TWI531949B - 電容電壓資訊感測電路及其相關抗雜訊觸控電路 - Google Patents

電容電壓資訊感測電路及其相關抗雜訊觸控電路 Download PDF

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Description

電容電壓資訊感測電路及其相關抗雜訊觸控電路
本發明係指一種電容電壓資訊感測電路及其相關抗雜訊觸控電路，尤指一種用於一電容式觸控面板之電容電壓資訊感測電路及其相關抗雜訊觸控電路。
由於觸控顯示裝置提供使用者更直覺及便利的操作方式，因而已廣泛地運用於各種消費性電子產品中。一般來說，觸控顯示裝置係由一顯示器及一透明觸控板所組成，並且經由將透明觸控面板貼合於顯示器上而能同時實現觸控及顯示功能。在當前的應用中尤以電容式觸控技術最受歡迎。
電容式觸控面板的操作原理，主要是利用觸控面板上銦錫氧化物(ITO)透明電極與人體手指或導電物體間，因接觸而形成的電容感應，透過控制IC的運算之後，轉為可供作業系統判讀的座標資料。
現有的電容式觸控面板所使用的觸控電路包含有訊號路徑以及雜訊路徑。訊號路徑必需透過取樣器、多個開關等複雜的電路來實現。在取樣時，訊號頻寬以外的雜訊，經過取樣後會疊推(folding)進入訊號頻寬影響到原本訊號，即所謂的雜訊疊推(Noise Folding)。此外，雜訊路徑同樣有電路設計過於繁複以及需要較長的更新時間等問題。
因此，本發明之主要目的即在於提供一種電容電壓資訊感測電路。
本發明揭露一種電容電壓資訊感測電路。該電容電壓資訊感測電路包含有一混波器以及一類比濾波器。該混波器包含有一第一輸入端，用來接收一參考訊號；一第二輸入端，用來接收一電壓訊號，其中該電壓訊號於一觸碰發生時包含一電容電壓資訊以及一雜訊；一第一輸出端，用來根據該電壓訊號以及該參考訊號輸出一第一差動訊號以及一第二輸出端，用來根據該電壓訊號以及該參考訊號輸出一第二差動訊號。該類比濾波器，耦接於該混波器，用來根據該第一差動訊號以及該第二差動訊號產生一第一低頻訊號以及一第二低頻訊號。其中，該電容電壓資訊感測電路根據該第一低頻訊號以及該第二低頻訊號取得該電容電壓資訊。
本發明另揭露一種用於一電容式觸控面板之抗雜訊觸控電路。該抗雜訊觸控電路包含有一電容電壓資訊感測電路以及一雜訊偵測電路。該電容電壓資訊感測電路包含有一混波器以及一類比濾波器。該混波器包含有一第一輸入端，用來接收一參考訊號；一第二輸入端，用來接收一電壓訊號，其中該電壓訊號於一觸碰發生時包含一電容電壓資訊以及一雜訊；一第一輸出端，用來根據該電壓訊號以及該參考訊號輸出一第一差動訊號以及一第二輸出端，用來根據該電壓訊號以及該參考訊號輸出一第二差動訊號。該類比濾波器，耦接於該混波器，用來根據該第一差動訊號以及該第二差動訊號產生一第一低頻訊號以及一第二低頻訊號。其中，該電容電壓資訊感測電路根據該第一低頻訊號以及該第二低頻訊號取得該電容電壓資訊。該雜訊偵測電路包含有一取樣單元以及一比較單元。該取樣單元包含有一第三輸入端，用來接收該第一差動訊號；一第四輸入端，用來接收該第二差動訊號；一第三輸出端，用來根據該第一差動訊號輸出一第一取樣訊號；以及一第四輸出端，用來根據該第二差動訊號輸出一第二取樣訊號。該比較單元耦接於該取樣單元，用來根據該第一取樣訊號、該第二取樣訊號以及複數個門檻值，產生複 數個比較結果，判斷是否偵測到該雜訊。
本發明另揭露一種用於一電容式觸控面板之抗雜訊觸控電路。該抗雜訊觸控電路包含有一電容電壓資訊感測電路以及一雜訊偵測電路。該電容電壓資訊感測電路包含有一混波器以及一類比濾波器。該混波器包含有一第一輸入端，用來接收一參考訊號；一第二輸入端，用來接收一電壓訊號，其中該電壓訊號於一觸碰發生時包含一電容電壓資訊以及一雜訊；一第一輸出端，用來根據該電壓訊號以及該參考訊號輸出一第一差動訊號以及一第二輸出端，用來根據該電壓訊號以及該參考訊號輸出一第二差動訊號。該類比濾波器，耦接於該混波器，用來根據該第一差動訊號以及該第二差動訊號產生一第一低頻訊號以及一第二低頻訊號，以及根據該第一低頻訊號以及該第二低頻訊號取得該電容電壓資訊。該雜訊偵測電路包含有一取樣單元以及一比較單元。該取樣單元包含有一第三輸入端，用來接收該電壓訊號；一第四輸入端，用來接收該電壓訊號；一第三輸出端，用來根據該電壓訊號輸出一第一取樣訊號；以及一第四輸出端，用來根據該電壓訊號輸出一第二取樣訊號。該比較單元耦接於該取樣單元，用來根據該第一取樣訊號、該第二取樣訊號以及複數個門檻值，產生複數個比較結果，判斷是否偵測到該雜訊。
10、80‧‧‧抗雜訊觸控電路
100‧‧‧觸碰偵測電路
120‧‧‧電容電壓資訊感測電路
140‧‧‧雜訊偵測電路
121‧‧‧混波器
122‧‧‧類比濾波器
123‧‧‧類比數位轉換器
124‧‧‧數位濾波器
141‧‧‧取樣單元
142‧‧‧比較單元
VMN、VMP‧‧‧差動訊號
VAH、VAL‧‧‧取樣訊號
VFP、VFN‧‧‧低頻訊號
In_1、In_2、In_3、In_4‧‧‧輸入端
Out_1、Out_2、Out_3、Out_4‧‧‧輸出端
VA‧‧‧電壓訊號
VREF‧‧‧參考訊號
VN‧‧‧雜訊
VS‧‧‧電容電壓資訊
D‧‧‧數位訊號
VTHH、VTHL、VTLH、VTLL‧‧‧門檻值
VH、VL‧‧‧比較結果
S1、S2、S3、S4、SRST‧‧‧開關
C1、C2、CA、CB、CC‧‧‧電容
CMP1、CMP2‧‧‧比較器
VACM、VTH、VTL‧‧‧平均值
T‧‧‧週期
Amp‧‧‧放大器
第1圖為本發明實施例一抗雜訊觸控電路之示意圖。
第2圖為第1圖中混波器121之示意圖。
第3圖為本發明實施例複數個訊號之波形圖。
第4圖為第1圖中雜訊偵測電路140之示意圖。
第5圖為本發明實施例沒有雜訊發生時複數個訊號之波形圖。
第6圖為本發明實施例雜訊發生時複數個訊號之波形圖。
第7圖為本發明實施例雜訊發生時複數個訊號之波形圖。
第8圖為本發明實施例一抗雜訊觸控電路之示意圖。
在說明書及後續的申請專利範圍當中使用了某些詞彙來指稱特定的元件。所屬領域中具有通常知識者應可理解，硬體製造商可能會用不同的名詞來稱呼同一個元件。本說明書及後續的申請專利範圍並不以名稱的差異來作為區分元件的方式，而是以元件在功能上的差異來作為區分的準則。在通篇說明書及後續的請求項當中所提及的「包含」係為一開放式的用語，故應解釋成「包含但不限定於」。以外，「耦接」一詞在此係包含任何直接及間接的電氣連接手段。因此，若文中描述一第一裝置耦接於一第二裝置，則代表該第一裝置可直接電氣連接於該第二裝置，或透過其他裝置或連接手段間接地電氣連接至該第二裝置。
請參考第1圖，第1圖為本發明實施例一抗雜訊觸控電路10之示意圖。抗雜訊觸控電路10可用於一電容式觸控面板中，用來於一觸控產生時，取得該觸控所產生的一電容電壓資訊VS以(未繪示)及偵測一雜訊VN。抗雜訊觸控電路10包含有一電容CA、一觸碰偵測電路100、一電容電壓資訊感測電路120以及一雜訊偵測電路140。電容CA於觸碰發生時，產生一電容變化△C。電容CA具有一第一端用來接收一時脈訊號VTX以及一第二端。觸碰偵測電路100於觸碰產生時產生電容電壓資訊VS對應於電容變化△C。本發明實施例中，電容電壓資訊VS與電容變化△C成正比。觸碰偵測電路100包含有一放大器Amp、一開關SRST以及電容CB、CC。放大器Amp包含一正輸入端用來接收一參考訊號VREF、一負輸入端耦接至電容CA之第二端以及一輸出端用來輸出一電壓訊號VA。電容CB具有一第一端用來接收一時脈訊號VTXB以及一第二端耦接至放大器Amp之負輸入端。其中，時脈訊號VTXB為時脈訊號VTX之反向。電容CC以及開關SRST耦接於放大器Amp之負輸入端以及輸出端。
由於觸控面板的外部干擾(例如：顯示端的干擾以及充電器干擾)，觸碰偵測電路100接收一雜訊VN，由電容CB之第二端進入放大器Amp之負輸入端。在此情況下，當觸碰發生時，電壓訊號VA會包含電容電壓資訊VS以及雜訊VN。此外，若在沒有外部干擾(即，雜訊VN)以及觸碰存在時，電壓訊號VA等於參考訊號VREF。
電容電壓資訊感測電路120包含有一混波器121、一類比濾波器122、一類比數位轉換器123以及一數位濾波器124。混波器121包含有輸入端In_1與In_2、輸出端Out_1與Out_2。輸入端In_1用來接收參考訊號VREF。輸入端In_2用來接收電壓訊號VA。輸出端Out_1以及Out_2用來根據參考訊號VREF以及電壓訊號VA分別輸出差動訊號VMP與VMN。類比濾波器122耦接於混波器121，用來根據差動訊號VMP與VMN取得低頻訊號VFP與VFN，並根據低頻訊號VFP與VFN取得電容電壓資訊VS。較佳地，低頻訊號VFP與VFN之頻率接近於直流頻。類比數位轉換器123以及數位濾波器124再將電容電壓資訊VS轉換成一數位訊號D，並將數位訊號D傳送至一晶片。因此，本發明實施例之電容電壓資訊感測電路120可利用差動訊號VMP以及VMN，去除包含於電壓訊號VA中的雜訊VN，進一步地取得電容電壓資訊VS。由於利用差動訊號VMP以及VMN，因此無需複雜的電容切換，去除使用類比緩衝器以及取樣器的需求，進一步地避免雜訊疊推現象。
雜訊偵測電路140耦接於電容電壓資訊感測電路120中的混波器121，用來偵測雜訊VN。雜訊偵測電路140包含有一取樣單元141以及一比較單元142。取樣單元141耦接於混波器121，包含有輸入端In_3與In_4、輸出端Out_3與Out_4。輸入端In_3與In_4用來分別接收差動訊號VMP與VMN，輸出端Out_3與Out_4用來分別根據差動訊號VMP與VMN分別輸出取 樣訊號VAH與VAL。比較單元142耦接於取樣單元141，用來根據取樣訊號VAH與VAL、高門檻值VTHH、與VTHL、低門檻值VTLH與VTLL，產生比較結果VH與VL，並根據比較結果VH與VL，判斷是否偵測到雜訊VN。由於雜訊偵測電路140利用比較單元142執行訊號相加的動作，因此避免複雜的電容切換。
請參考第2圖，第2圖為本發明實施例混波器121之示意圖。混波器121包含有一對開關S1以及一對開關S2。開關S1耦接於輸入端In_1與In_2，用來接收參考訊號VREF以及電壓訊號VA，並週期性導通以及關閉，以根據參考訊號VREF以及電壓訊號VA產生差動訊號VMP與VMN。開關S2耦接於輸入端In_1與In_2，用來接收參考訊號VREF以及電壓訊號VA，並週期性導通以及關閉，以根據參考訊號VREF以及電壓訊號VA產生差動訊號VMP與VMN。開關S1導通時開關S2關閉，開關S1關閉時開關S2導通，且開關S1之導通與開關S2之導通相差一時間t。較佳地，開關S1以及開關之週期為一週期T。時間t為二分之一週期T，即，時間t=T/2。在此情形下，差動訊號VMP以及差動訊號VMN相差半個週期(T/2)。
請參考第3圖，第3圖為本發明實施例複數個訊號之波形圖。如第3圖所示，當一觸碰發生時，觸碰偵測電路100輸出包含有電容電壓資訊VS以及雜訊VN之電壓訊號VA。接著，混波器121接收參考訊號VREF以及電壓訊號VA。當第一開關S1導通且第二開關S2關閉時，差動訊號VMP等於電壓訊號VA，而差動訊號VMN則等於參考訊號VREF。當第二開關S2導通且第一開關S1關閉時，差動訊號VMP等於參考訊號VREF，而差動訊號VMN則等於電壓訊號VA。類比濾波器122根據差動訊號VMP與VMN，取得低頻訊號VFP以及VFN。此外，如第3圖所示，電容電壓資訊感測電路120可透過低頻訊號VFP與VFN相減後而得出電容電壓資訊VS。
請參考第4圖，第4圖為本發明實施例雜訊偵測電路140之示意圖。取樣單元141包含有開關S3與S4、電容C1與C2。比單元142包含有比較器CMP1與CMP2。當輸入端In_3與In_4分別接收差動訊號VMP與VMN時，開關S3與S4週期性導通或關閉，以根據差動訊號VMP與VMN分別產生取樣訊號VAH與VAL。當開關S3導通時，差動訊號VMP對電容C1充電；當開關S4導通時，差動訊號VMN對電容C2充電。電容C1與C2分別儲存差動訊號VMP與VMN之電壓，分別輸出取樣訊號VAH與VAL。較佳地，開關S3與S4的取樣週期為上述的週期T。比較器CMP1用來比較取樣訊號VAH以及VAL之一平均值VACM與高門檻值VTHH以及VTHL之一平均值VTH，以產生比較結果VH。比較器CMP2用來比較平均值VACM與低門檻值VTLH以及VTLL之平均值VTL，以產生比較結果VL。當平均值VACM大於平均值VTH時，比較結果VH與VL為“1”，並判斷偵測到雜訊VN。當平均值VACM小於平均值VTL時，比較結果VH與VL為“0”，並判斷偵測到雜訊VN。換句話說，當平均值VACM大於平均值VTL，但小於平均值VTH(即，VH為“0”，VL為“1”)，判斷沒有偵測到雜訊VN。
在本發明實施例中，開關S3導通時開關S4關閉，開關S3關閉時開關S4導通，且開關S3之導通與開關S4之導通相差二分之一週期T。由於取樣訊號VAH以及VAL同樣相差半個週期(T/2)，使得比較器CMP1於前半週期產生比較結果VH，而比較器CMP2於後半周器產生比較結果VL。如此一來，雜訊偵測的更新時間可縮短為二分之一週期(T/2)。相較於習知技術，本發明實施例之雜訊偵測電路140具有較快的反應速度，更快的更新是否偵測到雜訊VN。
請參考第5圖，第5圖為本發明實施例沒有雜訊VN發生時複數 個訊號之波形圖。如第5圖所示，取樣訊號之平均值VACM介於高門檻值之平均值VTL以及低門檻值之平均值VTH之間。
請參考第6圖，第6圖為本發明實施例雜訊VN發生時複數個訊號之波形圖。如第6圖所示，虛線部份為電壓訊號VA的原本波形，實線部份則是被雜訊VN所影響後電壓訊號VA的波形。比較器CMP1於上部箭頭處，執行比較功能並產生比較結果VH，比較器CMP2於下部箭頭處，執行比較功能產生比較結果VL。由於取樣訊號之平均值VACM小於低門檻值之平均值VTL，因此比較結果VH以及VL為“0”，並判斷偵測到雜訊VN。
請參考第7圖，第7圖為本發明實施例雜訊VN發生時複數個訊號之波形圖。如第7圖所示，虛線部份為電壓訊號VA的原本波形，實線部份則是被雜訊VN所影響後電壓訊號VA的波形。比較器CMP1於上部箭頭處，執行比較功能並產生比較結果VH，比較器CMP2於下部箭頭處，執行比較功能產生比較結果VL。由於取樣訊號之平均值VACM大於高門檻值之平均值VTH，因此比較結果VH以及VL為“1”，並判斷偵測到雜訊VN。
另一方面，雜訊偵測電路140的輸入端In_3與In_4除了用來接收差動訊號VMP與VMN外，雜訊偵測電路140可直接耦接於觸碰偵測電路100，用來接收電壓訊號VA。請參考第8圖，第8圖為本發明實施例一抗雜訊觸控電路80之示意圖。除了雜訊偵測電路140直接耦接至電壓訊號VA外，抗雜訊觸控電路80之基本架構與功能與抗雜訊觸控電路10類似。因此，抗雜訊觸控電路80之詳細操作方可參考上述，於此不再贅述。
綜上所述，本發明實施例之電容電壓資訊感測電路可利用差動訊號，去除雜訊，進一步取得電容電壓資訊。因此，無需複雜的電容切換，去 除使用類比緩衝器以及取樣器的需求，進一步地避免雜訊疊推現象。另外，本發明實施例之雜訊偵測電路利用比較器執行訊號相加的動作，因此避免複雜的電容切換，並具有較快的反應速度，更快的更新是否偵測到雜訊。
以上所述僅為本發明之較佳實施例，凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾，皆應屬本發明之涵蓋範圍。
10‧‧‧抗雜訊觸控電路
100‧‧‧觸碰偵測電路
120‧‧‧電容電壓資訊感測電路
140‧‧‧雜訊偵測電路
121‧‧‧混波器
122‧‧‧類比濾波器
123‧‧‧類比數位轉換器
124‧‧‧數位濾波器
141‧‧‧取樣單元
142‧‧‧比較單元
VMN、VMP‧‧‧差動訊號
VAH、VAL‧‧‧取樣訊號
VFP、VFN‧‧‧低頻訊號
In_1、In_2、In_3、In_4‧‧‧輸入端
Out_1、Out_2、Out_3、Out_4‧‧‧輸出端
VA‧‧‧電壓訊號
VREF‧‧‧參考訊號
VN‧‧‧雜訊
VS‧‧‧電容電壓資訊
D‧‧‧數位訊號
VTHH、VTHL、VTLH、VTLL‧‧‧門檻值
Amp‧‧‧放大器
SRST‧‧‧開關
CA、CB、CC‧‧‧電容

Claims (13)

  1. 一種電容電壓資訊感測電路，包含有：一混波器，包含有：一第一輸入端，用來接收一參考訊號；一第二輸入端，用來接收一電壓訊號，其中該電壓訊號於一觸碰發生時包含一電容電壓資訊以及一雜訊；一第一輸出端，用來根據該電壓訊號以及該參考訊號輸出一第一差動訊號以及一第二輸出端，用來根據該電壓訊號以及該參考訊號輸出一第二差動訊號；以及一類比濾波器，耦接於該混波器，用來根據該第一差動訊號以及該第二差動訊號產生一第一低頻訊號以及一第二低頻訊號；其中，該電容電壓資訊感測電路根據該第一低頻訊號以及該第二低頻訊號取得該電容電壓資訊。
  2. 如請求項1所述之電容電壓資訊感測電路，其另包含一類比數位轉換器耦接於該類比濾波器；以及一數位濾波器耦接於該類比數位轉換器。
  3. 如請求項1所述之電容電壓資訊感測電路，其中該混波器另包含：一對第一開關，耦接於該第一輸入端以及該第二輸入端，用來週期性導通以及關閉，以根據該電壓訊號以及該參考訊號產生該第一差動訊號以及該第二差動訊號；以及一對第二開關，耦接於該第一輸入端以及該第二輸入端，用來週期性導通以及關閉，以根據該電壓訊號以及該參考訊號產生該第一差動訊號以及該第二差動訊號； 其中，該對第一開關導通時該對第二開關關閉，該對第一開關關閉時該對第二開關導通，該對第一開關之導通與該對第二開關之導通相差一時間。
  4. 如請求項3所述之電容電壓資訊感測電路，其中於該對第一開關導通且該對第二開關關閉時，該第一差動訊號等於該電壓訊號，而該第二差動訊號等於該參考訊號。
  5. 如請求項3所述之電容電壓資訊感測電路，其中於該對第二開關導通且該對第一開關關閉時，該第一差動訊號等於該參考訊號，而該第二差動訊號等於該電壓訊號。
  6. 如請求項1所述之電容電壓資訊感測電路，其中該電容電壓資訊為該第一低頻訊號減去該第二低頻訊號所得出。
  7. 一種用於一電容式觸控面板之抗雜訊觸控電路，包含有：一電容電壓資訊感測電路，包含有：一混波器，包含有：一第一輸入端，用來接收一參考訊號；一第二輸入端，用來接收一電壓訊號，其中該電壓訊號於一觸碰發生時包含一電容電壓資訊以及一雜訊；一第一輸出端，用來根據該電壓訊號以及該參考訊號輸出一第一差動訊號以及一第二輸出端，用來根據該電壓訊號以及該參考訊號輸出一第二差動訊號；以及一類比濾波器，耦接於該混波器，用來根據該第一差動訊號以及該 第二差動訊號產生一第一低頻訊號以及一第二低頻訊號；其中，該電容電壓資訊感測電路根據該第一低頻訊號以及該第二低頻訊號取得該電容電壓資訊；一雜訊偵測電路，用來偵測該雜訊，該雜訊偵測電路包含有：一取樣單元，耦接於該混波器，用來對該第一差動訊號以及該第二差動訊號取樣，該取樣單元包含有：一第三輸入端，用來接收該第一差動訊號；一第四輸入端，用來接收該第二差動訊號；一第三輸出端，用來根據該第一差動訊號輸出一第一取樣訊號；以及一第四輸出端，用來根據該第二差動訊號輸出一第二取樣訊號；以及一比較單元，耦接於該取樣單元，用來根據該第一取樣訊號、該第二取樣訊號以及複數個門檻值，產生複數個比較結果，判斷是否偵測到該雜訊。
  8. 如請求項7所述之抗雜訊觸控電路，其中該取樣單元另包含有：一第三開關，耦接於該第一輸出端，用來週期性導通或關閉，以根據第一差動訊號產生一第一取樣訊號；以及一第四開關，耦接於該第二輸出端，用來週期性導通或關閉，以根據第二差動訊號產生一第二取樣訊號。
  9. 如請求項7所述之抗雜訊觸控電路，其中該比較單元包含：一第一比較器，耦接於該第三輸出端以及該第四輸出端，用來比較該第一取樣訊號以及該第二取樣訊號之平均值與一第一高門檻值以及一第二高門檻值之平均值，以產生一第一比較結果；以及 一第二比較器，耦接於該第三輸出端以及該第四輸出端，用來比較該第一取樣訊號以及該第二取樣訊號之平均值與一第一低門檻值以及一第二低門檻值之平均值，以產生一第二比較結果。
  10. 如請求項9所述之抗雜訊觸控電路，其中該比較單元於該第一比較結果指示該第一取樣訊號以及該第二取樣訊號之平均值大於該第一高門檻值以及該第二高門檻值之平均值時判斷偵測到該雜訊。
  11. 如請求項9所述之抗雜訊觸控電路，其中該比較單元於該第二比較結果指示該第一取樣訊號以及該第二取樣訊號之平均值小於該第一低門檻值以及該第二低門檻值之平均值時判斷偵測到該雜訊。
  12. 如請求項7所述之抗雜訊觸控電路，其另包含：一第一電容，用來於一觸碰發生時產生一電容變化，該第一電容包含有：一第一端，用來接收一第一時脈訊號；以及一第二端，用來接收一雜訊；一觸碰偵測電路，用來於該觸碰產生時產生一電容電壓資訊對應於該電容變化，該觸碰偵測電路包含有：一放大器，包含：一正輸入端，用來接收一參考訊號；一負輸入端，耦接至該第一電容之該第二端；以及一輸出端；用來輸出該電壓訊號；一第二電容，包含有：一第一端，用來接收一第二時脈訊號；以及一第二端耦接至該放大器之該負輸入端；一第三電容，耦接於該放大器之該負輸入端以及該輸出端；以及一開關，耦接於該負輸入端以及該輸出端。
  13. 一種用於一電容式觸控面板之抗雜訊觸控電路，包含有：一電容電壓資訊感測電路，包含有：一混波器，包含有：一第一輸入端，用來接收一參考訊號；一第二輸入端，用來接收一電壓訊號，其中該電壓訊號於一觸碰發生時包含一電容電壓資訊以及一雜訊；一第一輸出端，用來根據該電壓訊號以及該參考訊號輸出一第一差動訊號以及一第二輸出端，用來根據該電壓訊號以及該參考訊號輸出一第二差動訊號；以及一類比濾波器，耦接於該混波器，用來根據該第一差動訊號以及該第二差動訊號產生一第一低頻訊號以及一第二低頻訊號；其中，該電容電壓資訊感測電路根據該第一低頻訊號以及該第二低頻訊號取得該電容電壓資訊；一雜訊偵測電路，用來偵測該雜訊，該雜訊偵測電路包含有：一取樣單元，用來接收該電壓訊號以及對該電壓訊號取樣，該取樣單元包含有：一第三輸入端，用來接收該電壓訊號；一第四輸入端，用來接收該電壓訊號；一第三輸出端，用來根據該電壓訊號輸出一第一取樣訊號；以及一第四輸出端，用來根據該電壓訊號輸出一第二取樣訊號；以及一比較單元，耦接於該取樣單元，用來根據該第一取樣訊號、該第二取樣訊號以及複數個門檻值，產生複數個比較結果，判斷是否偵測到該雜訊。
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