TWI492047B - 測試裝置 - Google Patents

Description

測試裝置

一種測試裝置，特別有關於一種適於伺服器的測試裝置。

周邊裝置連接快速(Peripheral Component Interconnection Express,PCIE)介面，是一種廣泛用於伺服器或電腦系統的電腦資料傳輸介面。並且，在伺服器或電腦系統的主機板上，都會設置前述的資料傳輸介面，以進行資料的傳輸。

一般來說，當伺服器或電腦系統製作完成後，會對主機板上的周邊裝置連接快速介面進行測試，以確認主機板所配置的此資料傳輸介面與具有周邊元件互連快速介面的功能卡是否能正常進行資料的傳輸。

然而，對於主機板與具有周邊元件互連快速介面的功能卡，例如網路卡、顯示卡或音效卡，則要分別進行測試，而無法同時對主機板及功能卡進行雙向的測試，如此將會造成測試上的不便，且增加測試的困難度。因此，伺服器之周邊元件互連快速介面的測試上仍有改善的空間。

鑒於以上的問題，本揭露在於提供一種測試裝置，藉以可遠端對伺服器進行測試，以增加測試的便利性。

本揭露之一種測試裝置，適於一伺服器。此測試裝置包括第一連接單元、第二連接單元、資料傳輸單元、處理單元與網路單 元。第一連接單元適於耦接伺服器的主機板。第二連接單元適於耦接待測元件。資料傳輸單元耦接第一連接單元與第二連接單元，用以依據選擇訊號，切換多個資料傳輸模式其中之一，以進行第一連接單元與第二連接單元的資料傳輸。處理單元耦接資料傳輸單元，用以控制資料傳輸單元，透過第一連接單元對主機板進行第一測試程序，或透過第一連接單元與第二連接單元對待測元件進行第二測試程序，使第一連接單元及第二連接單元進行對應的資料傳輸。網路單元耦接處理單元，且適於耦接外部裝置，其中網路單元接收外部裝置所產生的控制訊號，以使外部裝置透過網路單元，控制處理單元進行第一測試程序與第二測試程序。

在一實施例中，前述測試裝置更包括供電單元。此供電單元耦接處理單元與第一連接單元，用以透過第一連接單元取得工作電壓，並將工作電壓提供給處理單元。

在一實施例中，前述測試裝置更包括記憶單元。此記憶單元耦接資料傳輸單元，用以儲存資料傳輸模式。

在一實施例中，前述測試裝置更包括顯示單元。此顯示單元耦接處理單元，用以顯示處理單元的運作狀態。

在一實施例中，前述測試裝置更包括開關單元。此開關單元耦接資料傳輸單元，用以產生選擇訊號。

在一實施例中，前述測試裝置更包括切換單元。此切換單元耦接資料傳輸單元、處理單元與第一連接單元，用以依據處理單元所產生的第一切換訊號或第一連接單元所產生的第二切換訊 號，以切換資料傳輸單元耦接第一連接單元，或是切換資料傳輸單元耦接處理單元。

在一實施例中，前述第一連接單元與第二連接單元包括週邊裝置連接快遞介面。

本揭露之測試裝置，藉由資料傳輸單元切換第一連接單元與第二連接單元之間的資料傳輸模式，再透過處理單元控制資料傳輸單元透過第一連接單元對主機板進行第一測試程序或透過第一連接單元與第二連接單元對待測元件進行第二測試程序。另外，還可進一步藉由網路單元接收外部裝置所產生的控制訊號，以控制處理單元進行前述第一測試程序或第二測試程序。如此一來，除了可在伺服器本端進行測試外，還可在遠端對伺服器進行監控及測試的操作，以增加測試的便利性。

有關本揭露的特徵與實作，茲配合圖式作實施例詳細說明如下。

以下所列舉之各實施例中，將以相同的標號代表相同或相似的元件。

請參考「第1圖」所示，其為本揭露之測試裝置的示意圖。本實施例之測試裝置100可為一測試卡，且適於一伺服器，亦即測試裝置100可對伺服器進行相應的測試操作。測試裝置100包括第一連接單元110、第二連接單元120、資料傳輸單元130、處理單元140與網路單元150。

第一連接單元110適於耦接連接主機板170。也就是說，主機板170上配置有一插槽(Slot)，則測試裝置100可透過第一連接單元110插設於主機板170上，以與主機板170進行耦接。

第二連接單元120適於耦接待測元件180。也就是說，第二連接單元120可設置成一插槽，則待測元件180可插設於第二連接單元120，以與第二連接單元120進行耦接。其中，待測元件180例如為顯示卡、音效卡或網路卡等，因此待測元件180的功能測試，可因應上述之不同的種類而進行顯示測試、音效播放測試或網路傳輸測試等。

在本實施例中，第一連接單元110與第二連接單元120具有周邊裝置連接快速(Peripheral Component Interconnection Express,PCIE)介面，以有對應之具有周邊裝置連接快速介面的主機板170與待測元件180。

資料傳輸單元130耦接於第一連接單元110與第二連接單元120，用以依據選擇訊號，切換多個資料傳輸模式其中之一，以進行第一連接單元110與第二連接單元120的資料傳輸。

在本實施例中，資料傳輸模式例如包括Gen3x4、Gen3x8及Gen3x16。因此，資料傳輸單元130便可依據選擇訊號，切換對應Gen3x4、Gen3x8或Gen3x16的資料傳輸模式，並以此Gen3x4、Gen3x8或Gen3x16資料傳輸模式，進行第一連接單元110與第二連接單元120之間的資料傳輸。

處理單元140耦接資料傳輸單元130，用以控制資料傳輸單元 130透過第一連接單元110對主機板170進行第一測試程序，或是透過第一連接單元110與第二連接單元120對待側元件180進行第二測試程序，以使第一連接單元110與第二連接單元120進行相應的資料傳輸。

前述處理單元140透過第一連接單元110對主機板170進行的第一測試程序，例如可包括連接測試、匯流排寬度測試、匯流排速度測試以及電源測試等測試。舉例來說，連接測試例如用以確定測試裝置100的第一連接單元110與主機板170的插槽確實耦接。匯流排寬度測試及匯流排速度測試例如用以測試出主機板170之插槽的傳輸頻寬以及傳輸速度。電源測試例如用以測試主機板170之電源供應是否正常。

前述第一測試程序皆是對於主機板170之插槽上的各腳位進行的必要測試，以確保不論是資料傳輸或是電源的供應都是正常運作的。另外，使用者更可在設定測試裝置100時，增加對系統管理匯流排、資料傳輸壓力等功能的測試，以使主機板170對各腳位的測試程序更加完整。其中，系統管理匯流排測試用以對主機板170上的其他已知位址之元件進行測試，資料傳輸壓力測試係用以測試在連續且大量的資料傳輸後，主機板170之插槽是否仍能正常工作。

在對主機板170進行完第一測試程序後，處理單元140即可得知主機板170之插槽的資料傳輸速度及寬度，而處理單元140例如可進一步控制資料傳輸單元130切換成透過第一連接單元110 與第二連接單元120對待側元件180進行第二測試程序。

前述處理單元140透過第一連接單元110與第二連接單元120對待側元件180進行的第二測試程序，例如可包括系統管理匯流排測試、匯流排寬度測試、匯流排速度測試以及待測元件180的功能測試。舉例來說，匯流排寬度及匯流排速度測試例如用以測試出待測元件180的資料傳輸寬度及速度。系統管理匯流排測試例如用以對待測元件180上的其他已知位址之元件進行測試。

另外，待測元件180的功能測試可因應不同之待測元件180，而有不同的功能測試。其中，待測元件180可為顯示卡、音效卡或網路卡，因此待測元件180的功能測試可因應上述之不同的種類，而進行相應的顯示測試、音效播放測試或網路傳輸測試等。其中，用以進行第二測試程序的測試資料，可由主機板170經由測試裝置100的第一連接單元110、資料傳輸單元130與第二連接單元120傳輸至待測元件180。

接著，待測元件180接收到前述的測試資料以進行相關的測試，並產生對應的測試結果。並且，此測試結果例如由待測元件180經由第二連接單元120、資料傳輸單元130與第一連接單元110傳輸至主機板170。

網路單元150耦接處理單元140，且適於耦接一外部裝置190，此外部裝置190例如為一遠端的伺服器。並且，網路單元150可為一網路連接埠，例如為RJ45。其中，網路單元150接收外部裝置190所產生的控制訊號，以使外部裝置190透過網路單元 150，控制處理單元140進行第一測試程序與第二測試程序。

如此一來，使用者除了可在伺服器本端進行測試外，還可進一步透過網路單元150對伺服器進行遠端進行監控及測試的操作，將可增加測試的便利性。

請參考「第2圖」所示，其為本揭露之另一測試裝置的示意圖。測試裝置200包括第一連接單元110、第二連接單元120、資料傳輸單元130、處理單元140、網路單元150、供電單元210、記憶單元220、顯示單元230、開關單元240與切換單元250。其中，第一連接單元110、第二連接單元120、資料傳輸單元130、處理單元140、網路單元150的耦接關係及相關操作可參考「第1圖」之實施例的說明，故在此不再贅述。

供電單元210耦接處理單元140與第一連接單元110，且第一連接單元110進一步耦接主機板170的電源供應器，因此當測試裝置200插設於主機板170上，供電單元210可透過第一連接單元110取得主機板170所提供的工作電壓，且供電單元210將此工作電壓提供給處理單元140，使處理單元140可進行運作。

記憶單元220耦接資料傳輸單元130，用以儲存前述資料傳輸單元130所對應的多個資料傳輸模式，使得資料處理單元140接收到選擇訊號後，可依據選擇訊號由記憶單元220取得對應的資料傳輸模式，切換至對應的資料傳輸模式，以進行第一連接單元110與第二連接單元120之間的資料傳輸。

顯示單元230耦接處理單元140，用以顯示處理單元140的運 作狀態。其中，顯示單元230可為發光二極體、七段顯示器或液晶顯示器等。舉例來說，處理單元140例如可依據第一測試程序或第二測試程序，而產生對應的第一顯示訊號或第二顯示訊號。接著，顯示單元230可產生對應第一顯示訊號或第二顯示訊號的顯示狀態，使得使用者可藉由顯示單元230的顯示狀態，而得知測試裝置200是以第一測試程序或是以第二測試程序進行測試。

開關單元240耦接資料傳輸單元130，用以產生選擇訊號。在本實施例中，開關單元240可為指撥開關，則使用者可調整指撥開關上的開關位置，以產生不同的選擇訊號，使資料傳輸單元130可依據對應的選擇訊號，切換對應的資料傳輸模式，以進行資料傳輸的操作。

切換單元250耦接資料傳輸單元130、處理單元140與第一連接單元110，用以依據處理單元140所產生的第一切換訊號或第一連接單元110所產生的第二切換訊號，以切換資料傳輸單元130耦接第一連接單元110，或是切換資料傳輸單元130耦接處理單元140。

在本實施例中，切換單元250例如透過第一連接單元110耦接至主機板170的一基板管理控制器(Baseboard Management Board,BMC)，此基板管理控制器亦可透過第一連接單元110發出控制訊號控制資料傳輸單元130進行第一測試程序或第二測試程序。

因此，當使用者在伺服器本端時，使用者可透過基板管理控 制器發出第二切換訊號，並透過第一連接單元110傳送至切換單元250，使切換單元250切換資料傳輸單元130與第一連接單元110耦接，以便於基板管理控制器可控制資料傳輸單元130進行第一測試程序或是第二測試程序。

另一方面，當使用者不在伺服器本端時，使用者例如可操作透過與網路單元150耦接的外部裝置190產生控制訊號，並透過網路單元150傳送至處理單元140，則處理單元140對應產生第一切換訊號至切換單元250，使切換單元250切換資料傳輸單元130與處理單元140耦接，以便於外部裝置190可透過處理單元140控制資料傳輸單元130進行第一測試程序或是第二測試程序。

如此一來，使用者除了可在伺服器本端進行測試外，還可進一步透過網路單元150對伺服器進行遠端進行監控及測試的操作，將可增加測試的便利性。

本揭露之實施例的測試裝置，其藉由資料傳輸單元切換第一連接單元與第二連接單元之間的資料傳輸模式，再透過處理單元控制資料傳輸單元透過第一連接單元對主機板進行第一測試程序或透過第一連接單元與第二連接單元對待測元件進行第二測試程序。另外，還可進一步藉由網路單元接收外部裝置所產生的控制訊號，以控制處理單元進行前述第一測試程序或第二測試程序。如此一來，除了可在伺服器本端進行測試外，還可在遠端對伺服器進行監控及測試的操作，以增加測試的便利性。

雖然本揭露以前述之實施例揭露如上，然其並非用以限定本 揭露，任何熟習相像技藝者，在不脫離本揭露之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，因此本揭露之專利保護範圍須視本說明書所附之申請專利範圍所界定者為準。

100、200‧‧‧測試裝置

110‧‧‧第一連接單元

120‧‧‧第二連接單元

130‧‧‧資料傳輸單元

140‧‧‧處理單元

150‧‧‧網路單元

170‧‧‧主機板

180‧‧‧待測元件

190‧‧‧外部裝置

210‧‧‧供電單元

220‧‧‧記憶單元

230‧‧‧顯示單元

240‧‧‧開關單元

250‧‧‧切換單元

第1圖為本揭露之測試裝置的示意圖。

第2圖為本揭露之另一測試裝置的示意圖。

100‧‧‧測試裝置

110‧‧‧第一連接單元

120‧‧‧第二連接單元

130‧‧‧資料傳輸單元

140‧‧‧處理單元

150‧‧‧網路單元

170‧‧‧主機板

180‧‧‧待測元件

190‧‧‧外部裝置

Claims (7)

1. 一種測試裝置，適於一伺服器，該測試裝置包括：一第一連接單元，適於耦接該伺服器的一主機板；一第二連接單元，適於耦接一待測元件；一資料傳輸單元，耦接該第一連接單元與該第二連接單元，用以依據一選擇訊號，切換多個資料傳輸模式其中之一，以進行該第一連接單元與該第二連接單元的一資料傳輸；一處理單元，耦接該資料傳輸單元，用以控制該資料傳輸單元，透過該第一連接單元對該主機板進行一第一測試程序，或透過該第一連接單元與該第二連接單元對該待測元件進行一第二測試程序，使該第一連接單元及該第二連接單元進行對應的該資料傳輸；以及一網路單元，耦接該處理單元，且適於耦接一外部裝置，其中網路單元接收該外部裝置所產生的一控制訊號，以使該外部裝置透過該網路單元，控制該處理單元進行該第一測試程序與該第二測試程序。
2. 如請求項1所述之測試裝置，更包括：一供電單元，耦接該處理單元與該第一連接單元，用以透過該第一連接單元取得一工作電壓，並將該工作電壓提供給該處理單元。
3. 如請求項1所述之測試裝置，更包括：一記憶單元，耦接該資料傳輸單元，用以儲存該些資料傳 輸模式。
4. 如請求項1所述之測試裝置，更包括：一顯示單元，耦接該處理單元，用以顯示該處理單元的一運作狀態。
5. 如請求項1所述之測試裝置，更包括：一開關單元，耦接該資料傳輸單元，用以產生該選擇訊號。
6. 如請求項1所述之測試裝置，更包括：一切換單元，耦接該資料傳輸單元、該處理單元與該第二連接單元，用以依據該處理單元所產生的一第一切換訊號或該第一連接單元所產生的一第二切換訊號，以切換該資料傳輸單元耦接該第一連接單元，或是切換該資料傳輸單元耦接該處理單元。
7. 如請求項1所述之測試裝置，其中該第一連接單元與該第二連接單元包括周邊裝置連接快速(Peripheral Component Interconnection Express,PCIE)介面。