TWI490512B - 訊號電路板與測試電路板配置系統及其方法 - Google Patents

Description

訊號電路板與測試電路板配置系統及其方法

一種配置系統及其方法，尤其是指一種訊號電路板與測試電路板配置系統及其方法。

目前對於積體電路(integrated circuit，IC)的測試方式是將積體電路電性連接於電路板上，並直接將測試訊號連接到積體電路的腳位上，以進行積體電路的測試。

為了更進一步的提高電路板上積體電路的測試效率，即是將訊號電路板與測試電路板插接於插接電路板上，藉以透過訊號電路板同時提供多個測試電路板測試訊號，以進行測試電路板上積體電路的測試。

而在插接電路板上即是將訊號板插槽設置於同一個區域，並且將測試板插槽設置於另外一個區域，不同的訊號板插槽與每一個測試板插槽設置的距離不相同，則不同的訊號板插槽與每一個測試板插槽會存在有不同的測試誤差，測試誤差即是由於訊號板插槽與測試板插槽的距離所產生配線的電阻、電容、電感…等所造成，為了修正測試誤差則需要依據不同的訊號板插槽與每一個測試板插槽的距離設置不同的修正參數，這會造成修正上的困擾。

綜上所述，可知先前技術中長期以來一直存在現有大量進行測試電路板上積體電路所產生測試誤差修正不易的問題，因此有必要提出改進的技術手段，來解決此一問題。

有鑒於先前技術存在現有大量進行測試電路板上積體電路所產生測試誤差修正不易的問題，本發明遂揭露一種訊號電路板與測試電路板配置系統及其方法，其中：

本發明所揭露的訊號電路板與測試電路板配置系統，其包含： 插接電路板、二訊號電路板以及多個測試電路板。

插接電路板包含有第一訊號板插槽、第二訊號板插槽以及偶數個測試板插槽，第一訊號板插槽與第二訊號板插槽呈對稱配置，且測試板插槽呈對稱配置，以依據第一訊號板插槽或第二訊號板插槽與每一個測試板插槽設有對應的修正參數。

訊號電路板分別插入於第一訊號板插槽以及第二訊號板插槽並提供測試訊號；測試電路板分別插入於測試板插槽，測試電路板自訊號電路板獲得測試訊號以進行測試電路板上積體電路的測試。

其中，測試電路板依據訊號電路板插入的第一訊號板插槽或是第二訊號板插槽以及測試電路板插入的測試板插槽所對應的修正參數以修正測試電路板上積體電路的測試結果。

本發明所揭露的訊號電路板與測試電路板配置方法，其包含下列步驟：

首先，提供包含有第一訊號板插槽、第二訊號板插槽以及偶數個測試板插槽的插接電路板，第一訊號板插槽與第二訊號板插槽呈對稱配置，且測試板插槽呈對稱配置，以依據第一訊號板插槽或第二訊號板插槽與每一個測試板插槽設有對應的修正參數；接著，提供二訊號電路板，訊號電路板分別插入於第一訊號板插槽以及第二訊號板插槽並提供測試訊號；接著，提供多個測試電路板，測試電路板分別插入於測試板插槽，測試電路板自訊號電路板獲得測試訊號以進行測試電路板上積體電路的測試；最後，測試電路板依據訊號電路板插入的第一訊號板插槽或是第二訊號板插槽以及測試電路板插入的測試板插槽所對應的修正參數以修正測試電路板上積體電路的測試結果。

本發明所揭露的系統以及方法如上，與先前技術之間的差異在於本發明將第一訊號板插槽與第二訊號板插槽對稱配置，以及將測試板插槽對稱配置，藉此使得訊號板插槽與測試板插槽對應的修正參數具有對稱性，藉此可以有效的減少修正測試電路板上積體電路的測試結果所需要使用修正參數的數量，即可提供測試結果修正的便利性。

透過上述的技術手段，本發明可以達成大量進行測試電路板上積體電路測試誤差修正便利的技術功效。

10‧‧‧插接電路板

11‧‧‧第一訊號板插槽

12‧‧‧第二訊號板插槽

131‧‧‧第一測試板插槽

132‧‧‧第二測試板插槽

133‧‧‧第三測試板插槽

134‧‧‧第四測試板插槽

20‧‧‧訊號電路板

30‧‧‧測試電路板

步驟101‧‧‧提供包含有第一訊號板插槽、第二訊號板插槽以及偶數個測試板插槽的插接電路板，第一訊號板插槽與第二訊號板插槽呈對稱配置，且測試板插槽呈對稱配置，以依據第一訊號板插槽或第二訊號板插槽與每一個測試板插槽設有對應的修正參數

步驟102‧‧‧提供二訊號電路板，訊號電路板分別插入於第一訊號板插槽以及 第二訊號板插槽並提供測試訊號

步驟103‧‧‧提供多個測試電路板，測試電路板分別插入於測試板插槽，測試電路板自訊號電路板獲得測試訊號以進行測試電路板上積體電路的測試

步驟104‧‧‧測試電路板依據訊號電路板插入的第一訊號板插槽或是第二訊號板插槽以及測試電路板插入的測試板插槽所對應的修正參數以修正測試電路板上積體電路的測試結果

第1圖繪示為本發明第一實施態樣訊號電路板與測試電路板配置系統的系統方塊圖。

第2圖繪示為本發明訊號電路板與測試電路板配置方法的方法流程圖。

第3圖繪示為本發明第二實施態樣訊號電路板與測試電路板配置系統的系統方塊圖。

第4圖繪示為本發明第三實施態樣訊號電路板與測試電路板配置系統的系統方塊圖。

以下將配合圖式及實施例來詳細說明本發明的實施方式，藉此對本發明如何應用技術手段來解決技術問題並達成技術功效的實現過程能充分理解並據以實施。

以下首先要說明本發明所揭露第一實施態樣的訊號電路板與測試電路板配置系統，以及同時解說第一實施態樣的運作方式及流程，並請參考「第1圖」以及「第2圖」所示，「第1圖」繪示為本發明第一實施態樣訊號電路板與測試電路板配置系統的系統方塊圖；「第2圖」繪示為本發明訊號電路板與測試電路板配置方法的方法流程圖。

本發明所揭露第一實施態樣的訊號電路板與測試電路板配置系統，其包含：插接電路板10、二個訊號電路板20以及四個測試電路板30，在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇，值得注意的是，測試電路板30的數量可少於插接電路板10所包含測試板插槽的數量。

插接電路板10包含有第一訊號板插槽11、第二訊號板插槽12、第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134，上述是依據第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第一訊號板插槽11、第二訊號板插槽12、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134的順序配置，並且第一訊號板插槽11與第二訊號板插槽12呈對稱配置、第一測試板插槽131與第四測試板插槽134呈對稱配置以及第二測試板插槽132與第三測試板插槽133呈對稱配置(步驟101)。

上述的第一訊號板插槽11、第二訊號板插槽12、第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134包含PCI插槽、AGP插槽、PCI-E插槽以及記憶體插槽…等，在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇。

第一訊號板插槽11與第一測試板插槽131設有對應的第一修正參數(步驟101)，第一修正參數是依據第一訊號板插槽11與第一測試板插槽131的距離計算得到，第一修正參數是用以修正第一訊號板插槽11至第一測試板插槽131因配線所產生的量測誤差。

第一訊號板插槽11與第二測試板插槽132設有對應的第二修正參數(步驟101)，第二修正參數是依據第一訊號板插槽11與第二測試板插槽132的距離計算得到，第二修正參數是用以修正第一訊號板插槽11至第二測試板插槽132因配線所產生的量測誤差。

第一訊號板插槽11與第三測試板插槽133設有對應的第三修正參數(步驟101)，第三修正參數是依據第一訊號板插槽11與第三測試板插槽133的距離計算得到，第三修正參數是用以修正第一訊號板插槽11至第三測試板插槽133因配線所產生的量測誤差。

第一訊號板插槽11與第四測試板插槽134設有對應的第四修正參數(步驟101)，第四修正參數是依據第一訊號板插槽11與第四測試板插槽134的距離計算得到，第四修正參數是用以修正第一訊號板插槽11至第四測試板插槽134因配線所產生的量測誤差。

由於第一訊號板插槽11、第二訊號板插槽12、第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134是呈現對稱配置，第二訊號板插槽12與第四測試板插槽134的距離與第一訊號板插槽11與第一測試板插槽131的距離相同，故第二訊號板插槽12與第四測試板插槽134會設有對應的第一修正參數(步驟101)。

由於第一訊號板插槽11、第二訊號板插槽12、第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134是呈現對稱配置，第二訊號板插槽12與第三測試板插槽133的距離與第一訊號板插槽11與第二測試板插槽132的距離相同，故第二訊號板插槽12與第三測試板插槽133會設有對應的第二修正參數(步驟101)。

由於第一訊號板插槽11、第二訊號板插槽12、第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134是呈現對稱配置，第二訊號板插槽12與第二測試板插槽132的距離與第一訊號板插槽11與第三測試板插槽133的距離相同，故第二訊號板插槽12與第二測試板插槽132會設有對應的第三修正參數(步驟101)。

由於第一訊號板插槽11、第二訊號板插槽12、第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134是呈現對稱配置，第二訊號板插槽12與第一測試板插槽131的距離與第一訊號板插槽11與第四測試板插槽134的距離相同，故第二訊號板插槽12與第一測試板插槽131會設有對應的第四修正參數(步驟101)。

亦即第一訊號板插槽11與第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134對應的第一修正參數、第二修正參數、第三修正參數以及第四修正參數會與第二訊號板插槽12與第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134對應的第一修正參數、第二修正參數、第三修正參數以及第四修正參數具有對稱性。

訊號電路板20是分別插入第一訊號板插槽11以及第二訊號板插槽12(步驟102)，且測試電路板30是分別插入第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134(步驟103)。

訊號電路板20即可透過第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134提供測試訊號於插入於第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134的測試電路板30，測試電路板30自訊號電路板20獲得測試訊號以進行測試電路板30上積體電路的測試(步驟103)。

以實施例來說，測試電路板30插入於第一測試板插槽131，且測試電路板30是由插入於第一訊號板插槽11的訊號電路板20提供測試訊號，即可進行測試電路板30上積體電路的測試，並依據第一訊號板插槽11與第一測試板插槽131所對應的第一修正參數以修正測試電路板30上積體電路的測試結果，藉以修正第一訊號板插槽11至第一測試板插槽131因配線所產生的量測誤差(步驟104)。

以實施例來說，測試電路板30插入於第三測試板插槽133，且測試電路板30是由插入於第二訊號板插槽12的訊號電路板20提供測試訊號，即可進行測試電路板30上積體電路的測試，並依據第二訊號板插槽12與第三測試板插槽133所對應的第二修正參數以修正測試電路板30上積體電路的測試結果，藉以修正第二訊號板插槽12至第三測試板插槽133因配線所產生的量測誤差(步驟104)。

其他以實施例的測試電路板30與訊號電路板20即可依照上述舉例所推得，在此不再進行贅述，藉此可以有效的減少修正測試電路板30上積體電路的測試結果所需要使用修正參數的數量，並提供修正配線所產生的量測誤差的效果。

以下接著要說明本發明所揭露第二實施態樣的訊號電路板與測試電路板配置系統，以及同時解說第二實施態樣的運作方式及流程，並請參考「第2圖」以及「第3圖」所示，「第3圖」繪示為本發明第二實施態樣訊號電路板與測試電路板配置系統的系統方塊圖。

本發明所揭露第二實施態樣的訊號電路板與測試電路板配置系統，其包含：插接電路板10、二個訊號電路板20以及四個測試電路板30，在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇，值得注意的是，測試電路板30的數量可少於插接電路板10所包含測試板插槽的數量。

插接電路板10包含有第一訊號板插槽11、第二訊號板插槽12、第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134，上述是依據第一測試板插槽131、第一訊號板插槽11、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133、第二訊號板插槽12以及第四測試板插槽134的順序配置，並且第一訊號板插槽11與第二訊號板插槽12呈對稱配置、第一測試板插槽131與第四測試板插槽134呈對稱配置以及第二測試板插槽132與第三測試板插槽133呈對稱配置(步驟101)。

上述的第一訊號板插槽11、第二訊號板插槽12、第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134包含PCI插槽、AGP插槽、PCI-E插槽以及記憶體插槽…等，在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇。

第一訊號板插槽11與第一測試板插槽131設有對應的第一修正 參數(步驟101)，第一修正參數是依據第一訊號板插槽11與第一測試板插槽131的距離計算得到，第一修正參數是用以修正第一訊號板插槽11至第一測試板插槽131因配線所產生的量測誤差。

第一訊號板插槽11與第二測試板插槽132設有對應的第二修正參數(步驟101)，第二修正參數是依據第一訊號板插槽11與第二測試板插槽132的距離計算得到，第二修正參數是用以修正第一訊號板插槽11至第二測試板插槽132因配線所產生的量測誤差。

第一訊號板插槽11與第三測試板插槽133設有對應的第三修正參數(步驟101)，第三修正參數是依據第一訊號板插槽11與第三測試板插槽133的距離計算得到，第三修正參數是用以修正第一訊號板插槽11至第三測試板插槽133因配線所產生的量測誤差。

第一訊號板插槽11與第四測試板插槽134設有對應的第四修正參數(步驟101)，第四修正參數是依據第一訊號板插槽11與第四測試板插槽134的距離計算得到，第四修正參數是用以修正第一訊號板插槽11至第四測試板插槽134因配線所產生的量測誤差。

由於第一訊號板插槽11、第二訊號板插槽12、第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134是呈現對稱配置，第二訊號板插槽12與第四測試板插槽134的距離與第一訊號板插槽11與第一測試板插槽131的距離相同，故第二訊號板插槽12與第四測試板插槽134會設有對應的第一修正參數(步驟101)。

由於第一訊號板插槽11、第二訊號板插槽12、第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134是呈現對稱配置，第二訊號板插槽12與第三測試板插槽133的距離與第一訊號板插槽11與第二測試板插槽132的距離相同，故第二訊號板插槽12與第三測試板插槽133會設有對應的第二修正參數(步驟101)。

由於第一訊號板插槽11、第二訊號板插槽12、第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134是呈現對稱配置，第二訊號板插槽12與第二測試板插槽132的距離與第一訊號板插槽11與第三測試板插槽133的距離相同，故第二訊號板插槽12與第二測試板插槽132會設有對應的第三修正參數(步驟101)。

由於第一訊號板插槽11、第二訊號板插槽12、第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134是呈現對稱配置，第二訊號板插槽12與第一測試板插槽131的距離與第一訊號板插槽11與第四測試板插槽134的距離相同，故第二訊號板插槽12與第一測試板插槽131會設有對應的第四修正參數(步驟101)。

亦即第一訊號板插槽11與第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134對應的第一修正參數、第二修正參數、第三修正參數以及第四修正參數會與第二訊號板插槽12與第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134對應的第一修正參數、第二修正參數、第三修正參數以及第四修正參數具有對稱性。

訊號電路板20是分別插入第一訊號板插槽11以及第二訊號板插槽12(步驟102)，且測試電路板30是分別插入第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134(步驟103)。

訊號電路板20即可透過第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134提供測試訊號於插入於第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134的測試電路板30，測試電路板30自訊號電路板20獲得測試訊號以進行測試電路板30上積體電路的測試(步驟103)。

以實施例來說，測試電路板30插入於第一測試板插槽131，且測試電路板30是由插入於第一訊號板插槽11的訊號電路板20提供測試訊號，即可進行測試電路板30上積體電路的測試，並依據第一訊號板插槽11與第一測試板插槽131所對應的第一修正參數以修正測試電路板30上積體電路的測試結果，藉以修正第一訊號板插槽11至第一測試板插槽131因配線所產生的量測誤差(步驟104)。

以實施例來說，測試電路板30插入於第三測試板插槽133，且測試電路板30是由插入於第二訊號板插槽12的訊號電路板20提供測試訊號，即可進行測試電路板30上積體電路的測試，並依據第二訊號板插槽12與第三測試板插槽133所對應的第二修正參數以修正測試電路板30上積體電路的測試結果，藉以修正第二訊號板插槽12至第三測試板插槽133因配線所產生的量測誤 差(步驟104)。

其他以實施例的測試電路板30與訊號電路板20即可依照上述舉例所推得，在此不再進行贅述，藉此可以有效的減少修正測試電路板30上積體電路的測試結果所需要使用修正參數的數量，並提供修正配線所產生的量測誤差的效果。

以下接著要說明本發明揭露第三實施態樣的訊號電路板與測試電路板配置系統，以及同時解說第三實施態樣的運作方式及流程，並請參考「第2圖」以及「第4圖」所示，「第4圖」繪示為本發明第三實施態樣訊號電路板與測試電路板配置系統的系統方塊圖。

本發明所揭露第三實施態樣的訊號電路板與測試電路板配置系統，其包含：插接電路板10、二個訊號電路板20以及四個測試電路板30，在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇，值得注意的是，測試電路板30的數量可少於插接電路板10所包含測試板插槽的數量。

插接電路板10包含有第一訊號板插槽11、第二訊號板插槽12、第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134、上述是依據第一訊號板插槽11、第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133、第四測試板插槽134以及第二訊號板插槽12的順序配置，並且第一訊號板插槽11與第二訊號板插槽12呈對稱配置、第一測試板插槽131與第四測試板插槽134呈對稱配置以及第二測試板插槽132與第三測試板插槽133呈對稱配置(步驟101)。

上述的第一訊號板插槽11、第二訊號板插槽12、第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134包含PCI插槽、AGP插槽、PCI-E插槽以及記憶體插槽…等，在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇。

第一訊號板插槽11與第一測試板插槽131設有對應的第一修正參數(步驟101)，第一修正參數是依據第一訊號板插槽11與第一測試板插槽131的距離計算得到，第一修正參數是用以修正第一訊號板插槽11至第一測試板插槽131因配線所產生的量測誤差。

第一訊號板插槽11與第二測試板插槽132設有對應的第二修正參數(步驟101)，第二修正參數是依據第一訊號板插槽11與第二測試板插槽132 的距離計算得到，第二修正參數是用以修正第一訊號板插槽11至第二測試板插槽132因配線所產生的量測誤差。

第一訊號板插槽11與第三測試板插槽133設有對應的第三修正參數(步驟101)，第三修正參數是依據第一訊號板插槽11與第三測試板插槽133的距離計算得到，第三修正參數是用以修正第一訊號板插槽11至第三測試板插槽133因配線所產生的量測誤差。

第一訊號板插槽11與第四測試板插槽134設有對應的第四修正參數(步驟101)，第四修正參數是依據第一訊號板插槽11與第四測試板插槽134的距離計算得到，第四修正參數是用以修正第一訊號板插槽11至第四測試板插槽134因配線所產生的量測誤差。

由於第一訊號板插槽11、第二訊號板插槽12、第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134是呈現對稱配置，第二訊號板插槽12與第四測試板插槽134的距離與第一訊號板插槽11與第一測試板插槽131的距離相同，故第二訊號板插槽12與第四測試板插槽134會設有對應的第一修正參數(步驟101)。

由於第一訊號板插槽11、第二訊號板插槽12、第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134是呈現對稱配置，第二訊號板插槽12與第三測試板插槽133的距離與第一訊號板插槽11與第二測試板插槽132的距離相同，故第二訊號板插槽12與第三測試板插槽133會設有對應的第二修正參數(步驟101)。

由於第一訊號板插槽11、第二訊號板插槽12、第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134是呈現對稱配置，第二訊號板插槽12與第二測試板插槽132的距離與第一訊號板插槽11與第三測試板插槽133的距離相同，故第二訊號板插槽12與第二測試板插槽132會設有對應的第三修正參數(步驟101)。

由於第一訊號板插槽11、第二訊號板插槽12、第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134是呈現對稱配置，第二訊號板插槽12與第一測試板插槽131的距離與第一訊號板插槽11與第四測試板插槽134的距離相同，故第二訊號板插槽12與第一測試板插槽131會設有對應的第四修正參數(步驟101)。

亦即第一訊號板插槽11與第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134對應的第一修正參數、第二修正參數、第三修正參數以及第四修正參數對與第二訊號板插槽12與第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134對應的第一修正參數、第二修正參數、第三修正參數以及第四修正參數具有對稱性。

訊號電路板20是分別插入第一訊號板插槽11以及第二訊號板插槽12(步驟102)，且測試電路板30是分別插入第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134(步驟103)。

訊號電路板20即可透過第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134提供測試訊號於插入於第一測試板插槽131、第二測試板插槽132、第三測試板插槽133以及第四測試板插槽134的測試電路板30，測試電路板30自訊號電路板20獲得測試訊號以進行測試電路板30上積體電路的測試(步驟103)。

以實施例來說，測試電路板30插入於第一測試板插槽131，且測試電路板30是由插入於第一訊號板插槽11的訊號電路板20提供測試訊號，即可進行測試電路板30上積體電路的測試，並依據第一訊號板插槽11與第一測試板插槽131所對應的第一修正參數以修正測試電路板30上積體電路的測試結果，藉以修正第一訊號板插槽11至第一測試板插槽131因配線所產生的量測誤差(步驟104)。

以實施例來說，測試電路板30插入於第三測試板插槽133，且測試電路板30是由插入於第二訊號板插槽12的訊路電路板20提供測試訊號，即可進行測試電路板30上積體電路的測試，並依據第二訊號板插槽12與第三測試板插槽133所對應的第二修正參數以修正測試電路板30上積體電路的測試結果，藉以修正第二訊號板插槽12至第三測試板插槽133因配線所產生的量測誤差(步驟104)。

其他以實施例的測試電路板30與訊號電路板20即可依照上述舉例斷推得，在此不再進行贅述，藉此可以有效的減少修正測試電路板30上積體電路的測試結果所需要使用修正參數的數量，並提供修正配線所產生的量測誤差的效果。

綜上所述，可知本發明與先前技術之間的差異在於本發明將第一訊號板插槽與第二訊號板插槽對稱配置，以及將測試板插槽對稱配置，藉此使得訊號板插槽與測試板插槽對應的修正參數具有對稱性，藉此可以有效的減少修正測試電路板上積體電路的測試結果所需要使用修正參數的數量，即可提供測試結果修正的便利性。

藉由此一技術手段可以來解決先前技術所存在現有大量進行測試電路板上積體電路所產生測試誤差修正不易的問題，進而達成大量進行測試電路板上積體電路測試誤差修正便利的技術功效。

雖然本發明所揭露的實施方式如上，惟所述的內容並非用以直接限定本發明的專利保護範圍。任何本發明所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明所揭露的精神和範圍的前提下，可以在實施的形式上及細節上作些計的更動。本發明的專利保護範圍，仍須以所附的申請專利範圍所界定者為準。

10‧‧‧插接電路板

11‧‧‧第一訊號板插槽

12‧‧‧第二訊號板插槽

131‧‧‧第一測試板插槽

132‧‧‧第二測試板插槽

133‧‧‧第三測試板插槽

134‧‧‧第四測試板插槽

20‧‧‧訊號電路板

30‧‧‧測試電路板

Claims (8)

1. 一種訊號電路板與測試電路板配置系統，其包含：一插接電路板，所述插接電路板包含有一第一訊號板插槽、一第二訊號板插槽以及偶數個測試板插槽，所述第一訊號板插槽與所述第二訊號板插槽呈對稱配置，且所述測試板插槽呈對稱配置，以依據所述第一訊號板插槽或所述第二訊號板插槽與每一個測試板插槽設有對應的修正參數；二訊號電路板，所述訊號電路板分別插入於所述第一訊號板插槽以及所述第二訊號板插槽並提供測試訊號；及多個測試電路板，所述測試電路板分別插入於所述測試板插槽，所述測試電路板自所述訊號電路板獲得測試訊號以進行所述測試電路板上積體電路的測試；其中，所述測試電路板依據所述訊號電路板插入的所述第一訊號板插槽或是所述第二訊號板插槽以及所述測試電路板插入的所述測試板插槽所對應的修正參數以修正測試電路板上積體電路的測試結果。
2. 如申請專利範圍第1項所述的訊號電路板與測試電路板配置系統，其中所述第一訊號板插槽與所述測試板插槽對應的修正參數與所述第二訊號板插槽與所述測試板插槽對應的修正參數具有對稱性。
3. 如申請專利範圍第1項所述的訊號電路板與測試電路板配置系統，其中修正參數是依據所述第一訊號板插槽或所述第二訊號板插槽與每一個測試板插槽的距離計算得到。
4. 如申請專利範圍第1項所述的訊號電路板與測試電路板配置系統，其中所述測試電路板的數量與所述測試板插槽的數量相同或不相同。
5. 一種訊號電路板與測試電路板配置方法，其包含下列步驟：提供包含有一第一訊號板插槽、一第二訊號板插槽以及偶數個測試板插 槽的一插接電路板，所述第一訊號板插槽與所述第二訊號板插槽呈對稱配置，且所述測試板插槽呈對稱配置，以依據所述第一訊號板插槽或所述第二訊號板插槽與每一個測試板插槽設有對應的修正參數；提供二訊號電路板，所述訊號電路板分別插入於所述第一訊號板插槽以及所述第二訊號板插槽並提供測試訊號；提供多個測試電路板，所述測試電路板分別插入於所述測試板插槽，所述測試電路板自所述訊號電路板獲得測試訊號以進行所述測試電路板上積體電路的測試；及所述測試電路板依據所述訊號電路板插入的所述第一訊號板插槽或是所述第二訊號板插槽以及所述測試電路板插入的所述測試板插槽所對應的修正參數以修正測試電路板上積體電路的測試結果。
6. 如申請專利範圍第5項所述的訊號電路板與測試電路板配置方法，其中所述第一訊號板插槽與所述測試板插槽對應的修正參數與所述第二調號板插槽與所述測試板插槽對應的修正參數具有對稱性。
7. 如申請專利範圍第5項所述的訊號電路板與測試電路板配置方法，其中修正參數是依據所述第一訊號板插槽或所述第二訊號板插槽與每一個測試板插槽的距離計算得到。
8. 如申請專利範圍第5項所述的訊號電路板與測試電路板配置方法，其中所述測試電路板的數量與所述測試板插槽的數量相同或不相同。