 부산대학교 산학협력단 3차원 스캐너 플랫폼 및 이를 구비한 3차원 스캔장치
JP2015087295A (ja) * 2013-10-31 2015-05-07 株式会社Ihi 形状検査装置及び形状検査方法
US20150138320A1 (en) * 2013-11-21 2015-05-21 Antoine El Daher High Accuracy Automated 3D Scanner With Efficient Scanning Pattern
KR102053241B1 (ko) 2018-12-11 2020-01-08 엘지이노텍 주식회사 터치 패널 및 이의 제조방법

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20060188143A1 (en) * 2002-07-10 2006-08-24 Marek Strassenburg-Kleciak Scanning system for three-dimensional objects
TW201329509A (zh) * 2012-01-10 2013-07-16 Walsin Lihwa Corp 立體掃瞄裝置及其立體掃瞄方法
CN103236076A (zh) * 2013-04-11 2013-08-07 武汉大学 基于激光影像的物体三维模型重建系统及方法
CN104424662A (zh) * 2013-08-23 2015-03-18 三纬国际立体列印科技股份有限公司 立体扫描装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP3329211A4 (en) 2019-03-06
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