TWI564619B - 顯示面板、光感測器與量測方法 - Google Patents

Description

顯示面板、光感測器與量測方法

本案是有關於一種顯示面板，且特別是有關於具有光感測器的顯示面板與其量測方法。

在生產顯示面板時，常需要人工的方式對齊顯示面板中各基板之間的元件，例如彩色濾光片與像素矩陣等等。若各基板之間的元件無法準確對齊，會使得顯示面板的效能降低。然而，人工的對齊方式十分消耗時間，會造成製造的效率明顯地下降。

本揭示內容之一態樣提供一種顯示面板。顯示面板包含第一基板、遮光模組、第二基板、光感測器與平行序列轉換器。遮光模組設置於第一基板上。第二基板對應於該第一基板設置。多個光感測器設置於第二基板上，並與遮光模組對應設置。多個光感測器用以根據多個光感測器與遮光模組之間的偏移量輸出多個第一感測信號。平行序列轉換器用以根據第一感測信號產生序列信號。多個光感測器中之第一光感測器包 含第一開關與第二開關，第一開關的第一端用以接收第一系統電壓，第一開關的第二端用以輸出多個第一感測信號中之一者，第一開關的控制端耦接至第一開關的第二端，第二開關的第一端耦接至第一開關的該第二端，第二開關的第二端用以接收第二系統電壓，第一系統電壓高於第二系統電壓，且第二開關的控制端耦接至第二開關的第二端。

本揭示內容之一態樣提供一種光感測器。光感測器包含第一薄膜電晶體與第二薄膜電晶體。第一薄膜電晶體的第一端用以接收高電壓，第一薄膜電晶體的第二端用以輸出感測信號，且第一薄膜電晶體的控制端耦接至第一薄膜電晶體的控制端。第二薄膜電晶體的第一端耦接至第一薄膜電晶體的第二端，第二薄膜電晶體的一第二端用以接收低電壓，且第二薄膜電晶體的控制端耦接至第二薄膜電晶體的第二端。

本揭示內容之一態樣提供一種量測方法。量測方法可用以量測顯示面板，其中量測方法包含下列步驟。經由多個光感測器根據多個光感測器與顯示面板中之多個黑色矩陣之間的偏移量輸出多個感測信號，其中光感測器中之一者包含第一開關與第二開關，第一開關的第一端用以接收第一系統電壓，第一開關的第二端用以輸出多個感測信號中之一者，第一開關的一制端耦接至第一開關的第二端，第二開關的第一端耦接至第一開關的該第二端，第二開關的第二端用以接收第二系統電壓，第一系統電壓高於第二系統電壓，且第二開關的控制端耦接至第二開關的第二端；以及經由平行序列轉換器根據多個感測信號輸出序列信號，以根據序列信號決定偏移量。

綜上所述，本揭示內容所示的顯示面板、光感測器與量測方法可藉由在面板中建立光學感測的機制，以量測顯示面板中的各元件的排列是否出現偏移，並可根據偏移情況自動地調整顯示面板的亮度。

100‧‧‧顯示面板

100A‧‧‧元件測試機

120、140‧‧‧基板

122‧‧‧區域

122A‧‧‧遮光模組

142‧‧‧顯示區

142A‧‧‧光感測器模組

142B、300‧‧‧平行序列轉換器

144‧‧‧外引腳接合區

VSR‧‧‧序列信號

200‧‧‧光感測器

VCC、VSS‧‧‧系統電壓

GND‧‧‧地

VS1、VS2‧‧‧感測信號

201‧‧‧透光層

T1、T2‧‧‧薄膜電晶體

I1、I2‧‧‧電流

VGS‧‧‧電壓差

M1、M2‧‧‧金屬層

IN‧‧‧絕緣層

SI‧‧‧非晶矽層

320‧‧‧反相器

340‧‧‧互斥或閘

360‧‧‧切換電路

380‧‧‧多工器電路

VO1‧‧‧切換信號

B1、B2、B3、B4‧‧‧匯流排

VP1、VP2、VP3、VP4‧‧‧定位信號

TR1‧‧‧初始觸發信號

0000~1101‧‧‧位置編碼

Q1、Q2、Q3、Q4‧‧‧控制開關

382‧‧‧移位暫存器

384‧‧‧反或閘

386‧‧‧或閘

CLK‧‧‧時脈信號

TR2‧‧‧觸發信號

VM1、VM2、VM3、VM4、VM5、VM6、VM7、VM8‧‧‧多工信號

400‧‧‧方法

S420、S440‧‧‧步驟

為讓本揭示內容之上述和其他目的、特徵、優點與實施例能更明顯易懂，所附圖式之說明如下：第1A圖為根據本揭示內容之一實施例所繪示的一種顯示面板的示意圖；第1B圖為根據本揭示內容之一實施例所繪示第1A圖中的基板的示意圖；第2A圖為根據本揭示內容之一實施例所繪示的一種光感測器的示意圖；第2B圖為根據本揭示內容之一實施例所繪示如第2A圖中的薄膜電晶體在照光與未照光的電流變化圖；第2C圖為根據本揭示內容之一實施例所繪示如第IA圖中顯示面板的部分剖面圖；第3A圖為根據本揭示內容的一實施例所繪示的一種平行序列轉換器的示意圖；第3B圖為根據本揭示內容的一實施例所繪示第3A圖中的切換電路的示意圖；第3C圖為根據本揭示內容的一實施例所繪示第3A圖中的多工器電路的示意圖； 第4圖為根據本揭示內容之一實施例所繪示的一種量測方法的流程圖；第5A圖為根據本揭示內容之一實施例繪示第1B圖中光感測器模組的感測信號狀態與第3A圖中平行序列轉換器的信號狀態的示意圖；第5B圖為根據本揭示內容之一實施例繪示第1B圖中光感測器模組的感測信號狀態與第3A圖中平行序列轉換器的信號狀態的示意圖；以及第5C圖為根據本揭示內容之一實施例繪示初始觸發信號與序列信號的波形圖。

下文係舉實施例配合所附圖式作詳細說明，但所提供之實施例並非用以限制本發明所涵蓋的範圍，而結構操作之描述非用以限制其執行之順序，任何由元件重新組合之結構，所產生具有均等功效的裝置，皆為本發明所涵蓋的範圍。此外，圖式僅以說明為目的，並未依照原尺寸作圖。為使便於理解，下述說明中相同元件將以相同之符號標示來說明。

關於本文中所使用之『第一』、『第二』、…等，並非特別指稱次序或順位的意思，亦非用以限定本發明，其僅僅是為了區別以相同技術用語描述的元件或操作而已。

另外，關於本文中所使用之『耦接』或『連接』，均可指二或多個元件相互直接作實體或電性接觸，或是相互間接作實體或電性接觸，亦可指二或多個元件相互操作或動作。

請參照第1A圖，第1A圖為根據本揭示內容之一實施例所繪示的一種顯示面板100的示意圖。如第1A圖所示，顯示面板100包含基板120與基板140。

於一些實施例中，基板120為彩色濾光片(color filter)基板，且基板140為薄膜電晶體(TFT)基板。於一些實施例中，基板120與基板140為玻璃基板。如第1A圖所示，基板120與基板140互相對應設置。如此一來，基板140中的多個TFT(未繪示)可控制穿透基板120的光亮，進而透過基板120中的彩色濾光片而顯示不同顏色。基板120包含多個遮光模組122A。基板140包含顯示區142與外引腳接合區(outer lead bonding,OLB)144。於一些實施例中，如第1A圖所示，多個遮光模組122A設置於基板120中對應於顯示區142的區域122內。於一些實施例中，遮光模組122A可由一個或多個並列的黑色矩陣實現。上述僅為例示，本揭示內容並不僅此為限。

顯示區142包含多個光感測器模組142A與平行序列轉換器142B。如先前所述，多個光感測器模組142A的位置相應於多個遮光模組122的位置。如第1A圖所示，多個光感測器模組142A配置於顯示區142的四個角落，以對應於多個遮光模組122A。多個光感測器模組142A可根據光感測器模組142A與遮光模組122A之間的偏移量而相應輸出不同的感測信號(如後第2A圖中的感測信號VS1)。於此例中，平行序列轉換器142B可分成四級串接的電路，其中每一級電路對應設置於一組光感測器模組142A旁。如此，平行序列轉換器142B的各級電路可同時接收對應的光感測器模組142A所輸出的感測 信號，並相應輸出序列信號VSR。於一些實施例中，外引腳接合區144用以電性連接至元件測試機100A或其他的外部測試設備(例如：一次性可編程(one time programmable,OTP)治具)，以根據序列信號VSR判斷光感測器模組142A與遮光模組122A之間的偏移量。

於一些實施例中，光感測器模組142A中包含多個並列的光感測器(例如後第3A圖中的光感測器200)，多個光感測器之間的間隔與遮光模組122A之間的間隔設置以具有一預定的偏移量(例如：約0.5微米)。如此一來，在量測時，部分的光感測器的右半部會被遮光模組122遮住而無法接收到光源，部份的光感測器的左半部會被遮光模組122遮住而無法接收到光源，且部分的光感測器會完全被遮光模組122遮住。因此，根據不同的遮光狀態，各個光感測器可相應產生不同的感測信號VS1，以計算光感測器模組142A與遮光模組122A之間的偏移量。平行序列轉換器142B可設置以平行處理多組光感測器模組142A所輸出的感測信號，而產生序列信號VSR，並藉此估算光感測器模組142A與遮光模組122A之間的偏移量。換句話說，藉由上述設置方式，可進一步地測試基板120的彩色濾光片與基板140的多個TFT之間的位置是否因製程變異產生偏移。如此一來，顯示面板100的開口率能夠被估算，以便後續調整顯示面板100的亮度。

前述第1A圖中的光感測器模組142A以及遮光模組122A的數量與設置方式僅為例示。各種數量與設置方式的光感測器模組142A以及遮光模組122A皆應涵蓋於本揭示內 容的範圍內。

請參照第1B圖，第1B圖為根據本揭示內容之一實施例所繪示第1A圖中的基板140的示意圖。舉例而言，如第1B圖所示，基板140包含光感測器模組O1與光感測器模組O2。光感測器模組O1設置於顯示區142的上側，光感測器模組O2設置於顯示區142的左側，且光感測器模組O1與光感測器模組O2旁各自設置有平行序列轉換器142B的一級電路。換句話說，於此例中，顯示區142在其垂直方向與水平方向上存在至少一組光感測器模組142A(亦即光感測器模組O1與O2)，且此兩組光感測器模組142A可共用同一平行序列轉換器142B，以同時判斷基板120與基板140兩者在垂直方向與水平方向上的偏移量。上述僅為例示，本領域具有通常知識者可視實際需求調整相關設置方式。

以下段落將提出各個實施例，來說明上述顯示面板100的功能與應用，但本揭示內容並不僅以下所列的實施例為限。

請參照第2A圖，第2A圖為根據本揭示內容之一實施例所繪示的一種光感測器的示意圖。於各個實施例中，前述的光感測器模組142A可包含一個或多個的光感測器200。於一些實施例中，光感測器模組142A中多個光感測器200為互相平行排列。

如第2A圖所示，光感測器200包含薄膜電晶體T1與薄膜電晶體T2。薄膜電晶體T1的第一端用以接收系統電壓VCC，薄膜電晶體T1的第二端用以輸出感測信號VS1，且薄 膜電晶體T1的控制端耦接至薄膜電晶體T1的第二端。薄膜電晶體T2的第一端耦接至薄膜電晶體T1的第二端，薄膜電晶體T2的第二端用以接收系統電壓VSS或耦接至地GND，且薄膜電晶體T2的控制端耦接至薄膜電晶體T2的第二端。系統電壓VCC高於系統電壓VSS。

如第2A圖所示，薄膜電晶體T1與薄膜電晶體T2兩者各自的控制端與第二端配置為互相耦接，故薄膜電晶體T1與薄膜電晶體T2兩者各自的控制端與第二端之間的電壓差為零。因此，薄膜電晶體T1與薄膜電晶體T2之間的電位會根據薄膜電晶體T1與薄膜電晶體T2是否被遮光模組122A遮住而定。

請參照第2B圖，第2B圖為根據本揭示內容之一實施例所繪示如第2A圖中的薄膜電晶體T1在照光與未照光的電流變化圖。

於一些實施例中，照光後的薄膜電晶體T1，其臨界電壓會降低，故使得薄膜電晶體T1的阻值等效地降低而成為通路。例如，如第2B圖所示，其中VGS表示為薄膜電晶體T1的控制端與第二端之間的電壓差，在薄膜電晶體T1的電壓差VGS為零且並未照到光時，薄膜電晶體T1的電流I1約為0.01奈米安培(nA)。當薄膜電晶體T1的電壓差VGS為零且並照到光時，其中光的強度約為20尼特(nit)，薄膜電晶體T1的電流I2約為0.1奈米安培(nA)。換句話說，薄膜電晶體T1照到光的電流約為未照到光的電流值的10倍。因此，當薄膜電晶體T1照到光時，薄膜電晶體T1的阻值會降低，而使得系統電壓 VCC傳送至薄膜電晶體T1的第二端。如此一來，光感測器200輸出具有較高電位的感測信號VS。或者，當薄膜電晶體T2照到光時，薄膜電晶體T2的阻值會降低，而使得系統電壓VSS傳送至薄膜電晶體T1的第二端。如此一來，光感測器200輸出具有較低電位的感測信號VS。因此，藉由此設置方式，可利用感測信號VS的電位判斷遮光模組122A與光感測器200的偏移方向。

請參照第2C圖，第2C圖為根據本揭示內容之一實施例所繪示如第1A圖中顯示面板100的部分剖面圖。

如第2C圖所示，光感測器200包含金屬層M1、金屬層M2、非晶矽層SI以及絕緣層IN。金屬層M1放置於基板140上，以分別形成前述薄膜電晶體T1與薄膜電晶體T2的控制端。金屬層M2用以形成前述薄膜電晶體T1與薄膜電晶體T2的第一端與第二端。絕緣層IN設置於金屬層M1與非晶矽層SI之間，金屬層M2則堆疊設置於絕緣層IN、金屬層M1與非晶矽層SI上。金屬層M2形成薄膜電晶體T1的第二端的部分接觸於金屬層M1，以使薄膜電晶體T1的控制端與第二端之間的電壓差為零。同樣地，金屬層M2形成薄膜電晶體T2的第二端的部分接觸於金屬層M1，以使薄膜電晶體T2的控制端與第二端之間的電壓差為零。於此例中，基板120與基板140之間更包含透明電極層201。外部光源可透過基板120與透光層201照射薄膜電晶體T1與薄膜電晶體T2。當遮光模組122A的位置較偏向薄膜電晶體T1時，薄膜電晶體T2的結構會照射到較多的光源。而當遮光模組122A的位置較偏向薄膜電晶體T2時，薄膜電晶 體T1的結構會照射到較多的光源。如此一來，光感測器200便可根據光感測器200與遮光模組122A之間的偏移方向而輸出高電位或低電位的感測信號VS1。

前述第2A圖與第2C圖中的光感測器200的設置方式與結構僅為例示。各種設置方式與結構的光感測器200皆應涵蓋於本揭示內容的範圍內。

請參照第3A圖，第3A圖為根據本揭示內容的一實施例所繪示的一種平行序列轉換器的示意圖。

於一些實施例中，多個光感測器200之間的間隔與多個遮光模組122A之間的間隔設置為不相同。例如，於此例中，多個光感測器200彼此平行設置，且多個光感測器200中任意兩者之間的間隔約為36微米(um)。多個遮光模組122A中任意兩者之間的間隔約為36.5微米(um)。換句話說，多個光感測器200中兩者的間隔與多個遮光模組122A中兩者的間隔設置以相差約0.5微米(um)。如先前所述，藉由此設置方式，部分的光感測器200中的薄膜電晶體T1會被遮光模組122A遮住，部分的光感測器200中的薄膜電晶體T2會被遮光模組122A遮住，且部分的光感測器200中的薄膜電晶體T1與薄膜電晶體T2會被遮光模組122A遮住。如此一來，多個感測器200將分別輸出具有不同電位的感測信號VS1，藉此表示多個感測器200與多個遮光模組122A的偏移量。

如第3A圖所示，平行序列轉換器300包含多個反相器320、多個互斥或閘340、多個切換電路360與多工器電路380。多個反相器320中的每一者對應耦接至光感測 器模組142A中的對應的光感測器200，以根據對應的感測信號VS1輸出感測信號VS2。多個互斥或閘340用以根據鄰近的兩個反相器320輸出的感測信號VS2產生多個切換信號VO1。多個切換電路360對應於多個互斥閘320設置。於此例中，多個切換電路360耦接四條匯流排B1~B4，以根據對應的位置編碼(亦即第3A圖中所標示的0000~1101)與對應的切換信號VO1產生多個定位信號VP1~VP4。多工器電路380用以經由此四個匯流排B1~B4接收多個定位信號VP1~VP4，以根據多個定位信號VP1~VP4與初始觸發信號TR1產生序列信號VSR。

上述第3A圖中的平行序列轉換器300的設置方式僅為例示，本揭示內容並不以此為限。於另一些實施例中，平行序列轉換器300可在未具有多個反相器320下產生序列信號VSR。例如，多個互斥或閘340可設置以直接接收鄰近的兩個光感測器200輸出的感測信號VS1，以根據此兩個感測信號VS1產生多個切換信號VO1。

請參照第3B圖，第3B圖為根據本揭示內容的一實施例所繪示第3A圖中的切換電路360的示意圖。為了清楚說明切換電路360的設置方式與相關操作，第3B圖僅示出單一的切換電路360，其他的切換電路360的操作與設置方式可依此類推，故不再重複贅述。

如先前第3A圖所示，每個切換電路360會依序設置對應的位置編碼，其中位置編碼由高電壓(例如：約15伏特)與低電壓(例如：約0伏特)所決定。舉例而言，於此例中，位置 編碼設置為”0110”，其中位置編碼中的位元”0”可經由低電壓設定，而位置編碼中的位元”1”可由高電壓設定。如第3B圖所示，切換電路360包含控制開關Q1、控制開關Q2、控制開關Q3與控制開關Q4。根據不同的位置編碼，控制開關Q1~Q4的第一端可設置以接收高電壓或低電壓。在此例中，控制開關Q1的第一端用以接收低電壓(亦即邏輯0)，控制開關Q1的第二端耦接至匯流排B1，以輸出定位信號VP1，且控制開關Q1的控制端用以接收切換信號VO1。控制開關Q2的第一端用以接收高電壓(亦即邏輯1)，控制開關Q2的第二端耦接至匯流排B2，以輸出定位信號VP2，且控制開關Q2的控制端用以接收切換信號VO1。控制開關Q3的第一端用以接收高電壓(亦即邏輯1)，控制開關Q3的第二端耦接至匯流排B3，以輸出定位信號VP3，且控制開關Q3的控制端用以接收切換信號VO1。控制開關Q4的第一端用以接收電壓(亦即邏輯0)，控制開關Q4的第二端耦接至匯流排B4，以輸出定位信號VP4，且控制開關Q4的控制端用以接收切換信號VO1。藉由對各個切換電路360預先設定對應的一組位置編碼，各個切換電路360中的多個控制開關Q1~Q4可根據對應的切換信號VO1選擇性地導通，而據此輸出不同的切換信號VP1~VP4。如此一來，藉由判斷切換信號VP1~VP4的數值，可確認基板120與基板140的偏移狀況。此處具體的詳細操作將在後面一併說明。

請參照第3C圖，第3C圖為根據本揭示內容的一實施例所繪示第3A圖中的多工器電路380的示意圖。如第3C 圖所示，多工器電路380包含移位暫存器382、多個反或閘384以及多個或閘386。

移位暫存器382用以根據初始觸發信號TR1與時脈信號CLK依序產生多個觸發信號TR2，其中多個觸發信號TR2彼此之間具有一預定的相位差。於一些實施例中，移位暫存器382可由多個負緣觸發的D型正反器與多個反相器組成8位元的移位暫存器電路。上述僅為示例，各種類型的移位暫存器電路皆可適用於移位暫存器382。

再者，多個反或閘384用以根據多個定位信號VP1~VP4中的對應者與對應的觸發信號TR2輸出多個多工信號VM1~VM8。例如，請一併參照第1B圖，前四級的反或閘384可依序接收根據光感測器模組O1輸出的感測信號VS1所產生的多個定位信號VP4~VP1，亦即根據反映水平方向上的偏差量的定位信號VP4~VP1。後四級的反或閘384可接收根據光感測器模組O2輸出的感測信號VS1所產生的多個定位信號VP4~VP1，亦即根據反映垂直方向上的偏差量的定位信號VP4~VP1。如此一來，光感測器模組142A與遮光模組122A在垂直方向與水平方向上的偏移量可以一併量測。多個或閘386用以根據多個多工信號VM1~VM8輸出序列信號VSR。

如第3C圖所示，各個或閘386所輸出的信號會傳送至下一級或閘386的輸入端。如此一來，最後一級的或閘386可根據所有的多工信號VM1~VM8輸出序列信號VSR。為了簡化說明，以下以第一級的或閘386A與第二級的或閘386B的結構為例說明。或閘386A的第一輸入端用以接收多工信號 VM1，且或閘386A的第二輸入端用以接收多工信號VM2。或閘386B的第一輸入端耦接至或閘386A的輸出端，且或閘386B的第二輸入端用以接收多工信號VM3。等效地，多工信號VM3可同時根據多工信號VM1、多工信號VM2與多工信號VM3決定。依此類推，序列信號VSR可根據多工信號VM1~VM8決定。

第4圖為根據本揭示內容之一實施例所繪示的一種量測方法400的流程圖。量測方法400可用以量測第1A圖中的顯示面板100。第5A圖為根據本揭示內容之一實施例繪示第1B圖中光感測器模組O1的感測信號狀態與第3A圖中平行序列轉換器300的信號狀態的示意圖。第5B圖為根據本揭示內容之一實施例繪示第1B圖中光感測器模組O2的感測信號狀態與第3A圖中平行序列轉換器300的信號狀態的示意圖。第5C圖為根據本揭示內容之一實施例繪示初始觸發信號與序列信號的波形圖。為了清楚說明，請一併參照第4圖、第5A圖、第5B圖與第5C圖，平行序列轉換器300之操作將與量測方法400一併說明。

於步驟S420中，基板140上的多個光感測器200根據基板140上的多個光感測器200與基板120上的多個遮光模組122A之間的偏移量輸出多個感測信號VS1。

於步驟S440中，平行序列轉換器300根據多個感測信號VS1輸出序列信號VSR，藉此根據序列信號VSR決定偏移量。

舉例而言，如第5A圖所示，光感測器模組O1用 以量測遮光模組122A與多個光感測器200之間在水平方向上的偏移量。於此例中，遮光模組122A在水平方向上偏移了約1.5微米。如第5A圖所示，多個光感測器200根據不同的遮光位置產生不同狀態的感測信號VS1。多個反相器320據此輸出多個不同的感測信號VS2，其信號值由左至右依序為”111100000000000”。因此，多個互斥或閘340相應輸出多個不同的切換信號VO1。於此例中，僅有對應位置編碼為”0011”的切換電路360會被啟動，而輸出多個定位信號VP1~VP4，其中多個定位信號VP1~VP4的信號值與位置編碼”0011”中的各位元依序相同。換句話說，定位信號VP1的信號值為”0”，定位信號VP2的信號值為”0”，定位信號VP3的信號值為”1”，且定位信號VP4的信號值為”1”。

同樣地，如第5B圖所示，光感測器模組O2用以量測遮光模組122A與多個光感測器200之間在垂直方向上的偏移量。於此例中，遮光模組122A在垂直方向上偏移了約2.5微米。此例中，僅有對應位置編碼為”0001”的切換電路360會被啟動，而輸出多個定位信號VP1~VP4，其中多個定位信號VP1~VP4的信號值與位置編碼”0001”中的各位元依序相同。換句話說，定位信號VP1的信號值為”0”，定位信號VP2的信號值為”0”，定位信號VP3的信號值為”0”，且定位信號VP4的信號值為”1”。

另外，當遮光模組122A與光感測器模組O1或光感測器模組O2之間沒有出現偏移時，透過上述的相同操作，切換電路360會輸出多個定位信號VP1~VP4，其中定位信號 VP1的信號值為”0”，定位信號VP2的信號值為”1”，定位信號VP3的信號值為”1”，且定位信號VP4的信號值為”0”。

如先前所述，光感測器模組O1與光感測器模組O2可共用同一平行序列轉換器142B。例如，如先前第3C圖所示，平行序列轉換器300中的多工器電路380可同時接收光感測器模組O1(對應於水平方向)與光感測器模組O2(對應於垂直方向)分別傳送的多個定位信號VP1~VP4，並據以輸出序列信號VSR。如第5C圖所示，多工器電路380分別根據前述的多個定位信號VP1~VP4，而輸出序列信號VSR。序列信號VSR中的各位元依序為”11101100”，其中序列信號VSR的前四位元”1110”與光感測器模組O2所輸出的多個定位信號VP1~VP4的信號值”0001”相反，而序列信號VSR的後四位元”1100”與光感測器模組O1所輸出的多個定位信號VP1~VP4的信號值”0011”相反。換句話說，序列信號VSR可反映出遮光模組122A與光感測器模組142A之間在垂直方向與水平方向上的偏移情況。

藉由上述方式，顯示面板100可傳送序列信號VSR至外部的元件測試機100A，且元件測試機100A可根據序列信號VSR計算而得知基板120與基板140之間在垂直方向與水平方向上的偏移量。舉例而言，如先前所述，各個光感測器200之間的間隔與各個遮光模組122A之間的間隔相差約0.5微米。元件測試機100A可將序列信號VSR中的各位元反相而得知對應方向上的定位信號VP1~VP4的狀態，在進一步將其轉換為十進位的值來計算偏移量。具體來說，當遮光模組122A 與光感測器模組O1或光感測器模組O2未出現偏移時，多個定位信號VP1~VP4的信號值分別為”0”、”1”、”1”、”0”。經由十進位轉換，元件測試機100A可記錄在未出現偏移時，序列信號VSR的前四位元或後四位元的十進位的值應對應於6(亦即”0110”的十進位轉換的對應值)。因此，於此例中，由於序列信號VSR的前四位元為”1110”，元件測試機100A可獲得對應的定位信號VP1~VP4的信號值為”0001”，並據此計算出相應的十進位值為1。進一步地，元件測試機100A可藉由下式(1)計算而得知遮光模組122A與光感測器模組O2之間的偏移量約為2.5微米：0.5×(6-1)=2.5 式(1)。

同樣地，於此例中，由於序列信號VSR的後四位元為”0011”，元件測試機100AA可獲得對應的定位信號VP1~VP4的信號值為”1100”，並據此計算出相應的十進位值為3。進一步地，元件測試機100A可藉由下式(1)計算而得知遮光模組122A與光感測器模組O1之間的偏移量約為1.5微米：0.5×(6-3)=1.5 式(2)。

換句話說，藉由上述計算，元件測試機100A可得知遮光模組122A與光感測器模組142A在垂直方向上偏移了約1.5微米，且遮光模組122A與光感測器模組142A在水平方向上偏移了約2.5微米。因此，元件測試機100A可根據上述資訊相應地估計顯示區142的開口率的變異量，而相應地調整顯示區142的亮度。如此一來，顯示面板100的穩定性與亮度表現得以改善。

上述操作僅以元件測試機100A為例說明，但本揭示內容並不以此為限。例如，上述操作亦可由整合於顯示面板100上的各種電路完成。

綜上所述，本揭示內容所示的顯示面板、光感測器與量測方法可藉由在面板中建立光學感測的機制，以量測顯示面板中的各元件的排列是否出現偏移，並可根據偏移情況自動地調整顯示面板的亮度。

雖然本揭示內容已以實施方式揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本揭示內容之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾，因此本揭示內容之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100‧‧‧顯示面板

100A‧‧‧元件測試機

120、140‧‧‧基板

122‧‧‧區域

122A‧‧‧遮光模組

142‧‧‧顯示區

142A‧‧‧光感測器模組

142B‧‧‧平行序列轉換器

144‧‧‧外引腳接合區

VSR‧‧‧序列信號

Claims (14)

1. 一種顯示面板，包含：一第一基板；一遮光模組，設置於該第一基板上；一第二基板，對應於該第一基板設置；複數個光感測器，設置於該第二基板上，並與該遮光模組對應設置，其中該些光感測器用以根據該些光感測器與該遮光模組之間的一偏移量輸出複數個第一感測信號；以及一平行序列轉換器，用以根據該些第一感測信號產生一序列信號，其中該些光感測器中之一第一光感測器包含一第一開關與一第二開關，該第一開關的一第一端用以接收一第一系統電壓，該第一開關的一第二端用以輸出該些第一感測信號中之一者，該第一開關的一控制端耦接至該第一開關的該第二端，該第二開關的一第一端耦接至該第一開關的該第二端，該第二開關的一第二端用以接收一第二系統電壓，該第一系統電壓高於該第二系統電壓，且該第二開關的一控制端耦接至該第二開關的該第二端。
2. 如申請專利範圍第1項所述之顯示面板，其中該平行序列轉換器包含：複數個互斥或閘，用以根據該些第一感測信號中之兩者產生複數個切換信號，其中該些第一感測信號中之該兩者為該些光感測器中之相鄰兩者所產生； 複數個切換電路，相應於該些互斥或閘設置，並用以根據對應的一位置編碼與該些切換信號中之一對應者產生複數個定位信號；以及一多工器電路，用以根據該些定位信號與一初始觸發信號產生該序列信號。
3. 如申請專利範圍第2項所述之顯示面板，其中該位置編碼設置以由一第一電壓與一第二電壓決定，且該些切換電路之一者包含：一第一控制開關，其中該第一控制開關的一第一端用以接收該第一電壓或該第二電壓，該第一控制開關的一第二端用以輸出該些定位信號中之一第一定位信號，且該第一控制開關的一控制端用以接收該些切換信號中之一第一切換信號；一第二控制開關，其中該第二控制開關的一第一端用以接收該第一電壓或該第二電壓，該第二控制開關的一第二端用以輸出該些定位信號中之一第二定位信號，且該第二控制開關的一控制端用以接收該第一切換信號；一第三控制開關，其中該第三控制開關的一第一端用以接收該第一電壓或該第二電壓，該第三控制開關的一第二端用以輸出該些定位信號中之一第三定位信號，且該第三控制開關的一控制端用以接收該第一切換信號；以及一第四控制開關，其中該第四控制開關的一第一端用以接收該第一電壓或該第二電壓，該第四控制開關的一第二端用以輸出該些定位信號中之一第四定位信號，且該第 四控制開關的一控制端用以接收該第一切換信號。
4. 如申請專利範圍第2項所述之顯示面板，其中該平行序列轉換器更包含：複數個反相器，對應於該些光感測器設置，並用以接收該些第一感測信號，以輸出複數個第二感測信號，其中該些互斥或閘更用以根據該些第二感測信號中之兩者產生該些切換信號。
5. 如申請專利範圍第2項所述之顯示面板，其中該多工器電路包含：複數個反或閘，用以根據該些定位信號之一對應者與複數個觸發信號中之一對應者輸出複數個多工信號；以及複數個或閘，用以根據該些多工信號輸出該序列信號。
6. 如申請專利範圍第5項所述之顯示面板，其中該些或閘包含：一第一或閘，其中該第一或閘的一第一輸入端用以接收該些多工信號中之一第一多工信號，該第一或閘的一第二輸入端用以接收該些多工信號中之一第二多工信號；以及一第二或閘，其中該第二或閘的一第一輸入端耦接至該第一或閘的一輸出端，該第二或閘的一第二輸入端用以接收該些多工信號中之一第三多工信號，且該第二或閘的一輸出端用以輸出該序列信號。
7. 如申請專利範圍第5項所述之顯示面板，其中該多工器電路更包含：一移位暫存器，用以根據該初始觸發信號以及一時脈信號依序產生該些觸發信號，其中該些觸發信號彼此之間具有一相位差。
8. 如申請專利範圍第1項所述之顯示面板，其中該第二基板更包含：一顯示區，其中該顯示區設置以經由一元件測試機根據該序列信號調整該顯示區的一亮度。
9. 一種光感測器，包含：一第一薄膜電晶體，用以感測一光線，其中該第一薄膜電晶體的一第一端用以接收一高電壓，該第一薄膜電晶體的一第二端用以輸出一感測信號，且該第一薄膜電晶體的一控制端耦接至該第一薄膜電晶體的該第二端以輸出一感測信號；以及一第二薄膜電晶體，用以感測該光線，其中該第二薄膜電晶體的一第一端耦接至該第一薄膜電晶體的該第二端，該第二薄膜電晶體的一第二端用以接收一低電壓，且該第二薄膜電晶體的一控制端耦接至該第二薄膜電晶體的該第二端以接收該低電壓。
10. 如申請專利範圍第9項所述之光感測器， 其中該第二薄膜電晶體的該第二端耦接至地。
11. 一種量測方法，用以量測一顯示面板，其中該量測方法包含：經由複數個光感測器根據該些光感測器與該顯示面板中之複數個黑色矩陣之間的一偏移量輸出複數個感測信號，其中該些光感測器中之一者包含一第一開關與一第二開關，該第一開關的一第一端用以接收一第一系統電壓，該第一開關的一第二端用以輸出該些感測信號中之一者，該第一開關的一控制端耦接至該第一開關的該第二端，該第二開關的一第一端耦接至該第一開關的該第二端，該第二開關的一第二端用以接收一第二系統電壓，該第一系統電壓高於該第二系統電壓，且該第二開關的一控制端耦接至該第二開關的該第二端；以及經由一平行序列轉換器根據該些感測信號輸出一序列信號，以根據該序列信號決定該偏移量。
12. 如申請專利範圍第11項所述之量測方法，其中輸出該序列信號的步驟包含：經由複數個互斥或閘根據該些感測信號中之兩者產生複數個切換信號，其中該些感測信號中之該兩者為該些光感測器中之相鄰兩者所產生；經由複數個切換電路根據對應的一位置編碼與該些切換信號中之一對應者產生複數個定位信號；以及 經由一多工器電路根據該些定位信號與複數個觸發信號產生該序列信號。
13. 如申請專利範圍第12項所述之量測方法，更包含：經由一第一電壓與一第二電壓依序指定該些切換電路對應的該位置編碼。
14. 如申請專利範圍第11項所述之量測方法，其中該顯示面板包含一顯示區，且該量測方法更包含：經由一元件測試機根據該序列信號調整該顯示區的一亮度。