TWI550424B - 使用樞軸正規化之塗料表面之結構分析 - Google Patents
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Description
在各種實施例中,本發明一般而言係關於一種使用一樞軸正規化來關聯自分光光度角度及/或入射光源之光譜反射率或比色資訊以識別用以匹配發生於一未知目標塗料內之結構及/或測角明顯(gonioapparent)效用兩者之適當顏料之方法及設備。
在一標準可攜式分光光度計中,入射光通常設定為處於與法線成四十五(45)度之一角度。可收集之所得光譜反射率通常在與入射光相同之平面中且在鏡面角(與入射光相等及相反之角度)之任一側上並且較接近於入射光源本身。
新可攜式分光光度裝置提供大量角色彩回應(光譜反射率)資料。除添加包含方位角或平面外角度之數個新角度外,諸多儀器亦提供具有與標準光源不同之幾何結構之額外光源。以實例方式,一第二照明器之入射光源可位於與法線成十五(15)度處。入射光與角回應之複數個組合可係太少及太多資訊以致無法一次處置。
因此,需要可用以評估來自一分光光度計之所有資料及資料之特定組合之系統及方法。亦需要其中作為獨立實體以及相依於自裝置接收之其他回應(無論是所有回應還是特定選擇之回應)之實體兩者而處置個別角光譜反射率及比色(例如,XYZ、L*a*b*、L*C*h*等)回應
之系統及方法。
在一第一態樣中,本發明之實施例提供一種電腦實施之方法。該方法包含使用一處理器自一目標塗料獲得反射率資料及使用該處理器計算經樞軸正規化反射率資料。該方法亦包含使用該處理器產生外觀上與該目標塗料相同或實質上類似之一塗料公式化。
在另一態樣中,本發明之實施例針對於一種系統。該系統包含一資料庫及與該資料庫通信之一處理器。該處理器經程式化以:自一目標塗料獲得反射率資料;計算經樞軸正規化反射率資料;及產生外觀上與該目標塗料相同或實質上類似之一塗料公式化。
在另一態樣中,本發明之實施例提供一種設備。該設備包含用於自一目標塗料獲得反射率資料之構件及用於計算經樞軸正規化反射率資料之構件。該設備亦包含用於產生外觀上與該目標塗料相同或實質上類似之一塗料公式化之構件。
在又一態樣中,本發明之實施例提供一種非暫時性電腦可讀媒體,其包含用於致使一處理器進行以下操作之軟體:自一目標塗料獲得反射率資料;計算經樞軸正規化反射率資料;及產生外觀上與該目標塗料相同或實質上類似之一塗料公式化。
90‧‧‧系統
92‧‧‧使用者
94‧‧‧使用者介面
96‧‧‧分光光度計
98‧‧‧目標樣本
100‧‧‧電腦
102‧‧‧網路
104‧‧‧伺服器
106‧‧‧資料庫/伺服器
圖1圖解說明計算一目標複雜塗料之一公式之一程序之一實施例。
圖2圖解說明依據行業標準六個角度之原始光譜反射率資料之一實例。
圖3圖解說明一「標準」正規化結果之一實例。
圖4圖解說明彼此覆疊之各種經樞軸正規化曲線之一實例。
圖5圖解說明經樞軸正規化反射率資料之使用之一實例,其中平
均值及標準差已跨越第一相關聯資訊陣列而計算且對照彼此而繪圖。
圖6圖解說明使用一組特定角度來預測一目標塗料是否將含有一測角明顯效用之一經樞軸正規化資料集之使用之一實例。
圖7圖解說明可用以識別一目標樣本之一塗料混合物之物理性質屬性之一系統之一實施例。
雖然本文中之說明通常係指油漆,但應理解,裝置、系統及方法適用於包含染色劑及工業塗料之其他類型之塗料。本發明之所闡述實施例不應視為限制性的。與本發明一致之一方法可在諸如服裝及時尚產品之匹配及/或協調之多個領域中實踐。
本發明之實施例可與一電腦系統一起使用或併入於一電腦系統中,該電腦系統可係一獨立單元或包含經由一網路(舉例而言,諸如網際網路或一內部網路)與一中央電腦通信之一或多個遠端終端機或裝置。如此,電腦或「處理器」及本文中所闡述之相關組件可係一本端電腦系統或一遠端電腦或一線上系統或其組合之一部分。本文中所闡述之資料庫及軟體可儲存於電腦內部記憶體中或儲存於一非暫時性電腦可讀媒體中。
本發明之實施例一般而言針對於塗料之光譜分析,且更特定而言(但並非以限制方式),針對於用於預測及公式化含有金屬顏料、珠光顏料及/或特殊效用顏料之一複雜塗料混合物之裝置、方法及系統。
在各種實施例中,本發明一般而言係關於用於使用樞軸正規化資料來識別經固化複雜塗料(例如,油漆)混合物之物理性質屬性之一方法及設備,該樞軸正規化資料係使用一處理器基於來自一分光光度計之光譜反射率及比色回應而計算。
在各種實施例中,使用樞軸正規化方法之目的係多重的。首
先,為使用一既定系統內之所有可用角度,樞軸正規化可用以形成一替代雙向反射率分佈函數(「BRDF」)類型分析。此類型之分析不排除任何角度,而是無論測角明顯與否皆使用所有角度來形成一特定結構或顏料類型之一半球形「地圖」或「指紋」。第二,樞軸正規化可用以僅評估特定角度組合以便達成有目的之操縱。類似地,此包含在正尋求如包含或不包含於一目標塗料後之一特定結構或效用時特定單個角度或角度組合之特定排除或包含。第三,樞軸正規化可用以適應及校正所接收光譜反射率值在某種程度上不正確之可能假設。光譜反射率資料之不規則性或異常性之某些可能原因(即使不重要的)可包含入射光角度位置、入射光波動、孔徑大小、目標塗料表面不均勻性等。
圖1圖解說明計算一目標複雜塗料之一公式之一程序之一實施例。在步驟10處,自(舉例而言)一分光光度計收集資料。在各種實施例中,可以數個方式採用本發明之系統及方法。舉例而言,可對原始資料(舉例而言,光譜反射率資料及/或比色(例如,XYZ、L*a*b*、L*C*h*等))及可能已處理之資料使用該等系統及方法。資料係可包含但不限於多維度幾何資料、向量資料、未經修改或經修改鏡面光譜反射率資料等之經處理資料。在各種實施例中,經歷樞軸正規化之資料可基於原始資料之功能性而具有兩個或兩個以上經識別相關聯陣列。舉例而言,光譜反射率資料可視為具有由角度及波長構成之陣列。另一實例包含隨角度及參考類型(亦即,L*、a*或b*)而變之比色資料。在存在兩個以上陣列之情況中,可獨立地測試兩個陣列中之各種集合,或可將各種陣列緊縮至僅兩個陣列中。在各種實施例中,為選擇一資料集內之最佳陣列集合,可需要相對於複雜混合物內之色彩、結構、色素澱積及所有變化形式而對多種可能所得經樞軸正規化資料集及基於演算法之所期望功能性之最佳者兩者之數個情景進行測試。
圖2圖解說明依據行業標準六個角度之原始光譜反射率資料之一實例。在一「標準」正規化情況中,程序之目標係將來自多個資料集之資料之不同標度(亦即,不同角度)調整至一個共同標度,因此形成允許關聯分析及原始資料集之間的理解之一組經移位或經定標資料。圖3中圖解說明一「標準」正規化結果之一實例。在各種實施例中,本發明之樞軸正規化之目標並非將不同標度對準至一共同標度,而是導致進一步分離以便獲得關於原始資料集與其相關聯資訊陣列之間的類似性及差異之經改良洞察。圖4圖解說明彼此覆疊之各種經樞軸正規化曲線之一實例。如可見,依據一「標準」正規化方法對一經樞軸正規化方法之所得資訊之間存在一差異。在圖4中,已使用一覆疊方法而非對準每一曲線之y軸來計及圖表之解析度。
在圖1之步驟12處,基於相關聯資訊之一第二陣列而將資料分類。舉例而言,若使用具有角度及波長之相關聯陣列之原始光譜反射率資料,則該資料可按波長分類以便在個別波長內之角度之標度之間形成一通用性。此與按角度分類以便在個別角度內之波長之標度之間做出一共同對準之一「標準」正規化方法相反。在各種實施例中,藉由首先按第二陣列(例如,波長)分類,角度成為「通用性」。在第二陣列之每一集合內,步驟14處之樞軸正規化計算可呈現一標準形式。在各種實施例中,正規化計算係:
其中X係特定資料集值,μ係經分類第二陣列內之資料集值之樣本或總體平均值,且σ係經分類第二陣列內之資料集值之樣本或總體標準差。
由於跨越第一資料陣列之標準差可比跨越第二資料陣列之標準差小得多之事實,因此所得經樞軸正規化資料集可似乎不產生有用資
訊。因此,若檢驗、分析、繪圖等之解析度不良,則可能缺失詳細特徵。因此,可使檢驗、分析、繪圖等之解析度最佳化以便確定分析之益處。
在各種實施例中,在使用光譜反射率資料時,計算可基於每一第二資料陣列而針對第一資料陣列個別地發生。然而,輸出與最初兩個相關聯陣列保持有關。舉例而言,可使用諸如平均值、中位數及總和之統計量來形成多陣列所計算經樞軸正規化資料之一單個陣列。在另一實施例中,可在經樞軸正規化分析之間比較一或若干個別特定陣列值。此一情況之值將集中於具有最大或統計顯著性之一或若干特定陣列值,其中大部分色彩及/或結構資訊以可見方式或數值方式感知。
在圖1之步驟16處,依據經樞軸正規化資料之所計算經樞軸正規化值或統計量可進一步憑經驗關聯至已知特性以便識別複雜塗料混合物中之結構、主要薄片類型或其他外觀資訊。為採用一經驗方法,針對一經驗資料集而計算經樞軸正規化資料。可採用資料轉換成一單個點之所有所期望統計或數學轉換,或資料可保持隨有關資訊之第一及第二陣列而變。在各種實施例中,經驗資料集代表將需要在日常情況中處置之所預期混合物及色彩。經驗資料集可用以形成一預測相關性:y=f(x),其中y表示關於目標塗料之識別或一定性問題之所期望特性,且f(x)係x之某一函數,其中x係使用依據相關聯陣列之一特定集合或多個集合之經樞軸正規化所計算值或依據經樞軸正規化資料之統計量之一個或多個變數。所得函數可係線性或非線性的,如由經驗資料集所定義。
圖5圖解說明經樞軸正規化反射率資料之使用之一實例,其中平均值及標準差已跨越第一相關聯資訊陣列而計算且對照彼此而繪圖。所得相關性展示僅在特定情況中使用一有色鋁顏料之一高機率,然而
一有色鋁顏料之使用之不足例示一顯著不同之圖形顯示以及因此相關聯機率。
圖6圖解說明使用一組特定角度來預測一目標塗料是否將含有一測角明顯效用之一經樞軸正規化資料集之使用之一實例。在此情形中,依據針對特定角度之經樞軸正規化資料,產生0.5或0.5以上之一所計算範圍值指示不含有一測角明顯顏料之一較高可能性,然而較接近於0.2或0.2以下之一所計算範圍值具有含有討論中之測角明顯顏料之一較高可能性。
一旦已判定一經驗相關性,在圖1之步驟18處,便可使用其來導出目標塗料之所預測值。此可藉由使用x(經樞軸正規化資料等)之目標塗料之值並計算y(結構效用)之答案而達成。雖然本文中已針對一測角明顯顏料之內容給出若干實例,但本發明之實施例可導出藉由針對樞軸正規化計算及經驗相關性迭代地選擇最重要單角度或角度組合而根據該測角明顯顏料係處於彼顏料之何種薄片大小而定之一結果。角比較及角比較組合至之程度之選擇可用以形成最佳可能經驗相關性。在各種實施例中,亦可藉由包含其他非樞軸正規化資訊(舉例而言,單個角度比色資料)而改良經驗相關性。
在各種實施例中,總體「地圖」或「指紋」方法之品質及經驗相關性方法之品質可取決於輸入資料之品質。輸入資料之品質可取決於儀器之品質及用以形成總體地圖或經驗相關性之一組已知資料之資料集之品質。雖然來自一儀器或一經驗資料集之資料之任一品質將產生一答案,但該答案可藉助一高品質儀器及一廣泛多樣之高品質經驗資料集之使用而得以改良。
本文中所闡述之整組計算可連同一處理器一起使用以便促進特定相關聯陣列組合之選擇並且適應所需之計算量以便使用經樞軸正規化資料來導出且然後使用一經驗相關性。
圖7圖解說明可用以識別一目標樣本之一塗料混合物之物理性質屬性之一系統90之一實施例。一使用者92可利用諸如一圖形使用者介面之一使用者介面94來操作一分光光度計96以量測一目標樣本98之性質。來自分光光度計96之資料可傳送至一電腦100,諸如一個人電腦、一行動裝置或任何類型之處理器。電腦100可經由一網路102與一伺服器104通信。網路102可係任何類型之網路,諸如網際網路、一區域網路、一內部網路或一無線網路。伺服器104與一資料庫106通信,該資料庫可儲存本發明之實施例之方法出於比較目的而使用之資料及資訊。在各種實施例中,資料庫106可用於(舉例而言)一客戶伺服器環境中或(舉例而言)一基於web之環境中,諸如一雲端計算環境。電腦100及/或伺服器106可執行本發明之實施例之方法之各種步驟。
熟習此項技術者將易於瞭解,可在不背離上述說明中所揭示之概念之情況下對本發明做出修改。此等修改將視為包含於以下申請專利範圍內,除非申請專利範圍藉由其語言以其他方式明確陳述。因此,本文中詳細闡述之特定實施例僅係說明性的且並非對本發明之範疇之限制,本發明之範疇係隨附申請專利範圍所給出之全廣度及其任何及所有等效形式。
在另一態樣中,本發明可實施為一種含有用於致使一電腦或電腦系統執行上文所闡述之方法之軟體之非暫時性電腦可讀媒體。該軟體可包含用以使得一處理器及一使用者介面能夠執行本文中所闡述之方法之各種模組。
熟習此項技術者將易於瞭解,可在不背離上述說明中所揭示之概念之情況下對本發明做出修改。因此,本文中詳細闡述之特定實施例僅係說明性的且並非對本發明之範疇之限制。
Claims (12)
- 一種電腦實施之方法,其包括:從一分光光度計獲得來自一目標塗料之反射率資料,其中該反射率資料包括含有角度資料之至少一主要陣列及含有波長資料之至少一次要陣列;基於在該次要陣列中之該資料來分類該反射率資料;使用一處理器藉由一目標值減去該波長陣列之一總體平均值及將結果除以在該次要陣列中之資料之一總體標準差來計算經樞軸正規化反射率資料;將該經計算之經樞軸正規化反射率資料與儲存於一經驗資料集內之一對應經樞軸正規化反射率資料比較;及使用該處理器產生外觀上與該目標塗料相同或實質上類似之一塗料公式化。
- 如請求項1之方法,其中比較該經計算之經樞軸正規化反射率資料包括使該經樞軸正規化資料與複數個已知資料相關(correlate)且基於該相關而預測該目標塗料之至少一個結構特徵。
- 如請求項2之方法,其中使該經樞軸正規化反射率資料與複數個已知資料相關包括憑經驗使該經樞軸正規化反射率資料與複數個已知資料相關。
- 如請求項2之方法,其中基於該相關而預測該目標塗料之至少一個結構特徵包括基於該相關使用至少一個經驗計算來預測該目標塗料之至少一個結構特徵。
- 如請求項1之方法,其進一步包括:從該分光光度計獲得含有波長資料之至少一第三陣列;及移除該第三陣列。
- 一種系統,其包括:一資料庫;及一處理器,其與該資料庫通信且經程式化以:從一分光光度計獲得來自一目標塗料之反射率資料,其中該反射率資料包括含有角度資料之至少一主要陣列及含有波長或比色資料之至少一次要陣列;基於在該次要陣列中之該資料來分類該反射率資料;藉由一目標值減去該波長陣列之一總體平均值及將結果除以在該次要陣列中之資料之一總體標準差來計算經樞軸正規化反射率資料;將該經計算之經樞軸正規化反射率資料與儲存於一經驗資料集內之一對應經樞軸正規化反射率資料比較;及產生外觀上與該目標塗料相同或實質上類似之一塗料公式化。
- 如請求項6之系統,其進一步包括與該處理器通信之該分光光度計。
- 一種設備,其包括:用於自一目標塗料獲得反射率資料之構件,其中該反射率資料包括含有角度資料之至少一主要陣列及含有波長或比色資料之至少一次要陣列;用於基於在該次要陣列中之該資料分類該反射率資料之構件;用於藉由一目標值減去該波長陣列之一總體平均值及將結果除以在該次要陣列中之資料之一總體標準差來計算經樞軸正規化反射率資料之構件;用於將該經計算之經樞軸正規化反射率資料與儲存於一經驗資料集中之一對應經樞軸正規化反射率資料比較之構件;及 用於產生外觀上與該目標塗料相同或實質上類似之一塗料公式化之構件。
- 如請求項8之設備,其中該用於比較該經計算之經樞軸正規化反射率資料之構件包括用於使該經樞軸正規化反射率資料與複數個已知資料相關之構件及用於基於該相關而預測該目標塗料之至少一個結構特徵之構件。
- 如請求項9之設備,其中該用於使該經樞軸正規化反射率資料與複數個已知資料相關之構件包括用於憑經驗使該經樞軸正規化反射率資料與複數個已知資料相關之構件。
- 如請求項9之設備,其中該用於基於該相關而預測該目標塗料之至少一個結構特徵之構件包括用於基於該相關使用至少一個經驗計算來預測該目標塗料之至少一個結構特徵之構件。
- 一種非暫時性電腦可讀媒體,其包含用於致使一處理器進行以下操作之軟體:從一分光光度計獲得來自一目標塗料之反射率資料,其中該反射率資料包括含有角度資料之至少一主要陣列及含有波長資料之至少一次要陣列;基於在該次要陣列中之該資料來分類該反射率資料;藉由一目標值減去該波長陣列之一總體平均值及將結果除以在該次要陣列中之資料之一總體標準差來計算經樞軸正規化反射率資料;將該經計算之經樞軸正規化反射率資料與儲存於一經驗資料集內之一對應經樞軸正規化反射率資料比較;及產生外觀上與該目標塗料相同或實質上類似之一塗料公式化。
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