TWI484201B - Circuit board test device of the MDF module - Google Patents

Description

電路板測試裝置之密度板模組

本發明係有關於一種電路板測試裝置之密度板模組，其係用於進行待測電路板上之電路、導電圖案及電性接點等檢測。

大部分電子裝置內部之電路板係具有複雜的電路分布、導電圖案(pattern)及/或大量的電性接點，以達成訊號傳輸或邏輯電路等。因此，所述之電路板在製程後端必須進行電路分布、導電圖案及/或大量的電性接點之測試，以確保其效能。

如第1圖至第3圖所示，習知電路板測試裝置中包含一針板20、一密度板模組40及一底座60，於該密度板模組40中穿設有複數個頂針10，並使該等頂針10之每一者經由一導線30連接至該底座60上之複數個測試插槽61之每一者，利用該複數測試插槽61可插接各測試設備(圖未示)以提供測試訊號，該針板20係依一待測電路板70之電路上欲測試之電性接點而設有複數個探針21；藉由將該針板20設置於密度板模組40上，並使探針21抵接對應之頂針10而達成電性連接，並該待測電路板70係設置於該針板20上，以使欲測試之電性接點抵接各該探針21而達成電性連接，而可經由各該頂針10、各該導線30及各該測試插槽61而連接至該測試設備，進而可形成一導電迴路以進行待測電路板70之測試。

如第3圖所示，習知電路板測試治具中的密度板模組40係包含 複數個密度板41a,41b,41c及一限位板42，該等密度板41a,41b,41c係具有相對應之通孔43以共同容置一個頂針10，各該頂針10係具有一抵靠部11、一結合柱12、一彈性元件13、一支撐柱14及一接觸部15，並該彈性元件13二端係分別設置於該結合柱12與該支撐柱14上，該抵靠部11係設置於該結合柱12上以用於抵接該探針21，該接觸部15係設置於該支撐柱14底部並連接該導線30，其中，各該頂針10之抵靠部11係通過該限位板42上之限位孔44，，其係藉由將該限位板42之限位孔421與各該通孔43形成錯位，以將該限位板42卡合於各該頂針10之抵靠部11上的限位凹槽，進而固定該頂針10之抵靠部11。

然而，僅固定該頂針10上方之抵靠部11在待測電路板70測試時仍然無法使該頂針10穩固，因為該抵靠部及該接觸部15之間僅有該彈性元件13的支撐，故當該探針21抵靠該該頂針10的抵靠部11而使彈性元件13壓縮時，該抵靠部及該接觸部15可能產生晃動而歪斜，可能導致電性連接失效或效果不佳。並且，該限位板42係設置於密度板41b與密度板41c之間，當拆卸該密度板模組40時，必須適當地位移該限位板42，以使該限位板之限位孔421對準各該頂針10之抵靠部11而不會被抵靠部11上的限位凹槽卡住，導致該限位板42之拆卸不便。

為解決上述習知技術之缺點，本發明提供一種電路板測試裝置之密度板模組，其係可使容置於密度板模組中的頂針更加穩固，進而達成較佳的電性連接，以及，本發明之密度板模組係具有組裝及拆卸方便之優點。

為達上述目的及其他目的，本發明提供一種電路板測試裝置之 密度板模組，用於組裝複數個頂針，其中各該頂針係具有一抵靠部、一結合柱、一彈性元件、一支撐柱及一接觸部，並該彈性元件二端係分別設置於該結合柱與該支撐柱上，該抵靠部係設置於該結合柱上以用於抵接一探針，該接觸部係設置於該支撐柱底部並連接一導線，以藉由該導線電性連接至一測試設備，該密度板模組包括一第一密度板、一第二密度板及一第三密度板。其中該第一密度板具有複數個第一限位部，各該第一限位部係包含相連通的一第一通孔及一第二通孔，該第一通孔係容置該頂針之支撐柱，該第二通孔係容置該接觸部，該第一通孔與該第二通孔之大小係各自對應該支撐柱及該接觸部；該第二密度板具有複數個容置孔，該等容置孔之位置係與該等第一限位部相對應，各該容置孔係容置各該頂針；該第三密度板具有複數個第二限位部，該等第二限位部之位置係與該等容置孔相對應，各該第二限位部係包含相連通的一第三通孔及一第四通孔，該第三通孔係容置該頂針之抵靠部，該第四通孔係容置該探針，該第三通孔與該第四通孔之大小係各自對應該抵靠部及該探針。

上述之電路板測試裝置之密度板模組中，該第二密度板係為二個以上並相互疊合，以使相疊合之第二密度板對應的容置孔共同容置各該頂針。

上述之電路板測試裝置之密度板模組中，該密度板模組未抵接該探針與該導線時，該接觸部係通過該第一限位部的第二通孔並凸出於該第一密度板之底面。

因此，本發明之電路板測試裝置之密度板模組，藉由該第一密度板之第一限位部與該第二密度板之第二限位部，係可穩固該頂針，以避免該頂針之晃動；並且，本發明之電路板測試裝置之密度板模組由於該第一密度板之第一限位部、該第二密度板之容置孔與該第三密度板之第二限位部的位置係 相互對應，於拆卸時將該第三密度板由該第二密度板上分離即可將該頂針取出，而具有拆卸方便之優點。

10‧‧‧頂針

11‧‧‧抵靠部

12‧‧‧結合柱

13‧‧‧彈性元件

14‧‧‧支撐柱

15‧‧‧接觸部

16‧‧‧結合凸部

20‧‧‧針板

21‧‧‧探針

30‧‧‧導線

40‧‧‧密度板模組

41a,41b,41c‧‧‧密度板

42‧‧‧限位板

43‧‧‧通孔

44‧‧‧限位孔

50‧‧‧底板

51‧‧‧貫穿孔

60‧‧‧底座

61‧‧‧測試插槽

70‧‧‧待測電路板

100‧‧‧第一密度板

110‧‧‧第一限位部

111‧‧‧第一通孔

112‧‧‧第二通孔

200‧‧‧第二密度板

200a,200b‧‧‧第二密度板

210‧‧‧容置孔

300‧‧‧第三密度板

310‧‧‧第二限位部

311‧‧‧第三通孔

312‧‧‧第四通孔

第1圖係為習知電路板測試裝置的分解示意圖。

第2圖係為習知電路板測試裝置的側面示意圖。

第3圖係為第2圖中B部分之放大示意圖。

第4圖係本發明實施例之密度板模組應用於電路板測試裝置之分解示意圖。

第5圖係本發明實施例之密度板模組應用於電路板測試裝置之結合示意圖。

第6圖係本發明實施例之密度板模組應用於電路板測試裝置之側面示意圖。

第7圖係第6圖中A部分之放大示意圖。

第8圖係示例本發明實施例之密度板測試模組拆卸之狀態圖。

第9圖係示例本發明實施例之密度板測試模組拆卸時取出頂針之狀態圖。

第10圖係本發明實施例之密度板測試模組中含有二個第二密度板之部分放大示意圖。

第11圖係本發明實施例之密度板測試模組中該接觸部未與導線連接且凸出該第一密度板之第二通孔的部分放大示意圖。

第12圖係本發明實施例之密度板測試模組中該接觸部連接該導線的部分放大示意圖。

為充分瞭解本發明之目的、特徵及功效，茲藉由下述具體之實施例，並配合所附之圖式，對本發明做一詳細說明，說明如後： 請參照第4圖至第9圖，其係為本發明實施例之示意圖。第4圖係本發明實施例之密度板模組應用於電路板測試裝置之分解示意圖，第5圖係本發明實施例之密度板模組應用於電路板測試裝置之結合示意圖，第6圖係本發明實施例之密度板模組應用於電路板測試裝置之側面示意圖，第7圖係第6圖中A部分之部分放大示意圖，第8圖係示例本發明實施例之密度板測試模組拆卸之狀態圖。

本發明之密度板模組1係用於安裝在電路板測試裝置之底板50上，該密度板模組1係用於組裝複數個頂針10，如第6圖至第9圖所示，其中各該頂針10係具有一抵靠部11、一結合柱12、一彈性元件13、一支撐柱14及一接觸部15，並該彈性元件13二端係分別設置於該結合柱12與該支撐柱14之結合凸部16上，如圖所示，該彈性元件13係可例如為彈簧，並該彈性元件13二端係分別套設於該結合柱12與該支撐住14之結合凸部16；該抵靠部11係設置於該結合柱12上以用於抵接一針板20的一探針21，進而電性連接設置於該針板20上的待測電路板70，該接觸部15係設置於該支撐柱14底部並用於連接一導線30，以藉由該導線30電性連接至底座60的測試插槽61，進而連接至一測試設備(圖未示)。據此，該測試設備係可提供一測試訊號，經由該測試插槽61、該導線30、該頂針10、該探針21而傳送至該待測電路板70；反之，該待測電路板70可輸出一結果訊號，經由該探針21、該頂針10、該導線30及該測試插槽61而傳送至該測試設備。

請參照第4圖至第7圖所示，該密度板模組1包括一第一密度板100、一第二密度板200及一第三密度板300。

本實施例中，該第一密度板100具有複數個第一限位部110，各 該第一限位部110係包含相連通的一第一通孔111及一第二通孔112，該第一通孔111係容置該頂針10之支撐柱14，該第二通孔112係容置該接觸部15，該第一通孔111與該第二通孔112之大小係各自對應該支撐柱14及該接觸部15，具體而言，如圖所示，由於該導線30之外徑或寬度係小於該接觸部15之外徑或寬度，故該第二通孔112之外徑或寬度係小於該第一通孔111之外徑或寬度。此外，該第一通孔111係可對應該支撐柱14之外型而為圓孔、矩形孔或其他形狀，該第二通孔112係可對應該接觸部15之外型而為圓孔、矩形孔或其他形狀。

於本實施例中，該第二密度板200具有複數個容置孔210，該等容置孔210之位置係與該等第一限位部110相對應，各該容置孔210係容置各該頂針10。如圖所示，該第二密度板200之容置孔210之長度係小於該頂針10之長度，該接觸部15及該抵靠部11係凸出於該第二密度板200，而分別容置於該第一密度板100及該第三密度板300中。

於本實施例中，第三密度板300具有複數個第二限位部310，該等第二限位部310之位置係與該等容置孔210相對應，各該第二限位部310係包含相連通的一第三通孔311及一第四通孔312，該第三通孔311係容置該頂針10之抵靠部11，該第四通孔312係容置該探針21，該第三通孔311與該第四通孔312之大小係各自對應該抵靠部11及該探針21，具體而言，如圖所示，由於該探針21之外徑或寬度係小於該抵靠部11之外徑或寬度，故該第四通孔312之外徑或寬度係小於該第三通孔311之外徑或寬度。此外，該第三通孔311係可對應該抵靠部11之外型而為圓孔、矩形孔或其他形狀，該第四通孔312係可對應該探針21之外型而為圓孔、矩形孔或其他形狀。

據此，當檢測該待測電路板70的過程中，該探針21抵靠而接 觸該頂針10的抵靠部11並使該彈性元件13被壓縮時，由於該頂針10之接觸部15及抵靠部11係被該第一密度板100之第一限位部110及該第三密度板300之第二限位部310所限位，故該接觸部15及抵靠部11係可沿一直線相對作動而不歪斜，可避免該頂針10晃動而使該頂針10更加穩固，而達成較佳的電性連接之功效。

如第8圖及第9圖所示，於本實施例中，該第一密度板100之第一限位部110、第二密度板200之容置孔210與第三密度板300之第二限位部310的位置係相互對應，即三者之中心線係呈一直線，故當欲拆卸該密度板模組1時，係將該第三密度板300向上拿起而由該第二密度板200上分離，再將該頂針10由該第二密度板200之容置孔中取出即可。因此，本發明實施例之密度板模組係1具有拆卸方便之優點。

請參照第10圖，本實施例之密度板模組1中，該第二密度板係可為二個以上並相互疊合，圖式中係示例有二個第二密度板200a,200b，以使相疊合之第二密度板200a,200b對應的容置孔210共同容置各該頂針10。

此外，請參照第4圖至第6圖，於本實施例中，該電路板測試裝置之底板50上係貫穿有複數個貫穿孔51，各該貫穿孔51係用於穿設並固定各該導線30。並且，配合第4圖及第6圖所示，該底板50之貫穿孔51、該第一密度板100之第一限位部110、該第二密度板200之容置孔210、該第三密度板300之第二限位部310及該針板20之探針21的位置係相互對應，即各該導線30、各該頂針10及各該探針21係相互對應，且對應至該待測電路板70之電性接點。於製作該電路板測試裝置時，該等導線30之每一者係穿過各該貫穿孔51並凸出於該底板50之頂面一段距離，再進行剪線，使該等導線30之每一者 的切面露出中心之銅線，並使該等導線30凸出於底板50的長度係為相同。

請參照第11圖，本實施例之密度板模組1中，該密度板模組1未抵接該探針21與該導線30時，該接觸部15係通過該第一限位部110的第二通孔112，並凸出於該第一密度板100之底面；而當該密度板模組1安裝至電路板測試裝置之底板50上時，各該頂針10之接觸部15係與其位置對應之導線30相抵接，如第12圖所示；再請配合第7圖，當探針21下壓抵接該頂針10之抵靠部11時，各該頂針10之接觸部15係與其位置對應之導線30抵接，此時該頂針10之彈性元件13係被壓縮而推抵該抵靠部11與該接觸部15，使該抵靠部11與該探針21以及該接觸部15與該導線之間可緊密接觸，而更加提高電性連接之可靠度。

綜上所述，本發明實施例之密度板模組1藉由將該頂針10之接觸部15及抵靠部11限位於該第一密度板100之第一限位部110及該第三密度板300之第二限位部310中，可避免該頂針10晃動而使該頂針10更加穩固，而達成較佳的電性連接之功效；並且，本發明實施例之密度板模組1係可直接將第三密度板300由該第二密度板200上分離，即可將該頂針10取出，而具有拆卸方便之優點。

本發明在上文中已以較佳實施例揭露，然熟習本項技術者應理解的是，該實施例僅用於描繪本發明，而不應解讀為限制本發明之範圍。應注意的是，舉凡與該實施例等效之變化與置換，均應設為涵蓋於本發明之範疇內。因此，本發明之保護範圍當以申請專利範圍所界定者為準。

10‧‧‧頂針

11‧‧‧抵靠部

12‧‧‧結合柱

13‧‧‧彈性元件

14‧‧‧支撐柱

15‧‧‧接觸部

16‧‧‧結合凸部

20‧‧‧針板

21‧‧‧探針

30‧‧‧導線

100‧‧‧第一密度板

110‧‧‧第一限位部

111‧‧‧第一通孔

112‧‧‧第二通孔

200‧‧‧第二密度板

210‧‧‧容置孔

300‧‧‧第三密度板

310‧‧‧第二限位部

311‧‧‧第三通孔

312‧‧‧第四通孔

Claims (3)

1. 一種電路板測試裝置之密度板模組，用於組裝複數個頂針，其中各該頂針係具有一抵靠部、一結合柱、一彈性元件、一支撐柱及一接觸部，並該彈性元件二端係分別設置於該結合柱與該支撐柱上，該抵靠部係設置於該結合柱上以用於抵接一探針並該探針之外徑或寬度係小於該抵靠部之外徑或寬度，該接觸部係設置於該支撐柱底部並連接一導線，以藉由該導線電性連接至一測試設備，該密度板模組包括：一第一密度板，具有複數個第一限位部，各該第一限位部係包含相連通的一第一通孔及一第二通孔，該第一通孔係容置該頂針之支撐柱，該第二通孔係容置該接觸部，該第一通孔與該第二通孔之大小係各自對應該支撐柱及該接觸部；一第二密度板，具有複數個容置孔，該等容置孔之位置係與該等第一限位部相對應，各該容置孔係容置各該頂針；以及一第三密度板，具有複數個第二限位部，該等第二限位部之位置係與該等容置孔相對應，各該第二限位部係包含相連通的一第三通孔及一第四通孔，該第三通孔係容置該頂針之抵靠部，該第四通孔係容置該探針，該第三通孔與該第四通孔之大小係各自對應該抵靠部及該探針，以使該抵靠部被擋止及限位於該第二限位部中。
2. 如申請專利範圍第1項所述之電路板測試裝置之密度板模組，其中該第二密度板係為二個以上並相互疊合，以使相疊合之第二密度板對應的容置孔共同容置各該頂針。
3. 如申請專利範圍第1項所述之電路板測試裝置之密度板模組，其中該密度板模組未抵接該探針與該導線時，該接觸部係通過該第一限位部的第二通孔並凸出於該第一密度板之底面。