TWI547792B - Electronic device test module of the opening and closing device (a) - Google Patents

Description

電子元件測試模組之啟閉裝置(一)

本發明係提供一種可自動化啟閉測試模組，不僅縮減人力，並縮短啟閉作業時間，進而節省成本及提升測試產能之啟閉裝置(一)。

在現今，電子元件於後段封裝完成後，為確保產品品質，係會將電子元件置入測試模組之測試座而進行測試作業，以檢測電子元件於製作過程中是否遭受損壞，以淘汰出不良品，由於電子元件於執行測試作業的過程中，其本身會因執行程式作業而產生自熱，為避免電子元件之自熱溫度超出預設的測試溫度，而影響測試品質，業者係於測試模組之測試座上方裝配有具散熱結構之蓋體，並利用散熱結構與電子元件作冷熱交換，使電子元件之溫度保持於預設之測試溫度範圍內，進而確保電子元件之檢測良率。

請參閱第1、2圖，複數個測試模組10係裝配於一測試電路板20上，各測試模組10包含有測試座11及蓋體12，該測試座11係設有容置電子元件之容置槽111，並於容置槽111內配置有複數個電性連接測試電路板20之探針112，另於測試座11之兩側凹設有扣合部113，該蓋體12之頂面係設有散熱結構，該散熱結構係設有一凸伸出於蓋體12底面之傳導件121，以接觸傳導電子元件之自熱，並連結位於蓋體12頂面之散熱鯺片122，而散熱鯺片122之上方則裝配有散熱風扇123，另於蓋體12之兩側相對應測試座11之扣合部113位置以樞軸124樞設有卡勾125，各卡勾125之一端與蓋體12間係設有彈簧126，另一端則設有勾部1251，以勾扣於測試座11之扣合部113，使蓋體12蓋置 定位於測試座11上；請參閱第3、4圖，於使用時，工作人員係以手部按壓蓋體12兩側之二卡勾125一端，卡勾125即壓縮彈簧126，並以樞軸124為旋轉中心，使另一端之勾部1251向外擺動而脫離測試座11之扣合部113，進而可開啟取出蓋體12，工作人員再以手動方式將待測之電子元件30置入於測試座11之容置槽111內，接著以手動方式再將蓋體12蓋置於測試座11之上方，並釋放二卡勾125，使二卡勾125利用彈簧126之彈力而復位，並以勾部1251勾扣於測試座11之扣合部113，以關閉測試座11，並令傳導件121接觸傳導電子元件30之自熱，再利用蓋體12頂面之散熱鯺片122及散熱風扇123散熱，以使電子元件30之溫度保持於預設之測試溫度範圍內，進而確保電子元件30之檢測良率；惟，此一手動啟閉測試模組10之使用方式，具有如下缺失：

1．業者以人工作業方式啟閉測試模組10之蓋體12，若測試模組10數量龐大時，勢必需配置較多人力逐一啟閉蓋體12，造成增加作業成本之缺失。

2．由於蓋體12上配置有傳導件121、散熱鯺片122及散熱風扇123等元件，導致蓋體12之重量較重，於測試作業時，工作人員必須費力將複數個測試模組10之蓋體12由測試座11上逐一取下，以供電子元件30置入於測試座11，再費力將蓋體12逐一重新蓋置扣合於測試座11上，以致人工啟閉作業不僅耗時費力，亦降低測試產能。

3．當工作人員以手動方式開啟測試模組10之蓋體12後，又需以手動方式逐一於測試座11取放電子元件30，更增加上下料作業時間，進而降低測試產能。

本發明之目的一，係提供一種電子元件測試模組之啟閉裝置(一)，其測試模組係設有測試座及一蓋置於測試座上之蓋體，該具散熱結構之蓋體並以複數個卡勾勾扣測試座之扣合部定位，該啟閉裝置包含移載機構及啟閉單元，該移載機構係設有作 至少一方向位移之移載具，以連結裝配啟閉單元，該啟閉單元係設有至少一驅動源，以驅動至少一夾具之二夾持件作相對位移，使二夾持件壓抵或釋放測試模組之蓋體的二卡勾脫離或勾扣於測試座之扣合部，而將蓋體取出或蓋置於測試座，進而開啟或關閉測試模組之蓋體；藉此，可自動化啟閉測試模組，而大幅縮減人力配置，達到節省成本之實用效益。

本發明之目的二，係提供一種電子元件測試模組之啟閉裝置(一)，其中，該移載機構之移載具可帶動啟閉單元之複數個夾具對應於複數個測試模組，該啟閉單元之複數個驅動源即驅動複數個夾具取放複數個蓋體，進而自動化一次啟閉一批次測試模組之蓋體，以大幅縮減啟閉蓋體作業時間，達到提升測試產能之實用效益。

本發明之目的三，係提供一種電子元件測試模組之啟閉裝置(一)，其中，該啟閉單元係以架板裝配複數個驅動源，並於架板與移載機構之移載具間設有連接結構，該連接結構係於架板與移載具間設有相互配合之具卡掣部的第一連結座及具嵌扣件的第二連結座，於更換整個啟閉單元時，可以氣動方式驅動嵌扣件自動化脫離或卡合卡掣部，即可便利裝拆整個啟閉單元，達到提升使用效能之實用效益。

本發明之目的四，係提供一種電子元件測試模組之啟閉裝置(一)，其中，該啟閉裝置係設有具至少一拾取器之拾取機構，於啟閉單元自動化開啟測試模組之蓋體後，拾取機構即可以拾取器自動化於測試座取放電子元件，毋需以人工取放，以大幅縮減上下料作業時間，達到提升測試產能之實用效益。

〔習知〕

10‧‧‧測試模組

11‧‧‧測試座

111‧‧‧容置槽

112‧‧‧探針

113‧‧‧扣合部

12‧‧‧蓋體

121‧‧‧傳導件

122‧‧‧散熱鯺片

123‧‧‧散熱風扇

124‧‧‧樞軸

125‧‧‧卡勾

1251‧‧‧勾部

126‧‧‧彈簧

20‧‧‧測試電路板

30‧‧‧電子元件

〔本發明〕

40‧‧‧啟閉裝置

41‧‧‧移載機構

411‧‧‧第一移送器

412‧‧‧第二移送器

4121‧‧‧馬達

4122‧‧‧傳動組

413‧‧‧機架

414‧‧‧移載具

415‧‧‧第二連結座

4151‧‧‧嵌扣件

42‧‧‧啟閉單元

421‧‧‧架板

422‧‧‧第一連結座

4221‧‧‧卡掣部

423‧‧‧驅動源

424、425‧‧‧夾持件

4241、4251‧‧‧第一墊體

4242、4252‧‧‧第二墊體

43‧‧‧拾取機構

431‧‧‧第三移送器

432‧‧‧拾取器

50‧‧‧測試模組

51‧‧‧測試座

511‧‧‧容置槽

512‧‧‧探針

513、514‧‧‧扣合部

52‧‧‧蓋體

521、522‧‧‧樞軸

523、524‧‧‧卡勾

5231、5241‧‧‧承壓部

5232、5242‧‧‧勾部

525、526‧‧‧彈簧

531‧‧‧傳導件

532‧‧‧散熱鯺片

533‧‧‧散熱風扇

60‧‧‧電子元件

第1圖：習知測試模組之示意圖。

第2圖：習知測試模組之測試座及蓋體的示意圖。

第3圖：習知測試模組之使用示意圖(一)。

第4圖：習知測試模組之使用示意圖(二)。

第5圖：本發明啟閉裝置之示意圖。

第6圖：本發明啟閉裝置之啟閉單元的示意圖。

第7圖：本發明啟閉裝置之使用示意圖(一)。

第8圖：本發明啟閉裝置之使用示意圖(二)。

第9圖：本發明啟閉裝置之使用示意圖(三)。

第10圖：本發明啟閉裝置之使用示意圖(四)。

第11圖：本發明啟閉裝置之使用示意圖(五)。

第12圖：本發明啟閉裝置之使用示意圖(六)。

第13圖：本發明啟閉裝置之使用示意圖(七)。

第14圖：本發明啟閉裝置之使用示意圖(八)。

第15圖：本發明啟閉裝置之使用示意圖(九)。

第16圖：本發明啟閉裝置之移載機構與啟閉單元的分離示意圖。

為使 貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如後：

請參閱第5、6圖，本發明啟閉裝置40包含移載機構41及啟閉單元42，該移載機構41係設有至少一移送器，以移送至少一移載具作至少一方向位移，於本實施例中，該移載機構係設有第一移送器411及第二移送器412，該第一移送器411係帶動一裝配有第二移送器412之機架413作第一方向(如X方向)位移，該第二移送器412係設有馬達4121，以驅動傳動組4122作動，該傳動組4122包含皮帶輪組及螺桿螺座組，並以螺桿螺座組之螺座經連結架連結一移載具414，以帶動移載具414作第二方向(如Z方向)位移，該啟閉單元42係設有至少一驅動源，以驅動至少一夾具夾放作動，更進一步，該驅動源可直接裝配於移載具414上，或者裝配於一架板上，再以架板連結移載具414，於本實施例中，啟閉單元42係設有一架板421，並於架板421之頂面與移載機構41之移載具414間設有連接結構，該連接結構係於架板 421與移載具414間設有相互配合之具卡掣部的第一連結座及具嵌扣件的第二連結座，以供裝拆啟閉單元42，於本實施例中，該連接結構係於架板421之頂面設有具卡掣部4221之第一連結座422，該卡掣部4221可為環槽，該移載具414係於底面相對應第一連結座422的位置設有第二連結座415，該第二連結座415係設有複數個可為珠體之嵌扣件4151，並以氣動方式驅動複數個嵌扣件4151卡掣或脫離第一連結座422的卡掣部4221，另於架板421之底面設有複數個可為壓缸之驅動源423，各驅動源423係驅動夾具之二夾持件424、425作相對位移，各夾持件424、425之內側面係分別設有第一墊體4241、4251，並於內頂面設有第二墊體4242、4252，用以緩衝。

請參閱第7、8、9圖，係為本發明啟閉裝置40應用之測試模組50，複數個測試模組50係配置於測試電路板上，該測試模組50包含測試座51及蓋體52，該測試座51係設有承置電子元件之容置槽511，並於容置槽511內配置有複數個電性連接測試電路板之探針512，另於測試座51之兩側凹設有扣合部513、514，該蓋體52係於相對應測試座51之扣合部513、514位置以樞軸521、522樞設有卡勾523、524，各卡勾523、524一端之承壓部5231、5241與蓋體52間係設有彈簧525、526，另一端則設有勾部5232、5242，以勾扣於測試座51之扣合部513、514，又該蓋體52上係設有輔助電子元件散熱之散熱結構，該散熱結構係設有一凸伸出於蓋體52底面之傳導件531，以接觸傳導電子元件之自熱，並連結位於蓋體52頂面之散熱鯺片532，而散熱鯺片532之上方則裝配有散熱風扇533；於使用啟閉裝置40開啟測試模組50之蓋體52時，該啟閉裝置40之移載機構41的第一移送器411係載送第二移送器412及啟閉單元42作X方向位移至測試模組50之上方，並使複數個夾具對位於複數個蓋體52，接著第二移送 器412之馬達4121驅動傳動組4122，並經由傳動組4122之螺座帶動移載具414及啟閉單元42作Z方向下降位移，使啟閉單元42之各夾具的二夾持件424、425位於各蓋體52之二卡勾523、524側方。

請參閱第10圖，該啟閉單元42之驅動源423係驅動夾具之二夾持件424、425作相對位移，而壓抵蓋體52之二卡勾523、524的承壓部5231、5241，並利用第一墊體4241、4251與承壓部5231、5241相貼合而增加接觸磨擦力，以確實平穩夾持二卡勾523、524，二卡勾523、524之承壓部5231、5241係壓縮彈簧525、526，並以樞軸521、522為旋轉中心而向外擺動，令勾部5232、5242脫離測試座51之扣合部513、514。

請參閱第7、11圖，於蓋體52之二卡勾523、524脫離測試座51後，該移載機構41之第二移送器412的馬達4121驅動傳動組4122，並經由傳動組4122之螺座帶動移載具414及啟閉單元42作Z方向上升位移，使啟閉單元42之夾具的二夾持件424、425夾持蓋體52離開測試座51，進而開啟測試模組50之蓋體52，接著第一移送器411係載送第二移送器412及啟閉單元42作X方向反向位移離開測試模組50之上方，以供測試座51進行上料作業。

請參閱第11、12圖，該上料作業可採人工上料或自動化上料，由於本發明可自動化開啟測試模組50之蓋體52，為使啟閉裝置40一貫自動化作業，毋需以人工取放電子元件，以大幅縮減上下料作業時間，本發明啟閉裝置40更包含設有拾取機構43，該拾取機構43係設有至少一取放電子元件之拾取器，以及設有至少一移送器帶動拾取器作至少一方向位移，於本實施例中，該拾取機構43係設有第三移送器431帶動具有待測電子元件60之拾取器432作X方向位移至測試模組50之測試座51上方，第三移送器431再帶動拾取器432作 Z方向位移將待測電子元件60置入於測試座51之容置槽511，使待測電子元件60電性接觸測試座51之探針512，以完成上料作業，該拾取機構43之第三移送器431再帶動複數個拾取器432作X-Z方向位移離開測試模組50之上方。

請參閱第7、13、14圖，該移載機構41之第一移送器411係載送第二移送器412及啟閉單元42作X方向位移至測試模組50之上方，並使複數個夾具之二夾持件424、425夾持複數個蓋體52對位於複數個測試座51，由於二夾持件424、425仍壓抵夾持蓋體52之二卡勾523、524，使得二卡勾523、524保持呈外張狀態，接著第二移送器412之馬達4121驅動傳動組4122，並經由傳動組4122之螺座帶動移載具414及啟閉單元42作Z方向下降位移，使啟閉單元42之夾具的二夾持件424、425將夾持之蓋體52蓋置於測試座51上，令蓋體52之二卡勾523、524對位於測試座51之二扣合部513、514，該啟閉單元42之驅動源423係驅動夾具之二夾持件424、425作反向位移，而釋放蓋體52之二卡勾523、524，二卡勾523、524利用彈簧525、526之復位彈力，以樞軸521、522為旋轉中心而向內擺動，使二卡勾523、524之勾部5232、5242勾扣於測試座51之扣合部513、514，使蓋體52蓋置定位於測試座51上，以關閉測試座51。

請參閱第7、15圖，該移載機構41之第一移送器411及第二移送器412係帶動啟閉單元42作X-Z方向位移離開測試模組50，由於蓋體52蓋置於測試座51上時，係令傳導件531接觸待測電子元件60，當待測電子元件60於測試座51內執行測試作業且產生自熱時，待測電子元件60之自熱可經由傳導件531傳導至散熱鯺片532散熱，並利用散熱風扇533輔助散熱，使得待測電子元件60保持於預設之測試溫度範圍內，進而確保檢測良率，於測試完畢後，該啟閉裝 置40可利用複數個夾具夾持取出蓋體52，進而開啟測試座51以供上下料。

請參閱第16圖，本發明之啟閉裝置40可更換啟閉單元42而因應不同型態之測試模組，由於移載機構41之移載具414與啟閉單元42之架板421係利用連接結構之第一連結座422及第二連結座415連結組裝，於更換啟閉單元42時，係以氣動方式驅動第二連結座415的嵌扣件4151內縮退位而脫離第一連結座422之卡掣部4221，使移載具414與架板421分離，即可便利更換啟閉單元42，達到提升使用便利性之實用效益。

41‧‧‧移載機構

414‧‧‧移載具

415‧‧‧第二連結座

4151‧‧‧嵌扣件

42‧‧‧啟閉單元

421‧‧‧架板

422‧‧‧第一連結座

4221‧‧‧卡掣部

423‧‧‧驅動源

424、425‧‧‧夾持件

4241、4251‧‧‧第一墊體

4242、4252‧‧‧第二墊體

Claims (10)

1. 一種電子元件測試模組之啟閉裝置，包含：移載機構：係設有至少一移送器，以驅動至少一移載具作至少一方向位移；啟閉單元：係裝配於該移載機構之移載具，並設有至少一驅動源，以驅動至少一夾具壓夾或釋放測試模組之蓋體的二卡勾脫離或勾扣該測試模組之測試座的扣合部，而啟閉測試模組之蓋體。
2. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件測試模組之啟閉裝置，其中，該啟閉裝置之移載機構係設有第一移送器及第二移送器，該第一移送器係帶動至少一裝配該第二移送器之機架作第一方向位移，該第二移送器係帶動該移載具及該啟閉單元作第二方向位移。
3. 依申請專利範圍第2項所述之電子元件測試模組之啟閉裝置，其中，該移載機構之第二移送器係設有馬達，以驅動至少一傳動組作動，該傳動組連結驅動該移載具位移。
4. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件測試模組之啟閉裝置，其中，該啟閉單元之驅動源係為壓缸。
5. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件測試模組之啟閉裝置，其中，該啟閉單元之夾具係具有二夾持件，該驅動源係帶動二該夾持件作相對位移。
6. 依申請專利範圍第5項所述之電子元件測試模組之啟閉裝置，其中，該夾具之夾持件的內側面係設有第一墊體，以接觸貼合該測試模組之蓋體的卡勾。
7. 依申請專利範圍第5項所述之電子元件測試模組之啟閉裝置，其中，該夾具之夾持件的內頂面係設有第二墊體，用以緩衝。
8. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件測試模組之啟閉裝置，其中，該啟閉單元係設有至少一架板，並於該架板上 裝配該至少一驅動源。
9. 依申請專利範圍第8項所述之電子元件測試模組之啟閉裝置，其中，該啟閉單元之架板與該移載機構之移載具間係設有連接結構，該連接結構係於該架板與該移載具間設有相互配合之具卡掣部的第一連結座及具嵌扣件的第二連結座。
10. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件測試模組之啟閉裝置，更包含該啟閉裝置設有拾取機構，該拾取機構係設有至少一取放電子元件之拾取器，以及設有至少一移送器帶動該拾取器作至少一方向位移。