TWI609300B - 附觸控檢測功能之顯示裝置及包括附觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器 - Google Patents

附觸控檢測功能之顯示裝置及包括附觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器 Download PDF

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TWI609300B
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倉澤隼人
石崎剛司
小糸健夫
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日本顯示器股份有限公司
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    • G06F2203/04112—Electrode mesh in capacitive digitiser: electrode for touch sensing is formed of a mesh of very fine, normally metallic, interconnected lines that are almost invisible to see. This provides a quite large but transparent electrode surface, without need for ITO or similar transparent conductive material
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Description

附觸控檢測功能之顯示裝置及包括附觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器
本發明係關於一種可檢測外部接近物體之顯示裝置及電子機器，特別係關於一種可基於靜電電容之變化而檢測外部接近物體之附觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器。
近年來，被稱為所謂觸控面板之可檢測外部接近物體之觸控檢測裝置受到關注。觸控面板安裝或一體化於液晶顯示裝置等顯示裝置上，且用於附觸控檢測功能之顯示裝置。而且，附觸控檢測功能之顯示裝置藉由使顯示裝置顯示各種按鈕圖像等，而可將觸控面板作為普通之機械式按鈕之替代物進行資訊輸入。具有此種觸控面板之附觸控檢測功能之顯示裝置因無需如鍵盤或滑鼠、數字小鍵盤之輸入裝置，故有除電腦以外，甚至於如行動電話般之個人數位助理等中廣泛使用之傾向。
作為觸控檢測裝置之方式，存在光學式、電阻式、靜電電容式等多種方式。若將靜電電容式觸控檢測裝置用於個人數位助理等，則可實現具有相對簡單之構造且低消耗電力之機器。例如，專利文獻1中記載有實施透光性電極圖案之不可視化對策之觸控面板。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本專利特開2010-197576號公報
進而，於附觸控檢測功能之顯示裝置中，為了薄型化、大畫面化或高精細化而要求觸控檢測電極之低電阻化。觸控檢測電極使用ITO(Indium Tin Oxide，氧化銦錫)等透光性導電氧化物作為透光性電極之材料。為了使觸控檢測電極為低電阻，有效的是使用金屬材料等導電性材料。然而，若使用金屬材料等導電性材料，則有因顯示裝置之像素與金屬材料等導電性材料之干涉而目視到水波紋(moire)之可能性。
本揭示係鑒於上述問題而完成者，其目的在於提供一種可使用金屬材料等導電性材料之觸控檢測電極，並且可降低目視到水波紋之可能性之附觸控檢測功能之顯示裝置。
本揭示之附觸控檢測功能之顯示裝置之特徵在於包括：基板；顯示區域，其於與上述基板之表面平行之面呈矩陣狀配置包含複數個顏色區域之像素；觸控檢測電極，其包含沿與上述基板之表面平行之面延伸的導電性細線，該導電性細線包含複數個具有第1端部及第2端部之直線狀之細線片，且相鄰之細線片連接一細線片之第2端部與另一細線片之第1端部；驅動電極，其相對於上述觸控檢測電極具有靜電電容；及顯示功能層，其具有於上述顯示區域顯示圖像之功能；若將複數個上述顏色區域中人類之可見度為最高之顏色區域所排列之方向設為像素排列方向，將於與上述基板之表面平行之面上相對於上述像素排列方向正交之像素正交方向上之相當於1個上述像素之最大長度設為第1單位長度，將與上述像素排列方向平行之方向上之相當於1個上述像素之最大長度設為第2單位長度之情形時，上述導電性細線 中所包含之上述複數個細線片包含沿與上述像素排列方向不同之方向延伸之細線片，且該細線片之第2端部位於自第1端部朝向目標位置之方向，上述目標位置係於上述像素正交方向上與該細線片之第1端部相隔上述第1單位長度之N倍，且於上述像素排列方向上與上述細線片之第1端部相隔上述第2單位長度之M倍，上述N及上述M各為2以上之整數，上述N與上述M互不相同。
本揭示之電子機器係包括上述附觸控檢測功能之顯示裝置者。作為本揭示之電子機器，例如，電視裝置、數位相機、個人電腦、攝影機或行動電話等行動終端裝置等符合。
根據本揭示之附觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器，可使用金屬材料等導電性材料之觸控檢測電極，並且可降低目視到水波紋之可能性。
1‧‧‧附觸控檢測功能之顯示裝置
1H‧‧‧1顯示水平期間
2‧‧‧像素基板
3‧‧‧對向基板
6‧‧‧液晶層
10‧‧‧附觸控檢測功能之顯示部
11‧‧‧控制部
12‧‧‧閘極驅動器
13‧‧‧源極驅動器
14‧‧‧驅動電極驅動器
19A‧‧‧COG
19B‧‧‧COG
20‧‧‧液晶顯示部
21‧‧‧TFT基板
22‧‧‧像素電極
24‧‧‧絕緣層
30‧‧‧觸控檢測器件
31‧‧‧玻璃基板
32‧‧‧彩色濾光片
32R、32G、32B、32W‧‧‧顏色區域
35‧‧‧偏光板
40‧‧‧觸控檢測部
42‧‧‧觸控檢測信號放大部
43‧‧‧A/D轉換部
44‧‧‧信號處理部
45‧‧‧座標抽出部
46‧‧‧檢測時序控制部
510‧‧‧影像顯示畫面部
511‧‧‧前面板
512‧‧‧濾光玻璃
521‧‧‧閃光燈用之發光部
522‧‧‧顯示部
523‧‧‧選單開關
524‧‧‧快門按鈕
531‧‧‧本體部
532‧‧‧被攝體攝影用透鏡
533‧‧‧攝影時之開始/停止開關
534‧‧‧顯示部
541‧‧‧本體
542‧‧‧鍵盤
543‧‧‧顯示部
551‧‧‧上側殼體
552‧‧‧下側殼體
553‧‧‧連結部(鉸鏈部)
554‧‧‧顯示器
555‧‧‧次顯示器
556‧‧‧圖片燈
557‧‧‧相機
561‧‧‧殼體
562‧‧‧顯示部
A‧‧‧觸控檢測期間
Ad‧‧‧顯示區域
B‧‧‧顯示期間
C1‧‧‧電容元件
C1'‧‧‧電容元件
C2‧‧‧靜電電容
COML‧‧‧驅動電極
D‧‧‧介電體
DET‧‧‧電壓檢測器(觸控檢測部)
Dx‧‧‧像素正交方向
Dy‧‧‧像素排列方向
E1‧‧‧驅動電極
E2‧‧‧觸控檢測電極
GCL‧‧‧掃描線
I0‧‧‧電流
I1‧‧‧電流
LC‧‧‧液晶元件
Lx1‧‧‧第1單位長度
Lx2‧‧‧第1單位長度
Lx3‧‧‧第1單位長度
Ly1‧‧‧第2單位長度
Ly2‧‧‧第2單位長度
Ly3‧‧‧第2單位長度
mesh1、mesh2‧‧‧包圍區域
ML、ML1、ML2‧‧‧導電性細線
ML1e‧‧‧導電性細線之端部
ML2e‧‧‧導電性細線之端部
MLe‧‧‧導電性細線之端部
Pix‧‧‧像素
Pix1‧‧‧像素
Pix2‧‧‧像素
P00、P01、P10、P11、P12、P13、P14、P15、P21、P23、P31、P32、P34、P35、P41、P43、P45、P51、P53、P54、P56、P65‧‧‧點
Q00、Q01、Q10、Q11、Q12、Q13、Q14、Q15、Q21、Q23、Q31、Q32、Q34、Q35、Q41、Q43、Q45、Q51、Q53、Q54、Q56、Q65‧‧‧點
Reset‧‧‧期間
R00、R01、R10、R11、R12、R13、R14、R15、R21、R23、R31、R32、R34、R35、R41、R43、R45、R51、R53、R54、R56、R65‧‧‧點
S‧‧‧交流信號源(驅動信號源)
Scan‧‧‧掃描方向
Sg‧‧‧交流矩形波
SGL‧‧‧信號線
SPix‧‧‧副像素
T‧‧‧端子部
TDA‧‧‧檢測區域
TDB‧‧‧導通部
TDB1‧‧‧第1導通部
TDB2‧‧‧第2導通部
TDC‧‧‧彎曲部
TDC1‧‧‧彎曲部
TDC2‧‧‧彎曲部
TDC3‧‧‧彎曲部
TDC4‧‧‧彎曲部
TDC5‧‧‧彎曲部
TDD‧‧‧虛設電極
TDDS‧‧‧分割部
TDG‧‧‧檢測配線
TDL‧‧‧觸控檢測電極
TDX‧‧‧交叉部
Tr‧‧‧TFT元件
Ua‧‧‧細線片
Ua1‧‧‧第1端部
Ua2‧‧‧第2端部
Ub‧‧‧細線片
Ub1‧‧‧第1端部
Ub2‧‧‧第2端部
Uc‧‧‧細線片
Ud‧‧‧細線片
Ue‧‧‧細線片
Ue1‧‧‧第1端部
Ue2‧‧‧第2端部
Uf‧‧‧細線片
Uf1‧‧‧第1端部
Uf2‧‧‧第2端部
Ug‧‧‧細線片
Ug1‧‧‧第1端部
Ug2‧‧‧第2端部
Uh‧‧‧細線片
Uh1‧‧‧第1端部
Uh2‧‧‧第2端部
Ui‧‧‧細線片
Ui1‧‧‧第1端部
Ui2‧‧‧第2端部
Uj‧‧‧細線片
Uj1‧‧‧第1端部
Uj2‧‧‧第2端部
V0‧‧‧波形
V1‧‧‧波形
Vcom‧‧‧驅動信號
Vdet‧‧‧觸控檢測信號
Vdisp‧‧‧影像信號
Vout‧‧‧信號輸出
Vpix‧‧‧像素信號
Vscan‧‧‧掃描信號
Vscan(n-1)、Vscan(n)、Vscan(n+1)‧‧‧掃描信號
Vcom(m-1)、Vcom(m)、Vcom(m+1)‧‧‧驅動信號
|△V|‧‧‧波形V0與波形V1之電壓差分之絕對值
圖1係表示實施形態1之附觸控檢測功能之顯示裝置之一構成例的方塊圖。
圖2係為說明靜電電容型觸控檢測方式之基本原理而表示手指未接觸到或接近於裝置之狀態之說明圖。
圖3係表示圖2所示之手指未接觸到或接近於裝置之狀態之等效電路之例的說明圖。
圖4係為說明靜電電容型觸控檢測方式之基本原理而表示手指接觸到或接近於裝置之狀態之說明圖。
圖5係表示圖4所示之手指接觸到或接近於裝置之狀態之等效電路之例的說明圖。
圖6係表示驅動信號及觸控檢測信號之波形之一例之圖。
圖7係表示安裝有附觸控檢測功能之顯示裝置之模組之一例的 圖。
圖8係表示安裝有附觸控檢測功能之顯示裝置之模組之一例的圖。
圖9係表示實施形態1之附觸控檢測功能之顯示部之概略剖面構造的剖面圖。
圖10係表示實施形態1之附觸控檢測功能之顯示部之像素配置的電路圖。
圖11係表示實施形態1之附觸控檢測功能之顯示部之驅動電極及觸控檢測電極之一構成例的立體圖。
圖12係表示實施形態1之附觸控檢測功能之顯示裝置之一動作例的時序波形圖。
圖13係表示實施形態1之觸控檢測電極之配置之模式圖。
圖14係說明實施形態1之細線片之第1端部與第2端部之相對位置關係的模式圖。
圖15係表示對實施形態1之附觸控檢測功能之顯示裝置之水波紋評價的圖。
圖16係說明實施形態1之變化例1之細線片之第1端部與第2端部之相對位置關係的模式圖。
圖17係表示對實施形態1之變化例1之附觸控檢測功能之顯示裝置之水波紋評價的圖。
圖18係用以說明實施形態1之變化例2之觸控檢測電極之構成的模式圖。
圖19係表示實施形態2之觸控檢測電極之配置之模式圖。
圖20係說明實施形態3之細線片之第1端部與第2端部之相對位置關係的模式圖。
圖21係用以說明實施形態4之像素排列方向之模式圖。
圖22係表示實施形態5之附觸控檢測功能之顯示部之概略剖面構造的剖面圖。
圖23係表示上述實施形態及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置或應用顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖24係表示上述實施形態及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置或應用顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖25係表示上述實施形態及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置或應用顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖26係表示上述實施形態及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置或應用顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖27係表示上述實施形態及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置或應用顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖28係表示上述實施形態及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置或應用顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖29係表示上述實施形態及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置或應用顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖30係表示上述實施形態及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置或應用顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖31係表示上述實施形態及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置或應用顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖32係表示上述實施形態及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置或應用顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖33係表示上述實施形態及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置或應用顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖34係表示上述實施形態及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置或應用顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖35係表示上述實施形態及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置或應用顯示裝置之電子機器之一例的圖。
對於用以實施本揭示之形態(實施形態)，一面參照圖式一面詳細地進行說明。本揭示並非由以下實施形態中記載之內容限定。又，以下所記載之構成要素中包含本領域技術人員可容易地設想者、實質上相同者。進而，以下所記載之構成要素可適當組合。再者，說明係按照以下順序進行。
1.實施形態(附觸控檢測功能之顯示裝置)
1-1.實施形態1
1-2.實施形態2
1-3.實施形態3
1-4.實施形態4
1-5.實施形態5
2.應用例(電子機器)
將上述實施形態之附觸控檢測功能之顯示裝置應用於電子機器之例
3.本揭示之構成
1.實施形態
<1-1.實施形態1>
[構成例]
(整體構成例)
圖1係表示實施形態1之附觸控檢測功能之顯示裝置之一構成例的方塊圖。附觸控檢測功能之顯示裝置1包括附觸控檢測功能之顯示部10、控制部11、閘極驅動器12、源極驅動器13、驅動電極驅動器14、及觸控檢測部40。該附觸控檢測功能之顯示裝置1係附觸控檢測 功能之顯示部10內置觸控檢測功能之顯示器件。附觸控檢測功能之顯示部10係將使用液晶顯示元件作為顯示元件之液晶顯示部20與靜電電容型觸控檢測器件30一體化所得之裝置。再者，附觸控檢測功能之顯示部10亦可為於使用液晶顯示元件作為顯示元件之液晶顯示部20上安裝有靜電電容型觸控檢測器件30的裝置。再者，液晶顯示部20例如亦可為有機EL(Electroluminescence，電致發光)顯示器件。
如下所述，液晶顯示部20係根據自閘極驅動器12供給之掃描信號Vscan依序掃描每1水平線而進行顯示之器件。控制部11係基於自外部供給之影像信號Vdisp而對閘極驅動器12、源極驅動器13、驅動電極驅動器14、及觸控檢測部40分別供給控制信號，且以該等相互同步地動作之方式進行控制之電路。
閘極驅動器12具有基於自控制部11供給之控制信號而依序選擇成為附觸控檢測功能之顯示部10之顯示驅動之對象之1水平線的功能。
源極驅動器13係基於自控制部11供給之控制信號而對附觸控檢測功能之顯示部10之下述各副像素SPix供給像素信號Vpix的電路。
驅動電極驅動器14係基於自控制部11供給之控制信號而對附觸控檢測功能之顯示部10之下述驅動電極COML供給驅動信號Vcom的電路。
觸控檢測部40係如下電路：基於自控制部11供給之控制信號、及自附觸控檢測功能之顯示部10之觸控檢測器件30供給之觸控檢測信號Vdet，而檢測有無對於觸控檢測器件30之觸控(下述接觸或接近之狀態)，於有觸控之情形時求出觸控檢測區域中之其座標等。該觸控檢測部40包括觸控檢測信號放大部42、A/D(類比/數位，analog/digital)轉換部43、信號處理部44、座標抽出部45、及檢測時序控制部46。
觸控檢測信號放大部42將自觸控檢測器件30供給之觸控檢測信號Vdet予以放大。觸控檢測信號放大部42亦可包括低通類比濾波器， 該低通類比濾波器去除觸控檢測信號Vdet中所包含之高頻率成分(雜訊成分)，且提取觸控成分並分別予以輸出。
(靜電電容型觸控檢測之基本原理)
觸控檢測器件30係基於靜電電容型觸控檢測之基本原理而進行動作，並輸出觸控檢測信號Vdet。參照圖1~圖6，基於本實施形態之附觸控檢測功能之顯示裝置1中之觸控檢測之基本原理進行說明。圖2係為說明靜電電容型觸控檢測方式之基本原理而表示手指未接觸到或接近於裝置之狀態的說明圖。圖3係表示圖2所示之手指未接觸到或接近於裝置之狀態之等效電路之例的說明圖。圖4係為說明靜電電容型觸控檢測方式之基本原理而表示手指接觸到或接近於裝置之狀態的說明圖。圖5係表示圖4所示之手指接觸到或接近於裝置之狀態之等效電路之例的說明圖。圖6係表示驅動信號及觸控檢測信號之波形之一例之圖。
例如，如圖2及圖4所示，電容元件C1、C1'包括夾著介電體D而相互對向配置之一對電極、驅動電極E1及觸控檢測電極E2。如圖3所示，電容元件C1係其一端連接於交流信號源(驅動信號源)S，另一端連接於電壓檢測器(觸控檢測部)DET。電壓檢測器DET例如為圖1所示之觸控檢測信號放大部42中所包含之積分電路。
若自交流信號源S對驅動電極E1(電容元件C1之一端)施加特定頻率(例如數kHz~數百kHz左右)之交流矩形波Sg，則經由連接於觸控檢測電極E2(電容元件C1之另一端)側之電壓檢測器DET而出現輸出波形(觸控檢測信號Vdet)。再者，該交流矩形波Sg係相當於下述觸控驅動信號Vcomt。
於手指未接觸到(或接近於)裝置之狀態(非接觸狀態)下，如圖2及圖3所示，伴隨對於電容元件C1之充電放電，而流動與電容元件C1之電容值對應之電流I0。如圖6所示，電壓檢測器DET將與交流矩形波 Sg對應之電流I0之變動轉換成電壓之變動(實線之波形V0)。
另一方面，於手指接觸到(或接近於)裝置之狀態(接觸狀態)下，如圖4所示，因藉由手指而形成之靜電電容C2與觸控檢測電極E2接觸或位於附近，故處於驅動電極E1及觸控檢測電極E2之間之相當於邊緣(fringe)之靜電電容被遮斷，而作為電容值小於電容元件C1之電容值之電容元件C1'發揮作用。而且，若以圖5所示之等效電路來看，則電流I1流經電容元件C1'。如圖6所示，電壓檢測器DET將與交流矩形波Sg對應之電流I1之變動轉換成電壓之變動(虛線之波形V1)。於該情形時，與上述波形V0相比，波形V1之振幅變小。藉此，波形V0與波形V1之電壓差分之絕對值|△V|會根據手指等自外部接近之物體之影響而產生變化。再者，電壓檢測器DET為了高精度地檢測波形V0與波形V1之電壓差分之絕對值|△V|，而更佳為藉由電路內之切換，配合交流矩形波Sg之頻率，進行設置重設電容器之充電放電之期間Reset的動作。
圖1所示之觸控檢測器件30係根據自驅動電極驅動器14供給之驅動信號Vcom(下述觸控驅動信號Vcomt)，依序掃描每1檢測區塊而進行觸控檢測。
觸控檢測器件30係自複數個下述觸控檢測電極TDL經由圖3或圖5所示之電壓檢測器DET而對每個檢測區塊輸出觸控檢測信號Vdet，並供給至觸控檢測部40之觸控檢測信號放大部42。
A/D轉換部43係以與驅動信號Vcom同步之時序，將自觸控檢測信號放大部42輸出之類比信號分別取樣並轉換成數位信號的電路。
信號處理部44包括數位濾波器，該數位濾波器減少A/D轉換部43之輸出信號中所包含之除將驅動信號Vcom取樣所得之頻率以外之頻率成分(雜訊成分)。信號處理部44係基於A/D轉換部43之輸出信號而檢測有無對於觸控檢測器件30之觸控之邏輯電路。信號處理部44進行 僅提取因手指而產生之電壓之差分之處理。該因手指而產生之電壓之差分係上述波形V0與波形V1之差分之絕對值|△V|。信號處理部44亦可進行將每1檢測區塊之絕對值|△V|平均化之運算，而求出絕對值|△V|之平均值。藉此，信號處理部44可降低雜訊之影響。信號處理部44係將檢測出之因手指而產生之電壓之差分與特定閾值電壓進行比較，若電壓之差分為閾值電壓以上，則判斷為自外部接近之外部接近物體之接觸狀態，若未達閾值電壓，則判斷為外部接近物體之非接觸狀態。藉由以如此之方式，觸控檢測部40可進行觸控檢測。
座標抽出部45係當於信號處理部44中檢測出觸控時，求出其觸控面板座標之邏輯電路。檢測時序控制部46以A/D轉換部43、信號處理部44、及座標抽出部45同步地動作之方式進行控制。座標抽出部45係將觸控面板座標作為信號輸出Vout而輸出。
(模組)
圖7及圖8係表示安裝有附觸控檢測功能之顯示裝置之模組之一例的圖。如圖7所示，附觸控檢測功能之顯示裝置1於向模組進行安裝時，亦可於玻璃基板之TFT基板21上形成上述驅動電極驅動器14。
如圖7所示，附觸控檢測功能之顯示裝置1包含附觸控檢測功能之顯示部10、驅動電極驅動器14、及COG(Chip On Glass，玻璃覆晶)19A。圖7係模式性地表示該附觸控檢測功能之顯示部10中之相對於下述TFT基板21之表面之垂直方向上的驅動電極COML、及以與驅動電極COML立體交叉之方式形成的觸控檢測電極TDL。即，驅動電極COML係形成於沿著附觸控檢測功能之顯示部10之1邊之方向，觸控檢測電極TDL係形成於沿著附觸控檢測功能之顯示部10之另一邊之方向。觸控檢測電極TDL之輸出端設置於附觸控檢測功能之顯示部10之上述另一邊側，且經由包含軟性基板等之端子部T而與安裝於該模組之外部之觸控檢測部40連接。驅動電極驅動器14形成於作為玻璃基 板之TFT基板21。COG19A係安裝於TFT基板21之晶片，且係內置有圖1所示之控制部11、閘極驅動器12、源極驅動器13等顯示動作所需之各電路者。又，如圖8所示，附觸控檢測功能之顯示裝置1亦可於COG(Chip On Glass)中內置驅動電極驅動器14。
如圖8所示，安裝有附觸控檢測功能之顯示裝置1之模組具有COG19B。圖8所示之COG19B除上述顯示動作所需之各電路以外，還內置有驅動電極驅動器14。如下所述，附觸控檢測功能之顯示裝置1於顯示動作時，對每1水平線進行線序掃描(line-sequential scanning)。另一方面，附觸控檢測功能之顯示裝置1於觸控檢測動作時，藉由對驅動電極COML依序施加驅動信號Vcom而對每1檢測線進行線序掃描。
(附觸控檢測功能之顯示部)
其次，對附觸控檢測功能之顯示部10之構成例詳細地進行說明。圖9係表示實施形態1之附觸控檢測功能之顯示部之概略剖面構造的剖面圖。圖10係表示實施形態1之附觸控檢測功能之顯示部之像素配置的電路圖。附觸控檢測功能之顯示部10包括像素基板2、對向地配置於與該像素基板2之表面垂直之方向之對向基板3、及插設於像素基板2與對向基板3之間之液晶層6。
像素基板2包含：作為電路基板之TFT基板21，呈矩陣狀配設於該TFT基板21上之複數個像素電極22，形成於TFT基板21及像素電極22之間之複數個驅動電極COML，以及將像素電極22與驅動電極COML絕緣之絕緣層24。於TFT基板21形成有對圖10所示之各副像素SPix之薄膜電晶體(TFT；Thin Film Transistor)元件Tr、圖9所示之各像素電極22供給像素信號Vpix之信號線SGL、驅動各TFT元件Tr之掃描線GCL等配線。如此，信號線SGL沿與TFT基板21之表面平行之平面延伸，且對像素供給用以顯示圖像之像素信號Vpix。圖10所示之液 晶顯示部20具有呈矩陣狀配置之複數個副像素SPix。副像素SPix包括TFT元件Tr及液晶元件LC。TFT元件Tr包括薄膜電晶體，於此例中，包括n通道之MOS(Metal Oxide Semiconductor，金屬氧化物半導體)型TFT。TFT元件Tr之源極或汲極之一者連接於信號線SGL，閘極連接於掃描線GCL，源極或汲極之另一者連接於液晶元件LC之一端。液晶元件LC係例如一端連接於TFT元件Tr之汲極，另一端連接於驅動電極COML。
圖10所示之副像素SPix藉由掃描線GCL而與液晶顯示部20之屬於相同之列之其他副像素SPix相互連接。掃描線GCL與閘極驅動器12連接，且自閘極驅動器12供給掃描信號Vscan。又，副像素SPix藉由信號線SGL而與液晶顯示部20之屬於相同之行之其他副像素SPix相互連接。信號線SGL與源極驅動器13連接，且自源極驅動器13供給像素信號Vpix。進而，副像素SPix藉由驅動電極COML而與液晶顯示部20之屬於相同之列之其他副像素SPix相互連接。驅動電極COML與驅動電極驅動器14連接，且自驅動電極驅動器14供給驅動信號Vcom。即，於此例中，屬於同一列之複數個副像素SPix共有一根驅動電極COML。實施形態1之驅動電極COML延伸之方向與掃描線GCL延伸之方向平行。實施形態1之驅動電極COML延伸之方向不作限定，例如，驅動電極COML延伸之方向亦可為與信號線SGL延伸之方向平行之方向。
圖1所示之閘極驅動器12藉由將掃描信號Vscan經由圖10所示之掃描線GCL施加於像素Pix之TFT元件Tr之閘極，而依序選擇呈矩陣狀形成於液晶顯示部20之副像素SPix中的1列(1水平線)作為顯示驅動之對象。圖1所示之源極驅動器13將像素信號Vpix經由圖10所示之信號線SGL而分別供給至各副像素SPix，該各副像素SPix構成由閘極驅動器12依序選擇之1水平線。而且，於該等副像素SPix中，對應於所供 給之像素信號Vpix，進行1水平線之顯示。圖1所示之驅動電極驅動器14施加驅動信號Vcom，針對圖7及圖8所示之包含特定根數之驅動電極COML之區塊而對驅動電極COML進行驅動。
如上所述，液晶顯示部20藉由閘極驅動器12以對掃描線GCL分時地線序掃描之方式進行驅動，而依序選擇1水平線。又，液晶顯示部20藉由源極驅動器13對屬於1水平線之副像素SPix供給像素信號Vpix，而於每1水平線進行顯示。於進行該顯示動作時，驅動電極驅動器14對與該1水平線對應之包含驅動電極COML之區塊施加驅動信號Vcom。
本實施形態之驅動電極COML作為液晶顯示部20之驅動電極發揮功能，並且亦作為觸控檢測器件30之驅動電極發揮功能。圖11係表示實施形態1之附觸控檢測功能之顯示部之驅動電極及觸控檢測電極之一構成例的立體圖。如圖9所示，圖11所示之驅動電極COML於相對於TFT基板21之表面之垂直方向上與像素電極22對向。觸控檢測器件30包括設置於像素基板2之驅動電極COML、及設置於對向基板3之觸控檢測電極TDL。觸控檢測電極TDL包括沿與驅動電極COML之電極圖案之延伸方向交叉之方向延伸的條紋狀電極圖案。而且，觸控檢測電極TDL於相對於TFT基板21之表面垂直之方向上與驅動電極COML對向。觸控檢測電極TDL之各電極圖案分別連接於觸控檢測部40之觸控檢測信號放大部42之輸入端。藉由驅動電極COML及觸控檢測電極TDL而相互交叉之電極圖案係於該交叉部分產生靜電電容。再者，觸控檢測電極TDL或驅動電極COML(驅動電極區塊)並不限於呈條紋狀分割成複數個之形狀。例如，觸控檢測電極TDL或驅動電極COML(驅動電極區塊)亦可為梳齒形狀。或者，觸控檢測電極TDL或驅動電極COML(驅動電極區塊)只要將複數個電極圖案相互分離即可，例如，將複數個驅動電極COML相互分離之狹縫之形狀既可為直線，亦可為 曲線。
藉由該構成，於觸控檢測器件30中，於進行觸控檢測動作時，驅動電極驅動器14以分時地線序掃描驅動電極區塊之方式進行驅動。藉此，於掃描方向Scan上依序選擇驅動電極COML之1檢測區塊。然後，自觸控檢測電極TDL輸出觸控檢測信號Vdet。如此，觸控檢測器件30進行1檢測區塊之觸控檢測。即，驅動電極區塊對應於上述觸控檢測之基本原理中之驅動電極E1，觸控檢測電極TDL對應於觸控檢測電極E2，觸控檢測器件30根據該基本原理檢測觸控。如圖11所示，相互交叉之電極圖案呈矩陣狀構成靜電電容式觸控感測器。因此，藉由遍及觸控檢測器件30之整個觸控檢測面地進行掃描，亦可檢測外部接近物體之接觸或接近產生之位置。
液晶層6係根據電場之狀態調變通過其處之光者，且例如使用FFS(Fringe-field Switching，邊緣場切換)模式或IPS(In Plane Switching，面內切換)模式等橫電場模式之液晶。再者，於圖9所示之液晶層6與像素基板2之間、及液晶層6與對向基板3之間，亦可分別配設配向膜。
對向基板3包含玻璃基板31、及形成於該玻璃基板31之一面之彩色濾光片32。於玻璃基板31之另一面，形成有作為觸控檢測器件30之檢測電極之觸控檢測電極TDL，進而，於該觸控檢測電極TDL上配設有偏光板35。
圖9所示之彩色濾光片32週期性地配置例如被著色為紅色(R)、綠色(G)、藍色(B)之3色之彩色濾光片之顏色區域，將R、G、B之3色之顏色區域32R、32G、32B(參照圖10)與上述圖10所示之各副像素SPix建立關聯，將顏色區域32R、32G、32B作為1組而構成像素Pix。像素Pix係沿著與掃描線GCL平行之方向及與信號線SGL平行之方向呈矩陣狀配置，而形成下述顯示區域Ad。彩色濾光片32係於與TFT基板21 垂直之方向上與液晶層6對向。如此，副像素SPix可進行單色之顏色顯示。再者，彩色濾光片32若被著色為不同之顏色，則亦可為其他顏色之組合。又，亦可無彩色濾光片32。如此，亦可有不存在彩色濾光片32之區域、即透光性之副像素SPix。
此處，玻璃基板31對應於本揭示中之「基板」之一具體例。顏色區域32R、32G、32B對應於本揭示中之「顏色區域」之一具體例。像素Pix對應於本揭示中之「像素」之一具體例。顯示區域Ad對應於本揭示中之「顯示區域」之一具體例。觸控檢測電極TDL對應於本揭示中之「觸控檢測電極」之一具體例。驅動電極COML對應於本揭示中之「驅動電極」之一具體例。液晶層6對應於本揭示中之「顯示功能層」之一具體例。
[動作及作用]
繼而，對實施形態1之附觸控檢測功能之顯示裝置1之動作及作用進行說明。
驅動電極COML因作為液晶顯示部20之共用驅動電極發揮功能，並且亦作為觸控檢測器件30之驅動電極發揮功能，故有驅動信號Vcom相互產生影響之可能性。因此，驅動電極COML分成進行顯示動作之顯示期間B、及進行觸控檢測動作之觸控檢測期間A而施加驅動信號Vcom。驅動電極驅動器14於進行顯示動作之顯示期間B施加驅動信號Vcom作為顯示驅動信號。而且，驅動電極驅動器14於進行觸控檢測動作之觸控檢測期間A施加驅動信號Vcom作為觸控驅動信號。於以下說明中，將作為顯示驅動信號之驅動信號Vcom記作顯示驅動信號Vcomd，將作為觸控驅動信號之驅動信號Vcom記作觸控驅動信號Vcomt。
(整體動作概要)
控制部11基於自外部供給之影像信號Vdisp而對閘極驅動器12、 源極驅動器13、驅動電極驅動器14、及觸控檢測部40分別供給控制信號，且以該等相互同步地動作之方式進行控制。閘極驅動器12係於顯示期間B，對液晶顯示部20供給掃描信號Vscan，依序選擇成為顯示驅動之對象之1水平線。源極驅動器13係於顯示期間B，對構成由閘極驅動器12選擇之1水平線之各像素Pix供給像素信號Vpix。
於顯示期間B，驅動電極驅動器14對與1水平線相關之驅動電極區塊施加顯示驅動信號Vcomd，於觸控檢測期間A，驅動電極驅動器14對與觸控檢測動作相關之驅動電極區塊依序施加觸控驅動信號Vcomt，依序選擇1檢測區塊。附觸控檢測功能之顯示部10係於顯示期間B，基於由閘極驅動器12、源極驅動器13、及驅動電極驅動器14供給之信號而進行顯示動作。附觸控檢測功能之顯示部10係於觸控檢測期間A，基於由驅動電極驅動器14供給之信號而進行觸控檢測動作，且自觸控檢測電極TDL輸出觸控檢測信號Vdet。觸控檢測信號放大部42將觸控檢測信號Vdet予以放大並輸出。A/D轉換部43係以與觸控驅動信號Vcomt同步之時序，將自觸控檢測信號放大部42輸出之類比信號轉換成數位信號。信號處理部44基於A/D轉換部43之輸出信號而檢測有無對於觸控檢測器件30之觸控。座標抽出部45係於信號處理部44中進行觸控檢測時，求出其觸控面板座標。
(詳細動作)
接著，對附觸控檢測功能之顯示裝置1之詳細動作進行說明。圖12係表示實施形態1之附觸控檢測功能之顯示裝置之一動作例的時序波形圖。如圖12所示，液晶顯示部20根據自閘極驅動器12供給之掃描信號Vscan，對掃描線GCL中之鄰接之第(n-1)列、第n列、第(n+1)列之掃描線GCL之每1水平線依序進行掃描而進行顯示。同樣地，驅動電極驅動器14基於自控制部11供給之控制信號，而對附觸控檢測功能之顯示部10之驅動電極COML中之鄰接之第(m-1)行、第m行、第(m+ 1)行供給驅動信號Vcom。
如此，於附觸控檢測功能之顯示裝置1中，於每1顯示水平期間(1H)，分時地進行觸控檢測動作(觸控檢測期間A)及顯示動作(顯示期間B)。於觸控檢測動作中，於每1顯示水平期間1H，選擇不同之驅動電極COML並施加驅動信號Vcom，藉此進行觸控檢測之掃描。以下，對其動作詳細地進行說明。
首先，閘極驅動器12對第(n-1)列之掃描線GCL施加掃描信號Vscan，掃描信號Vscan(n-1)由低位準變化為高位準。藉此，開始1顯示水平期間1H。
其次，於觸控檢測期間A，驅動電極驅動器14對第(m-1)行之驅動電極COML施加驅動信號Vcom，驅動信號Vcom(m-1)由低位準變化為高位準。該驅動信號Vcom(m-1)經由靜電電容傳輸至觸控檢測電極TDL，而觸控檢測信號Vdet產生變化。接著，若驅動信號Vcom(m-1)由高位準變化為低位準，則觸控檢測信號Vdet同樣地產生變化。該觸控檢測期間A之觸控檢測信號Vdet之波形係對應於上述觸控檢測之基本原理中的觸控檢測信號Vdet。A/D轉換部43藉由將該觸控檢測期間A之觸控檢測信號Vdet進行A/D轉換而進行觸控檢測。藉此，於附觸控檢測功能之顯示裝置1中，進行1檢測線之觸控檢測。
接著，於顯示期間B，源極驅動器13對信號線SGL施加像素信號Vpix，而進行對於1水平線之顯示。再者，如圖12所示，該像素信號Vpix之變化經由寄生電容而傳遞至觸控檢測電極TDL，觸控檢測信號Vdet會產生變化，但於顯示期間B A/D轉換部43不進行A/D轉換，藉此可抑制該像素信號Vpix之變化對觸控檢測之影響。於利用源極驅動器13之像素信號Vpix之供給結束之後，閘極驅動器12使第(n-1)列之掃描線GCL之掃描信號Vscan(n-1)由高位準變化為低位準，1顯示水平期間結束。
接著，閘極驅動器12對與先前不同之第n列之掃描線GCL施加掃描信號Vscan，掃描信號Vscan(n)由低位準變化為高位準。藉此，開始下一個1顯示水平期間。
於下一觸控檢測期間A，驅動電極驅動器14對與先前不同之第m行之驅動電極COML施加驅動信號Vcom。而且，藉由A/D轉換部43將觸控檢測信號Vdet之變化進行A/D轉換，而進行該1檢測線之觸控檢測。
接著，於顯示期間B，源極驅動器13對信號線SGL施加像素信號Vpix，而進行對於1水平線之顯示。又，驅動電極驅動器14將顯示驅動信號Vcomd作為共用電位施加至驅動電極COML。此處，顯示驅動信號Vcomd之電位例如成為觸控檢測期間A之觸控驅動信號Vcomt之低位準之電位。再者，本實施形態之附觸控檢測功能之顯示裝置1因進行點反轉驅動，故源極驅動器13所施加之像素信號Vpix與之前之1顯示水平期間者相比，其極性反轉。於該顯示期間B結束之後，該1顯示水平期間1H結束。
以下，藉由重複上述動作，附觸控檢測功能之顯示裝置1藉由遍及顯示面之整個面之掃描而進行顯示動作，並且藉由遍及觸控檢測面之整個面之掃描而進行觸控檢測動作。
於附觸控檢測功能之顯示裝置1中，於1顯示水平期間(1H)，觸控檢測動作係於觸控檢測期間A進行，顯示動作係於顯示期間B進行。如此，因將觸控檢測動作與顯示動作於分開之期間進行，故可於相同之1顯示水平期間中進行顯示動作及觸控檢測動作之兩者，並且可抑制顯示動作對觸控檢測之影響。
(觸控檢測電極之配置)
圖13係表示實施形態1之觸控檢測電極TDL之配置之模式圖。圖14係說明實施形態1之細線片之第1端部與第2端部之相對位置關係的 模式圖。圖15係表示對實施形態1之附觸控檢測功能之顯示裝置1之水波紋評價的圖。
如圖13所示，實施形態1之觸控檢測電極TDL包含於與對向基板3平行之平面上沿像素排列方向Dy延伸之複數個導電性細線ML。導電性細線ML彼此係於導電性細線ML之端部MLe經由第1導通部TDB1而連接，且屬於檢測區域TDA。於檢測區域TDA中，複數個導電性細線ML導通，且相互具有固定間隔地延伸。複數個檢測區域TDA相互具有固定間隔地延伸。複數個檢測區域TDA係第1導通部TDB1彼此經由第2導通部TDB2連接而導通。第2導通部TDB2經由檢測配線TDG而連接於圖1所示之觸控檢測部40。又，第1導通部TDB1及第2導通部TDB2由與導電性細線ML相同之材料形成。藉由上述構成，與減少導電性細線ML之數量同時，對於固定範圍由複數個導電性細線ML進行觸控檢測，故可降低進行觸控檢測時之電阻。
導電性細線ML包含細線片Ua及細線片Ub。細線片Ua係相對於像素排列方向Dy具有角度地延伸之導電性材料之圖案，且包含第1端部Ua1及第2端部Ua2。同樣地，細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸之導電性材料之圖案，且包含第1端部Ub1及第2端部Ub2。細線片Ua與細線片Ub係連接細線片Ua之第2端部Ua2與細線片Ub之第1端部Ub1而導通。
又，細線片Ua之第2端部Ua2與細線片Ub之第1端部Ub1之連接部成為導電性細線ML之彎曲部TDC，細線片Ua與細線片Ub於每個彎曲部TDC以特定角度折返。例如，實施形態1之導電性細線ML係細線片Ua之長度與細線片Ub之長度相等。而且，細線片Ua延伸之方向相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與細線片Ub延伸之方向相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。實施形態1之導電性細線ML於每個彎曲部TDC向像素正交方向Dx彎曲之方向產生變化。細 線片Ua及細線片Ub之寬度較佳為處於2μm以上且10μm以下之範圍。其原因在於：細線片Ua及細線片Ub之寬度若大於10μm則有被人目視到之可能性，若寬度未達2μm則電阻變高。
觸控檢測電極TDL之導電性細線ML由作為導電性之金屬材料之鋁(Al)、銅(Cu)、銀(Ag)、鉬(Mo)、鉻(Cr)、鎢(W)、該等之合金之金屬材料形成。或者，觸控檢測電極TDL之導電性細線ML由鋁(Al)、銅(Cu)、銀(Ag)、鉬(Mo)、鉻(Cr)、鎢(W)、該等之氧化物(金屬氧化物)形成，且具有導電性。導電性細線ML亦可由將上述金屬材料與上述金屬氧化物積層1層以上所得之積層體圖案化。導電性細線ML亦可由將上述金屬材料或金屬氧化物與作為透光性電極之材料之ITO(Indium Tin Oxide)等透光性導電氧化物積層1層以上所得之積層體圖案化。導電性細線ML相較於作為透光性電極之材料之ITO(Indium Tin Oxide)等透光性導電氧化物而為低電阻。導電性細線ML之材料之相同膜厚下之透過率低於ITO(Indium Tin Oxide)之透過率。例如，導電性細線ML之材料之透過率亦可為10%以下。
如圖13所示，複數個檢測區域TDA係相互具有固定間隔地配置。因於配置有觸控檢測電極TDL之導電性細線ML之區域、及無觸控檢測電極TDL之導電性細線ML之區域中，遮光性存在差異，故有易於目視到觸控檢測電極TDL之可能性。因此，於對向基板3，未連接於檢測配線TDG之虛設電極TDD配置於相鄰之檢測區域TDA之間。虛設電極TDD由與觸控檢測電極TDL之導電性細線ML相同之材料形成。虛設電極TDD若具有與觸控檢測電極TDL相同程度之遮光性，則亦可為不同之材料。
又，圖13所示之虛設電極TDD包含細線片Uc及細線片Ud。細線片Uc具有與細線片Ua相同程度之大小，且與細線片Ua延伸之方向平行地配置。細線片Ud具有與細線片Ub相同程度之大小，且與細線片 Ub延伸之方向平行地配置。藉此，因配置有觸控檢測電極TDL之區域與未配置之區域之遮光性之差變小，故可降低目視到觸控檢測電極TDL之可能性。
虛設電極TDD於細線片Uc與細線片Ud之間，具有並無與導電性細線ML相同之材料之作為狹縫之分割部TDDS。因此，分割部TDDS妨礙細線片Uc與細線片Ud之電性之導通，而產生與觸控檢測電極之電容差。因此，於觸控檢測時，即便於手指接近於觸控檢測電極TDL與虛設電極TDD之兩者之情形時，虛設電極TDD亦可減小對圖6中所示之絕對值|△V|造成之影響。如此，藉由分割部TDDS將虛設電極TDD分割得小於觸控檢測電極TDL之導電性細線ML之面積，而可減小對觸控檢測之精度之影響。以下說明之實施形態及變化例中之關於細線片Ua延伸之方向之說明亦可應用於細線片Uc延伸之方向。又，關於細線片Ub延伸之方向之說明亦可應用於細線片Ud延伸之方向。
接著，對圖13及圖14所示之像素排列方向Dy及像素正交方向Dx進行說明。如上所述，顯示區域Ad將顏色區域32R、32G、32B與各副像素SPix建立關聯，而包含複數個將顏色區域32R、32G、32B作為1組之像素Pix。複數個像素Pix沿著與掃描線GCL平行之方向及與信號線SGL平行之方向呈矩陣狀配置。又，像素Pix係以顏色區域32R、32G、32B分別夾著掃描線GCL而相鄰之方式配置。
像素排列方向Dy係人類之可見度最高之顏色區域排列之方向。像素正交方向Dx係於與對向基板3之表面平行之平面上相對於像素排列方向Dy正交之方向。於R(紅色)、G(綠色)、B(藍色)之3色中，人類之可見度最高之顏色為G(綠色)。圖14中，顏色區域32G排列之方向係與信號線SGL平行之方向，因而實施形態1中之像素排列方向Dy成為與信號線SGL平行之方向。
為說明細線片Ua之第1端部Ua1與第2端部Ua2之相對位置關係， 而於圖14中，將掃描線GCL與信號線SGL之交叉部中的任意點設為原點P00，定義將原點P00之座標設為(0,0)之xy座標。於與像素正交方向Dx平行之方向設定x軸，於與像素排列方向Dy平行之方向設定y軸。將x方向之相當於1個像素Pix之最大長度設為x方向之單位長度，將y方向之相當於1個像素Pix之最大長度設為y方向之單位長度。x方向之相當於1個像素Pix之最大長度係第1單位長度Lx1，y方向之相當於1個像素Pix之最大長度係第2單位長度Ly1。
例如，自原點P00向x方向行進第1單位長度Lx1，進而向y方向行進第2單位長度Ly1所得之點之座標成為(1,1)。於該xy座標中，點P01係座標為(0,1)之點。點P15係座標為(1,5)之點。點P14係座標為(1,4)之點。點P13係座標為(1,3)之點。點P12係座標為(1,2)之點。點P35係座標為(3,5)之點。點P23係座標為(2,3)之點。點P34係座標為(3,4)之點。點P45係座標為(4,5)之點。點P56係座標為(5,6)之點。點P11係座標為(1,1)之點。點P65係座標為(6,5)之點。點P54係座標為(5,4)之點。點P43係座標為(4,3)之點。點P32係座標為(3,2)之點。點P53係座標為(5,3)之點。點P21係座標為(2,1)之點。點P31係座標為(3,1)之點。點P41係座標為(4,1)之點。點P51係座標為(5,1)之點。點P10係座標為(1,0)之點。
(評價例)
此處，使將細線片Ua之第1端部Ua1設為點P00之位置時之第2端部Ua2所位於之方向產生變化，而對水波紋之視認進行評價。以下，評價結果係以圖15所示之評價例1~21而進行說明。
(評價例1)
評價例1之導電性細線係將複數個與像素排列方向Dy平行之細線片於像素排列方向Dy上連結。
(評價例2)
評價例2之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點P00時，第2端部Ua2處於自點P00朝向作為目標位置之點P15之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例3)
評價例3之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點P00時，第2端部Ua2處於自點P00朝向作為目標位置之點P14之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例4)
評價例4之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點P00時，第2端部Ua2處於自點P00朝向作為目標位置之點P13之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例5)
評價例5之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點P00時，第2端部Ua2處於自點P00朝向作為目標位置之點P12之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所 形成之角度之大小相等。
(評價例6)
評價例6之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點P00時，第2端部Ua2處於自點P00朝向作為目標位置之點P35之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例7)
評價例7之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點P00時，第2端部Ua2處於自點P00朝向作為目標位置之點P23之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例8)
評價例8之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點P00時，第2端部Ua2處於自點P00朝向作為目標位置之點P34之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例9)
評價例9之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點P00時，第2端部Ua2處於自點P00朝向作為目標位置之點P45之方向。細線片Ub係沿與細 線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例10)
評價例10之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點P00時，第2端部Ua2處於自點P00朝向作為目標位置之點P56之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例11)
評價例11之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點P00時，第2端部Ua2處於自點P00朝向作為目標位置之點P11之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例12)
評價例12之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點P00時，第2端部Ua2處於自點P00朝向作為目標位置之點P65之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例13)
評價例13之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細 線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點P00時，第2端部Ua2處於自點P00朝向作為目標位置之點P54之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例14)
評價例14之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點P00時，第2端部Ua2處於自點P00朝向作為目標位置之點P43之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例15)
評價例15之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點P00時，第2端部Ua2處於自點P00朝向作為目標位置之點P32之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例16)
評價例16之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點P00時，第2端部Ua2處於自點P00朝向作為目標位置之點P53之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例17)
評價例17之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點P00時，第2端部Ua2處於自點P00朝向作為目標位置之點P21之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例18)
評價例18之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點P00時，第2端部Ua2處於自點P00朝向作為目標位置之點P31之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例19)
評價例19之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點P00時，第2端部Ua2處於自點P00朝向作為目標位置之點P41之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例20)
評價例20之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點P00時，第2端部Ua2處於自點P00朝向作為目標位置之點P51之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排 列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例21)
評價例21之導電性細線係將複數個與像素正交方向Dx平行之細線片於像素正交方向Dx上連結。
[評價]
水波紋評價係將以人眼觀察對應於評價例1~評價例21之附觸控檢測功能之顯示裝置1之顯示圖像之情形時的水波紋之可見性(visibility)評價為4階段。該4階段之水波紋評價基準係如下所述。以字母A表示即便附觸控檢測功能之顯示裝置1之表面與人眼之距離未達30cm亦無法目視到水波紋之情形。又，以字母B表示若附觸控檢測功能之顯示裝置1與人眼之距離為30cm以上則無法目視到水波紋之情形。又，以字母C表示若附觸控檢測功能之顯示裝置1與人眼之距離為60cm以上則無法目視到水波紋之情形。而且，以字母D表示即便附觸控檢測功能之顯示裝置1與人眼之距離為60cm以上亦可目視到水波紋之情形。
評價例6~10及評價例12~16滿足第1條件。第1條件係如下條件：細線片Ua之第2端部Ua2處於自第1端部Ua1朝向目標位置之方向，目標位置係於像素正交方向Dx上與第1端部Ua1相隔第1單位長度Lx1之整數倍且2以上之倍數，且於像素排列方向Dy上與第1端部Ua1相隔第2單位長度Ly1之整數倍且2以上之倍數，第1單位長度Lx1之整數倍之倍數之值與第2單位長度Ly1之整數倍之倍數之值不同。換言之，第1條件係如下條件：細線片Ua之第2端部Ua2位於自第1端部Ua1朝向目標位置之方向，目標位置係於像素正交方向Dx上與第1端部Ua1相隔第1單位長度Lx1之N倍，且於像素排列方向Dy上與第1端部Ua1相隔第2單位長度Ly1之M倍，N及M各為2以上之整數，N與M互不 相同。而且，如圖15所示，滿足第1條件之實施形態1之導電性細線ML係評價例6~10及評價例12~16之水波紋評價為A、B及C中之任一者，且水波紋之視認得到抑制。
又，評價例6、評價例8~10、評價例12~14及評價例16滿足第2條件。第2條件係如下條件：第1單位長度Lx1之整數倍之倍數之值、及第2單位長度Ly1之整數倍之倍數之值為3以上。換言之，第2條件係N及M各為3以上之整數之條件。而且，滿足第2條件之評價例6、評價例8~10、評價例12~14及評價例16係水波紋評價為A或B，水波紋之視認進一步得到抑制。
評價例8~10及評價例12~14滿足第3條件。第3條件係如下條件：第1單位長度Lx1之整數倍之倍數之值與第2單位長度Ly1之整數倍之倍數之值之差為1。換言之，第3條件係N與M之差為1之條件。而且，於評價例8~10及評價例12~14之情形時，水波紋評價為A，水波紋之視認進一步得到抑制。
[作用效果]
如上所述，像素Pix係沿著與掃描線GCL平行之方向及與信號線SGL平行之方向呈矩陣狀配置。於掃描線GCL及信號線SGL由黑矩陣覆蓋之情形時，黑矩陣抑制光之透過。於掃描線GCL及信號線SGL未由黑矩陣覆蓋之情形時，掃描線GCL及信號線SGL抑制光之透過。實施形態1中沿著與掃描線GCL平行之方向且與像素正交方向Dx平行之複數個直線狀之花樣且具有週期性之花樣易於出現於顯示區域Ad上。又，藉由沿著與信號線SGL平行之方向且與像素排列方向Dy平行之複數個直線而具有週期性之花樣易於出現於顯示區域Ad上。因此，當於相對於顯示區域Ad之表面垂直之方向上重疊有觸控檢測電極TDL之情形時，觸控檢測電極TDL與出現於顯示區域Ad上之花樣相干涉而形成明暗花樣，藉此有目視到水波紋之可能性。
於實施形態1之附觸控檢測功能之顯示裝置1中，藉由導電性細線ML包含滿足上述第1條件之細線片Ua，而明暗花樣之週期易於變短為人類無法目視到之程度。例如，實施形態1之細線片Ua相對於像素正交方向Dx及像素排列方向Dy具有角度地延伸。若滿足上述第1條件，則該角度成為固定大小以上，因而明暗花樣之週期易於變短。其結果，於實施形態1之附觸控檢測功能之顯示裝置1中，藉由導電性細線ML包含滿足上述第1條件之細線片Ua，而可降低目視到水波紋之可能性。
進而，細線片Ua於滿足第1條件之後，若滿足第2條件，則可進一步降低目視到水波紋之可能性。其原因在於：上述明暗花樣之週期進一步變短。
進而，細線片Ua於滿足第1條件及第2條件之後，若滿足第3條件，則可進一步降低目視到水波紋之可能性。其原因在於：上述明暗花樣之週期進一步變短。
又，實施形態1之附觸控檢測功能之顯示裝置1於細線片Ua及細線片Ub均滿足第1條件之情形時，可降低目視到水波紋之可能性。又，實施形態1之附觸控檢測功能之顯示裝置1於細線片Ua及細線片Ub均滿足第2條件之情形時，可進一步降低目視到水波紋之可能性。而且，實施形態1之附觸控檢測功能之顯示裝置1於細線片Ua及細線片Ub均滿足第3條件之情形時，可進一步降低目視到水波紋之可能性。
再者，於觸控檢測電極TDL與驅動電極COML由金屬材料等導電性材料形成之情形時，有產生電蝕之可能性。因此，實施形態1之附觸控檢測功能之顯示裝置1係觸控檢測電極TDL與驅動電極COML位於在相對於玻璃基板31之表面之垂直方向上夾著玻璃基板31而不同之面上。藉此，實施形態1之附觸控檢測功能之顯示裝置1可抑制電蝕之 產生。進而，驅動電極COML較佳為由透光性之材料形成。藉此，可降低目視到因觸控檢測電極TDL與驅動電極COML之干涉所致之水波紋之可能性。
進而，驅動電極COML位於在與玻璃基板31之表面垂直之方向對向之TFT基板21上。當玻璃基板31之表面與驅動電極COML於相對於玻璃基板31之表面之垂直方向上相隔之情形時，因人類所視認之角度不同，而出現於顯示區域Ad上之花樣之週期與驅動電極COML之配置之週期之差產生變化。然而，藉由於TFT基板21上配置驅動電極COML，而可減小與人類所視認之角度對應之出現於顯示區域Ad上之花樣之週期與驅動電極COML之配置之週期之差之變化。又，實施形態1之驅動電極COML係以沿上述像素排列方向Dy或像素正交方向Dx延伸之方式配置。藉此，驅動電極COML沿與掃描線GCL平行之方向或與信號線SGL平行之方向延伸，而可降低開口率變低之可能性。
[實施形態1之變化例1]
圖16係說明實施形態1之變化例1之細線片之第1端部與第2端部之相對位置關係的模式圖。圖17係表示對實施形態1之變化例1之各評價例之水波紋評價的圖。顯示區域Ad將顏色區域32R、32G、32B、32W與各副像素SPix建立關聯，且包含複數個將顏色區域32R、32G、32B、32W作為1組之像素Pix。複數個像素Pix係沿著與掃描線GCL平行之方向及與信號線SGL平行之方向呈矩陣狀配置。又，像素Pix係以顏色區域32R、32G、32B、32W分別夾著掃描線GCL而相鄰之方式配置。
像素排列方向Dy係人類之可見度最高之顏色區域排列之方向。於R(紅色)、G(綠色)、B(藍色)、W(白色)之4色之中，人類之可見度最高之顏色為W(白色)。圖16中，顏色區域32W排列之方向係與信號線SGL平行之方向，因而像素排列方向Dy成為與信號線SGL平行之方 向。
為說明細線片Ua之第1端部Ua1與第2端部Ua2之相對位置關係，而於圖16中，將掃描線GCL與信號線SGL之交叉部中之任意點設為原點Q00，定義將原點Q00之座標設為(0,0)之xy座標。於與像素正交方向Dx平行之方向設定x軸，於與像素排列方向Dy平行之方向設定y軸。將x方向之相當於1個像素Pix之最大長度設為x方向之單位長度，將y方向之相當於1個像素Pix之最大長度設為y方向之單位長度。x方向之相當於1個像素Pix之最大長度係第1單位長度Lx2，y方向之相當於1個像素Pix之最大長度係第2單位長度Ly2。
例如，自原點Q00向x方向行進第1單位長度Lx2，進而向y方向行進第2單位長度Ly2所得之點之座標成為(1,1)。於該xy座標中，點Q01係座標為(0,1)之點。點Q15係座標為(1,5)之點。點Q14係座標為(1,4)之點。點Q13係座標為(1,3)之點。點Q12係座標為(1,2)之點。點Q35係座標為(3,5)之點。點Q23係座標為(2,3)之點。點Q34係座標為(3,4)之點。點Q45係座標為(4,5)之點。點Q56係座標為(5,6)之點。點Q11係座標為(1,1)之點。點Q65係座標為(6,5)之點。點Q54係座標為(5,4)之點。點Q43係座標為(4,3)之點。點Q32係座標為(3,2)之點。點Q53係座標為(5,3)之點。點Q21係座標為(2,1)之點。點Q31係座標為(3,1)之點。點Q41係座標為(4,1)之點。點Q51係座標為(5,1)之點。點Q10係座標為(1,0)之點。
(評價例)
此處，使將細線片Ua之第1端部Ua1設為點Q00之位置時之第2端部Ua2所位於之方向產生變化，而對水波紋之視認進行評價。以下，評價結果係以圖17所示之評價例22~42之形式進行說明。
(評價例22)
評價例22之導電性細線係將複數個與像素排列方向Dy平行之細 線片於像素排列方向Dy上連結。
(評價例23)
評價例23之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點Q00時，第2端部Ua2處於自點Q00朝向作為目標位置之點Q15之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例24)
評價例24之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點Q00時，第2端部Ua2處於自點Q00朝向作為目標位置之點Q14之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例25)
評價例25之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點Q00時，第2端部Ua2處於自點Q00朝向作為目標位置之點Q13之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例26)
評價例26之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點Q00時，第2端部Ua2處於自點Q00朝向作為目標位置之點Q12之方向。細線片Ub係沿 與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例27)
評價例27之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點Q00時，第2端部Ua2處於自點Q00朝向作為目標位置之點Q35之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例28)
評價例28之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點Q00時，第2端部Ua2處於自點Q00朝向作為目標位置之點Q23之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例29)
評價例29之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點Q00時，第2端部Ua2處於自點Q00朝向作為目標位置之點Q34之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例30)
評價例30之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細 線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點Q00時，第2端部Ua2處於自點Q00朝向作為目標位置之點Q45之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例31)
評價例31之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點Q00時，第2端部Ua2處於自點Q00朝向作為目標位置之點Q56之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例32)
評價例32之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點Q00時，第2端部Ua2處於自點Q00朝向作為目標位置之點Q11之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例33)
評價例33之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點Q00時，第2端部Ua2處於自點Q00朝向作為目標位置之點Q65之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例34)
評價例34之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點Q00時，第2端部Ua2處於自點Q00朝向作為目標位置之點Q54之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例35)
評價例35之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點Q00時，第2端部Ua2處於自點Q00朝向作為目標位置之點Q43之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例36)
評價例36之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點Q00時，第2端部Ua2處於自點Q00朝向作為目標位置之點Q32之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例37)
評價例37之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點Q00時，第2端部Ua2處於自點Q00朝向作為目標位置之點Q53之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素 排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例38)
評價例38之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點Q00時，第2端部Ua2處於自點Q00朝向作為目標位置之點Q21之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例39)
評價例39之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點Q00時，第2端部Ua2處於自點Q00朝向作為目標位置之點Q31之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例40)
評價例40之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點Q00時，第2端部Ua2處於自點Q00朝向作為目標位置之點Q41之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例41)
評價例41之導電性細線係細線片Ua與細線片Ub交替地連結。細線片Ua係配置成於細線片Ua之第1端部Ua1處於點Q00時，第2端部 Ua2處於自點Q00朝向作為目標位置之點Q51之方向。細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸。又，一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小與另一細線片相對於像素排列方向Dy所形成之角度之大小相等。
(評價例42)
評價例42之導電性細線係將複數個與像素正交方向Dx平行之細線片於像素正交方向Dx上連結。
[評價]
水波紋評價係對以人眼觀察對應於評價例22~評價例42之附觸控檢測功能之顯示裝置1之顯示圖像之情形時之水波紋之可見性進行評價。水波紋之評價基準與實施形態1相同。
評價例27~31及評價例33~37滿足第1條件。第1條件係如下條件：細線片Ua之第2端部Ua2處於自第1端部Ua1朝向目標位置之方向，目標位置係於像素正交方向Dx上與第1端部Ua1相隔第1單位長度Lx2之整數倍且2以上之倍數，且於像素排列方向Dy上與第1端部Ua1相隔第2單位長度Ly2之整數倍且2以上之倍數，第1單位長度Lx2之整數倍之倍數之值與第2單位長度Ly2之整數倍之倍數之值不同。換言之，第1條件係如下條件：細線片Ua之第2端部Ua2位於自第1端部Ua1朝向目標位置之方向，目標位置係於像素正交方向Dx上與第1端部Ua1相隔第1單位長度Lx2之N倍，且於像素排列方向Dy上與第1端部Ua1相隔第2單位長度Ly2之M倍，N及M各為2以上之整數，N與M互不相同。而且，於評價例27~31及評價例33~37之情形時，水波紋評價為A、B及C中之任一者，水波紋之視認得到抑制。
評價例27、評價例29~31、評價例33~35及評價例37滿足第2條件。第2條件係如下條件：第1單位長度Lx2之整數倍之倍數之值、及第2單位長度Ly2之整數倍之倍數之值為3以上。換言之，第2條件係N 及M各為3以上之整數之條件。而且，評價例27、評價例29~31、評價例33~35及評價例37係水波紋評價為A或B，水波紋之視認進一步得到抑制。
評價例29~31及評價例33~35滿足第3條件。第3條件係如下條件：第1單位長度Lx2之整數倍之倍數之值與第2單位長度Ly2之整數倍之倍數之值之差為1。換言之，第3條件係N與M之差為1之條件。於評價例29~31及評價例33~35之情形時，水波紋評價為A，水波紋之視認進一步得到抑制。
[作用效果]
於實施形態1之變化例1之附觸控檢測功能之顯示裝置1中，藉由導電性細線ML包含滿足上述第1條件之細線片Ua，而明暗花樣之週期易於變短為人類無法目視到之程度。例如，實施形態1之變化例1之細線片Ua相對於像素正交方向Dx及像素排列方向Dy具有角度地延伸。若滿足上述第1條件，則該角度成為固定大小以上，故明暗花樣之週期易於變短。其結果，於實施形態1之變化例1之附觸控檢測功能之顯示裝置1中，藉由導電性細線ML包含滿足上述第1條件之細線片Ua，而可降低目視到水波紋之可能性。
進而，細線片Ua於滿足第1條件之後，若滿足第2條件，則可進一步降低目視到水波紋之可能性。其原因在於：上述明暗花樣之週期進一步變短。
進而，細線片Ua於滿足第1條件及第2條件之後，若滿足第3條件，則可進一步降低目視到水波紋之可能性。其原因在於：上述明暗花樣之週期進一步變短。
又，實施形態1之變化例1之附觸控檢測功能之顯示裝置1於細線片Ua及細線片Ub均滿足第1條件之情形時，可降低目視到水波紋之可能性。又，實施形態1之變化例1之附觸控檢測功能之顯示裝置1於細 線片Ua及細線片Ub均滿足第2條件之情形時，可進一步降低目視到水波紋之可能性。而且，實施形態1之變化例1之附觸控檢測功能之顯示裝置1於細線片Ua及細線片Ub均滿足第3條件之情形時，可進一步降低目視到水波紋之可能性。
[實施形態1之變化例2]
圖18係用以說明實施形態1之變化例2之觸控檢測電極TDL之構成的模式圖。實施形態1中之細線片Ua與細線片Ub係自作為細線片Ua之第2端部Ua2與細線片Ub之第1端部Ub1之連接部之彎曲部TDC起於像素正交方向Dx上沿相同之方向延伸。相對於此，於實施形態1之變化例2中，於彎曲部TDC相鄰之細線片包含自彎曲部TDC起於像素正交方向Dx上沿不同之方向延伸之部分。
圖18係將實施形態1之變化例2之導電性細線ML之一部分放大所得的圖。導電性細線ML包含連接有細線片Ue、細線片Uf、細線片Ug、細線片Uh、細線片Ui及細線片Uj之部分。
細線片Ue與細線片Uf係連接細線片Ue之第2端部Ue2與細線片Uf之第1端部Uf1而導通。連接細線片Ue之第2端部Ue2與細線片Uf之第1端部Uf1之部分為彎曲部TDC1。細線片Ue與細線片Uf係自彎曲部TDC1起於像素正交方向Dx上沿不同之方向延伸。
細線片Uf與細線片Ug係連接細線片Uf之第2端部Uf2與細線片Ug之第1端部Ug1而導通。連接細線片Uf之第2端部Uf2與細線片Ug之第1端部Ug1之部分為彎曲部TDC2。細線片Uf與細線片Ug係自彎曲部TDC2起於像素正交方向Dx上沿不同之方向延伸。
細線片Ug與細線片Uh係連接細線片Ug之第2端部Ug2與細線片Uh之第1端部Uh1而導通。連接細線片Ug之第2端部Ug2與細線片Uh之第1端部Uh1之部分為彎曲部TDC3。細線片Ug與細線片Uh係自彎曲部TDC3起於像素正交方向Dx上沿相同之方向延伸。
細線片Uh與細線片Ui係連接細線片Uh之第2端部Uh2與細線片Ui之第1端部Ui1而導通。連接細線片Uh之第2端部Uh2與細線片Ui之第1端部Ui1之部分為彎曲部TDC4。細線片Uh與細線片Ui係自彎曲部TDC4起於像素正交方向Dx上沿不同之方向延伸。
細線片Ui與細線片Uj係連接細線片Ui之第2端部Ui2與細線片Uj之第1端部Uj1而導通。連接細線片Ui之第2端部Ui2與細線片Uj之第1端部Uj1之部分為彎曲部TDC5。細線片Ui與細線片Uj係自彎曲部TDC5起於像素正交方向Dx上沿不同之方向延伸。
[作用效果]
實施形態1之變化例2之附觸控檢測功能之顯示裝置1藉由包含實施形態1中所示之滿足第1條件之細線片Ue、細線片Uf、細線片Ug、細線片Uh、細線片Ui及細線片Uj中之至少任1者，而可降低目視到水波紋之可能性。其原因在於：上述明暗花樣之週期於存在細線片Ue、細線片Uf、細線片Ug、細線片Uh、細線片Ui及細線片Uj之每個區域中不同，故使明暗花樣之週期不明顯為人類無法目視到之程度。
實施形態1之變化例2之細線片Ue、細線片Uf、細線片Ug、細線片Uh、細線片Ui及細線片Uj相對於像素正交方向Dx及像素排列方向Dy具有角度地延伸。若實施形態1之變化例2之細線片Ue、細線片Uf、細線片Ug、細線片Uh、細線片Ui及細線片Uj之一部分滿足第1條件，則該角度成為固定大小以上，因而明暗花樣之週期變短。進而，若實施形態1之變化例2之細線片Ue、細線片Uf、細線片Ug、細線片Uh、細線片Ui及細線片Uj之全部滿足第1條件，則該角度成為固定大小以上，因而明暗花樣之週期進一步變短。細線片Ue、細線片Uf、細線片Ug、細線片Uh、細線片Ui及細線片Uj於滿足第1條件之後，若滿足第2條件，則可進一步降低目視到水波紋之可能性。其原因在於：上述明暗花樣之週期進一步變短。
進而，細線片Ue、細線片Uf、細線片Ug、細線片Uh、細線片Ui及細線片Uj於滿足第1條件及第2條件之後，若滿足第3條件，則可進一步降低目視到水波紋之可能性。其原因在於：上述明暗花樣之週期進一步變短。
<1-2.實施形態2>
接著，對實施形態2之附觸控檢測功能之顯示裝置1進行說明。圖19係表示實施形態2之觸控檢測電極TDL之配置之模式圖。再者，對於與於上述實施形態1中所說明者相同之構成要素，附註相同之符號並省略重複之說明。
如圖19所示，實施形態2之觸控檢測電極TDL包含於與對向基板3平行之平面上沿像素排列方向Dy延伸之導電性細線ML1及導電性細線ML2。導電性細線ML1與導電性細線ML2成為1組，形成檢測區域TDA。導電性細線ML1之端部ML1e與導電性細線ML2之端部ML2e經由第1導通部TDB1連接而導通。
導電性細線ML1對應於實施形態1中所示之導電性細線ML。導電性細線ML2相對於導電性細線ML1形成以與像素排列方向Dy平行之直線為對稱軸之線對稱之形狀。導電性細線ML2係由與導電性細線ML1相同之材料形成。導電性細線ML2係以形成連接導電性細線ML1之彎曲部TDC與導電性細線ML2之彎曲部TDC之交叉部TDX之方式配置。導電性細線ML1與導電性細線ML2係於交叉部TDX導通。由此，導電性細線ML1與導電性細線ML2形成由細線片Ua及細線片Ub包圍之包圍區域mesh1。再者，導電性細線ML1與導電性細線ML2亦可不於彎曲部TDC連接。例如，亦可於導電性細線ML1中之細線片Ua之中間部、及導電性細線ML2中之細線片Ub之中間部連接而導通。
虛設電極TDD包含細線片Uc及細線片Ud。細線片Uc係與細線片Ua平行地配置，細線片Ud係與細線片Ub平行地配置。又，細線片Uc 與細線片Ud係以由2個細線片Uc及2個細線片Ud包圍之包圍區域mesh2之面積與包圍區域mesh1相同之方式配置。藉此，配置觸控檢測電極TDL之區域與未配置之區域之遮光性之差變小，因而可降低易於目視到觸控檢測電極TDL之可能性。
[作用效果]
藉由上述構成，實施形態2之附觸控檢測功能之顯示裝置1即便導電性細線ML1與導電性細線ML2中一導電性細線之一部分變細，導通不確實，亦以交叉部TDX連接於另一導電性細線，因而可提高觸控檢測之機率。
<1-3.實施形態3>
接著，對實施形態3之附觸控檢測功能之顯示裝置1進行說明。圖20係說明實施形態3之細線片之第1端部與第2端部之相對位置關係的模式圖。再者，對於與於上述實施形態1中所說明者相同之構成要素，附註相同之符號並省略重複之說明。
將顏色區域32R、32G、32B與各副像素SPix建立關聯，將顏色區域32R、32G、32B作為1組而構成像素Pix。如圖20所示，像素Pix係沿著與掃描線GCL平行之方向及與信號線SGL平行之方向呈矩陣狀配置。又，像素Pix係以相同之顏色區域彼此於與掃描線GCL平行之方向及與信號線SGL平行之方向上不相鄰之方式配置。
像素排列方向Dy係人類之可見度最高之顏色區域排列之方向。於R(紅色)、G(綠色)、B(藍色)之3色中，人類之可見度最高之顏色為G(綠色)。於圖20中，顏色區域32G排列之方向係顏色區域32G之對角線方向，因而實施形態3中之像素排列方向Dy成為顏色區域32G之對角線方向。
為說明細線片Ua之第1端部Ua1與第2端部Ua2之相對位置關係，而於圖20中，將掃描線GCL與信號線SGL之交叉部中之任意點設為原 點R00，定義將原點R00之座標設為(0,0)之xy座標。於與像素正交方向Dx平行之方向設定x軸，於與像素排列方向Dy平行之方向設定y軸。將x方向之相當於1個像素Pix之最大長度設為x方向之單位長度，將y方向之相當於1個像素Pix之最大長度設為y方向之單位長度。x方向之相當於1個像素Pix之最大長度為第1單位長度Lx3，y方向之相當於1個像素Pix之最大長度為第2單位長度Ly3。
例如，自原點R00向x方向行進第1單位長度Lx3，進而向y方向行進第2單位長度Ly3所得之點之座標成為(1,1)。於該xy座標中，點R01係座標為(0,1)之點。點R15係座標為(1,5)之點。點R14係座標為(1,4)之點。點R13係座標為(1,3)之點。點R12係座標為(1,2)之點。點R35係座標為(3,5)之點。點R23係座標為(2,3)之點。點R34係座標為(3,4)之點。點R45係座標為(4,5)之點。點R56係座標為(5,6)之點。點R11係座標為(1,1)之點。點R65係座標為(6,5)之點。點R54係座標為(5,4)之點。點R43係座標為(4,3)之點。點R32係座標為(3,2)之點。點R53係座標為(5,3)之點。點R21係座標為(2,1)之點。點R31係座標為(3,1)之點。點R41係座標為(4,1)之點。點R51係座標為(5,1)之點。點R10係座標為(1,0)之點。
[作用效果]
於實施形態3中，圖13或圖19所示之細線片Ua滿足第1條件者係以下之情形。即，於細線片Ua之第1端部Ua1處於點R00之位置時，第2端部Ua2處於自點R00朝向目標位置之方向，目標位置為點R35、點R23、點R34、點R45、點R56、點R65、點R54、點R43、點R32及點R53中之任一者之情形。若細線片Ua滿足第1條件，則可降低目視到水波紋之可能性。
於實施形態3中，圖13或圖19所示之細線片Ua滿足第1條件及第2條件者係以下之情形。即，於細線片Ua之第1端部Ua1處於點R00之位 置時，第2端部Ua2處於自點R00朝向目標位置之方向，目標位置為點R35、點R34、點R45、點R56、點R65、點R54、點R43及點R53中之任一者之情形。若細線片Ua滿足第1條件及第2條件，則可進一步降低目視到水波紋之可能性。
於實施形態3中，圖13或圖19所示之細線片Ua滿足第1條件、第2條件及第3條件者係以下之情形。即，於細線片Ua之第1端部Ua1處於點R00之位置時，第2端部Ua2處於自點R00朝向目標位置之方向，目標位置為點R34、點R45、點R56、點R65、點R54、點R43及中之任一者之情形。若細線片Ua滿足第1條件、第2條件及第3條件，則可進一步降低目視到水波紋之可能性。
又，即便於圖13或圖19所示之細線片Ua及細線片Ub均滿足第1條件之情形時，亦可降低目視到水波紋之可能性。於細線片Ua及細線片Ub均滿足第2條件之情形時，可進一步降低目視到水波紋之可能性。於細線片Ua及細線片Ub均滿足第3條件之情形時，可進一步降低目視到水波紋之可能性。
<1-4.實施形態4>
接著，對實施形態4之附觸控檢測功能之顯示裝置1進行說明。圖21係用以說明實施形態4之像素排列方向Dy之模式圖。再者，對於與於上述實施形態1中所說明者相同之構成要素，附註相同之符號並省略重複之說明。
將R(紅色)、G(綠色)、B(藍色)、W(白色)之4色之顏色區域32R、32G、32B、32W與各副像素SPix建立關聯，將顏色區域32R、32G、32B或顏色區域32R、32G、32W作為1組而構成像素Pix。此處，將包括顏色區域32R、32G、32B之像素Pix設為像素Pix1，將包括顏色區域32R、32G、32W之像素Pix設為像素Pix2。如圖21所示，像素Pix係沿著與掃描線GCL平行之方向及與信號線SGL平行之方向呈矩陣狀配 置。又，像素Pix1與像素Pix2係以於與掃描線GCL平行之方向及與信號線SGL平行之方向上像素Pix1彼此不相鄰且像素Pix2彼此不相鄰之方式配置。
像素排列方向Dy係人類之可見度最高之顏色區域排列之方向。 於R(紅色)、G(綠色)、B(藍色)、W(白色)之4色中，人類之可見度最高之顏色為W(白色)。然而，顏色區域32W因並無顏色區域32W彼此相鄰之部分，故不具有排列之方向。於該情形時，接下來人類之可見度較高之顏色區域排列之方向成為像素排列方向Dy。於除W(白色)以外之R(紅色)、G(綠色)、B(藍色)之3色中，人類之可見度最高之顏色為G(綠色)。於圖21中，顏色區域32G排列之方向係與信號線SGL平行之方向，因而像素排列方向Dy成為與信號線SGL平行之方向。
<1-5.實施形態5>
圖22係表示實施形態5之附觸控檢測功能之顯示部之概略剖面構造的剖面圖。上述實施形態及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置1可將使用有FFS模式、IPS模式等各種模式之液晶之液晶顯示部20與觸控檢測器件30一體化而設為附觸控檢測功能之顯示部10。圖22所示之實施形態5之附觸控檢測功能之顯示部10亦可代替其而將TN(Twisted Nematic：扭轉向列)模式、VA(Vertical Alignment：垂直配向)模式、ECB(Electrically Controlled Birefringence：電場控制雙折射)模式等各種模式之液晶與觸控檢測器件一體化。
<2.應用例>
接著，參照圖23~圖35，對實施形態1~5及變化例中所說明之附觸控檢測功能之顯示裝置1之應用例進行說明。圖23~圖35係表示上述實施形態及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置或應用顯示裝置之電子機器之一例的圖。本實施形態及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置1及顯示裝置可應用於電視裝置、數位相機、筆記型個人電 腦、行動電話等行動終端裝置或攝影機等所有領域之電子機器。換言之，本實施形態及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置1及顯示裝置可應用於將自外部輸入之影像信號或於內部生成之影像信號作為圖像或影像而顯示之所有領域之電子機器。
(應用例1)
圖23所示之電子機器係應用實施形態1~5及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置1及顯示裝置之電視裝置。該電視裝置例如具有包含前面板511及濾光玻璃(filter glass)512之影像顯示畫面部510，該影像顯示畫面部510為實施形態1~5及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置1及顯示裝置。
(應用例2)
圖24及圖25所示之電子機器係應用實施形態1~5及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置1及顯示裝置之數位相機。該數位相機例如包含閃光燈用之發光部521、顯示部522、選單開關523及快門按鈕524，該顯示部522為實施形態1~5及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置1及顯示裝置。
(應用例3)
圖26所示之電子機器係表示應用實施形態1~5及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置1及顯示裝置之攝影機之外觀。該攝影機例如包含本體部531、設置於該本體部531之前方側面之被攝體攝影用透鏡532、攝影時之開始/停止開關533及顯示部534。而且，顯示部534為實施形態1~5及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置1及顯示裝置。
(應用例4)
圖27所示之電子機器係應用實施形態1~5及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置1及顯示裝置之筆記型個人電腦。該筆記型個人電腦例如包含本體541、用於文字等之輸入操作之鍵盤542及顯示圖像之 顯示部543，顯示部543為實施形態1~5及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置1及顯示裝置。
(應用例5)
圖28~圖35所示之電子機器係應用實施形態1~5及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置1及顯示裝置之行動電話機。該行動電話機係例如將上側殼體551與下側殼體552以連結部(鉸鏈部)553連結者，且包含顯示器554、次顯示器555、圖片燈556及相機557。該顯示器554或次顯示器555為實施形態1~5及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置1及顯示裝置。
(應用例6)
圖35所示之電子機器係作為可攜式電腦、多功能之行動電話、可語音通話之可攜式電腦或可通信之可攜式電腦而進行動作，且有時亦被稱為所謂智慧型手機、輸入板終端的資訊行動終端。該資訊行動終端於例如殼體561之表面具有顯示部562。該顯示部562為實施形態1~5及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置1及顯示裝置。
<3.本揭示之構成>
又，本揭示亦可採用以下構成。
(1)一種附觸控檢測功能之顯示裝置，其包括：基板；顯示區域，其於與上述基板之表面平行之面呈矩陣狀配置包含複數個顏色區域之像素；觸控檢測電極，其包含沿與上述基板之表面平行之面延伸的導電性細線，該導電性細線包含複數個具有第1端部及第2端部之直線狀之細線片，且相鄰之細線片連接一細線片之第2端部與另一細線片之第1端部；驅動電極，其相對於上述觸控檢測電極具有靜電電容；及 顯示功能層，其具有於上述顯示區域顯示圖像之功能；且若將複數個上述顏色區域中人類之可見度為最高之顏色區域所排列之方向設為像素排列方向，將沿於上述基板之表面平行之面上相對於上述像素排列方向正交之像素正交方向上之相當於1個上述像素之最大長度設為第1單位長度，將與上述像素排列方向平行之方向上之相當於1個上述像素之最大長度設為第2單位長度之情形時，上述導電性細線中所包含之上述複數個細線片包含沿與上述像素排列方向不同之方向延伸之細線片，且該細線片之第2端部位於自第1端部朝向目標位置之方向，上述目標位置係於上述像素正交方向上與該細線片之第1端部相隔上述第1單位長度之N倍，且於上述像素排列方向上與上述細線片之第1端部相隔上述第2單位長度之M倍，上述N及上述M各為2以上之整數，上述N與上述M互不相同。
(2)如上述(1)之附觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述N及上述M各為3以上之整數。
(3)如上述(2)之附觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述N與上述M之差為1。
(4)如上述(1)之附觸控檢測功能之顯示裝置，其中於上述相鄰之細線片中，連接一細線片之第2端部與另一細線片之第1端部之部分成為彎曲部，上述一細線片相對於上述像素排列方向具有角度地延伸，上述另一細線片以於上述彎曲部相對於上述像素排列方向之角度改變之方式沿與上述一細線片不同之方向延伸。
(5)如上述(1)之附觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述導電性細線係於與上述基板之表面平行之面配置複數個，並且以具有鄰接之上述導電性細線之上述細線片彼此交叉之部分之方式配置，上述鄰接之導電性細線之一導電性細線於上述交叉之部分與另一導電性細線之上 述細線片連接。
(6)如上述(1)之附觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述觸控檢測電極與上述驅動電極係位於在相對於上述基板之表面之垂直方向上夾著上述基板而不同之面上，上述驅動電極為透光性。
(7)如上述(6)之附觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述驅動電極沿上述像素排列方向或上述像素正交方向延伸。
(8)一種電子機器，其包括附觸控檢測功能之顯示裝置，且上述附觸控檢測功能之顯示裝置包括：基板；顯示區域，其於與上述基板之表面平行之面呈矩陣狀配置有包含複數個顏色區域之像素；觸控檢測電極，其包含沿與上述基板之表面平行之面延伸的導電性細線，該導電性細線包含複數個具有第1端部及第2端部之直線狀之細線片，且相鄰之細線片包含連接一細線片之第2端部與另一細線片之第1端部；驅動電極，其相對於上述觸控檢測電極具有靜電電容；及顯示功能層，其具有於上述顯示區域顯示圖像之功能；且若將複數個上述顏色區域中人類之可見度為最高之顏色區域所排列之方向設為像素排列方向，將於與上述基板之表面平行之面上相對於上述像素排列方向正交之像素正交方向上之相當於1個上述像素之最大長度設為第1單位長度，將與上述像素排列方向平行之方向上之相當於1個上述像素之最大長度設為第2單位長度之情形時，上述導電性細線中所包含之上述複數個細線片包含沿與上述像素排列方向不同之方向延伸之細線片，且該細線片之第2端部位於自第1端部朝向目標位置之方向，上述目標位置係於上述像素正交方向 上與該細線片之第1端部相隔上述第1單位長度之N倍，且於上述像素排列方向上與上述細線片之第1端部相隔上述第2單位長度之M倍，上述N及上述M各為2以上之整數，上述N與上述M互不相同。
Dx‧‧‧像素正交方向
Dy‧‧‧像素排列方向
ML‧‧‧導電性細線
MLe‧‧‧導電性細線之端部
TDA‧‧‧檢測區域
TDB1‧‧‧第1導通部
TDB2‧‧‧第2導通部
TDC‧‧‧彎曲部
TDD‧‧‧虛設電極
TDDS‧‧‧分割部
TDG‧‧‧檢測配線
TDL‧‧‧觸控檢測電極
Ua‧‧‧細線片
Ua1‧‧‧第1端部
Ua2‧‧‧第2端部
Ub‧‧‧細線片
Ub1‧‧‧第1端部
Ub2‧‧‧第2端部
Uc‧‧‧細線片
Ud‧‧‧細線片

Claims (8)

  1. 一種附觸控檢測功能之顯示裝置，其包括：基板；顯示區域，其於與上述基板之表面平行之面呈矩陣狀配置包含複數個顏色區域之像素；觸控檢測電極，其包含沿與上述基板之表面平行之面延伸之導電性細線，該導電性細線包含複數個具有第1端部及第2端部之直線狀之細線片，且複數個上述細線片彼此相鄰，各細線片之第1端部連接至相鄰之細線片之第2端部，或各細線片之第2端部連接至相鄰之細線片之第1端部；驅動電極，其相對於上述觸控檢測電極具有靜電電容；及顯示功能層，其具有於上述顯示區域顯示圖像之功能；且若將複數個上述顏色區域中人類之可見度為最高之顏色區域所排列之方向設為像素排列方向，將於與上述基板之表面平行之面上相對於上述像素排列方向正交之像素正交方向上之相當於1個上述像素的最大長度設為第1單位長度，將與上述像素排列方向平行之方向上之相當於1個上述像素之最大長度設為第2單位長度之情形時，上述導電性細線中所包含之上述複數個細線片包含沿與上述像素排列方向不同之方向延伸之細線片，該細線片之第2端部位於自第1端部朝向目標位置之方向，上述目標位置係於上述像素正交方向上與該細線片之第1端部相隔上述第1單位長度之N倍，且於上述像素排列方向上與上述細線片之第1端部相隔上述第2單位長度之M倍，上述N及上述M各為2以上之整數，上述N與上述M互不相同。
  2. 如請求項1之附觸控檢測功能之顯示裝置，上述N及上述M各為3以上之整數。
  3. 如請求項2之附觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述N與上述M之差為1。
  4. 如請求項1之附觸控檢測功能之顯示裝置，其中於上述相鄰之細線片中，連接一細線片之第2端部與另一細線片之第1端部之部分成為彎曲部，上述一細線片相對於上述像素排列方向具有角度地延伸，上述另一細線片以於上述彎曲部相對於上述像素排列方向之角度改變之方式沿與上述一細線片不同之方向延伸。
  5. 如請求項1之附觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述導電性細線係於與上述基板之表面平行之面配置複數個，並且以具有鄰接之上述導電性細線之上述細線片彼此交叉之部分之方式配置，上述鄰接之導電性細線之一導電性細線於上述交叉之部分與另一導電性細線之上述細線片連接。
  6. 如請求項1之附觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述觸控檢測電極與上述驅動電極在相對於上述基板之表面之垂直方向上位於夾著上述基板而不同之面上，上述驅動電極為透光性。
  7. 如請求項6之附觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述驅動電極係沿上述像素排列方向或上述像素正交方向延伸。
  8. 一種包括附觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器，上述附觸控檢測功能之顯示裝置包括：基板；顯示區域，其於與上述基板之表面平行之面呈矩陣狀配置有包含複數個顏色區域之像素； 觸控檢測電極，其包含沿與上述基板之表面平行之面延伸之導電性細線，該導電性細線包含複數個具有第1端部及第2端部之直線狀之細線片，且複數個上述細線片彼此相鄰，各細線片之第1端部連接至相鄰之細線片之第2端部，或各細線片之第2端部連接至相鄰之細線片之第1端部；驅動電極，其相對於上述觸控檢測電極具有靜電電容；及顯示功能層，其具有於上述顯示區域顯示圖像之功能；且若將複數個上述顏色區域中人類之可見度為最高之顏色區域所排列之方向設為像素排列方向，將於與上述基板之表面平行之面上相對於上述像素排列方向正交之像素正交方向上之相當於1個上述像素之最大長度設為第1單位長度，將與上述像素排列方向平行之方向上之相當於1個上述像素之最大長度設為第2單位長度之情形時，上述導電性細線中所包含之上述複數個細線片包含沿與上述像素排列方向不同之方向延伸之細線片，且該細線片之第2端部位於自第1端部朝向目標位置之方向，上述目標位置於上述像素正交方向上與該細線片之第1端部相隔上述第1單位長度之N倍，且於上述像素排列方向上與上述細線片之第1端部相隔上述第2單位長度之M倍，上述N及上述M各為2以上之整數，上述N與上述M互不相同。
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