TWI552450B - 電連接器 - Google Patents

Description

電連接器

本發明係關於一種電連接器。

電連接器可設置開關，以偵測電子卡或托盤插入與否。

申請號CN201320273241.4號中國專利案(台灣第M469657號相應案)公開一種電連接器，其包含一開關單元。開關單元包括絕緣座、偵測端子及導電片。偵測端子固定於絕緣座，並具有彈臂。彈臂的末端延伸入電連接器的插卡區內。絕緣套包覆彈臂的末端。

上述偵測端子與導電片是位在插卡區的側旁，除了需要占用側向空間外，偵測端子是橫向地往插卡區延伸，以使其彈臂的末端可位在插卡區內，讓托盤可推動檢測端子朝側向移動。偵測端子是橫向地移動，以接觸或脫離導電片，因此偵測端子會佔用整個電連接器較大的側向空間。此外，由於偵測端子是橫向地移動，因此上述的導電片必須是從遮蔽殼體切割並朝內彎折，才能與偵測端子配合，故其製造較為複雜。另偵測端子直接側向接觸托盤，會施力在托盤，易造成空托盤變形或使托盤側移。

根據上述問題，本發明對應地提出新的不同電連接器。

本發明一實施例之電連接器包含一托盤、一端子座、一上蓋及一檢測開關。托盤包含一推動塊。上蓋配合端子座構成一用以插置托盤且於前後方向延伸的插置空間。檢測開關包含一檢測端子。檢測端子設置在插置空間左右方向上之一側邊。檢測端子不伸入插置空間內。檢測端子包含一尾部、朝前延伸的彈性臂和設置在彈性臂前末端之一絕緣受推塊。彈性臂包含一接觸部。托盤之推動塊用於推動檢測端子之受推塊，使檢測 端子之彈性臂與接觸部於上下方向彈性位移，藉此改變檢測開關之偵測狀態。

在一些實施例中，檢測端子之受推塊包含一朝前和朝上方向的斜向受推面。托盤的推動塊包含一朝後和朝下方向的斜向推動面。當推動塊推動受推塊時，推動面接觸受推面。

在一些實施例中，檢測開關包含一導電件，其中當托盤之推動塊推開檢測端子之受推塊後，檢測端子之接觸部接觸導電件或自導電件分離。

在一些實施例中，上蓋包含一金屬上蓋。導電件構成金屬上蓋之一底面區域。

在一些實施例中，檢測端子包含一位於尾部與彈性臂之間之固定部，以及包含設置在固定部上之一絕緣固定塊。

在一些實施例中，絕緣固定塊包含一插孔，上蓋包含一插片，其中插片插入插孔。

在一些實施例中，檢測端子之固定部包含一開孔，開孔對應絕緣固定塊之插孔設置，上蓋之插片包含干涉塊，干涉塊與絕緣固定塊干涉配合。

在一些實施例中，托盤包含一框部，框部包含一前框條，前框條包含一側向延伸條，側向延伸條於檢測端子之前方延伸，其中推動塊設置在側向延伸條的後面。

在一些實施例中，端子座包含界定插置空間之兩彈性樑，其中檢測端子位在兩彈性樑之一之外旁處。

在一些實施例中，端子座包含界定插置空間之兩彈性樑，上蓋包含兩外側壁，其中檢測端子位兩彈性樑之一與兩外側壁之一之間。

在至少本發明一些實施例中，電連接器之檢測開關之檢測端子在插置空間的側邊朝前延伸，且偵測端子在電連接器之厚度方向(上下方向)彈性位移，以改變偵測狀態。此檢測端子之延伸與其彈性位移方式，使檢測端子使用較少的安裝空間。

1‧‧‧電連接器

2‧‧‧電子卡

3‧‧‧電路板

10‧‧‧托盤

11‧‧‧插置空間

12‧‧‧端子座

13‧‧‧上蓋

14‧‧‧檢測開關

100‧‧‧前後方向

101‧‧‧推動塊

102‧‧‧後緣

103‧‧‧框部

104‧‧‧卡扣凹部

121‧‧‧絕緣座體

122‧‧‧導電端子

123‧‧‧金屬框架

124‧‧‧卡扣塊

131‧‧‧插片

132、133‧‧‧側壁

134‧‧‧扣孔

135‧‧‧底面區域

141‧‧‧檢測端子

142‧‧‧導電件

200‧‧‧左右方向

300‧‧‧上下方向

400‧‧‧開口

1011‧‧‧推動面

1031‧‧‧前框條

1032‧‧‧側向延伸條

1033‧‧‧內緣部分

1221‧‧‧尾部

1222‧‧‧彈性臂

1223‧‧‧接觸部

1224‧‧‧前導引件

1225‧‧‧後導引件

1231‧‧‧彈性樑

1232‧‧‧扣鉤

1311‧‧‧干涉塊

1411‧‧‧尾部

1412‧‧‧彈性臂

1413‧‧‧絕緣受推塊

1414‧‧‧絕緣固定塊

1415‧‧‧插孔

10321‧‧‧後面

14121‧‧‧前末端

14122‧‧‧接觸部

14123‧‧‧固定部

14124‧‧‧開孔

14131‧‧‧受推面

圖1為本發明一實施例之示意圖，其例示電連接器、電連接器之托盤、電子卡及電路板。

圖2為本發明一實施例之示意圖，其例電連接器及其托盤。

圖3為本發明一實施例之電連接器之分解圖。

圖4為本發明一實施例之示意圖，其例示電連接器之上蓋及分解之檢測端子。

圖5為本發明一實施例之電連接器之示意圖。

圖6為沿圖5剖面線1000-1000之剖視圖。

圖7為本發明一實施例之電連接器之示意圖。

圖8為沿圖7剖面線2000-2000之剖視圖。

參照圖1與圖2所示，電連接器1可設置在電路板3上。電連接器1包含一托盤10。托盤10可承載一電子卡2。電連接器1界定一插置空間11。托盤10可插置在插置空間11，使電子卡2透過電連接器1電性連接電路板3。

參照圖1至圖3所示，電連接器1包含一端子座12、一上蓋13及一檢測開關14。上蓋13配合端子座12構成用以插置托盤10之插置空間11。插置空間11可前後方向100(或托盤10之插拔方向)延伸，插置空間11的前端具有用以插入托盤10的開口400。

檢測開關14用於偵測托盤10是否插入電連接器1。檢測開關14包含一檢測端子141。檢測端子141設置在插置空間11的左右方向200上的一側邊處。在一些實施例中，檢測端子141是位在插置空間11外，或者檢測端子141不伸入插置空間11內。

參照圖1、圖2與圖4所示，檢測端子141包含一作為焊接部的尾部1411、一彈性臂1412及一絕緣受推塊1413。尾部1411可焊接在電路板3上或以檢測端子141或尾部1411上其他構造連接電路板3上的線 路。彈性臂1412可朝前延伸。彈性臂1412可於上下方向(上或下方向)300(或電連接器1的厚度方向)作彈性位移。彈性臂1412可具有一前末端14121。絕緣受推塊1413可設置在彈性臂1412的前末端14121。彈性臂1412可包含一接觸部14122。接觸部14122與尾部1411之間用於形成導電通路。當施力於受推塊1413或不再施力於受推塊1413時，彈性臂1412與接觸部14122可於上下方向300彈性位移，使得檢測開關14之偵測狀態亦隨著改變。

參照圖2所示，托盤10包含一推動塊101。推動塊101用於推動檢測端子141之受推塊1413，使檢測端子141之彈性臂1412與接觸部14122於上下方向300彈性位移，並藉此改變檢測開關14之偵測狀態。

參照圖2、圖3、圖5與圖6所示，在一些實施例中，檢測端子141的受推塊1413包含一朝前和朝上方向的斜向受推面14131。當將托盤10的後緣102插入插置空間11時，推動塊101正對著受推面14131。隨著托盤10逐漸插入插置空間11時，推動塊101會沿著受推面14131移動，而推動受推塊1413，並使彈性臂1412與接觸部14122彈性位移，改變檢測開關14之偵測狀態。參照圖2所示，在一些實施例中，托盤10的推動塊101包含一朝後和朝下方向的斜向推動面1011。參照圖7與圖8所示，當推動塊101推動受推塊1413時，推動面1011會接觸受推面14131，直到托盤10插入插置空間11為止。

參照圖1與圖2所示，在一些實施例中，托盤10包含一框部103。框部103界定收容電子卡2之空間。在一些實施例中，框部103可為封閉框。在一些實施例中，框部103可為非封閉框。在一些實施例中，框部103包含一前框條1031。按壓前框條1031的前表面可將托盤10完全推入。前框條1031包含一側向延伸條1032。當托盤10插入插置空間11時，側向延伸條1032在檢測端子141之前方延伸。托盤10的推動塊101可設置在側向延伸條1032的後面10321。在一些實施例中，推動塊101可配合檢測端子141之位置設置在托盤10上前框條1031以外的部分上。在一些實施例中，托盤10可為非金屬材質。在一些實施例中，托盤10可為金屬材質，進一步地，金屬框部103的用以承載及接觸電子卡2的內緣部分1033 可覆蓋絕緣材料層，以避免電子卡2上所設的導電墊接觸到金屬框部103。

參照圖4、圖6與圖8所示，檢測開關14包含一導電件142。當檢測端子141之接觸部14122與導電件142間之接觸或不接觸等偵測狀態改變時，可關或開一電路。當托盤10之推動塊101推開檢測端子141之受推塊1413後，檢測端子141之接觸部14122可接觸導電件142或自導電件142分離。在一些實施例中，如圖6所示，檢測開關14為常閉開關，檢測端子141之接觸部14122接觸導電件142，如圖8所示，當托盤10之推動塊101推開檢測端子141之受推塊1413後，檢測端子141之接觸部14122自導電件142分離。在一些實施例中，檢測開關14為常開開關，當檢測開關14為常開開關時，在推動塊101未接觸受推塊1413時，檢測端子141與導電件142是分離的，而當推動塊101推動受推塊1413時，檢測端子141之接觸部14122往導電件142移動，直到檢測端子141之接觸部14122接觸導電件142為止。在一些實施例中，若導電件142是位在檢測端子141之接觸部14122的上方，則推動塊101往上推動受推塊1413，使接觸部14122接觸導電件142；或者推動塊101往下推動受推塊1413，使接觸部14122與導電件142分開。在一些實施例中，若導電件142是位在檢測端子141之接觸部14122的下方，則推動塊101往上推動受推塊1413，使接觸部14122與導電件142分開；或者推動塊101往下推動受推塊1413，使接觸部14122接觸導電件142。

在一些實施例中，上蓋13包含金屬上蓋，如圖4所示，金屬上蓋之一底面區域135構成導電件142且是金屬上蓋的部分。在一些實施例中，導電件142是分離於金屬上蓋之部件。在一些實施例中，導電件142設在端子座12上。

參照圖3與圖4所示，檢測端子141可固定在電連接器1之任何適合部位上。在一些實施例中，檢測端子141包含一絕緣固定塊1414。檢測端子141利用絕緣固定塊1414固定在電連接器1之任何適合部位上。在一些實施例中，檢測端子141包含固定部14123。絕緣固定塊1414設置在固定部14123上。在一些實施例中，固定部14123是至少部分埋設在絕緣固定塊1414內，但本發明不以此為限。

在一些實施例中，絕緣固定塊1414包含一插孔1415，而電連接器1包含一插片131。插片131插入插孔1415，使檢測端子141固定。在一些實施例中，上蓋13包含插片131，但本發明不以此為限。

參照圖4所示，在一些實施例中，檢測端子141之固定部14123包含一開孔14124。開孔14124對應絕緣固定塊1414之插孔1415設置。開孔14124可允許插片131通過。在一些實施例中，檢測端子141之固定部14123可不具有開孔，但延伸避開插片131。

參照圖4與圖6所示，在一些實施例中，上蓋13的插片131包含至少一干涉塊1311。干涉塊1311與絕緣固定塊1414之插孔1415是干涉配合。當插片131插入絕緣固定塊1414之插孔1415時，干涉塊1311可錨定在絕緣固定塊1414之插孔1415內，使檢測端子141被固定在上蓋13。

參照圖2與圖3所示，端子座12包含絕緣座體121、多個導電端子122及金屬框架123。多個導電端子122及金屬框架123固定在絕緣座體121。金屬框架123包含兩彈性樑1231。兩彈性樑1231位在端子座12的相對兩側，界定插置空間11，其中檢測端子141位在一彈性樑1231之外旁處，並與該彈性樑1231分開一段距離。

參照圖2、3與7所示，在一些實施例中，端子座12包含兩卡扣塊124。卡扣塊124設置在對應的彈性樑1231上。托盤10對應地設置卡扣凹部104，其中當托盤10完全插入插置空間11後，卡扣塊124卡扣對應的卡扣凹部104，使托盤10保持在插置空間11內。

參照圖3與圖4所示，金屬框架123包含扣鉤1232，上蓋13對應設置扣孔134，其中扣鉤1232與對應的扣孔134之間是餘隙配合。藉由將扣鉤1232扣接在對應的扣孔134中，可使上蓋13固定在端子座12上，並在焊接安裝到電路板3之前，提供上蓋13與端子座12可各自活動的裕度，增加表面焊接的共面性。

參照圖2與圖4所示，在一些實施例中，上蓋13包含兩外側壁132與133。端子座12是位在兩外側壁132與133之間，而檢測端子141整個是位在一外側壁132與一彈性樑1231之間，並與該外側壁132與該彈性樑1231是分離的。

參照圖2與圖3所示，在一些實施例中，導電端子122包含尾部1221、彈性臂1222及接觸部1223。尾部1221可焊接在電路板3。接觸部1223可位在彈性臂1222之末端。在一些實施例中，導電端子122可進一步包含前導引件1224。前導引件1224是在導電端子122上較靠近電連接器1之開口400之部分。當托盤10插入插置空間11時，前導引件1224會先被下壓，降低接觸部1223的高度，藉此減少托盤10插入時對導電端子122的衝擊力及側向剪力，以達到保護端子122之目的。在一些實施例中，導電端子122包含後導引件1225。後導引件1225是在導電端子122上離電連接器1之開口400較遠之部分。後導引件1225可防止空托盤10勾卡住導電端子122。

在一些實施例中，檢測開關的檢測端子是安裝在插接托盤之插置空間的側邊。檢測端子是朝前延伸，且其末端有絕緣受推塊。托盤對應檢測端子之受推塊設置推動塊。推動塊推動受推塊，使偵測端子在電連接器之厚度方向(上下方向)彈性位移，以改變偵測狀態。前述之檢測端子具有使用較少的安裝空間之優點。在一些實施例中，檢測開關利用上蓋作為與檢測端子配合來構成檢測開關之導電件，因此導電件無需另外製作成型。在一些實施例中，電連接器之檢測端子不伸入插接托盤之插置空間。在一些實施例中，電連接器之檢測端子不接觸插接在插置空間內之托盤，如此托盤不受力，較不易變形，托盤也不會產生側移。

本揭露之技術內容及技術特點已揭示如上，然而熟悉本項技術之人士仍可能基於本揭露之教示及揭示而作種種不背離本揭露精神之替換及修飾。因此，本揭露之保護範圍應不限於實施範例所揭示者，而應包括各種不背離本揭露之替換及修飾，並為以下之申請專利範圍所涵蓋。

12‧‧‧端子座

13‧‧‧上蓋

121‧‧‧絕緣座體

122‧‧‧導電端子

123‧‧‧金屬框架

124‧‧‧卡扣塊

141‧‧‧檢測端子

1221‧‧‧尾部

1222‧‧‧彈性臂

1223‧‧‧接觸部

1224‧‧‧前導引件

1225‧‧‧後導引件

1231‧‧‧彈性樑

1232‧‧‧扣鉤

1413‧‧‧絕緣受推塊

1414‧‧‧絕緣固定塊

1415‧‧‧插孔

14131‧‧‧受推面

Claims (9)

1. 一種電連接器，包含：一托盤，包含一推動塊；一端子座；一上蓋，配合該端子座構成一用以插置該托盤且於前後方向延伸的插置空間及位於該插置空間的前端用以插入該托盤的開口；以及一檢測開關，包含一檢測端子，該檢測端子設置在該插置空間左右方向上之一側邊，該檢測端子不伸入該插置空間內，該檢測端子包含一尾部、朝前延伸的一彈性臂和設置在該彈性臂前末端之一絕緣受推塊，該彈性臂包含一接觸部；其中該托盤之該推動塊用於推動該檢測端子之該受推塊，使該檢測端子之該彈性臂與該接觸部於上下方向彈性位移，藉此改變該檢測開關之偵測狀態。
2. 根據申請專利範圍第1項所述之電連接器，其中該檢測開關包含一導電件，其中當該托盤之該推動塊推開該檢測端子之該受推塊後，該檢測端子之該接觸部接觸該導電件或自該導電件分離。
3. 根據申請專利範圍第2項所述之電連接器，其中該上蓋包含一金屬上蓋，該金屬上蓋之一底面區域構成該導電件。
4. 根據申請專利範圍第3項所述之電連接器，其中該檢測端子之該受推塊包含一朝前和朝上方向的斜向受推面，該托盤的該推動塊包含一朝後和朝下方向的斜向推動面，其中 當該推動塊推動該受推塊時，該推動面接觸該受推面。
5. 根據申請專利範圍第4項所述之電連接器，其中該檢測開關為常閉開關，其中當該托盤未插入時，該檢測端子之該接觸部接觸該導電件，當該托盤之該推動塊推開該檢測端子之該受推塊後，該檢測端子之該接觸部自該導電件分離。
6. 根據申請專利範圍第1項所述之電連接器，其中該檢測端子包含一位於該尾部與該彈性臂之間之固定部，以及包含設置在該固定部上之一絕緣固定塊。
7. 根據申請專利範圍第6項所述之電連接器，其中該絕緣固定塊包含一插孔，該上蓋包含一插片，其中該插片插入該插孔。
8. 根據申請專利範圍第7項所述之電連接器，其中該檢測端子之該固定部包含一開孔，該開孔對應該絕緣固定塊之該插孔設置，該上蓋之該插片包含干涉塊，該干涉塊與該絕緣固定塊干涉配合。
9. 根據申請專利範圍第1至5項中任一項所述之電連接器，其中該托盤包含一框部，該框部包含一前框條，該前框條包含一側向延伸條，該側向延伸條於該檢測端子之前方延伸，其中該推動塊設置在該側向延伸條的後面。