TWI604633B - 發光元件 - Google Patents
發光元件 Download PDFInfo
- Publication number
- TWI604633B TWI604633B TW103104673A TW103104673A TWI604633B TW I604633 B TWI604633 B TW I604633B TW 103104673 A TW103104673 A TW 103104673A TW 103104673 A TW103104673 A TW 103104673A TW I604633 B TWI604633 B TW I604633B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- electrode
- layer
- light
- semiconductor layer
- current blocking
- Prior art date
Links
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 119
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 45
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims description 43
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims description 35
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 10
- 238000007788 roughening Methods 0.000 claims description 4
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 claims description 3
- 239000000470 constituent Substances 0.000 claims description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 14
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 5
- PFNQVRZLDWYSCW-UHFFFAOYSA-N (fluoren-9-ylideneamino) n-naphthalen-1-ylcarbamate Chemical compound C12=CC=CC=C2C2=CC=CC=C2C1=NOC(=O)NC1=CC=CC2=CC=CC=C12 PFNQVRZLDWYSCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- FTWRSWRBSVXQPI-UHFFFAOYSA-N alumanylidynearsane;gallanylidynearsane Chemical compound [As]#[Al].[As]#[Ga] FTWRSWRBSVXQPI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 4
- JAONJTDQXUSBGG-UHFFFAOYSA-N dialuminum;dizinc;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3].[Zn+2].[Zn+2] JAONJTDQXUSBGG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 4
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 4
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- SKRWFPLZQAAQSU-UHFFFAOYSA-N stibanylidynetin;hydrate Chemical compound O.[Sn].[Sb] SKRWFPLZQAAQSU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 3
- -1 Su8 Polymers 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 3
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 description 3
- BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N cadmium atom Chemical compound [Cd] BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 3
- HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N gallium phosphide Chemical compound [Ga]#P HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 3
- JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N tellanylidenegermanium Chemical compound [Te]=[Ge] JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 2
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920000089 Cyclic olefin copolymer Polymers 0.000 description 2
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 2
- JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N Gallium nitride Chemical compound [Ga]#N JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N benzocyclobutene Chemical compound C1=CC=C2CCC2=C1 UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BEQNOZDXPONEMR-UHFFFAOYSA-N cadmium;oxotin Chemical compound [Cd].[Sn]=O BEQNOZDXPONEMR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011153 ceramic matrix composite Substances 0.000 description 2
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 2
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MRELNEQAGSRDBK-UHFFFAOYSA-N lanthanum(3+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[La+3].[La+3] MRELNEQAGSRDBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 2
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 2
- 239000011156 metal matrix composite Substances 0.000 description 2
- NFFIWVVINABMKP-UHFFFAOYSA-N methylidynetantalum Chemical compound [Ta]#C NFFIWVVINABMKP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 2
- BCCOBQSFUDVTJQ-UHFFFAOYSA-N octafluorocyclobutane Chemical compound FC1(F)C(F)(F)C(F)(F)C1(F)F BCCOBQSFUDVTJQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 235000019407 octafluorocyclobutane Nutrition 0.000 description 2
- NQBRDZOHGALQCB-UHFFFAOYSA-N oxoindium Chemical compound [O].[In] NQBRDZOHGALQCB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KYKLWYKWCAYAJY-UHFFFAOYSA-N oxotin;zinc Chemical compound [Zn].[Sn]=O KYKLWYKWCAYAJY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 2
- 229920000768 polyamine Polymers 0.000 description 2
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 2
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 2
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 2
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 2
- 229910003468 tantalcarbide Inorganic materials 0.000 description 2
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 2
- YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N zinc indium(3+) oxygen(2-) Chemical compound [O--].[Zn++].[In+3] YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 2
- WJMXTYZCTXTFJM-UHFFFAOYSA-N 1,1,1,2-tetraethoxydecane Chemical compound C(C)OC(C(OCC)(OCC)OCC)CCCCCCCC WJMXTYZCTXTFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 7553-56-2 Chemical compound [I] ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N Aluminum nitride Chemical compound [Al]#N PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920000049 Carbon (fiber) Polymers 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GPXJNWSHGFTCBW-UHFFFAOYSA-N Indium phosphide Chemical compound [In]#P GPXJNWSHGFTCBW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010093 LiAlO Inorganic materials 0.000 description 1
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004697 Polyetherimide Substances 0.000 description 1
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N Tetraethyl orthosilicate Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)OCC BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 1
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004917 carbon fiber Substances 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 229920002313 fluoropolymer Polymers 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021389 graphene Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ATFCOADKYSRZES-UHFFFAOYSA-N indium;oxotungsten Chemical compound [In].[W]=O ATFCOADKYSRZES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 239000011630 iodine Substances 0.000 description 1
- 229910052740 iodine Inorganic materials 0.000 description 1
- YQNQTEBHHUSESQ-UHFFFAOYSA-N lithium aluminate Chemical compound [Li+].[O-][Al]=O YQNQTEBHHUSESQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MNKMDLVKGZBOEW-UHFFFAOYSA-M lithium;3,4,5-trihydroxybenzoate Chemical compound [Li+].OC1=CC(C([O-])=O)=CC(O)=C1O MNKMDLVKGZBOEW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 1
- ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L magnesium fluoride Chemical compound [F-].[F-].[Mg+2] ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 229920001601 polyetherimide Polymers 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 239000002096 quantum dot Substances 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 229910052702 rhenium Inorganic materials 0.000 description 1
- WUAPFZMCVAUBPE-UHFFFAOYSA-N rhenium atom Chemical compound [Re] WUAPFZMCVAUBPE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 230000007480 spreading Effects 0.000 description 1
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MZLGASXMSKOWSE-UHFFFAOYSA-N tantalum nitride Chemical compound [Ta]#N MZLGASXMSKOWSE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/0004—Devices characterised by their operation
- H01L33/002—Devices characterised by their operation having heterojunctions or graded gap
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/02—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
- H01L33/14—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a carrier transport control structure, e.g. highly-doped semiconductor layer or current-blocking structure
- H01L33/145—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a carrier transport control structure, e.g. highly-doped semiconductor layer or current-blocking structure with a current-blocking structure
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/02—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
- H01L33/20—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate
- H01L33/22—Roughened surfaces, e.g. at the interface between epitaxial layers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/36—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/36—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
- H01L33/40—Materials therefor
- H01L33/42—Transparent materials
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/44—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the coatings, e.g. passivation layer or anti-reflective coating
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2933/00—Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2933/0008—Processes
- H01L2933/0016—Processes relating to electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2933/00—Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2933/0008—Processes
- H01L2933/0025—Processes relating to coatings
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Led Devices (AREA)
Description
本發明關於一種發光元件,特別是關於一種具有高製造良率之發光元件。
光電元件,例如發光二極體(Light-emitting Diode;LED),目前已經廣泛地使用在光學顯示裝置、交通號誌、資料儲存裝置、通訊裝置、照明裝置與醫療器材上。此外,上述之LED可與其他元件組合連接以形成一發光裝置。第1圖為習知之發光裝置結構示意圖,如第1圖所示,一發光裝置1包含一具有一電路14之次載體(submount)12;一焊料16(solder)位於上述次載體12上,藉由此焊料16將LED 11固定於次載體12上並使LED 11與次載體12上之電路14形成電連接;以及一電性連接結構18,以電性連接LED 11之電極15與次載體12上之電路14;其中,上述之次載體12可以是導線架(lead frame)或大尺寸鑲嵌基底(mounting substrate)。
一發光元件,包含一發光疊層,包含一上表面,其中上表面包含一第一平坦部;一保護層包含一電流阻擋部位於第一平坦部之上;以及一覆蓋部位於上表面之上,其中電流阻擋部
與覆蓋部空間上隔離;以及一第一電極包覆電流阻擋部。
一發光元件,包含一發光疊層,包含一側表面及一上表面,其中上表面包含一第一區及一第二區;一保護層,包含一覆蓋部位於側表面及上表面之第二區之上,且暴露第一區;以及一第一電極位於上表面之上;其中第二區面積小於第一區面積。
1‧‧‧發光裝置
11‧‧‧LED
12‧‧‧次載體
13、20、30‧‧‧基板
14‧‧‧電路
15‧‧‧電極
16‧‧‧焊料
18‧‧‧電性連接結構
2、3、4‧‧‧發光元件
200、300‧‧‧圖案化上表面
21、31‧‧‧第一電極
210‧‧‧第一打線部
212‧‧‧第一延伸部
22、32‧‧‧發光疊層
221‧‧‧第一粗化上表面
222、322‧‧‧第一半導體層
223‧‧‧第一平坦部
224、324‧‧‧主動層
225、325‧‧‧側表面
226、326‧‧‧第二半導體層
23、33‧‧‧第二電極
231‧‧‧第二打線部
233‧‧‧第二延伸部
235‧‧‧第三延伸部
24、34‧‧‧透明導電氧化層
241‧‧‧第二粗化上表面
243‧‧‧第二平坦部
245‧‧‧第二側邊
25‧‧‧第一邊
26、36、46‧‧‧保護層
261‧‧‧第一開口
260、360‧‧‧電流阻擋部
263‧‧‧第二開口
262、362‧‧‧覆蓋部
265、365‧‧‧電流阻擋部上表面
264‧‧‧第一階部
267、367‧‧‧覆蓋部上表面
266‧‧‧第三開口
268‧‧‧第四開口
27‧‧‧第二邊
321‧‧‧上表面
321A、421A‧‧‧第一區
321B、421B‧‧‧第二區
324A‧‧‧障蔽層
324B‧‧‧井層
51‧‧‧燈罩
52‧‧‧透鏡
53‧‧‧載體
54‧‧‧照明模組
55‧‧‧燈座
56‧‧‧散熱槽
57‧‧‧連結部
58‧‧‧電連結器
第1圖繪示習知之發光裝置結構示意圖。
第2A~2D圖繪示本申請案一實施例之發光元件之製造流程圖。
第2E圖繪示本申請案第2D圖之發光元件之上視圖。
第3圖繪示本申請案另一實施例之發光元件之剖面圖。
第4圖繪示本申請案另一實施例之發光元件之剖面圖。
第5圖本申請案一實施例之燈泡分解示意圖。
本發明之實施例會被詳細地描述,並且繪製於圖式中,相同或類似的部分會以相同的號碼在各圖式以及說明出現
第2A~2D圖繪示本申請案第一實施例之發光元件之製造流程圖。如第2A圖所示,一發光疊層22位於一基板20之上。發光疊層22具有一第一半導體層222、一主動層224與一第二半導體層226依序形成於基板20之上,其中第二半導體層226具有一第一粗化上表面221。如第2B圖所示,一第一平坦部223形成於第一粗化上表面221之上,一透明導電氧化層24形成於第二半導體層226之上,其中透明導電氧化層24具有一第二粗化上表面241以及一第二平坦部243形成於第二粗化上表面241之上,其中第二平坦部243之表面粗糙度與第一平坦部223大致相同。如第
2C圖所示,移除部分透明導電氧化層24與發光疊層22以曝露部分第一半導體層222與第一粗化上表面221。形成保護層26於發光疊層22與透明導電氧化層24之上,覆蓋發光疊層22之一第一側邊225與透明導電氧化層24之一第二側邊245。由於第一粗化上表面221與第二粗化上表面241的高度差,保護層26形成於第二側邊245時會形成一第一階部264位於第一粗化上表面221之上。移除部份保護層26形成一第一開口261以曝露第二粗化上表面241與第二平坦部243;一第二開口263曝露第一半導體層222;保護層26可區分為一電流阻擋部260於第二平坦部243之上,以及一覆蓋部262於第二粗化上表面241之上,其中電流阻擋部上表面265與主動層224之間的距離與覆蓋部上表面267與主動層224之間的距離大致相等。如第2D圖所示,形成一第一電極21於第一開口261與保護層26之上,且第一電極21填入開口261,覆蓋電流阻擋部260;以及形成一第二電極23於第二開口263與保護層26之上,且第二電極23填入開口263,其中部分第二電極23位於第二半導體層226與透明導電氧化層24之上,覆蓋於第一階部264之上以形成一第二階部230。第2E圖繪示發光元件2之上視圖,第2D圖繪示自第2E圖剖面線AA’所視之剖面圖。如第2E圖所示,第一電極21具有一第一打線部210與一第一延伸部212自第一打線部210延伸;第二電極23具有一第二打線部231以及一第二延伸部233與一第三延伸部235自第二打線部231延伸。發光元件2具有一第一邊25以及與第一邊25相鄰之一第二邊27,移除部份保護層26與發光疊層22以形成一第三開口266與一第四開口268,曝露第一半導體層222,其中第三開口266位於第一邊25,第四開口268位於第二邊27。第二延伸部233延伸至第三開口266,且與曝露之第一半導體層222接觸,第三延伸部
235延伸至第四開口268,且與曝露之第一半導體層222接觸,以增加電流擴散,提升發光元件2之效率。第二延伸部233和第三延伸部235下方之保護層26與發光疊層22未完全移除,避免減少發光面積,降低發光元件2之發光效率。
第一電極21及/或第二電極23用以接受外部電壓,可由透明導電材料或金屬材料所構成。透明導電材料包含但不限於氧化銦錫(ITO)、氧化銦(InO)、氧化錫(SnO)、氧化鎘錫(CTO)、氧化銻錫(ATO)、氧化鋁鋅(AZO)、氧化鋅錫(ZTO)、氧化鎵鋅(GZO)、氧化銦鎢(IWO)、氧化鋅(ZnO)、砷化鋁鎵(AlGaAs)、氮化鎵(GaN)、磷化鎵(GaP)、磷砷化鎵(GaAsP)、氧化銦鋅(IZO)或類鑽碳薄膜(DLC)。金屬材料包含但不限於鋁(Al)、鉻(Cr)、銅(Cu)、錫(Sn)、金(Au)、鎳(Ni)、鈦(Ti)、鉑(Pt)、鉛(Pb)、鋅(Zn)、鎘(Cd)、銻(Sb)、銠(Rh)、銀(Ag)、鎂(Mg)或上述材料之合金等。部分第二電極23形成於透明導電氧化層24之上,增加第二電極23之面積,以利後續製程,例如打線。第一電極21覆蓋電流阻擋部260至少一側面以增加與電流阻擋部260之接觸面積,提升第一電極21與電流阻擋部260之間的接合強度,避免後續製程,例如為打線,造成第一電極21與電流阻擋部260剝離,降低發光元件2之良率。
保護層26用以保護發光疊層22,增加結構強度。另外,保護層26亦用以電絕緣部分第二電極23與發光疊層22,避免短路。保護層26之厚度約為1微米至3微米,保護層26之厚度若低於1微米會導致漏電流,若厚度高於3微米會導致第一電極21無法包覆電流阻擋部260,增加剝離的機率。電流阻擋部260係經由移除部分保護層26而形成,電流阻擋部260與覆蓋部262空間上分離,無直接接觸。另一實施例中,電流阻擋部260亦可
與覆蓋部262相連。電流阻擋部260用以減少通過發光疊層22位於第一電極21正下方之區域的電流,降低發光疊層22所發之光被第一電極21吸收的機率,避免降低發光元件2之發光效率。此外,電流阻擋部260亦用以連接第一電極21與透明導電氧化層24,降低第一電極21剝離的機率,提升良率。保護層26、電流阻擋部260及覆蓋部262之材料可為絕緣材料,例如為聚亞醯胺(PI)、苯并環丁烯(BCB)、過氟環丁烷(PFCB)、氧化鎂(MgO)、Su8、環氧樹脂(Epoxy)、丙烯酸樹脂(Acrylic Resin)、環烯烴聚合物(COC)、聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)、聚對苯二甲酸乙二酯(PET)、聚碳酸酯(PC)、聚醚醯亞胺(Polyetherimide)、氟碳聚合物(Fluorocarbon Polymer)、玻璃(Glass)、氧化鋁(Al2O3)、氧化矽(SiOx)、氧化鈦(TiO2)、氧化鉭(Ta2O5)、氮化矽(SiNx)、旋塗玻璃(SOG)、四乙氧基矽烷(TEOS)、氟化鎂(MgF2)、鑽石(Diamond)或上述材料之組合。電流阻擋部260及覆蓋部262可具有相同之厚度及組成材料。
發光疊層22之材料可為半導體材料,包含一種以上之元素,此元素可選自鎵(Ga)、鋁(Al)、銦(In)、磷(P)、氮(N)、鋅(Zn)、鎘(Cd)與硒(Se)所構成之群組。第一半導體層222與第二半導體層226的電性相異,用以產生電子或電洞。第二半導體層226具有第一粗化上表面221,用以降低全反射,提升光電元件2之發光效率。主動層224可發出一種或多種色光,可為可見光或不可見光,其結構可為單異質結構、雙異質結構、雙側雙異質結構、多層量子井或量子點。如第2D圖所示,第一平坦部223大致形成於第一電極21之下,第一平坦部223之寬度W1及/或第二平坦部243之寬度W2大於第一打線部210之寬度W3,增加全反射,避
免主動層224所發之光射向第一打線部210而被吸收,以提升發光元件2之出光效率。另一實施例中,第一平坦部223及/或第二平坦部243更可大致形成於第一延伸部212之下,增加全反射,避免主動層224所發之光射向第一延伸部212而被吸收,以提升發光元件2之出光效率。又一實施例中,第一打線部210可覆蓋於部分第二粗化上表面241,增加第一打線部210與透明導電氧化層24之接觸面積,降低第一電極21剝離的機率,提升良率。透明導電氧化層24對於主動層224所發之光為透明,增加第一電極21與發光疊層22之間的歐姆接觸以及電流傳導與擴散。其材料可為導電材料,包含但不限於氧化銦錫(ITO)、氧化銦(InO)、氧化錫(SnO)、氧化鎘錫(CTO)、氧化銻錫(ATO)、氧化鋁鋅(AZO)、氧化鋅錫(ZTO)、氧化鎵鋅(GZO)、氧化鋅(ZnO)、氧化鎂(MgO)、砷化鋁鎵(AlGaAs)、氮化鎵(GaN)、磷化鎵(GaP)、石墨烯(graphene)或氧化銦鋅(IZO)。
基板20可用以支持位於其上之發光疊層22與其它層或結構,其材料可為透明材料或導電材料。透明材料包含但不限於藍寶石(Sapphire)、鑽石(Diamond)、玻璃(Glass)、環氧樹脂(Epoxy)、石英(Quartz)、壓克力(Acryl)、氧化鋅(ZnO)或氮化鋁(AlN)等。導電材料包含但不限於銅(Cu)、鋁(Al)、鉬(Mo)、錫(Sn)、鋅(Zn)、鎘(Cd)、鎳(Ni)、鈷(Co)、類鑽碳薄膜(Diamond Like Carbon;DLC)、石墨(Graphite)、碳纖維(Carbon fiber)、金屬基複合材料(Metal Matrix Composite;MMC)、陶瓷基複合材料(Ceramic Matrix Composite;CMC)、矽(Si)、磷化碘(IP)、硒化鋅(ZnSe)、砷化鎵(GaAs)、碳化矽(SiC)、磷化鎵(GaP)、磷砷化鎵(GaAsP)、硒化鋅(ZnSe)、磷化銦(InP)、鎵酸鋰(LiGaO2)或鋁酸鋰(LiAlO2),其中可用以成長發光疊
層之材料例如為藍寶石、砷化鎵、碳化矽或矽。基板20具有一圖案化上表面200,用以改善自基板20生長之磊晶的品質與散射發光疊層22所發之光,提升發光元件2之發光效率。
本申請案之發光元件之第二實施例如第3圖所繪示,本實施例為第一實施例之變化。本實施例之發光元件3包含一發光疊層32位於一基板30之上,發光疊層32具有一上表面321及一側表面及325。發光疊層32具有一第一半導體層322、一主動層324與一第二半導體層326依序形成於基板30之上,其中第二半導體層326具有上表面321。一保護層36於發光疊層32之上,保護層36具有一電流阻擋部360形成於上表面321之一第一區321A之上;以及一覆蓋部362覆蓋發光疊層32之側表面325與上表面321之一第二區321B。其中電流阻擋部360上表面365與主動層324之間的距離與覆蓋部362上表面367與主動層324之間的距離大致相等。主動層於外部電流通入後會產生光,主動層之結構可與第一半導體層與第二半導體層326形成一異質結構或雙異質結構。主動層本身亦可由障蔽層和井層組成一量子井結構,包含單一量子井結構或多重量子井結構。於本實施例中採用多重量子井結構,由障蔽層324A及井層324B構成。
一透明導電氧化層34形成於第二半導體層326之上,其所在位置為第一區321A並覆蓋電流阻擋部360,覆蓋部362覆蓋第二區321B上,並直接接觸第二半導體層326,上表面321未被透明導電氧化層34覆蓋區域之面積大於或等於第二區321B,第二區321B之面積小於第一區321A,第二區321B之面積為第一區321A面積之15%以下;第二區321B之面積可為第一區321A面積之2-15%,於本實施例中,第二區321B之面積為第一區
321A面積之3-10%。當外部電流注入發光元件時,透明導電氧化層34係作為電流分散之用,透明導電氧化層34下方之主動層324主要扮演發光之功能,使光可由透明導電氧化層34處摘出。由於保護層36之折射係數與透明導電氧化層34之差異,可能造成內部全反射,因此習知技藝者須花費心力選擇適合的保護層材料及設計適當之厚度以減少內部全反射之發生。因此保護層較佳地未覆蓋於透明導電氧化層之上。
在不影響亮度之情況下,保護層36之覆蓋部362覆蓋第二區321B上,一方面在形成開口分隔覆蓋部362及電流阻擋部360之製程中可確保覆蓋部362能完全覆蓋側表面,另一方面可藉由覆蓋部362形成於第二區之上增加其附著力。
一第一電極31於形成於透明導電氧化層34之上對應於電流阻擋部360之位置;一第二電極33形成於第一半導體層322之上。於第二電極33及第一半導體層322之間亦可形成覆蓋部362,覆蓋部362具有一開口,暴露出第一半導體層322,第二電極33部分形成於覆蓋部362上,部分與暴露之第一半導體層322接觸。
由於第二實施例為第一實施例之變化,故第一實施例列舉之條件亦可應用於本實施例中。另外本實施例之基板30如同第一實施例具有一圖案化上表面300,用以改善自基板30生長之磊晶的品質與散射發光疊層32所發之光,提升發光元件3之發光效率。上表面300的圖案係圓底尖頂的圓錐狀,剖面圖為三角形。上表面300的圖案亦可選自其他多邊形之角椎。其圖案可以黃光顯影製程以乾式或濕式蝕刻法蝕刻基板30之上表面形成圖案畫基板。本實施例是以乾式蝕刻製程形成圖案。
於另一實施例中,在電流阻擋部360上方,第一電極31下方的透明導電氧化層34可以局部形成開口,暴露出部分電流阻擋部360,使第一電極31與電流阻擋部360接觸。上述之電流阻擋部360亦可局部開口,暴露出第二半導體層326,使第一電極經過透明導電氧化層34之開口及電流阻擋部360之開口向下延伸與第二半導體層326接觸。
第4圖繪示本申請案之發光元件第三實施例,發光元件4之透明導電氧化層34可以部份或全部覆蓋上表面321,當透明導電氧化層34部份覆蓋上表面321時,發光元件4的保護層46覆蓋於發光疊層32之側表面325與上表面321。於另一實施例中,保護層46亦可部分覆蓋於透明導電氧化層34之上。當透明導電氧化層34全部覆蓋上表面321時,發光元件4的保護層46覆蓋於發光疊層32之側表面325與部分透明導電氧化層34之上。
上表面321被保護層46覆蓋之區域為上表面321之第二區421B,未被保護層46覆蓋之區域為上表面321之第一區421A,其中第二區421B的面積小於第一區421A,第二區421B的面積是第一區421A的15%以下;於本實施例中,第二區421B之面積為第一區421A面積之3-10%。
第5圖係繪示出一燈泡分解示意圖,一燈泡5具有一燈罩51;一透鏡52,置於燈罩51之中;一照明模組54,位於透鏡52之下;一燈座55,具有一散熱槽56,用以承載照明模組54;一連結部57;以及一電連結器58,其中連結部57連結燈座55與電連接器58。照明模組54具有一載體53;以及複數個前述任一實施例之發光元件50,位於載體53之上。
惟上述實施例僅為例示性說明本申請案之原理及其功效,而非用於限制本申請案。任何本申請案所屬技術領域中具有通常知識者均可在不違背本申請案之技術原理及精神的情況下,對上述實施例進行修改及變化。因此本申請案之權利保護範圍如後述之申請專利範圍所列。
2‧‧‧發光元件
20‧‧‧基板
200‧‧‧圖案化上表面
21‧‧‧第一電極
210‧‧‧第一打線部
212‧‧‧第一延伸部
22‧‧‧發光疊層
221‧‧‧第一粗化上表面
222‧‧‧第一半導體層
223‧‧‧第一平坦部
224‧‧‧主動層
225‧‧‧第一側邊
226‧‧‧第二半導體層
23‧‧‧第二電極
24‧‧‧透明導電氧化層
241‧‧‧第二粗化上表面
243‧‧‧第二平坦部
245‧‧‧第二側邊
26‧‧‧保護層
260‧‧‧電流阻擋部
265‧‧‧電流阻擋部上表面
267‧‧‧覆蓋部上表面
Claims (14)
- 一發光元件,包含:一發光疊層,包含一上表面,其中該上表面包含一第一區及一第二區;一保護層,包含:一電流阻擋部位於該第一區之上;一覆蓋部位於該上表面之上;以及一第一開口介於該電流阻擋部與該覆蓋部之間,其中該第一開口在空間上隔離該電流阻擋部與該覆蓋部;一第一電極包覆該電流阻擋部;以及一第二電極,其中該第二電極之一第一部份位於該覆蓋部上。
- 一發光元件,包含:一發光疊層,包含一側表面及一上表面,其中該上表面包含一第一區及一第二區;一保護層,包含一覆蓋部位於該側表面及該上表面之第二區之上,且暴露該第一區;以及一第一電極位於該上表面之上;其中該第二區面積小於該第一區面積。
- 如請求項第1項所述的發光元件,其中該發光疊層包含:一第一半導體層;一第二半導體層,位於該第一半導體層與該電流阻擋部之 間;以及一主動層,位於該第一半導體層與該第二半導體層之間;其中,該第一電極位於該第二半導體層之上,該第二電極之一第二部分位於該第一半導體層之上以及該第二半導體層之側邊,並與該第一電極分離。
- 如請求項第2項所述的發光元件,其中該發光疊層包含:一第一半導體層;一第二半導體層,位於該第一半導體層與該覆蓋部之間;以及一主動層,位於該第一半導體層與該第二半導體層之間;其中該保護層更包含一電流阻擋部位於該第一區之上以及該第一電極之下。
- 如請求項第1或4項所述的發光元件,其中該覆蓋部與該電流阻擋部具有實質上相同之厚度及組成材料。
- 如請求項第1項所述的發光元件,其中該第一電極填入該第一開口且包含一打線部以及一延伸部,其中該第一電極之該打線部包覆該電流阻擋部,該第一電極之該延伸部下方不具有該電流阻擋部。
- 如請求項第1項所述的發光元件,其中該第一區包含一第一平坦部,該第二區包含一粗化部;更包含一透明導電氧化層,位於該保護層與該發光疊層之間,包含一第二平坦部位於該第一平坦部與該電流阻擋部之間,其中該第一平坦部之表面粗糙度與第二平坦部之表面粗糙度大致相同。
- 如請求項第3項所述的發光元件,其中該保護層更包含一第二開口位於該第一半導體層上,且該第二電極之一第三部份填入該第二開口。
- 如請求項第4項所述的發光元件,更包含一透明導電氧化層,位於該第一電極與該電流阻擋部之間且位於該第一區之上。
- 如請求項第8項所述的發光元件,其中該第二電極包含一打線部以及一延伸部,由該打線部延伸出;其中,該第一部分包含該打線部之一部份,以及該第三部份包含該打線部之另一部份,自該第二部分延伸填入該第二開口中。
- 如請求項第2項所述的發光元件,其中該第二區面積為該第一區面積之15%以下。
- 如請求項第1或2項所述的發光元件,其中該保護層之厚度係介於1微米至3微米之間。
- 如請求項第1項所述的發光元件,更包含:一第一邊;一第三開口穿過部份該發光疊層且位於該第一邊;一第二邊,相鄰於該第一邊;以及一第四開口穿過部份該發光疊層且位於該第二邊;其中該第二電極包含一打線部位於該覆蓋部上、一第一延伸部從該打線部延伸出且位於該第三開口中、以及一第二延伸部從該打線部延伸出且位於該第四開口中。
- 如請求項第1項所述的發光元件,其中該保護層包含一第一階部,位於該發光疊層之上,該第二電極包含一第二階部位於該第一階部之上。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW103104673A TWI604633B (zh) | 2013-11-05 | 2014-02-12 | 發光元件 |
US14/533,549 US20150123152A1 (en) | 2013-11-05 | 2014-11-05 | Light-emitting element |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW102140226 | 2013-11-05 | ||
TW103104673A TWI604633B (zh) | 2013-11-05 | 2014-02-12 | 發光元件 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW201519467A TW201519467A (zh) | 2015-05-16 |
TWI604633B true TWI604633B (zh) | 2017-11-01 |
Family
ID=53006383
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW103104673A TWI604633B (zh) | 2013-11-05 | 2014-02-12 | 發光元件 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20150123152A1 (zh) |
TW (1) | TWI604633B (zh) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI543395B (zh) * | 2013-04-01 | 2016-07-21 | 中國砂輪企業股份有限公司 | 圖案化光電基板及其製作方法 |
WO2015074353A1 (zh) * | 2013-11-25 | 2015-05-28 | 扬州中科半导体照明有限公司 | 一种半导体发光二极管芯片 |
JP6416800B2 (ja) * | 2016-01-26 | 2018-10-31 | 株式会社東芝 | 半導体装置 |
DE102017114467A1 (de) * | 2017-06-29 | 2019-01-03 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Halbleiterchip mit transparenter Stromaufweitungsschicht |
WO2019054942A1 (en) * | 2017-09-15 | 2019-03-21 | Nanyang Technological University | LIGHT EMITTING DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME |
US11552217B2 (en) | 2018-11-12 | 2023-01-10 | Epistar Corporation | Semiconductor device |
TWI821302B (zh) * | 2018-11-12 | 2023-11-11 | 晶元光電股份有限公司 | 半導體元件及其封裝結構 |
TWI677108B (zh) * | 2019-02-01 | 2019-11-11 | 柯文政 | 凹槽型圖案化基板結構、具高散熱能力的半導體元件、及利用該凹槽型圖案化基板結構製作該具高散熱能力的半導體元件之方法 |
CN113036017B (zh) * | 2019-08-29 | 2022-08-30 | 天津三安光电有限公司 | 倒装发光元件 |
FR3102302B1 (fr) * | 2019-10-17 | 2023-08-25 | Commissariat Energie Atomique | DIODE ELECTROLUMINESCENTE COMPRENANT UN SEMI-CONDUCTEUR A BASE D’AlN DOPE P PAR DES ATOMES DE MAGNESIUM |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2783210B2 (ja) * | 1995-09-04 | 1998-08-06 | 日本電気株式会社 | 面発光型ダイオード |
TWI230473B (en) * | 2003-03-10 | 2005-04-01 | Sanken Electric Co Ltd | Semiconductor light emitting device and manufacturing method thereof |
US8877101B2 (en) * | 2007-05-31 | 2014-11-04 | Nthdegree Technologies Worldwide Inc | Method of manufacturing a light emitting, power generating or other electronic apparatus |
WO2009084325A1 (ja) * | 2007-12-28 | 2009-07-09 | Mitsubishi Chemical Corporation | Led素子およびled素子の製造方法 |
TWI447940B (zh) * | 2008-07-15 | 2014-08-01 | Lextar Electronics Corp | 發光二極體晶片及其製造方法 |
TWI384650B (zh) * | 2008-07-18 | 2013-02-01 | Lextar Electronics Corp | 發光二極體晶片的製造方法 |
TW201034241A (en) * | 2009-03-11 | 2010-09-16 | Chi Mei Lighting Tech Corp | Light-emitting diode and method for manufacturing the same |
KR101654340B1 (ko) * | 2009-12-28 | 2016-09-06 | 서울바이오시스 주식회사 | 발광 다이오드 |
-
2014
- 2014-02-12 TW TW103104673A patent/TWI604633B/zh active
- 2014-11-05 US US14/533,549 patent/US20150123152A1/en not_active Abandoned
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201519467A (zh) | 2015-05-16 |
US20150123152A1 (en) | 2015-05-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI604633B (zh) | 發光元件 | |
TWI597864B (zh) | 具有複數個發光結構之發光元件 | |
JP5820503B2 (ja) | 発光素子 | |
TWI483425B (zh) | 具有複數個接觸部的發光元件 | |
TWI540758B (zh) | 發光裝置 | |
US9660146B2 (en) | Light-emitting element | |
TWI577045B (zh) | 發光元件 | |
CN110265517B (zh) | 发光元件 | |
TW201515505A (zh) | 發光元件 | |
US10002991B2 (en) | Light-emitting element | |
TWI575776B (zh) | 具有高效率反射結構之發光元件 | |
CN104638084A (zh) | 发光元件 | |
TWI754617B (zh) | 發光元件 | |
TWI701847B (zh) | 具有高效率反射結構之發光元件 | |
TWI611602B (zh) | 具有高效率反射結構之發光元件 | |
TWI678001B (zh) | 具有複數個發光結構之發光元件 | |
TWI605615B (zh) | 發光元件 | |
TWI633683B (zh) | 具有複數個發光結構之發光元件 | |
TWI632700B (zh) | 具有高效率反射結構之發光元件 | |
CN110047865B (zh) | 具有多个发光结构的发光元件 | |
TWI644451B (zh) | 發光元件 | |
TW201907582A (zh) | 發光元件 | |
KR20150012820A (ko) | 발광소자 |