CN105070237A - 显示面板、光传感器与量测方法 - Google Patents
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Abstract
显示面板包含第一基板、遮光模块、第二基板、多个光传感器与平行序列转换器。遮光模块设置于第一基板上。第二基板对应于第一基板设置。多个光传感器设置于第二基板上,并与遮光模块对应设置。多个光传感器用以根据多个光传感器与遮光模块之间的偏移量输出多个感测信号。多个光传感器的一者包含串叠的第一开关与第二开关。平行序列转换器用以根据多个感测信号产生序列信号。
Description
【技术领域】
本案是有关于一种显示面板,且特别是有关于具有光传感器的显示面板与其量测方法。
【背景技术】
在生产显示面板时,常需要人工的方式对齐显示面板中各基板之间的元件,例如彩色滤光片与像素矩阵等等。若各基板之间的元件无法准确对齐,会使得显示面板的效能降低。然而,人工的对齐方式十分消耗时间,会造成制造的效率明显地下降。
【发明内容】
本揭示内容的一态样提供一种显示面板。显示面板包含第一基板、遮光模块、第二基板、光传感器与平行序列转换器。遮光模块设置于第一基板上。第二基板对应于该第一基板设置。多个光传感器设置于第二基板上,并与遮光模块对应设置。多个光传感器用以根据多个光传感器与遮光模块之间的偏移量输出多个第一感测信号。平行序列转换器用以根据第一感测信号产生序列信号。多个光传感器中的第一光传感器包含第一开关与第二开关,第一开关的第一端用以接收第一系统电压,第一开关的第二端用以输出多个第一感测信号中之一者,第一开关的控制端耦接至第一开关的第二端,第二开关的第一端耦接至第一开关的该第二端,第二开关的第二端用以接收第二系统电压,第一系统电压高于第二系统电压,且第二开关的控制端耦接至第二开关的第二端。
本揭示内容的一态样提供一种光传感器。光传感器包含第一薄膜晶体管与第二薄膜晶体管。第一薄膜晶体管的第一端用以接收高电压,第一薄膜晶体管的第二端用以输出感测信号,且第一薄膜晶体管的控制端耦接至第一薄膜晶体管的控制端。第二薄膜晶体管的第一端耦接至第一薄膜晶体管的第二端,第二薄膜晶体管的一第二端用以接收低电压,且第二薄膜晶体管的控制端耦接至第二薄膜晶体管的第二端。
本揭示内容的一态样提供一种量测方法。量测方法可用以量测显示面板,其中量测方法包含下列步骤。经由多个光传感器根据多个光传感器与显示面板中的多个黑色矩阵之间的偏移量输出多个感测信号,其中光传感器中之一者包含第一开关与第二开关,第一开关的第一端用以接收第一系统电压,第一开关的第二端用以输出多个感测信号中的一者,第一开关的一制端耦接至第一开关的第二端,第二开关的第一端耦接至第一开关的该第二端,第二开关的第二端用以接收第二系统电压,第一系统电压高于第二系统电压,且第二开关的控制端耦接至第二开关的第二端;以及经由平行序列转换器根据多个感测信号输出序列信号,以根据序列信号决定偏移量。
综上所述,本揭示内容所示的显示面板、光传感器与量测方法可借由在面板中建立光学感测的机制,以量测显示面板中的各元件的排列是否出现偏移,并可根据偏移情况自动地调整显示面板的亮度。
【附图说明】
为让本揭示内容的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂,所附图式的说明如下:
图1A为根据本揭示内容的一实施例所绘示的一种显示面板的示意图;
图1B为根据本揭示内容的一实施例所绘示图1A中的基板的示意图;
图2A为根据本揭示内容的一实施例所绘示的一种光传感器的示意图;
图2B为根据本揭示内容的一实施例所绘示如图2A中的薄膜晶体管在照光与未照光的电流变化图;
图2C为根据本揭示内容的一实施例所绘示如图1A中显示面板的部分剖面图;
图3A为根据本揭示内容的一实施例所绘示的一种平行序列转换器的示意图;
图3B为根据本揭示内容的一实施例所绘示图3A中的切换电路的示意图;
图3C为根据本揭示内容的一实施例所绘示图3A中的多工器电路的示意图;
图4为根据本揭示内容的一实施例所绘示的一种量测方法的流程图;
图5A为根据本揭示内容的一实施例绘示图1B中光传感器模块的感测信号状态与图3A中平行序列转换器的信号状态的示意图;
图5B为根据本揭示内容的一实施例绘示图1B中光传感器模块的感测信号状态与图3A中平行序列转换器的信号状态的示意图;以及
图5C为根据本揭示内容的一实施例绘示初始触发信号与序列信号的波形图。
【符号说明】
100:显示面板
100A:元件测试机
120、140:基板
122:区域
122A:遮光模块
142:显示区
142A:光传感器模块
142B、300:平行序列转换器
144:外引脚接合区
VSR:序列信号
200:光传感器
VCC、VSS:系统电压
GND:地
VS1、VS2:感测信号
201:透光层
T1、T2:薄膜晶体管
I1、I2:电流
VGS:电压差
M1、M2:金属层
IN:绝缘层
SI:非晶硅层
320:反相器
340:互斥或闸
360:切换电路
380:多工器电路
VO1:切换信号
B1、B2、B3、B4:总线
VP1、VP2、VP3、VP4:定位信号
TR1:初始触发信号
0000~1101:位置编码
Q1、Q2、Q3、Q4:控制开关
382:移位寄存器
384:反或闸
386:或闸
CLK:时脉信号
TR2:触发信号
VM1、VM2、VM3、VM4、VM5、VM6、VM7、VM8:多工信号
400:方法
S420、S440:步骤
【具体实施方式】
下文是举实施例配合所附图式作详细说明,但所提供的实施例并非用以限制本发明所涵盖的范围,而结构操作的描述非用以限制其执行的顺序,任何由元件重新组合的结构,所产生具有均等功效的装置,皆为本发明所涵盖的范围。此外,图式仅以说明为目的,并未依照原尺寸作图。为使便于理解,下述说明中相同元件将以相同的符号标示来说明。
关于本文中所使用的『第一』、『第二』、…等,并非特别指称次序或顺位的意思,亦非用以限定本发明,其仅仅是为了区别以相同技术用语描述的元件或操作而已。
另外,关于本文中所使用的『耦接』或『连接』,均可指二或多个元件相互直接作实体或电性接触,或是相互间接作实体或电性接触,亦可指二或多个元件相互操作或动作。
请参照图1A,图1A为根据本揭示内容的一实施例所绘示的一种显示面板100的示意图。如图1A所示,显示面板100包含基板120与基板140。
于一些实施例中,基板120为彩色滤光片(colorfilter)基板,且基板140为薄膜晶体管(TFT)基板。于一些实施例中,基板120与基板140为玻璃基板。如图1A所示,基板120与基板140互相对应设置。如此一来,基板140中的多个TFT(未绘示)可控制穿透基板120的光亮,进而通过基板120中的彩色滤光片而显示不同颜色。基板120包含多个遮光模块122A。基板140包含显示区142与外引脚接合区(outerleadbonding,OLB)144。于一些实施例中,如图1A所示,多个遮光模块122A设置于基板120中对应于显示区142的区域122内。于一些实施例中,遮光模块122A可由一个或多个并列的黑色矩阵实现。上述仅为例示,本揭示内容并不仅此为限。
显示区142包含多个光传感器模块142A与平行序列转换器142B。如先前所述,多个光传感器模块142A的位置相应于多个遮光模块122的位置。如图1A所示,多个光传感器模块142A配置于显示区142的四个角落,以对应于多个遮光模块122。多个光传感器模块142A可根据光传感器模块142A与遮光模块122A之间的偏移量而相应输出不同的感测信号(如后图2A中的感测信号VS1)。于此例中,平行序列转换器142B可分成四级串接的电路,其中每一级电路对应设置于一组光传感器模块142A旁。如此,平行序列转换器142B的各级电路可同时接收对应的光传感器模块142A所输出的感测信号,并相应输出序列信号VSR。于一些实施例中,外引脚接合区144用以电性连接至元件测试机100A或其他的外部测试设备(例如:一次性可编程(onetimeprogrammable,OTP)治具),以根据序列信号VSR判断光传感器模块142A与遮光模块122A之间的偏移量。
于一些实施例中,光传感器模块142A中包含多个并列的光传感器(例如后图3A中的光传感器200),多个光传感器之间的间隔与遮光模块122A之间的间隔设置以具有一预定的偏移量(例如:约0.5微米)。如此一来,在量测时,部分的光传感器的右半部会被遮光模块122遮住而无法接收到光源,部分的光传感器的左半部会被遮光模块122遮住而无法接收到光源,且部分的光传感器会完全被遮光模块122遮住。因此,根据不同的遮光状态,各个光传感器可相应产生不同的感测信号VS1,以计算光传感器模块142A与遮光模块122A之间的偏移量。平行序列转换器142B可设置以平行处理多组光传感器模块142A所输出的感测信号,而产生序列信号VSR,并借此估算光传感器模块142A与遮光模块122A之间的偏移量。换句话说,借由上述设置方式,可进一步地测试基板120的彩色滤光片与基板140的多个TFT之间的位置是否因制程变异产生偏移。如此一来,显示面板100的开口率能够被估算,以便后续调整显示面板100的亮度。
前述图1A中的光传感器模块142A以及遮光模块122A的数量与设置方式仅为例示。各种数量与设置方式的光传感器模块142A以及遮光模块122A皆应涵盖于本揭示内容的范围内。
请参照图1B,图1B为根据本揭示内容的一实施例所绘示图1A中的基板140的示意图。举例而言,如图1B所示,基板140包含光传感器模块O1与光传感器模块O2。光传感器模块O1设置于显示区142的上侧,光传感器模块O2设置于显示区142的左侧,且光传感器模块O1与光传感器模块O2旁各自设置有平行序列转换器142B的一级电路。换句话说,于此例中,显示区142在其垂直方向与水平方向上存在至少一组光传感器模块142A(亦即光传感器模块O1与O2),且此两组光传感器模块142A可共用同一平行序列转换器142B,以同时判断基板120与基板140两者在垂直方向与水平方向上的偏移量。上述仅为例示,本领域具有通常知识者可视实际需求调整相关设置方式。
以下段落将提出各个实施例,来说明上述显示面板100的功能与应用,但本揭示内容并不仅以下所列的实施例为限。
请参照图2A,图2A为根据本揭示内容的一实施例所绘示的一种光传感器的示意图。于各个实施例中,前述的光传感器模块142A可包含一个或多个的光传感器200。于一些实施例中,光传感器模块142A中多个光传感器200为互相平行排列。
如图2A所示,光传感器200包含薄膜晶体管T1与薄膜晶体管T2。薄膜晶体管T1的第一端用以接收系统电压VCC,薄膜晶体管T1的第二端用以输出感测信号VS1,且薄膜晶体管T1的控制端耦接至薄膜晶体管T1的第二端。薄膜晶体管T2的第一端耦接至薄膜晶体管T1的第二端,薄膜晶体管T2的第二端用以接收系统电压VSS或耦接至地GND,且薄膜晶体管T2的控制端耦接至薄膜晶体管T2的第二端。系统电压VCC高于系统电压VSS。
如图2A所示,薄膜晶体管T1与薄膜晶体管T2两者各自的控制端与第二端配置为互相耦接,故薄膜晶体管T1与薄膜晶体管T2两者各自的控制端与第二端之间的电压差为零。因此,薄膜晶体管T1与薄膜晶体管T2之间的电位会根据薄膜晶体管T1与薄膜晶体管T2是否被遮光模块122A遮住而定。
请参照图2B,图2B为根据本揭示内容的一实施例所绘示如图2A中的薄膜晶体管T1在照光与未照光的电流变化图。
于一些实施例中,照光后的薄膜晶体管T1,其临界电压会降低,故使得薄膜晶体管T1的阻值等效地降低而成为通路。例如,如图2B所示,其中VGS表示为薄膜晶体管T1的控制端与第二端之间的电压差,在薄膜晶体管T1的电压差VGS为零且并未照到光时,薄膜晶体管T1的电流I1约为0.01纳米安培(nA)。当薄膜晶体管T1的电压差VGS为零且并照到光时,其中光的强度约为20尼特(nit),薄膜晶体管T1的电流I2约为0.1纳米安培(nA)。换句话说,薄膜晶体管T1照到光的电流约为未照到光的电流值的10倍。因此,当薄膜晶体管T1照到光时,薄膜晶体管T1的阻值会降低,而使得系统电压VCC传送至薄膜晶体管T1的第二端。如此一来,光传感器200输出具有较高电位的感测信号VS。或者,当薄膜晶体管T2照到光时,薄膜晶体管T2的阻值会降低,而使得系统电压VSS传送至薄膜晶体管T1的第二端。如此一来,光传感器200输出具有较低电位的感测信号VS。因此,借由此设置方式,可利用感测信号VS的电位判断遮光模块122A与光传感器200的偏移方向。
请参照图2C,图2C为根据本揭示内容的一实施例所绘示如图1A中显示面板100的部分剖面图。
如图2C所示,光传感器200包含金属层M1、金属层M2、非晶硅层SI以及绝缘层IN。金属层M1放置于基板140上,以分别形成前述薄膜晶体管T1与薄膜晶体管T2的控制端。金属层M2用以形成前述薄膜晶体管T1与薄膜晶体管T2的第一端与第二端。绝缘层IN设置于金属层M1与非晶硅层SI之间,金属层M2则堆叠设置于绝缘层IN、金属层M1与非晶硅层SI上。金属层M2形成薄膜晶体管T1的第二端的部分接触于金属层M1,以使薄膜晶体管T1的控制端与第二端之间的电压差为零。同样地,金属层M2形成薄膜晶体管T2的第二端的部分接触于金属层M1,以使薄膜晶体管T2的控制端与第二端之间的电压差为零。于此例中,基板120与基板140之间更包含透明电极层201。外部光源可通过基板120与透光层201照射薄膜晶体管T1与薄膜晶体管T2。当遮光模块122A的位置较偏向薄膜晶体管T1时,薄膜晶体管T2的结构会照射到较多的光源。而当遮光模块122A的位置较偏向薄膜晶体管T2时,薄膜晶体管T1的结构会照射到较多的光源。如此一来,光传感器200便可根据光传感器200与遮光模块122A之间的偏移方向而输出高电位或低电位的感测信号VS1。
前述图2A与图2C中的光传感器200的设置方式与结构仅为例示。各种设置方式与结构的光传感器200皆应涵盖于本揭示内容的范围内。
请参照图3A,图3A为根据本揭示内容的一实施例所绘示的一种平行序列转换器的示意图。
于一些实施例中,多个光传感器200之间的间隔与多个遮光模块122A之间的间隔设置为不相同。例如,于此例中,多个光传感器200彼此平行设置,且多个光传感器200中任意两者之间的间隔约为36微米(um)。多个遮光模块122A中任意两者之间的间隔约为36.5微米(um)。换句话说,多个光传感器200中两者的间隔与多个遮光模块122A中两者的间隔设置以相差约0.5微米(um)。如先前所述,借由此设置方式,部分的光传感器200中的薄膜晶体管T1会被遮光模块122A遮住,部分的光传感器200中的薄膜晶体管T2会被遮光模块122A遮住,且部分的光传感器200中的薄膜晶体管T1与薄膜晶体管T2会被遮光模块122A遮住。如此一来,多个传感器200将分别输出具有不同电位的感测信号VS1,借此表示多个传感器200与多个遮光模块122A的偏移量。
如图3A所示,平行序列转换器300包含多个反相器320、多个互斥或闸340、多个切换电路360与多工器电路380。多个反相器320中的每一者对应耦接至光传感器模块142A中的对应的光传感器200,以根据对应的感测信号VS1输出感测信号VS2。多个互斥或闸340用以根据邻近的两个反相器320输出的感测信号VS2产生多个切换信号VO1。多个切换电路360对应于多个互斥闸320设置。于此例中,多个切换电路360耦接四条总线B1~B4,以根据对应的位置编码(亦即图3A中所标示的0000~1101)与对应的切换信号VO1产生多个定位信号VP1~VP4。多工器电路380用以经由此四个总线B1~B4接收多个定位信号VP1~VP4,以根据多个定位信号VP1~VP4与初始触发信号TR1产生序列信号VSR。
上述图3A中的平行序列转换器300的设置方式仅为例示,本揭示内容并不以此为限。于另一些实施例中,平行序列转换器300可在未具有多个反相器320下产生序列信号VSR。例如,多个互斥或闸340可设置以直接接收邻近的两个光传感器200输出的感测信号VS1,以根据此两个感测信号VS1产生多个切换信号VO1。
请参照图3B,图3B为根据本揭示内容的一实施例所绘示图3A中的切换电路360的示意图。为了清楚说明切换电路360的设置方式与相关操作,图3B仅示出单一的切换电路360,其他的切换电路360的操作与设置方式可依此类推,故不再重复赘述。
如先前图3A所示,每个切换电路360会依序设置对应的位置编码,其中位置编码由高电压(例如:约15伏特)与低电压(例如:约0伏特)所决定。举例而言,于此例中,位置编码设置为”0110”,其特征在于,位置编码中的比特”0”可经由低电压设定,而位置编码中的比特”1”可由高电压设定。如图3B所示,切换电路360包含控制开关Q1、控制开关Q2、控制开关Q3与控制开关Q4。根据不同的位置编码,控制开关Q1~Q4的第一端可设置以接收高电压或低电压。在此例中,控制开关Q1的第一端用以接收低电压(亦即逻辑0),控制开关Q1的第二端耦接至总线B1,以输出定位信号VP1,且控制开关Q1的控制端用以接收切换信号VO1。控制开关Q2的第一端用以接收高电压(亦即逻辑1),控制开关Q2的第二端耦接至总线B2,以输出定位信号VP2,且控制开关Q2的控制端用以接收切换信号VO1。控制开关Q3的第一端用以接收高电压(亦即逻辑1),控制开关Q3的第二端耦接至总线B3,以输出定位信号VP3,且控制开关Q3的控制端用以接收切换信号VO1。控制开关Q4的第一端用以接收电压(亦即逻辑0),控制开关Q4的第二端耦接至总线B4,以输出定位信号VP4,且控制开关Q4的控制端用以接收切换信号VO1。借由对各个切换电路360预先设定对应的一组位置编码,各个切换电路360中的多个控制开关Q1~Q4可根据对应的切换信号VO1选择性地导通,而据此输出不同的切换信号VP1~VP4。如此一来,借由判断切换信号VP1~VP4的数值,可确认基板120与基板140的偏移状况。此处具体的详细操作将在后面一并说明。
请参照图3C,图3C为根据本揭示内容的一实施例所绘示图3A中的多工器电路380的示意图。如图3C所示,多工器电路380包含移位寄存器382、多个反或闸384以及多个或闸386。
移位寄存器382用以根据初始触发信号TR1与时脉信号CLK依序产生多个触发信号TR2,其中多个触发信号TR2彼此之间具有一预定的相位差。于一些实施例中,移位寄存器382可由多个负缘触发的D型触发器与多个反相器组成8比特的移位寄存器电路。上述仅为示例,各种类型的移位寄存器电路皆可适用于移位寄存器382。
再者,多个反或闸384用以根据多个定位信号VP1~VP4中的对应者与对应的触发信号TR2输出多个多工信号VM1~VM8。例如,请一并参照图1B,前四级的反或闸384可依序接收根据光传感器模块O1输出的感测信号VS1所产生的多个定位信号VP4~VP1,亦即根据反映水平方向上的偏差量的定位信号VP4~VP1。后四级的反或闸384可接收根据光传感器模块O2输出的感测信号VS1所产生的多个定位信号VP4~VP1,亦即根据反映垂直方向上的偏差量的定位信号VP4~VP1。如此一来,光传感器模块142A与遮光模块122A在垂直方向与水平方向上的偏移量可以一并量测。多个或闸386用以根据多个多工信号VM1~VM8输出序列信号VSR。
如图3C所示,各个或闸386所输出的信号会传送至下一级或闸386的输入端。如此一来,最后一级的或闸386可根据所有的多工信号VM1~VM8输出序列信号VSR。为了简化说明,以下以第一级的或闸386A与第二级的或闸386B的结构为例说明。或闸386A的第一输入端用以接收多工信号VM1,且或闸386A的第二输入端用以接收多工信号VM2。或闸386B的第一输入端耦接至或闸386A的输出端,且或闸386B的第二输入端用以接收多工信号VM3。等效地,多工信号VM3可同时根据多工信号VM1、多工信号VM2与多工信号VM3决定。依此类推,序列信号VSR可根据多工信号VM1~VM8决定。
图4为根据本揭示内容的一实施例所绘示的一种量测方法400的流程图。量测方法400可用以量测图1A中的显示面板100。图5A为根据本揭示内容的一实施例绘示图1B中光传感器模块O1的感测信号状态与图3A中平行序列转换器300的信号状态的示意图。图5B为根据本揭示内容的一实施例绘示图1B中光传感器模块O2的感测信号状态与图3A中平行序列转换器300的信号状态的示意图。图5C为根据本揭示内容的一实施例绘示初始触发信号与序列信号的波形图。为了清楚说明,请一并参照图4、图5A、图5B与图5C,平行序列转换器300的操作将与量测方法400一并说明。
于步骤S420中,基板140上的多个光传感器200根据基板140上的多个光传感器200与基板120上的多个遮光模块122A之间的偏移量输出多个感测信号VS1。
于步骤S440中,平行序列转换器300根据多个感测信号VS1输出序列信号VSR,借此根据序列信号VSR决定偏移量。
举例而言,如图5A所示,光传感器模块O1用以量测遮光模块122A与多个光传感器200之间在水平方向上的偏移量。于此例中,遮光模块122A在水平方向上偏移了约1.5微米。如图5A所示,多个光传感器200根据不同的遮光位置产生不同状态的感测信号VS1。多个反相器320据此输出多个不同的感测信号VS2,其信号值由左至右依序为”111100000000000”。因此,多个互斥或闸340相应输出多个不同的切换信号VO1。于此例中,仅有对应位置编码为”0011”的切换电路360会被启动,而输出多个定位信号VP1~VP4,其中多个定位信号VP1~VP4的信号值与位置编码”0011”中的各比特依序相同。换句话说,定位信号VP1的信号值为”0”,定位信号VP2的信号值为”0”,定位信号VP3的信号值为”1”,且定位信号VP4的信号值为”1”。
同样地,如图5B所示,光传感器模块O2用以量测遮光模块122A与多个光传感器200之间在垂直方向上的偏移量。于此例中,遮光模块122A在垂直方向上偏移了约2.5微米。此例中,仅有对应位置编码为”0001”的切换电路360会被启动,而输出多个定位信号VP1~VP4,其中多个定位信号VP1~VP4的信号值与位置编码”0001”中的各比特依序相同。换句话说,定位信号VP1的信号值为”0”,定位信号VP2的信号值为”0”,定位信号VP3的信号值为”0”,且定位信号VP4的信号值为”1”。
另外,当遮光模块122A与光传感器模块O1或光传感器模块O2之间没有出现偏移时,通过上述的相同操作,切换电路360会输出多个定位信号VP1~VP4,其中定位信号VP1的信号值为”0”,定位信号VP2的信号值为”1”,定位信号VP3的信号值为”1”,且定位信号VP4的信号值为”0”。
如先前所述,光传感器模块O1与光传感器模块O2可共用同一平行序列转换器142B。例如,如先前图3C所示,平行序列转换器300中的多工器电路380可同时接收光传感器模块O1(对应于水平方向)与光传感器模块O2(对应于垂直方向)分别传送的多个定位信号VP1~VP4,并据以输出序列信号VSR。如图5C所示,多工器电路380分别根据前述的多个定位信号VP1~VP4,而输出序列信号VSR。序列信号VSR中的各比特依序为”11101100”,其中序列信号VSR的前四比特”1110”与光传感器模块O2所输出的多个定位信号VP1~VP4的信号值”0001”相反,而序列信号VSR的后四比特”1100”与光传感器模块O1所输出的多个定位信号VP1~VP4的信号值”0011”相反。换句话说,序列信号VSR可反映出遮光模块122A与光传感器模块142A之间在垂直方向与水平方向上的偏移情况。
借由上述方式,显示面板100可传送序列信号VSR至外部的元件测试机100A,且元件测试机100A可根据序列信号VSR计算而得知基板120与基板140之间在垂直方向与水平方向上的偏移量。举例而言,如先前所述,各个光传感器200之间的间隔与各个遮光模块122A之间的间隔相差约0.5微米。元件测试机100A可将序列信号VSR中的各比特反相而得知对应方向上的定位信号VP1~VP4的状态,在进一步将其转换为十进位的值来计算偏移量。具体来说,当遮光模块122A与光传感器模块O1或光传感器模块O2未出现偏移时,多个定位信号VP1~VP4的信号值分别为”0”、”1”、”1”、”0”。经由十进位转换,元件测试机100A可记录在未出现偏移时,序列信号VSR的前四比特或后四比特的十进位的值应对应于6(亦即”0110”的十进位转换的对应值)。因此,于此例中,由于序列信号VSR的前四比特为”1110”,元件测试机100A可获得对应的定位信号VP1~VP4的信号值为”0001”,并据此计算出相应的十进位值为1。进一步地,元件测试机100A可借由下式(1)计算而得知遮光模块122A与光传感器模块O2之间的偏移量约为2.5微米:
0.5×(6-1)=2.5式(1)。
同样地,于此例中,由于序列信号VSR的后四比特为”0011”,元件测试机100AA可获得对应的定位信号VP1~VP4的信号值为”1100”,并据此计算出相应的十进位值为3。进一步地,元件测试机100A可借由下式(1)计算而得知遮光模块122A与光传感器模块O1之间的偏移量约为1.5微米:
0.5×(6-3)=1.5式(2)。
换句话说,借由上述计算,元件测试机100A可得知遮光模块122A与光传感器模块142A在垂直方向上偏移了约1.5微米,且遮光模块122A与光传感器模块142A在水平方向上偏移了约2.5微米。因此,元件测试机100A可根据上述信息相应地估计显示区142的开口率的变异量,而相应地调整显示区142的亮度。如此一来,显示面板100的稳定性与亮度表现得以改善。
上述操作仅以元件测试机100A为例说明,但本揭示内容并不以此为限。例如,上述操作亦可由整合于显示面板100上的各种电路完成。
综上所述,本揭示内容所示的显示面板、光传感器与量测方法可借由在面板中建立光学感测的机制,以量测显示面板中的各元件的排列是否出现偏移,并可根据偏移情况自动地调整显示面板的亮度。
虽然本揭示内容已以实施方式揭露如上,然其并非用以限定本发明,任何熟习此技艺者,在不脱离本揭示内容的精神和范围内,当可作各种的更动与润饰,因此本揭示内容的保护范围当视后附的申请专利范围所界定者为准。
Claims (14)
1.一种显示面板,其特征在于,包含:
一第一基板;
一遮光模块,设置于该第一基板上;
一第二基板,对应于该第一基板设置;
多个光传感器,设置于该第二基板上,并与该遮光模块对应设置,其中该多个光传感器用以根据该多个光传感器与该遮光模块之间的一偏移量输出多个第一感测信号;以及
一平行序列转换器,用以根据该多个第一感测信号产生一序列信号,
其中该多个光传感器中的一第一光传感器包含一第一开关与一第二开关,该第一开关的一第一端用以接收一第一系统电压,该第一开关的一第二端用以输出该多个第一感测信号中之一者,该第一开关的一控制端耦接至该第一开关的该第二端,该第二开关的一第一端耦接至该第一开关的该第二端,该第二开关的一第二端用以接收一第二系统电压,该第一系统电压高于该第二系统电压,且该第二开关的一控制端耦接至该第二开关的该第二端。
2.如权利要求1所述的显示面板,其特征在于,该平行序列转换器包含:
多个互斥或闸,用以根据该多个第一感测信号中的两者产生多个切换信号,其中该多个第一感测信号中的该两者为该多个光传感器中的相邻两者所产生;
多个切换电路,相应于该多个互斥或闸设置,并用以根据对应的一位置编码与该多个切换信号中的一对应者产生多个定位信号;以及
一多工器电路,用以根据该多个定位信号与一初始触发信号产生该序列信号。
3.如权利要求2所述的显示面板,其特征在于,该位置编码设置以由一第一电压与一第二电压决定,且该多个切换电路的一者包含:
一第一控制开关,其中该第一控制开关的一第一端用以接收该第一电压或该第二电压,该第一控制开关的一第二端用以输出该多个定位信号中的一第一定位信号,且该第一控制开关的一控制端用以接收该多个切换信号中的一第一切换信号;
一第二控制开关,其中该第二控制开关的一第一端用以接收该第一电压或该第二电压,该第二控制开关的一第二端用以输出该多个定位信号中的一第二定位信号,且该第二控制开关的一控制端用以接收该第一切换信号;
一第三控制开关,其中该第三控制开关的一第一端用以接收该第一电压或该第二电压,该第三控制开关的一第二端用以输出该多个定位信号中的一第三定位信号,且该第三控制开关的一控制端用以接收该第一切换信号;以及
一第四控制开关,其中该第四控制开关的一第一端用以接收该第一电压或该第二电压,该第四控制开关的一第二端用以输出该多个定位信号中的一第四定位信号,且该第四控制开关的一控制端用以接收该第一切换信号。
4.如权利要求2所述的显示面板,其特征在于,该平行序列转换器更包含:
多个反相器,对应于该多个光传感器设置,并用以接收该多个第一感测信号,以输出多个第二感测信号,
其中该多个互斥或闸更用以根据该多个第二感测信号中的两者产生该多个切换信号。
5.如权利要求2所述的显示面板,其特征在于,该多工器电路包含:
多个反或闸,用以根据该多个定位信号的一对应者与多个触发信号中之一对应者输出多个多工信号;以及
多个或闸,用以根据该多个多工信号输出该序列信号。
6.如权利要求5所述的显示面板,其特征在于,该多个或闸包含:
一第一或闸,其中该第一或闸的一第一输入端用以接收该多个多工信号中的一第一多工信号,该第一或闸的一第二输入端用以接收该多个多工信号中的一第二多工信号;以及
一第二或闸,其中该第二或闸的一第一输入端耦接至该第一或闸的一输出端,该第二或闸的一第二输入端用以接收该多个多工信号中的一第三多工信号,且该第二或闸的一输出端用以输出该序列信号。
7.如权利要求5所述的显示面板,其特征在于,该多工器电路更包含:
一移位寄存器,用以根据该初始触发信号以及一时脉信号依序产生该多个触发信号,其中该多个触发信号彼此之间具有一相位差。
8.如权利要求1所述的显示面板,其特征在于,该第二基板更包含:
一显示区,其中该显示区设置以经由一元件测试机根据该序列信号调整该显示区的一亮度。
9.一种光传感器,其特征在于,包含:
一第一薄膜晶体管,其中该第一薄膜晶体管的一第一端用以接收一高电压,该第一薄膜晶体管的一第二端用以输出一感测信号,且该第一薄膜晶体管的一控制端耦接至该第一薄膜晶体管的一控制端;以及
一第二薄膜晶体管,其中该第二薄膜晶体管的一第一端耦接至该第一薄膜晶体管的该第二端,该第二薄膜晶体管的一第二端用以接收一低电压,且该第二薄膜晶体管的一控制端耦接至该第二薄膜晶体管的一第二端。
10.如权利要求9所述的光传感器,其特征在于,该第二薄膜晶体管的该第二端耦接至地。
11.一种量测方法,用以量测一显示面板,其特征在于,该量测方法包含:
经由多个光传感器根据该多个光传感器与该显示面板中的多个黑色矩阵之间的一偏移量输出多个感测信号,
其中该多个光传感器中的一者包含一第一开关与一第二开关,该第一开关的一第一端用以接收一第一系统电压,该第一开关的一第二端用以输出该多个感测信号中的一者,该第一开关的一控制端耦接至该第一开关的该第二端,该第二开关的一第一端耦接至该第一开关的该第二端,该第二开关的一第二端用以接收一第二系统电压,该第一系统电压高于该第二系统电压,且该第二开关的一控制端耦接至该第二开关的该第一端;以及
经由一平行序列转换器根据该多个感测信号输出一序列信号,以根据该序列信号决定该偏移量。
12.如权利要求11所述的量测方法,其特征在于,输出该序列信号的步骤包含:
经由多个互斥或闸根据该多个感测信号中的两者产生多个切换信号,其中该多个感测信号中的该两者为该多个光传感器中的相邻两者所产生;
经由多个切换电路根据对应的一位置编码与该多个切换信号中的一对应者产生多个定位信号;以及
经由一多工器电路根据该多个定位信号与多个触发信号产生该序列信号。
13.如权利要求12所述的量测方法,其特征在于,更包含:
经由一第一电压与一第二电压依序指定该多个切换电路对应的该位置编码。
14.如权利要求11所述的量测方法,其特征在于,该显示面板包含一显示区,且该量测方法更包含:
经由一元件测试机根据该根据该序列信号调整该显示区的一亮度。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |