TWI596356B - 電路板測試系統 - Google Patents

電路板測試系統 Download PDF

Info

Publication number
TWI596356B
TWI596356B TW105115793A TW105115793A TWI596356B TW I596356 B TWI596356 B TW I596356B TW 105115793 A TW105115793 A TW 105115793A TW 105115793 A TW105115793 A TW 105115793A TW I596356 B TWI596356 B TW I596356B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
test
circuit board
interface
point
electrical value
Prior art date
Application number
TW105115793A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201741680A (zh
Inventor
張倍銘
Original Assignee
致伸科技股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 致伸科技股份有限公司 filed Critical 致伸科技股份有限公司
Priority to TW105115793A priority Critical patent/TWI596356B/zh
Priority to US15/226,444 priority patent/US20170336468A1/en
Application granted granted Critical
Publication of TWI596356B publication Critical patent/TWI596356B/zh
Publication of TW201741680A publication Critical patent/TW201741680A/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

電路板測試系統
本發明係關於一種測試系統,尤其是關於一種電路板的測試系統。
在電子產品的製造過程中,需要對電子產品內的電路板進行測試。測試的項目則依據客戶的要求而定。一般而言,客戶會指定對電路板上的幾個區域進行電阻值或電壓值的測量。依據所測量的電阻值或電壓值是否位於預定的規格範圍內,而判斷電路板是否正常運作。
在先前技術中,工廠會先針對要測量的電路板以及電路板上的預定測試點製作測試治具。使用治具對電路板進行測試而獲得電路板的測試結果資料。
然而,在實際的情況中,在已經確定電路板測試點的情況下,依然有可能臨時需要再增加其它的測試點。此時便需要為了新增的測試點而製作新的治具。然而,治具的製作通常需要二至三天的時間,造成無法符合預定的測試時程的問題。此時便需要由作業員以人工方式用電表測出新增測試點的電阻/電壓值,再用人工記錄所獲得的數值並自行判斷是否符合規格。
使用人工測量及記錄測試結果的方式不但效率不 佳,且容易因為人工作業的疏失而產生錯誤的記錄。因此需要一種新穎的電路板的測試系統來解決先前技術的問題。
本發明之主要目的在提供一種不需要治具即可自動記錄電路板的測試結果之電路板測試系統。
於本發明之較佳實施例中提供一種電路板測試系統,包括:一電腦主機,包括一電路板規格表以及一測試程式,其中該電路板規格表包括一電路板編號,對應該電路板編號之至少一測試點名稱以及對應該測試點名稱之一規格範圍;一螢幕,電性連接於該電腦主機,用以顯示一測試介面且該測試介面由該測試程式產生,其中該測試介面包括一電路板編號欄位;一電表,電性連接於該電腦主機,用以測量一電路板上之至少一測試點之電性數值;其中,於該電路板編號被輸入該電路板編號欄位時,該測試介面顯示對應該電路板編號之一該測試點名稱,並於該電表傳送該測試點之一電性數值至該電腦主機時,該測試程式將該電性數值記錄於一測試結果記錄表。
10‧‧‧電腦主機
20‧‧‧螢幕
30‧‧‧電表
40‧‧‧探針
50‧‧‧測試程式
60‧‧‧測試介面
61‧‧‧二維條碼欄位61
70‧‧‧電路板
71‧‧‧二維條碼
80‧‧‧測試結果記錄表
TP1-TP6‧‧‧測試點
A,B,C,D,E‧‧‧測試結果記錄表欄位
圖1係本發明電路板測試系統之示意圖。
圖2係使用本發明測試系統之一電路板之一實施例示意圖。
圖3係本發明測試結果記錄表之一實施例示意圖。
圖4A-4D係本發明測試介面於測試過程之畫面之一實施例示意圖。
請參照圖1及圖2。圖1係本發明電路板測試系統之一較佳實施例示意圖。圖2係使用本發明測試系統之電路板之一實施例示意圖。圖1顯示本發明系統包括一電腦主機10,一螢幕20以及一電表30。電腦主機10設置有一測試程式50且測試程式50於螢幕20顯示一測試介面60。探針40則連接於電表30。電路板70具有多個電子元件以及線路佈局。於圖2電路板70預設了6個測試點TP1-TP6。圖2還顯示了電路板70被貼附二維條碼71做為該電路板70之參考編號。
電表30用以測量每一測試點的電性數值,例如電阻值或電壓值。將探針40與測試點接觸即可於電表30顯示該測試點之電阻/電壓值。電表30電性連接於電腦主機10以便將所獲得的測試點的數值傳送至電腦主機10。測試介面60具有一電路板編號欄位61。
請參照圖3及圖4A-4D。圖3顯示本發明測試結果記錄表之一實施例示意圖。圖3的測試結果記錄表80包括一編號欄位A,測試結果欄位B,測試點名稱欄位C,電路板的測試時間D以及測試該電路板所花費的時間E。編號欄位A記錄電路板的二維條碼。測試結果欄位B記錄了每一測試點的電壓值的規格範圍,亦即電壓值的上限值及下限值。測試點的數值落於上限值及下限值之間者,測試結果為通過測試(PASS)。若數值不在上限值與下限值之間者,測試結果為未通過測試(FAIL)。測試時間欄位D則用以記錄電路板被測試的時間,以便日後查詢。而測試花費時間欄位E則記錄電路板被測試完成所花費的時間,可用以評估測試的速度。
以下藉由圖4A-4D詳細說明本案電路板測試系統的操作方法。首先,測試介面60顯示一二維條碼欄位61,如圖4A所示。作業員將電路板70的二維條碼輸入二維條碼欄位61。電腦主機10具有一電路板資料庫,於該資料庫中儲存複數待測試電路 板的二維條碼以及對應每一電路板的測試點名稱及相關的電路佈局資料。電腦主機10的程式50依據該電路板資料庫及作業員輸入的電路板的二維條碼而在測試介面60顯示電路板70的測試點的名稱。於圖4B中以測試點TP1為例。接著,作業員對測試介面60顯示的測試點TP1進行測量。亦即,作業員將電表30的探針40與電路板70的測試點TP1接觸,因此獲得測試點TP1的電性數值,例如電壓值。該電壓值由電表30傳送至電腦主機10。測試程式50則判斷電表傳送的數值是否落入規格範圍內。於此判斷過程中,測試介面60顯示”測試中”的訊息,提供作業員目前的測試進度訊息。特別說明的是,於一較佳實施例中,程式50於作業員輸入電路板的二維條碼時開始計時,若於一預定時間長度內未收到來自電表30傳送的測試點的數值,則程式50將顯示”未通過測試”訊息。此計時的設定在於防止電表無法測量測試點的數值時,例如因為測試點因焊接不良而未與電路板的線路形成導通,作業員不會一直空等,而能夠立即發現問題。
當測試點TP1的電壓值落於規格範圍內時,測試程式50於測試介面60顯示測試點TP1的電壓值以及”通過測試”訊息,如圖4C所示。當然,若測試點TP1的電壓值未落於規格範圍內,則測試程式50將顯示”未通過測試”訊息,如圖4D所示。如前面關於圖3的說明,於測試的過程中,測試程式50將被測試的電路板70的二維條碼記錄於測試結果記錄表80的欄位A,將測試點TP1的電壓值記錄於欄位C,並且記錄電路板70的測試時間以及該次測試所花費的時間。電路板70的其餘測試點的測試流程與測試點TP1相同,於此不再贅述。
換言之,在測試的過程中,作業員只需在測試介面輸入電路板的二維條碼,便可於測試介面得知將被測試的測試點名稱。接著只需將電表的探針接觸測試點,電表即可測量測試點的數值並傳送至電腦主機。電腦主機的測試程式可主動記錄測試點的數值並自動判斷測試是否通過。此外,程式也主動記錄每一 測試點的數值,測試的結果,測試的時間及所花費的時間。亦即,在不需要治具的情況下,作業員僅需要輸入電路板的二維條碼並依據測試介面顯示的資訊進行測試點資料的測量,即可由程式主動產生測試結果記錄表,而不需要由人工進行是否通過測試以及記錄相關的數值。因此提昇了增加電路板測試的效率。
以上所述僅為本發明之較佳實施例,並非用以限定本發明之申請專利範圍,因此凡其它未脫離本發明所揭示之精神下所完成之等效改變或修飾,均應包含於本案之申請專利範圍內。
10‧‧‧電腦主機
20‧‧‧螢幕
30‧‧‧電表
40‧‧‧探針
50‧‧‧測試程式
60‧‧‧測試介面
61‧‧‧電路板編號欄位

Claims (9)

  1. 一種電路板測試系統,包括:一電腦主機,包括一電路板規格表以及一測試程式,其中該電路板規格表包括一電路板編號,對應該電路板編號之至少一測試點名稱以及對應該測試點名稱之一規格範圍;一螢幕,電性連接於該電腦主機,用以顯示一測試介面且該測試介面由該測試程式產生,其中該測試介面包括一電路板編號欄位;以及,一電表,電性連接於該電腦主機,用以藉由一探針接觸並測量一電路板上之至少一測試點之電性數值;其中,於該電路板編號被輸入該電路板編號欄位時,該測試介面顯示對應該電路板編號之一該測試點名稱,並於該電表傳送該測試點之一電性數值至該電腦主機時,該測試程式將該電性數值記錄於一測試結果記錄表。
  2. 如申請專利範圍第1項之電路板測試系統,其中該電性數值係電阻值或電壓值。
  3. 如申請專利範圍第1項之電路板測試系統,其中該測試程式於接收該電路板編號後,於該測試介面顯示該測試點名稱。
  4. 如申請專利範圍第1項之電路板測試系統,其中該測試程式於該電路板編號被輸入該電路板編號欄位時開始計時一預定時間長度,當測試程式於該預定時間長度內未接收到該電表傳送該測試點之該電性數值時,於該測試介面顯示一未通過測試訊息。
  5. 如申請專利範圍第1項之電路板測試系統,其中該測試結果記錄表更包括記錄該電路板編號,該至少一測試點,該至少一測試點之測試結果以及該至少一測試點之一測試時間。
  6. 如申請專利範圍第5項之電路板測試系統,其中該測試結果係通過測試或未通過測試。
  7. 如申請專利範圍第6項之電路板測試系統,其中該測試程式於該電表傳送之該測試點之該電性數值位於該規格範圍內時,於該測試介面顯示一通過測試訊息並記錄於該測試結果記錄表內,而於該電表傳送之該測試點之該電性數值位不在該規格範圍內時,於該測試介面顯示一未通過測試訊息並記錄於該測試結果記錄表內。
  8. 如申請專利範圍第1項之電路板測試系統,其中該測試程式於接收該電表傳送之該測試點之該電性數值時,將該電性數值顯示於該測試介面。
  9. 如申請專利範圍第1項之電路板測試系統,其中該電路板編號係一二維條碼。
TW105115793A 2016-05-20 2016-05-20 電路板測試系統 TWI596356B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW105115793A TWI596356B (zh) 2016-05-20 2016-05-20 電路板測試系統
US15/226,444 US20170336468A1 (en) 2016-05-20 2016-08-02 Testing system for circuit board

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW105115793A TWI596356B (zh) 2016-05-20 2016-05-20 電路板測試系統

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TWI596356B true TWI596356B (zh) 2017-08-21
TW201741680A TW201741680A (zh) 2017-12-01

Family

ID=60189032

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW105115793A TWI596356B (zh) 2016-05-20 2016-05-20 電路板測試系統

Country Status (2)

Country Link
US (1) US20170336468A1 (zh)
TW (1) TWI596356B (zh)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW281723B (en) * 1995-12-12 1996-07-21 Jet Technology Co Ltd Testing equipment and method of the printed circuit board
US20120221278A1 (en) * 2011-02-25 2012-08-30 Veris Industries, Llc Current meter with on board memory
TW201432278A (zh) * 2013-02-01 2014-08-16 Giga Byte Tech Co Ltd 自動化檢測系統及其自動化檢測方法
US20140368182A1 (en) * 2010-05-24 2014-12-18 International Business Machines Corporation Identifying a signal on a printed circuit board under test
TW201506430A (zh) * 2013-08-06 2015-02-16 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 靜電測試儀檢測系統及方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20060026973A1 (en) * 2004-08-03 2006-02-09 Atchison Anthony E Automated condensing unit test apparatus and associated methods
EP1930824A1 (en) * 2006-12-07 2008-06-11 Fujitsu Limited CAD apparatus, method and computer product for designing printed circuit board

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW281723B (en) * 1995-12-12 1996-07-21 Jet Technology Co Ltd Testing equipment and method of the printed circuit board
US20140368182A1 (en) * 2010-05-24 2014-12-18 International Business Machines Corporation Identifying a signal on a printed circuit board under test
US20120221278A1 (en) * 2011-02-25 2012-08-30 Veris Industries, Llc Current meter with on board memory
TW201432278A (zh) * 2013-02-01 2014-08-16 Giga Byte Tech Co Ltd 自動化檢測系統及其自動化檢測方法
TW201506430A (zh) * 2013-08-06 2015-02-16 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 靜電測試儀檢測系統及方法

Also Published As

Publication number Publication date
TW201741680A (zh) 2017-12-01
US20170336468A1 (en) 2017-11-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101363884B (zh) 电路板测试方法
CN203965580U (zh) 一种用于检测电路板插接件的ict测试治具
CN103777111B (zh) 工程自动化短路和/或开路测试方法
TW201043980A (en) System and method for testing a printed circuit board
Buckroyd In–Circuit Testing
TW201500747A (zh) 自動化測量系統及方法
CN109737911A (zh) 一种校准工装、盲插连接器互配间隙的测量装置及方法
US8898607B2 (en) Method and system for using a breadboard
CN103760388A (zh) 四线测试治具及其测试方法
TW201525484A (zh) 電路板之測試系統
JP3198767U (ja) プローブカードテスト用の変換カード
CN104898040B (zh) 印刷电路板的自动化测试方法及系统
TWI596356B (zh) 電路板測試系統
JP6644577B2 (ja) 試験システム
US20200209323A1 (en) Method for testing solder balls between two substrates by using dummy solder balls
JP2012058120A (ja) 試験装置
CN107402346A (zh) 电路板测试系统
TW201323899A (zh) 複合式量測治具
CN112446181B (zh) 一种检测单板元器件失效率的方法、系统及测试板
JP2004235314A (ja) プリント回路基板の測定結果表示システム及び測定結果表示方法
JPH10160800A (ja) 診断情報発生装置及び方法
JP2018040579A (ja) 処理装置、検査システムおよび処理プログラム
TW201544823A (zh) 薄膜開關電路之測試系統
JP6472616B2 (ja) データ生成装置およびデータ生成方法
TWI547700B (zh) 晶片之輸入/輸出介面識別方法

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees