TWI521219B - Electrical testing devices for environmental testing - Google Patents

Description

用於環境測試之電性檢測裝置

本發明係與利用探針對電子元件或封裝模組進行電性檢測之裝置有關，特別是關於一種用於溫度與濕度環境測試之電性檢測裝置。

請參閱第1圖，習用之電性檢測裝置10主要包含有承載盤11、加壓塊12以及複數探針13，該承載盤11具有一測試槽14(亦可依需求而設有複數測試槽14)，各該探針13穿設於該承載盤11且有一端位於測試槽14內。使用該電性檢測裝置10時，係將一待測物15設置於該測試槽14內，並將該加壓塊12壓抵於該待測物15上，以使該待測物15之接點確實地與探針13接觸，藉以利用探針13對該待測物15進行電性檢測。該待測物15可為電子元件或封裝模組，特別是系統級封裝模組(System in Package Module；簡稱SiP Module)。

然而，前述之電性檢測裝置10對待測物15進行電性檢測時，該待測物15係封閉於測試槽14內而難以受到外部環境因素(例如溫度、濕度等等)影響，因此該電性檢測裝置10不適用於環境測試(亦即在特定之溫度或濕度之下進行電性檢測)。

習知SiP Module執行通電之環境可靠度測試時，例如溫度濕度偏壓測試(THB)、偏壓高加速濕度應力抵抗測試(biased HAST)等等，需以SMT製程(surface mount technology表面黏著技術)將SiP Module組裝在一特殊設計之電源供應介面板(EVB)上，才可作為偏壓測試用之可靠度測試板。如此之測試方式需事先進行EVB設計及SMT製程，因此過程較為費時，而且EVB若有損壞則會影響SiP Module之測試結果。

有鑑於上述缺失，本發明之主要目的在於提供一種用於環境測試之電性檢測裝置，係能讓待測物在外部環境條件之下進行電性檢 測，且檢測過程簡便，並可避免檢測結果受到不必要之影響。

為達成上述目的，本發明所提供之用於環境測試之電性檢 測裝置包含有底座、壓板，以及至少一氣體通道，該底座具有頂面、底面，以及至少一測試區，該至少測試區具有自頂面凹陷且用以設置待測物的測試槽、連通於測試槽與底面之間的探針通道，以及穿設於探針通道且用以接觸待測物之探針，壓板係能移開地設置於底座之測試槽上方，至少一氣體通道係貫穿底座或壓板且與測試槽連通。

藉此，該電性檢測裝置外部之空氣會經由該氣體通道進入 該測試槽，使得該待測物在外部環境條件(例如特定之溫度及濕度)之下進行電性檢測，而且，使用該電性檢測裝置之檢測過程相當簡便，不需事先設計EVB以及將待測物組裝在EVB上，待測物只要直接設於該測試槽內即可進行檢測，如此亦可避免檢測結果受到不必要之影響(例如受EVB損壞影響)。

有關本發明所提供之用於環境測試之電性檢測裝置的詳細構造、特點、組裝或使用方式，將於後續的實施方式詳細說明中予以描述。然而，在本發明領域中具有通常知識者應能瞭解，該等詳細說明以及實施本發明所列舉的特定實施例，僅係用於說明本發明，並非用以限制本發明之專利申請範圍。

[先前技術]

10‧‧‧電性檢測裝置

11‧‧‧承載盤

12‧‧‧加壓塊

13‧‧‧探針

14‧‧‧測試槽

15‧‧‧待測物

[實施例]

20‧‧‧電性檢測裝置

30‧‧‧底座

31‧‧‧承載盤

311‧‧‧頂面

312‧‧‧下表面

32‧‧‧底盤

321‧‧‧底面

322‧‧‧上表面

33‧‧‧底架

34‧‧‧測試區

35‧‧‧測試槽

351‧‧‧承載面

352‧‧‧凹陷面

352a‧‧‧第一區塊

352b‧‧‧第二區塊

36‧‧‧探針通道

361、362‧‧‧穿孔

37‧‧‧探針

38‧‧‧連接槽

39‧‧‧凸塊

40‧‧‧壓板

41‧‧‧頂面

42‧‧‧底面

44‧‧‧加壓塊

50‧‧‧壓扣

60‧‧‧下氣體通道

61‧‧‧下凹槽

62‧‧‧穿孔

63‧‧‧長槽孔

70‧‧‧上氣體通道

第1圖為習用之電性檢測裝置的剖視示意圖；第2圖為本發明一較佳實施例所提供電性檢測裝置的立體組合圖；第3圖為本發明較佳實施例所提供電性檢測裝置的立體分解圖；第4圖為本發明較佳實施例所提供電性檢測裝置的局部頂視圖；第5圖為本發明較佳實施例所提供電性檢測裝置的底視圖；第6圖為第5圖沿剖線6-6之剖視圖；第7圖為第5圖沿剖線7-7之剖視圖；第8圖為本發明較佳實施例所提供電性檢測裝置底座的立體分解圖； 第9圖為本發明較佳實施例所提供電性檢測裝置底座之頂視圖；以及第10圖為本發明該較佳實施例所提供電性檢測裝置底座之承載盤的頂視圖。

請先參閱第2圖至第7圖，本發明一較佳實施例所提供之用於環境測試之電性檢測裝置20包含有底座30、壓板40、二壓扣50，以及複數氣體通道60、70，本實施例之氣體通道60、70包含有複數貫穿該底座30之下氣體通道60，以及複數貫穿該壓板40之上氣體通道70。

請參閱第8圖及第9圖，該底座30包含有依序相疊之一承載盤31、一底盤32及一底架33，且具有複數測試區34。該底架33係呈方框狀，該底盤32具有一與該底架33連接之底面321，以及一與該底面321朝向相反方向之上表面322，該承載盤31係設於該上表面322，且具有朝向相反方向之一頂面311及一下表面312。各該測試區34具有一自該頂面311凹陷且用以設置一待測物(圖中未示)的測試槽35、貫穿該底座30且與該測試槽35連通之四探針通道36，以及分別穿設於該等探針通道36之四探針37(如第7圖所示)，各該測試區34之探針通道36與探針37的數量不限，可依需求設置。此外，各該測試區34設有一下氣體通道60，如第5、6圖所示。

請參閱第10圖，各該測試槽35具有一用以承載該待測物之承載面351，以及一低於該承載面351之凹陷面352(亦即該凹陷面352較該承載面351更接近該底面321，如第6圖所示)，該凹陷面352包含有分別位於該承載面351二側的一第一區塊352a及一第二區塊352b，相鄰之第一區塊352a與第二區塊352b受一連接槽38連接。

如第6圖所示，該測試區34更具有一自該底盤32之上表面322凸出之凸塊39，該下氣體通道60包含有一自該承載盤31之下表面312凹陷的下凹槽61、貫穿該凸塊39之三穿孔62(本發明並不限制穿孔的數量)，以及一於該底面321呈開放狀且位置對應該凸塊39的長槽孔63，該下凹槽61係於該測試槽35之凹陷面352的第一區塊352a呈開放狀，該凸塊39設於該下凹槽61內，該等穿孔62與該下凹槽61連通且與該長槽 孔63連通；藉此，該下氣體通道60係連通於該底座30之測試槽35與底面321之間。

如第7圖所示，該探針通道36包含有一設於該測試槽35 內且貫穿該承載盤31的穿孔361，以及一與該穿孔361同軸設置且貫穿該底盤32的穿孔362；藉此，該探針通道36係連通於該測試槽35與該底面321之間，以供該探針37穿設於該探針通道36並以其一端接觸位於該測試槽35內之待測物。

如第2、3圖所示，該壓板40具有朝向相反方向之一頂面 41及一底面42，以及複數凸出於該底面42之加壓塊44，且該等上氣體通道70貫穿該頂面41與該底面42。該壓板40係藉由該二壓扣50而能移開地設置於該底座30之測試槽35上方，當該壓板40位於該等測試槽35上方時，該等加壓塊44分別與該等測試槽35相對，並分別壓抵該等測試槽35內之待測物，使得各該待測物之接點確實地與其所在之測試槽35內的探針37接觸，而且，各該上氣體通道70係與一該連接槽38及其所連接之第一、二區塊352a、352b相對(如第4圖所示)，使得該等測試槽35皆與上氣體通道70連通。

藉此，該等探針37可接收一測試儀器(圖中未示)所提供 之電性訊號，進而對該等待測物進行電性檢測，同時，該電性檢測裝置20外部之空氣會經由該等氣體通道60、70進入該等測試槽35，使得該等待測物在外部環境條件(例如特定之溫度及濕度)之下進行電性檢測。而且，使用該電性檢測裝置20之檢測過程相當簡便，不需事先設計EVB以及將待測物組裝在EVB上，待測物只要直接設於測試槽35內即可進行檢測，如此亦可避免檢測結果受到不必要之影響(例如受EVB損壞影響)。

值得一提的是，本實施例所提供之電性檢測裝置20具有複 數測試區34，因此可同時檢測複數待測物，以節省檢測時間；然而，本發明之電性檢測裝置亦可僅具有一測試區34，並對應地僅設有一下氣體通道60、一上氣體通道70及一加壓塊44。此外，本實施例所提供之電性檢測裝置20中，各該測試槽35同時與下氣體通道60及上氣體通道70連通，如此可使較多空氣進入測試槽35，使得測試槽35內的環境條件更接近外部環境條件；然而，本發明之電性檢測裝置亦可不具有上氣體通道70或下氣體 通道60，只要各該測試槽35與至少一貫穿該底座30或該壓板40的氣體通道連通即可。

再者，本實施例之測試槽35因具有凹陷面352而可容納較多氣體，各該凹陷面352具有第一、二區塊352a、352b且相鄰之第一、二區塊352a、352b受連接槽38連接之設計，更使得待測物較為均勻地接觸外部進入之氣體，而且上氣體通道70之數量只要與連接槽38相等即可，但本發明之電性檢測裝置的測試槽不限制為本實施例之態樣。

最後，必須再次說明，本發明於前揭實施例中所揭露的構成元件，僅為舉例說明，並非用來限制本案之範圍，其他等效元件的替代或變化，亦應為本案之申請專利範圍所涵蓋。

20‧‧‧電性檢測裝置

30‧‧‧底座

31‧‧‧承載盤

311‧‧‧頂面

32‧‧‧底盤

322‧‧‧上表面

33‧‧‧底架

34‧‧‧測試區

35‧‧‧測試槽

36‧‧‧探針通道

40‧‧‧壓板

42‧‧‧底面

44‧‧‧加壓塊

50‧‧‧壓扣

70‧‧‧上氣體通道

Claims (5)

1. 一種用於環境測試之電性檢測裝置，包含有：一底座，具有一頂面、一底面，以及至少一測試區，該測試區具有一自該頂面凹陷且用以設置一待測物的測試槽、一連通於該測試槽與該底面之間的探針通道，以及一穿設於該探針通道且用以接觸該待測物之探針；一壓板，係能移開地設置於該底座之測試槽上方；以及一上氣體通道與一下氣體通道，係分別貫穿該底座及該壓板，該上氣體通道與該下氣體通道均連通該測試槽且不受該待測物阻隔。
2. 如申請專利範圍第1項所述用於環境測試之電性檢測裝置，其中該測試槽具有一用以承載該待測物之承載面，以及一凹陷面位於較該承載面更接近該底座之該底面，該下氣體通道係位於該凹陷面。
3. 如申請專利範圍第2項所述之用於環境測試之電性檢測裝置，其中該底座具有複數個該測試區，各該測試區之測試槽的凹陷面包含有分別位於該承載面二側的一第一區塊及一第二區塊，各該第一區塊設有一該下氣體通道，相鄰之該第一區塊與該第二區塊透過一連接槽相連接。
4. 如申請專利範圍第2項所述之用於環境測試之電性檢測裝置，其中該底座包含有一底盤及一承載盤，該底盤具有該底面及一上表面，該承載盤係設於該上表面且具有該頂面及一下表面，該至少一測試區更具有一自該底盤之上表面凸出的凸塊，該下氣體通道包含有自該承載盤之下表面凹陷且 於該測試槽之凹陷面呈開放狀的一下凹槽、一貫穿該凸塊之穿孔，以及一於該底座之底面呈開放狀且與該凸塊之穿孔連通的長槽孔，該凸塊設於該下凹槽內，該凸塊之穿孔與該下凹槽連通。
5. 如申請專利範圍第1項所述之用於環境測試之電性檢測裝置，其中該壓板具有一底面，以及一凸出於該底面之加壓塊，該加壓塊與該測試槽相對，用以壓抵該待測物。