TWI607217B - 一種分析物量測模組 - Google Patents

一種分析物量測模組 Download PDF

Info

Publication number
TWI607217B
TWI607217B TW105129876A TW105129876A TWI607217B TW I607217 B TWI607217 B TW I607217B TW 105129876 A TW105129876 A TW 105129876A TW 105129876 A TW105129876 A TW 105129876A TW I607217 B TWI607217 B TW I607217B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
conductive
test piece
test strip
reading device
elements
Prior art date
Application number
TW105129876A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201809668A (zh
Inventor
黃椿木
陳明達
劉凍樑
Original Assignee
華廣生技股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 華廣生技股份有限公司 filed Critical 華廣生技股份有限公司
Priority to TW105129876A priority Critical patent/TWI607217B/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI607217B publication Critical patent/TWI607217B/zh
Publication of TW201809668A publication Critical patent/TW201809668A/zh

Links

Description

一種分析物量測模組
本發明關於一種試片編碼讀取裝置,特別是關於一種具有彈力元件可用以讀取編碼的試片編碼讀取裝置。
用來量測生理參數(例如血糖濃度、膽固醇數值、尿酸濃度或酸鹼值)的裝置可以透過取樣後的試片來獲取樣品,以利於在預設的裝置條件下執行量測。有些分析物量測裝置能夠讀取不同類型的試片,為了讓分析物量測裝置增加或確認能夠分辨試片的類型,或是達到防偽的功效,可以在試片的某個部位製作編碼區,例如,在試片上的某個部位製作深淺不同的孔洞,分析物量測裝置在讀取試片中的樣品之前先對這些孔洞進行解碼,以辨別試片的類型,協助試片樣品讀取模組選擇適當的試驗配置,同時可以兼具防偽的功能。
這種利用機械方式讀取編碼的模組還存有一些實際應用於儀器生產組裝方面的問題,例如,多個元件的組合使得尺寸公差的掌控不易。如第1圖所示,習知的分析物量測裝置外殼的上蓋101在成型時已包含一試片插槽的上部結構104,只需再將配置有試片讀取模組100的電路板103和背蓋102等零件一一組裝上去,所述的上蓋101和模組本體140就共同形成試片插槽空間。但此種組裝方式容易隨著分析物量測裝置外殼與讀取模組射出成形的公差影響,造成元件組裝後常需要重工以調整試片承靠面的高度差問題,因為無法精準判別試片編碼而造成的量測錯誤發生。
另一方面,試片讀取模組所量測的試片帶有檢體樣本,在試 片插入試片讀取模組及檢測過程中,若檢體樣本不慎進入分析物量測裝置或生理參數量測裝置之內部,可能造成試片讀取模組沾染檢體樣本,影響試片讀取模組內電子元件的功能而造成檢測不準確,因此也急需提供改善方法以解決檢體樣本汙染問題。
另外,當欲將試片讀取模組100應用到手持裝置如手機、個人數位助理(PDA)等裝置,以提供使用者即時及方便的量測時,先前技術的該試片讀取模組100的外型及高度顯然無法符合手持裝置強調輕薄短小的造型特色。因此,本發明提出一種模組化薄型的試片讀取裝置,以滿足該試片讀取模組應用在手持裝置時所具備的功能及配合手持裝置機構外形的需求。
為了能夠克服習知機械式編碼讀取模組所存在的問題,特別是要能兼顧判讀的正確性、防制汙染及提升組裝便利性的功效。為了達成本發明的目的,本發明提出一種試片讀取裝置,包含一模組上蓋體,設有至少一試片承靠端以及複數操作孔,該複數操作孔可置入複數第一操作行程組件;一電路板,具複數穿孔搭配該複數操作孔,供各該複數第一操作行程組件於各該複數操作孔及各該複數穿孔之間移動,該電路板底部的該複數穿孔周邊設有複數導電區;以及一模組下蓋體,設置有複數第二操作行程組件,各該複數第二操作行程組件與各該導電區之接觸與分離狀態決定一讀取訊號。
依據本發明的另一觀點為一種試片讀取裝置以容納一試片,包含一模組上蓋體,設有至少一試片承靠端,包含複數操作孔,可置入複數導電元件以及複數第一操作行程組件;一電路板,具複數穿孔搭配該複數操作孔,供該複數導電元件於該複數穿孔與該複數操作孔之間移動,該電路板底部的各該複數穿孔周邊設有複數導電區;以及一模組下蓋 體,設置有複數第二操作行程組件,其中各該複數導電元件與該導電區之接觸與分離狀態決定一讀取訊號。
依據本發明又一觀點為提供一生物檢測系統,包含一試片讀取裝置,包含一試片上承靠端、一試片下承靠端,其中該試片上承靠端及該試片下承靠端之間形成一高度落差以容納一試片,該試片上承靠端及該試片下承靠端與該試片讀取裝置一體成型;一上蓋,設置於該試片讀取裝置上方,可選擇性地遮蔽該試片上承靠端的一頂面;以及一下蓋,設置於該試片讀取裝置下方,以遮蔽該試片讀取裝置的一底面。
100‧‧‧試片讀取裝置
101,201‧‧‧前蓋
102,202‧‧‧後蓋
203‧‧‧限位構件
104‧‧‧試片插槽孔
210,310‧‧‧試片讀取模組
120,220,320‧‧‧試片
222,322‧‧‧孔洞
224,324‧‧‧凸起部
103,253,353‧‧‧電路板
140‧‧‧模組本體
242,342‧‧‧操作孔
243,343‧‧‧試片插槽
250‧‧‧啟動元件
260,360‧‧‧阻隔元件
270‧‧‧導電元件
203‧‧‧限位構件
225‧‧‧啟動高度
226‧‧‧試片插槽高度範圍
240,340‧‧‧模組上蓋體
241,341‧‧‧試片上承靠端
244,344‧‧‧試片下承靠端
246,346‧‧‧模組下蓋體
251,351‧‧‧穿孔
254‧‧‧下端
255‧‧‧電觸部
258‧‧‧頂面
260,360‧‧‧阻隔元件
272,372‧‧‧短路突起
280,380‧‧‧彈力元件
290,390‧‧‧接地元件
291,391‧‧‧信號源
292,392‧‧‧導電區
293,393‧‧‧導通元件
296‧‧‧螺絲
345‧‧‧第一邊壁
350‧‧‧導電元件
352‧‧‧第一端
354‧‧‧第二端
356‧‧‧側邊槽
357‧‧‧第一槽壁
358‧‧‧第二槽壁
261,361‧‧‧第一阻隔
262,362‧‧‧污染物收集部
263,363‧‧‧第二阻隔
P‧‧‧汙染物
Vs‧‧‧電子信號
在審視以下的圖式、實施方式詳細說明以及申請專利範圍之後,可以得見本發明其他的觀點和優點。
第1圖是先前技術中試片及試片讀取裝置應用於手持裝置的應用示意圖。
第2A圖是本發明的試片及薄型試片讀取模組應用於手持裝置的示意圖。
第2B圖是本發明的試片欲插入試片讀取模組的上視示意圖。
第2C圖是本發明第一具體實施例中試片插入試片讀取模組的局部剖面圖。
第2D圖是本發明的試片欲插入試片讀取模組的下視示意圖。
第2E圖是本發明的試片欲插入試片讀取模組的另一下視示意圖。
第2F圖是本發明第二具體實施例中試片插入試片讀取模組的局部剖面圖。
第3A圖是本發明第三具體實施例中試片插入試片讀取模組的局部剖面圖。
第3B圖是本發明第四具體實施例中試片插入試片讀取模組的局部剖面圖。
以下提供本發明之試片編碼讀取模組、試片編碼讀取裝置及生物檢測系統的詳細實施例並佐以參考圖式。
除了因元件射出成形尺寸之公差,使得元件組合造成困難,並導致試片承靠端高低誤差,而對於試片讀取模組判讀有所影響外,透過組裝所形成的試片讀取模組無法整合在欲擁有相關功能的電子裝置上,此外,過去為解決血液汙染使用的一片式阻隔元件在多個編碼凸起部長期的擠壓下,會因彈性疲乏出現彈力曲度改變的問題,造成試片讀取模組無法正常運作。為改善前述問題,以下提供實施例來解決上述問題。
請參閱第2A圖及第2B圖,其分別為本發明的試片220及薄型試片讀取模組210應用於手持裝置的示意圖及試片220欲插入試片讀取模組210的示意圖。該手持裝置包含試片讀取模組210、前蓋201及後蓋202,其中試片讀取模組210包含一模組上蓋體240、一電路板253、一模組下蓋體246,而模組上蓋體240具一試片插槽243用以接收該試片220,以進行樣本的生理參數量測,其中手持裝置的前蓋201與後蓋組裝後,前蓋201可選擇性地完全遮蔽或部分遮蔽試片讀取模組的模組上蓋體240,用以修飾手持裝置正面外觀,而電路板253可以是印刷電路板(PCB),但不限於此。
請參閱第2C圖,其為本發明第一具體實施例中試片插入試片讀取模組210的局部剖面圖,其中本發明的試片讀取模組210包含一具試片插槽的模組上蓋體240、一電路板253、一模組下蓋體246。
如第2C圖所示,試片插槽243與模組上蓋體240一體成型,且該試片插槽243內定義出試片上承靠端241與試片下承靠端244,該兩承靠端界定一高度以容納試片220,使得試片220插入的高度可以在射出成模組上蓋體240時決定,亦即透過單一物件上進行試片220插入高度管控,而該高度係兩承靠端界定出一試片插槽高度,該試片插槽高度範圍226可定義為一試片厚度加上一適當間隙,如第2C圖所示,當試片厚度為1.0mm,下承靠端與試片底面的間隙設為0.05~0.5mm,故適當試片插槽高度 範圍226則約為1.05mm~1.5mm。
模組上蓋體240內包含第一操作行程組件,而第一操作行程組件包含啟動元件250、阻隔元件260以及可容納啟動元件250的操作孔242,模組下蓋體246內則包含第二操作行程組件,其中第二操作行程組件包含導電元件270、彈力元件280以及位於該下蓋體246底部的一接地元件290。該電路板253上配置一導電區292與發出電子信號Vs信號源291的電性連接。
在本具體實施例中,電路板253設置於模組上蓋體240與模組下蓋體246之間的位置,使試片讀取模組210的整體厚度相較於圖1中透過組裝形成約11~12mm的試片讀取模組,約可降低2~3mm的模組厚度,本具體實施例藉由調整元件間的堆疊順序,使得試片讀取模組210相較於習知技術的試片讀取模組更為輕薄。而每個操作孔242所配置的阻隔元件260為獨立運作,因此不會對相鄰或其他操作孔242所配置的阻隔元件260的運作造成干涉。
本發明所使用的彈力元件280並不限於彈簧,其他可提供彈力的元件諸如金屬彈片、金屬簧片(metal dome)都可適用。導電元件270可為柱型、球型元件,但不限定為其他形狀態樣,材質可為金屬材質,例如鋼材。阻隔元件260為一彈性元件,可為橡膠、矽膠材質。在該電路板253上,配置複數個穿孔251與操作孔242匹配,以容納複數個阻隔元件260於其中作動,該電路板253上相對於該複數個穿孔251的周圍,亦配置複數個導電區292。在試片220插入時,複數個阻隔元件260依試片220的孔洞222的編碼設計而穿過該複數個穿孔251上下活動。
當試片220未插入試片讀取模組210時,彈力元件280頂住導電元件270的下端254,將導電元件270向上方推擠,短路突起272的一頂面258配置以因應彈力元件280之推擠而接觸電路板253的導電區292, 因此電子信號Vs可以經電路板253的導電區292到導電元件270,並透過彈力元件280而與接地元件290構成導電狀態,構成的路徑一路電連接到接地端,第2D圖為試片讀取模組的下視示意圖,顯示出導電區292在試片讀取模組210的位置,第2E圖為在第2D圖所顯示的試片讀取模組上增加模組下蓋體246的示意圖,模組下蓋體246以螺絲296固定在電路板253上。
如果電子信號Vs是一電壓,則上述的迴路將形成電流。在另一實施方式中,發出電子信號Vs的信號源291可以配置於電路板253上。如第2C圖左側操作孔242所示,試片220插入試片讀取模組210後,當啟動元件250對應到不含凸起部224的孔洞222時,啟動元件250未受到擠壓,導電元件270依然與電路板253的導電區292接觸而構成導電狀態,可被判讀為第一編碼訊號。
如第2C圖右側操作孔242所示,當啟動元件250對應到試片220的凸起部224而受擠壓時,操作孔242中啟動元件250的位置向下擠壓阻隔元件260,進而使得導電元件270的短路突起272的頂面258與電路板253的導電區292構成斷路的狀態,來自信號源291的電子信號Vs無法傳送到接地端,所以沒有形成迴路以形成電流,則被判讀為第二編碼訊號。此外,啟動元件250受到凸起部224被擠壓的啟動高度225約為0.4mm~0.8mm之間,幫助第一操作行程組件以及第二操作行程組件的作動能夠有效執行。換句話說,當試片220配置於試片讀取模組210上方時,上述無電流的狀態也就意謂著孔洞222之中存在有凸起部224,這也可以用作是對於試片220上孔洞密碼的解讀。
因此本領域具有通常知識的人士可以了解本發明的試片讀取裝置的密碼讀取原理,在另一實施方式中,將試片孔洞222存在有凸起部224的地方設計為導電的狀態,而未存在凸起部224的地方則設計為斷 路。透過以上具體實施例的配置方式,可依據來自信號源291的電子信號Vs構成電流與否,而能夠解讀或辨識試片220上單一孔洞的編碼。以二位元編碼為例,其中一種編碼狀態代表0,則另一種編碼狀態代表1;反之亦然。
在本具體實施例中,請參考第2B圖,試片讀取模組210更包含一電觸部255,可與試片220上的電極進行電連接,且電觸部255由兩個電觸點形成。當試片220插入試片插槽243時,試片220上的工作電極與對電極與兩個觸點進行電接觸,其中電觸部的材質較佳為黃金材質,對應的試片電極材料較佳為黃金材質,例如Rightest® Blood test strip使用材料,使得試片產生的電流有較佳的穩定性與傳導性。試片220不限於凹洞形狀的設計,其可為其他設計選擇,例如一凸塊、一鋸齒、一排齒、一切縫、一凹槽及一通孔其中之一,並與試片讀取模組210進行組配作動。
請參閱第2F圖,其為本發明第二具體實施例中試片插入試片讀取模組210的局部剖面圖。第2F圖是以第2C圖為基礎的局部改良,且第2F圖沿用與第2C圖一樣的元件符號。第2F圖相較於第2C圖的差異在於,第2F的第二具體實施例可進一步降低讀取模組210的高度。其中接地元件290與導電區292配置在電路板253上,因此原本配置於模組下蓋體246底部的接地元件290可以被移除,使得試片讀取模組210的高度降低,且該彈力元件280可以是具導電性或不具導電性的任何有彈力之材料所形成。
如前所述,在電路板253上,配置複數個穿孔251與操作孔242匹配,以容納各對應的複數個阻隔元件260於該複數個穿孔251內上下活動,原本的接地元件290改為設置於電路板253上的導通元件293完成接地元件290的任務,導通元件293設置於穿孔251的周圍而相對於導電元件270之第一側,導電區292則設置於於電路板253上穿孔251的周圍 且相對於各導電元件270之穿孔251的第二側。因此,各該導通元件293與導電區292分別配置於電路板253的穿孔251周圍且相對於導電元件270之穿孔251兩側以產生電性隔離,其所擁有的效果與第一實施例中的接地元件290及導電區292相同。在本具體實施例中,當試片220未插入時,彈力元件280頂住導電元件270的下端254,將導電元件270向上方推擠,使得電路板253上的導電區292與導通元件293接觸形成短路,因此電子信號Vs透過導電元件270使電路板253的導電區292與導通元件293接觸,而構成導電狀態及形成迴路。
如第2F左側操作孔242所示,當試片220插入且啟動元件250對應到不含凸起部224的試片孔洞222時,啟動元件250未受到擠壓,使導電元件270依然保持當試片220未插入時,導電區292與導通元件293接觸構成導電的狀態,可被判讀為第一編碼訊號;如第2F右側操作孔242所示,當啟動元件250對應到試片220的凸起部224而受擠壓時,操作孔242中啟動元件250的位置向下擠壓阻隔元件260,進而使得導電元件270的一頂面258脫離電路板253,電路板253上的導電區292與導通元件293形成斷路的狀態,因此電子信號Vs與導通元件293構成不導電狀態,可被判讀為第二編碼訊號。各該導通元件293與電路板253上的偵測電路(未示出)電性連接,使各該導通元件293是否與導電區292接觸構成導電的狀態,送至偵測電路以判讀前述的編碼訊號。
在處理試片讀取模組於使用上常發生的血液或灰塵汙染的問題,本發明提出以下解決方法,但不限於此。
如第2C圖所示,當試片插入試片插槽243後,啟動元件250將因應試片上孔洞222的編碼而上下移動,在移動的同時會擠壓到下方的阻隔元件260,阻隔元件再進一步擠壓導電元件270,藉此解讀試片上的編碼,其中阻隔元件包含呈懸臂型的第一阻隔261及平行於邊壁的第二阻隔 263,使得各個啟動元件得以獨立運作,不會受到鄰近的操作孔242中的作動影響,而有錯誤讀碼的情形。此外,第一阻隔261在啟動元件250往下作動時會產生形變,使得啟動元件250在下壓時需要額外的壓力差,讓下方連動的導電元件270作動更加精確,達到準確編碼的目的,另一方面,當外部的汙染物經由操作孔242進入讀取模組時,會被聚集在啟動元件下方兩個呈V型的汙染物收集部262中,而不會直接影響到下層的導電作動方式。
請參閱第3A圖,為另一個具體實施例,各部位的元件配置及作動原理基本與第2C圖的實施例相似,差異在於利用加長型的導電元件350取代啟動元件150,該導電元件350具有用以接觸試片320之孔洞322的第一端352,以及用以抵頂彈力元件380的第二端354,導電元件350具有較靠近第一端352的第一槽壁357以及相對於第一槽壁357的第二槽壁358。第一槽壁357及第二槽壁358之間的空間為側邊槽356。
如第3A圖左側操作孔342所示,當試片320插入在試片上承靠端341與試片下承靠端344之間所定義的試片插槽343後且導電元件350對應到試片320之孔洞322不含凸起部324時,導電元件350未受到擠壓,使導電元件350的第二槽壁358依然與電路板353上的導電區392接觸,因此電子信號Vs透過導電區392與接地元件390構成導電狀態且形成迴路,而可被判讀為第一編碼訊號;如第3A圖右側操作孔342所示,當導電元件350對應到試片320之凸起部324而受擠壓時,操作孔342中導電元件350的位置向下方移動,進而使得導電元件350的第二槽壁358與該導電區392脫離,使得電子信號Vs與接地元件390構成斷路的狀態。
如第3A圖所示,每個操作孔342所配置的阻隔元件360為獨立運作,因此不會對其他操作孔342所配置之阻隔元件360的運作造成干涉。由於阻隔元件360較佳為彈性材質,可以隨著導電元件350的上下 移動而形變,所以和第一槽壁357維持匹配的狀態。然而,由於這時導電元件350與接地元件390之間是在斷路的狀態,來自信號源391的電子信號Vs無法傳送到接地端,所以沒有形成迴路以形成電流,則被判讀為第二編碼訊號。
當試片320配置於試片讀取模組310上方時,孔洞322中未有凸起部324時為無電流的狀態。因此本領域具有通常知識的人士可以了解本發明的試片讀取裝置的密碼讀取原理,透過以上實施例的配置方式,可依據來自信號源391的電子信號Vs構成電流與否,而能夠解讀或辨識試片320上單一孔洞的編碼。以二位元編碼為例,其中一種編碼狀態代表0,則另一種編碼狀態代表1;反之亦然。
請參考第3B圖,其為本發明第四具體實施例中試片插入試片讀取模組310的局部剖面圖。第3B圖是以第3A圖為基礎的局部改良,且第3B圖沿用與第3A圖一樣的元件符號。第3B圖相較於第3A圖的差異在於,第3B圖是在該電路板353上同時配置接地元件及導電區392,使得原本配置於該試片讀取模組310底部的接地元件390可以被移除,以進一步降低試片讀取模組310的高度,且該彈力元件380可以是具導電性或不具導電性的任何有彈力之材料所形成。與第2F類似,原本的接地元件390改為導通元件393,設置於電路板353上穿孔351周圍而相對於各導電元件350的短路突起372之第一側,而導電區392形成於電路板353上的穿孔351週圍而相對於短路突起372之第二側。因此,各該導通元件393與導電區392分別配置於電路板353上的穿孔351周圍而相對於短路突起372之兩側以產生電性隔離。
在本第四具體實施例中,當試片320未插入時,彈力元件380頂住的第二端354,將導電元件350向上方推擠,使得導電區392接與導通元件393接觸形成短路,因此電子信號Vs透過導電元件350使導電區 392與導通元件393接觸而構成導電狀態且形成迴路。如第3B圖左側操作孔342所示,當試片插入且導電元件350對應到不含凸起部324的試片孔洞322時,導電元件350未受到擠壓,使導電元件350依然保持當試片320未插入時,導電區392與導通元件393接觸構成導電的狀態,可被判讀為第一編碼訊號;如第3B圖右側操作孔342所示,當導電元件350對應到試片的凸起部324而受擠壓時,操作孔322中導電元件350的位置向下擠壓阻隔元件360,進而使得導電元件350的第二槽壁358脫離導電區392與導通元件393形成斷路的狀態,因此電子信號Vs與導通元件393構成不導電狀態,可被判讀為第二編碼訊號。各該導通元件393與電路板353上的偵測電路(未示出)電性連接,使各該導通元件393是否與導電區392接觸而構成導電的狀態,送至偵測電路以判讀前述的編碼訊號。
為解決過去阻隔元件所帶來的問題以及血液不慎進入生理參數測量裝置內部造成的血汙問題,本發明提出的解決方案如下,但不限於此。
如第3A圖所示,當試片320插入後,該阻隔元件360會隨著導電元件350的上下移動而形變,該阻隔元件360包含第一阻隔361及第二阻隔363,使各別導電元件350之作動可獨立運作,因此不會發生公用阻隔元件時誤壓到鄰近的導電元件而造成錯誤讀碼的情形。且該第一阻隔361使阻隔元件360在被擠壓的過程中需額外壓力差,使第一阻隔361變形,讓連動之導電元件350作動能更加精確,可增進讀碼的準確性。
如第3A圖所示,改良後的阻隔元件360配置一汙染物收集裝置362,該汙染物收集部362形成於第一阻隔361及第二阻隔363之間,該第二阻隔363貼近並平行於操作孔的第一邊壁345,該污染物收集部362並和該側邊槽356相匹配。如第3A圖顯示,該汙染物收集部362剖面如一口袋般的凹槽,設置於鄰近第一端352處。當有來自試片或是空氣中的污 染物P不慎進入試片讀取模組310,汙染物P會被限制在該汙染物收集部362中,不會往下進入模組下層而影響導電作動方式。
第3A圖所示的阻隔元件360與第2C圖的阻隔元件260相較之下,阻隔元件360的第一阻隔361厚度增加且寬度變窄,可使阻隔元件受力更為集中。因此在被擠壓的過程中,連結之導電元件350作動能更加精確,且阻隔元件360同樣包含汙染物收集部362,如第3B圖中顯示的是剖面如口袋般的U型凹槽,本發明的阻隔元件設計態樣不限於其他類似型態。
請參閱第2A與第2B圖,其為本發明的薄型試片及試片讀取模組應用於手持裝置的示意範例。如前所述,本發明的試片讀取模組210可再連接一通訊模組(未顯示),再將其連接好的兩個模組組裝於手持裝置的前蓋201及後蓋202內,而其前蓋201上緣有一開放的缺口,以容納不同的試片讀取模組210及供其試片插拔。試片讀取模組210並配置試片上承靠端241及試片下承靠端244,並在兩個承靠端之間形成一固定高度的試片插槽243,以容納不同的分析物量測試片。由於試片讀取模組210配置的承靠端已決定出一固定高度的試片插槽243,因而該手持裝置不會因為不同的分析物量測裝置,而需要重新調整試片承靠面的高度。另外,透過一限位構件203的設計來固定試片讀取模組210,進而完成試片讀取模組210的組裝部分。本發明的試片讀取模組210具有能夠量測分析物的功能性元件,體積極小,方便組裝,因此可被選擇性地組裝入不同類型的手持裝置內,使手持裝置能夠具備量測分析物功能並兼具分析物讀值的傳輸功能。若採用第2A圖的分析物量測模組結構,相較於圖1中透過組裝形成的試片讀取模組,其厚度降低約2~3mm。因此,可省下約18~27%的空間來做其他有效的利用。
實施例:
如實施例1所述之一種試片讀取裝置,包含:一模組上蓋體,設有至少一試片承靠端以及複數操作孔,各該複數操作孔可置入複數第一操作行程組件;一電路板,具複數穿孔搭配該複數操作孔,供各該複數第一操作行程組件於各該複數操作孔及各該複數穿孔之間移動,該電路板底部的該複數穿孔周邊設有複數導電區;以及一模組下蓋體,設置有複數第二操作行程組件,各該複數第二操作行程組件與各該導電區之接觸與分離狀態決定一讀取訊號。
如實施例1所述之試片讀取裝置,其中該模組上蓋體更包含一試片上承靠端與一試片下承靠端,以形成與該模組上蓋體一體成型的一試片插槽,以容納一試片,該試片插槽的高度為該試片的厚度加上一個介於0.05~0.5mm的空隙。
如實施例1所述之試片讀取裝置,其中該複數第一操作行程組件包含複數啟動元件,用於接觸該試片上複數編碼孔。
如實施例1所述之試片讀取裝置,其中該複數第一操作行程組件更包含複數阻隔元件,配置於該複數啟動元件下方,其中該複數阻隔元件具複數汙染物收集部。
如實施例2所述之試片讀取裝置,其中該複數第二操作行程組件包含複數導電元件設置於該複數阻隔元件下方,以及複數彈力元件用以抵頂該複數導電元件。
如實施例3所述之試片讀取裝置,其中該複數第二操作行程組件更包含複數接地元件,設置於該複數彈力元件下方,各該複數導電元件因應各該複數彈力元件之推擠而接觸各該複數接地元件,當各該複數導電元件與各該複數導電區接觸時,形成一導電狀態,以及當各該複數導電元件與各該複數導電區分離時,形成一未導電狀態。
如實施例3所述之試片讀取裝置,其中當該試片插入該試片 插槽時,根據各該複數個編碼孔中是否有一凸起部,決定各該複數導電區與各該複數接地元件是否電接觸,以經由各該導電狀態或該未導電狀態判斷該試片上相對於各該複數個操作孔位置的該讀取訊號。
如實施例3所述之試片讀取裝置,其中該電路板更包含複數導通元件,設置於該電路板底部的該複數穿孔周邊,當各該複數導電元件與各該複數導電區及各該複數導通元件接觸時,形成一導電狀態,以及當各該複數導電元件與各該複數導電區及各該複數導通元件分離時,形成一未導電狀態,並經由該導電狀態或該未導電狀態判斷該試片上相對於各該複數個操作孔位置的該讀取訊號。
如實施例4所述之一種試片讀取裝置以容納一試片,包含:一模組上蓋體,設有至少一試片承靠端,包含複數操作孔,可置入複數導電元件以及複數第一操作行程組件;一電路板,具複數穿孔搭配該複數操作孔,供該複數導電元件於該複數穿孔與該複數操作孔之間移動,該電路板底部的各該複數穿孔周邊設有複數導電區;以及一模組下蓋體,設置有複數第二操作行程組件,其中各該複數導電元件與該導電區之接觸與分離狀態決定一讀取訊號。
如實施例4所述之試片讀取裝置,其中各該複數導電元件為一柱狀導電元件。
如實施例4所述之試片讀取裝置,其中各該複數導電元件具一第一端,用以接觸該試片上的複數編碼孔,以及一第二端,用以抵頂各該複數第二操作行程組件。
如實施例4所述之試片讀取裝置,其中各該複數第一操作行程組件包含被配置於鄰近該第一端的一汙染物收集部,俾收集進入該試片讀取裝置之一汙染物,且其中該柱狀導電元件更具有與該汙染物收集部相匹配的一側邊槽。
如實施例4所述之試片讀取裝置,其中各該複數第二操作行程組件包含一彈力元件用以抵頂該柱狀導電元件。
如實施例4所述之試片讀取裝置,其中各該複數第二操作行程組件更包含一接地元件,該側邊槽具有靠近該第一端的一第一槽壁以及相對於該第一槽壁的一第二槽壁,且該第二槽壁被配置以因應該彈力元件之推擠而接觸該接地元件。
如實施例4所述之試片讀取裝置,其中各該複數編碼孔包含或不包含一凸起部;當各該複數編碼孔中包含該凸起部時,該凸起部抵頂該第一端,使各該複數導電元件與該複數導電區分離時,而形成一未導電狀態;當各該複數編碼孔中不包含凸起部時,該第一端未被抵頂,使各該複數導電元件與該複數導電區接觸時,而形成一導電狀態。
如實施例4所述之試片讀取裝置,其中當該試片插入該試片插槽時,根據各該複數個編碼孔中是否有該凸起部,決定該未導電狀態或該導電狀態,以判斷該試片上相對於該複數個操作孔位置的該讀取訊號。
如實施例4所述之試片讀取裝置,其中該電路板更包含複數導通元件,設置於該電路板底部的該複數穿孔周邊,當各該複數導電元件在操作時,依據該試片上相對各該複數操作孔之結構,決定各該複數導電元件與各該複數導電區及各該複數導通元件形成一導電狀態或一未導電狀態,由該導電狀態與該未導電狀態判斷該試片上相對各該複數操作孔的該讀取訊號。
如實施例4所述之試片讀取裝置,該電路板包含至少一電觸部,以電連接該試片的至少一電極。
如實施例5所述之一生物檢測系統,包含:一試片讀取裝置,包含一試片上承靠端及一試片下承靠端,其中該試片上承靠端及該試片下承靠端之間形成一高度落差以容納一試片,該試片上承靠端及該試片 下承靠端與該試片讀取裝置一體成型;一上蓋,設置於該試片讀取裝置上方,可選擇性地遮蔽該試片上承靠端的一頂面;以及一下蓋,設置於該試片讀取裝置下方,以遮蔽該試片讀取裝置的一底面。
如實施例5所述之生物檢測系統,其中該試片讀取裝置更包含一電路板,該電路板設置有複數個穿孔,各該複數穿孔周邊設有複數導電區,使抵頂該試片的各該複數編碼孔的各該複數啟動元件接觸或分離以決定一讀取訊號。
如實施例5所述之生物檢測系統,其中該高度落差為該試片的一厚度加上一個介於0.05~0.5mm的空隙。
本發明以上述的較佳實施例與範例作為參考而揭露,本領域一般技藝人士須了解這些例子是用於描述而非限定之意。凡習知此技藝者,在不脫離本發明的精神與範圍之下,當可做各種組合與修飾,其仍應屬在本發明專利的涵蓋範圍之內。
310‧‧‧試片讀取模組
320‧‧‧試片
322‧‧‧孔洞
324‧‧‧凸起部
340‧‧‧模組上蓋體
346‧‧‧模組下蓋體
351‧‧‧穿孔
341‧‧‧試片上承靠端
342‧‧‧操作孔
343‧‧‧試片插槽
344‧‧‧試片下承靠端
345‧‧‧第一邊壁
350‧‧‧導電元件
352‧‧‧第一端
353‧‧‧電路板
354‧‧‧第二端
356‧‧‧側邊槽
357‧‧‧第一槽壁
358‧‧‧第二槽壁
360‧‧‧阻隔元件
361‧‧‧第一阻隔
362‧‧‧污染物收集裝置
363‧‧‧第二阻隔
372‧‧‧短路突起
380‧‧‧彈力元件
390‧‧‧接地元件
391‧‧‧信號源
P‧‧‧汙染物

Claims (20)

  1. 一種試片讀取裝置,包含:一模組上蓋體,設有至少一試片承靠端以及複數操作孔,該複數操作孔可置入複數第一操作行程組件;一電路板,具複數穿孔搭配該複數操作孔,供各該複數第一操作行程組件於各該複數操作孔及各該複數穿孔之間移動,該電路板底部的該複數穿孔周邊設有複數導電區;以及一模組下蓋體,設置有複數第二操作行程組件,各該複數第二操作行程組件連結於對應之各該複數第一操作行程組件,且各該複數第二操作行程組件與各該導電區之接觸與分離狀態決定一讀取訊號。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之試片讀取裝置,其中該模組上蓋體更包含一試片上承靠端與一試片下承靠端,以形成與該模組上蓋體一體成型的一試片插槽,以容納一試片,該試片插槽的高度為該試片的厚度加上一個介於0.05~0.5mm的空隙。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之試片讀取裝置,其中該複數第一操作行程組件包含複數啟動元件,用於接觸該試片上複數編碼孔。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之試片讀取裝置,其中該複數第一操作行程組件更包含複數阻隔元件,配置於該複數啟動元件下方,其中該複數阻隔元件具複數汙染物收集部。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之試片讀取裝置,其中該複數第二操作行程組件包含複數導電元件設置於該複數阻隔元件下方,以及複數彈力元件用以抵頂該複數導電元件。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之試片讀取裝置,其中該複數第二操作行程組件更包含複數接地元件,設置於該複數彈力元件下方,各該複數導電元件因應各該複數彈力元件之推擠而接觸各該複數接地元件,當各該複數導電元件與各該複數導電區接觸時,形成一導電狀態,以及當各該複數導電元件與各該複數導電區分離時,形成一未導電狀態。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之試片讀取裝置,其中當該試片插入該試片 插槽時,根據各該複數個編碼孔中是否有一凸起部,決定各該複數導電區與各該複數接地元件是否電接觸,以經由該導電狀態或該未導電狀態判斷該試片上相對於各該複數個操作孔位置的該讀取訊號。
  8. 如申請專利範圍第5項所述之試片讀取裝置,其中該電路板更包含複數導通元件,設置於該電路板底部的該複數穿孔周邊,當各該複數導電元件與各該複數導電區及各該複數導通元件接觸時,形成一導電狀態,以及當各該複數導電元件與各該複數導電區及各該複數導通元件分離時,形成一未導電狀態,並經由該導電狀態或該未導電狀態判斷該試片上相對於各該複數個操作孔位置的該讀取訊號。
  9. 一種試片讀取裝置以容納一試片,包含:一模組上蓋體,設有至少一試片承靠端,包含複數操作孔,可置入複數導電元件以及複數第一操作行程組件,其中各該複數第一操作行程組件隨著對應之各該複數導電元件的上下移動而形變;一電路板,具複數穿孔搭配該複數操作孔,供該複數導電元件於該複數穿孔與該複數操作孔之間移動,該電路板底部的各該複數穿孔周邊設有複數導電區;以及一模組下蓋體,設置有複數第二操作行程組件,其中各該複數導電元件用以抵頂對應之各該複數第二操作行程組件,且各該複數導電元件與各該複數導電區之接觸與分離狀態決定一讀取訊號。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之試片讀取裝置,其中各該複數導電元件為一柱狀導電元件。
  11. 如申請專利範圍第10項所述之試片讀取裝置,其中各該複數導電元件具一第一端,用以接觸該試片上的複數編碼孔,以及一第二端,用以抵頂各該複數第二操作行程組件。
  12. 如申請專利範圍第11項所述之試片讀取裝置,其中各該複數第一操作行程組件包含被配置於鄰近該第一端的一汙染物收集部,俾收集進入該試片讀取裝置之一汙染物,且其中該柱狀導電元件更具有與該汙染物收 集部相匹配的一側邊槽。
  13. 如申請專利範圍第12項所述之試片讀取裝置,其中各該複數第二操作行程組件包含一彈力元件用以抵頂該柱狀導電元件。
  14. 如申請專利範圍第13項所述之試片讀取裝置,其中各該複數第二操作行程組件更包含一接地元件,該側邊槽具有靠近該第一端的一第一槽壁以及相對於該第一槽壁的一第二槽壁,且該第二槽壁被配置以因應該彈力元件之推擠而接觸該接地元件。
  15. 如申請專利範圍第11項所述之試片讀取裝置,其中各該複數編碼孔包含或不包含一凸起部;當各該複數編碼孔中包含該凸起部時,該凸起部抵頂該第一端,使各該複數導電元件與該複數導電區分離而形成一未導電狀態;當各該複數編碼孔中不包含凸起部時,該第一端未被抵頂,使各該複數導電元件與該複數導電區接觸而形成一導電狀態。
  16. 如申請專利範圍第15項所述之試片讀取裝置,其中當該試片插入一試片插槽時,根據各該複數個編碼孔中是否有該凸起部,決定該未導電狀態或該導電狀態,以判斷該試片上相對於各該複數個操作孔位置的該讀取訊號。
  17. 如申請專利範圍第9項所述之試片讀取裝置,其中該電路板更包含複數導通元件,設置於該電路板底部的該複數穿孔周邊,當各該複數導電元件在操作時,依據該試片上相對各該複數操作孔之結構,決定各該複數導電元件與各該複數導電區及各該複數導通元件形成一導電狀態或一未導電狀態,由該導電狀態與該未導電狀態判斷該試片上相對各該複數操作孔的該讀取訊號。
  18. 如申請專利範圍第9項所述之試片讀取裝置,其中該電路板包含至少一電觸部,以電連接該試片的至少一電極。
  19. 一種生物檢測系統,包含:一試片讀取裝置,包含一電路板、一試片上承靠端及一試片下承靠 端,其中該電路板設置有複數穿孔,各該複數穿孔周邊設有複數導電區,使抵頂該試片的複數編碼孔的複數啟動元件接觸或分離以決定一讀取訊號,該試片上承靠端及該試片下承靠端之間形成一高度落差以容納一試片,該試片上承靠端及該試片下承靠端與該試片讀取裝置一體成型;一前蓋,設置於該試片讀取裝置上方,可選擇性地遮蔽該試片上承靠端的一頂面;以及一後蓋,設置於該試片讀取裝置下方,以遮蔽該試片讀取裝置的一底面。
  20. 如申請專利範圍第19項所述之生物檢測系統,其中該高度落差為該試片的一厚度加上一介於0.05~0.5mm的空隙。
TW105129876A 2016-09-13 2016-09-13 一種分析物量測模組 TWI607217B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW105129876A TWI607217B (zh) 2016-09-13 2016-09-13 一種分析物量測模組

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW105129876A TWI607217B (zh) 2016-09-13 2016-09-13 一種分析物量測模組

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TWI607217B true TWI607217B (zh) 2017-12-01
TW201809668A TW201809668A (zh) 2018-03-16

Family

ID=61230683

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW105129876A TWI607217B (zh) 2016-09-13 2016-09-13 一種分析物量測模組

Country Status (1)

Country Link
TW (1) TWI607217B (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI731545B (zh) * 2019-08-02 2021-06-21 華廣生技股份有限公司 生理訊號傳感裝置
US11896804B2 (en) 2019-08-02 2024-02-13 Bionime Corporation Insertion device for a biosensor and insertion method thereof

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW201418700A (zh) * 2012-11-12 2014-05-16 Taidoc Technology Corp 電子式分析裝置、測試分析方法以及套組
US20140318987A1 (en) * 2013-04-30 2014-10-30 Lifescan Scotland Limited Analyte meter test strip detection
CN204439553U (zh) * 2015-03-17 2015-07-01 深圳市海王英特龙生物技术股份有限公司 定位基座、暗腔及使用该暗腔的体外检测分析装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW201418700A (zh) * 2012-11-12 2014-05-16 Taidoc Technology Corp 電子式分析裝置、測試分析方法以及套組
US20140318987A1 (en) * 2013-04-30 2014-10-30 Lifescan Scotland Limited Analyte meter test strip detection
CN204439553U (zh) * 2015-03-17 2015-07-01 深圳市海王英特龙生物技术股份有限公司 定位基座、暗腔及使用该暗腔的体外检测分析装置

Also Published As

Publication number Publication date
TW201809668A (zh) 2018-03-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108344771B (zh) 试片读取装置
US7896704B2 (en) Strip connectors for measurement devices
TWI607217B (zh) 一種分析物量測模組
JP5693266B2 (ja) コネクタ
US8449742B2 (en) Gas sensor and method of manufacturing same
KR20080040045A (ko) 전기적 접속장치
KR101668382B1 (ko) 테스트 스트립들을 부호화하는 방법 및 장치
KR101470370B1 (ko) 분석장치
CN107817337B (zh) 一种分析物量测模块
JP2007048684A (ja) コネクタ
CN108601561B (zh) 血糖测定仪用试纸条排出装置
KR101017279B1 (ko) 카트리지 및 분석 시스템
KR20100031567A (ko) 분석 시스템
TWI628438B (zh) 一種分析物量測模組
US10504665B2 (en) Switch
US10139391B2 (en) Ejection structure and connector with ejection mechanism
CN107818275B (zh) 一种分析物量测模块
US20100161240A1 (en) Test strip and device for measuring sample properties and system incorporating the same
JP4787463B2 (ja) 筆記具型入力装置
JP2011249108A (ja) タッチ検出機能付きスイッチ装置
JP4117827B2 (ja) 電気部品用ソケット
JPH11251022A (ja) Icソケットのコンタクトピン、コンタクトピンユニット及びicソケット
CN113745037A (zh) 输入设备
JP2001183391A (ja) 半導体素子検査用の多極型プローブ装置
JP2000005383A (ja) 球体検出器