TWI503184B - Dispenser and its material inspection of dust removal method - Google Patents

Description

分配器及其物料檢測之污塵排除方法

本發明係有關於一種分配器及其污塵排除方法，尤指一種使用於料件進行分配之分配器，為其所進行料件檢測之檢測區間及檢測模組進行污塵排除之分配器及其物料檢測之污塵排除方法。

按，一般LED(發光二極體)屬於半導體之微電子領域，其封裝形式有很多種，包括：LED LAMP(插件類型)、SMD LED(貼片類型)、LED DISPLAY(數位顯示器類型和點矩陣類型)、POWER LED(功率型)。

以一般例如SMD LED等之電子元件細小料件為例，由於製成品之電性及光譜特性複雜且量大，因此通常需要透過量測及分選的製程，以將不同電性或光譜特性的電子元件經由分選加以分類及依等級分別收集，此類分選技術大多係用圓形測盤，並在圓形測盤上方設有多站之工作站，其中包括如極性反轉、電性量測…等之工作站，以對應由震動送料機經輸送槽道送入圓形測盤周緣缺槽並被間歇性作環形流路傳送的電子元件，進行極性方向不符檢測方向者逐一調整方向或進行量測，而完成量測的電子元件則通常經由自圓形測盤周緣缺槽，以氣壓排出及以輸送管道導至一可作選擇性分送料件之分配器，再由分配器分送並引導至不同排出路徑之管路所對應的收集盒進行收集，該分配器中的料件經過的路徑流路上會設有檢測裝置用以檢測料件，以偵測料件是否通過分配器並計算料件之通過數目。

申請人曾取得第M377579號「微小元件檢測裝置」專利，該專利案可以使用在前述分配器中用以檢測料件是否通過分配器，該案主要係設有兩組相對應且具有一傳輸、一接收狀態的光束檢測模組，於兩檢測模組之區間設有一檢知器，於檢知器中設有小於光束直徑的導槽道來供檢測模組之光束通過，利用導槽道規範縮小受測區域，讓微小元件經過穿射導槽道的光束時受到感測來進行檢測。

該習知第M377579號專利案雖然提升LED等細小料件之檢測準確率，惟，LED等細小料件在輸送過程中，易因碰撞、摩擦…等因素產生污塵，在LED等細小料件經輸送管道至收集盒時，通常會利用正壓氣流輸送，而污塵容易伴隨氣流進入檢知器中卡沾於導槽道內並沾附導槽道兩側之光束檢測模組，導致檢測之準確率降低，故每隔一段時間需停機並以人力去清潔光束檢測模組上之污塵(一天約需清潔2~3次)，此舉不但耗費人員時間成本，且清潔時產生之等待時間(一次約需停機約半小時)，亦無法配合長時間機台檢測不中斷之需求。

爰是，本發明之目的，在於提供一種具有排除污塵沾附其上檢測區間及檢測模組功能之分配器。

本發明另一目的，在於提供一種在料件通過之流路上進行檢測時，可以減少污塵沾附檢測區間及檢測模組之物料檢測之污塵排除方法。

依據本發明目的之分配器，使料件由一流路經過時，被檢測模組所檢知，該流路係由一移載座一側連結的輸送管道、該移載座另一側與一滑座間所設檢測區間中鏤孔狀通道、滑座上一排出孔三者形成相通所構成，該檢測模組置於該檢測區間端側，對該流路所通過的料件進行檢知； 該移載座設有氣體流道與檢測區間相通，該氣體流道包括各位於檢測區間兩端側可與檢測區間相通之二分流道，將正壓氣體經由分流道自檢測區間兩端側向檢測區間相對吹送，以清除檢測區間中之污塵者。

依據本發明另一目的之物料檢測之污塵排除方法，使料件由一流路經過時，被檢測模組所檢知，在檢測模組進行對料件檢測之檢測區間中，以位於檢測區間兩端側可與檢測區間相通之二分流道，將正壓氣體經由分流道自檢測區間兩端側向檢測區間相對吹送，將該檢測區間中之污塵予以清除者。

本發明實施例之分配器及其物料檢測之污塵排除方法，由於積聚於檢測模組之發射器及接收器間檢測區間中的污塵可以被吹離，不僅可使發射器及接收器之光束檢知效果更為精準，操作者亦可省去頻繁的污塵清除維修；而本發明實施例中，進氣管通入正壓氣體的作業可以採每次料件通過檢測區間後即進行，亦可依污塵積累程度設定一定時間或料件通過次數後進行，因此完全無需人力操作進行污塵排除作業，大幅提昇分配器進行料件分選、檢測之效率，使單位產能更具成本競爭力。

X‧‧‧分配器

1‧‧‧移載座

11‧‧‧固定座

12‧‧‧滑座

121‧‧‧排出孔

122‧‧‧槽道

123‧‧‧洩氣孔

13‧‧‧扣座

131‧‧‧開口

132‧‧‧扣緣

133‧‧‧固定件

134‧‧‧螺固件

14‧‧‧檢測區間

141‧‧‧通道

15‧‧‧氣體流道

151‧‧‧分流道

152‧‧‧主流道

153‧‧‧擋件

154‧‧‧螺固件

155‧‧‧進氣管

156‧‧‧密封件

157‧‧‧鏤孔

2‧‧‧輸送管道

21‧‧‧接頭

211‧‧‧扣槽

3‧‧‧檢測模組

31‧‧‧發射器

311‧‧‧導線

32‧‧‧接收器

321‧‧‧導線

4‧‧‧料件

第一圖係本發明實施例之分配器立體示意圖。

第二圖係本發明實施例之分配器立體分解圖。

第三圖係第一圖之A-A剖面示意圖。

第四圖係本發明實施例通氣除污之氣體流動方向示意圖。

請閱第一圖所示，本發明實施例可以應用於如圖所示分配器 X，該分配器X包括：一移載座1，其一側設有立設之固定座11，用以供驅動移載座1位移進行分配之驅動機構聯結固設，該驅動機構由於非本發明特徵，故不贅述；移載座1位於上方的一側與一輸送管道2一端之接頭21連結，該輸送管道2係將完成量測準備分類之LED等細小料件自上而下地藉氣體之推送由量測裝置輸送經分配器X，以藉分配器X上移載座1下端固設之滑座12的排出孔121排出，而被分配至預先設定的收集盒，有關輸送管道2前段之量測裝置及排出孔121後之收集盒，因非本發明特徵，故不贅述；一檢測模組3，可由發射光束之發射器31及一進行接收之接收器32組成，二者分別置設於所述移載座1下端滑座12之排出孔121兩側，分別各由導線311、321電氣連結。

參閱第二圖所示，該移載座1位於上方的一側固設一呈U字形的扣座13，其開口131內形成一扣緣132用以嵌扣與其連結的輸送管道2一端接頭21的環狀凹設扣槽211，並以固定件133藉螺固件134螺設封固；該移載座1位於下方的一側設有凹設槽間之一檢測區間14，其受該滑座12所覆設，該檢測區間14中設有鏤孔狀通道141，所述輸送管道2與檢測區間14中通道141、滑座12的排出孔121三者形成相通之流路；所述檢測模組3之發射器31及接收器32同時亦分別置於該流路及該檢測區間14兩端側；該移載座1內部設有氣體流道15，該氣體流道15包括各位於檢測區間14兩端側可與檢測區間14相通之二分流道151，以及連通於二分流道151間而偏置於檢測區間14中通道141一側之主流道152，該主流道152基於加工之需要而顯露於外部，並藉一擋件153以螺固件154螺設封密，主流道152同時受一進氣管155之正壓氣體供應，可將正壓氣體經分流各由分流道151自檢測區間14兩端側向通 道141相對吹送；在二分流道151出口處，檢測模組3之發射器31及接收器32各與檢測區間14對接處，分別各設有具撓性之密封件156，各密封件156上分別各設有鏤孔157使分流道151出口與檢測區間14可以相通。

請參閱第二、三、四圖，料件4由輸送管道2與檢測區間14中通道141、滑座12的排出孔121三者形成相通之流路經過時，將在檢測區間14處被檢測模組3的發射器31所發出之光束所檢知，並經產生計算或對應之訊號控制後，續經滑座12的排出孔121排出以被收集；而由於該檢測區間14既細狹又被吹送料件4之正壓氣體所作用，料件4上污塵將被伴隨侵入且沾附於檢測區間14中，因此，可藉由進氣管155通入正壓氣體，以使氣體經主流道152、分流道151、密封件156上鏤孔157，而自檢測區間14兩端側與檢測模組3間被導入該檢測區間14，並吹送污塵循向通道141之該料件4流路相對吹送排出，以吹除發射器31及接收器32前方檢測區間14中之污塵，使污塵自通道141之該料件4流路一併排除；滑座12的排出孔121靠檢測區間14的一側，其周緣設有環狀槽道122，並自環狀槽道122向兩側開有洩氣孔123，使進行清除污塵之過餘氣體可採自環狀槽道122之該料件4之流路外洩氣孔123洩出之手段進行排洩。

本發明實施例之分配器及其物料檢測之污塵排除方法，除使用於本發明實施例之分配器外，亦可使用於其他類似應用之檢測區間及檢測模組污塵排除場合中；由於積聚於檢測模組3之發射器31及接收器32間檢測區間14中的污塵可以被吹離，不僅可使發射器31及接收器32之光束檢知效果更為精準，操作者亦可省去頻繁的污塵清除維修；而本發明實施例中，進氣管155通入正壓氣體的作業可以採持續通入或每次料件4通過檢測區間14後即進行，亦可依污塵積累程度設定一定時間或料件4通過次數後進行， 因此完全無需人力操作進行污塵排除作業，大幅提昇分配器進行料件分選、檢測之效率，使單位產能更具成本競爭力。

惟以上所述者，僅為本發明之較佳實施例而已，當不能以此限定本發明實施之範圍，即大凡依本發明申請專利範圍及發明說明內容所作之簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本發明專利涵蓋之範圍內。

1‧‧‧移載座

12‧‧‧滑座

121‧‧‧排出孔

123‧‧‧洩氣孔

13‧‧‧扣座

131‧‧‧開口

132‧‧‧扣緣

133‧‧‧固定件

134‧‧‧螺固件

14‧‧‧檢測區間

141‧‧‧通道

15‧‧‧氣體流道

151‧‧‧分流道

152‧‧‧主流道

153‧‧‧擋件

154‧‧‧螺固件

155‧‧‧進氣管

156‧‧‧密封件

157‧‧‧鏤孔

2‧‧‧輸送管道

21‧‧‧接頭

211‧‧‧扣槽

3‧‧‧檢測模組

31‧‧‧發射器

32‧‧‧接收器

Claims (13)

1. 一種分配器，使料件由一流路經過時，被檢測模組所檢知，其特徵在於：該流路係由一移載座一側連結的輸送管道、該移載座另一側與一滑座間所設檢測區間中鏤孔狀通道、滑座上一排出孔三者形成相通所構成，該檢測模組置於該檢測區間端側，對該流路所通過的料件進行檢知；該移載座設有氣體流道與檢測區間相通，該氣體流道包括各位於檢測區間兩端側可與檢測區間相通之二分流道，將正壓氣體經由分流道自檢測區間兩端側向檢測區間相對吹送，以清除檢測區間中之污塵者。
2. 如申請專利範圍第1項所述分配器，其中，該檢測模組以一發射器及一接收器分別置於該檢測區間兩端側。
3. 如申請專利範圍第1項所述分配器，其中，該移載座設有固定座，用以供驅動移載座位移進行分配之驅動機構聯結固設。
4. 如申請專利範圍第1項所述分配器，其中，該移載座與輸送管道一端連結，該輸送管道將料件輸送經分配器，以藉分配器上移載座下端固設之滑座的排出孔排出，而被分配至預先設定的收集盒。
5. 如申請專利範圍第1項所述分配器，其中，該檢測區間係藉在移載座上形成凹設槽間，並於凹設槽間外以該滑座覆設所構成。
6. 如申請專利範圍第1項所述分配器，其中，該氣體流道包括連通於二分流道間而偏置於檢測區間中通道一側之主流道。
7. 如申請專利範圍第6項所述分配器，其中，該二分流道出口處，檢測模組與檢測區間對接處，設有具撓性之密封件，各密封件上分別各設有鏤孔使分流道出口與檢測區間可以相通。
8. 如申請專利範圍第6項所述分配器，其中，該主流道顯露於外部並藉一擋件封密。
9. 如申請專利範圍第1項所述分配器，其中，該滑座的排出孔靠檢測區間的一側，其周緣設有環狀槽道，並自環狀槽道開有洩氣孔。
10. 一種物料檢測之污塵排除方法，使料件由一流路經過時，被檢測模組所檢知，其特徵在於：在檢測模組進行對料件檢測之檢測區間中，以位於檢測區間兩端側可與檢測區間相通之二分流道，將正壓氣體經由分流道自檢測區間兩端側向檢測區間相對吹送，將該檢測區間中之污塵予以清除者。
11. 如申請專利範圍第10項所述物料檢測之污塵排除方法，其中，該通入之氣體係自一進氣管輸入，並循形成該檢測區間之一移載座中的內部氣體流道，以通入該檢測區間者。
12. 如申請專利範圍第10項所述物料檢測之污塵排除方法，其中，該通入之氣體係自該檢測區間端側與檢測模組間被導入該檢測區間，並吹送污塵循該料件之流路排出者。
13. 如申請專利範圍第10項所述物料檢測之污塵排除方法，其中，更包括一將過餘之氣體自該料件之流路外的一洩氣孔排出之手段。