CN110874293A - 热插拔测试装置 - Google Patents

Abstract

本申请涉及测试技术，更具体地，涉及用于对电子设备的热插拔功能进行测试的测试装置，包括：信号开关、电源开关和控制器；所述控制器耦合于所述信号开关和所述电源开关，通过执行测试命令控制所述信号开关和/或所述电源开关的闭合与断开；所述信号开关用于耦合主机和被测试的电子设备，通过所述信号开关的闭合与断开控制主机和电子设备之间信号的连通与断开；所述电源开关用于耦合主机和被测试的电子设备，通过所述电源开关的闭合与断开控制主机和电子设备之间电源的连通与断开。通过本申请提供的热插拔测试装置可以在电子设备的研发及生产过程中，对其热插拔功能进行测试，检验热插拔功能是否正确。

Description

热插拔测试装置

技术领域

本申请涉及测试技术，更具体地，涉及用于对电子设备的热插拔功能进行测试的测试装置。

背景技术

计算机系统中的多种电子设备支持热插拔功能。例如，连接到计算机USB(Universal Serial Bus，通用串行总线)端口的诸如鼠标、U盘等设备，连接到PCIe(Peripheral Component Interconnect Express,PCIe，高速外围组件互联)总线的板卡等，支持热插拔功能。连接到PCIe总线的固态硬盘，也提供热插拔功能。

在支持热插拔功能的设备的研发及生产过程中，需要对其热插拔功能进行测试。以检验热插拔功能是否正确。为确保可靠性，热插拔测试要进行数百乃至上千次。需要专用的测试装置来实施热插拔测试。

发明内容

本申请提供的热插拔测试装置可以在电子设备的研发及生产过程中，对其热插拔功能进行测试，检验热插拔功能是否正确。

根据本申请的第一方面，提供了根据本申请第一方面的第一热插拔测试装置，包括：信号开关、电源开关和控制器；所述控制器耦合于所述信号开关和所述电源开关，通过执行测试命令控制所述信号开关和/或所述电源开关的闭合与断开；所述信号开关用于耦合主机和被测试的电子设备，通过所述信号开关的闭合与断开控制主机和电子设备之间信号的连通与断开；所述电源开关用于耦合主机和被测试的电子设备，通过所述电源开关的闭合与断开控制主机和电子设备之间电源的连通与断开。

根据本申请的第一方面的第一热插拔测试装置，其中，所述控制器耦合于主机的电源针脚，通过测试命令控制主机开机或关机。

根据本申请的第一方面的第一或第二热插拔测试装置，其中，所述控制器耦合于主机的复位针脚，通过测试命令控制主机重启。

根据本申请的第一方面的第二或第三热插拔测试装置，其中，还包括：继电器，所述控制器通过所述继电器耦合于主机的电源针脚或复位针脚。

根据本申请的第一方面的第一至第四热插拔测试装置之一，其中，所述信号开关为PCLe信号开关，所述信号开关用于耦合于主机的PCIe插槽的用于传输数据的信号针脚和电子设备的PCIe信号针脚；所述电源开关用于耦合主机的PCIe插槽提供电源的针脚和电子设备的电源针脚。

根据本申请的第一方面的第一至第五热插拔测试装置之一，其中，所述测试命令包括测试目标和测试模式，所述测试目标指示测试命令要操作的对象，所述测试模式指示对测试目标的操作模式。

根据本申请的第一方面的第六热插拔测试装置，其中，所述测试命令包括时间，所述时间指示所述操作模式执行的时间长度。

根据本申请的第一方面的第六或第七热插拔测试装置，其中，所述操作模式为闭合、断开的执行顺序。

根据本申请的第一方面的第六或第七热插拔测试装置，其中，所述测试命令包括执行次数，所述执行次数指示所述操作模式执行的次数。

根据本申请的第一方面的第六至第九热插拔测试装置之一，其中，所述测试命令包括设置模式和模式码，所述设置模式指示所述控制器根据所述模式码获取对应的测试模式，并将获取的测试模式设置为所述测试命令指示的对测试目标的操作模式。

根据本申请的第一方面的第十热插拔测试装置，其中，所述测试命令包括时间，所述时间指示所述操作模式执行的时间长度。

根据本申请的第一方面的第十或第十一热插拔测试装置，其中，所述测试模式设置于所述控制器中，并且所述控制器还设置有与所述测试模式对应的模式码；所述控制器通过所述测试命令中的模式码获得所述控制器中对应的模式码，以获取相应的测试模式。

根据本申请的第一方面的第十至第十二热插拔测试装置之一，其中，所述测试模式指示实施电子设备的上电或下电。

根据本申请的第一方面的第十至第十二热插拔测试装置之一，其中，所述模式码指示的操作模式为在上电过程中，先闭合电源开关，在指定的时间后，再闭合信号开关；以及在下电过程中，先断开信号开关，在指定的时间后，再断开电源开关。

根据本申请的第一方面的第十至第九热插拔测试装置之一，其中，所述测试命令包括执行指定模式与模式码，所述执行指定模式指示所述控制器根据测试命令含义执行所述模式码对应的操作模式。

根据本申请的第一方面的第十五热插拔测试装置，其中，所述测试命令包括时间，所述时间指示所述操作模式执行的时间长度。

根据本申请的第一方面的第十五或第十六热插拔测试装置，其中，所述模式码指示的操作模式为指示闭合信号开关与电源开关，并保持指定的时间，接着断开信号开关与电源开关，并保持指定的时间，接着再闭合信号开关与电源开关，并保持指定的时间，接着再断开信号开关与电源开关。

根据本申请的第一方面的第十五或第十六热插拔测试装置，其中，所述测试命令包括执行次数，所述执行次数指示由所述模式码指示的操作模式重复执行的次数。

根据本申请的第一方面的第一至第十八热插拔测试装置之一，其中，还包括：第一连接器与第二连接器，所述第一连接器用于连接被测试的所述电子设备的PCIe针脚，所述第二连接器用于连接所述主机的PCIe插槽。

根据本申请的第一方面的第十九热插拔测试装置，其中，所述信号开关通过所述第一连接器耦合所述电子设备的PCIe信号针脚，通过所述第二连接器耦合所述主机的PCIe信号针脚；所述电源开关通过所述第一连接器耦合所述电子设备的电源针脚，通过所述第二连接器耦合所述主机的电源针脚。根据本申请的第二方面，提供了根据本申请第二方面的第一热插拔测试系统，包括：测试控制单元、主机和上述之一所述的热插拔测试装置，其中，所述主机通过所述热插拔测试装置操作被测试的电子设备，所述测试控制单元耦合于所述热插拔测试装置的控制器，并且所述测试控制单元向所述热插拔测试装置的控制器提供测试命令。

根据本申请的第二方面的第一热插拔测试系统，其中，所述测试控制单元耦合于所述主机，所述测试控制单元根据所述主机的指示，向所述热插拔测试设备提供测试命令。

根据本申请的第二方面的第二热插拔测试系统，其中，所述测试控制单元集成于所述主机。

根据本申请的第二方面的第一至第三热插拔测试系统之一，其中，所述热插拔测试装置耦合于主机的PCIe插槽，所述电子设备耦合于所述热插拔测试设备的PCIe插槽。

根据本申请的第二方面的第一至第四热插拔测试系统之一，其中，所述电子设备为固态硬盘。

根据本申请的第二方面的第一至第五热插拔测试系统之一，其中，所述电子设备耦合于所述测试控制单元，并向所述测试控制单元输出运行日志。

根据本申请的第二方面的第四热插拔测试系统，包括多个所述热插拔测试装置，每个所述热插拔测试装置被设置于所述主机的PCIe插槽之一，并耦合被测试电子设备之一；所述测试控制单元耦合于各所述热插拔测试装置并向各所述热插拔测试装置提供测试命令。

根据本申请的第二方面的第一至第七热插拔测试系统之一，其中，所述主机响应于无法访问所述电子设备，指示所述测试控制单元获取所述电子设备的调试信息或执行日志。

根据本申请的第二方面的第一至第八热插拔测试系统之一，其中，所述主机响应于无法访问所述电子设备，指示所述测试控制单元使所述主机复位或重新启动。

根据本申请的第二方面的第一至第九热插拔测试系统之一，其中，所述测试控制单元响应于无法访问所述主机，指示所述热插拔测试装置使所述主机复位或重新启动。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1展示了根据本申请实施例的热插拔测试系统的示意图；

图2A展示了根据本申请实施例的测试命令；

图2B展示了根据本申请实施例的转接卡实施测试的流程图；

图3A展示了根据本申请又一实施例的测试命令；

图3B展示了根据本申请又一实施例的热插拔测试过程中的信号波形；

图4展示了根据本申请再一实施例的测试命令。

具体实施方式

下面结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

根据本申请实施例的热插拔测试系统，通过模拟提供给被测试设备的电源与用于数据传输的信号的导通或断开而实施热插拔测试。

图1展示了根据本申请实施例的热插拔测试系统的示意图。

热插拔测试系统包括转接卡110、测试控制单元120、主机130以及被测试设备(固态硬盘)140。

以固态硬盘140为例，作为被测试设备。根据本申请实施例的热插拔测试系统也可用于测试其他多种电子设备的热插拔功能。固态硬盘140在工作时被设置在主机130的PCIe插槽中。为实施热插拔测试，根据本申请的实施例，转接卡110被设置在主机130的PCIe插槽132，而转接卡110还提供用于容纳固态硬盘140的PCIe插槽。从而，转接卡110将主机130的PCIe插槽132的电源与PCIe信号转接给固态硬盘140，固态硬盘140通过转接卡110耦合到主机130的PCIe插槽132。

测试控制单元120耦合到转接卡110，用于向转接卡110的控制器114提供命令，以指示热插拔测试过程的实施。测试控制单元120是例如计算机、服务器、或嵌入式计算设备。测试控制单元120通过例如串口、有线网络接口和/或无线网络接口的接口112同转接卡110的控制器114通信。

固态硬盘140被设置在转接卡110的例如PCIe接口的固态硬盘插槽中。PCIe插槽为固态硬盘140提供电源与用于数据传输的信号。PCIe插槽的电源通过固态硬盘140的电源针脚144提供给固态硬盘140，而用于数据传输的信号通过固态硬盘140的PCIe信号针脚142提供给固态硬盘140。

转接卡110包括PCIe信号开关116与电源开关118。PCIe信号开关116耦合主机130的PCIe插槽132的用于传输数据的信号针脚和固态硬盘140的PCIe信号针脚142，用于控制PCIe信号针脚142与PCIe插槽132的对应针脚的连通与断开。电源开关118耦合主机130的PCIe插槽132提供电源的针脚和固态硬盘140的电源针脚144，用于控制电源针脚144与PCIe插槽132的对应针脚的连通与断开。虽然固态硬盘有多个针脚，在可选的实施方式中，将多个针脚分为电源针脚144与PCIe信号针脚142两组，并分别由电源开关118与PCIe信号开关116控制，从而简化在热插拔测试过程中对针脚的通断控制。

转接卡110的控制器114耦合到PCIe信号开关116与电源开关118，并控制PCIe信号开关116与电源开关118的闭合与断开。在PCIe信号开关116闭合时，PCIe针脚142连通PCIe插槽132的对应针脚，在PCIe信号开关116断开时，PCIe针脚142同PCIe插槽132的对应针脚断开。在电源开关118闭合时，电源针脚144连通PCIe插槽132的对应针脚，在电源信号开关118断开时，电源针脚142同PCIe插槽132的对应针脚断开。控制器114是单片机、微处理器、微控制器、FPGA(现场可编程门阵列)或应用专用集成电路(ASIC)。

可选地，转接卡110的控制器114还耦合到主机110的电源针脚(PW)与复位针脚(RST)。响应于电源针脚(PW)被施加信号，主机130开机或关机。响应于复位针脚(RST)被施加信号，主机130重启。控制器114通过向电源针脚(PW)和/或复位针脚(RST)施加信号，以指示主机开机、关机和/或重启。依然可选地，控制器114通过一个或多个继电器耦合到电源针脚(PW)和/或复位针脚(RST)，并向电源针脚(PW)和/或复位针脚(RST)施加信号。

可选地，测试控制单元120也耦合到主机130。主机130指示测试控制单元120对固态硬盘140实施热插拔测试，主机130还监视耦合到自身的PCIe插槽132的固态硬盘140的工作状态，从而知晓固态硬盘140在热插拔测试过程中的正确性。依然可选地，测试控制单元120被集成到主机130。

依然可选地，固态硬盘140的调试接口(未示出)耦合到测试控制单元120，并向测试控制单元120输出自身的运行日志。测试控制单元120通过运行日志，知晓固态硬盘140的工作状态。

依然可选地，根据本申请实施例的热插拔测试系统，主机130包括多个PCIe插槽132，每个PCIe插槽132通过各自的转接卡110耦合到各个固态硬盘140，从而同时对多个固态硬盘140实施热插拔测试。测试控制单元120耦合到各转接卡110的接口112，并向各转接卡110的控制器114提供测试命令。

图2A展示了根据本申请实施例的测试命令；图2B展示了根据本申请实施例的转接卡实施测试的流程图。

也参看图1，测试控制单元120向控制器114提供测试命令，以指示控制器114操作PCIe信号开关116和/或电源开关118，来针对固态硬盘140实施热插拔测试。可选地，测试命令还指示控制器114向主机的电源开关(PW)与复位开关(RST)提供信号。

测试命令210包括多个字段，分别指示测试目标212、测试模式214和/或时间216。

测试目标212指示测试命令210要操作的对象，例如PCIe信号开关116、电源开关118和/或继电器的一个或多个。

测试模式214指示对测试目标的操作模式，例如，闭合或断开开关(或继电器)，使开关(或继电器)经历较短时间(例如0.1秒)断开后再闭合，使开关(或继电器)经历较短时间(例如0.1s)闭合后再断开，使开关(或继电器)经历较长时间(例如30s)断开后再闭合，使开关(或继电器)经历多次较短时间(例如0.1秒)的断开与闭合序列后再闭合，或者使开关(或继电器)经历多次较短时间(例如0.1秒)的断开与闭合序列后再断开等。

操作模式用来模拟热插拔过程固态硬盘140所体验到的信号/电源变化。在固态硬盘被插入PCIe插槽或从PCIe插槽拔出过程中，针脚与插槽的机械连接在一段时间内处于不稳定状态，从而固态硬盘体验到信号/电源的抖动。例如，在将固态硬盘插入PCIe插槽的过程中，固态硬盘的电源针脚可能经历一个或多个短时间的“上电-掉电”脉冲，随后稳定地接收电力。而在将固态硬盘从PCIe插槽拔出的过程中，固态硬盘的电源针脚可能经历一次或多次短时间的“掉电-上电”脉冲，随后长时间接收不到电力。

测试命令210的时间216是可选地。一个例子中，测试命令210指示对测试目标的操作模式为闭合或断开，而不指示时间。在又一个例子中，测试命令210指示对测试目标的操作模式中要经历指定时间的抖动，时间216指示抖动的时间长度。例如，时间216指示使开关(或继电器)经历较短时间(由时间216指示)断开后再闭合，或者时间216指示使开关(或继电器)经历较长时间(由时间216指示)断开后再闭合。依然作为举例，时间216指示多个时间，分别用于测试模式214中指示的多个抖动的每个，或者用于测试目标212指示的多个操作对象的每个。

可选地，测试命令210的字段还指示执行次数，以用于测试模式214中指示的抖动的次数。

请参看图2B，也参看图1和图2A，测试控制单元120通过接口112向控制器114提供测试命令。控制器114获取测试命令(240)，识别测试命令的各字段指示的信息，根据测试命令的指示而执行测试命令(242)，以控制开关(116、118)和/或继电器的闭合或断开。

作为举例，测试命令210的控制目标212指示电源开关118，测试模式214指示断开开关，该测试命令210不包括时间216。控制器114响应于获取测试命令，而向电源开关118施加信号以断开电源开关118。

作为又一个例子，测试命令的控制目标212指示PCIe信号开关116与电源开关118二者，测试模式214指示闭合开关，该测试命令不包括时间字段。控制器114响应于获取测试命令，而向PCIe信号开关116与电源开关118二者施加信号以闭合两个开关。

作为再一个例子，测试命令210的控制目标212指示PCIe信号开关116与电源开关118二者，测试模式214指示使开关经历较短时间(由时间216指示)断开后再断开。时间216指示0.5秒。控制器114响应于获取测试命令，而向PCIe信号开关116与电源开关118二者同时施加信号以断开二者，在0.5秒后，向PCIe信号开关116与电源开关118二者同时施加信号以闭合二者，在0.5秒后，再向PCIe信号开关116与电源开关118二者同时施加信号以断开二者。

图3A展示了根据本申请又一实施例的测试命令；图3B展示了根据本申请又一实施例的热插拔测试过程中的信号波形。

也参看图1，测试控制单元120向控制器114提供测试命令。

测试命令310是测试模式设置命令，包括多个字段，分别指示设置模式312与模式码314。设置模式312向控制器114指示当前命令用于设置测试模式。模式码314向控制器114指示所使用的测试模式的编码。可选地，测试命令310的字段还指示一个或多个时间(t1，t2……)参数(未示出)。

在一些情况下，热插拔测试的模式较复杂而难以在测试命令中描述，而将多种可用的测试模式设置在控制器114中，并为每种测试模式提供模式码。在测试命令中指示模式码314，控制器114根据测试命令中的模式码314获取对应的测试模式。

响应于执行测试命令310，控制器114记录当前要执行的测试模式的模式码314，而并不实施测试。可选地，控制器114还记录测试命令中指示的应用于测试模式的时间参数。

测试命令322，指示按被设置的当前测试模式，实施使固态硬盘上电的过程；而测试命令324指示按被设置的当前测试模式，实施使固态硬盘下电的过程。从而一个或多种模式码对应了用于上电过程与下电过程的两种测试模式。

作为一个例子，模式码0，指示在上电过程中，先闭合电源开关118，在指定的时间(例如t1)后，再闭合PCIe信号开关116；以及模式码0指示在下电过程中，先断开PCIe信号开关116，在指定的时间(例如t1或t2)后，再断开电源开关118。

图3B展示了实施模式码0的测试过程中，固态硬盘140经历到的信号。为模拟固态硬盘被通过PCIe插槽上电，首先向固态硬盘供电(340)，随后在时间t1之后，向固态硬盘提供PCIe信号(342)。为模拟固态硬盘被通过PCIe插槽下电，首先切断提供给固态硬盘的PCIe信号(344)，随后在时间t2之后，切断提供给固态硬盘的电源(346)。PCIe协议约定了类似的上电/下电过程，在上电过程中先向固态硬盘供电，使固态硬盘有机会完成部分或全部初始化，以能够响应PCIe信号。通过在测试命令中调整时间t1/t2的值来模拟多种情况下，固态硬盘的工作是否正常。

作为又一个例子，模式码1，指示在模式码0的基础上，在上电与下电过程中，在电源与PCIe信号上增加模拟热插拔过程的抖动的脉冲。具体地，在上电过程中，先闭合电源开关118，在指定的时间(例如t1＝0.1s)后，再断开电源开关118，在指定时间(例如，t1＝0.1s后)，再闭合电源开关118(至此供电进入稳定状态)；接下来，在指定的时间(例如t2＝0.5s)后，闭合PCIe信号开关116，在指定的时间(例如t1＝0.1s)后，再断开PCIe信号开关116，在指定时间(例如，t1＝0.1s后)，再闭合PCIe信号开关116(至此PCIe信号进入稳定状态)。以及模式码1指示在下电过程中，先断开PCIe信号开关116，在指定的时间(例如t1＝0.1s)后，再闭合PCIe信号开关116，在指定时间(例如，t1＝0.1s后)，再断开PCIe信号开关116(至此PCIe信号完全断开)；接下来，在指定的时间(例如t2＝0.5s)后，先断开电源开关118，在指定的时间(例如t1＝0.1s)后，再闭合电源开关118，在指定时间(例如，t1＝0.1s后)，再断开电源开关118(至此供电完全断开)。

图4展示了根据本申请再一实施例的测试命令。

测试命令400包括多个字段，分别指示执行指定模式410与模式码412。响应于收到测试命令400，控制器114执行由模式码412指示的测试，而执行指定模式410用于标识测试命令400的含义。不同于图3A所展示的测试指令，收到测试命令400的控制器，立即执行由模式码412指示的测试，而不需要根据测试命令322/324(参看图3A)来指示执行测试。可选地，测试命令还400还指示一个或多个时间(t1，t2……)参数(未示出)。作为举例，模式码2指示闭合PCIe信号开关116与电源开关118，并保持指定的时间(例如，t1＝10s)，接下来，断开PCIe信号开关116与电源开关118，并保持指定的时间(例如，t2＝30s)，接下来，再闭合PCIe信号开关116与电源开关118，并保持指定的时间(例如，t3＝0.5s)，接下来再断开PCIe信号开关116与电源开关118。

在依然可选的例子中，测试命令400还通过参数指示重复执行由模式码412所指示的测试的次数。

返回参看图1，测试控制单元120向控制器114提供测试命令，而控制器114根据测试命令通过控制开关(或继电器)的闭合或断开来实施测试过程。在测试过程中，主机130监视固态硬盘140的工作状态，以识别固态硬盘140的热插拔功能是否正常。进一步地，若在测试过程中，主机130发现无法访问固态硬盘140，还指示测试控制单元120通过固态硬盘140的调试接口获取调试信息或执行日志，以尝试发现错误原因或错误位置。

虽然当前参考的示例被描述，其只是为了解释的目的而不是对本申请的限制，对实施方式的改变，增加和/或删除可以被做出而不脱离本申请的范围。

这些实施方式所涉及的、从上面描述和相关联的附图中呈现的教导获益的领域中的技术人员将认识到这里记载的本申请的很多修改和其他实施方式。因此，应该理解，本申请不限于公开的具体实施方式，旨在将修改和其他实施方式包括在所附权利要求书的范围内。尽管在这里采用了特定的术语，但是仅在一般意义和描述意义上使用它们并且不是为了限制的目的而使用。

Claims (10)

1.一种热插拔测试装置，包括：信号开关、电源开关和控制器；

所述控制器耦合于所述信号开关和所述电源开关，通过执行测试命令控制所述信号开关和/或所述电源开关的闭合与断开；

所述信号开关用于耦合主机和被测试的电子设备，通过所述信号开关的闭合与断开控制主机和电子设备之间信号的连通与断开；

所述电源开关用于耦合主机和被测试的电子设备，通过所述电源开关的闭合与断开控制主机和电子设备之间电源的连通与断开。

2.根据权利要求1所述的热插拔测试装置，其中，还包括：继电器，所述控制器通过所述继电器耦合于主机的电源针脚或复位针脚。

3.根据权利要求1或2所述的热插拔测试装置，其中，所述信号开关用于耦合于主机的PCIe插槽的用于传输数据的信号针脚和电子设备的PCIe信号针脚；所述电源开关用于耦合主机的PCIe插槽提供电源的针脚和电子设备的电源针脚。

4.根据权利要求1或2所述的热插拔测试装置，其中，所述测试命令包括测试目标和测试模式，所述测试目标指示测试命令要操作的对象，所述测试模式指示对测试目标的操作模式。

5.根据权利要求1或2所述的热插拔测试装置，其中，所述测试命令包括设置模式和模式码，所述设置模式指示所述控制器根据所述模式码获取对应的测试模式，并将获取的测试模式设置为所述测试命令指示的对测试目标的操作模式。

6.根据权利要求5所述的热插拔测试设备，其中，所述模式码指示的操作模式为在上电过程中，先闭合电源开关，在指定的时间后，再闭合信号开关；以及在下电过程中，先断开信号开关，在指定的时间后，再断开电源开关。

7.根据权利要求1或2所述的热插拔测试装置，还包括：第一连接器与第二连接器，所述第一连接器用于连接被测试的所述电子设备的PCIe针脚，所述第二连接器用于连接所述主机的PCIe插槽；

所述信号开关通过所述第一连接器耦合所述电子设备的PCIe信号针脚，通过所述第二连接器耦合所述主机的PCIe信号针脚；

所述电源开关通过所述第一连接器耦合所述电子设备的电源针脚，通过所述第二连接器耦合所述主机的电源针脚。

8.一种热插拔测试系统，包括：测试控制单元、主机和权利要求1至7任一项所述的热插拔测试装置，其中，所述主机通过所述热插拔测试装置操作被测试的电子设备，所述测试控制单元耦合于所述热插拔测试装置的控制器，并且所述测试控制单元向所述热插拔测试装置的控制器提供测试命令。

9.根据权利要求8所述的热插拔测试系统，其中，所述测试控制单元耦合于所述主机，所述测试控制单元根据所述主机的指示，向所述热插拔测试设备提供测试命令。

10.根据权利要求8或9任一项所述的热插拔测试系统，其中，所述主机响应于无法访问所述电子设备，指示所述测试控制单元获取所述电子设备的调试信息或执行日志。

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