CN103733519A - 用于电容性接触传感器的评估方法及评估装置 - Google Patents

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CN103733519A CN201280039519.XA CN201280039519A CN103733519A CN 103733519 A CN103733519 A CN 103733519A CN 201280039519 A CN201280039519 A CN 201280039519A CN 103733519 A CN103733519 A CN 103733519A
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Abstract

本发明提供一种用于电容性接触传感器的评估方法，所述电容性接触传感器包括能够进行电容性耦合的至少一个发射电极(SE)及至少一个接收电极(EE)或至少一个传感器电极，其中·-在所述至少一个接收电极处或在所述至少一个传感器电极处分接测量信号，所述测量信号分别表示所述至少一个发射电极与所述至少一个接收电极之间的耦合电容(C2)的时间进程及所述传感器电极的电容性负载的时间进程，·-从所述测量信号形成参考信号，及·-当所述参考信号满足至少一个检测准则时，形成至少一个检测信号。另外，本发明提供一种用于电容性接触传感器的评估装置及一种包括根据本发明的评估装置的电手持式装置，其中所述评估装置可与所述电容性接触传感器的至少一个发射电极及至少一个接收电极或至少一个传感器电极耦合且经调适以执行根据本发明的评估方法。

Description

用于电容性接触传感器的评估方法及评估装置
技术领域
本发明涉及一种用于电容性接触传感器的评估方法。另外，本发明涉及一种用于经调适以执行根据本发明的评估方法的电容性接触传感器的评估装置。另外，本发明提供一种包括根据本发明的评估装置的电手持式装置。
背景技术
从现有技术已知可布置在手持式装置(特定来说，手机)处以分别检测手与电手持式装置的接触及手对电手持式装置的握持的电容性接触传感器。在分别检测与电手持式装置的接触及对电手持式装置的握持时，可将电手持式装置(举例来说)从休眠模式变换成操作模式。在操作模式的改变之后，且在电手持式装置的握持的检测时，可在电手持式装置中激活另一些功能。举例来说，一旦用手握持手机，手对手机的握持的检测即可用于接听拨入呼叫。
然而，当事实上发生手持式装置的握持时，仅可执行指派给手持式装置的握持的功能。举例来说，当在呼叫的拨入期间已用手握持手机时，不能通过用手握持手机来接听传入手机的呼叫。当已用手握持电手持式装置时，不能再在电容性基础上检测手持式装置的其它操作。仅可以常规方式(举例来说，通过致动机械键)来激活手持式装置的其它功能(举例来说，接听呼叫)。
发明内容
本发明的目标
因此，本发明的目标是提供在其中已用手握持(举例来说)电手持式装置的情况中也允许在电容性基础上对手持式装置处的操作输入的检测的解决方案。
根据本发明的解决方案
根据本发明，通过如在独立权利要求中所表示的一种用于电容性接触传感器的评估方法及一种用于电容性接触传感器的评估装置以及一种包括评估装置的电手持式装置来达到所述目标。在相应附属权利要求中表示本发明的有利实施例。
根据此，提供一种用于电容性接触传感器的评估方法，所述电容性接触传感器包括能够成为电容性耦合的至少一个发射电极及至少一个接收电极，其中
-在所述至少一个接收电极处分接测量信号，所述测量信号表示所述至少一个发射电极与所述至少一个接收电极之间的耦合电容的时间进程，
-从所述测量信号形成参考信号，且
-在所述参考信号满足至少一个检测准则时，产生至少一个检测信号。
还提供一种用于电容性接触传感器的评估方法，所述电容性接触传感器包括至少一个传感器电极，其中
-在所述至少一个传感器电极处分接测量信号，所述测量信号表示所述传感器电极与参考接地之间的电容性负载的时间进程，
-从所述测量信号形成参考信号，且
-在所述参考信号满足至少一个检测准则时，产生至少一个检测信号。
在下文中，详述两种上述评估方法的有利实施例。
可对测量信号进行低通滤波，其中在所述测量信号的低通滤波之后，形成所述测量信号与所述经低通滤波测量信号之间的差信号，其中所述差信号表示参考信号。
参考信号的形成可包括测量信号的微分及所述测量信号的高通滤波中的一者。
所述检测准则可包括上阈值及／或下阈值。
所述检测准则可包括上极限值及／或下极限值。优选地，上极限值处于上阈值以上且下极限值处于下阈值以下。
当参考信号处于下阈值以下时，可产生第一检测信号。
当参考信号处于上阈值以上时，可产生第二检测信号。
当参考信号处于下阈值以下且处于下极限值以上时，可产生第一检测信号。
当参考信号处于上阈值以上且处于上极限值以下时，可产生第二检测信号。
优选地，第一检测信号及第二检测信号为数字信号，其中当所述检测信号满足至少一个信息准则时，产生信息信号。
举例来说，所述信息准则可为：
-时间间隔
-在第一检测信号的两个脉冲的上升沿之间，或
-在第二检测信号的两个脉冲的上升沿之间，或
-在第一检测信号的脉冲的上升沿与第二检测信号的脉冲的上升沿之间超过或下降到低于预定义值，
-第一检测信号的脉冲或第二检测信号的脉冲的脉冲持续时间超过或下降到低于预定义值，
-在预定义时间周期内，第一检测信号或第二检测信号或第一检测信号及第二检测信号包括预定义数目个脉冲，及／或
-第一检测信号及第二检测信号的脉冲系列具有特定型式。
可使用发射方法或使用吸收方法来测量耦合电容。可使用加载方法来测量电容性负载。
当测量信号的信号电平处于预定义参考电平以下时，可使用预定义第一取样率对所述测量信号进行取样。当测量信号的信号电平处于所述预定义参考电平以上时，可使用预定义第二取样率对所述测量信号进行取样。
优选地，第一取样率低于第二取样率。
当测量信号的信号电平处于预定义参考电平以下时，可使用预定义第一放大率放大所述测量信号。当测量信号的信号电平处于所述预定义参考电平以上时，可使用预定义第二放大率放大所述测量信号，其中第二放大率经选择使得所述测量信号始终保持在电容性接触传感器的操作范围中。
可在接收电极处或在传感器电极处分接至少一个第二测量信号，其中在形成参考信号之前，将测量信号与所述至少一个第二测量信号彼此组合，且其中从经组合测量信号形成所述参考信号。
可使所述测量信号(测量信号及第二测量信号)在组合之前经受信号预处理。
进一步提供一种用于电容性接触传感器的评估装置，所述评估装置可与所述电容性接触传感器的至少一个发射电极及至少一个接收电极耦合或至少一个传感器电极耦合且经调适以执行根据本发明的评估方法。
另外，提供一种电手持式装置，在所述电手持式装置处布置有与评估装置耦合的至少一个发射电极及至少一个接收电极或至少一个传感器电极，其中所述评估装置经调适以执行根据本发明的评估方法。
所述电手持式装置可包括移动无线电单元、远程控制件、用于游戏控制台的输入构件、便携式小型计算机、智能电话、计算机鼠标及用于计算机的输入构件中的至少一者。
所述电手持式装置可经设计为可变形的，其中所述手持式装置的变形导致至少一个发射电极与至少一个接收电极之间的耦合电容的变化。
附图说明
由下文描述与图式一起得出本发明的其它细节及特性。
图1展示用手握持的电手持式装置；
图2a出于清晰的目的展示根据本发明的电容性传感器的操作模式的等效电路图，所述电容性传感器根据发射方法及／或吸收方法操作；
图2b出于阐明的目的展示根据本发明的电容性传感器的操作模式的等效电路图，所述电容性传感器根据加载方法操作；
图3展示在根据本发明的电容性传感器装置的接收电极处分接的测量信号的振幅的时间进程，其中可看出由用手挤压电手持式装置而导致及／或由手指从所述手持式装置的暂时抬升而导致的电容性传感器的电容变化；
图4展示在电容性传感器的接收电极处分接的信号，其中可见若干个峰值，所述峰值表示对电手持式装置的挤压及／或手指从所述手持式装置的暂时抬升；
图5a展示分别在电容性传感器的接收电极及传感器电极处分接的包括两个阈值的测量信号的微分信号(参考信号)以及从所述微分信号导出的两个数字信号(检测信号)；
图5b展示包括两个阈值且分别在电容性传感器的接收电极及传感器电极处分接的测量信号的经高通滤波信号(参考信号)以及从所述经高通滤波信号导出的两个数字信号(检测信号)；
图6a展示分别在电容性传感器的接收电极及传感器电极处分接的测量信号的经低通滤波信号；
图6b展示从图6a中所展示的信号的差形成的参考信号；及
图7展示用于根据依据本发明的评估方法产生信息信号的根据本发明的信号处理的实例。
具体实施方式
图1展示用手握持的电手持式装置(举例来说，手机G)。所述手机包括可借以检测对手持式装置G的握持的电容性接触传感器。所述电容性接触传感器包括至少一个接收电极EE及至少一个发射电极SE。在图1中所展示的手机中，发射电极SE布置在左侧处(即，在蜂窝电话G的左侧壁处)。接收电极EE布置在右侧处(即，在手机G的右侧壁处)且在此处所展示的实例中由手的手指覆盖。
一旦用手握持手机G，即产生发射电极SE与接收电极EE之间的电容性耦合。此外，由于所述握持，可放大(发射方法，参见图2e)或弱化(吸收方法，参见图2a)电极SE与EE之间的现有弱电容性耦合。给发射电极SE加载交变电信号使得发射交变电场，所述交变电场在握持手机G期间经由手耦合到接收电极EE中。在发射电极SE处发射且经由手耦合到接收电极EE中的交变电场的部分导致接收电极EE中的电流的变化，可由评估装置检测所述变化。
发射电极SE及接收电极EE还可布置在电手持式装置处使得在不用手进行握持的情况下发射电极SE与接收电极EE也能够成为电容性耦合。举例来说，可以可变形方式设计手持式装置使得由手对手持式装置的强挤压引起暂时变形。优选地，在可变形手持式装置中，发射电极SE及接收电极EE布置在其上使得暂时变形引起两个电极SE与EE之间的距离的变化。伴随距离的变化的还有两个电极SE与EE之间的电容性耦合的变化，在接收电极EE中所述变化又导致可由评估装置检测的电流的变化。
另外，电极SE及EE布置在手持式装置G处或相对于彼此布置在手持式装置G处，使得在用手握持手持式装置的情况中手指相对于手持式装置的表面的移动也产生两个电极SE与EE之间的电容性耦合的变化，又可由根据本发明的评估装置来检测所述变化。
电容性接触传感器还可包括仅一个或数个传感器电极SE／EE(未在图1中展示)。传感器电极SE／EE可布置在左侧处(即，在手机G的左侧壁处)，或在右侧处(即，在手机G的右侧壁处)。然而，传感器电极SE／EE还可布置在手机G的前面或后面处。
在握持手机G使得用手至少部分地覆盖传感器电极SE／EE的情况下，传感器电极SE／EE与参考接地之间的电容性负载(加载方法，参见图2b)改变。可由评估装置检测此变化。
可借助实质上仅一个传感器电极SE／EE来检测手指相对于手持式装置的表面的移动。还可借助实质上布置在电手持式装置的两个相对侧壁处的至少两个传感器电极SE／EE可靠地检测对手持式装置的握持。
以此方式，首先，当已用手握持手持式装置时，以有利方式在电容性基础上检测手持式装置的操作也是可行的。特定来说，以根据本发明的方式，通过根据本发明的评估方法使得此成为可能，在下文中更详细地描述所述评估方法。
图2a展示手持式装置处的根据本发明的电容性传感器的等效电路图，所述手持式装置由手握持且分别根据发射方法及吸收方法操作。在用手握持手持式装置G期间，发射电极SE与接收电极EE之间的耦合电容变化，此处耦合电容是作为发射电极SE与手之间的耦合电容C1及作为手与接收电极EE之间的耦合电容C2给出。可分别按照接收电极EE中的电流的变化来测量及检测发射电极与接收电极EE之间的耦合电容C1、C2的变化。取决于电容性传感器的特定接地条件，接近及握持分别引起电极SE与EE之间的电容性耦合的减小(吸收)或增加(发射)。
接收电极EE及发射电极SE各自与评估装置A耦合。一方面，评估装置A经提供用于给发射电极SE加载交变电信号使得可从其发射交变电场，所述交变电场经由手耦合到接收电极中。另一方面，评估装置A还经提供用于分析在接收电极EE处分接的电信号(测量信号)，即，以检测且评估接收电极EE中的电流的时间变化。
在较强地挤压用手握持的电手持式装置时，耦合电容C1、C2改变，此又影响接收电极EE中的电流的电平。当用握持手持式装置的手执行对手持式装置的快速挤压(用手快速挤压手持式装置，使得手持式装置的几何形状改变(即使仅很小改变)及／或使得电极与手之间的电容性耦合改变)时，此产生接收电极EE中的电流的逐步上升，可使用根据本发明的方法分别检测及评估所述逐步上升。另外，握持手持式装置G的手的手指相对于手持式装置的表面的移动(优选地分别朝向手持式装置的接近及从手持式装置的移除)也产生接收电极EE中的电流的变化(优选地分别产生逐步上升及降低)。
一股来说，耦合电容C1、C2的时间变化可由(举例来说)手指到手持式装置的距离的变化(也在用手握持手持式装置时)及／或由电极与(举例来说)用户的手之间的有效作用耦合表面的变化(在比正常更强地挤压手持式装置时，也增加有效耦合表面)导致。
实际上，耦合电容C1、C2的变化大致在以下状态之间(状态(A)与状态(B)之间)变化(根据加载方法，传感器电极SE／EE处的电容性负载的变化也是如此，参见图2b)：
-(A)举例来说，将装置定位在桌子上
(B)用手握持装置
Figure BDA0000465440900000063
此实质上对应于手与装置之间的距离的改变且在下文中还表示为“抓握”。
-(A)将装置定位在手上
(B)用手握持装置
Figure BDA0000465440900000062
此实质上对应于手与装置之间的距离的改变
-(A)用低握持力握持装置
(B)用高握持力握持装置
Figure BDA0000465440900000061
此实质上分别对应于手指及手掌的触摸表面中的表面的改变，且在下文中表
示为“挤压”。
-(A)用手握持装置，其中拇指及／或手指搁置在装置的表面上
(B)用手握持装置，其中拇指及／或一个或数个手指并不搁置在装置的表面上，即，拇指及／或一个或数个手指有意地从装置的表面抬升(移除)及／或优选地再次快速地搁置在装置的表面上
此实质上对应于表面的改变及／或距离的改变且在下文中也将表示为“抓握式轻敲(tap on grip)”。
关于拇指及手指的开始位置(搁置位置)，可分别在以下两者之间对其进行区别
-拇指／手指搁置在装置的表面上
-拇指／手指不搁置在装置的表面上。
手持式装置的用户可有意地在以上所描述状态之间切换且此方式可形成耦合电容C1、C2的时间变化。
图2b展示手持式装置处的根据本发明的电容性传感器的等效电路图，所述手持式装置由手握持且根据加载方法操作。
在电容性传感器以加载方法操作期间，仅需要表示发射电极以及接收电极的一个传感器电极SE／EE。在也表示为加载电极的传感器电极SE／EE处，供应交变电信号，使得从所述电极处发射交变电场，其中由评估装置分别检测及分析传感器电极SE／EE的电容性负载。
在加载方法中，实质上，传感器电极与电容性传感器的参考接地之间的电容性负载分别用于检测接近及握持。电容性负载意指从传感器电极SE／EE到参考接地有效的电场的强度因导电手的接近而增加，且因此传感器电极SE／EE与参考接地之间的电容C1、C3增加。因此，电容性负载分别为从传感器电极SE／EE到参考接地有效的电场的强度的度量及传感器电极SE／EE与参考接地之间的电容C1、C3的度量。
数个传感器电极SE／EE及加载电极还可布置在手持式装置处，其中可针对每一传感器电极SE／EE检测电容性负载。以此方式，还可以简单方式检测用手对手持式装置的握持。在一实施例中，第一传感器电极SE／EE可布置在左侧壁处且第二传感器电极SE／EE可布置在右侧壁处。
将在下文中借助于根据图2a的传感器装置分别参考图3到图7分别更详细地描述接收电极EE及传感器电极SE／EE中的电流的变化的检测及评估。评估及评估方法还可分别以相应方式用于参考图2b所展示的加载方法。
图3展示在接收电极EE处分接的测量信号S1的振幅的时间进程，此处以数字化形式展示所述时间进程。测量信号S1最初具有指示用手握持电手持式装置的事实的电平。
当并非用手握持电手持式装置时，可使用第一取样率数字化在接收电极EE处分接的模拟信号。举例来说，可使用约10Hz的第一取样率分别数字化模拟信号且对模拟信号进行取样。在许多情况中，低取样率足以可靠地检测对手持式装置的握持。只要模拟信号低于预定义信号电平，即可维持低的第一取样率，其中下降到低于预定义信号电平并非由如以上所描述对手持式装置的挤压导致，或分别由手指的移除及接近导致。
在已用手握持电手持式装置之后，测量信号S1的信号电平实质上保持大致恒定直到时间t=33为止。
约在时间t=33与时间t=34之间以及在时间t=34与时间t=35之间，由电手持式装置的用户执行对装置的每一快速挤压。在每一情况中，快速挤压产生测量信号S1中明显可见的电平的逐步上升。
约在时间t=36时及在时间t=37时，仍用手握持手持式装置-搁置在手持式装置的表面上的手指(举例来说，拇指)暂时地从手持式装置移除，在每一情况中，此产生测量信号S1的电平的逐步下降。在时间t=39与时间t=40之间，搁置在手持式装置的表面上的手指以短间隔暂时地从手持式装置移除，此又产生测量信号S1的电平的逐步下降。此处所展示的电平的逐步下降还可由数个手指的接近／移除实现。
为了能够可靠地检测对装置的快速挤压及手指的快速移除／接近，在检测用手对手持式装置的握持之后，使用第二取样率来对测量信号进行取样是有利的，第二取样率大于用于检测握持的第一取样率。第二取样率可为约20Hz到50Hz。取决于特定要求，第二取样率还可大于50Hz。
在释放手持式装置之后，可再次使用第一取样率。
在第一取样率已具有也足以分别用于检测快速挤压及手指的快速移除／接近的值的情况中，可放弃取样率的变化。
图4展示在接收电极EE处分接的测量信号S1的时间进程。在对手持式装置的握持之后，用户通过对装置G的快速暂时挤压执行数个输入。在每一情况中，借助挤压的快速输入产生测量信号S1的电平的逐步上升，此处可将上升视为测量信号S1的峰值。此处，在时间t=1时还可见电平的上升，然而，其并不表示对手持式装置G的快速暂时挤压，而是在较长时间内对手持式装置的强挤压。然而，在本发明的优选实施例中，仅应将对手持式装置的快速及暂时挤压检测为输入，使得在图4中所展示的信号的进程中应检测到仅十一个用户输入。在本发明的另一实施例中，在每一情况中还可由手指的暂时移除／接近导致测量信号S1的峰值。
首先数字化在接收电极处分接的测量信号S1且接着使其分别经受频率分析及测量信号预处理是有利的。
在评估之前放大测量信号也可为有利的。另外，在检测握持之后放大测量信号使得经放大测量信号始终在评估装置的操作范围内可为有利的，使得在电平的逐步上升期间测量信号达不到将产生测量信号的限幅的极限。在握持期间，还可随时间动态地调适放大率(举例来说)以能够对不同周围条件作出反应。
图5a展示根据本发明已在电容性传感器的接收电极处分接的图3中所展示的测量信号S1的微分信号(参考信号SREF)。借助测量信号S1的微分，可确定测量信号的改变率。另外，分别通过在接收电极EE处分接的测量信号S1的微分及导数实现了不将(举例来说)由手指的缓慢接近／移除而导致的缓慢电平改变辨识为用户输入。此外，实现了同样不将在较长时间周期内对电手持式装置的强挤压检测为操作输入。
图5a中(以及下文将更详细地描述的图5b及图6b中)还展示上阈值UT及下阈值LT。可将分别超过阈值UT及下降到低于阈值LT分别理解为测量信号S1的电平正以预定义最小速度改变的指示。
另外，将(数字，即，二进制)检测信号S2.2及S2.1指派给上阈值UT及下阈值LT。当参考信号SREF超过上阈值UT时，将检测信号S2.2的电平设定为逻辑高。当再次低于上阈值UT时，将检测信号S2.2的电平再次设定为逻辑低。也以类似方式形成检测信号S2.1。当参考信号SREF下降到低于下阈值LT时，将检测信号S2.1的电平设定为逻辑高。当再次超过下阈值LT时，将检测信号S2.1的电平再次设定为逻辑低。当然，还可互换状态低及高。参考图5a所描述的检测信号S2.1及S2.2的产生也以类似方式适用于参考图5b及图6b所展示的检测信号S2.1及S2.2。
如参考图6b更详细地描述，可分别评估及使用检测信号S2.1及S2.2以激活特定装置功能。
作为测量信号S1的微分的替代方案，还可借助测量信号的高通滤波来形成参考信号SREF。
图5b展示根据本发明已在电容性传感器的接收电极处分接的图3中所展示的测量信号S1的经高通滤波信号(参考信号SREF)。优选地，使用一阶高通滤波器。参考信号SREF在极大程度上等同于借助微分而形成的参考信号SREF(参见图5a)。同样，此处展示上阈值UT及下阈值LT以及检测信号S2.1及S2.2。关于阈值UT及LT以及检测信号S2.1及S2.2，参考对图5a的描述。
参考图6a及图6b展示图5a及图5b中所展示的测量信号的预处理的替代方案，其中在第一步骤中执行图3中所展示的测量信号S1的低通滤波且在第二步骤中从测量信号S1及经低通滤波测量信号形成参考信号SREF。
图6a展示根据本发明已在电容性传感器的接收电极EE处分接的在第一步骤中形成的图3中所展示的测量信号S1的经低通滤波信号STP。优选地，使用一阶低通滤波器，其中可针对测量信号的上升沿及下降沿使用不同时间常数。
图6b展示从测量信号S1及经低通滤波测量信号STp形成的参考信号SREF。为此，确定测量信号S1与经低通滤波测量信号STP之间的差(即，S1-STp)。在此情况中，测量信号S1与经低通滤波测量信号STP之间的差为变化量的度量。
如同在图5a及图5b中，此处也定义上阈值UT及下阈值LT作为检测准则，如参考图5a所描述，分别超过上阈值UT及低于下阈值LT分别产生相应检测信号S2.1及S2.2的电平的变化。
另外，提供上极限值UL及下极限值LL。举例来说，极限值UL及LL可经提供以检测沿向上方向及向下方向的失控值，且如果适用，那么滤除失控值，或至少使其在分别形成相应检测信号S2.1及S22期间被忽视。举例来说，沿向上方向及／或向下方向的失控值可与测量误差一起发生。可以此方式改善评估方法的稳健性。还可为参考图5a及图5b所展示的方法提供下极限值及上极限值。
在此处所展示的所有方法中，可提供数个上阈值UT、数个下阈值LT、数个上极限值UL以及数个下极限值LL。举例来说，如此一来，将手指的缓慢接近与手指的快速接近鉴别开是可行的，因为(举例来说)借助两个上阈值的适合选择，在两种情况中均超过下阈值，然而，在缓慢接近的情况下，不超过两个阈值中的较高者。
另外，图6b中展示分别在参考信号SREF的基础上及在检测信号S2.1及／或S2.2的基础上形成的信息信号S3的实例。当检测信号S2.1及／或S2.2满足至少一个预定义信息准则时，可形成(分别为数字及二进制)信息信号S3，即，设定为逻辑高。
信息准则的实例
a)时间间隔
-在第一检测信号S2.1的两个(连续)脉冲的上升沿之间，及／或
-在第二检测信号S2.2的两个(连续)脉冲的上升沿之间，及／或
-在第一检测信号S2.1的脉冲的上升沿与第二检测信号S2.2的脉冲的上升沿之间
超过或低于预定义值。
b)第一检测信号S2.1的脉冲或第二检测信号S2.2的脉冲的脉冲持续时间超过或低于预定义值。
c)在预定义时间周期△t1内，第一检测信号S2.1或第二检测信号S2.2或第一检测信号S2.1及第二检测信号S2.2包括预定义数目个脉冲
d)第一检测信号S2.1及第二检测信号S2.2的脉冲序列包括预定义型式。
信息准则的以上所描述的实例并非穷尽性的且还可将其组合。
在图6b中所展示的实例中，当在预定义时间周期At1内各自在第一检测信号S2.1中及在第二检测信号S2.2中检测到两个上升沿时，形成信息信号S3。
检测信号S2.1及S2.2还可用于检测可能误差(测量误差或操作误差)。举例来说，当在两个脉冲之间检测不到第二检测信号S2.2的脉冲时，第一检测信号S2.1中的两个在时间上连续的脉冲可指向测量误差。
可随时间动态地调适以上所展示的阈值UT及LT以及极限值UL及LL(举例来说)以对改变的周围条件作出反应。出于不将对电手持式装置G的仅柔和或相对缓慢挤压以及手指的相对缓慢接近／移除检测为操作输入的目的，还可分别调适阈值UT及LT。
还可在用户所请求的“测试操作输入”的基础上调整阈值UT及LT使得最终可按照用户的个别要求调适所述阈值。
图7展示用于根据依据本发明的评估方法形成信息信号的根据本发明的信号处理的实例。
在第一步骤中，在电极(接收电极EE或传感器电极SE／EE)处分接电信号且将其馈送到模／数转换器，所述模／数转换器提供数字测量信号以用于进一步处理。随后，将数字测量信号馈送到测量信号预处理。
在本发明的实施例中，还可在电极处分接不同电信号且将其馈送到模／数转换器。
举例来说，可为传感器装置的操作提供两种操作模式。在第一操作模式(发射方法)中，检测发射电极SE与接收电极EE之间的电容性耦合(发射或吸收，参见图2a)。将指派给电容性耦合的测量信号表示为发射信号ST。在第二操作模式(加载方法)中，发射电极SE及／或接收电极EE可用作加载电极SE／EE，其中检测电极的电容性负载(参见图2b)。将指派给电容性负载的测量信号表示为加载信号SL。当使发射电极SE以及接收电极EE各自作为加载电极SE／EE操作时，则提供两个加载信号SL1及SL2以用于进一步处理。
另外，举例来说，可提供第三电极(未在图中展示)，其优选地邻近于接收电极EE而布置。如此一来，在第一操作模式中，可给发射电极SE加载交变电信号且可检测发射电极SE与接收电极EE之间的电容性耦合。将指派给发射电极SE与接收电极EE之间的电容性耦合的测量信号表示为第一发射信号ST1。在第二操作模式中，可给第三电极加载交变电信号且可检测第三电极与接收电极之间的电容性耦合。将指派给第三电极与接收电极EE之间的电容性耦合的测量信号表示为第二发射信号ST2。或者，在第二操作模式中，还可给发射电极SE加载交变电信号使得在第一操作模式中仅给发射电极且在第二操作模式中给发射电极及第三电极加载交变信号。
以上所提及的两个实例并非穷尽性的且还可将其组合。
形成在图7中未展示的信号处理步骤中分别从数字测量信号ST及SL(及分别SL1、SL2)以及ST1及ST2形成的待馈送到预处理的测量信号S1。可通过组合数字测量信号来形成测量信号S1。在两个以上所提及的实例中的第一者中，可将数字测量信号ST与数字测量信号SL组合，举例来说，通过形成测量信号的总和，其中可对数字测量信号进行加权(举例来说，分别为A*ST+B*SL及A*ST+B*SL1+C*SL2)。同样，根据第二实例，还可将数字测量信号ST1与ST2彼此组合。还可形成经加权数字测量信号的差。数字测量信号的组合的其它变化形式是可行的。
在其它实施例中，数字测量信号可在将其彼此组合之前经受预处理。举例来说，数字测量信号可在将其组合之前经受低通滤波。
将如此形成的经组合测量信号S1或初始测量信号S1(在不需要测量信号的组合的情况中)馈送到测量信号预处理。
如参考图5a、图5b、图6a及图6b所描述，执行测量信号预处理。举例来说，如参考图6a及图6b所描述，以此方式，可确定在电极处分接的信号(即，经组合或初始测量信号)的变化量。
替代地或另外，还可确定在电极处分接的信号的变化率，如参考图5a及图5b所描述。测量信号预处理的结果是一个或一个以上参考信号。当确定变化率以及变化量时，可形成两个参考信号且其可用于进一步评估。举例来说，以此方式，可定义考虑到变化率以及变化量的检测准则。
分别连续地监视及评估测量信号预处理的结果。举例来说，当变化量沿正方向改变时，可检查变化是否超过上阈值UT。另外，可测试变化是否超过上极限值UL。当变化处于上阈值UT与上极限值UL之间的范围中时(检测准则1)，形成检测信号S2.2。以类似方式，沿负方向的量的变化以及速率的变化(变化率)也是如此。
随后将如此形成的检测信号S2.1及S2.2馈送到信号评估，所述信号评估经调适以形成信息信号S3。在信息信号S3的形成期间，可使用参考图6b所提及的信息准则。举例来说，信息信号S3可含有关于是否已执行单输入、双输入、三输入操作或多输入操作(举例来说，用手指的双击)的信息。
最后，可将用于进一步处理的信息信号S3馈送到电手持式装置(举例来说，手持式装置的微控制器)以激活指派给信息信号的装置功能。
实施根据本发明的评估方法的评估装置A可与至少一个发射电极SE及至少一个接收电极EE一起或与至少一个加载电极SE／EE一起提供于可用手握持且其中将考虑借助挤压、释放及／或手指的接近／移除进行的用户输入的每一电手持式装置中。
举例来说，实施所述评估方法的相应评估装置可与电极SE及EE一起或与至少一个加载电极SE／EE一起提供于移动无线电单元中、计算机鼠标中、远程控制件中或用于游戏控制台的输入装置中。
举例来说，实施评估方法的评估装置A可实施为ASIC。另外，还可在微控制器(举例来说，手机的微控制器)中实施评估方法，其中最终微控制器仅必须提供用于电极SE及EE或SE／EE的相应连接且必须经设计以使模拟传感器信号分别经受信号预处理且将其数字化。微控制器可为混合信号微控制器。为了提供可分别供应到发射电极SE及加载电极SE／EE的相应交变电信号，可使用在微控制器中可用的信号产生器。
可将不同装置功能指派给经检测输入。举例来说，指派给单输入的可为确认功能，指派给双输入的可为对手机的电话簿的检索。

Claims (22)

1.一种用于电容性接触传感器的评估方法，所述电容性接触传感器包括能够进行电容性耦合的至少一个发射电极(SE)及至少一个接收电极(EE)，其中在所述至少一个接收电极(EE)处分接测量信号(S1)，所述测量信号(S1)表示所述至少一个发射电极(SE)与所述至少一个接收电极(EE)之间的耦合电容的时间进程，从所述测量信号(S1)形成参考信号(SREF)，且当所述参考信号(SREF)满足至少一个检测准则时产生至少一个检测信号(S2)。
2.一种用于电容性接触传感器的评估方法，所述电容性接触传感器包括至少一个传感器电极(SE／EE)，其中在所述至少一个传感器电极(SE／EE)处分接测量信号(S1)，所述测量信号(S1)表示所述传感器电极(SE／EE)与参考接地之间的电容性负载的时间进程，从所述测量信号(S1)形成参考信号(SREF)，且当所述参考信号(SREF)满足至少一个检测准则时产生至少一个检测信号(S2)。
3.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法，其中对所述测量信号(S1)进行低通滤波，且其中在所述测量信号(S1)的所述低通滤波之后，形成所述测量信号(S1)与所述经低通滤波测量信号之间的差信号，其中所述差信号构成所述参考信号(SREF)。
4.根据权利要求1或2中任一权利要求所述的方法，其中所述参考信号(SREF)的产生包括对所述测量信号(S1)进行微分及对所述测量信号(S1)进行高通滤波中的一者。
5.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法，其中所述检测准则包括上阈值(UT)及／或下阈值(LT)。
6.根据权利要求5所述的方法，其中所述检测准则包括上极限值(UL)及／或下极限值(LL)，其中所述上极限值(UL)处于所述上阈值(UT)以上且所述下极限值(LL)处于所述下阈值(LT)以下。
7.根据权利要求5到6中任一权利要求所述的方法，其中当所述参考信号(SREF)处于所述下阈值(LT)以下时，形成第一检测信号(S2.1)。
8.根据权利要求5到7中任一权利要求所述的方法，其中当所述参考信号(SREF)处于所述上阈值(UT)以上时，形成第二检测信号(S2.2)。
9.根据权利要求6到8中任一权利要求所述的方法，其中当所述参考信号(SREF)处于所述下阈值(LT)以下且处于所述下极限值(LL)以上时，形成第一检测信号(S2.1)。
10.根据权利要求6到9中任一权利要求所述的方法，其中当所述参考信号(SREF)处于所述上阈值(UT)以上且处于所述上极限值(UL)以下时，形成第二检测信号(S2.2)。
11.根据权利要求7到10中任一权利要求所述的方法，其中所述第一检测信号(S2.1)及所述第二检测信号(S2.2)为数字信号，且其中当所述检测信号(S2.1、S2.2)满足至少一个信息准则时，形成信息信号(S3)。
12.根据权利要求11所述的方法，其中所述信息准则包括以下各项中的至少一者时间间隔
在所述第一检测信号(S2.1)的两个脉冲的上升沿之间，或
在所述第二检测信号(S2.2)的两个脉冲的上升沿之间，或
在所述第一检测信号(S2.1)的脉冲的所述上升沿与所述第二检测信号(S2.2)的脉冲的所述上升沿之间超过或下降到预定义值以下，
所述第一检测信号(S2.1)的脉冲或所述第二检测信号(S2.2)的脉冲的脉冲持续时间超过或下降到预定义值以下，
在预定义时间周期(△t1)内，所述第一检测信号(S2.1)或所述第二检测信号(S2.2)或所述第一检测信号(S2.1)及所述第二检测信号(S2.2)包括预定义数目个脉冲，及
所述第一检测信号(S2.1)及所述第二检测信号(S2.2)的脉冲序列包括特定模式。
13.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法，其中参考权利要求1，借助发射方法或借助吸收方法测量所述耦合电容，且参考权利要求2，借助加载方法测量所述电容性负载。
14.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法，其中当所述测量信号(S1)的信号电平处于预定义参考电平以下时，使用预定义第一取样率对所述测量信号(S1)进行取样，且其中当所述测量信号(S1)的所述信号电平处于所述预定义参考电平以上时，使用预定义第二取样率对所述测量信号(S1)进行取样。
15.根据权利要求14所述的方法，其中所述第一取样率低于所述第二取样率。
16.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法，其中当所述测量信号(S1)的所述信号电平处于预定义参考电平以下时，使用预定义第一放大率放大所述测量信号(S1)，且其中当所述测量信号(S1)的所述信号电平处于所述预定义参考电平以上时，使用预定义第二放大率放大所述测量信号(S1)，其中所述第二放大率经选择以使得所述测量信号(S1)始终在所述电容性接触传感器的操作范围中。
17.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法，其中在所述接收电极(EE)处或在所述传感器电极(SE／EE)处分接至少一个第二测量信号(S1b)，其中在形成所述参考信号(SREF)之前，将所述测量信号(S1)与所述至少一个第二测量信号(S1b)彼此组合，且其中从所述经组合测量信号形成所述参考信号(SREF)。
18.根据权利要求17所述的方法，其中使所述测量信号(S1；S1b)在组合之前经受信号预处理。
19.一种用于电容性接触传感器的评估装置，所述评估装置可与所述电容性接触传感器的至少一个发射电极(SE)及至少一个接收电极(EE)或至少一个传感器电极(SE／EE)耦合且经调适以执行根据前述权利要求中任一权利要求所述的评估方法。
20.一种电手持式装置，在所述电手持式装置处布置有与评估装置耦合的至少一个发射电极(SE)及至少一个接收电极(EE)或至少一个传感器电极(SE／EE)，其中所述评估装置经调适以执行根据权利要求1到18中任一权利要求所述的评估方法。
21.根据权利要求20所述的电手持式装置，其包括移动无线电单元、远程控制件、用于游戏控制台的输入构件、便携式小型计算机、智能电话、计算机鼠标及用于计算机的输入构件中的至少一者。
22.根据权利要求20或21所述的电手持式装置，其中所述电手持式装置是以可变形方式设计的，其中所述手持式装置的变形导致所述至少一个发射电极(SE)与所述至少一个接收电极(EE)之间的耦合电容的变化。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108141212A (zh) * 2015-10-07 2018-06-08 密克罗奇普技术公司 具有降低的噪声的电容测量装置
CN108391201A (zh) * 2018-02-12 2018-08-10 广东小天才科技有限公司 一种tws耳机的操作方法、装置、tws耳机和存储介质
CN114342260A (zh) * 2019-06-12 2022-04-12 凯普隆电子有限公司 具有光学传感器的电容式传感器开关

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102011078534B4 (de) 2011-07-01 2016-02-18 Ident Technology Ag Auswerteverfahren und Auswerteeinrichtung für einen kapazitiven Berührungssensor
DE102012012864A1 (de) * 2012-06-28 2014-01-02 Brose Fahrzeugteile Gmbh & Co. Kommanditgesellschaft, Hallstadt Kapazitiver Sensor für eine Kollisionsschutzvorrichtung
US10108292B2 (en) * 2015-04-22 2018-10-23 Microchip Technology Incorporated Capacitive sensor system with multiple transmit electrodes
DE102019209430A1 (de) * 2019-06-28 2020-12-31 Robert Bosch Gmbh Sensoreinrichtung mit kapazitivem Sensor
EP4386977A1 (en) * 2021-10-24 2024-06-19 Samsung Electronics Co., Ltd. Electronic device and method for identifying grip state of electronic device
DE102022111620A1 (de) 2022-05-10 2023-11-16 Schneider Electric Industries Sas Schaltsteuerungsvorrichtung, schaltvorrichtung, schaltsystem, leistungsschaltsteuerungsverfahren und leistungsschaltverfahren

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6445294B1 (en) * 1999-07-15 2002-09-03 Automotive Systems Laboratory, Inc. Proximity sensor
CN1989694A (zh) * 2004-10-19 2007-06-27 松下电器产业株式会社 触摸键及使用触摸键的感应加热调理器
CN101217273A (zh) * 2008-01-08 2008-07-09 哈尔滨工程大学 床用人体介质电容传感器
CN101368977A (zh) * 2007-08-13 2009-02-18 凌通科技股份有限公司 导体滑过电容式传感器的速度的测量方法
US20090224775A1 (en) * 2008-03-10 2009-09-10 Fujitsu Microelectronics Limited Capacitance sensor
CN101842985A (zh) * 2007-08-30 2010-09-22 微-埃普西龙测量技术有限两合公司 电容式自动换向装置及自动换向装置的操作方法
CN101849217A (zh) * 2008-04-25 2010-09-29 艾登特科技股份公司 用于邻近探测的电极系统和具有电极系统的手持装置

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4175239A (en) * 1978-04-12 1979-11-20 P. R. Mallory & Co. Inc. Detection means for touch control switches
ATA261389A (de) * 1989-11-15 1991-05-15 Setec Messgeraete Gmbh Einklemmschutz
US5844415A (en) * 1994-02-03 1998-12-01 Massachusetts Institute Of Technology Method for three-dimensional positions, orientation and mass distribution
US6859141B1 (en) * 1999-12-08 2005-02-22 Nortel Networks Limited Electric field proximity detector for floating and grounded targets
FR2809885B1 (fr) 2000-06-02 2003-01-17 Eaton Corp Dispositif de commutation fonctionnant par contact d'un corps humain
JP2005055723A (ja) * 2003-08-06 2005-03-03 Alps Electric Co Ltd カメラ
DE202005015210U1 (de) * 2005-01-25 2006-03-09 Sick Ag Kapazitiver Sensor zum Überwachen eines Gefahrenbereiches
DE202005010379U1 (de) * 2005-07-01 2005-09-29 Captron Electronic Gmbh Türgriff mit kapazitivem Sensor
DE102006051184A1 (de) * 2005-10-28 2007-05-03 Ident Technology Ag Verfahren und Schaltung zur Erfassung der Präsenz, Position und/oder Annäherung eines Objektes an wenigstens eine Elektrodeneinrichtung
JP2007150733A (ja) 2005-11-28 2007-06-14 Visteon Japan Ltd タッチセンサスイッチ装置
WO2007150058A2 (en) * 2006-06-23 2007-12-27 Marko Cencur Compact non-contact multi-function electrical switch
DE102006036567B4 (de) * 2006-08-04 2008-09-11 Continental Automotive Gmbh Verfahren zum Bestimmen eines Funktionszustandes eines Piezoinjektors einer Brennkraftmaschine
JP2008225648A (ja) * 2007-03-09 2008-09-25 Alps Electric Co Ltd 電源制御装置及びこれを備えた電子機器並びに電子機器の起動方法
JP4987680B2 (ja) * 2007-12-07 2012-07-25 三菱自動車工業株式会社 タッチセンサ装置及びタッチセンサ用のプログラム
DE102009016355B3 (de) * 2009-04-07 2010-07-08 Ident Technology Ag Messelektrodenanordnung zur verbesserten Näherungsdetektion
WO2010004867A1 (ja) 2008-07-08 2010-01-14 セイコーインスツル株式会社 静電検出装置、情報機器及び静電検出方法
US9236860B2 (en) * 2009-04-07 2016-01-12 Microchip Technology Germany Gmbh Sensor device and method for grip and proximity detection
DE102009057931B4 (de) * 2009-12-11 2015-07-09 Ident Technology Ag Schaltungsanordnung für ein kapazitives Sensorelement.
US8481873B2 (en) * 2009-09-30 2013-07-09 Freescale Semiconductor, Inc. Capacitive touch sensor device configuration systems and methods
DE102009057935B4 (de) 2009-12-11 2015-07-09 Ident Technology Ag Einrichtung und Verfahren zur Detektion eines Umgreifens eines Handgeräts durch eine Hand
DE102009057960B4 (de) * 2009-12-11 2014-02-20 Ident Technology Ag Sensoreinrichtung und Verfahren zur Detektion eines Umgreifens eines Handgerätes mit zumindest einer Hand
DE102009057933B3 (de) 2009-12-11 2011-02-24 Ident Technology Ag Sensoreinrichtung sowie Verfahren zur Annäherungs- und Berührungsdetektion
DE102009057934A1 (de) * 2009-12-11 2011-06-16 Ident Technology Ag Sensoreinrichtung und Verfahren zur Annäherungsdetektion
US8773146B1 (en) * 2010-04-16 2014-07-08 Cypress Semiconductor Corporation Waterproof scanning of a capacitive sense array
JP5563417B2 (ja) 2010-09-30 2014-07-30 株式会社ジャパンディスプレイ タッチパネル付き表示装置
DE102011078534B4 (de) 2011-07-01 2016-02-18 Ident Technology Ag Auswerteverfahren und Auswerteeinrichtung für einen kapazitiven Berührungssensor

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6445294B1 (en) * 1999-07-15 2002-09-03 Automotive Systems Laboratory, Inc. Proximity sensor
CN1989694A (zh) * 2004-10-19 2007-06-27 松下电器产业株式会社 触摸键及使用触摸键的感应加热调理器
CN101368977A (zh) * 2007-08-13 2009-02-18 凌通科技股份有限公司 导体滑过电容式传感器的速度的测量方法
CN101842985A (zh) * 2007-08-30 2010-09-22 微-埃普西龙测量技术有限两合公司 电容式自动换向装置及自动换向装置的操作方法
CN101217273A (zh) * 2008-01-08 2008-07-09 哈尔滨工程大学 床用人体介质电容传感器
US20090224775A1 (en) * 2008-03-10 2009-09-10 Fujitsu Microelectronics Limited Capacitance sensor
CN101849217A (zh) * 2008-04-25 2010-09-29 艾登特科技股份公司 用于邻近探测的电极系统和具有电极系统的手持装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108141212A (zh) * 2015-10-07 2018-06-08 密克罗奇普技术公司 具有降低的噪声的电容测量装置
CN108391201A (zh) * 2018-02-12 2018-08-10 广东小天才科技有限公司 一种tws耳机的操作方法、装置、tws耳机和存储介质
CN114342260A (zh) * 2019-06-12 2022-04-12 凯普隆电子有限公司 具有光学传感器的电容式传感器开关

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