TWI779205B - 調試裝置及具有所述調試裝置的電子裝置 - Google Patents

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Abstract

本發明提供一種調試裝置及具有所述調試裝置的電子裝置，所述電子裝置包括主機板及所述調試裝置，所述調試裝置裝設於所述主機板上，所述調試裝置至少包括處理單元、複數個調試單元及UART埠，所述調試裝置藉由所述UART埠與一終端設備通訊連接，所述處理單元用於藉由所述UART埠接收所述終端設備的調試訊號，並根據所述調試訊號發送調試控制訊號至所述複數個調試單元，以控制所述複數個調試單元根據所述調試訊號對所述電子裝置進行調試。

Description

調試裝置及具有所述調試裝置的電子裝置
本發明涉及設備調試領域，尤其涉及一種調試裝置及具有所述調試裝置的電子裝置。
隨著科學技術的發展，大資料的應用越來越廣泛，對伺服器的需求日益旺盛。在伺服器的開發階段，通常需要設計複數個調試開關或跳線，供PCH、BMC、CPLD等晶片對伺服器進行調試，以類比一些異常情況，並對異常進行定位及調試。然而，在實際的應用過程中，在伺服器的開發階段預留這些調試開關或跳線會佔據伺服器的應用空間，浪費設計資源，並且通常只能用於固定功能的調試，應用不夠靈活。
有鑒於此，有必要提供一種調試裝置及具有所述調試裝置的電子裝置，以解決上述技術問題。
一種調試裝置，裝設於電子裝置中，包括處理單元、複數個調試單元及UART埠，所述調試裝置藉由所述UART埠與一終端設備通訊連接，所述處理單元用於藉由所述UART埠接收所述終端設備的調試訊號，並根據所述調試 訊號發送調試控制訊號至所述複數個調試單元，以控制所述複數個調試單元根據所述調試訊號對所述電子裝置進行調試。
其中，所述處理單元至少包括調試控制模組、訊號分發模組及通訊模組，所述調試控制模組用於根據接收到的調試訊號生成調試控制訊號，所述訊號分發模組用於根據調試功能發送調試控制訊號至對應的調試單元，所述通訊模組用於與所述UART埠電性連接。
優選地，所述複數個調試單元至少包括BMC及PCH。
其中，所述BMC用於根據所述調試訊號對所述電子裝置的系統狀態進行調試。
其中，所述PCH用於根據所述調試訊號對所述電子裝置的硬體功能進行調試。
其中，所述UART埠包括四個引腳，分別為電源引腳、接地引腳、接收資料引腳及發送資料引腳。
其中，所述處理單元為CPLD晶片或FPGA晶片。
其中，所述處理單元預先存儲有複數個調試控制命令，所述複數個調試控制命令根據預設的調試功能生成。
一種電子裝置，包括主機板及上述的調試裝置，所述調試裝置裝設於所述主機板上，所述調試裝置藉由UART埠與一終端設備通訊連接。
上述調試裝置及具有所述調試裝置的電子裝置藉由設置通用非同步收發器埠，藉由連接可程式設計晶片實現電子裝置的邏輯調試功能，簡化了設計難度，提高了調試功能的多樣性。
1:電子裝置
100:調試裝置
10:處理單元
11:調試控制模組
12:訊號分發模組
13:通訊模組
20:調試單元
21:BMC
22:PCH
30:UART埠
200:主機板
2:終端設備
圖1是本發明較佳實施方式中電子裝置的應用結構示意圖。
圖2是本發明較佳實施方式中調試裝置的應用結構示意圖。
請參考圖1，為本發明較佳實施方式所提供的電子裝置1。所述電子裝置1包括，但不僅限於，調試裝置100及主機板200。所述調試裝置100裝設於所述主機板200上。在本實施方式中，所述電子裝置1為伺服器。在其他實施方式中，所述電子裝置1也可以是個人電腦。
請參考圖2，所述調試裝置100包括，但不僅限於，處理單元10、複數個調試單元20及UART(Universal Asynchronous Receiver/Transmitter，通用非同步收發器)埠30。在本實施方式中，所述調試裝置100藉由所述UART埠30與一終端設備2通訊連接。在本實施方式中，所述終端設備2為個人電腦。當需要對所述電子裝置1進行調試時，用戶可以藉由所述終端設備2發送調試訊號至所述電子裝置1。
所述處理單元10用於藉由所述UART埠30接收所述終端設備2發送的調試訊號，並根據所述調試訊號發送調試控制訊號至所述複數個調試單元20，以控制所述複數個調試單元20根據所述調試訊號對所述電子裝置1進行調試。
在本實施方式中，所述處理單元10至少包括調試控制模組11、訊號分發模組12及通訊模組13。其中，所述調試控制模組11用於根據接收到的調試訊號生成調試控制訊號。所述訊號分發模組12用於根據調試功能發送調試控制訊號至對應的調試單元20。所述通訊模組13用於與所述UART埠30電性連接，使得所述調試裝置100與所述電子裝置1建立通訊連接。
在本實施方式中，所述複數個調試單元20至少包括BMC(Baseboard Management Controller，基板管理控制器)21及PCH(Platform Controller Hub，南橋)22。
其中，所述BMC 21用於根據所述調試訊號對所述電子裝置1的系統狀態進行調試。在本實施方式中，所述系統狀態包括供電狀態、開啟狀態、硬體狀態等。所述PCH 22用於根據所述調試訊號對所述電子裝置1的硬體功能進行調試。在本實施方式中，所述硬體包括硬碟、記憶體、顯卡等。
在本實施方式中，所述UART埠30包括四個引腳，分別為電源引腳、接地引腳、接收資料引腳及發送資料引腳。
在本實施方式中，所述處理單元10為CPLD(Complex Programmable Logic Device，複雜可程式設計邏輯器件)晶片或FPGA(Field Programmable Gate Array，現場可程式設計閘陣列)晶片。
所述處理單元10預先存儲有複數個調試控制命令，所述複數個調試控制命令根據預設的調試功能生成，所述複數個調試控制命令還可以根據用戶調整的調試功能對應進行調整。
綜上所述，本發明符合發明專利要件，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施方式，舉凡熟悉本案技藝之人士，於爰依本發明精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下之申請專利範圍內。
1:電子裝置
100:調試裝置
10:處理單元
11:調試控制模組
12:訊號分發模組
13:通訊模組
20:調試單元
21:BMC
22:PCH
30:UART埠
2:終端設備

Claims (9)

  1. 一種調試裝置，裝設於一電子裝置中，其改良在於，所述調試裝置包括處理單元、複數個調試單元及UART埠，所述調試裝置藉由所述UART埠與一終端設備通訊連接，所述處理單元用於藉由所述UART埠接收所述終端設備的調試訊號，並根據所述調試訊號發送調試控制訊號至所述複數個調試單元，以控制所述複數個調試單元根據所述調試訊號對所述電子裝置進行調試，所述處理單元預先存儲有複數個調試控制命令，所述複數個調試控制命令根據預設的調試功能生成，所述複數個調試控制命令還可以根據用戶調整的調試功能對應進行調整。
  2. 如請求項1所述之調試裝置，其中，所述處理單元至少包括調試控制模組、訊號分發模組及通訊模組，所述調試控制模組用於根據接收到的調試訊號生成調試控制訊號，所述訊號分發模組用於根據調試功能發送調試控制訊號至對應的調試單元，所述通訊模組用於與所述UART埠電性連接。
  3. 如請求項1所述之調試裝置，其中，所述複數個調試單元至少包括BMC及PCH。
  4. 如請求項3所述之調試裝置，其中，所述BMC用於根據所述調試訊號對所述電子裝置的系統狀態進行調試。
  5. 如請求項3所述之調試裝置，其中，所述PCH用於根據所述調試訊號對所述電子裝置的硬體功能進行調試。
  6. 如請求項1所述之調試裝置，其中，所述UART埠包括四個引腳，分別為電源引腳、接地引腳、接收資料引腳及發送資料引腳。
  7. 如請求項1所述之調試裝置，其中，所述處理單元為CPLD晶片或FPGA晶片。
  8. 一種電子裝置，包括主機板，其改良在於，還包括如請求項1至7中任一項所述之調試裝置，所述調試裝置裝設於所述主機板上，所述調試裝置藉由UART埠與一終端設備通訊連接。
  9. 如請求項8所述之電子裝置，其中，所述電子裝置為伺服器或個人電腦。
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