JP2019205337A - マルチデバイスのパワーオーバーイーサネットのフィールド検証のためのデバイス - Google Patents

Abstract

【課題】シングルケーブルによって複数のデバイスのための電力を供給できる機器が供給する電力の特性を判定する電子試験デバイスを提供する。【解決手段】電力試験デバイス１０４は、被試験デバイスから信号を受信するピンを含む通信ポート１０８を有する。第１の試験回路は、ピンのうちの第１の組の対に結合され、第２の試験回路は、ピンのうちの第２の組の対に結合されている。スイッチが、第１の試験回路及び／又は第２の試験回路に結合されている。スイッチが第１の状態にある間に、第１の試験回路及び第２の試験回路は、互いに電気的に隔離されている。スイッチが第２の状態にある間に、第１の試験回路及び第２の試験回路は、互いに電気的に隔離されていない。プロセッサが、第１の試験回路、第２の試験回路、及びスイッチに結合されている。メモリが、プロセッサに、第１の試験回路、第２の試験回路及びスイッチの動作を制御させる命令を記憶する。【選択図】図３

Description

本開示は、電子試験デバイスに関し、より具体的には、シングルケーブルによって複数のデバイスのための電力を提供することができる機器によって供給される電力の特性を判定する電子試験デバイスに関する。

パワーオーバーイーサネット（登録商標）（ＰｏＥ）技術は、デバイスが、ＰｏＥ対応スイッチからシングルイーサネット（登録商標）ケーブルによってネットワーク通信及び電力の両方を受け取ることを可能にする。あるいは、ＰｏＥ対応スイッチを使用する代わりに、ＰｏＥ非対応スイッチのネットワークスイッチの後のパワーインジェクタを使用して、エンドデバイスに電力を提供することができ、エンドデバイスのパワースプリッタを使用して、内蔵型ＰｏＥ能力を有していないデバイスに、個別のネットワーク接続と電力接続とを提供し得る。

ＰｏＥ用語によると、電力を供給するデバイスは給電機器（ＰＳＥ）と呼ばれ、電力を使用するデバイスは受電デバイス（ＰＤ）と呼ばれる。ＰｏＥ技術の基本的な考え方は、操作者が、イーサネット（登録商標）ケーブルの一端をＰＳＥ（例えば、ネットワークスイッチ）に差し込み、イーサネット（登録商標）ケーブルの他端をＰＤ（例えば、セキュリティカメラ又は無線アクセスポイント）に差し込むことができ、ＰＳＥは、ＰＤを動作させるための電力を提供し、又、イーサネット（登録商標）ケーブルを介して、ＰＤにデータを提供することである。様々な独自のＰｏＥ方法が使用されてきた。加えて、ＰｏＥ方法は、米国電気電子技術者協会（ＩＥＥＥ）によって標準化されてきており、今後も標準化される。開発されてきた、かつ今も開発されているＩＥＥＥ規格の例は、ＩＥＥＥ ８０２．３ａｆ、ＩＥＥＥ ８０２．３ａｔ、及びＩＥＥＥ ８０２．３ｂｔを含む。

ＰＤは、動作するために特定の電力量を必要とするが、ＰＳＥは、その量の電力を供給することができない場合がある。ＰＳＥが供給できる電力量に影響を与える要因には、ＰＳＥの基本設計、ＰＳＥが他のＰＤに供給している電力量、及びケーブル配線で消費される電力量を含む。ＰＳＥにおける異なる給電能力及び各ＰＤにおける異なる電力要件のために、エンドユーザが、ＰＤ（例えば、カメラ）をＰＳＥ（例えば、ネットワークスイッチ）に接続し、そのＰＤを、十分な電力がないために動作しないようにすることを可能にする。従来のＰｏＥ試験デバイスは、ＰＳＥがどれだけの電力を供給することができるかを操作者に示すことができ、その操作者は、ＰＤの仕様を見て、ＰＤが動作するのに十分な電力を引き出すことができるか否かを判定することができる。

特開２００７−０７４３５２号公報

開発中の新しいＰｏＥシステムは、シングルシグネチャ及びデュアルシグネチャの適合性を提供し得る。このようなシステムの新しいＰｏＥ規格は、電力が、イーサネット（登録商標）ケーブルの一端で２つのデバイスに提供され得ることを認識する。一般的な例は、屋外のセキュリティカメラで起こる。１つのベンダーは、屋外のセキュリティカメラを提供することができ、別のベンダーは、カメラが設置されている加熱された屋外用エンクロージャを提供することができる。最も簡単な解決策は、カメラ及びエンクロージャが、それらの電力要件に対して独立して交渉することである。新たに提案されたＰｏＥ規格は、シングルシグネチャのＰＤ及びデュアルシグネチャのＰＤの概念を用いてこれを確認している。シングルシグネチャのＰＤは、イーサネット（登録商標）ケーブルに接続されたシングルデバイスに提供される特定の特性を備えた電力を必要とする。デュアルシグネチャのＰＤは、両方がイーサネット（登録商標）ケーブルの端部に接続されている第１のデバイス及び第２のデバイスに提供される電力を必要とし、第１のデバイスによって要求される電力の特性は、第２のデバイスによって要求される電力の特性とは異なってもよい。そのような新たに提案されたＰｏＥ規格の１つは、ＰＳＥ及びＰＤが、イーサネット（登録商標）ケーブルによってＰＳＥからＰＤに提供される電力の特性又はシグネチャを交渉する能力を提供するＩＥＥＥ ８０２．３ｂｔである。シングルシグネチャのＰＤは、イーサネット（登録商標）ケーブルのその端部で必要とされる全ての電力に対して、シングルデバイスとして交渉する。デュアルシグネチャのＰＤは、異なる撚り合わされた対の組上で独立して交渉する２つの「デバイス」を有すると考えられ得る。例えば、デュアルシグネチャのＰＤは、第１のデバイスの撚り合わされた対の組１２〜３６及び第２のデバイスの撚り合わされた対の組４５〜７８上で、独立して交渉することができる。

したがって、本開示は、ＰＳＥ（例えば、図１に示す給電デバイス１０２）が、デュアルシグネチャ電力提供をサポートできるか否かを判定するＰｏＥ試験デバイス（例えば、図１に示す電力試験デバイス１０４）の実施形態を説明する。加えて、本明細書に記載される実施形態は、デュアルシグネチャ電力提供をサポートするＰＳＥによって提供され得る電力の特性を判定する、ＰｏＥ試験デバイスを提供する。

したがって、少なくとも１つの実施形態では、本開示は、ＰＳＥ（例えば、図１に示す給電デバイス１０２）に接続し、かつＰＳＥが、シングルシグネチャ電力交渉、デュアルシグネチャ電力交渉、又はその両方を提供することができるか否かを判定する、ＰｏＥ試験デバイス（例えば、図１に示す電力試験デバイス１０４）を教示する。加えて、本開示は、ＰＳＥに接続し、かつそれがシングルシグネチャ電力モードで動作するとき、及びそれがデュアルシグネチャ電力モードで動作するときに、ＰＳＥから入手可能な電力量を決定する、ＰｏＥ試験デバイスを教示する。

被試験デバイスの電力提供能力を試験する電力試験デバイスは、複数のピンを含む通信ポートであって、動作中に、通信ポートのピンに電気的に結合された複数のワイヤを含むケーブルを介して、被試験デバイスから信号を受信する、通信ポートと、当該通信ポートのピンのうちの第１の組の対に電気的に結合された第１の試験回路と、当該通信ポートのピンのうちの第２の組の対に電気的に結合された第２の試験回路と、第１の試験回路及び第２の試験回路のうちの少なくとも１つに電気的に結合されたスイッチであって、このスイッチが第１の状態にある間に、第１の試験回路及び第２の試験回路が互いに電気的に隔離されており、かつこのスイッチが第２の状態にある間に、第１の試験回路及び第２の試験回路が互いに電気的に隔離されていない、スイッチと、第１の試験回路、第２の試験回路、及びスイッチに結合されたプロセッサと、プロセッサに結合されたメモリであって、プロセッサによって実行されるときに、プロセッサに、第１の試験回路の動作を制御させ、第２の試験回路の動作を制御させ、かつスイッチを第１の状態又は第２の状態のうちの１つに制御させる、プロセッサ可読命令を記憶する、メモリとを含むものとして要約されてもよい。

プロセッサ可読命令は、プロセッサによって実行されるときに、プロセッサに、第１の試験回路及び第２の試験回路を独立して制御させることができる。プロセッサ可読命令は、プロセッサによって実行されるときに、プロセッサに、スイッチが第１の状態になるように制御しながら、被試験デバイスからのプロービングが、第１の試験回路及び第２の試験回路の両方によって検出されるか否かを更に判定させることができる。電力試験デバイスは、ディスプレイデバイスを更に含むことができ、プロセッサ可読命令は、プロセッサによって実行されるときに、プロセッサに、被試験デバイスからのプロービングが、第１の試験回路及び第２の試験回路の両方によって検出されたとの判定に応答して、通信ポートのピンのうちの第１の組の対を使用して、被試験デバイスの試験を実施するように第１の試験回路を制御させ、通信ポートのピンのうちの第２の組の対を使用して、被試験デバイスの試験を実施するように第２の試験回路を制御させ、第１の試験回路が、通信ポートのピンのうちの第１の組の対を使用して試験を実施し、第２の試験回路が、通信ポートのピンのうちの第２の組の対を使用して試験を実施した後に、被試験デバイスが、デュアルシグネチャ対応デバイスであることを示すメッセージを表示するようにディスプレイを制御させ、スイッチを第２の状態になるように制御させる。プロセッサは、通信ポートのピンのうちの第１の組の対を使用して、試験を実施するように第１の試験回路を制御してもよく、プロセッサが、スイッチを第２の状態になるように制御しながら、ピンのうちの第２の組の対を使用して、試験を実施するように第２の試験回路を制御してもよい。

プロセッサ可読命令は、プロセッサによって実行されるときに、プロービングが第１の試験回路によって検出され、第２の試験回路によって検出されないと判定したことに応答して、プロセッサに、更に、スイッチを第２の状態になるように制御しながら、通信ポートのピンのうちの第１の組の対を使用して、被試験デバイスの試験を実施するように第１の試験回路を制御させ、被試験デバイスが、シングルシグネチャ対応デバイスであることを示すメッセージを表示するようにディスプレイデバイスを制御させることができる。

プロセッサ可読命令は、プロセッサによって実行されるときに、プロセッサに、更に、プロービングが、第１の試験回路によって検出されず、かつ第２の試験回路によって検出されたとの判定に応答して、通信ポートのピンのうちの第２の組の対を使用して、被試験デバイスの試験を実施するように第２の試験回路を制御させ、被試験デバイスが、シングルシグネチャ対応デバイスであることを示すメッセージを表示するようにディスプレイデバイスを制御させることができ、プロービングが、第１の試験回路及び第２の試験回路によって検出されないとの判定に応答して、被試験デバイスが、デュアルシグネチャ対応デバイスでもなく、シングルシグネチャ対応デバイスでもないことを示すメッセージを表示するようにディスプレイデバイスを制御させることができる。電力試験デバイスは、プロセッサ及び第２の試験回路に電気的に結合されたデータ隔離回路を更に含むことができ、このデータ隔離回路は、動作中に、第１の試験回路から電気的に隔離されているデータ信号を第２の試験回路に提供し、電力隔離回路は、第１の試験回路から電気的に隔離されていない電力信号を提供する端子に電気的に結合された入力端子と、第２の試験回路の電力端子に電気的に結合された出力端子とを含み、この電力隔離回路は、動作中に、第１の試験回路から電気的に隔離されている電力信号を第２の試験回路の電力入力端子に提供し、スイッチは、第１の試験回路から電気的に隔離されていない電力信号を提供する端子に電気的に結合された第１の端子と、第２の試験回路の電力入力端子に電気的に結合された第２の端子とを含むことができ、スイッチが第１の状態にある間に、スイッチは、電力隔離回路の入力端子と電力隔離回路の出力端子とを電気的に結合せず、第１の試験回路から電気的に隔離されていない電力信号を第２の試験回路の電力入力端子に提供せず、スイッチが第２の状態にある間に、スイッチは、電力隔離回路の入力端子と電力隔離回路の出力端子とを電気的に結合し、第１の試験回路から電気的に隔離されていない電力信号を第２の試験回路の電力入力端子に提供する。

被試験デバイスの電力提供能力を試験する電力試験デバイスを動作させる方法は、第２の試験回路から第１の試験回路を電気的に隔離することと、被試験デバイスによるプロービングが、第１の試験回路及び第２の試験回路の両方によって検出されるか否かを判定することと、このプロービングが、第１の試験回路及び第２の試験回路の両方によって検出されたとの判定に応答して、通信ポートの複数のピンのうちの第１の組の対及び第１の試験回路を使用して、被試験デバイスの試験を実施することと、通信ポートのピンのうちの第２の組の対及び第２の試験回路を使用して、被試験デバイスの試験を実施することと、被試験デバイスが、デュアルシグネチャ対応デバイスであることを示すメッセージを表示することと、通信ポートのピンのうちの第１の組の対及び第１の試験回路を使用して、被試験デバイスの試験を実施し、かつ通信ポートのピンのうちの第２の組の対及び第２の試験回路を使用して、被試験デバイスの試験を実施した後に、第２の試験回路から第１の試験回路を隔離解除することと、を含むものとして要約することができる。通信ポートのピンのうちの第１の組の対及び第１の試験回路を使用して、被試験デバイスの試験を実施することと、通信ポートのピンのうちの第２の組の対及び第２の試験回路を使用して、被試験デバイスの試験を実施することとは、同時に実施することができる。通信ポートのピンのうちの第１の組の対及び第１の試験回路を使用する、被試験デバイスの試験の実施と、通信ポートのピンのうちの第２の組の対及び第２の試験回路を使用する試験の実施とは、同時に実施され、第２の試験回路から第１の試験回路の隔離は同時に実施することができる。第２の試験回路から第１の試験回路を隔離解除することは、被試験デバイスが、デュアルシグネチャ対応デバイスであるとの判定の後に実施されてもよい。

本方法は、プロービングが、第１の試験回路によって検出されたと判定することと、プロービングが、第２の試験回路によって検出されていないと判定することと、プロービングが、第１の試験回路によって検出され、プロービングが、第２の試験回路によって検出されていないとの判定に応答して、通信ポートのピンのうちの第１の組の対及び第１の試験回路を使用して、被試験デバイスの試験を実施することと、被試験デバイスが、シングルシグネチャ対応デバイスであることを示すメッセージを表示することと、を更に含むことができる。

本方法は、被試験デバイスが、通信ポートのピン１、２、３、及び６によって電力を提供することを示すメッセージを表示することを更に含んでもよい。

本方法は、通信ポートのピンのうちの第１の組の対を介して、被試験デバイスによって提供された電力の特性を示すメッセージを表示することを更に含んでもよい。

本方法は、プロービングが、第１の試験回路によって検出されていないと判定することと、プロービングが、第２の試験回路によって検出されたと判定することと、プロービングが、第１の試験回路によって検出されておらず、プロービングが、第２の試験回路によって検出されたとの判定に応答して、通信ポートのピンのうちの第２の組の対及び第２の試験回路を使用して、被試験デバイスの試験を実施することと、被試験デバイスが、シングルシグネチャ対応デバイスであることを示すメッセージを表示することと、を更に含んでもよい。

本方法は、被試験デバイスが、通信ポートのピン４、５、７、及び８によって電力を提供することを示すメッセージを表示することを更に含んでもよい。

本方法は、通信ポートのピンのうちの第２の組の対を介して、被試験デバイスによって提供された電力の特性を示すメッセージの表示を更に含んでもよい。

本方法は、第２の試験回路から第１の試験回路の隔離解除中に、プロービングが、第１の試験回路によって検出されていないと判定することと、第２の試験回路から第１の試験回路の隔離解除中に、プロービングが、第２の試験回路によって検出されていないと判定することと、プロービングが、第１の試験回路によって検出されておらず、かつプロービングが、第２の試験回路によって検出されていないとの判定に応答して、被試験デバイスが、デュアルシグネチャ対応デバイスでもなく、シングルシグネチャ対応デバイスでもないことを示すメッセージを表示することと、を更に含んでもよい。

図１は、本開示の１つ以上の実施形態による、パワーオーバーイーサネット（登録商標）（ＰｏＥ）試験システムの図である。 図２は、本開示の１つ以上の実施形態による、給電デバイスと電力試験デバイスとの間の接続を示す図である。 図３は、本開示の１つ以上の実施形態による、電力試験デバイスの構成要素を示す図である。 図４Ａは、本開示の１つ以上の実施形態による、電力試験デバイスによって実施される方法のフローチャートを示す図である。 図４Ｂは、本開示の１つ以上の実施形態による、電力試験デバイスによって実施される方法のフローチャートを示す図である。 図４Ｃは、本開示の１つ以上の実施形態による、電力試験デバイスによって実施される方法のフローチャートを示す図である。 図５は、本開示の１つ以上の実施形態による、給電デバイスと電力試験デバイスとの間の電力交渉プロセスの態様を示す図である。

図１は、本開示の１つ以上の実施形態による、パワーオーバーイーサネット（登録商標）（ＰｏＥ）試験システム１００の図である。ＰｏＥ試験システム１００は、被試験デバイス又は給電デバイス１０２及び電力試験デバイス１０４を含む。給電デバイス１０２は、通信ポート１０６（例えば、イーサネット（登録商標）ジャック又はソケット）を含み、電力試験デバイス１０４は、通信ポート１０８（例えば、イーサネット（登録商標）ジャック又はソケット）を含む。給電デバイス１０２及び電力試験デバイス１０４は、イーサネット（登録商標）ケーブル１１０を介して、互いに通信可能に結合されている。より具体的には、イーサネット（登録商標）ケーブル１１０の第１の端部は、給電デバイス１０２の通信ポート１０６に差し込まれている第１のＲＪ４５コネクタ（図示せず）を含み、イーサネット（登録商標）ケーブル１１０の第２の端部は、電力試験デバイス１０４の通信ポート１０８に差し込まれている第２のＲＪ４５コネクタ（図示せず）を含む。イーサネット（登録商標）ケーブル１１０は、例えば、Ｃａｔ３、Ｃａｔ５、Ｃａｔ５ｅ、又はＣａｔ６であってもよい。

図２は、本開示の１つ以上の実施形態による、給電デバイス１０２と電力試験デバイス１０４との間の電気的接続を示す図である。給電デバイス１０２の通信ポート１０６及び電力試験デバイス１０４の通信ポート１０８は、８つのピン（すなわち、端子、導体）を各々有する。イーサネット（登録商標）ケーブル１１０は、イーサネット（登録商標）ケーブル１１０の一端にある第１のＲＪ４５コネクタ（図示せず）が、通信ポート１０６に差し込まれているときに、かつイーサネット（登録商標）ケーブル１１０の他端にある第２のＲＪ４５コネクタ（図示せず）が、イーサネット（登録商標）ポート１０８に差し込まれているときに、給電デバイス１０２の通信ポート１０６のピンを電力試験デバイス１０４の通信ポート１０８のピンに電気的に結合する８本のワイヤ１１２ａ−１１２ｈを含む。

イーサネット（登録商標）ケーブル１１０のワイヤ１１２ａ−１１２ｈは、撚り合わされた対のワイヤの組に配置されている。より具体的には、ワイヤ１１２ａ及び１１２ｂは、１対の撚り合わされた組を形成し、ワイヤ１１２ｃ及び１１２ｄは、１対の撚り合わされた組を形成し、ワイヤ１１２ｅ及び１１２ｆは、１対の撚り合わされた組を形成し、ワイヤ１１２ｇ及び１１２ｈは、１対の撚り合わされた組を形成する。図２に示すように、ワイヤ１１２ａは、通信ポート１０６のピン４を通信ポート１０６のピン４と電気的に結合し、ワイヤ１１２ｂは、通信ポート１０６のピン５を通信ポート１０８のピン５と電気的に結合する。ワイヤ１１２ｃは、通信ポート１０６のピン１を通信ポート１０８のピン１と電気的に結合し、ワイヤ１１２ｄは、通信ポート１０６のピン２を通信ポート１０８のピン２と電気的に結合する。ワイヤ１１２ｅは、通信ポート１０６のピン３を通信ポート１０８のピン３と電気的に結合し、ワイヤ１１２ｆは、通信ポート１０６のピン６を通信ポート１０８のピン６と電気的に結合する。ワイヤ１１２ｇは、通信ポート１０６のピン７を通信ポート１０８のピン７と電気的に結合し、ワイヤ１１２ｈは、通信ポート１０６のピン８を通信ポート１０８のピン８と電気的に結合する。

給電デバイス１０２は、電力及びデータを電力試験デバイス１０４に独立して提供する。給電デバイス１０２は、１対の組又は対の組の「内側」のデータを提供する。例えば、給電デバイス１０２は、１２〜３６対の組、又は４対の組全てにデータを提供することができる。給電デバイス１０２は、対の組を並列に使用して電力を提供する。例えば、給電デバイス１０２は、回路の半分と平行なピン４及び５を使用し、回路の他の半分と平行なピン７及び８を使用して、電力を提供することができる。したがって、給電デバイス１０２が、通信ポート１０６のピン４及び５に、及びピン７及び８に電力を提供するときに、電力は、電力試験デバイス１０４の通信ポート１０８のピン４及び５に、及びピン７及びピン８に受容される。給電デバイス１０２が、通信ポート１０６のピン１及び２に、及びピン３及びピン６に提供するときに、電力は、電力試験デバイス１０４の通信ポート１０８のピン１及び２に、及びピン３及びピン６に受け取られる。

図３は、本開示の１つ以上の実施形態による、電力試験デバイス１０４の構成要素を示す図である。電力試験デバイス１０４は、通信ポート１０８と、メモリ１１６及び中央処理装置（ＣＰＵ）１１８を有するマイクロプロセッサ１１４と、メモリ１２０と、ディスプレイデバイス１２２と、入力／出力（Ｉ／Ｏ）回路１２４と、第１のダイオードブリッジ１２６と、第１のＰｏＥ試験回路１２８と、第２のダイオードブリッジ１３０と、第２のＰｏＥ試験回路１３２と、データ隔離回路１３４と、電力隔離回路１３６と、スイッチ１３８とを含む。

第１の変圧器（ラベルなし）は、通信ポート１０８のピン１及び２を介して受信されたデータ信号を、第１のＰｏＥ試験回路１２８に提供されている、対応する電力信号から電気的に隔離する通信ポート１０８のピン１及び２に結合されている。第２の変換器（ラベルなし）は、通信ポート１０８のピン３及び６を介して受信されたデータ信号を、第１のＰｏＥ試験回路１２８に提供されている、対応する電力信号から電気的に隔離する通信ポート１０８のピン３及び６に結合されている。第３の変換器（ラベルなし）は、通信ポート１０８のピン４及び５を介して受信されたデータ信号を、第２のＰｏＥ試験回路１３２に提供されている、対応する電力信号から電気的に隔離する通信ポート１０８のピン４及び５に結合されている。第４の変換器（ラベルなし）は、通信ポート１０８のピン７及び８を介して受信されたデータ信号を、第２のＰｏＥ試験回路１３２に提供されている、対応する電力信号から電気的に隔離する通信ポート１０８のピン７及び８に結合されている。

第１のダイオードブリッジ１２６は、第１のダイオード１４０ａ、第２のダイオード１４０ｂ、第３のダイオード１４０ｃ、及び第４のダイオード１４０ｄを含む。より具体的には、第１のダイオード１４０ａのアノードは、第２のダイオード１４０ｂのカソードと、通信ポート１０８のピン１及び２とに電気的に結合されており、第２のダイオード１４０ｂのアノードは、第３のダイオード１４０ｃのアノードと、第１のＰｏＥ試験回路１２８の第１の端子１２８ａとに電気的に結合されており、第３のダイオード１４０ｃのカソードは、第４のダイオード１４０ｄのアノードと、通信ポート１０８のピン３及び６とに電気的に結合されており、第４のダイオード１４０ｄのカソードは、第１のダイオード１４０ａのカソードと、第１のＰｏＥ試験回路１２８の第２の端子１２８ｂとに電気的に結合されている。

上記のとおり、第１のＰｏＥ試験回路１２８は、第１のダイオードブリッジ１２６を介して、通信ポート１０８のピン１、２、３、及び６に電気的に結合されている。第１のＰｏＥ試験回路１２８は又、マイクロプロセッサ１１４に電気的に結合され、第１のＰｏＥ試験回路１２８に電力交渉プロセスの様々な態様を実行させる制御信号を第１のＰｏＥ試験回路１２８に提供する。第１のＰｏＥ試験回路１２８は、対応する試験結果データをマイクロプロセッサ１１４に提供する。１つ以上の実施形態では、第１のＰｏＥ試験回路１２８は、Ｍｉｃｒｏｓｅｍｉ Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎから入手可能なモデルＰＤ７０２００ ＰＤフロントエンド集積回路である。

第２のダイオードブリッジ１３０は、第１のダイオード１４２ａ、第２のダイオード１４２ｂ、第３のダイオード１４２ｃ、及び第４のダイオード１４２ｄを含む。より具体的には、第１のダイオード１４２ａのアノードは、第２のダイオード１４２ｂのカソードと、通信ポート１０８のピン４及び５とに電気的に結合されており、第２のダイオード１４２ｂのアノードは、第３のダイオード１４２ｃのアノードと、第２のＰｏＥ試験回路１３２の第１の端子１３２ａとに電気的に結合されており、第３のダイオード１４２ｃのカソードは、第４のダイオード１４２ｄのアノードと、通信ポート１０８のピン７及び８とに電気的に結合されており、第４のダイオード１４２ｄのカソードは、第１のダイオード１４２ａのカソードと、第２のＰｏＥ試験回路１３２の第２の端子１３２ｂとに電気的に結合されている。

上記のとおり、第２のＰｏＥ試験回路１３２は、第２のダイオードブリッジ１３０．を介して、通信ポート１０８のピン４、５、７、及び８に電気的に結合されている。第２のＰｏＥ試験回路１３２は又、マイクロプロセッサ１１４の端子に電気的に結合され、第２のＰｏＥ試験回路１３２に、様々な所定の電力交渉及び試験手順を実施させる制御信号を第２のＰｏＥ試験回路１３２に提供する。第２のＰｏＥ試験回路１３２は、対応する試験結果データをマイクロプロセッサ１１４．に提供する。１つ以上の実施形態では、第２のＰｏＥ試験回路１３２は、Ｍｉｃｒｏｓｅｍｉ Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎから入手可能なモデルＰＤ７０２００ ＰＤフロントエンド集積回路である。

データ隔離回路１３４は、第２のＰｏＥ試験回路１３２とマイクロプロセッサ１１４．との間で電気的に結合されている。データ隔離回路１３４は、第２のＰｏＥ試験回路１３２を電力試験デバイス１０４．の他の構成要素から電気的に隔離する。とりわけ、データ隔離回路１３４は、第２のＰｏＥ試験回路１３２を第１のＰｏＥ試験回路１２８から電気的に隔離する。１つ以上の実施形態では、データ隔離回路１３４は、光を使用してデータ隔離回路１３４と第２のＰｏＥ試験回路１３２との間で電気信号を転送する光隔離器を採用する。１つ以上の実施形態では、データ隔離回路１３４は、Ａｎａｌｏｇ Ｄｅｖｉｃｅｓ，Ｉｎｃ．から入手可能なモデルＡＤＵＭ１２６５デジタル隔離器の集積回路である。

電力隔離回路１３６の電力入力端子１３６ａは、例えば、電池であり得る電力試験デバイス１０４の電源（図示せず）に電気的に結合された端子１４６から電力信号を受信する。電力隔離回路１３６は、電気サージを抑制し、雑音フィルタリングを実施し、第１のＰｏＥ試験回路１２８を含む電力試験デバイス１０４の他の構成要素によって影響されない隔離された電力信号を生成する。電力隔離回路１３６の電力出力端子１３６ｂは、第２のＰｏＥ試験回路１３２．の電力入力端子１３２ｃに隔離された電力信号を提供する。１つ以上の実施形態では、電力隔離回路１３６は、Ｍａｘｉｍ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｐｒｏｄｕｃｔｓ，Ｉｎｃ．から入手可能なモデルＭＡＸ１７６８２ ＤＣ−ＤＣコンバータの集積回路である。

スイッチ１３８の第１の端子１３８ａは、電力隔離回路１３６の電力入力端子１３６ａと、電力試験デバイス１０４の電源（図示せず）に電気的に結合された端子１４６とに電気的に結合されている。スイッチ１３８の第２の端子１３８ｂは、電力隔離回路１３６の電力出力端子１３６ｂと、第２のＰｏＥ試験回路１３２の電力入力端子１３２ｃとに電気的に結合されている。スイッチ１３８は、マイクロプロセッサ１１４に電気的に結合され、スイッチ１３８の状態を制御するために、スイッチ１３８に制御信号を提供する。マイクロプロセッサ１１４が第１の特性（例えば、第１の電圧レベル）を有する制御信号を提供している間に、スイッチ１３８は開放状態にある。マイクロプロセッサ１１４が第２の特性（例えば、第２の電圧レベル）を有する制御信号を提供している間に、スイッチ１３８は閉鎖状態にある。

スイッチ１３８が開放状態にある間に、電力隔離回路１３６は、第２のＰｏＥ試験回路１３２に供給される電力を、第１のＰｏＥ試験回路１２８を含む電力試験デバイス１０４の他の構成要素から電気的に隔離する。加えて、スイッチ１３８は、電力信号を端子１４６から第２のＰｏＥ試験回路１３２に提供しない。加えて、スイッチ１３８が開放状態にある間に、データ隔離回路１３４の接地端子は、他の構成要素から隔離された接地電位（例えば、電力隔離回路１３６によって提供される）に電気的に結合され、データ隔離回路１３４に、第１のＰｏＥ試験回路１２８を含む他の構成要素から隔離されたデータ信号を第２のＰｏＥ試験回路１３２に提供させる。図３の破線は、隔離境界１４４を示す。

スイッチ１３８が閉鎖状態にある間に、電力隔離回路１３６の電力入力端子１３６ａ及び電力出力端子１３６ｂは、共に電気的に結合され（すなわち、電気的に短絡される）、スイッチ１３８の第２の端子１３８ｂは、端子１４６から第２のＰｏＥ試験回路１３２の電力入力端子１３２ｃに電力信号を提供する。したがって、スイッチ１３８が閉鎖状態にある間に、電力隔離回路１３６は、効果的にバイパスされ、したがって、それは、第２のＰｏＥ試験回路１３２に提供される電力を、第１のＰｏＥ試験回路１２８を含む電力試験デバイス１０４の他の構成要素から電気的に隔離しない。加えて、スイッチ１３８が閉鎖状態にある間に、データ隔離回路１３４の接地端子は、他の構成要素から隔離されていない接地電位に電気的に結合され、データ隔離回路１３４に、第１のＰｏＥ試験回路１２８を含む他の構成要素から隔離されていないデータ信号を第２のＰｏＥ試験回路１３２に提供させる。

１つ以上の実施形態では、スイッチ１３８は機械式リレーである。１つ以上の実施形態では、スイッチ１３８はオプトカプラである。

メモリ１２０は、ＣＰＵ １１８によって実行されるときに、電力試験デバイス１０４に、図４Ａ、図４Ｂ、及び図４Ｃに関連して説明される機能を実施させる、プロセッサ実行可能命令を記憶する。ＣＰＵ １１８は、命令を実行している間に、メモリ１１６を作動メモリとして使用する。１つ以上の実施形態では、メモリ１１６は、１つ以上のランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）モジュールから構成されている。１つ以上の実施形態では、メモリ１２０は、例えば、電子的に消去可能なプログラマブル読み取り専用メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）又はフラッシュメモリモジュールなどの１つ以上の不揮発性ランダムアクセスメモリ（ＮＶＲＡＭ）モジュールから構成されている。

ディスプレイデバイス１２２は、操作者に情報をグラフ表示する。マイクロプロセッサ１１４は、ディスプレイデバイス１２２を制御して、電力試験デバイス１０４によって実施される試験に関する情報を表示する。１つ以上の実施形態では、ディスプレイデバイス１２２は、液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）デバイスである。１つ以上の実施形態では、ディスプレイデバイス１２２は、タッチスクリーンを含む。

１つ以上の実施形態では、Ｉ／Ｏ回路１２４は、電力試験デバイス１０４にコマンドを入力するためのボタン、スイッチ、ダイヤル、ノブ、又は他のユーザインターフェース要素を含んでもよい。Ｉ／Ｏ回路１２４は又、電力試験デバイス１０４．から情報又は指示を出力するためのスピーカ、１つ以上の発光デバイス、又は他のユーザインターフェース要素を含んでもよい。

図４Ａ、図４Ｂ、及び図４Ｃは、本開示の１つ以上の実施形態による、電力試験デバイス１０４によって実施された方法２００のフローチャートを示す図である。

２０２において、電力試験デバイス１０４は、操作者が、給電デバイス１０２の試験を開始するようになるという指示を受信する。例えば、操作者が、イーサネット（登録商標）ケーブル１１０を給電デバイス１０２と、電力試験デバイス１０４とに接続した後に、操作者は、Ｉ／Ｏ回路１２４のボタンを押し、マイクロプロセッサ１１４の所定の端子に、試験が開始されることを示す信号を受信させる。次いで、方法２００は、２０４に進む。

２０４において、電力試験デバイス１０４は、第１のＰｏＥ試験回路１２８及び第２のＰｏＥ試験回路１３２を互いから隔離する。より具体的には、マイクロプロセッサ１１４は、スイッチ１３８を開放状態又は非導電状態にあるようにする制御信号をスイッチ１３８に出力する。スイッチ１３８が開放状態にある間に、データ隔離回路１３４及び電力隔離回路１３６は、第１のＰｏＥ試験回路１２８を含む電力試験デバイス１０４の他の電気構成要素によって影響されることから、第２のＰｏＥ試験回路１３２によって受信されたデータ及び電力信号を隔離する。次いで、方法２００は、２０６に進む。

２０６において、電力試験デバイス１０４は、第１のＰｏＥ試験回路１２８及び第２のＰｏＥ試験回路１３２を初期化し、その結果、それらは、給電デバイス１０２によって提供された任意の電力信号（単数又は複数）の試験特性を開始する準備ができている。より具体的には、マイクロプロセッサ１１４は、第１のＰｏＥ試験回路１２８が、本明細書では、通信ポート１０８の「１２〜３６対の組」とも呼ばれ得る、通信ポート１０８のピン１、ピン２、ピン３、及びピン６に電気的に結合されている入力端子上の高インピーダンス（例えば、２００Ｋオーム）を有するようにする制御信号を第１のＰｏＥ試験回路１２８に出力する。加えて、マイクロプロセッサ１１４は、第２のＰｏＥ試験回路１３２が、本明細書では、通信ポート１０８の「４５〜７８対組」とも呼ばれ得る、通信ポート１０８のピン４、ピン５、ピン７、及びピン８に電気的に結合されている入力端子上の高インピーダンス（例えば、２００Ｋオーム）を有するようにする制御信号を第２のＰｏＥ試験回路１３２に出力する。次いで、方法２００は、２０８に進む。

２０８において、電力試験デバイス１０４は、第１のＰｏＥ試験回路１２８及び第２のＰｏＥ試験回路１３２の両方が、ＰｏＥ交渉プロセスの一部として、給電デバイス１０２によって伝送されたプロービング信号を検出するか否かを判定する。より具体的には、マイクロプロセッサ１１４は、第１のＰｏＥ試験回路１２８が、１２〜３６対の組上でそのようなプロービング信号を検出したことを示す信号を、第１のＰｏＥ試験回路１２８から受信したか否かを判定し、かつ第２のＰｏＥ試験回路１３２が、４５〜７８対の組上でそのようなプロービング信号を検出したことを示す信号を、第２のＰｏＥ試験回路１３２から受信したか否かを判定する。マイクロプロセッサ１１４が第１のＰｏＥ試験回路１２８及び第２のＰｏＥ試験回路１３２の両方から、そのようなプロービング信号が検出されたことを示す信号を受信する場合、電力試験デバイス１０４は、第１のＰｏＥ試験回路１２８及び第２のＰｏＥ試験回路１３２の両方が、プロービング信号を検出し、方法２００が２１０に進むと判定する。そうでない場合（すなわち、プロービング信号が、第１のＰｏＥ試験回路１２８及び第２のＰｏＥ試験回路１３２のうちのいずれか一方のみによって検出された場合、又はどちらによっても検出されなかった場合）、方法２００は、２１８に進む。

２１０において、電力試験デバイス１０４は、第１のＰｏＥ試験回路１２８を使用して、試験を実施する。より具体的には、マイクロプロセッサ１１４は、第１のＰｏＥ試験回路１２８に、通信ポート１０８の１２〜３６対の組を使用してＰｏＥ試験を実施させる信号を第１のＰｏＥ試験回路１２８に提供し、かつ第１のＰｏＥ試験回路１２８によって実施された試験の結果を示すデータを第１のＰｏＥ試験回路１２８から受信する。１つ以上の実施形態では、２１０において、マイクロプロセッサ１１４は、図５に関連して以下に説明されるように、通信ポート１０８の１２〜３６対の組を使用して試験を実施するように、第１のＰｏＥ試験回路１２８を制御する。

１つ以上の実施形態では、２１０において、第１のＰｏＥ試験回路１２８は、１２〜３６対の組を使用して給電デバイス１０２に信号を送信し、１２〜３６対の組を使用して給電デバイス１０２から信号を受信し、受信した信号から、給電デバイス１０２が電力を供給していることを維持するために、最小限の必要な使用電力を決定する。

１つ以上の実施形態では、２１０において、マイクロプロセッサ１１４は、第１のＰｏＥ試験回路１２８を制御して、第１のＰｏＥ試験回路１２８が、第１の所定の電力量を所定の期間にわたって最初に使用し、次いで、第２の所定の電力量を所定の期間にわたって使用し、その後、第３の所定の電力量を所定の期間にわたって使用するなど、電力交渉プロセスを実施する。第１の所定の電力量は、第２の所定の電力量よりも大きく、かつ第２の所定の電力量は、第３の所定の電力量よりも大きい。したがって、第１のＰｏＥ試験回路１２８によって使用された電力は、電力交渉プロセス中に徐々に低減される。いずれかの段階において、給電デバイス１０２は、第１のＰｏＥ試験回路１２８が、それに何も接続されていない電力をほとんど使用しないことを判定し、かつ電力を完全に遮断し、１２〜３６対の組上のプロービングに戻る。第１のＰｏＥ試験回路１２８及び／又はマイクロプロセッサ１１４は、給電デバイス１０２が、１２〜３６対の組上の電力を完全に遮断することをもたらす、第１のＰｏＥ試験回路１２８によって使用された所定の電力レベルを記録し、次に最も大きい所定の電力量が、給電デバイス１０２が電力を供給し続けるのに必要最小限の使用電力であると判定する。例えば、第１のＰｏＥ試験回路１２８が第３の所定の電力量を使用している間に、給電デバイス１０２が完全に１２〜３６対の組上の電力を遮断する場合、第１のＰｏＥ試験回路１２８及び／又はマイクロプロセッサ１１４は、第２の所定の電力量が、給電デバイス１０２が電力を供給し続けるのに必要最小限の使用電力であると判定する。

１つ以上の実施形態では、２１０において、第１のＰｏＥ試験回路１２８は、１２〜３６対の組を使用して給電デバイス１０２に信号を送信し、１２〜３６対の組を使用して給電デバイス１０２から信号を受信し、受信した信号から、給電デバイス１０２によってサポートされた電力試験デバイス１０４への最大突入電力を決定する。次いで、方法２００は、２１２に進む。

１つ以上の実施形態では、２１０において、第１のＰｏＥ試験回路１２８は、給電デバイス１０２との電力交渉プロセスを実施し、交渉プロセスが完了した後、給電デバイス１０２は、１２〜３６対の組を介して、高電圧（例えば、４０〜６０Ｖ）を提供する。１２〜３６対の組を介して高電圧を提供する給電デバイス１０２に応答して、第１のＰｏＥ試験回路１２８及び／又はマイクロプロセッサ１１４は、第１の負荷を１２〜３６対の組に所定の期間接続させ、第１の負荷を通って流れる給電デバイス１０２からの突入電力を測定し、次に、第２の負荷を１２〜３６対の組に所定の期間接続させ、第２の負荷を通って流れる給電デバイス１０２からの突入電力を測定し、次に、第３の負荷を１２〜３６対の組に所定の期間接続させ、負荷を通って流れる給電デバイス１０２からの突入電力などを測定する。第１、第２、及び第３の負荷のそれぞれのインピーダンスは、第１の負荷を通って流れる突入電力が、第２の負荷を通って流れる突入電力よりも小さく、かつ第２の負荷を通って流れる突入電力が、第３の負荷を通る突入電力よりも小さくなるように、選択される。したがって、１２〜３６対の組に接続された負荷は、電力交渉プロセス中に、電力試験デバイス１０４への突入電力が徐々に増加するように、徐々に変更される。いずれかの段階において、給電デバイス１０２は、電力試験デバイス１０４への突入電力が高すぎると判定し、給電デバイス１０２は、１２〜３６対の組上の電圧を遮蔽し、かつ低電圧プロービングに戻る。第１のＰｏＥ試験回路１２８及び／又はマイクロプロセッサ１１４は、給電デバイス１０２が、１２〜３６対の組上の電力を完全に遮断することをもたらす所定の負荷を記録し、給電デバイス１０２によってサポートされている電力試験デバイス１０４への最大突入電力が、給電デバイス１０２が１２〜３６対の組上の電圧を遮断し、低電圧プロービングに戻ることをもたらさなかった最も最近測定された突入電力であると判定する。例えば、第３の負荷が１２〜３６対の組に接続されている間に、給電デバイス１０２が１２〜３６対の組上の電力を完全に遮断する場合、第１のＰｏＥ試験回路１２８及び／又はマイクロプロセッサ１１４は、給電デバイス１０２によってサポートされている電力試験デバイス１０４への最大突入電力は、第２の負荷が１２〜３６対の組に接続されている間に測定された突入電力であると判定する。

２１２において、電力試験デバイス１０４は、第２のＰｏＥ試験回路１３２を使用して、試験を実施する。より具体的には、マイクロプロセッサ１１４は、第２のＰｏＥ試験回路１３２に、通信ポート１０８の４５〜７８対の組を使用してＰｏＥ試験を実施させる信号を第２のＰｏＥ試験回路１３２に提供し、かつ第２のＰｏＥ試験回路１３２によって実施された試験の結果を示すデータを第２のＰｏＥ試験回路１３２から受信する。１つ以上の実施形態では、２１２において、マイクロプロセッサ１１４は、図５に関連して以下に説明されるように、通信ポート１０８の４５〜７８対の組を使用して試験を実施するように、第２のＰｏＥ試験回路１３２を制御する。１つ以上の実施形態では、２１２において、第２のＰｏＥ試験回路１３２は、４５〜７８対の組を使用して給電デバイス１０２に信号を送信し、４５〜７８対の組を使用して給電デバイス１０２から信号を受信し、受信した信号から、給電デバイス１０２が電力を供給していることを維持するために、最小限の必要な使用電力を決定する。

１つ以上の実施形態では、２１２において、マイクロプロセッサ１１４は、第２のＰｏＥ試験回路１３２を制御して、第２のＰｏＥ試験回路１３２が、第１の所定の電力量を所定の期間にわたって最初に使用し、次いで、第２の所定の電力量を所定の期間にわたって使用し、その後、第３の所定の電力量を所定の期間にわたって使用するなど、電力交渉プロセスを実施する。第１の所定の電力量は、第２の所定の電力量よりも大きく、かつ第２の所定の電力量は、第３の所定の電力量よりも大きい。したがって、第２のＰｏＥ試験回路１３２によって使用された電力は、電力交渉プロセス中に徐々に低減される。いずれかの段階において、給電デバイス１０２は、第２のＰｏＥ試験回路１３２が、それに何も接続されていない電力をほとんど使用しないことを判定し、かつ電力を完全に遮断し、４５〜７８対の組上のプロービングに戻る。第２のＰｏＥ試験回路１３２及び／又はマイクロプロセッサ１１４は、給電デバイス１０２が、４５〜７８対の組上の電力を完全に遮断することをもたらす、第２のＰｏＥ試験回路１３２によって使用された所定の電力レベルを記録し、次に最も大きい所定の電力量が、給電デバイス１０２が電力を供給し続けるのに必要最小限の使用電力であると判定する。例えば、第２のＰｏＥ試験回路１３２が第３の所定の電力量を使用している間に、給電デバイス１０２が完全に４５〜７８対の組上の電力を遮断する場合、第２のＰｏＥ試験回路１３２及び／又はマイクロプロセッサ１１４は、第２の所定の電力量が、給電デバイス１０２が電力を供給し続けるのに必要最小限の使用電力であると判定する。

１つ以上の実施形態では、２１２において、第２のＰｏＥ試験回路１３２は、４５〜７８対の組を使用して給電デバイス１０２に信号を送信し、４５〜７８対の組を使用して給電デバイス１０２から信号を受信し、受信した信号から、給電デバイス１０２によってサポートされた電力試験デバイス１０４への最大突入電力を決定する。

１つ以上の実施形態では、２１２において、マイクロプロセッサ１１４は、第２のＰｏＥ試験回路１３２を制御して、給電デバイス１０２との電力交渉プロセスを実施し、交渉プロセスが完了した後、給電デバイス１０２は、４５〜７８対の組を介して、高電圧（例えば、４０〜６０Ｖ）を提供する。４５〜７８対の組を介して高電圧を提供する給電デバイス１０２に応答して、第２のＰｏＥ試験回路１３２及び／又はマイクロプロセッサ１１４は、第１の負荷を４５〜７８対の組に所定の期間接続させ、第１の負荷を通って流れる給電デバイス１０２からの突入電力を測定し、次に、第２の負荷を４５〜７８対の組に所定の期間接続させ、第２の負荷を通って流れる給電デバイス１０２からの突入電力を測定し、次に、第３の負荷を４５〜７８対の組に所定の期間接続させ、負荷を通って流れる給電デバイス１０２からの突入電力などを測定する。第１、第２、及び第３の負荷のそれぞれのインピーダンスは、第１の負荷を通って流れる突入電力が、第２の負荷を通って流れる突入電力よりも小さく、かつ第２の負荷を通って流れる突入電力が、第３の負荷を通る突入電力よりも小さくなるように、選択される。したがって、４５〜７８対の組に接続された負荷は、電力交渉プロセス中に、電力試験デバイス１０４への突入電力が徐々に増加するように、徐々に変更される。いずれかの段階において、給電デバイス１０２は、電力試験デバイス１０４への突入電力が高すぎると判定し、給電デバイス１０２は、４５〜７８対の組上の電圧を遮蔽し、かつ低電圧プロービングに戻る。第２のＰｏＥ試験回路１３２及び／又はマイクロプロセッサ１１４は、給電デバイス１０２が、４５〜７８対の組上の電力を完全に遮断することをもたらす所定の負荷を記録し、給電デバイス１０２によってサポートされている電力試験デバイス１０４への最大突入電力が、給電デバイス１０２が４５〜７８対の組上の電圧を遮断し、低電圧プロービングに戻ることをもたらさなかった最も最近測定された突入電力であると判定する。例えば、第３の負荷が４５〜７８対の組に接続されている間に、給電デバイス１０２が４５〜７８対の組上の電力を完全に遮断する場合、第２のＰｏＥ試験回路１３２及び／又はマイクロプロセッサ１１４は、給電デバイス１０２によってサポートされている電力試験デバイス１０４への最大突入電力は、第２の負荷が４５〜７８対の組に接続されている間に測定された突入電力であると判定する。

１つ以上の実施形態では、２１０で実施された試験及び２１２で実施された試験は、同時に実施される。１つ以上の実施形態では、マイクロプロセッサ１１４は、第１のＰｏＥ試験回路１２８を制御して、２１０において１２〜３６対の組を介してＰｏＥ交渉プロセスを実施し、マイクロプロセッサ１１４は、第２のＰｏＥ試験回路１３２に、２１２において４５〜７８対の組を介してＰｏＥ交渉プロセスを実施させ、１２〜３６対の組を介したＰｏＥ交渉プロセスは、４５〜７８対の組を介したＰｏＥ交渉プロセスとは無関係である。次いで、方法２００は、２１４に進む。

２１４において、電力試験デバイス１０４は、給電デバイス１０２が、デュアルシグネチャ対応であることを操作者に伝える。より具体的には、マイクロプロセッサ１１４は、ディスプレイデバイス１２２に、試験されているデバイス（すなわち、給電デバイス１０２）が、デュアルシグネチャ対応であることを示すメッセージを表示させる。１つ以上の実施形態では、マイクロプロセッサ１１４は、ディスプレイデバイス１２２に、給電デバイス１０２が、１２〜３６対の組を使用して提供することができる電力の特性（例えば、最大突入電力、必要最小限の使用電力）を示す情報、及び給電デバイス１０２が、４５〜７８対の組を使用して提供することができる電力の特性（例えば、最大振幅）を示す情報を表示させる。次いで、方法２００は、２１６に進む。

２１６において、電力試験デバイス１０４は、第１のＰｏＥ試験回路１２８及び第２のＰｏＥ試験回路１３２を互いから隔離解除する。より具体的には、マイクロプロセッサ１１４は、スイッチ１３８を閉鎖状態又は導電状態にあるようにする制御信号をスイッチ１３８に出力する。スイッチ１３８が閉鎖状態にある間、第２のＰｏＥ試験回路１３２によって受信された電力は、第１のＰｏＥ試験回路１２８を含む、電力試験デバイス１０４の他の電気構成要素によって影響されることから、もはや隔離されない。次に、方法２００は、図４Ｂに示されるように２１８，進み、給電デバイス１０２が又、給電デバイス１０２の１２〜３６対の組又は４５〜７８対の組のいずれかを介したシングルシグネチャ対応であるか否かを判定する。

２１８において、電力試験デバイス１０４は、第１のＰｏＥ試験回路１２８が、ＰｏＥ交渉プロセスの一部として、給電デバイス１０２によって伝送されたプロービング信号を検出するか否かを判定する。より具体的には、マイクロプロセッサ１１４は、第１のＰｏＥ試験回路１２８が、１２〜３６対の組上でそのようなプロービング信号を検出したことを示す信号を第１のＰｏＥ試験回路１２８から受信したか否かを判定する。マイクロプロセッサ１１４が、そのようなプロービング信号が検出されたことを示す信号を、第１のＰｏＥ試験回路１２８から受信する場合、電力試験デバイス１０４は、第１のＰｏＥ試験回路１２８がプロービング信号を検出したと判定し、方法２００は、給電デバイス１０２が、１２〜３６対の組を介したシングルシグネチャ対応であるか否かを判定する２２０に進む。そうでない場合、方法２００は、図４Ｃに示すように２２４に進む。

２２０において、電力試験デバイス１０４は、第１のＰｏＥ試験回路１２８を使用して、試験を実施する。より具体的には、マイクロプロセッサ１１４は、第１のＰｏＥ試験回路１２８に、通信ポート１０８の１２〜３６対の組を使用してＰｏＥ試験を実施させる信号を第１のＰｏＥ試験回路１２８に提供し、かつ第１のＰｏＥ試験回路１２８によって実施された試験の結果を示すデータを第１のＰｏＥ試験回路１２８から受信する。１つ以上の実施形態では、２２０において、第１のＰｏＥ試験回路１２８は、１２〜３６対の組を使用して給電デバイス１０２に信号を送信し、１２〜３６対の組を使用して給電デバイス１０２から信号を受信し、受信した信号から、給電デバイス１０２が、シングルシグネチャ動作モードで電力を供給し続けるのに必要最小限の使用電力を決定する。１つ以上の実施形態では、２２０において、第１のＰｏＥ試験回路１２８は又、１２〜３６対の組を使用して給電デバイス１０２に信号を送信し、１２〜３６対の組を使用して給電デバイス１０２から信号を受信し、受信した信号から、シングルシグネチャ動作モードで給電デバイス１０２によってサポートされた電力試験デバイス１０４への最大突入電力を決定する。必要な使用電力及び最大突入電力のこれらの決定は、２１０で上述したような様式で実施されてもよい。次いで、方法２００は、２２２に進む。

２２２において、電力試験デバイス１０４は、給電デバイス１０２が、シングルシグネチャ対応であることを操作者に伝える。より具体的には、マイクロプロセッサ１１４は、ディスプレイデバイス１２２に、試験されているデバイス（すなわち、給電デバイス１０２）が、シングルシグネチャ対応であることを示すメッセージを表示させる。１つ以上の実施形態では、マイクロプロセッサ１１４は、ディスプレイデバイス１２２に、給電デバイス１０２が、１２〜３６対の組を使用して提供することができる電力の特性（例えば、必要最小限の使用電力及び／又は最大突入規模）を示す情報を表示させる。次に、方法２００は、図４Ｃに示すように終了する。

２２４において、電力試験デバイス１０４は、第２のＰｏＥ試験回路１３２が、ＰｏＥ交渉プロセスの一部として、給電デバイス１０２によって伝送されたプロービング信号を検出するか否かを判定する。より具体的には、マイクロプロセッサ１１４は、第２のＰｏＥ試験回路１３２が、４５〜７８対の組上でそのようなプロービング信号を検出したことを示す信号を第２のＰｏＥ試験回路１３２から受信したか否かを判定する。マイクロプロセッサ１１４が、そのようなプロービング信号が検出されたことを示す信号を、第２のＰｏＥ試験回路１３２から受信する場合、電力試験デバイス１０４は、第２のＰｏＥ試験回路１３２がプロービング信号を検出したと判定し、方法２００は、給電デバイス１０２が、４５〜７８対の組を介したシングルシグネチャ対応であるか否かを判定する２２６に進む。そうでない場合、方法２００は、電力試験デバイス１０４が、給電デバイス１０２がデュアルシグネチャ対応、又はシングルシグネチャ対応のどちらでもないことを操作者に伝える２３０に進む。より具体的には、マイクロプロセッサ１１４は、ディスプレイデバイス１２２に、試験されているデバイス（すなわち、給電デバイス１０２）が、デュアルシグネチャ対応でもなくシングルシグネチャ対応でもないことを示すメッセージを表示させる。その後、方法２００は終了する。電力試験デバイス１０４が、第２のＰｏＥ試験回路１３２がプロービング信号を検出したと判定した場合、２２６において、電力試験デバイス１０４は、第２のＰｏＥ試験回路１３２を使用して試験を実施する。より具体的には、マイクロプロセッサ１１４は、第２のＰｏＥ試験回路１３２に、通信ポート１０８の４５〜７８対の組を使用してＰｏＥ試験を実施させる信号を第２のＰｏＥ試験回路１３２に提供し、かつ第２のＰｏＥ試験回路１３２によって実施された試験の結果を示すデータを第２のＰｏＥ試験回路１３２から受信する。１つ以上の実施形態では、２２６において、第２のＰｏＥ試験回路１３２は、４５〜７８対の組を使用して給電デバイス１０２に信号を送信し、４５〜７８対の組を使用して給電デバイス１０２から信号を受信し、受信した信号から、給電デバイス１０２が、シングルシグネチャ動作モードで電力を供給し続けるのに必要最小限の使用電力を決定する。１つ以上の実施形態では、２２６において、第２のＰｏＥ試験回路１３２は又、４５〜７８対の組を使用して給電デバイス１０２に信号を送信し、４５〜７８対の組を使用して給電デバイス１０２から信号を受信し、受信した信号から、シングルシグネチャ動作モードで給電デバイス１０２によってサポートされた電力試験デバイス１０４への最大突入電力を決定する。必要な使用電力及び最大突入電力のこれらの決定は、２１２で上述したような様式で実施されてもよい。次いで、方法２００は、２２８に進む。

２２８において、電力試験デバイス１０４は、給電デバイス１０２が、シングルシグネチャ対応であることを操作者に伝える。より具体的には、マイクロプロセッサ１１４は、ディスプレイデバイス１２２に、試験されているデバイス（すなわち、給電デバイス１０２）が、シングルシグネチャ対応であることを示すメッセージを表示させる。１つ以上の実施形態では、マイクロプロセッサ１１４は、ディスプレイデバイス１２２に、給電デバイス１０２が、４５〜７８対の組を使用して提供することができる電力の特性（例えば、必要最小限の使用電力及び／又は最大突入規模）を示す情報を表示させる。その後、方法２００は終了する。

図５は、本開示の１つ以上の実施形態による、給電デバイス１０２と電力試験デバイス１０４との間の電力交渉プロセスの態様を示す図である。図５に示す電力交渉プロセス中の電圧レベルと事象の相対的なタイミングは、単なる例に過ぎず、本開示の範囲から逸脱することなく、他の電圧レベル及び相対的な事象のタイミングを使用することができる。この例では、給電デバイス１０２は、ＩＥＥＥ８０２．３ａｔ仕様によって定義されているように、タイプ２のＰＳＥをエミュレートする。図５は、ボルト単位の電圧レベル対ミリ秒単位の時間のグラフを示す。電圧レベルは、給電デバイス１０２によって１つ以上の対の組で出力され、給電デバイス１０２と電力試験デバイス１０４との間の電力交渉プロセス中に、電力試験デバイス１０４によって検出される。電力試験デバイス１０４は、交渉プロセス中に、様々な時間において検出された特定の電圧レベルに基づいて、給電デバイス１０２の能力を推定する。交渉プロセスに含まれる分類事象中に、給電デバイス１０２によって出力された特定の電圧レベルを検出することに応答して、電力試験デバイス１０４は、給電デバイス１０２が検出する、電力試験デバイス１０４の信号能力に対応する電流レベルを引き出す。

図５に示す例では、給電デバイス１０２と電力試験デバイス１０４との間の交渉プロセスは、期間ＡからＩを含む。１つ以上の実施形態では、図５に示す電力交渉プロセスは、イーサネット（登録商標）プロトコル規格の一部であるＬｉｎｋ Ｌａｙｅｒ Ｄｉｓｃｏｖｅｒｙ Ｐｒｏｔｏｃｏｌ（ＬＬＤＰ）を少なくとも部分的に使用して実現される。

期間Ａは、５００ミリ秒の最大持続時間を有するシグネチャ検出期間である。シグネチャ検出期間Ａの間、給電デバイス１０２は、２．８ボルトの電圧レベルを出力し、その後、出力電圧レベルを最低１ボルト増加させる。電力試験デバイス１０４は、給電デバイス１０２によって出力された電圧レベルを測定し、給電デバイス１０２によって出力された電圧の増加に関連するタイミングを記録する。１つ以上の実施形態では、電力試験デバイス１０４は、従来のＰｏＥシグネチャ検出技術を使用して、給電デバイス１０２によって提供されたシグネチャを検出する。

１つ以上の実施形態では、シグネチャ検出期間Ａの間に、給電デバイス１０２は、複数の低レベル電圧レベル、例えば、低レベル電圧レベルの各々は、２．８ボルト〜１０ボルトの範囲である、を供給するプロービング信号を出力する。１つ以上の実施形態では、出力電圧レベルは、低レベル電圧レベルのうちの１つ以上の間で０ボルトまで一時的に降下させる。電力試験デバイス１０４は、シグネチャ検出期間Ａの間に、プロービング信号を検出する。１つ以上の実施形態では、図４Ａに関連して上述した２０８において、第１のＰｏＥ試験回路１２８は、給電デバイス１０２と電力試験デバイス１０４との間の第１の電力交渉プロセスの第１のシグネチャ検出期間Ａの間に、そのようなプロービング信号が、通信ポート１０８の１２〜３６対の組を使用して検出されたか否かを判定し、第２のＰｏＥ試験回路１３２は、給電デバイス１０２と電力試験デバイス１０４との間の第２の電力交渉プロセスの第２のシグネチャ検出期間Ａの間に、そのようなプロービング信号が、通信ポート１０８の４５〜７８対の組を使用して検出されたか否かを判定する。

期間Ｂは期間Ａに続く。期間Ｂの間に、給電デバイス１０２は、その出力電圧を一時的に低減する。

期間Ｃは、期間Ｂに続く。期間Ｃは、６ミリ秒〜３０ミリ秒の持続時間を有する第１の分類事象期間である。給電デバイス１０２は、第１の分類事象期間Ｃの間に、電力試験デバイス１０４によって検出された１５．５〜２０．５ボルトの分類電圧レベルを出力する。それに応答して、電力試験デバイス１０４は、給電デバイス１０２によって検出された、検出された分類電圧レベルに対応する規模を有する分類電流を引き出す。

期間Ｄは、期間Ｃに続く。期間Ｄは、６ミリ秒〜１２ミリ秒の持続時間を有する第１のマーク事象期間である。第１のマーク事象期間Ｄの間に、給電デバイス１０２は、その出力電圧を低減する。加えて、電力試験デバイス１０４は、給電デバイス１０２によって検出された特定のクラス番号を示す規模を有するマーク電流を引き出し、かつ示されたクラス番号に対応する特定のケーブルループ抵抗を提供する。１つ以上の実施形態では、電力試験デバイス１０４は、０．２５ミリアンペア〜４ミリアンペアのマーク電流を引き出し、有効なシグネチャ抵抗器のように、電流が変更することを可能にしない。加えて、電力試験デバイス１０４は、分類電圧が、電力試験デバイス１０４において１４．５Ｖ未満に降下するとすぐにマーク電流を引き出す。１つ以上の実施形態では、電力試験デバイス１０４は、典型的なタイプ１のＰＤをエミュレートし、右側のシグネチャ抵抗を提供し、両方の事象に対して右側の分類電流を引き出してもよいが、正しいマーク電流を引き出すことはできない。

以下に提供される表１は、本開示の１つ以上の実施形態による、様々なクラス番号と、ワット単位の対応する最大使用電力値との間のマッピングを示す。この例では、第１のマーク事象期間Ｄの間に、電力試験デバイス１０４は、４のクラス番号を示す規模を有するマーク電流を引き出し、１２．５オーム未満のケーブルループ抵抗を提供する。１つ以上の実施形態では、電力試験デバイス１０４からの分類電流シンクは、約１４ボルトで遮断し、給電デバイス１０２によって出力された電圧レベルは、図５の第１のマーク事象期間Ｄに示す電圧レベルよりも高く「浮動」することができる。

期間Ｅは、期間Ｄに続く。期間Ｅは、６ミリ秒〜３０ミリ秒の持続時間を有する第２の分類事象期間である。給電デバイス１０２は、第２の分類事象期間Ｅの間に、電力試験デバイス１０４によって検出された１５．５〜２０．５ボルトの分類電圧レベルを出力する。それに応答して、電力試験デバイス１０４は、検出された分類電圧レベルに対応する規模を有する分類電流を引き出す。

給電デバイス１０２は、電力試験デバイス１０４が、第１の分類事象中に４のクラス番号を示す規模を有するマーク電流を引き出すことに応答して、第２の分類事象を提供することに留意されたい。換言すれば、給電デバイス１０２は、電力試験デバイス１０４が、第１のマーク事象期間Ｄの間に４のクラス番号を示す規模を有するマーク電流を引き出すことに応答して、第２の分類事象期間Ｅの間に電圧を出力する。電力試験デバイス１０４が、第１のマーク事象期間Ｄの間に４未満（すなわち、０、１、２、３）のクラス番号を示す規模を有するマーク電流を提供した場合、電力試験デバイス１０４は、第２の分類事象期間Ｅの１５．５〜２０．５ボルトの間の電圧レベルを出力しなくてもよい。換言すれば、電力試験デバイス１０４は、第２の分類事象を提供しなくてもよい。加えて、電力試験デバイス１０４が、第１のマーク事象期間Ｄの間にＬＬＤＰを使用して４のクラス番号を示す場合、電力試験デバイス１０４は、第２の分類事象期間Ｄの１５．５〜２０．５ボルトの間の電圧レベルを出力することによって、第２の分類事象を提供しなくてもよい。

期間Ｆは、期間Ｅに続く。期間Ｆは、６ミリ秒〜１２ミリ秒の持続時間を有する第２のマーク事象期間である。第２のマーク事象期間Ｆの間に、電力試験デバイス１０４は、特定のクラス番号を示す規模を有するマーク電流を引き出す。この例では、第２のマーク事象期間Ｆの間に、電力試験デバイス１０４は、給電デバイス１０２によって検出され、かつ１２．５オーム未満のケーブルループ抵抗を提供する４のクラス番号を示す規模を有するマーク電流を再び引き出す。１つ以上の実施形態では、電力試験デバイス１０４からの分類電流シンクは、約１４ボルトで遮断し、給電デバイス１０２によって出力された電圧レベルは、図５の第２のマーク事象期間Ｆに示す電圧レベルよりも高く「浮動」することができる。

期間Ｇは、第２のマーク事象期間Ｆに続く。期間Ｇは、給電デバイス１０２が、その出力電圧レベルを一時的に低下させる期間である。シグネチャ検出期間Ａの終了と、期間Ｇの終了との間の最大時間量は、４００ミリ秒である。

期間Ｈは、第２のマーク事象期間Ｇに続く。期間Ｈは、給電デバイス１０２が、その出力電圧レベルを定常状態出力電圧レベルまで増加させ始める期間であり、定常状態出力電圧レベルは、電力試験デバイス１０４によって示されるクラス番号に対応している。

期間Ｉは、期間Ｈに続く。期間Ｉは、給電デバイス１０２が、その定常状態出力電圧レベルの１０％を出力することから、その定常状態出力電圧レベルの９０％を出力することに移行する期間である。期間Ｉの最小持続時間は、１５マイクロ秒である。

例えば、電力試験デバイス１０４が、第１のマーク事象期間Ｄ及び第２のマーク事象期間Ｆの両方の間に、適切なマーク電流を引き出す（すなわち、クラス４の電流引き出し）場合、給電デバイス１０２は、電力試験デバイス１０４が２５．５ワットまでの電力を引き出すことができる期間Ｇの後に、３０ワットの電力を出力する。換言すれば、電力試験デバイス１０４が、第１のマーク事象期間Ｄ及び第２のマーク事象期間Ｆの両方の間に、適切なマーク電流（すなわち、クラス４の電流引き出し）を引き出す場合、給電デバイス１０２は、４のクラス番号のデバイスを動作させるのに十分な電力を出力する。それに応答して、電力試験デバイス１０４は、給電デバイス１０２が、クラス４のデバイスをサポートすることができることを示すメッセージを表示してもよい。

図５は、２つの分類事象を使用して、給電デバイス１０２を示しているが、給電デバイス１０２は、異なる数の分類事象（例えば、５つの分類事象）を使用してもよい。換言すれば、給電デバイス１０２は、電力試験デバイス１０４が適切な電流量を引き出す、追加の分類事象期間及び対応するマーク事象期間を提供してもよい。

上記の説明は、パワーオーバーイーサネット（登録商標）の実装を参照しているが、電力試験デバイス１０４は、他のデータ通信ケーブル配線（すなわち、イーサネット（登録商標）ではない）を介して電力を提供することができる、他の給電デバイスの電力提供能力を試験するための同様の特徴及び機能性を備えて構成することができる。例えば、電力試験デバイス１０４は、高精細度マルチメディアインターフェース（ＨＤＭＩ（登録商標））ケーブル配線を介して電力を提供することができる、他の給電デバイスの電力提供能力を試験するための同様の特徴及び機能性を備えて構成することができる。

上に記載した種々の実施形態を組み合わせ、更なる実施形態を得てもよい。上記の発明を実施するための形態を考慮すれば、これら及び他の変更が実施形態に加えられてもよい。一般的に、以下の特許請求の範囲において、使用される用語は、請求項を、明細書及び請求項に開示される具体的な実施形態に限定するものと解釈すべきではないが、このような請求項によって権利が与えられる全均等物の範囲に沿った全ての可能な実施形態を含むと解釈すべきである。したがって、請求項は、開示によって制限されるものではない。

Claims (20)

1. 被試験デバイスの電力提供能力を試験する電力試験デバイスであって、
   複数のピンを含む通信ポートであって、動作中に、前記通信ポートの前記ピンに電気的に結合された複数のワイヤを含むケーブルを介して、前記被試験デバイスから信号を受信する、通信ポートと、
   前記通信ポートの前記ピンのうちの第１の組の対に電気的に結合された第１の試験回路と、
   前記通信ポートの前記ピンのうちの第２の組の対に電気的に結合された第２の試験回路と、
   前記第１の試験回路及び前記第２の試験回路のうちの少なくとも１つに電気的に結合されたスイッチであって、
   前記スイッチが第１の状態にある間に、前記第１の試験回路及び前記第２の試験回路が、互いに電気的に隔離され、
   前記スイッチが第２の状態にある間に、前記第１の試験回路及び前記第２の試験回路が、互いに電気的に隔離されていない、スイッチと、
   前記第１の試験回路、前記第２の試験回路、及び前記スイッチに結合されたプロセッサと、
   前記プロセッサに結合されたメモリであって、前記メモリが、前記プロセッサによって実行されるときに、前記プロセッサに、
   前記第１の試験回路の動作を制御させ、
   前記第２の試験回路の動作を制御させ、かつ
   前記スイッチを、前記第１の状態又は前記第２の状態のうちの１つになるように制御させる、プロセッサ可読命令を記憶するメモリと、を備える、電力試験デバイス。
2. 前記プロセッサ可読命令が、前記プロセッサによって実行されるときに、前記プロセッサに、前記第１の試験回路及び前記第２の試験回路を独立して制御させる、請求項１に記載の電力試験デバイス。
3. 前記プロセッサ可読命令が、前記プロセッサによって実行されるときに、前記プロセッサに、更に、
   前記スイッチを、前記第１の状態になるように制御しながら、前記被試験デバイスからのプロービングが、第１の試験回路及び前記第２の試験回路の両方によって検出されるか否かを判定させる、請求項２に記載の電力試験デバイス。
4. ディスプレイデバイスを更に備え、
   前記プロセッサ可読命令が、前記プロセッサによって実行されるときに、前記プロセッサに、更に、
   前記被試験デバイスからのプロービングが、前記第１の試験回路及び前記第２の試験回路の両方によって検出されたとの判定に応答して、
   前記通信ポートの前記ピンのうちの前記第１の組の対を使用して、前記被試験デバイスの試験を実施するように、前記第１の試験回路を制御させ、
   前記通信ポートの前記ピンのうちの前記第２の組の対を使用して、前記被試験デバイスの試験を実施するように、前記第２の試験回路を制御させ、
   前記第１の試験回路が、前記通信ポートの前記ピンのうちの前記第１の組の対を使用して、前記試験を実施し、かつ前記第２の試験回路が、前記通信ポートの前記ピンのうちの前記第２の組の対を使用して、前記試験を実施した後に、
   前記被試験デバイスが、デュアルシグネチャ対応デバイスであることを示すメッセージを表示するように、前記ディスプレイを制御させ、
   前記スイッチを、前記第２の状態になるように制御させる、請求項３に記載の電力試験デバイス。
5. 前記プロセッサが、前記通信ポートの前記ピンのうちの前記第１の組の対を使用して、前記試験を実施するように、前記第１の試験回路を制御し、前記プロセッサが、前記スイッチを前記第１の状態になるように制御しながら、前記ピンのうちの前記第２の組の対を使用して、前記試験を実施するように、前記第２の試験回路を制御する、請求項４に記載の電力試験デバイス。
6. 前記プロセッサ可読命令が、前記プロセッサによって実行されるときに、前記プロセッサに、更に、
   プロービングが、前記第１の試験回路によって検出され、かつ前記第２の試験回路によって検出されていないとの判定に応答して、
   前記スイッチを前記第２の状態になるように制御しながら、前記通信ポートの前記ピンのうちの前記第１の組の対を使用して、前記被試験デバイスの試験を実施するように、前記第１の試験回路を制御させ、
   前記被試験デバイスが、シングルシグネチャ対応デバイスであることを示すメッセージを表示するように、前記ディスプレイデバイスを制御させる、請求項４に記載の電力試験デバイス。
7. 前記プロセッサ可読命令が、前記プロセッサによって実行されるときに、前記プロセッサに、更に、
   プロービングが、前記第１の試験回路によって検出されておらず、かつ前記第２の試験回路によって検出されたとの判定に応答して、
   前記通信ポートの前記ピンのうちの前記第２の組の対を使用して、前記被試験デバイスの試験を実施するように、前記第２の試験回路を制御させ、
   前記被試験デバイスが、シングルシグネチャ対応デバイスであることを示すメッセージを表示するように、前記ディスプレイデバイスを制御させ、
   プロービングが、前記第１の試験回路及び前記第２の試験回路によって検出されていないとの判定に応答して、前記非試験デバイスが、デュアルシグネチャ対応デバイスでもなくシングルシグネチャ対応デバイスでもないことを示すメッセージを表示するように、前記ディスプレイデバイスを制御させる、請求項４に記載の電力試験デバイス。
8. 前記プロセッサ及び前記第２の試験回路に電気的に結合されたデータ隔離回路であって、動作中に、前記第１の試験回路から電気的に隔離されたデータ信号を前記第２の試験回路に提供する、データ隔離回路と、
   前記第１の試験回路から電気的に隔離されていない電力信号を提供する端子に電気的に結合された入力端子と、前記第２の試験回路の電力端子に電気的に結合された出力端子とを含む電力隔離回路であって、動作中に、前記第１の試験回路から電気的に隔離されている電力信号を、前記第２の試験回路の前記電力入力端子に提供する、電力隔離回路と、を更に備え、
   前記スイッチが、前記第１の試験回路から電気的に隔離されていない前記電力信号を提供する前記端子に電気的に結合された第１の端子と、前記第２の試験回路の前記電力入力端子に電気的に結合された第２の端子と、を含み、
   前記スイッチが前記第１の状態にある間に、前記スイッチが、前記電力隔離回路の前記入力端子及び前記電力隔離回路の前記出力端子を電気的に結合せず、かつ前記第１の試験回路から電気的に隔離されていない前記電力信号を、前記第２の試験回路の前記電力入力端子に提供せず、
   前記スイッチが前記第２の状態にある間に、前記スイッチが、前記電力隔離回路の前記入力端子及び前記電力隔離回路の前記出力端子を電気的に結合し、かつ前記第１の試験回路から電気的に隔離されていない前記電力信号を、前記第２の試験回路の前記電力入力端子に提供する、請求項１に記載の電力試験デバイス。
9. 前記プロセッサ可読命令が、前記プロセッサによって実行されるときに、前記プロセッサに、更に、
   前記通信ポートの前記ピンのうちの前記第１の組の対を介して、前記被試験デバイスによって提供された電力の特性を示すメッセージを表示するように、前記ディスプレイデバイスを制御させ、又は
   前記通信ポートの前記ピンのうちの前記第２の組の対を介して、前記被試験デバイスによって提供された電力の特性を示すメッセージを表示するように、前記ディスプレイデバイスを制御させ、又は
   前記通信ポートの前記ピンのうちの前記第１の組の対及び前記通信ポートの前記ピンのうちの前記第２の組の対の両方を介して、前記被試験デバイスによって提供された電力の特性を示すメッセージを表示するように、前記ディスプレイデバイスを制御させる、請求項４に記載の電力試験デバイス。
10. 被試験デバイスの電力提供能力を試験する電力試験デバイスを動作させる方法であって、
    第２の試験回路から第１の試験回路を電気的に隔離することと、
    前記被試験デバイスによるプロービングが、前記第１の試験回路及び前記第２の試験回路の両方によって検出されるか否かを判定することと、
    前記プロービングが、前記第１の試験回路及び前記第２の試験回路の両方によって検出されたとの判定に応答して、
    通信ポートの複数のピンのうちの第１の組の対及び前記第１の試験回路を使用して、前記被試験デバイスの試験を実施することと、
    前記通信ポートの前記ピンのうちの第２の組の対及び前記第２の試験回路を使用して、前記被試験デバイスの試験を実施することと、
    前記被試験デバイスが、デュアルシグネチャ対応デバイスであることを示すメッセージを表示することと、
    前記通信ポートの前記ピンのうちの前記第１の組の対及び前記第１の試験回路を使用して、前記被試験デバイスの前記試験を実施し、前記通信ポートの前記ピンのうちの前記第２の組の対及び前記第２の試験回路を使用して、前記被試験デバイスの前記試験を実施した後に、前記第２の試験回路から前記第１の試験回路を隔離解除することと、を含む、方法。
11. 前記通信ポートの前記ピンのうちの前記第１の組の対及び前記第１の試験回路を使用して、前記被試験デバイスの前記試験を実施することと、前記通信ポートの前記ピンのうちの前記第２の組の対及び前記第２の試験回路を使用して、前記被試験デバイスの前記試験を実施することとが、同時に実施される、請求項１０に記載の方法。
12. 前記通信ポートの前記ピンのうちの前記第１の組の対及び前記第１の試験回路を使用する前記試験の前記実施と、前記通信ポートの前記ピンのうちの前記第２の組の対及び前記第２の試験回路を使用する前記試験の前記実施とが、同時に実施され、前記第２の試験回路からの前記第１の試験回路の前記隔離が、同時に実施される、請求項１０に記載の方法。
13. 前記第２の試験回路から前記第１の試験回路を隔離解除することが、前記被試験デバイスが、前記デュアルシグネチャ対応デバイスであると判定した後に実施される、請求項１０に記載の方法。
14. プロービングが、前記第１の試験回路によって検出されたと判定することと、
    プロービングが、前記第２の試験回路によって検出されていないと判定することと、
    プロービングが、前記第１の試験回路によって検出され、かつプロービングが、前記第２の試験回路によって検出されていないとの判定に応答して、
    前記通信ポートの前記ピンのうちの前記第１の組の対及び前記第１の試験回路を使用して、前記被試験デバイスの試験を実施することと、
    前記被試験デバイスが、シングルシグネチャ対応デバイスであることを示すメッセージを表示することと、を更に含む、請求項１０に記載の方法。
15. 前記被試験デバイスが、前記通信ポートのピン１、２、３、及び６によって電力を提供することを示すメッセージを表示することを更に含む、請求項１４に記載の方法。
16. 前記通信ポートの前記ピンのうちの前記第１の組の対を介して、前記被試験デバイスによって提供された電力の特性を示すメッセージを表示することを更に含む、請求項１４に記載の方法。
17. プロービングが、前記第１の試験回路によって検出されていないと判定することと、
    プロービングが、前記第２の試験回路によって検出されたと判定することと、
    プロービングが、前記第１の試験回路によって検出されておらず、かつプロービングが、前記第２の試験回路によって検出されたとの判定に応答して、
    前記通信ポートの前記ピンのうちの前記第２の組の対及び前記第２の試験回路を使用して、前記被試験デバイスの試験を実施することと、
    前記被試験デバイスが、シングルシグネチャ対応デバイスであることを示すメッセージを表示することと、を更に含む、請求項１０に記載の方法。
18. 前記被試験デバイスが、前記通信ポートのピン４、５、７、及び８によって電力を提供することを示すメッセージを表示することを更に含む、請求項１７に記載の方法。
19. 前記通信ポートの前記ピンのうちの前記第２の組の対を介して、前記被試験デバイスによって提供された電力の特性を示すメッセージを表示することを更に含む、請求項１７に記載の方法。
20. プロービングが、前記第２の試験回路からの前記第１の試験回路の前記隔離解除中に、前記第１の試験回路によって検出されていないと判定することと、
    プロービングが、前記第２の試験回路からの前記第１の試験回路の前記隔離解除中に、前記第２の試験回路によって検出されていないと判定することと、
    プロービングが、前記第１の試験回路によって検出されておらず、かつプロービングが、前記第２の試験回路によって検出されていないとの前記判定に応答して、前記非試験デバイスが、デュアルシグネチャ対応デバイスでもなくシングルシグネチャ対応デバイスでもないことを示すメッセージを表示することと、を更に含む、請求項１０に記載の方法。

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