TWI540482B - Display device - Google Patents

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TWI540482B
TWI540482B TW102137383A TW102137383A TWI540482B TW I540482 B TWI540482 B TW I540482B TW 102137383 A TW102137383 A TW 102137383A TW 102137383 A TW102137383 A TW 102137383A TW I540482 B TWI540482 B TW I540482B
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Takafumi Suzuki
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Description

顯示裝置
本發明係關於一種觸碰感測器裝置(亦稱為觸碰面板)、具備觸碰感測器功能之顯示裝置及電子機器等之技術。
於智慧型手機等各種電子機器及顯示裝置中，作為輸入機構而搭載有觸碰感測器裝置。作為觸碰感測器裝置之例，存在觸碰感測器功能專用之觸碰感測器裝置、附有外接型或者蓋部一體型之觸碰感測器之顯示裝置或附有將構成觸碰感測器裝置之電極內置於顯示面板所得之觸碰感測器之顯示裝置等。再者，附有外接型或者蓋部一體型之觸碰感測器之顯示裝置亦稱為附有on-cell(離殼)型觸碰感測器之顯示裝置。附有將觸碰感測器之電極內置於顯示面板所得之觸碰感測器之顯示裝置亦稱為附有in-cell(在殼)型觸碰感測器之顯示裝置。又，作為附有觸碰感測器之顯示裝置，例如，列舉應用於液晶顯示裝置之液晶觸碰面板模組等。
靜電電容方式之觸碰感測器裝置包含觸碰驅動電極(亦稱為發送側電極)與觸碰檢測電極(亦稱為接收側電極)。藉由該觸碰驅動電極及觸碰檢測電極之電極對之交叉而構成觸碰檢測之單元。例如，於成為觸碰檢測區域之面複數個觸碰驅動電極並排於面內水平方向上，複數個觸碰檢測電極並排於面內垂直方向上。藉由構成於該觸碰驅動電極及觸碰檢測電極之電極對之例如交叉部之附近之電容而構成觸碰檢測單元。於觸碰檢測區域之面複數個觸碰檢測單元構成為矩陣狀。觸碰 感測器裝置包含連接於上述觸碰驅動電極及觸碰檢測電極之電極對之電路部。若因手指等導電體接近或接觸於觸碰檢測區域之面而電容發生變化，則該電路部以電氣信號之形式檢測該電容之變化。藉此，觸碰感測器裝置檢測有無對觸碰檢測區域之觸碰或位置等。
附有on-cell型觸碰感測器之顯示裝置例如具有於液晶顯示面板部之構成顯示區域之正面側外接地連接有觸碰感測器裝置或者觸碰感測器層的構成。或者，附有on-cell型觸碰感測器之顯示裝置具有於設置於液晶顯示面板部之正面側之利用玻璃或塑膠等之蓋部一體地形成觸碰感測器之電極的構成。
附有in-cell型觸碰感測器之顯示裝置例如為如下構成，即，將構成上述觸碰感測器之電極即觸碰驅動電極及觸碰檢測電極之至少一者例如觸碰驅動電極內置於液晶顯示面板部之內部。該構成之附有in-cell型觸碰感測器之顯示裝置例如具有如下構成，即，於作為第1基板結構體之TFT(Thin Film Transistor，薄膜電晶體)基板側設置將液晶顯示裝置之共通電極與上述觸碰驅動電極一體化所得之兼用電極，且於作為第2基板結構體之彩色濾光片基板側設置上述觸碰檢測電極。
作為與上述觸碰感測器相關之先前技術例，列舉日本專利特開2009-244958號公報(專利文獻1)、日本專利特開2009-258935號公報(專利文獻2)。
於專利文獻1中記載有附有in-cell型觸碰感測器之液晶顯示裝置之構成例。
於專利文獻2中記載有與觸碰感測器相關之電極及配線之構成例。於專利文獻2中，作為電路側之連接端子或者連接邊與觸碰檢測區域之電極之間之引出配線或者牽引配線之構成例，記載有各個配線長度不同之例。又，於專利文獻2中記載有各個牽引配線之寬度不同之構成例。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本專利特開2009-244958號公報
[專利文獻2]日本專利特開2009-258935號公報
於上述觸碰感測器裝置或附有觸碰感測器之顯示裝置中，使構成於觸碰檢測區域之觸碰檢測單元之數量越多，使配置之密度越高，則觸碰檢測之靈敏度越高，而可使觸碰位置之檢測之精度越高。例如，使上述觸碰驅動電極及觸碰檢測電極之數量增多而使利用其等電極對所得之交叉部增多，藉此，上述觸碰檢測單元之數量變多。然而，相應地，關於藉由對觸碰檢測區域之複數個觸碰驅動電極施加觸碰驅動信號之脈衝之掃描驅動而進行之觸碰驅動，必須根據電極數或者掃描數使驅動時間增多。即，觸碰檢測區域中之綜合之觸碰驅動時間、換言之、確保該觸碰驅動時間之期間即觸碰檢測期間變長。
例如，於觸碰檢測區域或顯示區域與觸碰檢測區域重疊之成為畫面區域之一定大小之矩形之區域中，謀求該區域內之觸碰檢測之高靈敏度化之情形時，由於電極數及掃描數增加，故綜合之觸碰驅動時間變長。又，於擴大觸碰檢測區域或者畫面區域之大小之情形時，亦與上述情形同樣地，由於電極數及掃描數增加，故綜合之觸碰驅動時間變長。
於上述觸碰感測器裝置或附有觸碰感測器之顯示裝置中，於觸碰檢測區域之外側例如觸碰感測器裝置或附有觸碰感測器之顯示裝置之下邊部安裝有用於對於觸碰感測器之電極之觸碰驅動及觸碰檢測之電路部等。再者，以下，亦將安裝該電路部等之區域即觸碰感測器裝置或附有觸碰感測器之顯示裝置之例如下邊部稱為連接邊部。而且， 於觸碰檢測區域之周邊區域形成有將上述電極與上述連接邊部之電路部或者其連接端子連接之牽引配線等。亦於專利文獻2中記載有上述牽引配線之構成例。
於用於上述觸碰檢測之利用觸碰驅動電極之掃描驅動之觸碰驅動時，例如，自上述連接邊部之電路部產生且輸出觸碰驅動信號之脈衝，並通過周邊區域之牽引配線，而依序施加至觸碰檢測區域之觸碰驅動電極。繼而，該脈衝係沿觸碰檢測區域內之觸碰驅動電極傳輸，經由成為觸碰檢測單元之電容，向觸碰檢測電極傳輸，通過周邊區域之牽引配線，輸入至連接邊部之電路部，並被檢測為觸碰檢測信號。於包括上述觸碰驅動及檢測時之上述脈衝自連接邊部發出後直至返回為止之期間之各配線或各電極在內的整體之路徑或電路中，根據上述配線或電極之長度，電阻值或電容值變大，而時間常數變大。
於包括上述專利文獻2之構成例之比較例中，連接邊部與觸碰檢測區域之電極之間之複數個各牽引配線之長度不同，而時間常數不同。例如，自觸碰感測器裝置之下邊部之電路部起之朝向觸碰檢測區域之複數個觸碰驅動電極之複數個配線中，於朝向距離電路部較遠之位於觸碰感測器裝置之上邊側之觸碰驅動電極之配線與朝向距離電路部較近之位於下邊側之觸碰驅動電極之配線中，前者之配線較長而時間常數較大。又，與就上述配線單元考慮之情形同樣地，包含該配線之整體之路徑越長，時間常數越大。即，包含配線之路徑越長之部位，時間常數越不利。
若上述時間常數變大，則電路響應性降低，因此，關於觸碰驅動及觸碰檢測，亦變得不利。即，沿路徑傳輸之觸碰驅動信號之脈衝之上升及下降變慢，觸碰檢測之靈敏度降低。尤其，於包含距離上述電路部最遠之觸碰驅動電極及其最長之牽引配線之路徑中，脈衝之響應性降低。朝向距離上述電路部最遠之觸碰驅動電極之最長之牽引配 線或包含該配線之路徑係時間常數為最差條件之部位。
作為對上述問題之對策，先前，於一般之設計中，配合上述配線或路徑中之時間常數成為最差條件之部位及其時間常數，以確保充分之觸碰檢測之靈敏度之方式，規定上述觸碰驅動信號之脈衝之時間或電壓值等。而且，於比較例中，作為藉由對於觸碰檢測區域內之複數個觸碰驅動電極之掃描驅動而進行之觸碰驅動，使用基於上述最差條件之部位設計出之1種脈衝。
於比較例中，由於如上述般配合最差條件而確保觸碰驅動信號之脈衝之時間，故於包含朝向距離上述電路部較近之觸碰驅動電極之較短之配線的時間常數較小之路徑中，對於該脈衝而言變得性能過剩。即，關於該路徑之觸碰驅動時間而產生浪費。換言之，關於觸碰檢測區域中之綜合之觸碰驅動時間及觸碰檢測期間，時間效率有改善餘地。為了實現有效率之觸碰檢測例如提高與觸碰檢測資訊相關之報告率，理想的是縮短上述綜合之觸碰驅動時間。又，若能夠縮短上述觸碰驅動時間，則產生上述縮短部分之時間，因此，亦可將上述時間用於顯示功能或其他功能。
又，尤其，於附有in-cell型等觸碰感測器之顯示裝置之情形時，將與圖像之顯示相對應之框期間設為例如固定之長度，於上述期間內分配顯示期間與觸碰檢測期間。顯示期間例如包括液晶顯示裝置之情形時之像素寫入期間。觸碰檢測期間相當於確保利用對觸碰檢測區域內之各觸碰驅動電極施加上述觸碰驅動信號之脈衝之掃描驅動之觸碰驅動之時間的期間。於固定之框期間內優先對顯示期間確保較長之時間之情形時，相應地，僅能確保較短之觸碰檢測期間。反之，於固定之框期間內優先對觸碰檢測期間確保較長之時間之情形時，相應地，只能確保較短之顯示期間。例如謀求畫面大小擴大之情形即謀求顯示區域及觸碰檢測區域之擴大之情形時，各個電極數及掃描數變多，因 此，顯示期間與觸碰檢測期間必須變長。藉此，難以將顯示期間及觸碰檢測期間限制在有限之框期間之時間內。
如上述般，於比較例之觸碰感測器裝置或附有觸碰感測器之顯示裝置中，存在如下問題：由於因觸碰驅動信號之脈衝之性能過剩部分之時間所引起之低效率，根據觸碰驅動電極之電極數或者掃描數，觸碰檢測區域之觸碰驅動時間及觸碰檢測期間變長。
本發明之目的在於提供一種針對上述觸碰感測器裝置或附有觸碰感測器之顯示裝置可縮短觸碰檢測區域之觸碰驅動時間及觸碰檢測期間或者抑制觸碰檢測區域之觸碰驅動時間及觸碰檢測期間增大的技術。本發明之另一目的在於提供一種藉由縮短上述時間或者抑制上述時間增大而實現有效率之觸碰檢測並且可使用藉由縮短上述時間或者抑制上述時間增大而獲得之時間裕度來維持或提高觸碰檢測之靈敏度的技術。
本發明中代表性之形態係觸碰感測器裝置、具備觸碰感測器功能之顯示裝置及電子機器，其特徵在於具有以下所示之構成。
(1)一實施形態之觸碰感測器裝置包含：面板部，其包含由複數個第1電極與複數個第2電極之對而成之複數個觸碰檢測單元構成為矩陣狀之觸碰檢測區域；產生觸碰驅動信號之脈衝並將其施加至上述複數個第1電極之第1電路部，及輸入基於上述觸碰驅動信號之脈衝之來自上述複數個第2電極之脈衝並將其檢測為觸碰檢測信號的第2電路部；配置於上述觸碰檢測區域之周邊區域且將上述複數個第1電極與上述第1電路部連接之複數個第1配線，及將上述複數個第2電極與上述第2電路部連接之複數個第2配線；及複數個路徑，其等傳輸上述觸碰驅動信號之脈衝且包含上述複數個第1配線、上述複數個第1電極、上述複數個觸碰檢測單元、上述複數個第2電極、及上述複數個第2配 線；且上述第1電路部係根據對於上述複數個路徑之時間常數之差異，而產生具有不同之脈衝週期之複數種脈衝並施加至上述複數個第1電極。
(2)上述複數種脈衝係根據由上述複數個第1配線之長度之差異所導致之時間常數之差異而調整上述脈衝週期。或者，上述複數種脈衝係根據上述複數個第2電極中之傳輸該脈衝之距離之時間常數之差異而調整上述脈衝週期。
(3)上述第1電路部係於對上述觸碰檢測區域之複數個第1電極依序施加上述觸碰驅動信號之脈衝之掃描驅動時，對上述複數個第1電極之每一個或上述複數個第1電極之組之每一組，產生經調整為不同之脈衝週期之脈衝並施加至上述複數個第1電極之各者。
(4)於上述觸碰檢測區域中，上述複數個第1電極並排於面內水平方向即第1方向上，上述複數個第2電極並排於面內垂直方向即第2方向上，藉由上述觸碰檢測區域之垂直方向即第3方向上之與上述複數個第1電極和上述複數個第2電極之交叉部相對應之電容而構成上述複數個觸碰檢測單元。或者，於上述觸碰檢測區域中，上述複數個第1電極並排於面內垂直方向即第1方向上，上述複數個第2電極並排於面內水平方向即第2方向上，藉由上述觸碰檢測區域之垂直方向即第3方向上之與上述複數個第1電極和上述複數個第2電極之交叉部相對應之電容而構成上述複數個觸碰檢測單元。或者，於上述觸碰檢測區域中，上述複數個第1電極並排於第1方向上，上述複數個第1電極之各者包含複數個寬度較寬之電極部，上述複數個第2電極並排於與上述第1方向交叉之第2方向上，上述複數個第2電極之各者包含複數個寬度較寬之電極部，藉由上述複數個第1電極之複數個寬度較寬之電極部與上述複數個第2電極之複數個寬度較寬之電極部並列設置之對所對應的電容而構成上述複數個觸碰檢測單元。
(5)上述複數個第1配線係配置於配置在上述周邊區域之第1區域之第1配線部、及以相對於上述第1配線部對稱之形狀配置於上述周邊區域之第2區域之第2配線部，配置於上述第1配線部之上述複數個第1配線之各者係連接於上述複數個第1電極中相對應之第1電極之第1端部，配置於上述第2配線部之上述複數個第1配線之各者係連接於上述複數個第1電極中相對應之第1電極之第2端部，上述第1電路部係於通過上述複數個第1配線對上述觸碰檢測區域之複數個第1電極依序施加上述觸碰驅動信號之脈衝之掃描驅動時，通過上述第1配線部及第2配線部而針對上述複數個第1電極之每一個，對上述第1端部及第2端部之兩者施加上述脈衝。
(6)上述複數個第1配線係配置於配置在上述周邊區域之配線部，上述複數個第1配線之各者係連接於上述複數個第1電極中相對應之第1電極之第1端部，上述第1電路部係於通過上述複數個第1配線對上述觸碰檢測區域之複數個第1電極依序施加上述觸碰驅動信號之脈衝之掃描驅動時，通過上述配線部而針對上述複數個第1電極之每一個，對上述第1端部施加上述脈衝。
(7)上述複數個第1配線係配置於配置在上述周邊區域之第1區域之第1配線部、及配置在上述周邊區域之第2區域之第2配線部，配置於上述第1配線部之複數個第1配線之各者係連接於上述複數個第1電極中之第1組之第1端部，配置於上述第2配線部之複數個第1配線之各者係連接於上述複數個第1電極中之第2組之第2端部，上述第1電路部係於通過上述複數個第1配線對上述觸碰檢測區域之複數個第1電極依序施加上述觸碰驅動信號之脈衝之掃描驅動時，通過上述第1配線部及第2配線部而針對上述複數個第1電極之每一個，對上述第1端部及第2端部之一者施加上述脈衝。
(8)上述複數個第2配線係配置於上述周邊區域，配置於上述周邊 區域之上述複數個第2配線之各者係連接於上述複數個第2電極中相對應之第2電極之端部，上述第1電路部係於通過上述複數個第1配線對上述觸碰檢測區域之複數個第1電極依序施加上述觸碰驅動信號之脈衝之掃描驅動時，產生根據由該脈衝被傳輸至上述複數個第2電極之上述端部為止之距離之差異所導致之時間常數之差異而經調整上述脈衝週期的脈衝，並施加至上述複數個第1電極。
(9)上述複數個第2配線係配置於配置在上述周邊區域之第1區域之第1配線部、及配置在上述周邊區域之第2區域之第2配線部，配置於上述第1配線部之上述複數個第2配線之各者係連接於上述複數個第2電極中相對應之第2電極之第1端部，配置於上述第2配線部之上述複數個第2配線之各者係連接於上述複數個第2電極中相對應之第2電極之第2端部，上述第1電路部係於通過上述複數個第1配線對上述觸碰檢測區域之複數個第1電極依序施加上述觸碰驅動信號之脈衝之掃描驅動時，產生根據由該脈衝被傳輸至上述複數個第2電極之上述第1端部或第2端部中較近者為止之距離之差異所導致之時間常數之差異而經調整上述脈衝週期的脈衝，並施加至上述複數個第1電極。
(10)於上述觸碰檢測區域中，上述複數個第1電極係於上述觸碰檢測區域內之第1位置分割成第1電極部及第2電極部，上述複數個第1配線係配置於配置在上述周邊區域之第1區域之第1配線部、及配置在上述周邊區域之第2區域之第2配線部，配置於上述第1配線部之上述複數個第1配線之各者係連接於上述複數個第1電極中相對應之第1電極之第1電極部之端部，配置於上述第2配線部之上述複數個第1配線之各者係連接於上述複數個第1電極中相對應之第1電極之第2電極部之端部，上述複數個第2配線係以上述觸碰檢測區域內之第1位置為邊界而於一側區域與另一側區域間時間常數不同；上述第1電路部包含：一電路部，其進行通過上述第1配線部對上述觸碰檢測區域之複 數個第1電極之第1電極部依序施加上述觸碰驅動信號之脈衝的掃描驅動；及另一電路部，其進行通過上述第2配線部對上述觸碰檢測區域之複數個第1電極之第2電極部依序施加上述觸碰驅動信號之脈衝的掃描驅動；針對上述複數個第1電極之每一個，自上述一電路部對上述第1電極部之各者施加之第1脈衝與自上述另一電路部對上述第2電極部之各者施加之第2脈衝間，根據上述第2配線之時間常數之差異而上述脈衝週期被調整為不同。
(11)進而，一實施形態之觸碰感測器裝置包含變更自上述第1電路部對上述複數個第1電極之至少1個施加之上述觸碰驅動信號之脈衝週期或脈衝數量的脈衝變更部。尤其，一實施形態之觸碰感測器裝置包含檢測雜訊之雜訊檢測部，上述脈衝變更部係基於由上述雜訊檢測部檢測到之雜訊，而變更上述觸碰驅動信號之脈衝。
(12)一實施形態之顯示裝置包含：顯示面板部，其包含像素構成為矩陣狀之顯示區域、及用以控制上述像素之顯示狀態之顯示功能層，且於一面連接有上述觸碰感測器裝置之面板部之面；及第3電路部，其對上述顯示區域之像素施加顯示驅動用之信號。
(13)一實施形態之顯示裝置包含：顯示面板部，其包括利用兼作顯示用與觸碰驅動用之複數個第1電極與複數個第2電極之對所得之複數個觸碰檢測單元構成為矩陣狀的觸碰檢測區域、包含上述複數個第1電極之像素構成為矩陣狀之顯示區域、及用以控制上述像素之顯示之狀態之顯示功能層；產生觸碰驅動信號之脈衝及上述顯示用之共通驅動之信號並施加至上述複數個第1電極的第1電路部、及輸入有基於上述觸碰驅動信號之脈衝之來自上述複數個第2電極之脈衝並將其檢測為觸碰檢測信號的第2電路部；第3電路部，其對上述顯示區域之像素施加顯示驅動用之信號；配置於上述觸碰檢測區域之周邊區域之將上述複數個第1電極與上述第1電路部連接之複數個第1配線及將上述 複數個第2電極與上述第2電路部連接之複數個第2配線；及複數個路徑，其等傳輸上述觸碰驅動信號之脈衝且包含上述複數個第1配線、上述複數個第1電極、上述複數個觸碰檢測單元、上述複數個第2電極、及上述複數個第2配線；上述第1電路部係根據對於上述複數個路徑之時間常數之差異，產生具有不同之脈衝週期之複數種脈衝並施加至上述複數個第1電極。
(14)一實施形態之電子機器包含：上述觸碰感測器裝置；及控制部，其對上述觸碰感測器裝置進行與觸碰感測器功能相關之控制，獲取利用上述觸碰感測器裝置根據上述第2電路部之上述觸碰檢測信號而獲得之觸碰檢測資訊。
(15)一實施形態之電子機器包含：上述顯示裝置；及控制部，其對上述顯示裝置進行與觸碰感測器功能相關之控制及與顯示功能相關之控制，獲取利用上述觸碰感測器功能根據上述第2電路部之上述觸碰檢測信號而獲得之觸碰檢測資訊。
根據本發明中代表性之形態，關於觸碰感測器裝置或附有觸碰感測器之顯示裝置，可縮短觸碰檢測區域之觸碰驅動時間及觸碰檢測期間或者抑制觸碰檢測區域之觸碰驅動時間及觸碰檢測期間增大。又，根據本發明中代表性之形態，藉由縮短上述時間或者抑制上述時間增大而實現有效率之觸碰檢測，並且可使用藉由縮短上述時間或者抑制上述時間增大而獲得之時間裕度來維持或提高觸碰檢測之靈敏度。
又，根據本發明中代表性之形態，對於觸碰檢測區域或顯示區域之大小擴大或高解像度化，亦可縮短觸碰檢測區域之觸碰驅動時間及觸碰檢測期間或者抑制觸碰檢測區域之觸碰驅動時間及觸碰檢測期間增大。又，根據本發明中代表性之形態，可實現使用藉由縮短上述 時間或者抑制上述時間增大而獲得之時間裕度的利用雜訊檢測之脈衝變更功能等，藉由該功能，可維持或提高觸碰檢測靈敏度。又，根據本發明中代表性之形態，藉由觸碰檢測期間之縮短，可提高觸碰檢測資訊之報告率。
1a、1b、1c、1d、1e、1f、1g、1h、2a、2b‧‧‧觸碰感測器裝置
2c‧‧‧附有觸碰感測器之顯示裝置
3a、4a‧‧‧液晶觸碰面板模組
5、5A、5B、5C‧‧‧面板部
10‧‧‧液晶顯示面板部
11A、11B‧‧‧TFT基板
12A、12B‧‧‧彩色濾光片基板
13‧‧‧液晶層
14‧‧‧共通電極層
15‧‧‧像素電極層
16‧‧‧介電體層
20‧‧‧觸碰面板部
21‧‧‧基板層
22‧‧‧介電體層
23‧‧‧保護層
24‧‧‧觸碰驅動電極層
25‧‧‧觸碰檢測電極層
35‧‧‧TFT元件
36‧‧‧保持電容
45‧‧‧觸碰檢測電極層
50‧‧‧觸碰感測器電路
51、51A、51B‧‧‧觸碰驅動部
51a‧‧‧觸碰驅動部
51b‧‧‧觸碰驅動部
51g‧‧‧觸碰驅動部
52‧‧‧觸碰檢測部
52g‧‧‧區域
61a‧‧‧配線部
61b‧‧‧配線部
66‧‧‧配線
66_1~66_M‧‧‧配線
66a‧‧‧配線部
66b‧‧‧配線部
71‧‧‧兼用電極
71_1~71_M‧‧‧兼用電極
72‧‧‧兼用電極層
80‧‧‧接著層
81‧‧‧第1電極
81a‧‧‧第1電極之焊墊部
82‧‧‧第2電極
82a‧‧‧第2電極之焊墊部
83‧‧‧第1配線
84‧‧‧第2配線
90A、90B、90C‧‧‧電子機器
90a‧‧‧電子機器
90a1‧‧‧殼體
90a2‧‧‧區域
90b‧‧‧電子機器
90b1‧‧‧殼體
90b2‧‧‧區域
90b3‧‧‧區域
90c‧‧‧電子機器
90c1‧‧‧殼體
90c2‧‧‧區域
90d‧‧‧電子機器
90d1‧‧‧殼體
90d2‧‧‧區域
90e‧‧‧電子機器
90e1‧‧‧殼體
90e2‧‧‧區域
90f‧‧‧電子機器
90f1‧‧‧殼體
90f2‧‧‧區域
91‧‧‧控制部
92‧‧‧記憶部
93‧‧‧輸入輸出I/F部
94‧‧‧輸入裝置
95‧‧‧輸出裝置
96‧‧‧通信I/F部
100‧‧‧液晶顯示電路
101‧‧‧閘極驅動器
102‧‧‧源極驅動器
103‧‧‧共通電極驅動部
111‧‧‧玻璃基板
112‧‧‧玻璃基板
113‧‧‧TFT層
114‧‧‧彩色濾光片層
120‧‧‧雜訊檢測電路部
130‧‧‧脈衝變更部
150‧‧‧用戶設定部
200‧‧‧雜訊檢測系統
201‧‧‧控制器
202‧‧‧控制器
203‧‧‧控制器
211‧‧‧第1個IC晶片
212‧‧‧第1個IC晶片
230‧‧‧軟性印刷基板
231‧‧‧第1端部
232‧‧‧第2端部
233‧‧‧第3端部
301‧‧‧脈衝源
301a‧‧‧脈衝源
301b‧‧‧脈衝源
302‧‧‧開關
303‧‧‧位準偏移器
304‧‧‧移位暫存器
305‧‧‧開關
306‧‧‧脈衝源
307‧‧‧開關
308‧‧‧線路
309‧‧‧線路
361‧‧‧觸碰檢測期間
362‧‧‧觸碰檢測期間
363‧‧‧觸碰檢測期間
400‧‧‧觸碰感測器裝置
401‧‧‧脈衝
402‧‧‧脈衝
403‧‧‧脈衝
460‧‧‧脈衝
461‧‧‧時間
471‧‧‧時間
472‧‧‧時間
473‧‧‧時間
481‧‧‧時間
482‧‧‧時間
483‧‧‧時間
490‧‧‧脈衝
491‧‧‧時間
492‧‧‧上升之時間
493‧‧‧下降之時間
494‧‧‧時間
510‧‧‧兼用電極驅動部
511‧‧‧脈衝產生電路部
512‧‧‧掃描電路部
513‧‧‧脈衝變更部
521‧‧‧觸碰位置計算部
530‧‧‧共通驅動部
540‧‧‧區域
801‧‧‧基板層
802‧‧‧絕緣層
803‧‧‧保護層
910‧‧‧脈衝產生電路部
911‧‧‧脈衝源
912‧‧‧位準偏移器
920‧‧‧掃描電路部
921‧‧‧移位暫存器
922‧‧‧開關
951‧‧‧觸碰驅動部
a‧‧‧線路
a1‧‧‧雜訊
a2‧‧‧雜訊檢測資訊
a3‧‧‧指示
a4‧‧‧輸入
a5‧‧‧設定資訊
Ac‧‧‧連接邊部
Ad‧‧‧顯示區域
Af‧‧‧周邊區域
Afa‧‧‧左邊部之區域
Afb‧‧‧右邊部之區域
AG‧‧‧畫面區域
As‧‧‧觸碰檢測區域
Asa‧‧‧區域
Asb‧‧‧區域
ASS‧‧‧交流信號源
b‧‧‧線路
BLK‧‧‧空閒時間
C‧‧‧電容
c‧‧‧線路
C1‧‧‧電容
C2‧‧‧電容
COM‧‧‧共通電極
d‧‧‧汲極端子
DEL‧‧‧介電體
DET‧‧‧電壓檢測器
F‧‧‧框期間
f0‧‧‧頻率
F1‧‧‧框期間
f1‧‧‧頻率
F2‧‧‧框期間
f2‧‧‧頻率
fa‧‧‧頻率
fb‧‧‧頻率
fz‧‧‧頻率
fM‧‧‧頻率
fMs‧‧‧頻率
g‧‧‧閘極端子
GL‧‧‧閘極線
h1‧‧‧寬度
HR‧‧‧配線
HR1~HRN‧‧‧配線
HR1a~HRNa‧‧‧配線
HRa‧‧‧配線部
HRb‧‧‧配線部
HT‧‧‧配線
HT1~HTM‧‧‧配線
HT1a‧‧‧配線
HT1b‧‧‧配線
HTa‧‧‧配線部
HTb‧‧‧配線部
I1‧‧‧電流
I2‧‧‧電流
k1‧‧‧路徑
k2‧‧‧路徑
k4‧‧‧路徑
k5‧‧‧路徑
kA‧‧‧路徑
kB‧‧‧路徑
kC‧‧‧路徑
kM‧‧‧路徑
Kd‧‧‧顯示期間
Kd1‧‧‧顯示期間
Kd2‧‧‧顯示期間
KdA‧‧‧顯示期間
KdB‧‧‧顯示期間
Kd1a~KdJa‧‧‧顯示期間
Kd1b~KdJb‧‧‧顯示期間
Ks‧‧‧觸碰檢測期間
Ks1‧‧‧觸碰檢測期間
Ks2‧‧‧觸碰檢測期間
KsA‧‧‧觸碰檢測期間
KsB‧‧‧觸碰檢測期間
Ks1a~KsJa‧‧‧觸碰檢測期間
Ks1b~KsJb‧‧‧觸碰檢測期間
L1‧‧‧中心線
m‧‧‧脈衝數
ma‧‧‧脈衝數
mb‧‧‧脈衝數
P‧‧‧脈衝
p‧‧‧節點
P0‧‧‧脈衝
P0a‧‧‧脈衝
P0b‧‧‧脈衝
Pa‧‧‧脈衝
Pc‧‧‧脈衝
PA‧‧‧脈衝
PB‧‧‧脈衝
PC‧‧‧脈衝
P1~PM‧‧‧脈衝
p1~pM‧‧‧源信號
P1a~PMa‧‧‧脈衝
p1a~pMa‧‧‧源信號
P1b~PMb‧‧‧脈衝
p1b~pMb‧‧‧源信號
Pi‧‧‧脈衝
PIX‧‧‧像素電極
PMs‧‧‧脈衝
q1‧‧‧點
q2‧‧‧點
q4‧‧‧點
q5‧‧‧點
qA‧‧‧點
qB‧‧‧點
qC‧‧‧點
qE‧‧‧點
qM‧‧‧點
R‧‧‧電阻
Ra‧‧‧區域
Rb‧‧‧區域
Rx‧‧‧觸碰檢測電極
Rx1~RxN‧‧‧觸碰檢測電極
s‧‧‧源極端子
s1‧‧‧背面
s2‧‧‧正面
s3‧‧‧背面
s4‧‧‧正面
s5‧‧‧下表面
s6‧‧‧上表面
Sc‧‧‧連接邊
Sc1‧‧‧連接邊
Sc2‧‧‧連接邊
SL‧‧‧源極線
Sr‧‧‧觸碰檢測信號
St‧‧‧觸碰驅動信號
Sta‧‧‧觸碰驅動信號
Stb‧‧‧觸碰驅動信號
SWa‧‧‧開關
SWb‧‧‧開關
t‧‧‧時間
t0‧‧‧時間
ta‧‧‧時間
t1a‧‧‧時間
t1b‧‧‧時間
T1a‧‧‧觸碰驅動時間
T1b‧‧‧觸碰驅動時間
tA‧‧‧時間
tA1‧‧‧時間
tA2‧‧‧時間
Tall‧‧‧總觸碰驅動時間
TallA‧‧‧總觸碰驅動時間
TallB‧‧‧總觸碰驅動時
Talls‧‧‧總觸碰驅動時間
TA‧‧‧觸碰驅動時間
TB‧‧‧觸碰驅動時間
TC‧‧‧觸碰驅動時間
T1‧‧‧觸碰驅動時間
T2‧‧‧觸碰驅動時間
T4‧‧‧觸碰驅動時間
T5‧‧‧觸碰驅動時間
t1‧‧‧時間
t2‧‧‧時間
tb‧‧‧時間
tB‧‧‧時間
tB1‧‧‧時間
tB2‧‧‧時間
tC‧‧‧時間
tC1‧‧‧時間
tC2‧‧‧時間
ti‧‧‧時間
Tia‧‧‧觸碰驅動時間
Tib‧‧‧觸碰驅動時間
tM‧‧‧時間
TM‧‧‧觸碰驅動時間
TMa‧‧‧觸碰驅動時間
TMb‧‧‧觸碰驅動時間
tMs‧‧‧時間
TMs‧‧‧觸碰驅動時間
TW‧‧‧時間
Tw‧‧‧縮短之時間
Tx‧‧‧觸碰驅動電極
Tx1~TxM‧‧‧觸碰驅動電極
Tx1a~TxMa‧‧‧觸碰驅動電極
Tx1b~TxMb‧‧‧觸碰驅動電極
Txa‧‧‧觸碰驅動電極
Txb‧‧‧觸碰驅動電極
TxE‧‧‧觸碰驅動電極
TxGA‧‧‧組
TxGB‧‧‧組
TxGC‧‧‧組
Txi‧‧‧觸碰驅動電極
Tα‧‧‧時間
Tβ‧‧‧時間
U‧‧‧觸碰檢測單元
V1‧‧‧電壓
V2‧‧‧電壓
Vcom‧‧‧共通電壓
Vpix‧‧‧像素電壓
Vt‧‧‧電壓
Vth‧‧‧閾值電壓
VtxH‧‧‧高電壓側電壓
VtxL‧‧‧低電壓側電壓
X‧‧‧方向
Y‧‧‧方向
Z‧‧‧方向
τ‧‧‧時間常數
τ1‧‧‧時間常數
τ2‧‧‧時間常數
τA‧‧‧時間常數
τB‧‧‧時間常數
τC‧‧‧時間常數
τM‧‧‧時間常數
τN‧‧‧時間常數
圖1係作為本發明之實施形態1A之觸碰感測器裝置之概要而表示包含電極、配線及電路部之XY平面之構成例的圖。
圖2係表示實施形態1A中之包含配線之路徑、時間常數、脈衝等之構成例之圖。
圖3(a)~(c)係表示實施形態1A中之觸碰驅動序列例之圖。
圖4係表示實施形態1A及實施形態1B等中之觸碰驅動信號之脈衝之例之圖。
圖5係表示實施形態1A中之觸碰驅動部之電路之構成例之圖。
圖6係作為實施形態1A之變化例而表示觸碰驅動部之電路之構成例之圖。
圖7係表示實施形態1A之觸碰感測器裝置之面板部之概略之XZ剖面之圖。
圖8(A)係表示實施形態1A中之電極等之構成例之圖，(B)係表示觸碰檢測區域及觸碰檢測單元之構成例之圖。
圖9係表示實施形態1A之觸碰感測器裝置中之模組整體之構成、及包含該模組之電子機器之構成的圖。
圖10係表示本發明之實施形態1B之觸碰感測器裝置中之包含電極及配線之XY平面之構成例的圖。
圖11(a)~(c)係表示實施形態1B中之觸碰驅動序列例之圖。
圖12係表示本發明之實施形態1C之觸碰感測器裝置之XY平面之構成例的圖。
圖13係表示本發明之實施形態1D之觸碰感測器裝置之XY平面之構成例的圖。
圖14係表示本發明之實施形態1E之觸碰感測器裝置中之包含電極及配線之XY平面之構成例的圖。
圖15係表示本發明之實施形態1F之觸碰感測器裝置中之包含電極及配線之XY平面之構成例的圖。
圖16(a)~(d)係表示實施形態1F中之觸碰驅動序列例之圖。
圖17係表示本發明之實施形態1G之觸碰感測器裝置中之包含電極及配線之XY平面之構成例的圖。
圖18係表示實施形態1G中之觸碰驅動部之電路之構成例之圖。
圖19係表示本發明之實施形態1H之觸碰感測器裝置中之包含電極及配線之XY平面之構成例的圖。
圖20(A)及(B)係表示實施形態1H中之電極之構成例之圖。
圖21係作為本發明之實施形態2A之觸碰感測器裝置之概要而表示包含電極、配線及電路部之XY平面之構成例的圖。
圖22(a)~(d)係表示實施形態2A中之觸碰驅動序列例之圖。
圖23(a)、(b)係表示本發明之實施形態2B之觸碰感測器裝置中之觸碰驅動序列之圖。
圖24係表示本發明之實施形態2C之附有觸碰感測器之顯示裝置中之電路部之功能方塊構成的圖。
圖25係作為本發明之實施形態3A之附有觸碰感測器之顯示裝置之概要而表示包含電極、配線及電路部之XY平面之構成例的圖。
圖26係表示實施形態3A之附有觸碰感測器之顯示裝置之面板部之概略之XZ剖面的圖。
圖27係表示實施形態3A中之液晶顯示裝置之像素之構成之圖。
圖28係表示實施形態3A之附有觸碰感測器之顯示裝置之包括電 路功能方塊之構成、及包含該顯示裝置之電子機器之構成的圖。
圖29(a)~(h)表示實施形態3A或實施形態4A中之框期間之各信號及電壓之時序圖之構成例。
圖30(a)~(d)係表示實施形態3A中之驅動期間之構成例之圖。
圖31係作為本發明之實施形態4A之附有觸碰感測器之顯示裝置之概要而表示包含電極、配線及電路部之XY平面之構成例的圖。
圖32係表示實施形態4A之附有觸碰感測器之顯示裝置之面板部之概略之XZ剖面之構成的圖。
圖33係表示實施形態4A之附有觸碰感測器之顯示裝置之包括電路功能方塊之構成、及包含該顯示裝置之電子機器之構成的圖。
圖34係表示實施形態4A中之與兼用電極驅動部相關之構成例的圖。
圖35(A)及(B)係表示實施形態4A中之液晶觸碰面板模組之安裝之構成例之圖。
圖36(a)、(b1)、(b2)、(c)、(d)係表示實施形態4A中之驅動期間之構成例之圖。
圖37(a)、(b)係表示作為一實施形態之電子機器而為智慧型手機之情形時之外觀的圖。
圖38(a)、(b)係表示作為一實施形態之電子機器而為行動電話之情形時之外觀的圖。
圖39係表示作為一實施形態之電子機器而為電視裝置之情形時之外觀的圖。
圖40係表示作為一實施形態之電子機器而為筆記型PC之情形時之外觀的圖。
圖41係表示作為一實施形態之電子機器而為數位相機之情形時之外觀的圖。
圖42係表示作為一實施形態之電子機器而為數位視訊攝影機之情形時之外觀的圖。
圖43係作為比較例而表示觸碰感測器裝置或附有觸碰感測器之顯示裝置之觸碰感測器部分中之包含電極及配線之XY平面之構成例的圖。
圖44係表示圖43之構成中之包含電極及配線之路徑、時間常數、脈衝等之例的圖。
圖45(a)~(c)係表示圖43之構成中之觸碰驅動序列之例的圖。
圖46(a)至(c)係表示比較例中之觸碰驅動信號之脈衝之例之圖。
圖47(A)及(B)係表示關於圖45之觸碰驅動序列而將脈衝時間變更為更大之情形的圖。
圖48係表示圖45之構成中之觸碰驅動部之電路之構成例之圖。
圖49(A)(a)、(b)係表示比較例中之觸碰感測器之驅動期間即觸碰檢測期間之時間之增大的圖，(B)(a)、(b1)、(b2)、(c)、(d1)、(d2)係表示附有觸碰感測器之顯示裝置之驅動期間即顯示期間及觸碰檢測期間之時間之增大等的圖。
圖50(a)至(c)係表示比較例中之靜電電容方式之觸碰感測器裝置之原理的圖。
以下，根據圖式對本發明之實施形態詳細地進行說明。再者，於用以說明實施形態之所有圖中，對相同部分原則上標註相同符號並省略其重複之說明。又，為了容易理解地表示，適當省略剖面線。為了便於說明，作為構成裝置中之觸碰檢測區域等面之方向，將面內水平方向設為X方向，將面內垂直方向設為Y方向，將對於利用該X方向及Y方向獲得之觸碰檢測區域等面之垂直方向或者觸碰感測器裝置等之厚度方向設為Z方向。
<概要等>
以下，對本實施形態之觸碰感測器裝置及附有觸碰感測器功能之顯示裝置進行說明。本實施形態之觸碰感測器裝置之概要例如示於下述之圖1或圖21中。本實施形態之附有觸碰感測器功能之顯示裝置之概要例如示於下述之圖25或圖31中。例如，本實施形態之觸碰感測器裝置及附有觸碰感測器之顯示裝置為如下構成，即，作為用於觸碰感測器功能之觸碰驅動中之對於觸碰檢測區域As之複數個觸碰驅動電極Tx之觸碰驅動信號St，自電路部產生已根據由牽引配線或包含其之路徑之長度之差異所導致之時間常數之差異進行調整的時間不同之複數種脈衝P，並施加至觸碰驅動電極Tx。作為該脈衝P，例如，包含對於上述配線或路徑相對較長而時間常數較大之作為上述最差條件之部位之第1觸碰驅動電極Tx的第1脈衝、及對於上述配線或路徑相對較短而時間常數較小之作為上述性能過剩之部位之第2觸碰驅動電極Tx的第2脈衝。各脈衝之時間係調整為相當於可確保充分之觸碰檢測靈敏度之最佳之長度，第2脈衝之時間較第1脈衝之時間短。根據本構成，關於比較例之針對脈衝而言性能過剩之部位之觸碰驅動時間，亦可使其最佳化而縮短。即，可縮短觸碰檢測區域As之觸碰驅動時間及觸碰檢測期間或者抑制觸碰檢測區域As之觸碰驅動時間及觸碰檢測期間增大。
<比較例>
首先，以下，利用圖43至圖50，針對觸碰感測器裝置及附有觸碰感測器之顯示裝置，對與本實施形態之比較例進行說明。
[(1)面板部平面]
圖43表示比較例之觸碰感測器裝置或附有觸碰感測器之顯示裝置之觸碰感測器部分中之包含電極及配線之XY平面的構成例。於觸碰感測器裝置或附有觸碰感測器之顯示裝置之面板部5中，作為構成 觸碰感測器功能之電極，包含並排於X方向上之觸碰驅動電極Tx及並排於Y方向上之觸碰檢測電極Rx。面板部5係於XY平面中之於Y方向上較長之長方形之區域中包含觸碰檢測區域As、周邊區域Af、及連接邊部Ac。
面板部5係於作為觸碰檢測區域As之長方形之面中，包含於Z方向之第1層與X方向平行地延伸且並列設置於Y方向上的複數個觸碰驅動電極Tx、及於Z方向之第2層與Y方向平行地延伸且並列設置於X方向上的複數個觸碰檢測電極Rx。於觸碰檢測區域As中藉由複數個觸碰驅動電極Tx與複數個觸碰檢測電極Rx之對而複數個觸碰檢測單元U構成為矩陣狀。於觸碰檢測區域As中，觸碰驅動電極Tx與觸碰檢測電極Rx之電極對係於Z方向上隔開特定距離地配置並且於來自Z方向之XY俯視時交叉。將對應地形成於該電極對之交叉部之附近之電容定義為觸碰檢測單元U。對複數(設為M)根觸碰驅動電極Tx自Y方向上側起依序利用觸碰驅動電極Tx1至觸碰驅動電極TxM表示。對複數(設為N)根觸碰檢測電極Rx自X方向左側起依序利用觸碰檢測電極Rx1至觸碰檢測電極RxN表示。再者，於圖43中，例示M=8、N=8之情形。
於周邊區域Af中形成有將觸碰檢測區域As之觸碰驅動電極Tx之端部與連接邊Sc之間連接之作為牽引配線的配線HT、及將觸碰檢測區域As之觸碰檢測電極Rx之端部與連接邊Sc之間連接之作為牽引配線的配線HR。利用配線HT1至配線HTM表示連接於觸碰驅動電極Tx之M根配線HT。利用配線HR1至配線HRN表示連接於觸碰檢測電極Rx之N根配線HR。再者。於圖43中，尤其示出如下情形，即，作為配線HT，於觸碰檢測區域As之X方向左右之周邊區域Af之區域以左右對稱形狀設置2個配線部即配線部HTa及配線部HTb。1個觸碰驅動電極Tx係於X方向左右兩側之端部連接於配線部HTa及配線部HTb， 自該兩側之端部施加觸碰驅動信號之脈衝。
連接邊部Ac包含安裝有觸碰驅動部等之電路部之區域。連接邊Sc係連接配線HT及配線HR之連接邊部Ac之上邊，表示與周邊區域Af之邊界線。周邊區域Af之配線HT及配線HR係自觸碰檢測區域As之電極端部引出至至少連接邊Sc為止，連接於連接邊Sc之端子或連接邊部Ac內之電路部之端子。
[(2)路徑、時間常數及脈衝]
圖44表示與圖43之構成相對應的包含電極及配線之路徑、時間常數、觸碰驅動信號之脈衝之施加等之構成例。作為觸碰驅動電極Tx，觸碰驅動電極Tx1距離連接邊Sc最遠，且觸碰驅動電極TxM距離連接邊Sc最近。觸碰驅動電極Tx2距離連接邊Sc第二遠。又，觸碰驅動電極TxE表示觸碰檢測區域As中之Y方向中間附近位置之觸碰驅動電極Tx、此處觸碰驅動電極Tx4之情形。又，點q1、點q2、點qE及點qM表示觸碰檢測區域As中之X方向中間附近位置、此處設為觸碰檢測電極Rx4之情形時的與觸碰檢測單元U相對應之位置之例。例如，點q1表示對應於觸碰驅動電極Tx1與觸碰檢測電極Rx4之交叉部而構成之觸碰檢測單元U之位置。
又，利用時間常數τ1、時間常數τ2至時間常數τM表示各配線HT之時間常數τ。例如，配線HT1之時間常數為τ1，配線HTM之時間常數為τM。距離連接邊Sc較遠之觸碰驅動電極Tx1之配線HT1比距離連接邊Sc較近之觸碰驅動電極TxM之配線HTM長，而時間常數τ較大且為τ1>τM。與上述配線HT1及配線HTM之情形同樣地，根據各配線HT之長度之關係可知τ1>τ2>......>τM。
路徑k1、路徑k2、及路徑kM表示包含觸碰驅動電極Tx、觸碰檢測電極Rx、配線HT、及配線HR之路徑之例。作為傳輸觸碰驅動信號St之脈衝P0之路徑，自安裝於連接邊部Ac內之觸碰驅動部之電路起依 序為周邊區域Af之配線HT、觸碰檢測區域As之觸碰驅動電極Tx、觸碰檢測單元U、觸碰檢測電極Rx、周邊區域Af之配線HR、及連接邊部Ac內之觸碰檢測部之電路。例如，路徑k1係配線HT1、觸碰驅動電極Tx1、點q1、觸碰檢測電極Rx4、及配線HR4之順序。路徑k2係配線HT2、觸碰驅動電極Tx2、點q2、觸碰檢測電極Rx4、及配線HR4之順序。路徑kM係配線HTM、觸碰驅動電極TxM、點qM、觸碰檢測電極Rx4、及配線HR4之順序。包含上述配線HT1及觸碰驅動電極Tx1之路徑k1較包含上述配線HTM及觸碰驅動電極TxM之路徑kM長，而該路徑中之時間常數較大。再者，觸碰檢測部之電路係將來自配線HR之脈衝檢測為觸碰檢測信號Sr。
於比較例中，於掃描驅動時，自連接邊部Ac之觸碰驅動部之電路對觸碰檢測區域As內之複數個觸碰驅動電極Tx即觸碰驅動電極Tx1至觸碰驅動電極TxM一律施加同種觸碰驅動信號St之脈衝P0。該脈衝P0係配合作為上述最差條件之部位之觸碰驅動電極Tx1之配線HT1之時間常數τ1而規定其時間或電壓等。因此，於如距離電路部較近之觸碰驅動電極TxM般之部位，就該脈衝P0而言，為性能過剩，而觸碰驅動時間產生浪費。
再者，除配合如觸碰驅動電極Tx1般之最差條件之部位規定脈衝P0以外，例如，亦有配合觸碰檢測區域As內之中間附近位置之觸碰驅動電極TxE例如觸碰驅動電極Tx4之部位而規定該脈衝P0之時間等的情形。於此情形時，於使用該脈衝P0之掃描驅動中，於如觸碰驅動電極Tx1般之位置，因時間不足而觸碰檢測變得不穩定。
[(3)觸碰驅動序列]
圖45表示與圖43及圖44之構成相對應的利用觸碰檢測區域As之複數個觸碰驅動電極Tx之掃描驅動之觸碰驅動之序列例。此時，自連接邊部Ac之觸碰驅動部之電路產生觸碰驅動信號St之脈衝P0，並依序 施加至觸碰檢測區域As內之複數個觸碰驅動電極Tx。該掃描驅動時之掃描順序例如自Y方向上側起依序、即為觸碰驅動電極Tx1、觸碰驅動電極Tx2至觸碰驅動電極TxM。
圖45(a)表示施加至觸碰驅動電極Tx1之觸碰驅動信號St之脈衝P0、及觸碰驅動電極Tx1之觸碰驅動時間T1。同樣地，圖45(b)表示對觸碰驅動電極Tx2施加之脈衝P0及觸碰驅動時間T2。圖45(c)表示對觸碰驅動電極TxM施加之脈衝P0及觸碰驅動時間TM。1個脈衝P0具有根據上述最差條件規定之時間t0即脈衝週期、及與該脈衝週期相對應之頻率f0。於每一次掃描時，對1個觸碰驅動電極Tx施加頻率f0之複數(設為m)個脈衝P0。再者，於圖45中表示為提高觸碰檢測之靈敏度而對每一觸碰驅動電極Tx施加m個脈衝P0之例。由於對觸碰檢測區域As內之各觸碰驅動電極Tx施加相同之脈衝P0，故各觸碰驅動電極Tx之觸碰驅動時間T相同，為T=T1=T2=......=TM=t0×m。
Tall表示包括上述觸碰驅動電極Tx之每一個之觸碰驅動時間T即觸碰驅動時間T1至觸碰驅動時間TM的觸碰檢測區域As之整體中之總觸碰驅動時間。總觸碰驅動時間Tall之長度大致相當於下述之圖49之觸碰檢測期間Ks之長度。總觸碰驅動時間Tall係Tall≒T1+T2+......+TM=M×T=M×t0×m。再者，觸碰檢測期間Ks係包括總觸碰驅動時間Tall之期間，於圖45之情形時，由於在各觸碰驅動時間T之間確保較短之時間，故相應地，觸碰檢測期間Ks較總觸碰驅動時間Tall長。上述時間t0及脈衝數m為固定之情形時，根據觸碰驅動電極Tx之電極數且掃描數即M，總觸碰驅動時間Tall及觸碰檢測期間Ks變長。又，使每一脈衝P0之時間t0越大，總觸碰驅動時間Tall越長。
[(4)觸碰驅動信號脈衝]
圖46表示上述觸碰驅動信號St之脈衝P0之詳細情況。圖46(a)中之脈衝Pa、及圖46(b)中之脈衝Pc係簡略地表示與基於上述配線或路 徑之長度之差異之時間常數之差異相對應之脈衝P0之響應性之差異之例。自觸碰驅動部之電路產生並輸出之脈衝P0係由時間t0、電壓Vt規定。時間t0為脈衝週期，頻率f0係f0=1/t0。圖46(a)及圖46(b)所示之脈衝460係對觸碰驅動電極Tx施加之脈衝之例，表示與利用觸碰驅動部之電路產生後之狀態相當之理想之矩形波。時間461表示脈衝460之脈衝週期。圖46(a)係脈衝460施加至觸碰驅動電極Tx1之情形，脈衝Pa表示因包含觸碰驅動電極Tx1之路徑上之脈衝460之傳輸而響應性降低之狀態。同樣地，圖46(b)係脈衝460施加至觸碰驅動電極TxM之情形，脈衝Pc表示因包含觸碰驅動電極TxM之路徑上之脈衝460之傳輸而響應性降低之狀態。
於圖46(a)中，時間471表示相當於脈衝Pa之脈衝週期之時間。時間472表示相當於包括脈衝Pa之上升時間在內之脈衝寬度之時間，時間473表示包括脈衝Pa之下降時間在內之時間。同樣地，於圖46(b)中，時間481表示相當於脈衝Pc之脈衝週期之時間。時間482表示包括脈衝Pc之上升時間在內之時間，時間483表示包括脈衝Pc之下降時間在內之時間。如上述般，脈衝Pa之時間471、及脈衝Pc之時間481係根據由路徑之長度及時間常數之差異所導致之響應性之差異而成為不同之長度。
時間常數τ一般地為表示電路之響應性之指標，影響脈衝相對於電路之輸入輸出中之脈衝之上升及下降。時間常數τ係使用電路之電阻值R及電容值C而以τ≒R×C表示。若根據牽引配線之長度而電阻值R及電容值C變大，則時間常數τ變大。若時間常數τ變大，則脈衝P0之上升及下降變慢。例如，作為標準之脈衝而將特定時間中之上升之到達電壓值設為1V時，於時間常數τ較大之情形時，上升變慢，相同之特定時間中之到達電壓值下降至例如0.8V。作為輸出而需要相同之1V之到達電壓值之情形時，必須延長該脈衝之特定時間。
如經過成為上述最差條件之觸碰驅動電極Tx1之部位之路徑k1般，配線HT1之時間常數τ1較大之情形時，脈衝460係於傳輸時如上述圖46(a)之脈衝Pa般響應性下降。即，脈衝Pa係根據時間常數之大小而上升及下降變慢，包括上升之時間472、及包括下降之時間473分別變長，相當於脈衝週期之時間461變長為時間471般。另一方面，如經過上述觸碰驅動電極TxM之部位之路徑kM般，配線HTM之時間常數τM較小之情形時，脈衝460係於傳輸時如上述圖46(b)之脈衝Pc般響應性與脈衝Pa相比良好。
由此，為了亦對包含成為上述最差條件之觸碰驅動電極Tx1之路徑確保充分之觸碰檢測靈敏度，必須考慮圖46(a)之脈衝Pa之時間471而規定脈衝P0之時間t0。圖46(c)表示配合上述最差條件之部位之時間常數，考慮上述脈衝Pa之時間471而規定之具有較時間471長之時間491的脈衝490。脈衝490之脈衝週期即時間491包括包含上升之時間492及包含下降之時間493。先前，於一般之設計中，脈衝P0之時間t0係如上述脈衝490之時間491般配合上述最差條件之部位之時間常數，考慮上述脈衝Pa之時間471而規定。
藉由配合上述最差條件之部位之時間常數規定每一上述脈衝P0之時間t0，雖然亦對包含觸碰驅動電極Tx1之路徑確保充分之觸碰檢測靈敏度，但圖45之總觸碰驅動時間Tall變長。將具有上述時間491之脈衝490設為脈衝P0之情形時，於如圖46(b)般包含觸碰驅動電極TxM之較短之路徑中，該脈衝P0之時間491係於時間上變得性能過剩。
[(5)因脈衝時間變更而導致之觸碰驅動時間之增大]
進而，圖47係對關於圖45之利用觸碰驅動信號St之脈衝P0之觸碰驅動之序列而將脈衝P0之時間t0變更為更長之情形時的總觸碰驅動時間Tall之增大進行表示。圖47(A)表示利用與圖45相同之時間t0即時間ta之脈衝P0a之觸碰驅動中之總觸碰驅動時間TallA。再者，與時間ta 相對應之頻率利用fa表示，脈衝數m為固定。
與此相對，圖47(B)表示利用將脈衝P0a之時間ta變更為更長之時間tb之脈衝P0b的相同之觸碰驅動中之總觸碰驅動時間TallB。脈衝P0b之頻率fb低於脈衝P0a之頻率fa。根據ta<tb、T=t0×m，圖47(A)之各觸碰驅動電極Tx之觸碰驅動時間T即觸碰驅動時間T1a至觸碰驅動時間TMa係變長為如圖47(B)之觸碰驅動時間T1b至觸碰驅動時間TMb般。由於總觸碰驅動時間Tall≒M×t0×m，故TallB>TallA。
再者，作為利用與觸碰感測器裝置相關之公知技術之功能之1個，存在根據雜訊檢測變更觸碰驅動信號St之脈衝P0之時間t0及頻率f0的功能。為了便於說明，將該功能稱為「脈衝變更功能」。例如，相對於觸碰驅動信號St之脈衝P0之頻率f0同步般之雜訊進入之情形時，換言之，雜訊之頻率與脈衝P0之頻率f0接近之情形時，觸碰檢測靈敏度下降。因此，藉由使用上述脈衝變更功能變更脈衝P0之時間t0及頻率f0，可維持或提高觸碰檢測靈敏度。
然而，使用上述脈衝變更功能，例如如自圖47(A)之脈衝P0a之時間ta變化為圖47(B)之脈衝P0b之時間tb般將脈衝P0之時間t0變更為更長之情形時，由於利用相同之脈衝P0b對觸碰檢測區域As內之所有觸碰驅動電極Tx進行驅動，故需要如總觸碰驅動時間TallB般較長之時間。換言之，所需之觸碰檢測期間Ks如下述之圖49(A)般自觸碰檢測期間KsA增大至觸碰檢測期間KsB。藉此，觸碰檢測資訊之報告率變低。再者，此處言及之報告率係自使用觸碰檢測信號Sr檢測觸碰之有無或位置等之觸碰檢測部對外部或上位裝置輸出並報告觸碰檢測資訊的速率。報告率係利用1/Tall表示。
於比較例之觸碰驅動信號St之脈衝P0之設計中，由於如上述般配合最差條件之部位而規定脈衝P0之時間t0，故於欲使用如上所述之與觸碰感測器功能相關聯之脈衝變更功能等其他功能之情形時，時間裕 度亦變少。例如，欲藉由脈衝變更功能將脈衝P0之時間t0變更為更長之情形時，亦難以使時間ta至時間tb之偏移量增大。
[(6)觸碰驅動部]
圖48係表示對應於圖43之構成而安裝於連接邊部Ac之觸碰驅動部951之構成例。再者，於圖48中，表示與圖43之左側之配線部HTa相對應之電路部分，但於左右兩側為相同之構成。觸碰驅動部951包含脈衝產生電路部910與掃描電路部920。脈衝產生電路部910包含脈衝源911與位準偏移器912。掃描電路部920包含移位暫存器921與開關922。
脈衝源911係產生成為對觸碰驅動電極Tx施加之單一種類之脈衝P0之來源之單一之源信號p0並輸入至位準偏移器912。位準偏移器912係轉換源信號p0之電壓位準而輸出具有高電壓側電壓VtxH與低電壓側電壓VtxL之間之電壓位準之脈衝P0。位準偏移器912之輸出線路係連接於配線HT中之配線HT1至配線HTM。於各配線HT之中途設置有開關922。掃描電路部920係根據複數個觸碰驅動電極Tx之掃描驅動之掃描順序切換來自移位暫存器921之信號之輸出，控制開關922之接通及斷開。藉此，如圖45般於觸碰驅動電極Tx之每一次掃描中施加m個脈衝P0。
[(7)驅動期間]
圖49(A)表示比較例之觸碰感測器裝置之情形時之驅動期間即觸碰檢測期間Ks之增大之例。圖49(B)表示比較例之附有觸碰感測器之顯示裝置之情形時之驅動期間即顯示期間Kd及觸碰檢測期間Ks之增大之例。
於圖49(A)中，圖49(A)(a)係作為觸碰檢測區域As之整體之驅動所需之觸碰檢測期間Ks而表示增大前之長度之觸碰檢測期間KsA。圖49(A)(b)表示相對於圖49(A)(a)因上述脈衝P0之時間t0之增加或觸碰驅 動電極Tx之電極數之增加等而長度增大的觸碰檢測期間KsB。於觸碰感測器功能專用之觸碰感測器裝置之情形時，基本上，獨立於顯示裝置之顯示功能或者其顯示期間，因此，觸碰檢測期間Ks之長度可變，但觸碰檢測期間Ks越短越有效率而較為理想。又，於on-cell型之液晶觸碰面板模組等中獨立地驅動觸碰感測器功能與顯示功能之情形時，與上述觸碰感測器裝置之情形同樣地，觸碰檢測期間Ks之長度可變。然而，如上所述，為了實現有效率之觸碰檢測例如提高報告率，理想的是使觸碰檢測期間Ks之長度變短。
圖49(B)係作為觸碰感測器功能與顯示功能之組合之附有觸碰感測器之顯示裝置之情形時之驅動期間的構成例，表示於on-cell型或in-cell型之液晶觸碰面板模組之情形時使觸碰感測器功能與顯示功能於顯示之框期間同步地驅動之方式的情形。圖49(B)(a)係於固定長度之框期間(設為F)內分時分配顯示期間Kd與觸碰檢測期間Ks而進行驅動的例。尤其，利用顯示期間KdA、觸碰檢測期間KsA表示成為前提之增大前之狀態。再者，框期間F內之顯示期間Kd與觸碰檢測期間Ks之順序亦可顛倒。BLK表示框期間F內之除顯示期間Kd與觸碰檢測期間Ks以外之空閒時間，係本來未使用之時間。有於框期間F內存在空閒時間BLK之情形及於框期間F內不存在空閒時間BLK之情形，但此處表示存在之情形。
框期間F係用以於顯示功能中之顯示區域或者畫面區域顯示1框圖像之固定長度之時間。顯示期間Kd包括用於顯示該1框圖像之驅動時間例如液晶顯示裝置之情形時之像素寫入期間。例如，於框期間F內，確保顯示功能所需之長度之顯示期間Kd，使用框期間F內之顯示期間Kd以外之時間確保觸碰檢測期間Ks。再者，於如此般顯示期間Kd與觸碰檢測期間Ks之分時之驅動方式之情形時，有於觸碰檢測期間Ks中之觸碰檢測時不易受之前之顯示期間Kd中之圖像顯示時所產 生之雜訊之影響的優點。
圖49(B)(b1)表示相對於圖49(B)(a)而顯示期間Kd增大之例。例如，因畫面大小擴大或高解像度化等而顯示期間Kd增加。將該增加後之顯示期間設為KdB。於固定之框期間F內剩餘時間係減少增大之顯示期間KdB之量，因此，作為觸碰檢測期間Ks，僅能確保較短之時間。
然而，若因畫面大小擴大或高解像度化等而觸碰檢測區域As擴大或者觸碰驅動電極Tx之電極數增加，則觸碰檢測期間Ks之長度亦自觸碰檢測期間KsA增大為如觸碰檢測期間KsB般。於圖49(B)(b1)中，表示如下情形，即，即便利用例如框期間F內之空閒時間BLK以確保所需之觸碰檢測期間KsB，顯示期間KdB與觸碰檢測期間KsB之合計時間亦超過框期間F之時間。由此，如圖49(B)(b2)般，超過框期間F之部分之時間491無法確保，而觸碰檢測期間KsB如時間492般不足。又，雖未圖示，但於固定之框期間F之時間內觸碰檢測期間Ks增大之情形時，相應地，僅能於框期間F內確保較短之顯示期間Kd，而無法實現顯示功能。
圖49(B)(c)表示另一驅動期間之構成例。圖49(B)(c)中係如下之例，即，於固定之框期間F內，將顯示期間Kd及觸碰檢測期間Ks分成複數(設為J)個顯示期間Kd1a至顯示期間KdJa、及複數個觸碰檢測期間Ks1a至觸碰檢測期間KsJa，與圖49(B)(a)之情形同樣地分時驅動。於此方式之情形時，亦與圖49(B)(b2)之情形同樣地，若如圖49(B)(d1)般顯示期間Kd1a至顯示期間KdJa各自之長度增大為如顯示期間Kd1b至顯示期間KdJb般，則為了限制在固定之框期間F內，而難以確保觸碰檢測期間Ks1b至觸碰檢測期間KsJb之各者所需之時間。由此，觸碰檢測期間Ks1b至觸碰檢測期間KsJb之各者如時間493般不足。再者，於圖49(B)(d1)中，表示不使用空閒時間BLK之情形。
又，圖49(B)(d2)係使用空閒時間BLK而與圖49(B)(d1)同樣地欲確保觸碰檢測期間Ks1b至觸碰檢測期間KsJb之情形。然而其表示如下情形，即，即便分配空閒時間BLK，觸碰檢測期間Ks1b至觸碰檢測期間KsJb之各者亦如時間494般不足。
如上所述，於比較例中，伴隨顯示期間Kd及觸碰檢測期間Ks之長度之增大，難以於固定長度之框期間F內確保各個期間。
[(8)觸碰感測器裝置之原理]
圖50係作為補充而簡略地表示靜電電容方式之觸碰感測器裝置之原理。圖50(a)表示觸碰感測器裝置400或者其觸碰檢測單元之基本構造。圖50(b)表示圖50(a)之觸碰感測器裝置400之等效電路。圖50(c)表示利用圖50(a)及圖50(b)之利用觸碰感測器裝置400之觸碰驅動及觸碰檢測時之信號及電壓之例。於圖50(a)中，觸碰感測器裝置400係藉由隔著介電體DEL配置之觸碰驅動電極Tx與觸碰檢測電極Rx之對而形成與觸碰檢測單元相對應之電容C1。圖50之靜電電容方式之觸碰感測器裝置400係利用於觸碰檢測電極Rx側之面中因手指FNG等導電體之接近乃至接觸所引起之電容C1之變化，而檢測有無觸碰等狀態。
作為圖50(b)之電容C1之一端側之觸碰驅動電極Tx係連接於交流信號源ASS。連接於作為電容C1之另一端側之觸碰檢測電極Rx之節點p係經由電阻R而接地，並且連接於電壓檢測器DET。於觸碰驅動時，自交流信號源ASS對觸碰驅動電極Tx施加作為輸入信號之觸碰驅動信號St。相對於作為輸入信號之觸碰驅動信號St，電流I1經由觸碰感測器裝置400之電容C1而流通，利用觸碰檢測電極Rx側之電壓檢測器DET，檢測作為輸出信號之觸碰檢測信號Sr。
於圖50(c)中，作為輸入信號之觸碰驅動信號St係特定之頻率及電壓Vt之交流矩形波之信號。作為輸出信號之觸碰檢測信號Sr之電壓 係於無觸碰時、即於導電體未接近乃至接觸於觸碰感測器裝置400之正面側之觸碰檢測電極Rx之狀態下為電壓V1。又，作為輸出信號之觸碰檢測信號Sr之電壓係於有觸碰時、即於導電體接近乃至接觸於觸碰感測器裝置400之正面側之觸碰檢測電極Rx之狀態下為電壓V2。
無觸碰時，如圖50(b)般，伴隨對電容C1之充放電，與電容C1之靜電電容值相對應之電流I1流通。藉此，利用電壓檢測器DET檢測到之電壓係圖50(c)之電壓V1。又，有觸碰時，如圖50(b)般，成為利用導電體而產生之電容C2相對於電容C1串列地追加連接之形式，相應地，於該區域電場減少。於該狀態下，伴隨對電容C1及電容C2之充放電，與電容C1及電容C2各自之靜電電容值相對應之電流I1及電流I2流通。藉此，觸碰檢測電極Rx側之節點p之電壓成為由與電容C1及電容C2各自之靜電電容值相對應之電流I1及電流I2之值規定之分壓。此時，利用電壓檢測器DET檢測到之電壓係如圖50(c)之電壓V2般，低於無觸碰時之電壓V1。
於電壓檢測器DET或者與之對應之觸碰檢測部之電路中，例如，將自觸碰檢測電極Rx側輸入之脈衝之電壓放大而檢測為觸碰檢測信號Sr。電壓檢測器DET或者觸碰檢測部之電路係將觸碰檢測信號Sr之電壓與閾值電壓Vth進行比較，於該電壓例如如電壓V2般小於閾值電壓Vth之情形時，作為有上述觸碰之狀態進行檢測。或者，電壓檢測器DET或者觸碰檢測部之電路係將觸碰檢測信號Sr之電壓V1與電壓V2之變化量與特定量進行比較，於該變化量大於特定量之情形時，作為有上述觸碰之狀態而進行檢測。再者，因路徑之時間常數較大而觸碰驅動信號St及相對應之觸碰檢測信號Sr之脈衝之電壓變小之情形時，觸碰檢測之判定變難。又，於雜訊重疊於路徑上之情形時，觸碰檢測之判定變難。
<實施形態1A>
根據上述比較例，利用圖1至圖9，對作為本發明之實施形態1A之觸碰感測器裝置1a進行說明。於實施形態1A中，表示如下構成，即，作為來自觸碰驅動部之電路之觸碰驅動信號St，對觸碰驅動電極Tx之牽引配線即配線HT之長度不同之觸碰檢測區域As之複數個各觸碰驅動電極Tx之每一個，產生配合該配線HT之時間常數而調整為最佳之時間之複數M種脈衝P即脈衝P1至脈衝PM並施加至觸碰驅動電極Tx。
[(1)面板部平面]
圖1係作為實施形態1A之觸碰感測器裝置1a之概要而表示包含電極、配線及電路部之XY平面的構成例。觸碰感測器裝置1a之面板部5A係於XY平面中包含觸碰檢測區域As、周邊區域Af、及連接邊部Ac。面板部5A之剖面構成示於下述之圖7中。面板部5A係於本例中利用於Y方向上較長之長方形表示。
面板部5A係於作為觸碰檢測區域As之長方形之面中包含於Z方向之第1層與X方向平行地延伸且並列設置於Y方向上之複數個觸碰驅動電極Tx、及於Z方向之第2層與Y方向平行地延伸且並列設置於X方向上之複數個觸碰檢測電極Rx。於觸碰檢測區域As中，藉由複數個觸碰驅動電極Tx與複數個觸碰檢測電極Rx之對而複數個觸碰檢測單元U構成為矩陣狀。於觸碰檢測區域As中，觸碰驅動電極Tx與觸碰檢測電極Rx之電極對係於Z方向上隔開特定距離地配置並且於來自Z方向之XY俯視時交叉。將對應地形成於該電極對之交叉部之附近之電容定義為觸碰檢測單元U。對M根觸碰驅動電極Tx自Y方向上側起依序利用觸碰驅動電極Tx1、觸碰驅動電極Tx2、至觸碰驅動電極TxM表示。對N根觸碰檢測電極Rx自X方向左側起依序利用觸碰檢測電極Rx1、觸碰檢測電極Rx2至觸碰檢測電極RxN表示。
複數個觸碰驅動電極Tx係於觸碰檢測區域As之長方形中於Y方向 上分割成複數個方塊之形狀。各觸碰驅動電極Tx係Y方向之寬度為固定之於X方向上較長之方塊。觸碰檢測電極Rx之形狀係例如X方向之寬度固定之線路(line)，該線路之寬度較觸碰驅動電極Tx之方塊之寬度小。複數個觸碰檢測電極Rx係於X方向上隔開固定間隔地配置。觸碰驅動電極Tx之電極數即M、及觸碰檢測電極Rx之電極數即N係於本例中表示M=8、N=8之情形。電極數或尺寸或詳細形狀係根據安裝而設計。
連接邊部Ac相當於面板部5A之長方形中之Y方向之下邊部，包含安裝觸碰感測器電路50等之電路部之區域。連接邊Sc係作為為了便於說明之假想線，為連接配線HT及配線HR之連接邊部Ac之矩形中之上邊，表示與周邊區域Af之邊界線。又，連接邊Sc係概略性地表示周邊區域Af之配線HT及配線HR之端部與連接邊部Ac內之電路部之端子的連接位置。考慮根據時間常數之差異而定之脈衝之響應性時，作為設為時間常數之計算之對象至少應包括之部分，圖示自連接邊Sc起直至上方之觸碰檢測區域As之電極端部為止之間之牽引配線即配線HT及配線HR。再者，實際上，配線HT及配線HR亦可進而連續地延長而存在於連接邊部Ac內，於上述情形時，亦可包括該延長配線部分在內而計算時間常數。
安裝於連接邊部Ac之觸碰感測器電路50包含觸碰驅動部51與觸碰檢測部52。觸碰驅動部51進行觸碰驅動，該觸碰驅動係藉由通過配線HT對觸碰檢測區域As之複數個觸碰驅動電極Tx依序施加觸碰驅動信號St之脈衝P之掃描驅動而進行。觸碰檢測部52係通過配線HR輸入來自觸碰檢測區域As之複數個觸碰檢測電極Rx之脈衝P，並將其檢測為觸碰檢測信號Sr。
再者，於面板部5A中，為了便於安裝，如下述之圖7般，觸碰驅動電極Tx與觸碰檢測電極Rx存在於Z方向上之不同之層。與此對應 地，於連接邊部Ac中，觸碰感測器電路50中之觸碰驅動部51與觸碰檢測部52例如亦可於Z方向上安裝於不同之層。例如，觸碰感測器電路50中之觸碰驅動部51及觸碰檢測部52可以IC晶片之形態安裝於玻璃基板上或軟性印刷基板上。
周邊區域Af係包括對於觸碰檢測區域As之X方向及Y方向上之上下左右之區域的周邊區域，亦稱為邊框部。周邊區域Af包含形成於作為X方向左右之區域之左邊部及右邊部之第1牽引配線即配線HT、及形成於作為Y方向下側之區域之下邊部之第2牽引配線即配線HR。複數個配線HT係將觸碰檢測區域As內之複數個觸碰驅動電極Tx與連接邊部Ac內之觸碰驅動部51連接。各配線HT係自連接邊Sc沿Y方向呈直線延伸且朝著X方向彎曲，連接於與每一配線HT建立對應之觸碰驅動電極Tx之端部。對M根配線HT自Y方向上側起依序利用配線HT1、配線HT2至配線HTM表示。
複數個配線HR係將觸碰檢測區域As內之複數個觸碰檢測電極Rx與連接邊部Ac內之觸碰檢測部52連接。各配線HR係自連接邊Sc沿Y方向呈直線延伸且連接於與每一配線HR建立對應之觸碰檢測電極Rx之端部。對N根配線HR自X方向左側起依序利用配線HR1、配線HR2至配線HRN表示。
於實施形態1A中，作為觸碰驅動電極Tx之配線HT，於周邊區域Af中作為X方向左側之左邊部之區域包含左側之配線部HTa，於右邊部之區域包含右側之配線部HTb。配線部HTa與配線部HTb係左右對稱之形狀。於觸碰驅動電極Tx之方塊之每一個於X方向左右兩側之端部連接有配線HT。即，於觸碰驅動電極Tx之方塊之左側之端部連接有配線部HTa之1根配線HT，於右側之端部連接有配線部HTb之1根配線HT。連接於同一觸碰驅動電極Tx之左右之2根配線HT與連接邊Sc相距之長度相同。
來自觸碰驅動部51之每一觸碰驅動電極Tx之觸碰驅動信號St之脈衝P係通過左右之配線部HTa及配線部HTb自該觸碰驅動電極Tx之左右兩側之端部同時施加。以觸碰檢測區域As之X方向中心為邊界，對左側之區域之觸碰驅動電極Tx及觸碰檢測電極Rx使用基於來自左側之配線部HTa之脈衝P之觸碰檢測信號Sr，對右側之區域之觸碰驅動電極Tx及觸碰檢測電極Rx使用基於來自右側之配線部HTb之脈衝P之觸碰檢測信號Sr。再者，藉由如上述般對每一觸碰驅動電極Tx自左右施加脈衝P之構成，可提高觸碰檢測靈敏度。
於圖1中，表示如下構成，即，作為來自觸碰驅動部51之對於觸碰驅動電極Tx之觸碰驅動信號St，施加已根據M根配線HT之時間常數τ即時間常數τ1至時間常數τM進行調整之複數M種脈衝P即脈衝P1至脈衝PM。作為配線HT之時間常數τ，例如，於配線HT1設為時間常數τ1，於配線HT2設為時間常數τ2，於配線HTM設為時間常數τM。根據周邊區域Af中之配線HT之長度而時間常數τ不同，且為τ1>τ2>......>τM。於距離連接邊Sc或者觸碰驅動部51之電路最遠之觸碰驅動電極Tx1，其配線HT1之時間常數τ1相對地為最大，於距離連接邊Sc或者觸碰驅動部51之電路最近之觸碰驅動電極TxM，其配線HTM之時間常數τM相對地為最小。
於實施形態1A中，觸碰驅動部51係作為觸碰驅動信號St之脈衝P，產生與作為觸碰驅動電極Tx之電極數且掃描數之M相對應之複數M種脈衝P即脈衝P1至脈衝PM。例如，對觸碰驅動電極Tx1施加之脈衝P1係如下述之圖3般，具有已根據配線HT1之時間常數τ1進行調整之時間t1。對觸碰驅動電極Tx2施加之脈衝P2具有與配線HT2之時間常數τ2相對應之時間t2。同樣地，施加至觸碰驅動電極TxM之脈衝PM具有與配線HTM之時間常數τM相對應之時間tM。各脈衝P之時間t即時間t1至時間tM係t1>t2>......>tM。
觸碰驅動部51係於觸碰檢測區域As之複數個觸碰驅動電極Tx即觸碰驅動電極Tx1至觸碰驅動電極TxM之掃描驅動時，作為觸碰驅動信號St，配合對於掃描對象之觸碰驅動電極Tx之包含配線HT之路徑中之時間常數，產生時間t調整為最佳之脈衝P即脈衝P1至脈衝PM。繼而，觸碰驅動部51係通過各個配線HT將該脈衝P1至脈衝PM依序施加至掃描對象之觸碰驅動電極Tx。
[(2)路徑、時間常數及脈衝]
圖2表示與圖1之構成相對應的包含電極及配線之路徑、時間常數及觸碰驅動信號St之脈衝P等之構成例。再者，為了容易理解，適當省略一部分配線等而進行圖示。作為觸碰驅動電極Tx，觸碰驅動電極Tx1距離連接邊Sc最遠，觸碰驅動電極TxM距離連接邊Sc最近。觸碰驅動電極Tx2距離連接邊Sc第二遠。線L1表示觸碰檢測區域As中之X方向中心線。點q1、點q2及點qM表示位於X方向中心線L1附近之位置、此處觸碰檢測電極Rx4之位置的觸碰檢測單元U之位置之例。例如，點q1相當於對應於觸碰驅動電極Tx1與觸碰檢測電極Rx4之交叉部而構成之觸碰檢測單元U。
由於對每一觸碰驅動電極Tx自左右施加脈衝P，故經過觸碰驅動電極Tx之X方向中間附近位置之觸碰檢測單元U之路徑變得最長。以觸碰檢測區域As中之線L1為邊界為左側之區域係自觸碰驅動電極Tx之左側之端部施加之脈衝P之路徑較自觸碰驅動電極Tx之右側之端部施加之脈衝P之路徑短。較短之路徑之響應性較為良好，因此，以該觸碰檢測區域As之線L1為邊界為左側之區域係使用自觸碰驅動電極Tx之左側之端部施加之脈衝P。同樣地，以觸碰檢測區域As中之線L1為邊界為右側之區域係自觸碰驅動電極Tx之右側之端部施加之脈衝P之路徑較自觸碰驅動電極Tx之左側之端部施加之脈衝P之路徑短。以該觸碰檢測區域As之線L1為邊界為右側之區域係使用自觸碰驅動電 極Tx之右側之端部施加之脈衝P。如上述般，於觸碰檢測區域As之整體中，經過X方向中間附近位置之觸碰檢測單元U之路徑變得最長。
路徑k1、路徑k2及路徑kM係包含配線HT及配線HR且傳輸觸碰驅動信號St之脈衝P的自連接邊Sc發出後直至返回為止之路徑之例。例如，路徑k1係配線HT1、觸碰驅動電極Tx1、點q1、觸碰檢測電極Rx4及配線HR4之順序。路徑k2係配線HT2、觸碰驅動電極Tx2、點q2、觸碰檢測電極Rx4及配線HR4之順序。路徑kM係配線HTM、觸碰驅動電極TxM、點qM、觸碰檢測電極Rx4及配線HR4之順序。
配線HT中例如觸碰驅動電極Tx1之左右之配線HT1最長而時間常數τ1最大，觸碰驅動電極TxM之左右之配線HTM最短而時間常數τM最小。與上述配線單元之時間常數之情形同樣地，於路徑k1、路徑k2、及路徑kM中，經過觸碰驅動電極Tx1之點q1之路徑k1最長而時間常數最大，經過觸碰驅動電極TxM之點qM之路徑kM最短而時間常數最小。即，包含配線HT1及觸碰驅動電極Tx1之路徑k1係時間常數相對地為最大而上述時間常數成為最差條件之部位，包含配線HTM及觸碰驅動電極TxM之路徑kM係上述比較例之就脈衝P0而言變得性能過剩之部位。
因此，於實施形態1A中，配合各個配線HT之時間常數τ，對各個觸碰驅動電極Tx施加之脈衝P即脈衝P1至脈衝PM之時間t如下述之圖3之時間t1至時間tM般調整為最佳之長度。作為最佳之長度之時間t，以例如作為觸碰檢測部52中之觸碰檢測信號Sr可確保充分之大小及觸碰檢測靈敏度之脈衝之方式進行調整。
[(3)觸碰驅動序列]
圖3表示利用來自觸碰驅動部51之對於觸碰檢測區域As之觸碰驅動電極Tx之掃描驅動的觸碰驅動之序列例。觸碰驅動部51係於對於觸碰檢測區域As之觸碰驅動電極Tx之掃描驅動時，作為觸碰驅動信號 St，例如自Y方向上側之觸碰驅動電極Tx起依序、即按照觸碰驅動電極Tx1、觸碰驅動電極Tx2至觸碰驅動電極TxM-1、及觸碰驅動電極TxM之順序，施加與每一觸碰驅動電極Tx建立對應之不同種類之脈衝P。對與每一觸碰驅動電極Tx建立對應之種類之脈衝P利用脈衝P1、脈衝P2至脈衝PM-1、及脈衝PM表示。對脈衝P1至脈衝PM各自之時間t利用時間t1至時間tM表示。時間t係脈衝週期，頻率f係f=1/t。對脈衝P1至脈衝PM各自之頻率f利用頻率f1至頻率fM表示。又，為了提高觸碰檢測靈敏度，於每一次掃描時對1個觸碰驅動電極Tx施加與每一電極建立對應之頻率f之m個脈衝P。
圖3(a)表示對於作為第1個掃描對象之觸碰驅動電極Tx1之觸碰驅動信號St之脈衝P1、及觸碰驅動電極Tx1之觸碰驅動時間T1。脈衝P1具有根據配線HT1之時間常數τ1而規定之時間t1及頻率f1。觸碰驅動時間T1係t1×m。
同樣地，圖3(b)表示對第2個掃描對象之觸碰驅動電極Tx2施加之脈衝P2及觸碰驅動時間T2。脈衝P2具有根據配線HT2之時間常數τ1而規定之時間t2及頻率f2。脈衝P2之時間t2短於脈衝P1之時間t1。脈衝P2之頻率f2低於脈衝P1之頻率f1。觸碰驅動時間T2係t2×m，且T1>T2。
同樣地，圖3(c)表示對第M個掃描對象之觸碰驅動電極TxM施加之脈衝PM及觸碰驅動時間TM。脈衝PM具有根據配線HTM之時間常數τM而規定之時間tM及頻率fM。脈衝PM具有於複數M種脈衝P中為最短之時間tM及最低之頻率fM。觸碰驅動時間TM係tM×m，且T1>T2>......>TM。
觸碰檢測區域As中之總觸碰驅動時間Tall係Tall≒T1+T2+......+TM=(t1+t2+......+tM)×m。距離連接邊Sc越近之觸碰驅動電極Tx，利用相較比較例越短之時間t之脈衝P驅動，而觸碰驅動時間T變 短。
如圖3等所示，作為利用實施形態1A之觸碰感測器裝置1a所得之效果，藉由與上述配線HT之時間常數τ相對應之觸碰驅動信號St之脈衝P之時間t之最佳之設計，可相較比較例縮短總觸碰驅動時間Tall及觸碰檢測期間Ks或者抑制總觸碰驅動時間Tall及觸碰檢測期間Ks增大。
[(4)觸碰驅動信號脈衝]
圖4表示上述觸碰驅動信號St之脈衝P之詳細情況。脈衝PA、脈衝PB及脈衝PC表示根據基於配線及路徑之長度之差異之時間常數之差異改變時間t之3種脈衝P之例。脈衝PA、脈衝PB及脈衝PC表示與利用觸碰驅動部51產生後之狀態相當之理想之矩形波。又，同時表示之脈衝401、脈衝402及脈衝403係簡略地表示因傳輸而響應性降低之狀態。自觸碰驅動部51產生並輸出之脈衝P係由時間t及電壓Vt等規定。時間t係脈衝週期，頻率f係f=1/t。
脈衝PA具有相當於脈衝週期之時間tA，時間tA中，時間tA1表示相當於包括上升時間在內之脈衝寬度之時間，時間tA2表示包括下降時間在內之時間。時間tA係tA=tA1+tA2。同樣地，脈衝PB具有時間tB，且tB=tB1+tB2。同樣地，脈衝PC具有時間tC，且tC=tC1+tC2。作為時間t之關係，係tA>tB>tC。
於實施形態1A中，例如，作為對於成為上述最差條件之部位之觸碰驅動電極Tx1之脈衝P1而使用脈衝PA，作為對於成為上述性能過剩之部位之觸碰驅動電極TxM之脈衝PM而使用脈衝PC。脈衝PA之時間tA係配合配線HT1之時間常數τ1而調整，脈衝PC之時間tC係配合配線HTM之時間常數τM而調整。藉此，關於如觸碰驅動電極TxM般距離連接邊Sc較近之部位，藉由短於時間tA之時間tC，亦不變得性能過剩而可實現有效率之觸碰驅動及觸碰檢測。
[(5)觸碰驅動部之第1構成例]
圖5係與圖1之構成相對應地表示作為觸碰驅動部51之第1構成例之觸碰驅動部51A。觸碰驅動部51A係產生上述複數M種脈衝P即脈衝P1至脈衝PM，並施加至觸碰檢測區域As內之掃描對象之觸碰驅動電極Tx。再者，於圖5中，表示與圖1之左側之配線部HTa相對應之電路部分，但於左右兩側為相同之構成。觸碰驅動部51A之構成係與圖48所示之比較例之觸碰驅動部951之構成不同，作為對位準偏移器輸入之輸入信號而準備複數M個源信號。
觸碰驅動部51A包含脈衝產生電路部511與掃描電路部512。脈衝產生電路部511包含脈衝源301、開關302及位準偏移器303。掃描電路部512包含移位暫存器304與開關305。
脈衝產生電路部511產生對於觸碰驅動電極Tx之觸碰驅動信號St中之複數M種脈衝P即脈衝P1至脈衝PM。掃描電路部512係根據如上述圖3般之特定之掃描驅動之控制，通過配線HT將利用脈衝產生電路部511產生之脈衝P1至脈衝PM施加至掃描對象之觸碰驅動電極Tx。
脈衝源301產生成為脈衝P1至脈衝PM之來源之複數個源信號即源信號p1至源信號pM。源信號p1至源信號pM係通過包括開關302之線路而輸入至位準偏移器303。移位暫存器304係根據與如上述圖3般之特定之掃描驅動之控制相對應之偏移輸出之信號，切換開關302之接通及斷開、以及開關305之接通及斷開。對位準偏移器303輸入藉由開關302之切換而選擇之源信號。位準偏移器303係對所輸入之源信號之電壓進行轉換，輸出具有高電壓側電壓VtxH與低電壓側電壓VtxL之間之電壓位準之脈衝P。位準偏移器303之輸出線路係連接於配線HT中之配線HT1至配線HTM。於各配線HT之中途設置有開關305。
掃描電路部512係根據觸碰驅動電極Tx之掃描順序，切換來自移位暫存器304之信號之輸出，根據該信號以選擇與掃描對象之觸碰驅 動電極Tx之每一個相對應之種類之脈衝P之方式切換開關302之接通及斷開、以及開關305之接通及斷開。藉此，如圖3般，通過配線HT施加與觸碰驅動電極Tx之每一次掃描相對應之種類之m個脈衝P。
再者，實施形態1A係以複數M種脈衝P即脈衝P1至脈衝PM與M根觸碰驅動電極Tx即觸碰驅動電極Tx1至觸碰驅動電極TxM為1對1之對應關係施加的構成。並不限定於此，可構成為藉由利用掃描電路部512之切換控制等而以脈衝P與觸碰驅動電極Tx中之任意之對應關係施加。例如，亦可設為如下形態，即，自觸碰驅動部51產生較觸碰驅動電極Tx之電極數即M少之種類之脈衝P，對每一觸碰驅動電極Tx施加任意選擇之脈衝P。於下述實施形態1B中，表示如上所述之構成例。又，例如，亦可設為如下形態，即，自觸碰驅動部51產生較觸碰驅動電極Tx之電極數即M多之種類之脈衝P，對每一觸碰驅動電極Tx施加任意選擇之脈衝P。
又，脈衝源301中之複數個源信號即源信號p1至源信號pM例如亦可藉由將自1個信號源產生之脈衝分頻之電路等而可變地產生。
[(6)觸碰驅動部之第2構成例]
圖6表示作為上述觸碰驅動部51A之變化例而為第2構成例之觸碰驅動部51B。觸碰驅動部51B係與如觸碰驅動部51A般使用位準偏移器303控制脈衝P之電壓位準之構成不同，具有藉由來自脈衝源306之複數個源信號即源信號p1至源信號pM而切換控制高電壓側電壓VtxH及低電壓側電壓VtxL之輸出的構成。
觸碰驅動部51B具有包含如下各部之構成：脈衝源306；連接於作為電壓源之高電壓側電壓VtxH之線路308及連接於低電壓側電壓VtxL之線路309；及開關307，其於每一配線HT與上述高電壓側電壓VtxH之線路308及低電壓側電壓VtxL之線路309分別連接。
觸碰驅動部51B係基於特定之掃描驅動之控制，根據來自脈衝源 306之源信號p1至源信號pM，切換位於各配線HT之一端之開關307之來自高電壓側電壓VtxH之線路308之輸入與來自低電壓側電壓VtxL之線路309之輸入。源信號p1至源信號pM成為開關307之切換控制信號。藉此，利用藉由開關307選擇輸出之高電壓側電壓VtxH及低電壓側電壓VtxL之交替之切換所得之m個脈衝P通過配線HT而施加至掃描對象之觸碰驅動電極Tx。
[(7)面板部剖面]
圖7表示實施形態1A之觸碰感測器裝置1a、尤其面板部5A之概略之XZ剖面圖。面板部5A具有自Z方向下側起依序積層有基板層21、觸碰驅動電極層24、介電體層22、觸碰檢測電極層25、及保護層23的構成。C表示利用觸碰驅動電極Tx與觸碰檢測電極Rx之電極對之交叉部所得之成為觸碰檢測單元U的電容。s1係面板部5A之背面，s2係面板部5A之成為觸碰對象之正面。
基板層21、介電體層22及保護層23可應用例如玻璃或塑膠等各種絕緣性之材料。尤其，於面向顯示裝置之觸碰感測器裝置之情形時，基板層21、介電體層22及保護層23主要利用可見光透過性之材料構成。
觸碰驅動電極層24係形成有觸碰驅動電極Tx之圖案之層。觸碰檢測電極層25係形成有觸碰檢測電極Rx之圖案之層。觸碰驅動電極層24及觸碰檢測電極層25可利用各種導電性材料構成。尤其，於面向顯示裝置之觸碰感測器裝置之情形時，觸碰驅動電極層24及觸碰檢測電極25主要利用氧化銦錫(ITO：Indium Tin Oxide)等可見光透過性之材料構成。再者，觸碰驅動電極層Tx及觸碰檢測電極Rx並不限定於ITO，例如，亦可藉由相較ITO為低電阻之金屬材料而構成，亦可利用ITO與低電阻之金屬材料之組合而構成。再者，觸碰驅動電極層24包括形成於周邊區域Af之上述配線HT與觸碰驅動電極Tx連接之部 分。觸碰檢測電極層25包括形成於周邊區域Af之上述配線HR與觸碰檢測電極Rx連接之部分。
[(8)電極之構成例]
圖8(A)表示面板部5A中之包括觸碰驅動電極Tx及觸碰檢測電極Rx之電極形狀之XY平面中的構成例。圖8(B)表示與圖8(A)相對應的觸碰檢測區域As之觸碰檢測單元U之矩陣之構成例。於圖8(A)中，觸碰驅動電極Tx係Y方向之寬度h1為固定之方塊，且於與相鄰之方塊之間具有狹縫。觸碰檢測電極Rx具有如下構成，即，針對連接於觸碰檢測部52側之電壓檢測器等之每1根配線HR，於觸碰檢測區域As分支成例如3根Y方向之線路例如線路a、線路b及線路c。藉此，構成觸碰檢測單元U之觸碰驅動電極Tx與觸碰檢測電極Rx之電極對之交叉部係於XY俯視時具有開口區域。本構成例係於該開口區域產生多根電力線，因此，觸碰檢測之靈敏度變高。配線HT及配線HR係藉由例如低電阻之金屬材料而構成。觸碰驅動電極Tx與配線HT之連接之形態係例如配線HT之端部於Z方向上積層於觸碰驅動電極Tx之端部之形態等。
於圖8(B)中，藉由觸碰驅動電極Tx與觸碰檢測電極Rx之各個電極對之交叉部，構成複數個各觸碰檢測單元U例如觸碰檢測單元U11、觸碰檢測單元U12等。於觸碰檢測區域As之面中，該觸碰檢測單元U11、觸碰檢測單元U12等配置成矩陣狀。於圖8(B)之構成例中，例如，示出將相當於觸碰檢測單元U之區域設為概略正方形且該正方形之中心點於X方向及Y方向上等間隔地配置的例。再者，於下述之附有觸碰感測器之顯示裝置之情形時，觸碰檢測區域As與顯示區域Ad重疊，利用觸碰驅動電極Tx與觸碰檢測電極Rx之電極對所得之觸碰檢測單元U之矩陣係對應於顯示區域Ad之像素之矩陣而構成。觸碰檢測單元U之矩陣係以例如1個觸碰檢測單元U與X方向及Y方向之 複數個像素之每一個重疊之比率構成。
並不限定於上述圖8之構成例，可存在各種變化例。例如，作為於1個觸碰檢測電極Rx之線路中外周封閉之形狀，亦可設為於該外周之內側具有複數個開口部之形狀。例如，亦可為於圖8(A)之3個線路a至線路c中具有於X方向上連接之線段之形狀。又，亦可設為於1個觸碰驅動電極Tx之方塊中分支成並排於X方向上之複數個線路之形狀。又，並不限定於寬度固定之方塊或線路之形狀，亦可設為於觸碰檢測單元U之觸碰驅動電極Tx與觸碰檢測電極Rx之每一交叉部以寬度或面積相對變大之方式變化的形狀。又，亦可設為於觸碰驅動電極Tx或觸碰檢測電極Rx中具有梳齒之形狀。例如，亦可於每一觸碰檢測單元U包含自於Y方向上延伸之觸碰檢測電極Rx之線路沿X方向突出之電極部。突出之電極部之形狀係線段、矩形及帶有開口部之矩形等。
[(9)觸碰面板模組及電子機器]
圖9表示實施形態1A之觸碰感測器裝置1a之包括功能方塊之構成、及包含該觸碰感測器裝置1a之電子機器90A之構成。作為觸碰感測器裝置1a之觸碰面板模組包含上述面板部5A與觸碰感測器電路50。觸碰感測器電路50包含上述觸碰驅動部51、觸碰檢測部52、及控制器201。觸碰驅動部51包含上述脈衝產生電路部511等。觸碰檢測部52包含觸碰位置計算部521等。
控制器201係觸碰感測器裝置1a之控制部，於與作為上位裝置之電子機器90A之控制部91之間經由輸入輸出I/F部93而聯合，根據來自控制部91之指示控制觸碰感測器功能。再者，I/F係接口之略寫。控制器201係對觸碰驅動部51供給觸碰驅動之控制指示，自觸碰檢測部52接收觸碰之有無或位置等之觸碰檢測資訊。又，控制器201係將觸碰檢測資訊以報告之形式發送至控制部91。再者，亦可於控制器201配備觸碰位置計算部521等，亦可省略控制器201而合併為觸碰檢測部 52。
觸碰驅動部51係根據來自控制器201之控制指示，產生上述觸碰驅動信號St之脈衝P並通過配線HT進行對於觸碰驅動電極Tx之掃描驅動。觸碰檢測部52係將來自觸碰檢測電極Rx之通過配線HR而輸入之脈衝檢測為觸碰檢測信號Sr。觸碰檢測部52係包含例如放大器或類比數位轉換器等之構成，輸入來自觸碰檢測電極Rx之脈衝並將其放大，進行類比數位轉換而獲取數位信號。觸碰位置計算部521係使用複數個觸碰檢測信號Sr，計算觸碰檢測區域As中之詳細之觸碰之有無或位置等，輸出作為其結果之觸碰檢測資訊。再者，可藉由例如使用與如圖8(B)般之觸碰檢測單元U之矩陣相對應之複數個信號之公知之計算處理，以較觸碰檢測單元U之矩陣更細之精度對觸碰位置進行計算。
電子機器90A包含作為觸碰感測器裝置1a之觸碰面板模組、控制部91、記憶部92、輸入輸出I/F部93、輸入裝置94、輸出裝置95、通信I/F部96、匯流排、及其他未圖示之電源部等。
控制部91包含例如CPU(Central Processing Unit，中央處理單元)、ROM(Read Only Memory，唯讀記憶體)、RAM(Random Access Memory，隨機存取記憶體)、及於其等上進行動作之程式等。例如，CPU係藉由依據自ROM載入至RAM之程式之運算處理而進行電子機器90A之控制處理。記憶部92包含一次記憶體或二次記憶體、及儲存於其等中之資料資訊等。輸入輸出I/F部93係與觸碰感測器裝置1a連接，進行其接口處理。輸入裝置94包含鍵鈕及其接口處理部等，但可省略。輸出裝置95包含顯示裝置及其接口處理部等，但可省略。通信I/F部96包含進行通信接口處理之基板等，但可省略。
<實施形態1B>
圖10表示實施形態1B之觸碰感測器裝置1b之XY平面之構成。於 實施形態1B中，為如下構成，即，作為自觸碰驅動部51產生之複數種脈衝P，產生較作為上述觸碰驅動電極Tx之電極數且掃描數之M少之種類之脈衝P，並施加至觸碰檢測區域As內之觸碰驅動電極Tx之組之每一組。利用TxG表示包含1根以上之觸碰驅動電極Tx之觸碰驅動電極Tx之組。
於圖10之例中，作為脈衝P之種類，包含如上述圖4般時間t成為例如tA>tB>tC之關係之3種脈衝P即脈衝PA、脈衝PB及脈衝PC。與此對應地，將觸碰檢測區域As內之複數個觸碰驅動電極Tx分成3個組即組TxGA、組TxGB及組TxGC。例如，Y方向上側之組TxGA包含觸碰驅動電極Tx1及觸碰驅動電極Tx2。Y方向中間之組TxGB包含觸碰驅動電極Tx3至觸碰驅動電極Tx6。Y方向下側之組TxGC包含觸碰驅動電極Tx7及觸碰驅動電極Tx8。
而且，自觸碰驅動部51，通過配線HT將上述3種脈衝P即脈衝PA、脈衝PB及脈衝PC施加至與每種脈衝P建立對應之組之觸碰驅動電極Tx。即，觸碰驅動部51係例如對組TxGA之各觸碰驅動電極Tx依序施加脈衝PA，繼而對組TxGB之各觸碰驅動電極Tx依序施加脈衝PB，繼而對組TxGC之各觸碰驅動電極Tx依序施加脈衝PC。
作為觸碰驅動電極Tx，觸碰驅動電極Tx1距離連接邊Sc最遠，觸碰驅動電極TxM距離連接邊Sc最近。觸碰驅動電極TxE表示觸碰檢測區域As中之Y方向中心線L2附近之位置之觸碰驅動電極Tx、此處觸碰驅動電極Tx4之情形。又，點qA、點qB及點qC表示觸碰檢測區域As中之X方向中心線L1附近之位置、此處設為觸碰檢測電極Rx4之情形時之與觸碰檢測單元U相對應之位置的例。若將上述觸碰驅動電極Tx1、觸碰驅動電極TxE、及觸碰驅動電極TxM中之各個配線HT即配線HT1、配線HT4及配線HTM之時間常數τ設為時間常數τA、時間常數τB、及時間常數τC，則τA>τB>τC。
路徑kA表示配線HT1、觸碰驅動電極Tx1、點qA、觸碰檢測電極Rx4、及配線HR4之順序之路徑。路徑kB表示配線HT4、觸碰驅動電極TxE、點qB、觸碰檢測電極Rx4、及配線HR4之順序之路徑。路徑kC表示配線HTM、觸碰驅動電極TxM、點qC、觸碰檢測電極Rx4、及配線HR4之順序之路徑。觸碰驅動部51例如產生已根據上述配線HT1之時間常數τA、配線HT4之時間常數τB、及配線HTM之時間常數τC進行調整之具有上述圖4之不同之時間tA、時間tB及時間tC的3種脈衝P即脈衝PA、脈衝PB及脈衝PC。
圖11表示與圖10之構成相對應的利用觸碰檢測區域As之觸碰驅動電極Tx之掃描驅動之觸碰驅動之序列例。圖11(a)表示對於組TxGA之各觸碰驅動電極Tx之觸碰驅動信號St之脈衝PA及觸碰驅動時間TA。同樣地，圖11(b)表示對於組TxGB之各觸碰驅動電極Tx之脈衝PB及觸碰驅動時間TB。圖11(c)表示對於組TxGC之各觸碰驅動電極Tx之脈衝PC及觸碰驅動時間TC。於對於組TxGA之脈衝PA中，TA=tA×m。於對於組TxGB之脈衝PB中，TB=tB×m。於對於組TxGC之脈衝PC中，TC=tC×m。根據tA>tB>tC之關係可知TA>TB>TC。總觸碰驅動時間Tall係和與脈衝P之種類建立對應之組中每一組之觸碰驅動電極Tx之電極數與觸碰驅動時間T之乘積相對應的總和，於本例中為Tall≒TA×2+TB×4+TC×2=(tA×2+tB×4+tC×2)×m。另外，於圖11(a)至圖11(c)中之fA、fB、fC係個別之脈衝的頻率。
如圖11所示，作為利用實施形態1B之觸碰感測器裝置1b所得之效果，與實施形態1A同樣地，可相較比較例縮短總觸碰驅動時間Tall及觸碰檢測期間Ks或者抑制總觸碰驅動時間Tall及觸碰檢測期間Ks增大。又，於實施形態1B中，若與實施形態1A相比，則利用觸碰驅動部51產生之脈衝P之種類較少，因此，可相對簡化觸碰驅動部51之電路構成。再者，關於脈衝P之種類及觸碰驅動電極Tx之組之構成，可 不限定於3種。
<實施形態1C>
圖12表示實施形態1C之觸碰感測器裝置1c之XY平面之構成。實施形態1C具有將面板部5A中之觸碰驅動電極Tx之配線HT僅設置於周邊區域Af中之X方向左右之區域之單側的構成。配線HT例如作為配線部HTa而僅設置於周邊區域Af中之左邊部之區域Afa。再者，由於未於周邊區域Af之右側之區域Afb設置配線HT，故亦可縮小該區域Afb之X方向之寬度。對於每一觸碰驅動電極Tx，僅於左側之端部連接配線部HTa之配線HT，而僅自該左側之端部施加觸碰驅動信號St之脈衝P。自觸碰驅動電極Tx之左側之端部施加之脈衝P傳輸至右側之端部。
而且，於實施形態1C中，例如，與實施形態1A同樣地，作為來自觸碰驅動部51之觸碰驅動信號St，產生時間t已根據左側之配線部HTa之配線HT之時間常數τ進行調整之複數M種脈衝P即脈衝P1至脈衝PM。觸碰驅動部51係通過配線部HTa，自觸碰檢測區域As之Y方向上側之觸碰驅動電極Tx1起依序施加複數M種脈衝P。點q1、點q2及點qM係包含配線部HTa之配線HT之時間常數不同之路徑中的與觸碰檢測單元U相對應之位置之例。尤其，點q1、點q2及點qM表示整體之路徑變長之觸碰檢測區域As之X方向右側之觸碰檢測電極RxN之位置之例。
由於對每一觸碰驅動電極Tx僅自左側施加脈衝P，故經過上述觸碰檢測電極RxN之位置之路徑變得最長。例如，於經過配線HT1、觸碰驅動電極Tx1及點q1之路徑與經過配線HTM、觸碰驅動電極TxM及點qM之路徑中，時間常數根據配線部HTa之配線HT之長度而不同。由此，於本實施形態1C中，根據配線部HTa之配線HT之時間常數之差異，脈衝P之時間t以t1>tM之方式進行調整。
作為利用實施形態1C之觸碰感測器裝置1c所得之效果，與實施形態1A同樣地，可相較比較例縮短總觸碰驅動時間Tall及觸碰檢測期間Ks或者抑制總觸碰驅動時間Tall及觸碰檢測期間Ks增大。又，於實施形態1C之情形時，藉由不於周邊區域Af之右側之區域Afb設置配線HT而縮小X方向之寬度，有助於觸碰感測器裝置之小型化。
<實施形態1D>
圖13表示實施形態1D之觸碰感測器裝置1d之XY平面之構成。實施形態1D具有如下構成，即，作為面板部5A中之觸碰驅動電極Tx之配線HT，於周邊區域Af中之左右之兩側之區域，於Y方向上左右交替地設置配線HT。例如，作為設置於周邊區域Af中之左邊部之區域Afa之左側之配線部61a，包含作為第1組之與Y方向之第奇數個觸碰驅動電極Tx即觸碰驅動電極Tx1及觸碰驅動電極Tx3等相對應的配線HT1及配線HT3等。又，作為設置於右邊部之區域Afb之右側之配線部61b，包含作為第2組之與Y方向之第偶數個觸碰驅動電極Tx即觸碰驅動電極Tx2及觸碰驅動電極Tx4等相對應的配線HT2及配線HT4等。各觸碰驅動電極Tx係於X方向之左右之一端部與左右之一配線HT連接，僅自該一端部施加脈衝P。而且，該脈衝P係自觸碰驅動電極Tx之一端部傳輸至另一端部。
而且，於實施形態1D中，例如，與實施形態1A同樣地，作為來自觸碰驅動部51之觸碰驅動信號St，產生時間t已根據基於左右之配線HT中之Y方向之長度之差異而定之時間常數τ進行調整之複數M種脈衝P即脈衝P1至脈衝PM。觸碰驅動部51係通過左側之配線部61a及右側之配線部61b，自觸碰檢測區域As之Y方向上側之觸碰驅動電極Tx1起依序左右交替地施加複數M種脈衝P。
點q1、點q2及點qM係包含配線部61a或配線部61b之配線HT之時間常數不同之路徑中的與觸碰檢測單元U相對應之位置之例。尤其， 點q1、點q2及點qM表示整體之路徑變長之觸碰檢測區域As之X方向右側之觸碰檢測電極RxN之位置或左側之觸碰檢測電極Rx1之位置之例。
由於對每一觸碰驅動電極Tx僅自左側或右側之一側施加脈衝P，故於自左側施加脈衝P之情形時，經過上述觸碰檢測電極RxN之路徑變得最長，於自右側施加脈衝P之情形時，經過上述觸碰檢測電極Rx1之路徑變得最長。例如，於經過配線HT1、觸碰驅動電極Tx1及點q1之路徑與經過配線HTM、觸碰驅動電極TxM及點qM之路徑中，時間常數根據配線部61a或配線部61b之配線HT之長度而不同。由此，於實施形態1D中，根據配線部61a或配線部61b之配線HT之時間常數之差異，脈衝P之時間t以t1>tM之方式進行調整。
作為利用實施形態1D之觸碰感測器裝置1d所得之效果，與實施形態1A同樣地，可相較比較例縮短總觸碰驅動時間Tall及觸碰檢測期間Ks或者抑制總觸碰驅動時間Tall及觸碰檢測期間Ks增大。又，於實施形態1D之情形時，若與實施形態1A等相比，則形成於周邊區域Af之左右之區域即區域Afa及區域Afb中每一區域之配線HT之數量變少，因此，有可使該區域Afa及區域Afb之X方向之寬度變窄或者使配線密度變小的優點。
再者，作為實施形態1D之變化例，上述配線HT之組構成並不限定於基於上述第1組及第2組之於Y方向上以一根為單位左右交替地配置及連接的形態，例如，可存在基於在Y方向上以兩根為單位左右交替地配置及連接之形態等各種組構成的變化例。
<實施形態1E>
圖14表示實施形態1E之觸碰感測器裝置1e之XY平面之構成。實施形態1E係於面板部5A之觸碰檢測區域As中，觸碰驅動電極Tx及觸碰檢測電極Rx之配置之方向與實施形態1A顛倒。即，於實施形態1E 中，觸碰驅動電極Tx係並排於Y方向上之方塊，觸碰檢測電極Rx係並排於X方向上之線路。又，周邊區域Af係作為牽引配線而包含連接於觸碰驅動電極Tx之配線HT、及連接於觸碰檢測電極Rx之配線HR。
配線HT係於周邊區域Af自連接邊Sc沿Y方向呈直線延伸，且連接於觸碰驅動電極Tx之Y方向下側之端部。各配線HT之長度及時間常數相同。配線HR僅設置於周邊區域Af中之例如X方向右側之區域Afb，且時間常數根據長度而不同。配線HR係自連接邊Sc沿Y方向呈直線延伸，且朝著X方向彎曲，連接於與每一配線HR建立對應之觸碰檢測電極Rx之右側之端部。對N根觸碰檢測電極Rx利用觸碰檢測電極Rx1至觸碰檢測電極RxN表示。對N根配線HR利用配線HR1、配線HR2至配線HRN表示。
本實施形態1E係包含沿Y方向延伸之觸碰驅動電極Tx、及沿X方向延伸之觸碰檢測電極Rx，配線HT之長度相同，配線HR之長度不同。於此情形時，於包含配線HT及配線HR之整體之路徑中，觸碰檢測電極Rx內之傳輸脈衝P之部分之距離亦存在差異，因此，路徑中之時間常數τ不同。因此，於實施形態1E中，作為來自觸碰驅動部51之觸碰驅動信號St，產生已根據上述觸碰檢測電極Rx內之傳輸脈衝P之部分或包含該部分之路徑之時間常數τ之差異調整時間t之複數種脈衝P。例如，與實施形態1A同樣地，觸碰驅動部51產生對每一觸碰驅動電極Tx施加之複數M種脈衝P即脈衝P1至脈衝PM。繼而，觸碰驅動部51係將該脈衝P1至脈衝PM依序施加至觸碰檢測區域As內之觸碰驅動電極Tx。
點q1、點q2及點qM係例如作為Y方向中間附近位置之觸碰檢測電極Rx4之位置之情形時的與X方向之觸碰驅動電極Tx之位置之差異所對應之觸碰檢測單元U相對應之位置之例。於點q1、點q2及點qM，沿X方向延伸之觸碰檢測電極Rx內之傳輸脈衝P之距離不同。例如， 路徑k1係配線HT、觸碰驅動電極Tx1、點q1、觸碰檢測電極Rx4、及配線HR4之順序之路徑。路徑kM係配線HT、觸碰驅動電極TxM、點qM、觸碰檢測電極Rx4、配線HR4之順序之路徑。路徑k1比路徑kM長相當於觸碰檢測電極Rx4內之距離，而路徑之時間常數τ較大。由此，於實施形態1E中，自觸碰驅動部51，作為觸碰驅動信號St，例如，對觸碰驅動電極Tx1施加時間t1之脈衝P1，對觸碰驅動電極TxM施加短於時間t1之時間tM之脈衝PM。
再者，實施形態1E中之驅動觸碰驅動電極Tx之觸碰驅動部51、檢測來自觸碰檢測電極Rx之脈衝之觸碰檢測部52、及觸碰驅動電極Tx之觸碰驅動序列等之構成可與上述實施形態1A等同樣地實現，因此，省略其說明。
作為利用實施形態1E之觸碰感測器裝置1e所得之效果，於包含沿Y方向延伸之觸碰驅動電極Tx、及沿X方向延伸之觸碰檢測電極Rx之構成之情形時，亦可相較比較例縮短總觸碰驅動時間Tall及觸碰檢測期間Ks或者抑制總觸碰驅動時間Tall及觸碰檢測期間Ks增大。再者，作為實施形態1E之變化例，亦可存在觸碰檢測電極Rx之配線HR沿X方向呈直線延伸且連接於安裝於觸碰感測器裝置之例如右邊部之觸碰檢測部52之形態等之變化例。
<實施形態1F>
圖15表示實施形態1F之觸碰感測器裝置1f之XY平面之構成。實施形態1F係與實施形態1E同樣地，於面板部5A之觸碰檢測區域As中包含沿Y方向延伸之觸碰驅動電極Tx及沿X方向延伸之觸碰檢測電極Rx，並且於周邊區域Af中之左右兩側之區域包含配線HR。即，面板部5A係於左側之區域Afa包含配線部HRa，且於右側之區域Afb包含配線部HRb。配線部HRa及配線部HRb係相對於X方向中心線L1左右對稱之形狀。對左側之配線部HRa中之N根配線HR自Y方向上側起依序 利用配線HR1a至配線HRNa表示。對右側之配線部HRb中之N根配線HR自Y方向上側起依序利用配線HR1b至配線HRNb表示。於每一觸碰檢測電極Rx於其左右之兩端連接有配線HR。
施加至觸碰驅動電極Tx之觸碰驅動信號St之脈衝P係通過與觸碰檢測單元U相對應之電容，向觸碰檢測電極Rx中之X方向左右兩側傳輸，並自觸碰檢測電極Rx之左右兩側之端部輸出。該脈衝P係自觸碰檢測電極Rx之左右之端部通過配線部HRa及配線部HRb之各配線HR而傳輸至連接邊Sc。繼而，輸入至連接邊部Ac內之觸碰檢測部52之脈衝P被檢測為觸碰檢測信號Sr。觸碰檢測部52係關於同一觸碰檢測電極Rx中之複數個觸碰檢測單元U而使用基於來自向上述X方向左右分開之路徑中較短之路徑之脈衝P的觸碰檢測信號Sr。來自較短之路徑之脈衝P係觸碰檢測靈敏度較高。觸碰檢測部52係於以觸碰檢測區域As中之X方向中心線L1為邊界為左側之區域Ra使用基於來自左側之配線部HRa之脈衝P的觸碰檢測信號Sr，於右側之區域Rb使用基於來自右側之配線部HRb之脈衝P的觸碰檢測信號Sr。
點q4及點q5表示例如作為Y方向中間附近位置之觸碰檢測電極Rx4之位置上的與X方向中心線L1附近之觸碰驅動電極Tx4及觸碰驅動電極Tx5之位置之觸碰檢測單元U相對應的位置。點q1及點qM表示該觸碰檢測電極Rx4中之與X方向之左右兩側之觸碰驅動電極Tx1及觸碰驅動電極TxM之位置之觸碰檢測單元U相對應的位置。例如，路徑k4係配線HT、觸碰驅動電極Tx4、點q4、觸碰檢測電極Rx4及配線HR4a之順序之路徑。路徑k1係配線HT、觸碰驅動電極Tx1、點q1、觸碰檢測電極Rx4及配線HR4a之順序之路徑。
例如，路徑k4於觸碰檢測電極Rx內傳輸脈衝P之距離較路徑k1長，且路徑之時間常數τ較大。關於路徑k5與路徑kM之距離或時間常數之關係，亦與上述路徑k4與路徑k1之距離或時間常數之關係相同。 由此，於實施形態1F中，作為來自觸碰驅動部51之觸碰驅動信號St，對X方向中間附近位置之觸碰驅動電極Tx4及觸碰驅動電極Tx5，例如與上述圖4同樣地施加時間tA之脈衝PA，對X方向之左右兩端位置之觸碰驅動電極Tx1及觸碰驅動電極TxM施加短於時間tA之時間tC之脈衝PC。
圖16表示實施形態1F中的利用觸碰驅動電極Tx之掃描驅動之觸碰驅動之序列例。該掃描驅動之掃描順序係例如自X方向左側起依序、即為觸碰驅動電極Tx1至觸碰驅動電極TxM之順序。圖16(a)表示對觸碰驅動電極Tx1施加之脈衝PC及觸碰驅動時間T1。圖16(b)表示對觸碰驅動電極Tx4施加之脈衝PA及觸碰驅動時間T4。圖16(c)表示對觸碰驅動電極Tx5施加之脈衝PA及觸碰驅動時間T5。圖16(d)表示對觸碰驅動電極TxM施加之脈衝PC及觸碰驅動時間TM。觸碰驅動部51係例如隨著自觸碰檢測區域As之X方向左側到達至中間附近位置之觸碰驅動電極Tx，施加時間t變長之脈衝P，進而，隨著自X方向之中間附近位置到達至右側之觸碰驅動電極Tx，施加時間t變短之脈衝P。
作為利用實施形態1F之觸碰感測器裝置1f所得之效果，於X方向左右兩側具有配線HR之構成之情形時，亦與實施形態1E同樣地，可較比較例更為縮短總觸碰驅動時間Tall及觸碰檢測期間Ks，或者抑制總觸碰驅動時間Tall及觸碰檢測期間Ks增大。再者，作為實施形態1F之變化例，亦存在與實施形態1D同樣地將配線HR分成周邊區域Af之X方向左右之區域即區域Afa及區域Afb而於Y方向上左右交替地配置之形態等之變化例。
<實施形態1G>
圖17表示實施形態1G之觸碰感測器裝置1g之XY平面之構成。實施形態1G係於面板部5A之觸碰檢測區域As中包含沿X方向延伸之觸碰驅動電極Tx、及沿Y方向延伸之觸碰檢測電極Rx，觸碰檢測區域As 之觸碰驅動電極Tx係於以X方向中心線L1為邊界而為左右之區域即區域Asa及區域Asb物理性地分割。即，實施形態1G中，作為觸碰驅動電極Tx，包含配置於左側之區域Asa之左側之觸碰驅動電極Txa之方塊、及配置於右側之區域Asb之右側之觸碰驅動電極Txb之方塊。又，周邊區域Af中之配線HT包含配置於左側之區域Afa且連接於左側之觸碰驅動電極Txa之左側之端部的配線部HTa、及配置於右側之區域Afb且連接於右側之觸碰驅動電極Txb之右側之端部的配線部HTb。左側之配線部HTa與右側之配線部HTb與上述實施形態1A同樣地為相對於X方向中心線L1左右對稱之形狀。實施形態1G中，首先，關於X方向左右之單側之觸碰驅動電極Tx、例如左側之觸碰驅動電極Txa之驅動，與實施形態1A等同樣地，施加與配線HT之長度及時間常數之差異對應之種類之脈衝P。
而且，實施形態1G中，作為周邊區域Af中之配線HR，具有於觸碰感測器裝置1g中之相對於X方向中心線L1為左右之區域即區域Ra及區域Rb中長度不均等之配線HR1至配線HRN。配線HR之一端係連接於連接邊部Ac中之X方向左側之區域52g。由此，形成於左側之區域Ra之配線HR較形成於右側之區域Rb之配線HR更短。配線HR中與X方向左側之觸碰檢測電極Rx1相對應之配線HR1最短而時間常數最小，與右側之觸碰檢測電極RxN相對應之配線HRN最長而時間常數最大。例如，利用τ1表示配線HR1之時間常數，利用τN表示配線HRN之時間常數。N根配線HR之時間常數τ之關係係τ1<......<τN。
於連接邊部Ac中，連接邊Sc1係與上述連接邊Sc相同之與配線HT之連接邊。連接邊Sc2表示連接邊部Ac中左側之區域52g與配線HR之連接邊。區域52g係安裝觸碰檢測部52之電路之區域之例。配線HR係自觸碰檢測電極Rx之端部沿Y方向呈直線延伸，朝著X方向左側彎曲，於連接邊Sc2連接於區域52g。藉此，連接邊Sc2與觸碰檢測電極 Rx之端部之間之各配線HR之長度不同。
再者，可如上述般於連接邊部Ac中於Z方向之不同之層安裝各個電路部。於圖17中表示與形成觸碰檢測電極Rx之Z方向之層相對應的與觸碰檢測部52之電路相關之構成例。再者，安裝觸碰檢測部52之區域52g並不限定於圖示之觸碰感測器裝置1g之左下方之位置，亦可存在於觸碰感測器裝置1g之其他位置。
由於如上述般配線HR於左右之區域即區域Ra及區域Rb中長度不同，故於包含配線HT及配線HR之整體之路徑中，亦根據其長度之差異而時間常數不同。例如，點q1a係與左側之觸碰驅動電極Tx1a中之左側之觸碰檢測電極Rx1之位置相對應，點q1b係與右側之觸碰驅動電極Tx1b中之右側之觸碰檢測電極RxN之位置相對應。例如，對經過配線HT1a、觸碰驅動電極Tx1a、點q1a、觸碰檢測電極Rx1及配線HR1的第1路徑與經過配線HT1b、觸碰驅動電極Tx1b、點q1b、觸碰檢測電極RxN及配線HRN的第2路徑進行比較。如此一來，後者之第2路徑根據配線HR1與配線HRN之長度之差異而較第1路徑長，根據其長度而時間常數較大。關於經過點qMa之路徑與經過點qMb之路徑之長度或時間常數之關係，亦與上述第1路徑與第2路徑之距離或時間常數之關係相同。
因此，於實施形態1G中，具有如下構成，即，藉由來自下述圖18之安裝於連接邊部Ac之左右獨立之觸碰驅動部51g之電路之各個獨立之脈衝P而驅動觸碰檢測區域As之左側之觸碰驅動電極Txa與右側之觸碰驅動電極Txb。就Y方向位置相同之觸碰驅動電極Tx例如觸碰驅動電極Tx1a與觸碰驅動電極Tx1b而言，自左側之觸碰驅動部51a對左側之觸碰驅動電極Tx1a施加第1種脈衝P1a，自右側之觸碰驅動部51b對右側之觸碰驅動電極Tx1b施加不同之第2種脈衝P1b。該等左右獨立之脈衝P即脈衝P1a之時間t與脈衝P1b之時間t係根據區域Ra及區 域Rb中之長度不同之配線HR之時間常數之差異而調整為不同之時間t。另外，於圖18中，將脈衝PMa之時間標示為tMa，將脈衝PMb之時間標示為tMb。
圖18表示實施形態1G中之觸碰驅動部51g之構成。觸碰驅動部51g包含左右獨立之左側之觸碰驅動部51a及右側之觸碰驅動部51b。觸碰驅動部51a與觸碰驅動部51b係輸出之脈衝P之種類不同，但內部電路構成於兩者中可同樣地實現。左側之觸碰驅動部51a包含利用脈衝源301a之脈衝產生電路部。觸碰驅動部51a之脈衝產生電路部係基於由脈衝源301a產生之源信號p1a至源信號pMa，產生例如已根據左側之配線部HTa之配線HT之長度及時間常數之差異且上述左右區域之配線HR之長度及時間常數之差異進行調整的複數M種脈衝P即脈衝P1a至脈衝PMa。繼而，觸碰驅動部51a係通過左側之配線部HTa將該脈衝P1a至脈衝PMa施加至觸碰檢測區域As之左側之區域Asa之觸碰驅動電極Txa。
同樣地，右側之觸碰驅動部51b包含利用脈衝源301b之脈衝產生電路部。觸碰驅動部51b之脈衝產生電路部係基於由脈衝源301b產生之源信號p1b至源信號pMb，產生例如已根據右側之配線部HTb之配線HT之長度及時間常數之差異且上述左右區域之配線HR之長度及時間常數之差異進行調整的複數M種脈衝P即脈衝P1b至脈衝PMb。繼而，觸碰驅動部51b係通過右側之配線部HTb將該脈衝P1b至脈衝PMb施加至觸碰檢測區域As之右側之區域Asb之觸碰驅動電極Txb。另外，於圖18之中，將連接於觸碰驅動電極TxMa之配線標示為配線HTMa，將連接於觸碰驅動電極TxMb之配線標示為配線HTMb。
再者，關於上述X方向左右之區域即區域Ra及區域Rb之配線HR之長度及時間常數之差異，例如，亦可簡化個別之配線HR之長度及時間常數之差異，視為左右之2種長度及時間常數而進行估計。
於Y方向之位置相同之觸碰驅動電極Tx例如左側之觸碰驅動電極Tx1a與右側之觸碰驅動電極Tx1b中，X方向左側之配線HR相對地短於右側之配線HR而時間常數較小，對應於此，以對左側之觸碰驅動電極Tx1a施加之脈衝P1a之時間t1a較對右側之觸碰驅動電極Tx1b施加之脈衝P1b之時間t1b短之方式進行調整。關於對Y方向下側之位置上之左側之觸碰驅動電極TxMa施加之脈衝PMa與對右側之觸碰驅動電極TxMb施加之脈衝PMb，亦與上述脈衝P1a與脈衝P1b之關係相同。關於其他之Y方向之位置，亦與上述X方向左右對應之2個脈衝之關係同樣地，以左側之脈衝之時間t較右側之脈衝之時間t短之方式進行調整。
作為利用實施形態1G之觸碰感測器裝置1g所得之效果，可根據觸碰檢測區域As之左右之區域中之路徑之差異對左右之經分割之觸碰驅動電極Tx之每一個利用獨立之脈衝P進行驅動。藉此，與上述實施形態同樣地，可縮短總觸碰驅動時間Tall及觸碰檢測期間Ks或者抑制總觸碰驅動時間Tall及觸碰檢測期間Ks增大。又，實施形態1G中，由於包含於觸碰檢測區域As中之左右之區域分割之觸碰驅動電極Tx、及左右獨立之觸碰驅動部51g，故可獨立地驅動左右之區域之觸碰驅動電極Tx。例如，實施形態1G亦可僅驅動區域Asa及區域Asb中選擇之一區域之觸碰驅動電極Tx。又，實施形態1G係於例如於左右之區域雜訊或觸碰檢測靈敏度之特性或狀態不同之情形時，可施加與該左右之區域之特性或狀態對應之種類之脈衝P。
再者，作為實施形態1G之變化例，於如實施形態1E或實施形態1F般包含沿Y方向延伸之觸碰驅動電極Tx及沿X方向延伸之觸碰檢測電極Rx之面板部5A之構成之情形時，亦可對該構成同樣地應用實施形態1G之構成。又，作為實施形態1G之變化例，並不限定於利用觸碰檢測區域As內之X方向中心線L1之分割，亦可存在基於利用其他特 定位置之分割之形態等之變化例。
又，上述各實施形態之觸碰感測器裝置中之安裝電路部之區域或包含其之連接邊部Ac並不限定於觸碰感測器裝置之下邊部，可存在於任何部位。有根據安裝該電路部之區域或連接邊部Ac之位置而包含配線之路徑之長度產生差異之情形。於上述情形時，觸碰感測器裝置之觸碰驅動部產生並輸出已根據包含該配線之路徑之時間常數之差異進行調整之複數種脈衝P。又，連接邊部Ac或安裝電路部之區域亦可於觸碰感測器裝置內存在2個以上。例如，亦可存在於觸碰感測器裝置之下邊部與左邊部，亦可存在於觸碰感測器裝置之下邊部與上邊部。
又，於上述各實施形態中，作為牽引配線之配線HT及配線HR以彙集於觸碰感測器裝置之下邊部之連接邊Sc之方式連接。並不限定於此，根據連接邊部Ac或電路部之位置等之構成，牽引配線亦可分開形成於觸碰感測器裝置內之複數個區域。例如，於觸碰感測器裝置之下邊部與上邊部存在電路部之情形時，牽引配線亦可分開形成於用以連接於Y方向上下之各電路部之配線部。又，觸碰感測器裝置之面板部5A並不限定於在Y方向上較長之長方形，亦可為於X方向上較長之形狀。
<實施形態1H>
圖19表示實施形態1H之觸碰感測器裝置1h之XY平面之構成。實施形態1H表示與構成上述靜電電容方式之觸碰感測器裝置之電極即觸碰驅動電極Tx及觸碰檢測電極Rx相關之其他構成例。於上述實施形態1A等中，例如，如圖7般，藉由Z方向之不同之層中之觸碰驅動電極Tx與觸碰檢測電極Rx之交叉而構成觸碰檢測單元U。若詳細進行敍述，則藉由對應地構成於觸碰驅動電極Tx與觸碰檢測電極Rx之電極對中之XY俯視時之交叉部之附近的電容C而構成觸碰檢測單元U。 利用電極之觸碰檢測單元U之構成可不限定於此。實施形態1H係如圖19般，於面板部5A之觸碰檢測區域As中，作為構成觸碰感測器裝置之電極，包含沿X方向延伸之第1電極81與沿Y方向延伸之第2電極82之對，藉由於XY平面並列設置之電極部之對而構成電容。
圖20表示上述第1電極81及第2電極82之形狀之詳細情況。圖20(A)表示觸碰檢測區域As之XY平面中之局部放大圖。第1電極81包含於Y方向上突出之寬度較寬之菱形之作為電極部之焊墊部81a及將其等連接之細線部，第2電極82包含於X方向上突出之寬度較寬之菱形之作為電極部之焊墊部82a及將其等連接之細線部。於觸碰檢測區域As中，第1電極81之焊墊部81a與第2電極82之焊墊部82a交替地配置成千鳥格子狀。2種焊墊部即焊墊部81a及焊墊部82a係於XY俯視時不重疊地並列設置，且於該焊墊部之菱形之各邊隔著狹縫而相鄰。第1電極81與第2電極82係於細線部交叉。藉由焊墊部81a及焊墊部82a之對而分別構成與觸碰檢測單元U相對應之電容。焊墊部81a及焊墊部82a係配置於Z方向上之大致相同之XY平面上。
圖20(B)表示與圖20(A)之e1-e2部分相關之概略之XZ剖面圖。於面板部5A中，於基板層801上形成有第1電極81，於該第1電極81上隔著絕緣層802而形成有第2電極82，且利用保護層803覆蓋。Z方向上之配置第1電極81之焊墊部81a之第1層與配置第2電極82之焊墊部82a之第2層的距離極小。第1電極81及第2電極82係利用例如ITO等透光性之導電性材料構成，第1配線83及第2配線84係利用例如相較ITO為低電阻之金屬材料構成。第1電極81與第1配線83之連接、及第2電極82與第2配線84之連接之形態可為例如Z方向上之端部彼此之積層等形態。
再者，作為其他形態，亦可形成為第1電極81之焊墊部81a與第2電極82之焊墊部82a形成於Z方向之同一層之XY平面，僅各個電極之 細線部於Z方向上立體地交叉。
於圖19中，觸碰檢測區域As之複數個第1電極81例如與實施形態1C同樣地，於周邊區域Af之單側例如左側之區域與作為牽引配線之第1配線83連接。第1配線83係與上述實施形態同樣地自電極端部朝著Y方向彎曲且沿Y方向延伸而連接於連接邊Sc，時間常數根據各配線之長度之差異而不同。觸碰檢測區域As之複數個第2電極82係於周邊區域Af之下側之區域與作為牽引配線之第2配線84連接。第2配線84係與上述實施形態同樣地沿Y方向延伸而連接於連接邊Sc，各配線之長度相同。
自安裝於連接邊部Ac之觸碰驅動部之電路對第1電極81之第1配線83施加觸碰驅動信號Sr之脈衝P。該脈衝P係經由利用第1電極81之焊墊部81a與第2電極82之焊墊部82a之對所得之電容而傳輸至第2電極82。來自第2電極82之第2配線84之脈衝P係輸入至安裝於連接邊部Ac之觸碰檢測部之電路而被檢測為觸碰檢測信號Sr。而且，於實施形態1H中，上述觸碰驅動信號Sr之脈衝P係與實施形態1C等同樣地，時間t根據由包含第1配線83之路徑之長度之差異所導致之時間常數之差異而進行調整。
作為利用實施形態1H之觸碰感測器裝置1h所得之效果，與實施形態1C等同樣地，可相較比較例縮短總觸碰驅動時間Tall及觸碰檢測期間Ks或者抑制總觸碰驅動時間Tall及觸碰檢測期間Ks增大。
<實施形態2A>
接下來，利用圖21及圖22對實施形態2A之觸碰感測器裝置2a進行說明。實施形態2A之觸碰感測器裝置2a係以實施形態1A等之構成為前提，進而作為新功能而具有利用雜訊檢測之脈衝變更功能。該脈衝變更功能係如下之功能，即，為了應對影響觸碰檢測靈敏度之雜訊，而根據雜訊之檢測，較佳且可變地變更向上述觸碰驅動電極Tx施 加之脈衝P之頻率f及時間t。藉由上述實施形態1A等之構成，可縮短總觸碰驅動時間Tall或者抑制總觸碰驅動時間Tall增大，因此，包括經上述縮短或抑制增大之量在內，出現時間裕度。因此，於實施形態2A中，實現利用該時間裕度之脈衝變更功能。尤其，於實施形態2A中，實現如下功能，即，於觸碰檢測區域As內之個別之觸碰驅動電極Tx之每次雜訊檢測時，產生將頻率f及時間t於特定範圍內偏移後之脈衝P，施加至該觸碰驅動電極Tx。
圖21係作為實施形態2A之觸碰感測器裝置2a之概要而表示包含電極、配線及電路部之功能方塊構成之XY平面之構成例。觸碰感測器裝置2a之面板部5A之電極及配線之構成係與上述實施形態1A相同。實施形態2A中，作為安裝於連接邊部Ac之觸碰感測器電路50，包含觸碰驅動部51、觸碰檢測部52及雜訊檢測系統200。關於雜訊檢測系統200，表示作為觸碰感測器電路50之內部電路而安裝之例。觸碰驅動部51包含脈衝產生電路部511、脈衝變更部513等。雜訊檢測系統200具有檢測作用於面板部5A之觸碰檢測區域As之來自外部之雜訊的功能，可使用各種公知技術而實現。尤其，於實施形態2A中，雜訊檢測系統200係具有檢測觸碰檢測區域As內之每一觸碰驅動電極Tx之雜訊頻率之功能的電路部。雜訊檢測系統200隨時將觸碰檢測區域As之每一觸碰驅動電極Tx之雜訊檢測為a1。雜訊檢測系統200根據雜訊a1之檢測而向脈衝變更部513輸出雜訊檢測資訊a2。
脈衝變更部513係基於來自雜訊檢測系統200之雜訊檢測資訊a2，判斷是否變更對觸碰驅動電極Tx施加之觸碰驅動信號St之脈衝P，例如，於判斷檢測到關於觸碰檢測靈敏度而應採取對策之雜訊之情形時，對脈衝產生電路部511輸出變更脈衝P之種類之指示a3。例如，脈衝變更部513係於檢測到特定之觸碰驅動電極Tx中之雜訊之情形時，輸出使對該觸碰驅動電極Tx施加之脈衝P之時間t暫時增減而變更頻率 之指示a3。例如，脈衝變更部513係利用上述時間裕度，輸出變更為將對該觸碰驅動電極Tx施加之脈衝P之時間t以變得更長之方式偏移後之脈衝P的指示a3。
脈衝產生電路部511係依據來自脈衝變更部513之指示a3，變更對觸碰驅動電極Tx施加之觸碰驅動信號St之脈衝P之種類、尤其時間t及頻率f。於實施形態2A中，藉由施加該變更後之脈衝P，可降低包含遭受雜訊之觸碰驅動電極Tx之部位之觸碰檢測區域As中之雜訊影響，而維持或提高觸碰檢測靈敏度。
再者，實施形態2A中之觸碰驅動部51等之電路部可與上述實施形態1A等例如與圖5同樣地構成。又，關於藉由脈衝變更功能處理之變更前後之複數種脈衝P，例如，亦可設為如下形態，即，可利用脈衝產生電路部511預先產生變更前後之複數種脈衝P之全部，適當自其等中進行選擇而輸出。又，例如，亦可設為如下形態，即，利用脈衝產生電路部511僅產生變更前之複數種脈衝P例如上述3種脈衝P即脈衝PA至脈衝PC，利用設置於脈衝產生電路部511之後段之電路部，可變地控制該脈衝PA至脈衝PC之時間t，藉此，產生並輸出變更後之脈衝P。
圖22表示實施形態2A中之利用觸碰驅動電極Tx之掃描驅動之觸碰驅動之序列例。圖22(a)及圖22(b)係作為利用脈衝變更功能之變更前之狀態而表示利用與上述實施形態1A相同之複數M種脈衝P即脈衝P1至脈衝PM之掃描驅動之例。圖22(a)表示利用對觸碰驅動電極Tx1施加之脈衝P1之驅動，圖22(b)表示利用對觸碰驅動電極TxM施加之脈衝PM之驅動。各個脈衝P係如上述般配合時間常數而將時間t及頻率f調整後之脈衝。圖22(c)表示觸碰檢測區域As內之觸碰驅動電極Tx中之雜訊之例。將該雜訊之頻率設為fz。圖22(c)例如表示利用雜訊檢測系統200檢測到與圖22(b)之對觸碰驅動電極TxM施加之頻率fM之脈 衝PM同步的大致相同頻率fz之雜訊之情形。如此般存在相對於觸碰驅動信號St之脈衝P同步之雜訊之情形時，觸碰檢測區域As、尤其觸碰驅動電極TxM中之觸碰檢測靈敏度降低。因此，實施形態2A中，使用上述脈衝變更功能，將圖22(b)之對觸碰驅動電極TxM施加之脈衝PM之種類變更為如圖22(d)般，以維持或提高觸碰檢測靈敏度。
圖22(d)表示利用脈衝變更功能所得的自圖22(b)變更後之對觸碰驅動電極TxM施加之脈衝PMs之狀態。例如，脈衝PMs係將時間t及頻率f偏移後所得之脈衝。脈衝PMs之時間tMs長於脈衝PM之時間tM，且脈衝PMs之頻率fMs低於脈衝PM之頻率fM。對觸碰驅動電極TxM施加脈衝PMs後，如圖22(b)及圖22(d)般，僅觸碰驅動電極TxM之部位，其觸碰驅動時間TM增加為如觸碰驅動時間TMs般。將該時間增加量設為時間Tα。藉此，避開圖22(c)之雜訊之影響，維持或提高觸碰驅動電極TxM附近之觸碰檢測靈敏度。總觸碰驅動時間Tall變化後之總觸碰驅動時間Talls之時間增加量僅為觸碰驅動時間TMs之增加量即時間Tα。即，於實施形態2A中，藉由最小限度之時間增加便可維持或提高觸碰檢測靈敏度。
又，脈衝變更功能之脈衝變更部513係以如下方式進行控制，即，如上述般根據雜訊檢測變更脈衝P之種類之後，判斷為恢復至未檢測到雜訊之狀態之情形時，恢復至原先之種類之脈衝P。
於利用上述脈衝變更功能之脈衝P之變更時，作為時間t之偏移之方式，亦可使各個變更前之脈衝P例如脈衝PA、脈衝PB及脈衝PC之時間t以一定比率增加或減少。
又，脈衝變更功能係於如上述般進行以脈衝P之時間t變長之方式變更之控制之情形時，亦可以因變更而產生之增加部分之時間Tα限制在固定時間即時間Tβ內之方式加以限制。即，脈衝變更功能係以因上述脈衝P之變更而導致之總觸碰驅動時間Tall之增加至多達到固定時 間之方式加以限制。換言之，於利用實施形態1A等之構成而獲得之時間裕度之範圍內實現脈衝變更功能。例如，於下述之附有觸碰感測器之顯示裝置之形態中，有用於顯示之框期間固定而必須將觸碰檢測期間Ks限制在上述時間範圍內之情形。於此情形時，脈衝變更功能係以因上述脈衝P之變更而導致之總觸碰驅動時間Talls限制在上述時間範圍內之方式加以限制。
如上述般，根據實施形態2A，作為新功能即脈衝變更功能，有效利用藉由上述實施形態1A等之脈衝P之最佳化之構成而獲得之時間裕度，對每一觸碰驅動電極Tx較佳地變更脈衝P及觸碰驅動時間T之長度，作為雜訊對策，可維持或提高觸碰檢測靈敏度。根據實施形態2A，與圖47所示之比較例相比，藉由脈衝變更功能變更脈衝P之時間t及頻率f時，可使時間t及頻率f之偏移量增大，而可進一步提高觸碰檢測靈敏度。
再者，作為實施形態2A之變化例，雜訊檢測系統200及脈衝變更部513等並不限於在連接邊部Ac內或觸碰感測器電路50內，亦可設為安裝於觸碰感測器裝置內之其他位置而聯合之形態。又，亦可一體地安裝雜訊檢測系統200與脈衝變更部513。又，亦可一體地安裝脈衝變更部513與脈衝產生電路部511。脈衝變更部513亦可藉由CPU之程式處理等而實現上述脈衝變更判斷等處理。又，與上述圖9同樣地設為包含觸碰感測器裝置2a之電子機器之情形時，雜訊檢測系統200亦可於該電子機器之內部設置於觸碰感測器裝置之外部。
又，作為實施形態2A之變化例，並不限於可變更對上述觸碰檢測區域As內之特定之觸碰驅動電極Tx施加之脈衝P的功能，亦可設為具有一律變更對於觸碰檢測區域As內之所有觸碰驅動電極Tx或者與雜訊檢測系統200之精度對應之分割區域或以組為單位之觸碰驅動電極Tx之脈衝P的功能之變化例。例如，脈衝變更功能係於檢測到觸碰 檢測區域As內之任意部位中之雜訊之情形時，亦可針對觸碰檢測區域As內之所有觸碰驅動電極Tx而暫時變更為時間t一致之同種脈衝P。
<實施形態2B>
圖23係作為實施形態2B之觸碰感測器裝置2b之構成而表示觸碰驅動電極Tx之觸碰驅動之序列例。實施形態2B係與實施形態2A同樣地具有脈衝變更功能，但實施形態2B之脈衝變更功能係變更對掃描對象之觸碰驅動電極Tx之每一個施加之觸碰驅動信號St之脈衝P之數量m的功能。藉由利用該功能而變更每一觸碰驅動電極Tx之脈衝P之施加之數量m，而觸碰驅動時間T增減。本脈衝變更功能係例如使用上述時間裕度，於雜訊檢測等之情形時，暫時增減對觸碰檢測區域As之一部分或全部之觸碰驅動電極Tx施加之脈衝P之數量m。例如，本脈衝變更功能係於特定之觸碰檢測期間Ks內之時間裕度之範圍內增加脈衝P之數量m。藉此，雖然變更後之觸碰驅動電極Tx之觸碰驅動時間T略微增加，但該觸碰驅動電極Tx之觸碰檢測靈敏度得到維持或提高。
圖23(a)表示變更前之利用對某觸碰驅動電極Txi施加之觸碰驅動信號Sta之脈衝Pi之觸碰驅動時間Tia，將脈衝Pi之施加之數量m設為ma，將時間t設為ti。圖23(b)表示利用本脈衝變更功能之自圖23(a)變更後之利用觸碰驅動信號Stb之脈衝Pi的觸碰驅動時間Tib。將脈衝Pi之施加之數量m自ma增加至mb，時間t與ti相同。觸碰驅動時間Tib係根據脈衝數m之增量而變長，總觸碰驅動時間Tall增加為如總觸碰驅動時間Talls般。與此相應地，可維持或提高該觸碰驅動電極Txi附近之觸碰檢測靈敏度。如上述般，於實施形態2B中，與實施形態2A同樣地，作為脈衝變更功能，有效利用時間裕度，對每一觸碰驅動電極Tx較佳地變更脈衝數m及觸碰驅動時間T，作為雜訊對策，可維持或提高觸碰檢測靈敏度。
<實施形態2C>
圖24表示實施形態2C之附有觸碰感測器之顯示裝置2c中之電路功能方塊構成。關於實施形態2C之附有觸碰感測器之顯示裝置2c，表示與下述之附有觸碰感測器之顯示裝置之構成例相對應的脈衝變更功能之電路構成例。實施形態2C之附有觸碰感測器之顯示裝置2c之面板部之構成設為如下述圖26等之例般包含液晶顯示裝置之液晶顯示面板部之面板部之構成。於實施形態2C中，作為安裝於面板部之連接邊部Ac之電路部，包含與上述實施形態相同之作為觸碰感測器電路50之觸碰驅動部51及觸碰檢測部52、以及作為驅動液晶顯示面板部之電路部之液品顯示電路100。液晶顯示電路100包含雜訊檢測電路部120、脈衝變更部130、及用戶設定部150。
實施形態2C之附有觸碰感測器之顯示裝置2c係同步控制液晶顯示電路100與觸碰感測器電路50。脈衝變更部130係利用例如CPU之程式處理而實現。實施形態2C中，作為上述脈衝P之種類之變更之契機，不僅包括雜訊檢測，亦包括利用液晶顯示電路100側之脈衝變更部130之判斷。又，實施形態2C中，作為與包括脈衝變更功能之附有本觸碰感測器之顯示裝置2c之各種功能相關之用戶設定機構而包含用戶設定部150。
雜訊檢測電路部120具有與雜訊檢測系統200相同之功能，檢測液晶顯示面板部之畫面區域中之雜訊a1，輸出雜訊檢測資訊a2。液晶顯示面板部之畫面區域係例如觸碰檢測區域As與顯示區域重疊之區域。根據來自雜訊檢測電路部120之雜訊檢測資訊a2，脈衝變更部130判斷是否變更對觸碰驅動電極Tx施加之脈衝P之種類，根據其結果，向觸碰感測器電路50之觸碰驅動部51輸出脈衝P之種類之變更之指示a3。觸碰驅動部51之脈衝產生電路部511係依據指示a3與上述實施形態同樣地變更對觸碰驅動電極Tx施加之脈衝P之種類。如此，實施形 態2C可根據作為顯示裝置側之要素之液晶顯示電路100內之脈衝變更部130之判斷而進行與觸碰感測器功能之脈衝P相關之控制。
又，用戶設定部150可根據用戶對按鈕等器件之操作或觸碰檢測區域As中之操作，進行與包括脈衝變更功能之附有本觸碰感測器之顯示裝置2c之功能相關的設定或指定之輸入a4。例如，實施形態2C之附有觸碰感測器之顯示裝置2c可預先準備與脈衝P之種類及其變更之控制相關之若干個模式、例如與脈衝P之時間t之長度對應之模式，而由用戶選擇模式。根據用戶設定部150中之設定資訊a5，脈衝變更部130對與觸碰感測器功能相關之脈衝P之種類或其變更進行控制。脈衝變更部130係為了例如使用與由用戶選擇之模式相對應之脈衝P之時間t或者變更為該脈衝P，而對觸碰驅動部51供給指示a3。藉此，例如，用戶感到觸碰檢測靈敏度不佳之情形時，可切換模式而謀求靈敏度之改善。
再者，作為實施形態2C之變化例，亦可設為省略使用上述雜訊檢測電路部120之脈衝變更功能或使用上述用戶設定部150之脈衝變更功能而利用液晶顯示電路100之脈衝變更部130自主進行判斷之形態等之變化例。又，亦可設為於觸碰感測器電路50側設置用戶設定部150而與實施形態2C同樣地進行控制之形態等之變化例。
再者，上述實施形態2A至實施形態2C等與上述及下述之各實施形態之組合之形態可同樣地存在。例如，於實施形態2A與實施形態1G之組合之形態中，可對觸碰檢測區域As內之左右之區域即區域Asa及區域Asb之每一區域獨立地進行脈衝變更控制。於該形態中，例如，可僅於左右之一區域變更脈衝P之頻率f，避開雜訊影響而改變觸碰檢測靈敏度。於該形態中，與於觸碰檢測區域As之整體中變更脈衝P之種類之情形相比，可提高時間利用效率。
<實施形態3A>
接下來，利用圖25至圖30，作為實施形態3A，對應用於附有on-cell型觸碰感測器之顯示裝置、尤其具備觸碰感測器功能之作為液晶顯示裝置之液晶觸碰面板模組的情形進行說明。實施形態3A係包含實施形態1A等之觸碰感測器裝置1a等作為要素之構成。
[(1)面板部平面]
圖25係作為實施形態3A之附有觸碰感測器之顯示裝置即液晶觸碰面板模組3a之概要而表示包含與觸碰感測器功能相關之電極、配線、及電路部之XY平面之構成例。關於液晶觸碰面板模組3a之面板部5B中之觸碰感測器功能之部分，係與上述實施形態1A之觸碰感測器裝置1a之面板部5A相同之構成。關於與液晶顯示裝置之顯示功能相關之構成部分，於下文進行敍述。面板部5B係搭載有觸碰感測器裝置之液晶顯示面板部，於XY平面之長方形中包含畫面區域AG及其周邊區域Af、以及連接邊部Ac。於附有觸碰感測器之顯示裝置之情形時，畫面區域AG係例如上述觸碰檢測區域As與液晶顯示裝置之顯示區域Ad重疊之區域。
連接邊部Ac安裝有包含觸碰感測器電路50與液晶顯示電路100之電路部。觸碰感測器電路50係與上述實施形態同樣地，包含觸碰驅動部51與觸碰檢測部52。液晶顯示電路100係驅動液晶顯示面板部之電路部，包含驅動構成下述圖27之液晶顯示裝置之像素之各電極即共通電極COM、像素電極PIX、閘極線GL、及源極線SL等的電路部。實施形態3A之液晶觸碰面板模組3a係藉由同步控制液晶顯示電路100與觸碰感測器電路50，而使液晶顯示裝置之顯示功能與觸碰感測器功能同步。作為同步控制，例如，自一電路部對另一電路部供給時序信號或控制信號，另一電路部依據該供給之信號進行動作。例如，自液晶顯示電路100對觸碰感測器電路50供給用以使觸碰檢測與動態圖像顯示同步之時序信號或控制信號，而自觸碰感測器電路50對液晶顯示電 路100供給觸碰檢測資訊。
[(2)面板部剖面]
圖26表示實施形態3A之液晶觸碰面板模組3a、尤其面板部5B之概略之XZ剖面圖。面板部5B包含液晶顯示面板部10、及外接地連接於液晶顯示面板部10之觸碰面板部20。觸碰面板部20係與上述圖7之觸碰感測器裝置1a之面板部5A相同之構成。液晶顯示面板部10之正面s4與觸碰面板部20之背面s1係藉由接著層80而連接。或者，亦可將接著層80設為空氣層。於此情形時，液晶顯示面板部10之正面s4與觸碰面板部20之背面s1例如以相互接觸之方式配置，該液晶顯示面板部10與觸碰面板部20係由周邊區域Af等保持。
液晶顯示面板部10包含Z方向之背面側之作為第1基板結構體之TFT基板11A、正面側之作為第2基板結構體之彩色濾光片基板12A、及密封於其等之間之作為顯示功能層之液晶層13。再者，於液晶顯示面板部10中之背面s3及正面s4連接有公知之偏光板等，於背面s3連接有公知之背光源等，但省略圖示。
液晶層13係密封有液晶且其配向得到控制之層。再者，液晶層13係於其Z方向之上下面即下表面s5及上表面s6形成有公知之配向膜，但省略圖示。又，液晶層13係於與周邊區域Af相對應之區域包含密封部，但省略圖示。關於液晶層13，於本實施形態中，表示作為液晶方式而應用作為橫向電場型之一種之邊緣場切換(FFS：Fringe Field Switching)之情形，但並不限定於此，可存在各種應用。於FFS之情形時，於TFT基板11A中，共通電極COM與像素電極PIX隔著介電體層16重疊地設置於與基板面垂直之Z方向上。基於來自電路部之對於共通電極COM及像素電極PIX等之電壓之控制，控制液晶層13之液晶之配向。於FFS中，主要產生相對於基板面為斜向或抛物線狀之電場、所謂之邊緣電場。
於TFT基板11A中，於玻璃基板111上形成有TFT層113、共通電極層14、介電體層16、及像素電極層15等。關於TFT層113，簡略地表示於玻璃基板111上形成有如下述圖27般之TFT元件35、閘極線GL、及源極線SL等之層。關於共通電極層14，表示形成有共通電極COM之圖案之層。關於像素電極層15，表示形成有像素電極PIX之圖案之層。於包含於畫面區域AG中之顯示區域Ad中，共通電極COM係不管像素均作為共通之電極部而構成，像素電極PIX係作為與像素之排列對應之個別之電極部而構成。
於彩色濾光片基板12A中，於玻璃基板112形成有彩色濾光片層114等。關於彩色濾光片層114，簡略地表示形成有各色之彩色濾光片、遮光膜及保護膜等之層。再者，周邊區域Af係藉由形成例如遮光膜，而使得自Z方向之正面側看不到作為牽引配線之上述配線HT及配線HR等。
[(3)液晶顯示裝置之像素]
圖27表示與圖26之構成相對應的薄膜電晶體(TFT)型之液晶顯示裝置中之像素之等效電路之構成。於液晶顯示面板部10中，對應於並排於X方向上之閘極線GL與並排於Y方向上之源極線SL之各交叉部而構成像素。該像素包含作為開關元件之TFT元件35、像素電極PIX、及保持電容36。TFT元件35之閘極端子g連接於閘極線GL，源極端子s連接於源極線SL，汲極端子d連接於像素電極PIX及保持電容36之一端子。閘極線GL係用以選擇顯示區域Ad之像素之掃描線，源極線SL係用以對顯示區域Ad之像素供給顯示資料之資料線。再者，於本說明書中，亦將資料線稱為信號線。像素電極PIX之對向電極及保持電容36之另一端子係作為共通電極COM而於像素間共通地連接。
[(4)液晶觸碰面板模組及電子機器]
圖28表示實施形態3A之液晶觸碰面板模組3a之尤其電路功能方 塊構成、及包含液晶觸碰面板模組3a之電子機器90B之構成。液晶觸碰面板模組3a包含：控制器202；作為液晶顯示電路100之、閘極GL之驅動部即閘極驅動器101、源極線SL之驅動部即源極驅動器102、及共通電極COM之驅動部即共通電極驅動部103；及作為上述觸碰感測器電路50之觸碰驅動部51及觸碰檢測部52。再者，本實施形態3A之液晶觸碰面板模組3a進而包含實施形態2A之雜訊檢測系統200及脈衝變更功能。
控制器202係作為液晶顯示電路100與觸碰感測器電路50之上位之控制部、即本液晶觸碰面板模組3a之控制部而設置。再者，亦可設為省略控制器202而同步控制上述液晶顯示電路100與觸碰感測器電路50之構成。控制器202係於與電子機器90B之控制部91之間經由輸入輸出I/F部93而聯合，根據來自控制部91之指示控制觸碰感測器功能及顯示功能。控制器202係對觸碰驅動部51供給觸碰驅動之控制指示，自觸碰檢測部52接收觸碰之有無或位置等之觸碰檢測資訊。又，控制器202係對與液晶顯示電路100相關之各電路部即閘極驅動器101、源極驅動器102、及共通電極驅動部103供給驅動控制信號。又，控制器202係將觸碰檢測資訊以報告之方式發送至控制部91。
閘極驅動器101係根據掃描信號掃描驅動液晶顯示面板部10之閘極線GL群。源極驅動器102係與閘極線GL之掃描同步地對液晶顯示面板部10之源極線SL群供給資料信號。共通電極驅動部103係對液晶顯示面板部10之共通電極COM施加共通驅動用之電壓Vcom。
觸碰驅動部51根據來自控制器202之控制指示，一面與共通電極驅動部103同步，一面藉由上述脈衝產生電路部511等對觸碰面板部20之複數個觸碰驅動電極Tx施加觸碰驅動信號St之脈衝P。伴隨於此，觸碰檢測部52檢測基於來自觸碰面板部20之複數個觸碰檢測電極Rx之脈衝P之觸碰檢測信號Sr，藉由與上述圖9相同之觸碰位置計算部 521計算觸碰之有無或位置等而獲得觸碰檢測資訊。又，觸碰驅動部51係根據利用雜訊檢測系統200所得之面板部5B之雜訊檢測資訊，與上述圖21相同，使用脈衝變更部513變更脈衝P之種類。
再者，於實施形態3A之液晶觸碰面板模組3a中，觸碰感測器電路50或液晶顯示電路100之安裝之形態可為例如利用連接邊部Ac將IC晶片搭載於玻璃基板上之形態或者連接搭載有IC晶片之軟性印刷基板之形態等。又，為了便於圖示，將面板部5B與各電路部分開，但可於面板部5B之玻璃基板上安裝電路部。各電路部可為適當合併或分離之形態。
電子機器90B包含液晶觸碰面板模組3a、控制部91、記憶部92、輸入輸出I/F部93、輸入裝置94、輸出裝置95、通信I/F部96、匯流排、及其他未圖示之電源部等。控制部91包含例如CPU、ROM、RAM及於其等上進行動作之程式等。例如，CPU係藉由依據自ROM載入至RAM之程式之運算處理而進行電子機器90B之控制處理。記憶部92包含一次記憶體或二次記憶體、及儲存於其等中之資料資訊等。輸入輸出I/F部93係與液晶觸碰面板模組3a連接，進行其接口處理。電子機器90B之控制部91例如自外部輸入影像信號或者於內部產生影像信號，並將其儲存於記憶部92中。自控制部91經由輸入輸出I/F部93對控制器202供給影像信號或控制指示資訊。伴隨於此，控制器202對液晶顯示電路100供給影像資料或時序信號等。
[(5)驅動期間]
圖29係作為實施形態3A中之框期間之構成例而表示對於面板部5B之各電極之信號及電壓之時序圖。尤其，表示於框期間F內分時設置用於液晶顯示裝置之顯示功能之顯示期間Kd與用於觸碰感測器功能之觸碰檢測期間Ks之方式的情形。顯示期間Kd包括用於液晶顯示裝置之框圖像之顯示之像素寫入期間。再者，框期間F內之顯示期間 Kd與觸碰檢測期間Ks之順序亦可顛倒。
圖29(a)之Fsync信號規定框期間F。圖29(b)之S_GL表示自閘極驅動器101對閘極線GL施加之掃描信號。圖29(c)之S_SL表示自源極驅動器102對源極線SL施加之資料信號。圖29(d)之S_PIX表示根據像素之透過率對像素電極PIX施加之像素電壓Vpix之例。圖29(e)之S_COM表示於顯示期間Kd內自共通電極驅動部103對共通電極COM施加之共通電壓Vcom。圖29(f)之S_Tx表示於觸碰檢測期間Ks內自觸碰驅動部51對掃描對象之觸碰驅動電極Tx施加之觸碰驅動信號St之脈衝P。圖29(g)之S_Rx表示於觸碰檢測期間Ks自觸碰檢測電極Rx輸入至觸碰檢測部52並被檢測為觸碰檢測信號Sr之脈衝。再者，圖29(h)之S_71表示下述實施形態4A之附有in-cell型觸碰感測器之顯示裝置之情形時之兼用電極71之驅動例。
圖30表示實施形態3A中之驅動期間之其他構成例。於圖30之例中，表示如下情形，即，使顯示期間Kd與框期間F即例如框期間F1及框期間F2等同步，但關於顯示期間Kd與觸碰檢測期間Ks，不同步地驅動。圖30(a)表示與時間方向上之各框期間F同步之複數個顯示期間Kd即顯示期間Kd1及顯示期間Kd2等，圖30(b)表示短於顯示期間Kd之觸碰檢測期間Ks之複數個觸碰檢測期間Ks即觸碰檢測期間Ks1及觸碰檢測期間Ks2等。於如實施形態3A般之附有on-cell型觸碰感測器之顯示裝置之情形時，基本上可獨立地驅動液晶顯示面板部10與觸碰面板部20，因此，可如圖30般進行顯示期間Kd與觸碰檢測期間Ks之不同步之驅動。於圖30之例中，作為顯示期間Kd與觸碰檢測期間Ks之時間之比率，為2：3。就觸碰檢測資訊之報告率而言，為1.5，每顯示2框可報告觸碰檢測資訊3次。
又，圖30(c)表示相對於圖30(b)藉由上述脈衝P之調整而長度被縮短之觸碰檢測期間Ks。於圖30(c)中表示了Ks1至Ks4，作為觸碰檢測 期間Ks的例子。Tw表示縮短之時間。為了容易理解，較大地表示Tw。藉此，可如圖30(d)般使觸碰檢測期間Ks相對於框期間F及顯示期間Kd之時間之比率變小，例如，可使顯示期間Kd與觸碰檢測期間Ks之比率如1：2般，例如，可將報告率提高至2。另外，於圖30中，框期間F3係接續於框期間F2後之框期間。於圖30(a)中，顯示期間Kd3係與框期間F3同步之顯示期間。於圖30(d)中，框期限F1至F3之間，設置了觸碰檢測期間Ks1至Ks6。
如上述般，根據實施形態3A，於on-cell型之液晶觸碰面板模組3a中，可縮短畫面區域AG之總觸碰驅動時間及觸碰檢測期間Ks或者抑制畫面區域AG之總觸碰驅動時間及觸碰檢測期間Ks增大，而可實現觸碰檢測之效率化。根據實施形態3A，例如，可提高報告率。又，實施形態3A係藉由具備利用雜訊檢測之脈衝變更功能，於畫面區域AG中之雜訊時，亦可維持或提高觸碰檢測靈敏度。
<實施形態4A>
接下來，利用圖31至圖36，作為實施形態4A，對應用於附有in-cell型觸碰感測器之顯示裝置、尤其具備觸碰感測器功能之作為液晶顯示裝置之液晶觸碰面板模組的情形進行說明。實施形態4A係包含實施形態1A之觸碰感測器裝置1a等作為要素之構成，但由於為in-cell型，故面板部及電路部等之構成與實施形態3A不同。於實施形態4A中，作為in-cell型，上述觸碰驅動電極Tx係作為利用與液晶顯示面板部之共通電極COM之一體化所得之兼用電極71而構成，且內置於液晶顯示面板部。
[(1)面板部平面]
圖31係作為實施形態4A之附有觸碰感測器之顯示裝置即液晶觸碰面板模組4a之概要而表示包含與觸碰感測器功能相關之電極、配線及電路部之XY平面之構成例。液晶觸碰面板模組4a之面板部5C係於 XY平面之長方形中包含畫面區域AG及其周邊區域Af、以及連接邊部Ac。於畫面區域AG中，代替上述觸碰驅動電極Tx而包含兼用電極71。兼用電極71係形狀例如與上述觸碰驅動電極Tx相同，包含並排於X方向上之複數個方塊。作為複數M個兼用電極71之方塊，自Y方向上側起依序利用兼用電極71_1、兼用電極71_2至兼用電極71_M表示。
各兼用電極71之方塊係於周邊區域Af中與兼用電極71用之牽引配線即配線66連接。例如，作為配線66，與上述實施形態1A同樣地包含周邊區域Af中之左右之區域之配線部即配線部66a及配線部66b。關於配線66之形狀，表示與實施形態7A相同之情形，根據各配線66之長度之差異而時間常數不同。對複數M個配線66自Y方向上側起依序利用配線66_1、配線66_2至配線66_M表示。
連接邊部Ac安裝有與in-cell型相對應之包括觸碰感測器電路50與液晶顯示電路100之電路部。觸碰感測器電路50包含兼用電極驅動部510與觸碰檢測部52。液晶顯示電路100係與上述實施形態3A同樣地，包含驅動構成液晶顯示裝置之顯示功能之各電極即像素電極PIX、閘極線GL及源極線SL等之電路部。實施形態4A係藉由同步控制液晶顯示電路100與觸碰感測器電路50，而使顯示功能與觸碰感測器功能同步。例如，自液晶顯示電路100對觸碰感測器電路50供給用以使觸碰檢測與動態圖像顯示同步之時序信號或控制信號，又，供給用以驅動兼用電極71使其發揮共通電極功能之控制信號等，自觸碰感測器電路50對液晶顯示電路100供給觸碰檢測資訊。
自兼用電極驅動部510，驅動兼用電極71使其發揮共通電極功能時，輸出共通驅動用之電壓Vcom，驅動兼用電極71使其發揮觸碰驅動電極功能時，輸出觸碰驅動信號St。兼用電極驅動部510係作為觸碰驅動信號St，產生時間t已根據由兼用電極71用之配線66之長度之 差異決定之時間常數進行調整之複數種脈衝P、例如與實施形態1A相同之複數M種脈衝P即脈衝P1至脈衝PM。繼而，兼用電極驅動部510係通過配線66將該脈衝P1至脈衝PM施加至畫面區域AG內之與每一脈衝P建立對應之兼用電極71。
於圖31中，作為面板部5C中之電路部之安裝之構成例，可為如下構成，即，將除觸碰檢測部52以外之觸碰感測器電路50與液晶顯示電路100作為各個IC晶片安裝，利用該2個IC晶片進行同步控制。又，作為其他之安裝之構成例，亦可為將除觸碰檢測部52以外之觸碰感測器電路50與液晶顯示電路100作為1個IC晶片安裝的構成。除此以外，可為將各電路部作為各個IC晶片安裝而進行同步控制之構成。
[(2)面板部剖面]
圖32表示實施形態4A之液晶觸碰面板模組4a、尤其面板部5C之概略之XZ剖面圖。面板部5C係作為in-cell型而內置有兼用電極71之液晶顯示面板部，包含Z方向之背面側之第1基板結構體即TFT基板11B、正面側之第2基板結構體即彩色濾光片基板12B、及密封於其等之間之作為顯示功能層之液晶層13。關於液晶層13，與實施形態3A同樣地，表示應用FFS之情形。於TFT基板11B中，兼用電極71與像素電極PIX隔著介電體層16重疊地設置於與基板面垂直之Z方向上。基於來自電路部之對於兼用電極71及像素電極PIX等之電壓之控制而控制液晶層13之液晶之配向。
於TFT基板11B中，於玻璃基板111上形成有TFT層113、兼用電極層72、介電體層16及像素電極層15。關於TFT層113，簡略地表示於玻璃基板111上形成有TFT元件35、閘極線GL、及源極線SL等之層。關於兼用電極層72，表示形成有兼用電極71之圖案之層。兼用電極層72之位置係與實施形態3A中形成共通電極層14之位置相同。關於像素電極層15，表示形成有像素電極PIX之圖案之層。再者，兼用 電極層72包括周邊區域Af中兼用電極71之端部與兼用電極用之配線66連接之部分。
於彩色濾光片基板12B中，於玻璃基板112形成有彩色濾光片層114及觸碰檢測電極層45。關於彩色濾光片層114，與上述實施形態3A同樣地，簡略地表示形成有各色之彩色濾光片、遮光膜及保護膜等之層。彩色濾光片層114例如形成於靠近液晶層13之上表面s6之側。觸碰檢測電極層45係形成有觸碰檢測電極Rx之圖案之層，例如，形成於靠近彩色濾光片基板12B之正面s4之位置上。
藉由TFT基板11B側之兼用電極71與彩色濾光片基板12B側之觸碰檢測電極Rx之對，構成與觸碰檢測單元U相對應之電容C。再者，圖32等之各剖面圖為概略，就安裝而言，例如，液晶層13之Z方向之厚度小於基板，關於其他尺寸或比率，亦成為與安裝相對應者。in-cell型之液晶觸碰面板模組4a之構造可不限於上述，例如，可不限於FFS方式而進行應用。
[(3)液晶觸碰面板模組及電子機器]
圖33表示實施形態4A之液晶觸碰面板模組4a之尤其電路功能方塊構成、及包含液晶觸碰面板模組4a之電子機器90C之構成。液晶觸碰面板模組4a包含控制器203、作為液晶顯示電路100之閘極驅動器101及源極驅動器102、以及作為上述觸碰感測器電路50之兼用電極驅動部510及觸碰檢測部52。再者，實施形態4A之液晶觸碰面板模組4a進而包含實施形態2A之雜訊檢測系統200及脈衝變更功能。
控制器203係作為液晶顯示電路100與觸碰感測器電路50之上位之控制部、即液晶觸碰面板模組4a之控制部而設置。再者，亦可設為省略控制器203而同步控制上述液晶顯示電路100與觸碰感測器電路50之構成。控制器203係於與電子機器90C之控制部91之間經由輸入輸出I/F部93而聯合，根據來自控制部91之指示控制觸碰感測器功能及 顯示功能。控制器203係對兼用電極驅動部510供給與兼用電極71相關之共通驅動之控制信號或觸碰驅動之控制信號，自觸碰檢測部52接收觸碰檢測資訊。又，控制器203係對與液晶顯示電路100相關之各電路部即閘極驅動器101及源極驅動器102供給驅動控制信號。又，控制器203係將觸碰檢測資訊以報告之形式發送至控制部91。閘極驅動器101及源極驅動器102係與實施形態3A同樣地驅動TFT基板11B所對應之電極群。
兼用電極驅動部510除包含上述脈衝產生電路部511或掃描電路部512等以外，包含共通驅動部530。脈衝產生電路部511等係於下述圖36之觸碰檢測期間Ks時驅動兼用電極71使其發揮觸碰驅動電極功能時使用。共通驅動部530係與複數個兼用電極71相關之共通驅動用之電路部，於下述圖36之顯示期間Kd時共通驅動兼用電極71使其發揮共通電極功能時使用。
兼用電極驅動部510係根據來自控制器203之控制指示，一面使脈衝產生電路部511等與共通驅動部530分時同步一面驅動兼用電極71。兼用電極驅動部510係於顯示期間Kd時，藉由共通驅動部530，通過配線66對TFT基板11B之兼用電極71施加共通電壓Vcom。兼用電極驅動部510係於觸碰檢測期間Ks時，藉由脈衝產生電路部511等通過配線66對TFT基板11B之複數個兼用電極71施加觸碰驅動信號St之脈衝P。伴隨於此，觸碰檢測部52係將來自彩色濾光片基板12B之複數個觸碰檢測電極Rx之脈衝P檢測為觸碰檢測信號Sr，藉由上述觸碰位置計算部521計算觸碰之有無或位置等而獲得觸碰檢測資訊。又，兼用電極驅動部510係根據利用雜訊檢測系統200所得之面板部5C之雜訊檢測資訊，使用上述脈衝變更部513變更脈衝P之種類。
電子機器90C除包含液晶觸碰面板模組4a以外，與實施形態3A同樣地包含控制部91、記憶部92、輸入輸出I/F部93、輸入裝置94、輸 出裝置95、通信I/F部96、匯流排、及其他未圖示之電源部等。輸入輸出I/F部93係與液晶觸碰面板模組4a連接，而進行其接口處理。
[(4)兼用電極驅動部]
圖34表示實施形態4A中之面板部5C中之兼用電極驅動部510之構成例。TFT基板11B係作為構成例，於周邊區域Af之例如左邊部之區域Afa、及下邊部之連接邊部Ac中，安裝有兼用電極驅動部510與液晶顯示電路100。左邊部之區域Afa中形成有上述掃描電路部512。如上述般，自脈衝產生電路部511產生觸碰驅動信號St之脈衝P並將其輸出至配線66。又，自共通驅動部530產生共通電壓Vcom，並將其施加至配線66。兼用電極71用之配線66包括傳輸觸碰驅動信號St之脈衝P之線路a、及施加共通電壓Vcom之線路b。線路a係經由開關SWa而連接於畫面區域AG之複數個兼用電極71之端部。線路b係經由開關SWb而連接於畫面區域AG之複數個兼用電極71之端部。
藉由掃描電路部512，基於兼用電極71之驅動切換控制開關SWa及開關SWb之接通及斷開。於顯示期間Kd中，依據利用掃描電路部512之控制，將線路a側之開關SWa斷開，且將線路b側之開關SWb接通，對畫面區域AG之兼用電極71施加共通電壓Vcom。於觸碰檢測期間Ks中，依據利用掃描電路部512之掃描驅動之控制，僅線路a側之開關SWa即與掃描對象之兼用電極71相對應之開關接通，線路b側之開關SWb斷開。藉此，對掃描對象之兼用電極71施加觸碰驅動信號St之脈衝P。
如上述構成例般，周邊區域Af之左邊部等中亦可設置有牽引配線以外之電路部。關於兼用電極71用之複數個配線66，連接邊Sc與兼用電極71之間之各配線66之長度存在差異。又，例如，上述兼用電極驅動部510與液晶顯示電路100之安裝之形態亦可設為作為2個不同之IC晶片安裝而進行同步控制之形態，亦可設為合併為1個IC晶片而安 裝之形態。
[(5)安裝之構成例]
圖35表示實施形態4A中之液晶觸碰面板模組4a之安裝之構成例。圖35(A)表示作為背面側之TFT基板11B側之包含兼用電極71之構成。圖35(B)表示作為正面側之彩色濾光片基板12B側之包含觸碰檢測電極Rx之構成。再者，於圖35中，對液晶顯示裝置部分省略圖示。於圖35中表示如下之例，即，於連接邊部Ac中，配置於TFT基板11B側之觸碰檢測部52以外之電路部作為第1個IC晶片211而安裝，配置於彩色濾光片基板12B側之觸碰檢測部52作為第2個IC晶片212而安裝。
圖35(A)之TFT基板11B之構成係於周邊區域Af之例如左側之區域包含形成上述兼用電極71之配線66或掃描電路部512等電路部之區域540。再者，雖省略圖示，但於周邊區域Af之右側之區域，亦為相同之構成。連接邊部Ac包含安裝有圖34之包含兼用電極驅動部510與液晶顯示電路100之電路部之第1個IC晶片211。第1個IC晶片211例如安裝於構成TFT基板11B之玻璃基板上。於第1個IC晶片211之一連接端子連接有兼用電極71之配線66之端部。第1個IC晶片211之另一連接端子係為了與第2個IC晶片212之連接而連接於軟性印刷基板230之第1端部231。
軟性印刷基板230搭載有第2個IC晶片212。第2個IC晶片212之搭載位置亦可變成其他位置。第1個IC晶片211與第2個IC晶片212係進行同步控制。軟性印刷基板230之第2端部232係如圖35(B)般，與彩色濾光片基板12B側之觸碰檢測電極Rx之配線HR之端部連接。又，軟性印刷基板230之第3端部233成為與電子機器90C之連接之接口。再者，於本構成例中，亦可包括來自連接邊部Ac內之IC晶片211或IC晶片212之端子之配線部分之長度在內而計算上述時間常數。
[(6)驅動期間]
圖36表示實施形態4A中之驅動期間之構成例。於in-cell型之情形時，如上述般包含作為構成顯示功能之要素之共通電極COM與作為構成觸碰感測器功能之要素之觸碰驅動電極Tx之兼用電極71。由此，於實施形態4A之驅動方式中，利用顯示功能中之共通電極功能與觸碰感測器功能中之觸碰驅動電極功能分時驅動兼用電極71。於圖36中，表示如下方式，即，於每一框期間F，使顯示期間Kd與觸碰檢測期間Ks同步，於框期間F內，將顯示期間Kd與觸碰檢測期間Ks分離而進行分時驅動。
於上述圖29(h)表示實施形態4A中之兼用電極71之驅動之例。S_71係表示自兼用電極驅動部510對兼用電極71施加之信號及電壓之例。於框期間F內之顯示期間Kd中，自兼用電極驅動部510施加共通電壓Vcom，以驅動畫面區域AG之所有兼用電極71使其等發揮共通電極功能。再者，共通電壓Vcom亦可稱為顯示期間Kd內之共通驅動之電壓信號。於觸碰檢測期間Ks中，自兼用電極驅動部510對兼用電極71依序施加觸碰驅動信號St之脈衝P，以驅動掃描對象之兼用電極71使其發揮觸碰驅動電極功能。此時，例如，成為與上述圖3相同之內容之觸碰驅動序列。藉此，總觸碰驅動時間Tall較先前之附有in-cell型觸碰感測器之顯示裝置短。再者，顯示期間Kd之電壓Vcom與觸碰檢測期間Ks之電壓Vt亦可共通化。
圖36(a)表示如下情形，即，於固定長度之框期間F內，分時分配顯示期間Kd與觸碰檢測期間Ks，且包含其剩餘之空閒時間BLK。於圖36(a)中表示成為前提之長度之顯示期間KdA及觸碰檢測期間KdB。相對於圖36(a)，於圖36(b1)中表示藉由畫面區域AG中之顯示區域Ad之大小擴大或高解像度化等而顯示期間KdA增大而成為顯示期間KdB的情形。與此相對，藉由如上述般根據時間常數使觸碰驅動信號St之脈衝P之時間t最佳化之構成，可抑制觸碰檢測期間KsA之增大或者縮 短觸碰檢測期間KsA，而成為如361所示之觸碰檢測期間KsB般。即，於框期間F內，可使用空閒時間BLK，並且可控制顯示期間KdB與觸碰檢測期間KsB。與上述情形同樣地，於觸碰檢測區域As之大小擴大或高靈敏度化等之情形時，藉由本構成，亦可抑制觸碰檢測期間Ks之增大。藉由抑制觸碰檢測期間Ks之增大，容易將顯示期間Kd限制在框期間F內。
又，相對於圖36(a)，圖36(b2)表示如下情形，即，於顯示期間Kd為固定之顯示期間KdA之情形時，藉由上述脈衝P之最佳化之構成，可縮短觸碰檢測期間KsA，而成為362所示之觸碰檢測期間KsB。藉此，於框期間F內產生時間TW或時間TW與空閒時間BLK相加後之時間般之時間裕度。亦可將該時間裕度用於增大顯示期間Kd，亦可將該時間裕度用於增大觸碰檢測期間Ks。又，亦可將該時間裕度有效地用於上述脈衝變更功能等其他功能。將該時間裕度用於脈衝變更功能之情形時，可如上述般使脈衝P變更時之時間t及頻率f之偏移量增大。
圖36(c)係作為其他之驅動期間之構成例而表示於固定之框期間F內將顯示期間Kd及觸碰檢測期間Ks分成複數J個顯示期間Kd1a至顯示期間KdJa、及複數個觸碰檢測期間Ks1a至觸碰檢測期間KsJa而分時驅動的例。圖36(d)表示相對於圖36(c)而框期間F內之各顯示期間Kd之長度增大後之顯示期間Kd1b至顯示期間KdJb之情形。伴隨於此，藉由上述脈衝P之最佳化之構成，各觸碰檢測期間Ks可如363所示之觸碰檢測期間Ks1b至觸碰檢測期間KsJb般縮短或者抑制增大。藉此，可將顯示期間Kd及觸碰檢測期間Ks限制在框期間F內。
如上述般，根據實施形態4A，於in-cell型之液晶觸碰面板模組4a中，可縮短畫面區域AG之總觸碰驅動時間Tall及觸碰檢測期間Ks或者抑制畫面區域AG之總觸碰驅動時間Tall及觸碰檢測期間Ks增大，而可 實現觸碰檢測之效率化。根據實施形態4A，對於畫面大小擴大或高解像度化之傾向，亦容易於框期間F內確保顯示期間Kd及觸碰檢測期間Ks。又，根據實施形態4A，藉由具備利用雜訊檢測之脈衝變更功能，於畫面區域AG中之雜訊檢測時，亦可維持或提高觸碰檢測靈敏度。
再者，於實施形態3A及實施形態4A中，對基於實施形態1A及實施形態2A之情形進行了說明，但亦可為與上述各種實施形態之組合之形態。例如，亦可與實施形態1E或實施形態1F同樣地，設為於畫面區域AG內設置有沿Y方向延伸之觸碰驅動電極Tx及沿X方向延伸之觸碰檢測電極Rx之液晶觸碰面板模組等形態。
<電子機器>
圖37至圖42表示上述電子機器90A、電子機器90B及電子機器90C之應用例。圖37(a)概略地表示電子機器90a為智慧型手機之情形時之外觀形狀例。圖37(b)概略地表示電子機器90a為平板終端之情形時之外觀形狀例。圖37(a)或圖37(b)之電子機器90a之殼體90a1包含相當於上述畫面區域AG之區域90a2。
圖38表示電子機器90b為行動電話之情形時之外觀形狀例。圖38(a)及圖38(b)表示電子機器90b之殼體90b1摺疊前後之狀態。圖38(a)之電子機器90b之殼體90b1係於其內表面側包含相當於上述畫面區域AG之區域90b2。又，圖38(b)之摺疊後之殼體90b1係於其外表面側包含相當於上述畫面區域AG之區域90b3。
圖39表示電子機器90c為電視裝置之情形時之外觀形狀例。電子機器90c之殼體90c1係於其正面側包含相當於上述畫面區域AG之區域90c2。圖40表示電子機器90d為筆記型PC(Personal Computer，個人電腦)之情形時之外觀形狀例。電子機器90d之可摺疊之殼體90d1係於其成為顯示側之面包含相當於上述畫面區域AG之區域90d2。
圖41表示電子機器90e為數位相機之情形時之外觀形狀例。電子機器90e之殼體90e1係於其成為監視器側之面包含相當於上述畫面區域AG之區域90e2。圖42表示電子機器90f為數位視訊攝影機之情形時之外觀形狀例。電子機器90f之殼體90f1係於其可開閉之部分中之朝著外側打開時之成為監視器側之面包含相當於上述畫面區域AG之區域90f2。
<效果等>
如以上說明所述，根據各實施形態，觸碰感測器裝置或附有觸碰感測器之顯示裝置具有如下構成，即，作為對於觸碰感測器功能中之觸碰檢測區域As之複數個觸碰驅動電極Tx之觸碰驅動信號St，自電路部產生並施加根據包含牽引配線之路徑之長度及時間常數之差異而時間t調整為最佳之複數種脈衝。藉由本構成，可充分確保碰檢測靈敏度，並且縮短總觸碰驅動時間及觸碰檢測期間或者抑制總觸碰驅動時間及觸碰檢測期間增大。藉此，可實現觸碰感測器功能中之觸碰檢測之效率化。又，可將利用觸碰驅動期間之縮短所得之時間裕度有效用作例如顯示期間或用於其他功能之時間。尤其，藉由將該時間裕度用於脈衝變更功能，可提高觸碰檢測靈敏度。又，尤其，於如in-cell型之液晶觸碰面板模組4a般之顯示裝置與觸碰感測器之組合之形態中，亦充分確保觸碰檢測之靈敏度，並且可實現觸碰檢測之效率化。例如，於畫面大小擴大或高解像度化等之情形時，亦容易對框期間確保顯示期間與觸碰檢測期間。
以上，根據實施形態對由本發明者完成之發明具體進行了說明，但本發明並不限定於上述實施形態，勿庸置疑，可於不脫離其主旨之範圍內進行各種變更。
作為其他實施形態，本發明於因包含觸碰驅動電極Tx之配線及觸碰檢測電極Rx之配線之路徑中之長度等不同之部分而導致時間常 數存在差異的情形時，可與上述實施形態同樣地應用。又，不僅複數個牽引配線之長度，複數個牽引配線之寬度亦不同之情形時等，本發明亦可與上述實施形態同樣地應用。於配線之寬度存在差異之情形時，電阻值及電容值改變，因此，時間常數產生差異。於此情形時，設為根據該配線之寬度及時間常數之差異與上述實施形態同樣地調整複數種脈衝之時間之形態即可。例如，關於觸碰驅動電極Tx與連接邊Sc之間之複數個配線HT，配線HT之長度相同或者不同，進而每一配線HT具有寬度不同之部分之情形時，設為考慮複數個配線HT之長度及寬度而估計時間常數來調整脈衝之時間的形態即可。
作為其他實施形態，於上述形態中，對應用於作為顯示功能層而具有液晶層13之液晶顯示裝置之情形進行了說明，但亦可應用於具有其他顯示功能層之顯示裝置。例如，亦可應用於附有具有有機EL(Electro-Luminescence，電致發光)層作為顯示功能層之觸碰感測器之有機EL顯示裝置。又，亦可應用於作為顯示功能層而具有電漿氣體層之電漿顯示器。又，關於構成上述面板部之玻璃基板等，並不限定於剛性較高之材料，藉由利用剛性較低之材料構成，亦可應用於電子紙等。
[產業上之可利用性]
本發明可利用於各種輸入裝置、顯示裝置及電子機器等。
1a‧‧‧觸碰感測器裝置
5A‧‧‧面板部
50‧‧‧觸碰感測器電路
51‧‧‧觸碰驅動部
52‧‧‧觸碰檢測部
Ac‧‧‧連接邊部
Af‧‧‧周邊區域
As‧‧‧觸碰檢測區域
HR‧‧‧配線
HTa‧‧‧配線部
HTb‧‧‧配線部
HT‧‧‧配線
HT1~HTM‧‧‧配線
P‧‧‧脈衝
P1~PM‧‧‧脈衝
q1‧‧‧點
q2‧‧‧點
qM‧‧‧點
Rx‧‧‧觸碰檢測電極
Rx1~RxN‧‧‧觸碰檢測電極
Sc‧‧‧連接邊
Sr‧‧‧觸碰檢測信號
St‧‧‧觸碰驅動信號
Tx‧‧‧觸碰驅動電極
Tx1~TxM‧‧‧觸碰驅動電極
U‧‧‧觸碰檢測單元
X‧‧‧方向
Y‧‧‧方向
Z‧‧‧方向
τ‧‧‧時間常數
τ1‧‧‧時間常數
τ2‧‧‧時間常數
τM‧‧‧時間常數

Claims (13)

  1. 一種顯示裝置，其包含：顯示面板部，其包含由兼作顯示用與觸碰驅動用之複數個第1電極與複數個第2電極之對而成之複數個觸碰檢測單元構成為矩陣狀之觸碰檢測區域、包含上述複數個第1電極之像素構成為矩陣狀之顯示區域、及用以控制上述像素之顯示之狀態之顯示功能層；產生觸碰驅動信號之脈衝及上述顯示用之共通驅動之信號並施加至上述複數個第1電極的第1電路部，及輸入基於上述觸碰驅動信號之脈衝之來自上述複數個第2電極之脈衝並將其檢測為觸碰檢測信號的第2電路部；第3電路部，其對上述顯示區域之像素施加顯示驅動用之信號；配置於上述觸碰檢測區域之周邊區域且將上述複數個第1電極與上述第1電路部連接之複數個第1配線，及將上述複數個第2電極與上述第2電路部連接之複數個第2配線；及複數個路徑，其等傳輸上述觸碰驅動信號之脈衝，且包含上述複數個第1配線、上述複數個第1電極、上述複數個觸碰檢測單元、上述複數個第2電極、及上述複數個第2配線；且上述複數個第1電極分成複數組；上述第1電路部係於對上述觸碰檢測區域之複數個第1電極依序施加上述觸碰驅動信號之脈衝之掃描驅動時，根據對於上述複數個路徑之時間常數之差異，對上述複數個第1電極之組之每一組產生經調整為不同之脈衝週期之複數種脈衝，並施加至上述複數個第1電極之各者。
  2. 如請求項1之顯示裝置，其中上述顯示功能層係液晶層。
  3. 如請求項1或2之顯示裝置，其中上述複數種脈衝係根據由上述複數個第1配線之長度之差異所導致之時間常數之差異而調整上述脈衝週期。
  4. 如請求項1或2之顯示裝置，其中於上述觸碰檢測區域中，上述複數個第1電極並排於面內水平方向即第1方向上，上述複數個第2電極並排於面內垂直方向即第2方向上，藉由上述觸碰檢測區域之垂直方向即第3方向上之與上述複數個第1電極和上述複數個第2電極之交叉部相對應之電容而構成上述複數個觸碰檢測單元。
  5. 如請求項1或2之顯示裝置，其中於上述觸碰檢測區域中，上述複數個第1電極並排於面內垂直方向即第1方向上，上述複數個第2電極並排於面內水平方向即第2方向上，藉由上述觸碰檢測區域之垂直方向即第3方向上之與上述複數個第1電極和上述複數個第2電極之交叉部相對應之電容而構成上述複數個觸碰檢測單元。
  6. 如請求項1或2之顯示裝置，其包含變更自上述第1電路部對上述複數個第1電極之至少1個組施加之上述觸碰驅動信號之脈衝週期的脈衝變更部。
  7. 如請求項1或2之顯示裝置，其包含變更自上述第1電路部對上述複數個第1電極之至少1個組施加之上述觸碰驅動信號之脈衝之數量之脈衝變更部。
  8. 如請求項6之顯示裝置，其包含檢測雜訊之雜訊檢測部，上述脈衝變更部係基於由上述雜訊檢測部檢測到之雜訊，而變更上述觸碰驅動信號之脈衝。
  9. 一種顯示裝置，其包含：顯示面板部，其包含由兼作顯示用與觸碰驅動用之複數個第1電極與複數個第2電極之對而成之複數個觸碰檢測單元構成為矩陣狀之觸碰檢測區域、包含上述複數個第1電極之像素構成為矩陣狀之顯示區域、及用以控制上述像素之顯示之狀態之顯示功能層；產生觸碰驅動信號之脈衝及上述顯示用之共通驅動之信號並施加至上述複數個第1電極的第1電路部，及輸入基於上述觸碰驅動信號之脈衝之來自上述複數個第2電極之脈衝並將其檢測為觸碰檢測信號的第2電路部；第3電路部，其對上述顯示區域之像素施加顯示驅動用之信號；配置於上述觸碰檢測區域之周邊區域且將上述複數個第1電極與上述第1電路部連接之複數個第1配線，及將上述複數個第2電極與上述第2電路部連接之複數個第2配線；及複數個路徑，其等傳輸上述觸碰驅動信號之脈衝，且包含上述複數個第1配線、上述複數個第1電極、上述複數個觸碰檢測單元、上述複數個第2電極、及上述複數個第2配線；且上述第1電路部係根據對於上述複數個路徑之時間常數之差異，而產生具有不同之脈衝週期之複數種脈衝並施加至上述複數個第1電極；上述複數個第1配線係配置於配置在上述周邊區域之第1區域之第1配線部、及以相對於上述第1配線部對稱之形狀配置在上述周邊區域之第2區域之第2配線部；配置於上述第1配線部之上述複數個第1配線之各者係連接於上述複數個第1電極中相對應之第1電極之第1端部； 配置於上述第2配線部之上述複數個第1配線之各者係連接於上述複數個第1電極中相對應之第1電極之第2端部；上述第1電路部係於通過上述複數個第1配線對上述觸碰檢測區域之複數個第1電極依序施加上述觸碰驅動信號之脈衝之掃描驅動時，通過上述第1配線部及第2配線部而針對上述複數個第1電極之每一個，對上述第1端部及第2端部之兩者施加上述脈衝。
  10. 一種顯示裝置，其包含：顯示面板部，其包含由兼作顯示用與觸碰驅動用之複數個第1電極與複數個第2電極之對而成之複數個觸碰檢測單元構成為矩陣狀之觸碰檢測區域、包含上述複數個第1電極之像素構成為矩陣狀之顯示區域、及用以控制上述像素之顯示之狀態之顯示功能層；產生觸碰驅動信號之脈衝及上述顯示用之共通驅動之信號並施加至上述複數個第1電極的第1電路部，及輸入基於上述觸碰驅動信號之脈衝之來自上述複數個第2電極之脈衝並將其檢測為觸碰檢測信號的第2電路部；第3電路部，其對上述顯示區域之像素施加顯示驅動用之信號；配置於上述觸碰檢測區域之周邊區域且將上述複數個第1電極與上述第1電路部連接之複數個第1配線，及將上述複數個第2電極與上述第2電路部連接之複數個第2配線；及複數個路徑，其等傳輸上述觸碰驅動信號之脈衝，且包含上述複數個第1配線、上述複數個第1電極、上述複數個觸碰檢測單元、上述複數個第2電極、及上述複數個第2配線；且上述第1電路部係根據對於上述複數個路徑之時間常數之差 異，而產生具有不同之脈衝週期之複數種脈衝並施加至上述複數個第1電極；上述複數個第1配線係配置於配置在上述周邊區域之第1區域之第1配線部、及配置在上述周邊區域之第2區域之第2配線部；配置於上述第1配線部之複數個第1配線之各者係連接於上述複數個第1電極中之第1組之第1端部；配置於上述第2配線部之複數個第1配線之各者係連接於上述複數個第1電極中之第2組之第2端部；上述觸碰檢測區域係上述複數個第1配線中之上述第1組之第1電極與上述第2組之第2電極交替地配置；上述第1電路部係於通過上述複數個第1配線對上述觸碰檢測區域之複數個第1電極依序施加上述觸碰驅動信號之脈衝之掃描驅動時，通過上述第1配線部及第2配線部而針對上述複數個第1電極之每一個，對上述第1端部及第2端部之一者施加上述脈衝。
  11. 一種顯示裝置，其包含：顯示面板部，其包含由兼作顯示用與觸碰驅動用之複數個第1電極與複數個第2電極之對而成之複數個觸碰檢測單元構成為矩陣狀之觸碰檢測區域、包含上述複數個第1電極之像素構成為矩陣狀之顯示區域、及用以控制上述像素之顯示之狀態之顯示功能層；產生觸碰驅動信號之脈衝及上述顯示用之共通驅動之信號並施加至上述複數個第1電極的第1電路部，及輸入基於上述觸碰驅動信號之脈衝之來自上述複數個第2電極之脈衝並將其檢測為觸碰檢測信號的第2電路部；第3電路部，其對上述顯示區域之像素施加顯示驅動用之信 號；配置於上述觸碰檢測區域之周邊區域且將上述複數個第1電極與上述第1電路部連接之複數個第1配線，及將上述複數個第2電極與上述第2電路部連接之複數個第2配線；及複數個路徑，其等傳輸上述觸碰驅動信號之脈衝，且包含上述複數個第1配線、上述複數個第1電極、上述複數個觸碰檢測單元、上述複數個第2電極、及上述複數個第2配線；且上述第1電路部係根據對於上述複數個路徑之時間常數之差異，而產生具有不同之脈衝週期之複數種脈衝並施加至上述複數個第1電極；於上述觸碰檢測區域中，上述複數個第1電極並排於面內水平方向即第1方向上，上述複數個第2電極並排於面內垂直方向即第2方向上，藉由上述觸碰檢測區域之垂直方向即第3方向上之與上述複數個第1電極和上述複數個第2電極之交叉部相對應之電容而構成上述複數個觸碰檢測單元；上述複數個第2配線配置於配置在上述周邊區域之第1區域之第1配線部、及配置在上述周邊區域之第2區域之第2配線部；配置於上述第1配線部之上述複數個第2配線之各者係連接於上述複數個第2電極中之第1組之第1端部；配置於上述第2配線部之上述複數個第2配線之各者係連接於上述複數個第2電極中之第2組之第2端部；上述第1電路部係於通過上述複數個第1配線對上述觸碰檢測區域之複數個第1電極依序施加上述觸碰驅動信號之脈衝之掃描驅動時，產生根據由該脈衝被傳輸至上述複數個第2電極之上述端部為止之距離之差異所導致之時間常數的差異而經調整上述脈衝週期之脈衝，並施加至上述複數個第1電極。
  12. 一種顯示裝置，其包含：顯示面板部，其包含由兼作顯示用與觸碰驅動用之複數個第1電極與複數個第2電極之對而成之複數個觸碰檢測單元構成為矩陣狀之觸碰檢測區域、包含上述複數個第1電極之像素構成為矩陣狀之顯示區域、及用以控制上述像素之顯示之狀態之顯示功能層；產生觸碰驅動信號之脈衝及上述顯示用之共通驅動之信號並施加至上述複數個第1電極的第1電路部，及輸入基於上述觸碰驅動信號之脈衝之來自上述複數個第2電極之脈衝並將其檢測為觸碰檢測信號的第2電路部；第3電路部，其對上述顯示區域之像素施加顯示驅動用之信號；配置於上述觸碰檢測區域之周邊區域且將上述複數個第1電極與上述第1電路部連接之複數個第1配線，及將上述複數個第2電極與上述第2電路部連接之複數個第2配線；及複數個路徑，其等傳輸上述觸碰驅動信號之脈衝，且包含上述複數個第1配線、上述複數個第1電極、上述複數個觸碰檢測單元、上述複數個第2電極、及上述複數個第2配線；且上述第1電路部係根據對於上述複數個路徑之時間常數之差異，而產生具有不同之脈衝週期之複數種脈衝並施加至上述複數個第1電極；上述複數個第2配線係配置於配置在上述周邊區域之第1區域之第1配線部、及配置在上述周邊區域之第2區域之第2配線部；配置於上述第1配線部之上述複數個第2配線之各者係連接於上述複數個第2電極中相對應之第2電極之第1端部；配置於上述第2配線部之上述複數個第2配線之各者係連接於 上述複數個第2電極中相對應之第2電極之第2端部；上述第1電路部係於通過上述複數個第1配線對上述觸碰檢測區域之複數個第1電極依序施加上述觸碰驅動信號之脈衝之掃描驅動時，產生根據由該脈衝被傳輸至上述複數個第2電極之上述第1端部或第2端部中較近者為止之距離之差異所導致之時間常數之差異而經調整上述脈衝週期之脈衝，並施加至上述複數個第1電極。
  13. 一種顯示裝置，其包含：顯示面板部，其包含由兼作顯示用與觸碰驅動用之複數個第1電極與複數個第2電極之對而成之複數個觸碰檢測單元構成為矩陣狀之觸碰檢測區域、包含上述複數個第1電極之像素構成為矩陣狀之顯示區域、及用以控制上述像素之顯示之狀態之顯示功能層；產生觸碰驅動信號之脈衝及上述顯示用之共通驅動之信號並施加至上述複數個第1電極的第1電路部，及輸入基於上述觸碰驅動信號之脈衝之來自上述複數個第2電極之脈衝並將其檢測為觸碰檢測信號的第2電路部；第3電路部，其對上述顯示區域之像素施加顯示驅動用之信號；配置於上述觸碰檢測區域之周邊區域且將上述複數個第1電極與上述第1電路部連接之複數個第1配線，及將上述複數個第2電極與上述第2電路部連接之複數個第2配線；及複數個路徑，其等傳輸上述觸碰驅動信號之脈衝，且包含上述複數個第1配線、上述複數個第1電極、上述複數個觸碰檢測單元、上述複數個第2電極、及上述複數個第2配線；且上述第1電路部係根據對於上述複數個路徑之時間常數之差 異，而產生具有不同之脈衝週期之複數種脈衝並施加至上述複數個第1電極；於上述觸碰檢測區域中，上述複數個第1電極係於上述觸碰檢測區域內之第1位置分割成第1電極部及第2電極部；上述複數個第1配線係配置於配置在上述周邊區域之第1區域之第1配線部、及配置在上述周邊區域之第2區域之第2配線部；配置於上述第1配線部之上述複數個第1配線之各者係連接於上述複數個第1電極中相對應之第1電極之第1電極部之端部；配置於上述第2配線部之上述複數個第1配線之各者係連接於上述複數個第1電極中相對應之第1電極之第2電極部之端部；上述複數個第2配線係以上述觸碰檢測區域內之第1位置為邊界而於一側區域與另一側區域間時間常數不同；上述第1電路部包含：一電路部，其進行通過上述第1配線部對上述觸碰檢測區域之複數個第1電極之第1電極部依序施加上述觸碰驅動信號之脈衝之掃描驅動；及另一電路部，其進行通過上述第2配線部對上述觸碰檢測區域之複數個第1電極之第2電極部依序施加上述觸碰驅動信號之脈衝之掃描驅動；針對上述複數個第1電極之每一個，自上述一電路部對上述第1電極部之各者施加之第1脈衝與自上述另一電路部對上述第2電極部之各者施加之第2脈衝間，根據上述第2配線之時間常數之差異而上述脈衝週期被調整為不同。
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