CN104656003B - 信号电路板与测试电路板配置系统及其方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种信号电路板与测试电路板配置系统及其方法，将第一信号板插槽与第二信号板插槽对称配置，以及将测试板插槽对称配置，以使得信号板插槽与测试板插槽对应的修正参数具有对称性，藉此可以达成进行测试电路板上集成电路测试误差修正便利的技术功效。

Description

信号电路板与测试电路板配置系统及其方法

技术领域

本发明涉及一种配置系统及其方法，尤其是指一种信号电路板与测试电路板配置系统及其方法。

背景技术

目前对于集成电路（integrated circuit，IC）的测试方式是将集成电路电性连接于电路板上，并直接将测试信号连接到集成电路的脚位上，以进行集成电路的测试。

为了更进一步的提高电路板上集成电路的测试效率，即是将信号电路板与测试电路板插接于插接电路板上，藉以通过信号电路板同时提供多个测试电路板测试信号，以进行测试电路板上集成电路的测试。

而在插接电路板上即是将信号板插槽设置于同一个区域，并且将测试板插槽设置于另外一个区域，不同的信号板插槽与每一个测试板插槽设置的距离不相同，则不同的信号板插槽与每一个测试板插槽会存在有不同的测试误差，测试误差即是由于信号板插槽与测试板插槽的距离所产生配线的电阻、电容、电感…等所造成，为了修正测试误差则需要依据不同的信号板插槽与每一个测试板插槽的距离设置不同的修正参数，这会造成修正上的困扰。

综上所述，可知现有技术中长期以来一直存在现有大量进行测试电路板上集成电路所产生测试误差修正不易的问题，因此有必要提出改进的技术手段，来解决此一问题。

发明内容

有鉴于现有技术存在现有大量进行测试电路板上集成电路所产生测试误差修正不易的问题，本发明遂揭露一种信号电路板与测试电路板配置系统及其方法，其中：

本发明所揭露的信号电路板与测试电路板配置系统，其包含：插接电路板、二信号电路板以及多个测试电路板。

插接电路板包含有第一信号板插槽、第二信号板插槽以及偶数个测试板插槽，第一信号板插槽与第二信号板插槽呈对称配置，且测试板插槽呈对称配置，以依据第一信号板插槽或第二信号板插槽与每一个测试板插槽设有对应的修正参数。

信号电路板分别插入于第一信号板插槽以及第二信号板插槽并提供测试信号；测试电路板分别插入于测试板插槽，测试电路板自信号电路板获得测试信号以进行测试电路板上集成电路的测试。

其中，测试电路板依据信号电路板插入的第一信号板插槽或是第二信号板插槽以及测试电路板插入的测试板插槽所对应的修正参数以修正测试电路板上集成电路的测试结果。

本发明所揭露的信号电路板与测试电路板配置方法，其包含下列步骤：

首先，提供包含有第一信号板插槽、第二信号板插槽以及偶数个测试板插槽的插接电路板，第一信号板插槽与第二信号板插槽呈对称配置，且测试板插槽呈对称配置，以依据第一信号板插槽或第二信号板插槽与每一个测试板插槽设有对应的修正参数；接着，提供二信号电路板，信号电路板分别插入于第一信号板插槽以及第二信号板插槽并提供测试信号；接着，提供多个测试电路板，测试电路板分别插入于测试板插槽，测试电路板自信号电路板获得测试信号以进行测试电路板上集成电路的测试；最后，测试电路板依据信号电路板插入的第一信号板插槽或是第二信号板插槽以及测试电路板插入的测试板插槽所对应的修正参数以修正测试电路板上集成电路的测试结果。

本发明所揭露的系统以及方法如上，与现有技术之间的差异在于本发明将第一信号板插槽与第二信号板插槽对称配置，以及将测试板插槽对称配置，藉此使得信号板插槽与测试板插槽对应的修正参数具有对称性，藉此可以有效的减少修正测试电路板上集成电路的测试结果所需要使用修正参数的数量，即可提供测试结果修正的便利性。

通过上述的技术手段，本发明可以达成大量进行测试电路板上集成电路测试误差修正便利的技术功效。

附图说明

图1绘示为本发明第一实施态样信号电路板与测试电路板配置系统的系统方块图。

图2绘示为本发明信号电路板与测试电路板配置方法的方法流程图。

图3绘示为本发明第二实施态样信号电路板与测试电路板配置系统的系统方块图。

图4绘示为本发明第三实施态样信号电路板与测试电路板配置系统的系统方块图。

【符号说明】

10插接电路板

11第一信号板插槽

12第二信号板插槽

131第一测试板插槽

132第二测试板插槽

133第三测试板插槽

134第四测试板插槽

20信号电路板

30测试电路板

具体实施方式

以下将配合图式及实施例来详细说明本发明的实施方式，藉此对本发明如何应用技术手段来解决技术问题并达成技术功效的实现过程能充分理解并据以实施。

以下首先要说明本发明所揭露第一实施态样的信号电路板与测试电路板配置系统，以及同时解说第一实施态样的运作方式及流程，并请参考「图1」以及「图2」所示，「图1」绘示为本发明第一实施态样信号电路板与测试电路板配置系统的系统方块图；「图2」绘示为本发明信号电路板与测试电路板配置方法的方法流程图。

本发明所揭露第一实施态样的信号电路板与测试电路板配置系统，其包含：插接电路板10、二个信号电路板20以及四个测试电路板30，在此仅为举例说明之，并不以此局限本发明的应用范畴，值得注意的是，测试电路板30的数量可少于插接电路板10所包含测试板插槽的数量。

插接电路板10包含有第一信号板插槽11、第二信号板插槽12、第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134，上述是依据第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第一信号板插槽11、第二信号板插槽12、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134的顺序配置，并且第一信号板插槽11与第二信号板插槽12呈对称配置、第一测试板插槽131与第四测试板插槽134呈对称配置以及第二测试板插槽132与第三测试板插槽133呈对称配置（步骤101）。

上述的第一信号板插槽11、第二信号板插槽12、第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134包含PCI插槽、AGP插槽、PCI-E插槽以及内存插槽…等，在此仅为举例说明之，并不以此局限本发明的应用范畴。

第一信号板插槽11与第一测试板插槽131设有对应的第一修正参数（步骤101），第一修正参数是依据第一信号板插槽11与第一测试板插槽131的距离计算得到，第一修正参数是用以修正第一信号板插槽11至第一测试板插槽131因配线所产生的量测误差。

第一信号板插槽11与第二测试板插槽132设有对应的第二修正参数（步骤101），第二修正参数是依据第一信号板插槽11与第二测试板插槽132的距离计算得到，第二修正参数是用以修正第一信号板插槽11至第二测试板插槽132因配线所产生的量测误差。

第一信号板插槽11与第三测试板插槽133设有对应的第三修正参数（步骤101），第三修正参数是依据第一信号板插槽11与第三测试板插槽133的距离计算得到，第三修正参数是用以修正第一信号板插槽11至第三测试板插槽133因配线所产生的量测误差。

第一信号板插槽11与第四测试板插槽134设有对应的第四修正参数（步骤101），第四修正参数是依据第一信号板插槽11与第四测试板插槽134的距离计算得到，第四修正参数是用以修正第一信号板插槽11至第四测试板插槽134因配线所产生的量测误差。

由于第一信号板插槽11、第二信号板插槽12、第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134是呈现对称配置，第二信号板插槽12与第四测试板插槽134的距离与第一信号板插槽11与第一测试板插槽131的距离相同，故第二信号板插槽12与第四测试板插槽134会设有对应的第一修正参数（步骤101）。

由于第一信号板插槽11、第二信号板插槽12、第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134是呈现对称配置，第二信号板插槽12与第三测试板插槽133的距离与第一信号板插槽11与第二测试板插槽132的距离相同，故第二信号板插槽12与第三测试板插槽133会设有对应的第二修正参数（步骤101）。

由于第一信号板插槽11、第二信号板插槽12、第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134是呈现对称配置，第二信号板插槽12与第二测试板插槽132的距离与第一信号板插槽11与第三测试板插槽133的距离相同，故第二信号板插槽12与第二测试板插槽132会设有对应的第三修正参数（步骤101）。

由于第一信号板插槽11、第二信号板插槽12、第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134是呈现对称配置，第二信号板插槽12与第一测试板插槽131的距离与第一信号板插槽11与第四测试板插槽134的距离相同，故第二信号板插槽12与第一测试板插槽131会设有对应的第四修正参数（步骤101）。

亦即第一信号板插槽11与第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134对应的第一修正参数、第二修正参数、第三修正参数以及第四修正参数会与第二信号板插槽12与第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134对应的第一修正参数、第二修正参数、第三修正参数以及第四修正参数具有对称性。

信号电路板20是分别插入第一信号板插槽11以及第二信号板插槽12（步骤102），且测试电路板30是分别插入第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134（步骤103）。

信号电路板20即可通过第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134提供测试信号于插入于第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134的测试电路板30，测试电路板30自信号电路板20获得测试信号以进行测试电路板30上集成电路的测试（步骤103）。

以实施例来说，测试电路板30插入于第一测试板插槽131，且测试电路板30是由插入于第一信号板插槽11的信号电路板20提供测试信号，即可进行测试电路板30上集成电路的测试，并依据第一信号板插槽11与第一测试板插槽131所对应的第一修正参数以修正测试电路板30上集成电路的测试结果，藉以修正第一信号板插槽11至第一测试板插槽131因配线所产生的量测误差（步骤104）。

以实施例来说，测试电路板30插入于第三测试板插槽133，且测试电路板30是由插入于第二信号板插槽12的信号电路板20提供测试信号，即可进行测试电路板30上集成电路的测试，并依据第二信号板插槽12与第三测试板插槽133所对应的第二修正参数以修正测试电路板30上集成电路的测试结果，藉以修正第二信号板插槽12至第三测试板插槽133因配线所产生的量测误差（步骤104）。

其他以实施例的测试电路板30与信号电路板20即可依照上述举例所推得，在此不再进行赘述，藉此可以有效的减少修正测试电路板30上集成电路的测试结果所需要使用修正参数的数量，并提供修正配线所产生的量测误差的效果。

以下接着要说明本发明所揭露第二实施态样的信号电路板与测试电路板配置系统，以及同时解说第二实施态样的运作方式及流程，并请参考「图2」以及「图3」所示，「图3」绘示为本发明第二实施态样信号电路板与测试电路板配置系统的系统方块图。

本发明所揭露第二实施态样的信号电路板与测试电路板配置系统，其包含：插接电路板10、二个信号电路板20以及四个测试电路板30，在此仅为举例说明之，并不以此局限本发明的应用范畴，值得注意的是，测试电路板30的数量可少于插接电路板10所包含测试板插槽的数量。

插接电路板10包含有第一信号板插槽11、第二信号板插槽12、第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134，上述是依据第一测试板插槽131、第一信号板插槽11、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133、第二信号板插槽12以及第四测试板插槽134的顺序配置，并且第一信号板插槽11与第二信号板插槽12呈对称配置、第一测试板插槽131与第四测试板插槽134呈对称配置以及第二测试板插槽132与第三测试板插槽133呈对称配置（步骤101）。

上述的第一信号板插槽11、第二信号板插槽12、第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134包含PCI插槽、AGP插槽、PCI-E插槽以及内存插槽…等，在此仅为举例说明之，并不以此局限本发明的应用范畴。

第一信号板插槽11与第一测试板插槽131设有对应的第一修正参数（步骤101），第一修正参数是依据第一信号板插槽11与第一测试板插槽131的距离计算得到，第一修正参数是用以修正第一信号板插槽11至第一测试板插槽131因配线所产生的量测误差。

第一信号板插槽11与第二测试板插槽132设有对应的第二修正参数（步骤101），第二修正参数是依据第一信号板插槽11与第二测试板插槽132的距离计算得到，第二修正参数是用以修正第一信号板插槽11至第二测试板插槽132因配线所产生的量测误差。

第一信号板插槽11与第三测试板插槽133设有对应的第三修正参数（步骤101），第三修正参数是依据第一信号板插槽11与第三测试板插槽133的距离计算得到，第三修正参数是用以修正第一信号板插槽11至第三测试板插槽133因配线所产生的量测误差。

第一信号板插槽11与第四测试板插槽134设有对应的第四修正参数（步骤101），第四修正参数是依据第一信号板插槽11与第四测试板插槽134的距离计算得到，第四修正参数是用以修正第一信号板插槽11至第四测试板插槽134因配线所产生的量测误差。

由于第一信号板插槽11、第二信号板插槽12、第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134是呈现对称配置，第二信号板插槽12与第四测试板插槽134的距离与第一信号板插槽11与第一测试板插槽131的距离相同，故第二信号板插槽12与第四测试板插槽134会设有对应的第一修正参数（步骤101）。

由于第一信号板插槽11、第二信号板插槽12、第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134是呈现对称配置，第二信号板插槽12与第三测试板插槽133的距离与第一信号板插槽11与第二测试板插槽132的距离相同，故第二信号板插槽12与第三测试板插槽133会设有对应的第二修正参数（步骤101）。

由于第一信号板插槽11、第二信号板插槽12、第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134是呈现对称配置，第二信号板插槽12与第二测试板插槽132的距离与第一信号板插槽11与第三测试板插槽133的距离相同，故第二信号板插槽12与第二测试板插槽132会设有对应的第三修正参数（步骤101）。

由于第一信号板插槽11、第二信号板插槽12、第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134是呈现对称配置，第二信号板插槽12与第一测试板插槽131的距离与第一信号板插槽11与第四测试板插槽134的距离相同，故第二信号板插槽12与第一测试板插槽131会设有对应的第四修正参数（步骤101）。

亦即第一信号板插槽11与第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134对应的第一修正参数、第二修正参数、第三修正参数以及第四修正参数会与第二信号板插槽12与第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134对应的第一修正参数、第二修正参数、第三修正参数以及第四修正参数具有对称性。

信号电路板20是分别插入第一信号板插槽11以及第二信号板插槽12（步骤102），且测试电路板30是分别插入第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134（步骤103）。

信号电路板20即可通过第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134提供测试信号于插入于第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134的测试电路板30，测试电路板30自信号电路板20获得测试信号以进行测试电路板30上集成电路的测试（步骤103）。

以实施例来说，测试电路板30插入于第一测试板插槽131，且测试电路板30是由插入于第一信号板插槽11的信号电路板20提供测试信号，即可进行测试电路板30上集成电路的测试，并依据第一信号板插槽11与第一测试板插槽131所对应的第一修正参数以修正测试电路板30上集成电路的测试结果，藉以修正第一信号板插槽11至第一测试板插槽131因配线所产生的量测误差（步骤104）。

以实施例来说，测试电路板30插入于第三测试板插槽133，且测试电路板30是由插入于第二信号板插槽12的信号电路板20提供测试信号，即可进行测试电路板30上集成电路的测试，并依据第二信号板插槽12与第三测试板插槽133所对应的第二修正参数以修正测试电路板30上集成电路的测试结果，藉以修正第二信号板插槽12至第三测试板插槽133因配线所产生的量测误差（步骤104）。

其他以实施例的测试电路板30与信号电路板20即可依照上述举例所推得，在此不再进行赘述，藉此可以有效的减少修正测试电路板30上集成电路的测试结果所需要使用修正参数的数量，并提供修正配线所产生的量测误差的效果。

以下接着要说明本发明所揭露第三实施态样的信号电路板与测试电路板配置系统，以及同时解说第三实施态样的运作方式及流程，并请参考「图2」以及「图4」所示，「图4」绘示为本发明第三实施态样信号电路板与测试电路板配置系统的系统方块图。

本发明所揭露第三实施态样的信号电路板与测试电路板配置系统，其包含：插接电路板10、二个信号电路板20以及四个测试电路板30，在此仅为举例说明之，并不以此局限本发明的应用范畴，值得注意的是，测试电路板30的数量可少于插接电路板10所包含测试板插槽的数量。

插接电路板10包含有第一信号板插槽11、第二信号板插槽12、第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134，上述是依据第一信号板插槽11、第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133、第四测试板插槽134以及第二信号板插槽12的顺序配置，并且第一信号板插槽11与第二信号板插槽12呈对称配置、第一测试板插槽131与第四测试板插槽134呈对称配置以及第二测试板插槽132与第三测试板插槽133呈对称配置（步骤101）。

上述的第一信号板插槽11、第二信号板插槽12、第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134包含PCI插槽、AGP插槽、PCI-E插槽以及内存插槽…等，在此仅为举例说明之，并不以此局限本发明的应用范畴。

第一信号板插槽11与第一测试板插槽131设有对应的第一修正参数（步骤101），第一修正参数是依据第一信号板插槽11与第一测试板插槽131的距离计算得到，第一修正参数是用以修正第一信号板插槽11至第一测试板插槽131因配线所产生的量测误差。

第一信号板插槽11与第二测试板插槽132设有对应的第二修正参数（步骤101），第二修正参数是依据第一信号板插槽11与第二测试板插槽132的距离计算得到，第二修正参数是用以修正第一信号板插槽11至第二测试板插槽132因配线所产生的量测误差。

第一信号板插槽11与第三测试板插槽133设有对应的第三修正参数（步骤101），第三修正参数是依据第一信号板插槽11与第三测试板插槽133的距离计算得到，第三修正参数是用以修正第一信号板插槽11至第三测试板插槽133因配线所产生的量测误差。

第一信号板插槽11与第四测试板插槽134设有对应的第四修正参数（步骤101），第四修正参数是依据第一信号板插槽11与第四测试板插槽134的距离计算得到，第四修正参数是用以修正第一信号板插槽11至第四测试板插槽134因配线所产生的量测误差。

由于第一信号板插槽11、第二信号板插槽12、第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134是呈现对称配置，第二信号板插槽12与第四测试板插槽134的距离与第一信号板插槽11与第一测试板插槽131的距离相同，故第二信号板插槽12与第四测试板插槽134会设有对应的第一修正参数（步骤101）。

由于第一信号板插槽11、第二信号板插槽12、第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134是呈现对称配置，第二信号板插槽12与第三测试板插槽133的距离与第一信号板插槽11与第二测试板插槽132的距离相同，故第二信号板插槽12与第三测试板插槽133会设有对应的第二修正参数（步骤101）。

由于第一信号板插槽11、第二信号板插槽12、第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134是呈现对称配置，第二信号板插槽12与第二测试板插槽132的距离与第一信号板插槽11与第三测试板插槽133的距离相同，故第二信号板插槽12与第二测试板插槽132会设有对应的第三修正参数（步骤101）。

由于第一信号板插槽11、第二信号板插槽12、第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134是呈现对称配置，第二信号板插槽12与第一测试板插槽131的距离与第一信号板插槽11与第四测试板插槽134的距离相同，故第二信号板插槽12与第一测试板插槽131会设有对应的第四修正参数（步骤101）。

亦即第一信号板插槽11与第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134对应的第一修正参数、第二修正参数、第三修正参数以及第四修正参数会与第二信号板插槽12与第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134对应的第一修正参数、第二修正参数、第三修正参数以及第四修正参数具有对称性。

信号电路板20是分别插入第一信号板插槽11以及第二信号板插槽12（步骤102），且测试电路板30是分别插入第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134（步骤103）。

信号电路板20即可通过第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134提供测试信号于插入于第一测试板插槽131、第二测试板插槽132、第三测试板插槽133以及第四测试板插槽134的测试电路板30，测试电路板30自信号电路板20获得测试信号以进行测试电路板30上集成电路的测试（步骤103）。

以实施例来说，测试电路板30插入于第一测试板插槽131，且测试电路板30是由插入于第一信号板插槽11的信号电路板20提供测试信号，即可进行测试电路板30上集成电路的测试，并依据第一信号板插槽11与第一测试板插槽131所对应的第一修正参数以修正测试电路板30上集成电路的测试结果，藉以修正第一信号板插槽11至第一测试板插槽131因配线所产生的量测误差（步骤104）。

以实施例来说，测试电路板30插入于第三测试板插槽133，且测试电路板30是由插入于第二信号板插槽12的信号电路板20提供测试信号，即可进行测试电路板30上集成电路的测试，并依据第二信号板插槽12与第三测试板插槽133所对应的第二修正参数以修正测试电路板30上集成电路的测试结果，藉以修正第二信号板插槽12至第三测试板插槽133因配线所产生的量测误差（步骤104）。

其他以实施例的测试电路板30与信号电路板20即可依照上述举例所推得，在此不再进行赘述，藉此可以有效的减少修正测试电路板30上集成电路的测试结果所需要使用修正参数的数量，并提供修正配线所产生的量测误差的效果。

综上所述，可知本发明与现有技术之间的差异在于本发明将第一信号板插槽与第二信号板插槽对称配置，以及将测试板插槽对称配置，藉此使得信号板插槽与测试板插槽对应的修正参数具有对称性，藉此可以有效的减少修正测试电路板上集成电路的测试结果所需要使用修正参数的数量，即可提供测试结果修正的便利性。

藉由此一技术手段可以来解决现有技术所存在现有大量进行测试电路板上集成电路所产生测试误差修正不易的问题，进而达成大量进行测试电路板上集成电路测试误差修正便利的技术功效。

虽然本发明所揭露的实施方式如上，惟所述的内容并非用以直接限定本发明的专利保护范围。任何本发明所属技术领域中的技术人员，在不脱离本发明所揭露的精神和范围的前提下，可以在实施的形式上及细节上作些许的更动。本发明的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定者为准。

Claims (8)

1.一种信号电路板与测试电路板配置系统，其特征在于，包含：

一插接电路板，所述插接电路板包含有一第一信号板插槽、一第二信号板插槽以及偶数个测试板插槽，所述第一信号板插槽与所述第二信号板插槽呈对称配置，且所述测试板插槽呈对称配置，以依据所述第一信号板插槽或所述第二信号板插槽与每一个测试板插槽设有对应的修正参数；

二信号电路板，所述信号电路板分别插入于所述第一信号板插槽以及所述第二信号板插槽并提供测试信号；及

多个测试电路板，所述测试电路板分别插入于测试板插槽，所述测试电路板自所述信号电路板获得测试信号以进行所述测试电路板上集成电路的测试；

其中，所述测试电路板依据所述信号电路板插入的所述第一信号板插槽或是所述第二信号板插槽以及所述测试电路板插入的所述测试板插槽所对应的修正参数以修正测试电路板上集成电路的测试结果。

2.如权利要求1所述的信号电路板与测试电路板配置系统，其特征在于，所述第一信号板插槽与所述测试板插槽对应的修正参数与所述第二信号板插槽与所述测试板插槽对应的修正参数具有对称性。

3.如权利要求1所述的信号电路板与测试电路板配置系统，其特征在于，修正参数是依据所述第一信号板插槽或所述第二信号板插槽与每一个测试板插槽的距离计算得到。

4.如权利要求1所述的信号电路板与测试电路板配置系统，其特征在于，所述测试电路板的数量与所述测试板插槽的数量相同或不相同。

5.一种信号电路板与测试电路板配置方法，其特征在于，包含下列步骤：

提供包含有一第一信号板插槽、一第二信号板插槽以及偶数个测试板插槽的一插接电路板，所述第一信号板插槽与所述第二信号板插槽呈对称配置，且所述测试板插槽呈对称配置，以依据所述第一信号板插槽或所述第二信号板插槽与每一个测试板插槽设有对应的修正参数；

提供二信号电路板，所述信号电路板分别插入于所述第一信号板插槽以及所述第二信号板插槽并提供测试信号；

提供多个测试电路板，所述测试电路板分别插入于测试板插槽，所述测试电路板自所述信号电路板获得测试信号以进行所述测试电路板上集成电路的测试；及

所述测试电路板依据所述信号电路板插入的所述第一信号板插槽或是所述第二信号板插槽以及所述测试电路板插入的所述测试板插槽所对应的修正参数以修正测试电路板上集成电路的测试结果。

6.如权利要求5所述的信号电路板与测试电路板配置方法，其特征在于，所述第一信号板插槽与所述测试板插槽对应的修正参数与所述第二信号板插槽与所述测试板插槽对应的修正参数具有对称性。

7.如权利要求5所述的信号电路板与测试电路板配置方法，其特征在于，修正参数是依据所述第一信号板插槽或所述第二信号板插槽与每一个测试板插槽的距离计算得到。

8.如权利要求5所述的信号电路板与测试电路板配置方法，其特征在于，所述测试电路板的数量与所述测试板插槽的数量相同或不相同。