CN112015602A - 调试装置及具有所述调试装置的电子装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种调试装置及具有所述调试装置的电子装置,所述电子装置包括主板及所述调试装置,所述调试装置装设于所述主板上,所述调试装置至少包括处理单元、多个调试单元及UART端口,所述调试装置通过所述UART端口与一终端设备通信连接,所述处理单元用于通过所述UART端口接收所述终端设备的调试信号,并根据所述调试信号发送调试控制信号至所述多个调试单元,以控制所述多个调试单元根据所述调试信号对所述电子装置进行调试。本发明通过设置通用异步收发器端口,通过连接可编程芯片实现电子装置的逻辑调试功能,简化了设计难度,提高了调试功能的多样性。

Description

调试装置及具有所述调试装置的电子装置
技术领域
本发明涉及设备调试领域,尤其涉及一种调试装置及具有所述调试装置的电子装置。
背景技术
随着科学技术的发展,大数据的应用越来越广泛,对服务器的需求日益旺盛。在服务器的开发阶段,通常需要设计多个调试开关或跳线,供PCH、BMC、CPLD等芯片对服务器进行调试,以模拟一些异常情况,并对异常进行定位及调试。然而,在实际的应用过程中,在服务器的开发阶段预留这些调试开关或跳线会占据服务器的应用空间,浪费设计资源,并且通常只能用于固定功能的调试,应用不够灵活。
发明内容
有鉴于此,有必要提供一种调试装置及具有所述调试装置的电子装置,以解决上述技术问题。
一种调试装置,装设于电子装置中,包括处理单元、多个调试单元及UART端口,所述调试装置通过所述UART端口与一终端设备通信连接,所述处理单元用于通过所述UART端口接收所述终端设备的调试信号,并根据所述调试信号发送调试控制信号至所述多个调试单元,以控制所述多个调试单元根据所述调试信号对所述电子装置进行调试。
其中,所述处理单元至少包括调试控制模块、信号分发模块及通信模块,所述调试控制模块用于根据接收到的调试信号生成调试控制信号,所述信号分发模块用于根据调试功能发送调试控制信号至对应的调试单元,所述通信模块用于与所述UART端口电性连接。
优选地,所述多个调试单元至少包括BMC及PCH。
其中,所述BMC用于根据所述调试信号对所述电子装置的系统状态进行调试。
其中,所述PCH用于根据所述调试信号对所述电子装置的硬件功能进行调试。
其中,所述UART端口包括四个引脚,分别为电源引脚、接地引脚、接收数据引脚及发送数据引脚。
其中,所述处理单元为CPLD芯片或FPGA芯片。
其中,所述处理单元预先存储有多个调试控制命令,所述多个调试控制命令根据预设的调试功能生成。
一种电子装置,包括主板及上述的调试装置,所述调试装置装设于所述主板上,所述调试装置通过UART端口与一终端设备通信连接。
上述调试装置及具有所述调试装置的电子装置通过设置通用异步收发器端口,通过连接可编程芯片实现电子装置的逻辑调试功能,简化了设计难度,提高了调试功能的多样性。
附图说明
图1是本发明较佳实施方式中电子装置的应用结构示意图。
图2是本发明较佳实施方式中调试装置的应用结构示意图。
主要元件符号说明
Figure BDA0002078828140000021
Figure BDA0002078828140000031
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参考图1,为本发明较佳实施方式所提供的电子装置1。所述电子装置1包括,但不仅限于,调试装置100及主板200。所述调试装置100装设于所述主板200上。在本实施方式中,所述电子装置1为服务器。在其他实施方式中,所述电子装置1也可以是个人电脑。
请参考图2,所述调试装置100包括,但不仅限于,处理单元10、多个调试单元20及UART(Universal Asynchronous Receiver/Transmitter,通用异步收发器)端口30。在本实施方式中,所述调试装置100通过所述UART端口30与一终端设备2通信连接。在本实施方式中,所述终端设备2为个人电脑。当需要对所述电子装置1进行调试时,用户可以通过所述终端设备2发送调试信号至所述电子装置1。
所述处理单元10用于通过所述UART端口30接收所述终端设备2发送的调试信号,并根据所述调试信号发送调试控制信号至所述多个调试单元20,以控制所述多个调试单元20根据所述调试信号对所述电子装置1进行调试。
在本实施方式中,所述处理单元10至少包括调试控制模块11、信号分发模块12及通信模块13。其中,所述调试控制模块11用于根据接收到的调试信号生成调试控制信号。所述信号分发模块12用于根据调试功能发送调试控制信号至对应的调试单元20。所述通信模块13用于与所述UART端口30电性连接,使得所述调试装置100与所述电子装置1建立通信连接。
在本实施方式中,所述多个调试单元20至少包括BMC(Baseboard ManagementController,基板管理控制器)21及PCH(Platform Controller Hub,南桥)22。
其中,所述BMC 21用于根据所述调试信号对所述电子装置1的系统状态进行调试。在本实施方式中,所述系统状态包括供电状态、开启状态、硬件状态等。所述PCH 22用于根据所述调试信号对所述电子装置1的硬件功能进行调试。在本实施方式中,所述硬件包括硬盘、内存、显卡等。
在本实施方式中,所述UART端口30包括四个引脚,分别为电源引脚、接地引脚、接收数据引脚及发送数据引脚。
在本实施方式中,所述处理单元10为CPLD(Complex Programmable LogicDevice,复杂可编程逻辑器件)芯片或FPGA(Field Programmable Gate Array,现场可编程门阵列)芯片。
所述处理单元10预先存储有多个调试控制命令,所述多个调试控制命令根据预设的调试功能生成,所述多个调试控制命令还可以根据用户调整的调试功能对应进行调整。
最后应说明的是,以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制,尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明,本领域的普通技术用户应当理解,可以对本发明的技术方案进行修改或等同替换,而不脱离本发明技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种调试装置,装设于一电子装置中,其特征在于:所述调试装置包括处理单元、多个调试单元及UART端口,所述调试装置通过所述UART端口与一终端设备通信连接,所述处理单元用于通过所述UART端口接收所述终端设备的调试信号,并根据所述调试信号发送调试控制信号至所述多个调试单元,以控制所述多个调试单元根据所述调试信号对所述电子装置进行调试。
2.如权利要求1所述的调试装置,其特征在于:所述处理单元至少包括调试控制模块、信号分发模块及通信模块,所述调试控制模块用于根据接收到的调试信号生成调试控制信号,所述信号分发模块用于根据调试功能发送调试控制信号至对应的调试单元,所述通信模块用于与所述UART端口电性连接。
3.如权利要求1所述的调试装置,其特征在于:所述多个调试单元至少包括BMC及PCH。
4.如权利要求3所述的调试装置,其特征在于:所述BMC用于根据所述调试信号对所述电子装置的系统状态进行调试。
5.如权利要求3所述的调试装置,其特征在于:所述PCH用于根据所述调试信号对所述电子装置的硬件功能进行调试。
6.如权利要求1所述的调试装置,其特征在于:所述UART端口包括四个引脚,分别为电源引脚、接地引脚、接收数据引脚及发送数据引脚。
7.如权利要求1所述的调试装置,其特征在于:所述处理单元为CPLD芯片或FPGA芯片。
8.如权利要求1所述的调试装置,其特征在于:所述处理单元预先存储有多个调试控制命令,所述多个调试控制命令根据预设的调试功能生成。
9.一种电子装置,包括主板,其特征在于:还包括如权利要求1-8中任一项所述的调试装置,所述调试装置装设于所述主板上,所述调试装置通过UART端口与一终端设备通信连接。
10.如权利要求9所述的电子装置,其特征在于:所述电子装置为服务器或个人电脑。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113377701B (zh) * 2021-06-22 2023-04-11 东莞华贝电子科技有限公司 基于复杂可编程逻辑器件cpld的串口控制系统及其通信方法
JP7432569B2 (ja) * 2021-10-11 2024-02-16 アンリツ株式会社 誤り検出装置および誤り検出方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102222056A (zh) * 2010-04-13 2011-10-19 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 具有嵌入式系统的电子设备
CN106936550A (zh) * 2015-12-30 2017-07-07 国基电子(上海)有限公司 调试调制解调器的装置和方法
US20190138369A1 (en) * 2017-11-03 2019-05-09 Dell Products L.P. Deep hardware access and policy engine

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6678838B1 (en) * 1999-08-23 2004-01-13 Advanced Micro Devices, Inc. Method to track master contribution information in a write buffer
CN103164307A (zh) * 2011-12-12 2013-06-19 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 调试系统及方法
CN103365751A (zh) * 2012-04-09 2013-10-23 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 主板测试装置及其转接模组
US10267850B2 (en) * 2014-12-22 2019-04-23 Intel Corporation Reconfigurable test access port with finite state machine control
US9996449B2 (en) * 2015-03-27 2018-06-12 Intel Corporation Instruction and logic for a convertible innovation and debug engine
US10474517B2 (en) * 2016-07-18 2019-11-12 American Megatrends International, Llc Techniques of storing operational states of processes at particular memory locations of an embedded-system device
CN106339344A (zh) * 2016-08-18 2017-01-18 浪潮(北京)电子信息产业有限公司 一种用于服务器系统调试的多路串口切换系统及方法
KR20180091364A (ko) * 2017-02-06 2018-08-16 삼성전자주식회사 디버그 호스트로서 동작하는 cpu를 포함하는 시스템 온 칩 및 이의 동작 방법
US10824530B2 (en) * 2017-06-21 2020-11-03 Intel Corporation System, apparatus and method for non-intrusive platform telemetry reporting using an all-in-one connector
CN108415842B (zh) * 2018-03-21 2021-01-29 杭州中天微系统有限公司 多核处理器

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102222056A (zh) * 2010-04-13 2011-10-19 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 具有嵌入式系统的电子设备
CN106936550A (zh) * 2015-12-30 2017-07-07 国基电子(上海)有限公司 调试调制解调器的装置和方法
US20190138369A1 (en) * 2017-11-03 2019-05-09 Dell Products L.P. Deep hardware access and policy engine

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
CYPRIAN WRONKA ET AL.: "Embedded Software Debug in Simulation and Emulation Environments for Interface IP", 《EMBEDDED SOFTWARE VERIFICATION AND DEBUGGING》, 19 April 2017 (2017-04-19), pages 31 - 34 *
王广丰: "基于ARM微处理器的嵌入式数控系统的设计与实现", 《中国优秀硕士学位论文全文数据库 工程科技Ⅰ辑》, no. 1, 15 January 2008 (2008-01-15), pages 022 - 95 *

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