TWI573394B - 電容接觸感測器的評估方法及評估裝置 - Google Patents

電容接觸感測器的評估方法及評估裝置 Download PDF

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Description

電容接觸感測器的評估方法及評估裝置
本發明係關於一種用於一電容接觸感測器的評估方法。另外，本發明係關於一種用於經調適以執行根據本發明之該評估方法之一電容接觸感測器的評估裝置。另外，本發明提供一種包括根據本發明之該評估裝置之手持式電裝置。
自先前技術已知可配置在一手持式裝置(特定而言，一行動電話)處以分別偵測一手與該手持式電裝置之一接觸及一手對該手持式電裝置之一握持的電容接觸感測器。在分別偵測與手持式電裝置之一接觸及對手持式電裝置之一握持時，可將該手持式電裝置(舉例而言)自一休眠模式變換成一操作模式。在操作模式之改變之後，且在手持式電裝置之一握持之一偵測時，可在手持式電裝置中啟動另一些功能。舉例而言，一旦用一手握持一行動電話，該手對該行動電話之握持之偵測即可用於接聽一撥入呼叫。
然而，當事實上發生手持式裝置之一握持時，僅可執行指派給手持式裝置之一握持之一功能。舉例而言，當在一呼叫之撥入期間已用手握持一行動電話時，不能藉由用手握持該行動電話來接聽傳入該行動電話之呼叫。當已用一手握持手持式電裝置時，不能再在一電容基礎上偵測手持式裝置之一其他操作。僅可以一習用方式(舉例而言，藉由致動一機械鍵)來啟動手持式裝置之其他功能(舉例而 言，接聽一呼叫)。
因此，本發明之目標係提供在其中已用一手握持(舉例而言)一手持式電裝置之情形中亦允許在一電容基礎上對該手持式裝置處之一操作輸入之一偵測之解決方案。
根據本發明，藉由如在獨立技術方案中所表示之一種用於一電容接觸感測器之評估方法及一種用於一電容接觸感測器之評估裝置以及一種包括一評估裝置之手持式電裝置來達到該目標。在各別附屬技術方案中表示本發明之有利實施例。
根據此，提供一種用於一電容接觸感測器之評估方法，該電容接觸感測器包括能夠成為一電容耦合之至少一個傳輸電極及至少一個接收電極，其中- 在該至少一個接收電極處分接一量測信號，該量測信號表示該至少一個傳輸電極與該至少一個接收電極之間的耦合電容之時間進程，- 自該量測信號形成一參考信號，且- 當該參考信號滿足至少一個偵測準則時，產生至少一個偵測信號。
亦提供一種用於一電容接觸感測器之評估方法，該電容接觸感測器包括至少一個感測器電極，其中- 在該至少一個感測器電極處分接一量測信號，該量測 信號表示該感測器電極與一參考接地之間的一電容負載之時間進程，- 自該量測信號形成一參考信號，且- 在該參考信號滿足至少一個偵測準則時，產生至少一個偵測信號。
在下文中，詳述兩種上述評估方法之有利實施例。
可對量測信號進行低通濾波，其中在該量測信號之低通濾波之後，形成該量測信號與該經低通濾波量測信號之間的一差信號，其中該差信號表示參考信號。
參考信號之形成可包括量測信號之微分及該量測信號之高通濾波中之一者。
該偵測準則可包括一上臨限值及/或一下臨限值。
該偵測準則可包括一上極限值及/或一下極限值。較佳地，上極限值處於上臨限值以上且下極限值處於下臨限值以下。
當參考信號處於下臨限值以下時，可產生一第一偵測信號。
當參考信號處於上臨限值以上時，可產生一第二偵測信號。
當參考信號處於下臨限值以下且處於下極限值以上時，可產生一第一偵測信號。
當參考信號處於上臨限值以上且處於上極限值以下時，可產生一第二偵測信號。
較佳地，第一偵測信號及第二偵測信號係數位信號，其 中當該偵測信號滿足至少一個資訊準則時，產生一資訊信號。
舉例而言，該資訊準則可係：- 時間間隔- 在第一偵測信號之兩個脈衝之上升邊緣之間，或- 在第二偵測信號之兩個脈衝之上升邊緣之間，或- 在第一偵測信號之一脈衝之上升邊緣與第二偵測信號之一脈衝之上升邊緣之間超過或下降至低於一預定義值，- 第一偵測信號之一脈衝或第二偵測信號之一脈衝之脈衝持續時間超過或下降至低於一預定義值，- 在一預定義時間段內，第一偵測信號或第二偵測信號或第一偵測信號及第二偵測信號包括預定義數目個脈衝，及/或- 第一偵測信號及第二偵測信號之脈衝系列具有一特定型樣。
可使用一傳輸方法或使用一吸收方法來量測耦合電容。可使用一負載方法來量測電容負載。
當量測信號之信號位準處於一預定義參考位準以下時，可使用一預定義第一取樣率對該量測信號進行取樣。當量測信號之信號位準處於該預定義參考位準以上時，可使用一預定義第二取樣率對該量測信號進行取樣。
較佳地，第一取樣率低於第二取樣率。
當量測信號之信號位準處於一預定義參考位準以下時， 可使用一預定義第一放大率放大該量測信號。當量測信號之信號位準處於該預定義參考位準以上時，可使用一預定義第二放大率放大該量測信號，其中第二放大率經挑選以使得該量測信號始終保持在電容接觸感測器之操作範圍中。
可在接收電極處或在感測器電極處分接至少一個第二量測信號，其中在形成參考信號之前，將量測信號與該至少一個第二量測信號彼此組合，且其中自經組合量測信號形成該參考信號。
可使該量測信號(量測信號及第二量測信號)在組合之前經受一信號預處理。
進一步提供一種用於一電容接觸感測器之評估裝置，該評估裝置可與該電容接觸感測器之至少一個傳輸電極及至少一個接收電極耦合或至少一個感測器電極耦合且經調適以執行根據本發明之一評估方法。
另外，提供一種手持式電裝置，在該手持式電裝置處配置有與一評估裝置耦合之至少一個傳輸電極及至少一個接收電極或至少一個感測器電極，其中該評估裝置經調適以執行根據本發明之一評估方法。
該手持式電裝置可包括一行動無線電單元、一遠端控制件、用於遊戲主控台之輸入構件、一可攜式迷你電腦、一智慧電話、一電腦滑鼠及用於電腦之輸入構件中之至少一者。
該手持式電裝置可經設計為可變形的，其中該手持式裝 置之一變形導致至少一個傳輸電極與至少一個接收電極之間的耦合電容之一變化。
由下文說明與圖式一起得出本發明之其他細節及特性。
圖1展示用一手握持之一手持式電裝置(舉例而言，一行動電話G)。該行動電話包括可藉以偵測對手持式裝置G之握持之一電容接觸感測器。該電容接觸感測器包括至少一個接收電極EE及至少一個傳輸電極SE。在圖1中所展示之行動電話中，傳輸電極SE配置在左側處(亦即，在行動電話G之左側壁處)。接收電極EE配置在右側處(亦即，在行動電話G之右側壁處)且在此處所展示之實例中由手之手指覆蓋。
一旦用手握持行動電話G，即產生傳輸電極SE與接收電極EE之間的一電容耦合。此外，由於該握持，可放大(傳輸方法，參見圖2e)或弱化(吸收方法，參見圖2a)電極SE與EE之間的一現有弱電容耦合。給傳輸電極SE加負載一交變電信號以便發射一交變電場，該交變電場在握持行動電話G期間經由手耦合至接收電極EE中。在傳輸電極SE處發射且經由手耦合至接收電極EE中之交變電場之部分導致接收電極EE中之電流之一變化，可由一評估裝置偵測該變化。
傳輸電極SE及接收電極EE亦可配置在一手持式電裝置處以使得在不用一手進行一握持之情形中傳輸電極SE與接收電極EE亦能夠成為一電容耦合。舉例而言，可以一可變 形方式設計手持式裝置以使得由一手對該手持式裝置之一強擠壓引起一暫時變形。較佳地，在一可變形手持式裝置中，傳輸電極SE及接收電極EE配置在其上以使得一暫時變形引起兩個電極SE與EE之間的距離之一變化。伴隨距離之變化的亦係兩個電極SE與EE之間的電容耦合之一變化，在接收電極EE中該變化又導致可由一評估裝置偵測之電流之一變化。
另外，電極SE及EE配置在手持式裝置G處或相對於彼此配置在手持式裝置G處，以使得在用一手握持該手持式裝置之情形中一手指相對於該手持式裝置之表面之一移動亦產生兩個電極SE與EE之間的電容耦合之一變化，又可由根據本發明之評估裝置來偵測該變化。
電容接觸感測器亦可包括僅一個或數個感測器電極SE/EE(未在圖1中展示)。感測器電極SE/EE可配置在左側處(亦即，在行動電話G之左側壁處)，或在右側處(亦即，在行動電話G之右側壁處)。然而，感測器電極SE/EE亦可配置在行動電話G之前面或後面處。
在握持行動電話G以使得用手至少部分地覆蓋感測器電極SE/EE之情形下，感測器電極SE/EE與一參考接地之間的電容負載(負載方法，參見圖2b)發生改變。可由評估裝置偵測此變化。
可藉助實質上僅一個感測器電極SE/EE來偵測一手指相對於手持式裝置之表面之一移動。亦可藉助實質上配置在手持式電裝置之兩個相對側壁處之至少兩個感測器電極 SE/EE可靠地偵測對手持式裝置之一握持。
以此方式，首先，當已用一手握持一手持式裝置時，以一有利方式在一電容基礎上偵測該手持式裝置之一操作亦係可行的。特定而言，根據本發明之一方式，藉由根據本發明之評估方法使得此成為可能，在下文中更詳細地闡述該評估方法。
圖2a展示一手持式裝置處之根據本發明之一電容感測器之一等效電路圖，該手持裝置由一手握持且分別根據傳輸方法及吸收方法操作。在用一手握持手持式裝置G期間，傳輸電極SE與接收電極EE之間的耦合電容變化，此處該耦合電容係作為傳輸電極SE與手之間的耦合電容C1及作為手與接收電極EE之間的耦合電容C2給出。可分別按照接收電極EE中之電流之一變化來量測及偵測傳輸電極與接收電極EE之間的耦合電容C1、C2之變化。取決於電容感測器之特定接地條件，一接近及一握持分別引起電極SE與EE之間的電容耦合之一減小(吸收)或一增加(傳輸)。
接收電極EE及傳輸電極SE各自與一評估裝置A耦合。一方面，評估裝置A經提供用於給傳輸電極SE加負載一交變電信號以使得可自其發射一交變電場，該交變電場經由手耦合至接收電極中。另一方面，評估裝置A亦經提供用於分析在接收電極EE處分接之一電信號(量測信號)，亦即，以偵測且評估接收電極EE中之電流之一時間變化。
在較強地擠壓用手握持之手持式電裝置時，耦合電容C1、C2改變，此又影響接收電極EE中之電流之位準。當 用握持手持式裝置之手執行對該手持式裝置之一快速擠壓(用手快速擠壓該手持式裝置，以使得手持式裝置之幾何形狀改變(即使僅很小改變)及/或以使得電極與手之間的電容耦合改變)時，此產生接收電極EE中之電流之一逐步上升，可使用根據本發明之方法分別偵測及評估該逐步上升。另外，握持手持式裝置G之手之一手指相對於該手持式裝置之表面之一移動(較佳地分別朝向該手持式裝置之一接近及自該手持式裝置之一移除)亦產生接收電極EE中之電流之一變化(較佳地分別產生一逐步上升及降低)。
一般而言，一耦合電容C1、C2之時間變化可由(舉例而言)一手指至手持式裝置之距離之一變化(亦在用手握持該手持式裝置時)及/或由電極與(舉例而言)使用者之手之間的有效作用耦合表面之一變化(在比正常更強地擠壓手持式裝置時，亦增加有效耦合表面)導致。
實務上，耦合電容C1、C2之一變化大約在以下狀態之間(狀態(A)與狀態(B)之間)變化(根據負載方法，感測器電極SE/EE處之電容負載之變化亦係如此，參見圖2b)：
- (A)舉例而言，將裝置定位在桌子上(B)用手握持該裝置此實質上對應於手與該裝置之間的距離之一改變且在下文中亦表示為「抓握」。
- (A)將裝置定位在手上(B)用手握持該裝置此實質上對應於手與裝置之間的距離之一改變
- (A)用一低握持力握持該裝置(B)用一高握持力握持該裝置此實質上分別對應於手指及手掌之觸碰表面中之表面之一改變，且在下文中表示為「擠壓」。
- (A)用手握持該裝置，其中拇指及/或手指擱置在該裝置之表面上(B)用手握持該裝置，其中拇指及/或一個或數個手指並不擱置在該裝置之表面上，亦即，拇指及/或一個或數個手指有意地自該裝置之表面抬升(移除)及/或較佳地再次快速地擱置在該裝置之表面上此實質上對應於表面之一改變及/或距離之一改變且在下文中亦將表示為「抓握式輕觸(tap on grip)」。
可在以下兩者之間區別分別關於拇指及手指之開始位置
(擱置位置)
- 拇指/手指擱置在裝置之表面上
- 拇指/手指不擱置在裝置之表面上。
手持式裝置之使用者可有意地在以上所闡述狀態之間切換且此方式可形成耦合電容C1、C2之一時間變化。
圖2b展示一手持式裝置處之根據本發明之一電容感測器之一等效電路圖，該手持式裝置由一手握持且根據負載方法操作。
在電容感測器以負載方法操作期間，僅需要表示一傳輸電極以及一接收電極之一個感測器電極SE/EE。在亦表示為負載電極之感測器電極SE/EE處，供應一交變電信號， 以使得自該感測電極發射一交變電場，其中由評估裝置分別偵測及分析感測器電極SE/EE之電容負載。
在負載方法中，實質上，感測器電極與電容感測器之一參考接地之間的電容負載分別用於偵測一接近及一握持。 一電容負載意指自感測器電極SE/EE至參考接地有效之一電場之強度因一導電手之接近而增加，且因此感測器電極SE/EE與參考接地之間的電容C1、C3增加。因此，電容負載分別係自感測器電極SE/EE至參考接地有效之一電場之強度之一度量及感測器電極SE/EE與參考接地之間的電容C1、C3之一度量。
數個感測器電極SE/EE及負載電極亦可配置在手持式裝置處，其中可針對每一感測器電極SE/EE偵測電容負載。此方式亦可以一簡單方式偵測由一手對手持式裝置之一握持。在一實施例中，一第一感測器電極SE/EE可配置在左側壁處且一第二感測器電極SE/EE可配置在右側壁處。
將在下文中藉助於根據圖2a之感測器裝置分別參考圖3至圖7分別更詳細地闡述接收電極EE及感測器電極SE/EE中之電流之變化之偵測及評估。評估及評估方法亦可分別以一各別方式用於參考圖2b所展示之負載方法。
圖3展示在接收電極EE處分接之一量測信號S1之振幅之時間進程，此處以數位化形式展示該時間進程。量測信號S1最初具有指示用一手握持手持式電裝置之事實之一位準。
當未用一手握持手持式電裝置時，可使用一第一取樣率 數位化在接收電極EE處分接之類比信號。舉例而言，可使用約10 Hz之一第一取樣率分別數位化該類比信號且對該類比信號進行取樣。在諸多情形中，一低取樣率足以可靠地偵測對手持式裝置之一握持。只要類比信號低於一預定義信號位準，即可維持低的第一取樣率，其中一下降至低於預定義信號位準並非由如以上所闡述對手持式裝置之一擠壓導致，或分別由一手指之一移除及接近導致。
在已用手握持手持式電裝置之後，量測信號S1之信號位準實質上保持大約恆定直至時間t=33為止。
約在時間t=33與時間t=34之間以及在時間t=34與時間t=35之間，由手持式電裝置之使用者執行對裝置之每一快速擠壓。在每一情形中，快速擠壓產生量測信號S1中明確可見之位準之一逐步上升。
約在時間t=36時及在時間t=37時，仍用一手握持手持式裝置-擱置在手持式裝置之表面上之一手指(舉例而言，一拇指)暫時地自該手持式裝置移除，在每一情形中，此產生量測信號S1之位準之一逐步下降。在時間t=39與時間t=40之間，擱置在手持式裝置之表面上之一手指以短間隔暫時地自該手持式裝置移除，此又產生量測信號S1之位準之一逐步下降。此處所展示之位準之逐步下降亦可由數個手指之一接近/移除實現。
為了能夠可靠地偵測對裝置之一快速擠壓及一手指之一快速移除/接近，在偵測用一手對手持式裝置之握持之後，使用一第二取樣率來對量測信號進行取樣係有利的， 該第二取樣率大於用於偵測握持之第一取樣率。第二取樣率可係約20 Hz至50 Hz。取決於特定要求，第二取樣率亦可大於50 Hz。
在釋放手持式裝置之後，可再次使用第一取樣率。
在第一取樣率已具有一值(該值亦足以分別用於偵測一快速擠壓及一手指之一快速移除/接近)之情形中，可放棄取樣率之一變化。
圖4展示在接收電極EE處分接之一量測信號S1之時間進程。在對手持式裝置之一握持之後，使用者藉由對裝置G之快速暫時擠壓執行數個輸入。在每一情形中，藉助擠壓之快速輸入產生量測信號S1之位準之一逐步上升，此處可將該上升視為量測信號S1之峰值。在時間t=1時亦可見位準之一上升，然而，其並不表示對手持式裝置G之一快速暫時擠壓，而是在一較長時間內對手持式裝置之一強擠壓。然而，在本發明之一較佳實施例中，僅應將對手持式裝置之一快速及暫時擠壓偵測為一輸入，以使得在圖4中所展示之信號之進程中應偵測到僅十一個使用者輸入。在本發明之另一實施例中，在每一情形中亦可由一手指之一暫時移除/接近導致量測信號S1之峰值。
首先數位化在接收電極處分接之量測信號S1且然後使其分別經受一頻率分析及一量測信號預處理係有利的。
在評估之前放大量測信號亦可係有利的。另外，在偵測握持之後放大量測信號以使得經放大量測信號始終在評估裝置之操作範圍內可係有利的，以使得在位準之一逐步上 升期間量測信號達不到將產生量測信號之一限幅之一極限。在握持期間，亦可隨時間動態地調適放大率(舉例而言)以能夠對不同周圍條件作出反應。
圖5a展示根據本發明已在一電容感測器之接收電極處分接的圖3中所展示之量測信號S1之微分信號(參考信號SREF)。藉助量測信號S1之微分，可判定量測信號之改變率。另外，其分別由位準緩慢改變之在接收電極EE處分接之量測信號S1之微分及導數達成，不將該微分及該導數(舉例而言，由一手指之一緩慢接近/移除而導致)辨識為一使用者輸入。此外，達成不將在一較長時間段內再次對手持式電裝置之一強擠壓偵測為一操作輸入。
圖5a中(以及下文將更詳細地闡述之圖5b及圖6b中)亦展示一上臨限值UT及一下臨限值LT。可將分別超過及下降至低於臨限值UT及LT分別理解為量測信號S1之位準正以一預定義最小速度改變之一指示。
另外，將一(數位，亦即，二進制)偵測信號S2.2及S2.1指派給上臨限值UT及下臨限值LT。當參考信號SREF超過上臨限值UT時，將偵測信號S2.2之位準設定為邏輯高。當再次低於上臨限值UT時，則將偵測信號S2.2之位準再次設定為邏輯低。亦以一類似方式形成偵測信號S2.1。當參考信號SREF下降至低於下臨限值LT時，將偵測信號S2.1之位準設定為邏輯高。當再次超過下臨限值LT時，則將偵測信號S2.1之位準再次設定為邏輯低。當然，亦可互換狀態低及高。參考圖5a所闡述之偵測信號S2.1及S2.2之產生亦以一 類似方式適用於參考圖5b及圖6b所展示之偵測信號S2.1及S2.2。
如參考圖6b更詳細地闡述，可分別評估及使用偵測信號S2.1及S2.2以啟動特定裝置功能。
作為量測信號S1之微分之一替代方案，亦可藉助量測信號之高通濾波來形成參考信號SREF。
圖5b展示根據本發明已在一電容感測器之接收電極處分接的圖3中所展示之量測信號S1之經高通濾波信號(參考信號SREF)。較佳地，使用一個一階高通濾波器。參考信號SREF在極大程度上相同於藉助微分而形成之參考信號SREF(參見圖5a)。同樣，此處展示上臨限值UT及下臨限值LT以及偵測信號S2.1及S2.2。關於臨限值UT及LT以及偵測信號S2.1及S2.2，參考對圖5a之說明。
參考圖6a及圖6b展示圖5a及圖5b中所展示之量測信號之預處理之一替代，其中在一第一步驟中執行圖3中所展示之量測信號S1之一低通濾波且在一第二步驟中自量測信號S1及經低通濾波量測信號形成一參考信號SREF。
圖6a展示根據本發明已在一電容感測器之接收電極EE處分接的在一第一步驟中形成之圖3中所展示之量測信號S1之經低通濾波信號STP。較佳地，使用一個一階低通濾波器，其中可針對量測信號之上升邊緣及下降邊緣使用不同時間常數。
圖6b展示自量測信號S1及經低通濾波量測信號STP形成之參考信號SREF。為此，判定量測信號S1與經低通濾波量 測信號STP之間的差(亦即，S1-STP)。在此情形中，量測信號S1與經低通濾波量測信號STP之間的差係變化量之一度量。
如同在圖5a及圖5b中，此處亦定義一上臨限值UT及一下臨限值LT作為一偵測準則，如參考圖5a所闡述，分別超過及低於該上臨限值UT及該下臨限值LT分別產生各別偵測信號S2.1及S2.2之位準之一變化。
另外，提供一上極限值UL及一下極限值LL。舉例而言，極限值UL及LL可經提供以偵測沿向上方向及向下方向之失控值，且若適用，濾除失控值，或至少使其在分別形成各別偵測信號S2.1及S22期間被忽視。舉例而言，沿向上方向及/或向下方向之失控值可與量測誤差一起發生。可以此方式改良評估方法之穩健性。亦可為參考圖5a及圖5b所展示之方法提供下極限值及上極限值。
在此處所展示之所有方法中，可提供數個上臨限值UT、數個下臨限值LT、數個上極限值UL以及數個下極限值LL。舉例而言，如此一來，將一手指之一緩慢接近與一手指之一快速接近鑑別開係可行的，此乃因(舉例而言)藉助兩個上臨限值之一適合選擇，在兩種情形中超過下臨限值，然而，在一緩慢接近之情形下，不超過兩個臨限值中之較高者。
另外，圖6b中展示分別在參考信號SREF之基礎上及在偵測信號S2.1及/或S2.2之基礎上形成之一資訊信號S3之一實例。當偵測信號S2.1及/或S2.2滿足至少一個預定義資訊準 則時，可形成(分別係數位及二進制)資訊信號S3，亦即，設定為邏輯高。
一資訊準則之實例
a)時間間隔- 在第一偵測信號S2.1之兩個(連續)脈衝之上升邊緣之間，及/或- 在第二偵測信號S2.2之兩個(連續)脈衝之上升邊緣之間，及/或- 在第一偵測信號S2.1之一脈衝之上升邊緣與第二偵測信號S2.2之一脈衝之上升邊緣之間超過或低於一預定義值。
b)第一偵測信號S2.1之一脈衝或第二偵測信號S2.2之一脈衝之脈衝持續時間超過或低於一預定義值。
c)在一預定義時間段△t1內，第一偵測信號S2.1或第二偵測信號S2.2或第一偵測信號S2.1及第二偵測信號S2.2包括預定義數目個脈衝d)第一偵測信號S2.1及第二偵測信號S2.2之脈衝序列包括一預定義型樣。
一資訊準則之以上所闡述之實例並非窮盡性的且亦可將其組合。
在圖6b中所展示之實例中，當在一預定義時間段△t1內各自在第一偵測信號S2.1中及在第二偵測信號S2.2中偵測到兩個上升邊緣時，形成一資訊信號S3。
偵測信號S2.1及S2.2亦可用於偵測可能誤差(量測誤差或 操作誤差)。舉例而言，當在兩個脈衝之間偵測不到第二偵測信號S2.2之脈衝時，第一偵測信號S2.1中之兩個在時間上連續之脈衝可指向一量測誤差。
可隨時間動態地調適以上所展示之臨限值UT及LT以及極限值UL及LL(舉例而言)以對改變之周圍條件作出反應。出於不將對手持式電裝置G之一僅柔和或相對緩慢擠壓以及一手指之一相對緩慢接近/移除偵測為一操作輸入之目的，亦可分別調適臨限值UT及LT。
亦可在使用者所請求之一「測試操作輸入」之基礎上調整臨限值UT及LT以使得臨限值最終可經調適以適應使用者之個別要求。
圖7展示用於根據依據本發明之評估方法形成一資訊信號之根據本發明之一信號處理之一實例。
在一第一步驟中，在電極(接收電極EE或感測器電極SE/EE)處分接一電信號且將其饋送至一類比轉數位轉換器，該類比轉數位轉換器提供一數位量測信號以用於進一步處理。隨後，將數位量測信號饋送至量測信號預處理。
在本發明之一實施例中，亦可在電極處分接不同電信號且將其饋送至類比轉數位轉換器。
舉例而言，可為感測器裝置之操作提供兩種操作模式。在一第一操作模式(傳輸方法)中，偵測傳輸電極SE與接收電極EE之間的電容耦合(傳輸或吸收，參見圖2a)。將指派給電容耦合之量測信號表示為傳輸信號ST。在一第二操作模式(負載方法)中，傳輸電極SE及/或接收電極EE可用作 負載電極SE/EE，其中偵測電極之電容負載(參見圖2b)。將指派給電容負載之量測信號表示為負載信號SL。當使傳輸電極SE以及接收電極EE各自作為負載電極SE/EE操作時，則提供兩個負載信號SL1及SL2以用於進一步處理。
另外，舉例而言，可提供一第三電極(未在圖中展示)，其較佳地毗鄰於接收電極EE而配置。如此一來，在一第一操作模式中，可給傳輸電極SE加負載一交變電信號且可偵測傳輸電極SE與接收電極EE之間的電容耦合。將指派給傳輸電極SE與接收電極EE之間的電容耦合之量測信號表示為第一傳輸信號ST1。在第二操作模式中，可給第三電極加負載一交變電信號且可偵測第三電極與接收電極之間的電容耦合。將指派給第三電極與接收電極EE之間的電容耦合之量測信號表示為第二傳輸信號ST2。另一選擇係，在第二操作模式中，亦可給傳輸電極SE加負載一交變電信號以使得在第一操作模式中僅給傳輸電極且在第二操作模式中給傳輸電極及第三電極加負載一交變信號。
以上所提及之兩項實例並非窮盡性的且亦可將其組合。
形成在圖7中未展示之一信號處理步驟中分別自數位量測信號ST及SL(及分別SL1、SL2)以及ST1及ST2形成的待饋送至預處理之量測信號S1。可藉由組合數位量測信號來形成量測信號S1。在兩項以上所提及之實例中之第一者中，可將數位量測信號ST與數位量測信號SL組合，舉例而言，藉由形成該等量測信號之總和，其中可對數位量測信號進行加權(舉例而言，分別係A×ST+B×SL及A×ST+B×SL1+C×SL2)。 同樣，根據第二實例，亦可將數位量測信號ST1與ST2彼此組合。亦可形成經加權數位量測信號之差。數位量測信號之一組合之進一步變化形式係可行的。
在一進一步實施例中，數位量測信號可在將其彼此組合之前經受一預處理。舉例而言，數位量測信號可在將其組合之前經受一低通濾波。
將經組合量測信號S1或如此形成之初始量測信號S1(在不需要量測信號之組合之情形中)饋送至量測信號預處理。
如參考圖5a、圖5b、圖6a及圖6b所闡述，執行量測信號預處理。舉例而言，如參考圖6a及圖6b所闡述，以此方式，可判定在電極處分接之信號(亦即，經組合或初始量測信號)之變化量。
另一選擇係或另外，亦可判定在電極處分接之信號之變化率，如參考圖5a及圖5b所闡述。量測信號預處理之結果係一或多個參考信號。當判定變化率以及變化量時，可形成兩個參考信號且其可用於進一步評估。舉例而言，以此方式，可定義考慮到變化率以及變化量之偵測準則。
分別連續地監視及評估量測信號預處理之結果。舉例而言，當沿一正方向之變化量改變時，可檢查變化是否超過上臨限值UT。另外，可測試變化是否超過上極限值UL。當變化處於上臨限值UT與上極限值UL之間的範圍中時(偵測準則1)，形成一偵測信號S2.2。以一類似方式，沿一負方向之量之變化以及速率之變化(變化率)亦係如此。
隨後將如此形成之偵測信號S2.1及S2.2饋送至一信號評估，該信號評估經調適以形成一資訊信號S3。在資訊信號S3之形成期間，可使用參考圖6b所提及之資訊準則。舉例而言，資訊信號S3可含有關於是否已執行一單輸入、雙輸入、三輸入操作或一多輸入操作(舉例而言，用一手指之一雙擊)之資訊。
最後，可將用於進一步處理之資訊信號S3饋送至手持式電裝置(舉例而言，手持式裝置之一微控制器)以啟動指派給資訊信號之一裝置功能。
實施根據本發明之評估方法之一評估裝置A可與至少一個傳輸電極SE及至少一個接收電極EE一起或與至少一個負載電極SE/EE一起提供於每一手持式電裝置中，可用一手握持該手持式裝置且其中將考慮擠壓、釋放及/或藉助一手指之接近/移除之使用者輸入。
舉例而言，實施該評估方法之一各別評估裝置可與電極SE及電極EE一起或與至少一個負載電極SE/EE一起提供於一行動無線電單元中、一電腦滑鼠中、一遠端控制件中或用於遊戲主控台之一輸入裝置中。
舉例而言，實施該評估方法之評估裝置A可實施為一ASIC。另外，亦可在一微控制器(舉例而言，一行動電話之微控制器)中實施該評估方法，其中最終微控制器僅必須提供用於電極SE及EE或SE/EE之各別連接且必須經設計以使類比感測器信號分別經受一信號預處理且將其數位化。該微控制器可係一混合信號微控制器。為了提供可分 別供應至傳輸電極SE及負載電極SE/EE之一各別交變電信號，可使用在一微控制器中可用之信號產生器。
可將不同裝置功能指派給一經偵測輸入。舉例而言，指派給一單輸入的可係一確認功能，指派給一雙輸入的可係對行動電話之電話簿之擷取。
A‧‧‧評估裝置
C1‧‧‧耦合電容/電容
C2‧‧‧耦合電容
C3‧‧‧電容
EE‧‧‧接收電極/負載電極/電極/感測器電極/第一感測器電極/第二感測器電極
G‧‧‧行動電話/裝置/手持式裝置/手持式電裝置
LL‧‧‧下極限值/極限值
LT‧‧‧下臨限值/臨限值
S1‧‧‧量測信號
S2.1‧‧‧第一偵測信號/偵測信號
S2.2‧‧‧第二偵測信號/偵測信號
S3‧‧‧資訊信號
SE‧‧‧傳輸電極/感測器電極/電極/負載電極/第一感測器電極/第二感測器電極
SREF‧‧‧參考信號
STP‧‧‧經低通濾波量測信號
UL‧‧‧上極限值/極限值
UT‧‧‧上臨限值/臨限值
△t1‧‧‧預定義時間段
圖1展示用一手握持之一手持式電裝置；圖2a出於一清晰之目的展示根據本發明之一電容感測器之操作模式之一等效電路圖，該電容感測器根據一傳輸方法及/或一吸收方法操作；圖2b出於一清晰之目的展示根據本發明之一電容感測器之操作模式之一等效電路圖，該電容感測器根據一負載方法操作；圖3展示在根據本發明之電容感測器裝置之一接收電極處分接之一量測信號之振幅之時間進程，其中可看出由用一手擠壓一手持式電裝置而導致及/或由一手指自該手持式裝置之一暫時抬升而導致之一電容感測器之電容變化；圖4展示在一電容感測器之一接收電極處分接之一信號，其中可見若干個峰值，該等峰值表示對手持式電裝置之一擠壓及/或一手指自該手持式裝置之一暫時抬升；圖5a展示包括分別在一電容感測器之接收電極及感測器電極處分接之兩個臨限值之一量測信號之一微分信號(參考信號)以及衍生自該微分信號之兩個數位信號(偵測信號)； 圖5b展示包括兩個臨限值且分別在一電容感測器之接收電極及感測器電極處分接之一量測信號之一經高通濾波信號(參考信號)以及衍生自該經高通濾波信號之兩個數位信號(偵測信號)；圖6a展示分別在一電容感測器之接收電極及感測器電極處分接之一量測信號之一經低通濾波信號；圖6b展示自圖6a中所展示之信號之差形成之一參考信號；及圖7展示用於根據依據本發明之評估方法產生一資訊信號之根據本發明之一信號處理之一實例。
A‧‧‧評估裝置
C1‧‧‧耦合電容/電容
C2‧‧‧耦合電容
C3‧‧‧電容
EE‧‧‧接收電極/負載電極/電極/感測器電極/第一感測器電極/第二感測器電極
G‧‧‧行動電話/裝置/手持式裝置/手持式電裝置
SE‧‧‧傳輸電極/感測器電極/電極/負載電極/第一感測器電極/第二感測器電極

Claims (15)

  1. 一種用於配置在一手持式裝置內之一電容接觸感測器之評估方法，該電容接觸感測器包括至少一個傳輸電極(SE)及與該傳輸電極(SE)具有一電容耦合之至少一個接收電極(EE)，該至少一個傳輸電極(SE)接收一交變信號以便發射一交變電場，其中該電容耦合藉由一使用者之手握持(grasp)該手持式裝置而改變，其中在該至少一個接收電極(EE)處接收一量測信號(S1)，該量測信號表示該至少一個傳輸電極(SE)與該至少一個接收電極(EE)之間的耦合電容之時間進程，該方法包含：當該手持式裝置藉由該使用者之手握持時自該量測信號(S1)衍生一基線(baseline)，其中該基線表示由該使用者之手握持該手持式裝置導致之一經改變電容耦合；及當該量測信號滿足至少一個偵測準則時藉由產生至少一個偵測信號(S2)來偵測該使用者之手如何握住(hold)該手持式裝置之一改變，其中該偵測準則定義相對於該基線之一臨限值。
  2. 如請求項1之方法，其中該使用者之手如何握住該手持式裝置之該改變係藉由改變該使用者之手用以握住該手持式裝置之一力或從該手持式裝置之一表面移動至少一手指或移動至少一手指至該手持式裝置之該表面而導致。
  3. 如請求項1或2之方法，其中對該量測信號(S1)進行低通濾波，且其中在該量測信號(S1)之該低通濾波之後，形 成該量測信號(S1)與該經低通濾波量測信號之間的一差信號，其中該差信號(SREF)與該臨限值進行比較。
  4. 如請求項1或2之方法，其中該差信號(SREF)之產生包括該量測信號(S1)之微分及該量測信號(S1)之高通濾波中之一者。
  5. 如請求項1或2之方法，其中該偵測準則包括一上臨限值(UT)及/或一下臨限值(LT)，且較佳地其中該偵測準則包括一上極限值(UL)及/或一下極限值(LL)，其中該上極限值(UL處於該上臨限值(UT)以上且該下極限值(LL)處於該下臨限值(LT)以下。
  6. 如請求項5之方法，其中當該差信號(SREF)處於該下臨限值(LT)以下時，形成一第一偵測信號(S2.1)，及/或其中當該差信號(SREF)處於該上臨限值(UT)以上時，形成一第二偵測信號(S2.2)。
  7. 如請求項4之方法，其中當該差信號(SREF)處於該下臨限值(LT)以下且處於該下極限值(LL)以上時，形成一第一偵測信號(S2.1)，及/或其中當該差信號(SREF)處於該上臨限值(UT)以上且處於該上極限值(UL)以下時，形成一第二偵測信號(S2.2)。
  8. 如請求項6之方法，其中該第一偵測信號(S2.1)及該第二偵測信號(S2.2)係數位信號，且其中當該等偵測信號(S2.1、S2.2)滿足至少一個資訊準則時，形成一資訊信號(S3)。
  9. 如請求項8之方法，其中該資訊準則包括以下各項中之 至少一者：在該第一偵測信號(S2.1)之兩個脈衝之上升邊緣之間之時間間隔超過或下降至低於一預定義值，或在該第二偵測信號(S2.2)之兩個脈衝之上升邊緣之間之時間間隔超過或下降至低於一預定義值，或在該第一偵測信號(S2.1)之一脈衝之上升邊緣與該第二偵測信號(S2.2)之一脈衝之上升邊緣之間之時間間隔超過或下降至低於一預定義值；該第一偵測信號(S2.1)之一脈衝或該第二偵測信號(S2.2)之一脈衝之脈衝持續時間超過或下降至低於一預定義值；在一預定義時間段(△t1)內，該第一偵測信號(S2.1)或該第二偵測信號(S2.2)或該第一偵測信號(S2.1)及該第二偵測信號(S2.2)包括預定義數目個脈衝；及該第一偵測信號(S2.1)及該第二偵測信號(S2.2)之脈衝序列包括一特定型樣。
  10. 如請求項1或2之方法，其中藉助一傳輸方法或藉助一吸收方法量測該耦合電容。
  11. 如請求項1或2之方法，其中當該量測信號(S1)之信號位準處於一預定義參考位準以下指示該手持式裝置尚未被握持時，使用一預定義第一取樣率對該量測信號(S1)進行取樣，且其中當該量測信號(S1)之該信號位準處於該預定義參考位準以上指示該手持式裝置已經被握持時，使用一預定義第二取樣率對該量測信號(S1)進行取樣， 其中該第一取樣率係較佳地低於該第二取樣率。
  12. 如請求項1或2之方法，其中當該量測信號(S1)之該信號位準處於一預定義參考位準以下時，使用一預定義第一放大率放大該量測信號(S1)，且其中當該量測信號(S1)之該信號位準處於該預定義參考位準以上時，使用一預定義第二放大率放大該量測信號(S1)，其中該第二放大率經挑選以使得該量測信號(S1)始終在該電容接觸感測器之一操作範圍內。
  13. 如請求項1或2之方法，其中在該接收電極(EE)處分接至少一個第二量測信號(S1b)，其中在形成該差信號(SREF)之前，將該量測信號(S1)與該至少一個第二量測信號(S1b)彼此組合，且其中自該經組合量測信號形成該參考信號(SREF)，其中使該等量測信號(S1；S1b)在組合之前較佳地經受一信號預處理。
  14. 一種手持式電裝置，在該手持式電裝置處配置有與一評估裝置耦合之至少一個傳輸電極(SE)及至少一個接收電極(EE)，其中該評估裝置(A)經調適以執行如請求項1至13中任一項之評估方法，其中該手持式電裝置較佳地包括一行動無線電單元、一遠端控制件、用於遊戲主控台之輸入構件、可攜式迷你電腦、一智慧電話、一電腦滑鼠及用於電腦之輸入構件中之至少一者。
  15. 如請求項14之手持式電裝置，其中該手持式電裝置係以一可變形方式設計，其中該手持式裝置之一變形導致該至少一個傳輸電極(SE)與該至少一個接收電極(EE)之間的耦合電容之一進一步變化。
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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102011078534B4 (de) 2011-07-01 2016-02-18 Ident Technology Ag Auswerteverfahren und Auswerteeinrichtung für einen kapazitiven Berührungssensor
DE102012012864A1 (de) * 2012-06-28 2014-01-02 Brose Fahrzeugteile Gmbh & Co. Kommanditgesellschaft, Hallstadt Kapazitiver Sensor für eine Kollisionsschutzvorrichtung
US10108292B2 (en) * 2015-04-22 2018-10-23 Microchip Technology Incorporated Capacitive sensor system with multiple transmit electrodes
US10444892B2 (en) * 2015-10-07 2019-10-15 Microchip Technology Incorporated Capacitance measurement device with reduced noise
CN108391201B (zh) * 2018-02-12 2020-10-02 广东小天才科技有限公司 一种tws耳机的操作方法、装置、tws耳机和存储介质
EP3751739B1 (en) * 2019-06-12 2022-03-23 Captron Electronic GmbH Capacitive sensor switch with optical sensor
DE102019209430A1 (de) 2019-06-28 2020-12-31 Robert Bosch Gmbh Sensoreinrichtung mit kapazitivem Sensor
EP4386977A1 (en) * 2021-10-24 2024-06-19 Samsung Electronics Co., Ltd. Electronic device and method for identifying grip state of electronic device
DE102022111620A1 (de) 2022-05-10 2023-11-16 Schneider Electric Industries Sas Schaltsteuerungsvorrichtung, schaltvorrichtung, schaltsystem, leistungsschaltsteuerungsverfahren und leistungsschaltverfahren

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1775836A1 (en) * 2004-10-19 2007-04-18 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Touch key and induction heating cooking device employing the same
US20090224775A1 (en) * 2008-03-10 2009-09-10 Fujitsu Microelectronics Limited Capacitance sensor
DE102009057935A1 (de) * 2009-12-11 2011-06-16 Ident Technology Ag Einrichtung und Verfahren zur Detektion eines Umgreifens eines Handgeräts durch eine Hand

Family Cites Families (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4175239A (en) 1978-04-12 1979-11-20 P. R. Mallory & Co. Inc. Detection means for touch control switches
ATA261389A (de) * 1989-11-15 1991-05-15 Setec Messgeraete Gmbh Einklemmschutz
US5844415A (en) * 1994-02-03 1998-12-01 Massachusetts Institute Of Technology Method for three-dimensional positions, orientation and mass distribution
US6445294B1 (en) 1999-07-15 2002-09-03 Automotive Systems Laboratory, Inc. Proximity sensor
US6859141B1 (en) * 1999-12-08 2005-02-22 Nortel Networks Limited Electric field proximity detector for floating and grounded targets
FR2809885B1 (fr) * 2000-06-02 2003-01-17 Eaton Corp Dispositif de commutation fonctionnant par contact d'un corps humain
JP2005055723A (ja) * 2003-08-06 2005-03-03 Alps Electric Co Ltd カメラ
DE202005015210U1 (de) * 2005-01-25 2006-03-09 Sick Ag Kapazitiver Sensor zum Überwachen eines Gefahrenbereiches
DE202005010379U1 (de) * 2005-07-01 2005-09-29 Captron Electronic Gmbh Türgriff mit kapazitivem Sensor
DE102006051184A1 (de) * 2005-10-28 2007-05-03 Ident Technology Ag Verfahren und Schaltung zur Erfassung der Präsenz, Position und/oder Annäherung eines Objektes an wenigstens eine Elektrodeneinrichtung
JP2007150733A (ja) 2005-11-28 2007-06-14 Visteon Japan Ltd タッチセンサスイッチ装置
WO2007150058A2 (en) 2006-06-23 2007-12-27 Marko Cencur Compact non-contact multi-function electrical switch
DE102006036567B4 (de) * 2006-08-04 2008-09-11 Continental Automotive Gmbh Verfahren zum Bestimmen eines Funktionszustandes eines Piezoinjektors einer Brennkraftmaschine
JP2008225648A (ja) * 2007-03-09 2008-09-25 Alps Electric Co Ltd 電源制御装置及びこれを備えた電子機器並びに電子機器の起動方法
CN100565208C (zh) 2007-08-13 2009-12-02 凌通科技股份有限公司 导体滑过电容式传感器的速度的测量方法
WO2009026912A1 (de) 2007-08-30 2009-03-05 Micro-Epsilon Messtechnik Gmbh & Co. Kg Kapazitiver einklemmschutz und verfahren zum betreiben eines einklemmschutzes
JP4987680B2 (ja) * 2007-12-07 2012-07-25 三菱自動車工業株式会社 タッチセンサ装置及びタッチセンサ用のプログラム
CN101217273A (zh) 2008-01-08 2008-07-09 哈尔滨工程大学 床用人体介质电容传感器
JP5462861B2 (ja) 2008-04-25 2014-04-02 イデント テクノロジー アーゲー 近接を検出する電極システム及び電極システムを有するハンドヘルド装置
DE102009016355B3 (de) * 2009-04-07 2010-07-08 Ident Technology Ag Messelektrodenanordnung zur verbesserten Näherungsdetektion
JPWO2010004867A1 (ja) 2008-07-08 2012-01-05 セイコーインスツル株式会社 静電検出装置、情報機器及び静電検出方法
ES2571133T3 (es) * 2009-04-07 2016-05-24 Microchip Tech Germany Gmbh Dispositivo sensor y procedimiento de detección de agarre y proximidad
DE102009057931B4 (de) * 2009-12-11 2015-07-09 Ident Technology Ag Schaltungsanordnung für ein kapazitives Sensorelement.
US8481873B2 (en) * 2009-09-30 2013-07-09 Freescale Semiconductor, Inc. Capacitive touch sensor device configuration systems and methods
DE102009057960B4 (de) * 2009-12-11 2014-02-20 Ident Technology Ag Sensoreinrichtung und Verfahren zur Detektion eines Umgreifens eines Handgerätes mit zumindest einer Hand
DE102009057934A1 (de) * 2009-12-11 2011-06-16 Ident Technology Ag Sensoreinrichtung und Verfahren zur Annäherungsdetektion
DE102009057933B3 (de) 2009-12-11 2011-02-24 Ident Technology Ag Sensoreinrichtung sowie Verfahren zur Annäherungs- und Berührungsdetektion
US8773146B1 (en) * 2010-04-16 2014-07-08 Cypress Semiconductor Corporation Waterproof scanning of a capacitive sense array
JP5563417B2 (ja) 2010-09-30 2014-07-30 株式会社ジャパンディスプレイ タッチパネル付き表示装置
DE102011078534B4 (de) 2011-07-01 2016-02-18 Ident Technology Ag Auswerteverfahren und Auswerteeinrichtung für einen kapazitiven Berührungssensor

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1775836A1 (en) * 2004-10-19 2007-04-18 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Touch key and induction heating cooking device employing the same
US20090224775A1 (en) * 2008-03-10 2009-09-10 Fujitsu Microelectronics Limited Capacitance sensor
DE102009057935A1 (de) * 2009-12-11 2011-06-16 Ident Technology Ag Einrichtung und Verfahren zur Detektion eines Umgreifens eines Handgeräts durch eine Hand

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