TWI482016B - 儲存裝置的測試方法與電腦程式產品 - Google Patents
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Description
本發明是有關於一種測試方法，特別是指一種用於儲存裝置的測試方法。
硬碟陣列(redundant array of independent disks,RAID)是一種常見的資料儲存技術，其將多個硬碟(hard disk)組合為一個邏輯磁區，而廣泛應用於伺服器等電腦系統的資料儲存媒介。
舉例來說，伺服器電腦可透過其硬碟陣列控制介面(RAID controller)與集束磁碟(just a bunch of disks,JBOD)連接，以存取集束磁碟中的資料。每一集束磁碟各包含兩個串接式小型電腦系統介面(serial attached small computer system interface,SAS)的擴充器(expander)，以及多個SAS硬碟。每個SAS硬碟各有一個主傳輸埠(primary port)及一個次傳輸埠(secondary port)。
上述硬碟陣列控制介面分別與集束磁碟的兩個SAS擴充器連接，其中一SAS擴充器連接於各個SAS硬碟的主傳輸埠，另一SAS擴充器連接於各個SAS硬碟的次傳
輸埠。
據此，透過上述伺服器電腦對集束磁碟進行性能測試(例如壓力測試)時，資料會分別從SAS硬碟的主傳輸埠與次傳輸埠經由對應的SAS擴充器傳輸至硬碟陣列控制介面，亦即同一筆資料的部分資訊經由主傳輸埠及其對應的SAS擴充器進行存取，另一部份資訊經由次傳輸埠及其對應的SAS擴充器存取。但上述過程中，資料係分散地經由兩條路徑進行傳輸，而無法測得單一路徑(單一傳輸埠)的資料傳輸特性(例如最大負載)。
因此，本發明之目的，即在提供一種可對儲存裝置進行單一路徑測試的方法。
於是，本發明儲存裝置的測試方法，由至少一儲存裝置配合一電腦裝置執行。該儲存裝置包含一第一介面、一第二介面及至少一個儲存模組。該儲存模組包括一第一傳輸埠、一第二傳輸埠及一記憶單元。該電腦裝置包含一運算單元及一控制介面。該測試方法包含以下步驟：(A)該電腦裝置的運算單元發出一第一控制指令至該控制介面，該控制介面依據該第一控制指令致能(enable)該儲存裝置的第一介面與該儲存模組的第一傳輸埠電性連接，並禁能(disable)該儲存裝置的第二介面與該儲存模組的第二傳輸埠電性連接；(B)該運算單元發出一第一測試信號至該控制介面，令該控制介面透過該儲存裝置之第一介面、該儲存模組之第一傳輸埠對該儲存模組之記憶單元進行資料
存取；(C)該電腦裝置的運算單元發出一第二控制指令至該控制介面，該控制介面依據該第二控制指令致能該儲存裝置的第二介面與該儲存模組的第二傳輸埠電性連接，並禁能該儲存裝置的第一介面與該儲存模組的第一傳輸埠電性連接；及(D)該運算單元發出一第二測試信號至該控制介面，令該控制介面透過該儲存裝置之第二介面、該儲存模組之第二傳輸埠對該儲存模組之記憶單元進行資料存取。
較佳地，該儲存裝置包含多個儲存模組，各該儲存模組的第一傳輸埠係電連接於該儲存裝置的第一介面，且各該儲存模組的第二傳輸埠係電連接於該儲存裝置的第二介面。
較佳地，該第一測試信號、該第二控制指令係關於該儲存裝置之效能測試、負載測試或壓力測試。
較佳地，該儲存裝置的數量為多個，且該等儲存裝置的第一介面與一第二介面係分別電連接於該儲存裝置的控制介面。
較佳地，該儲存裝置的數量為多個，該等儲存裝置還各包括一電連接於該第一介面的第一串接埠及一電連接於該第二介面的第二串接埠，各該儲存裝置的第一串接埠供另一儲存裝置的第一介面電性連接，且各該儲存裝置的第二串接埠供另一儲存裝置的第二介面電性連接；於步驟(B)該控制介面還透過各該第一串接埠對該等儲存模組之記憶單元進行資料存取；於步驟(D)該控制介面還透過各該第二串接埠對該等儲存模組之記憶單元進行資料存取
。
較佳地，該控制介面係一硬碟陣列控制介面，該儲存裝置係一集束磁碟，該第一介面與該第二介面分別是一串接式小型電腦系統介面擴充器，該儲存模組係一串接式小型電腦系統介面硬碟。
本發明之功效在於：透過電腦裝置的控制介面對儲存裝置的第一介面、第二介面發出指令，使兩者分別致能或禁能與第一傳輸埠、第二傳輸埠的電性連接，而能單就第一介面、第一傳輸埠的資料傳輸路徑或第二介面、第二傳輸埠的資料傳輸路徑進行測試，以測得單一傳輸路徑的性能表現。
1‧‧‧電腦系統
2‧‧‧電腦裝置
21‧‧‧運算單元
22‧‧‧控制介面
3‧‧‧儲存裝置
31‧‧‧第一介面
32‧‧‧第二介面
33‧‧‧儲存模組
331‧‧‧第一傳輸埠
332‧‧‧第二傳輸埠
333‧‧‧記憶單元
34‧‧‧第一串接埠
35‧‧‧第二串接埠
S1~S6‧‧‧流程步驟
F1~F6‧‧‧流程步驟
本發明之其他的特徵及功效，將於參照圖式的較佳實施例詳細說明中清楚地呈現，其中：圖1是一系統架構圖，說明本發明儲存裝置的測試方法的第一較佳實施例；圖2是該第一較佳實施例的流程圖；圖3是一系統架構圖，說明本發明儲存裝置的測試方法的第二較佳實施例；及圖4是該第二較佳實施例的流程圖。
有關本發明之前述及其他技術內容、特點與功效，在以下配合參考圖式之二個較佳實施例的詳細說明中
，將可清楚地呈現。
在本發明被詳細描述之前，應當注意在以下的說明內容中，類似的元件是以相同的編號來表示。
參閱圖1、圖2，本發明的測試方法，應用於一電腦系統1，該電腦系統1包含一電腦裝置2及一儲存裝置3。
電腦裝置2包括一運算單元21及一電連接於運算單元21的控制介面22。本實施例中，電腦裝置2係以一伺服器電腦為例，運算單元21係該伺服器電腦的中央處理器(central processing unit,CPU)，控制介面22係一硬碟陣列控制介面(RAID controller)，但電腦裝置2、運算單元21與控制介面22的實施態樣可視需要而調整，不以上述內容為限。
儲存裝置3包括一第一介面31、一第二介面32及多個(此處以兩個為例)儲存模組33。儲存模組33各具有一第一傳輸埠331、一第二傳輸埠332及一記憶單元333。該儲存裝置3的第一介面31係透過一連接線(圖中未繪製)電連接於電腦裝置2的控制介面22，並分別電連接於該等儲存模組33的第一傳輸埠331，且其第二介面32係透過另一條連接線(圖中未繪製)電連接於電腦裝置2的控制介面22，並分別電連接於該等儲存模組33的第二傳輸埠332。據此，控制介面22可分別透過第一介面31、第一傳輸埠331對記憶單元333進行資料存取，或透過第二介面32、第二傳輸埠332對記憶單元333進行資料存取。
本實施例中，儲存裝置3係一集束磁碟(JBOD)，第一介面31、第二介面32係分別為一串接式小型電腦系統介面擴充器(SAS expander)，儲存模組33係分別為一串接式小型電腦系統介面硬碟(SAS hard disk)，第一傳輸埠331、第二傳輸埠332則分別是串接式小型電腦系統介面硬碟的主傳輸埠(primary port)、次傳輸埠(secondary port)其中之一。但視應用狀況，上述構件可依需要而調整，不以此處揭露的內容為限。
以下參照圖1、圖2，說明本發明提出之儲存裝置3的測試方法。
步驟S1、S2：使用者操作電腦裝置2，讓電腦裝置2的運算單元21發出一第一控制指令至控制介面22。控制介面22依據第一控制指令，令儲存裝置啟動第一介面31對該等儲存模組33的第一傳輸埠331的實體(PHY)鏈結，致能(enable)第一介面31與第一傳輸埠331形成電性連接，而能進行資料傳輸。此外，控制介面22還依據該第一控制指令，令儲存裝置切斷第二介面32對該等儲存模組33的第二傳輸埠332的實體(PHY)鏈結，禁能(disable)第二介面32與第二傳輸埠332之間進行資料傳輸。因此，經過此設定程序後，儲存模組33只能透過其第一傳輸埠331進行資料傳輸。
步驟S3：運算單元21依據使用者的設定，發出一關於效能測試、負載測試或壓力測試等測試方式的第一測試信號。根據測試類型，控制介面22透過儲存裝置3的
第一介面31、該等儲存模組33的第一傳輸埠331，對該等儲存模組33的記憶單元333進行資料存取，例如以100%的資料傳輸率進行完全負載測試，以測得該資料傳輸路徑的性能表現。
步驟S4、S5：完成步驟S1~S3後，繼續進行另一資料傳輸路徑的性能測試。具體來說，電腦裝置2的運算單元21發出一第二控制指令，致能第二介面32與第二傳輸埠332電性連接，並禁能該第一介面31與第一傳輸埠331電性連接。
步驟S6：接著，運算單元21發出一第二測試信號，令該控制介面22透過儲存裝置3的第二介面32、該等儲存模組33的第二傳輸埠332，對該等儲存模組33的記憶單元333進行資料存取，而執行藉由第二介面32、第二傳輸埠332進行的資料傳輸測試。
根據上述步驟，使用者透過電腦裝置2對儲存裝置3發出致能、禁能指令，而能分別就儲存裝置3的兩條資料傳輸路徑進行測試，以測得單一資料傳輸路徑的性能表現。
要特別說明的是，本實施例中，步驟S1~S6雖設定為連續執行，但視需要，也可以僅執行步驟S1~S3或步驟S4~S6，也就是一次只測試一條資料傳輸路徑。
此外，本實施例中，儲存裝置3雖是以「一個」為例進行說明，但本方法也可以用於多個儲存裝置3的測試。具體來說，多個儲存裝置3分別透過其第一介面31、
第二介面32連接於控制介面22，使用者於電腦裝置2完成測試設定後，電腦裝置2可自動執行各個儲存裝置3的性能測試。因此，上述儲存裝置3的數量可視需要而彈性調整，不以特定數量為限。
參閱圖3、圖4，為本發明儲存裝置3的測試方法的第二較佳實施例。該第二較佳實施例中，電腦裝置2是對多個(此處以兩個為例)儲存裝置3進行單一資料傳輸路徑的測試，但與第一較佳實施例的差別在於：每一儲存裝置3還包含一電連接於第一介面31的第一串接埠34，及一電連接於第二介面32的第二串接埠35。第一串接埠34係供另一儲存裝置3的第一介面31電性連接，且第二串接埠35則供另一儲存裝置3的第二介面32電性連接。也就是說，本實施例中該等儲存裝置3係以串接(serial cascade)的方式與電腦裝置2形成電連接。
具體來說，圖3中的一儲存裝置3的第一介面31、第二介面32係分別透過兩條連接線(圖中未繪製)連接於電腦裝置2之控制介面22，且該儲存裝置3之第一串接埠34、第二串接埠35亦分別透過兩條連接線(圖中未繪製)連接於另一儲存裝置3的第一介面31、第二介面32。據此，控制介面22可透過該等串接的儲存裝置3的第一介面31、第一傳輸埠331、第一串接埠34，而從該等儲存模組33的第一傳輸埠331存取記憶單元333中的資料，或是透過第二介面32、第二傳輸埠332、第二串接埠35，而從儲存模組33的第二傳輸埠332存取記憶單元333中的資料。
據此，本發明儲存裝置3的測試方法的第二實施例，由下列步驟執行：
步驟F1、F2：電腦裝置2的運算單元21發出一第一控制指令至其控制介面22，控制介面22令各個儲存裝置3致能(enable)其第一介面31與其儲存模組33的第一傳輸埠331形成電性連接，並禁能(disable)其第二介面32與其儲存模組33的第二傳輸埠332形成電性連接。也就是說，經由此設定步驟後，各個儲存裝置3內的儲存模組33必須藉由其第一傳輸埠331進行資料存取，第二傳輸埠332的資料傳輸功能已被關閉。
步驟F3：電腦裝置2的運算單元21發出第一測試信號後，控制介面22依據該第一測試信號，從各個儲存裝置3的第一介面31、第一傳輸埠331存取資料，且各個儲存裝置3之間由第一串接埠34、第一介面31進行資料傳輸。據此，電腦裝置2可對串接的儲存裝置3進行單一資料傳輸路徑進行性能測試。
步驟F4~F6：此等步驟類似步驟F1~F3，電腦裝置2令各個儲存裝置3開啟第二介面32、第二傳輸埠332之間的連結，並關閉第一介面31、第一傳輸埠331之間的連接後，可就第二介面32、第二傳輸埠332、第二串接埠35所界定的資料傳輸路徑，對各個記憶單元333進行資料存取。
如上述說明，使用者可透過電腦裝置2對多個串接的儲存裝置3進行單一資料傳輸路徑的測試，而達成
本發明的功效。但要特別說明的是，本實施例雖以兩個儲存裝置3為例進行說明，但儲存裝置3的數量可視需要而調整，如多於兩個可再以類似的方式繼續串接與設定。因此上述內容僅用於說明本發明的實施方式，不應以此限制本發明的實施範圍。
綜上所述，透過本發明的兩個較佳實施例，使用者可分別對一個或多個設置態樣不同的儲存裝置3進行測試，以測得單一資料傳輸路徑的性能表現。此外，使用者於電腦裝置2完成組態設定後，電腦裝置2可全自動地對儲存裝置3進行測試流程，而大幅提升測試程序的便利程度。故本發明儲存裝置3的測試方法，確實能達成本發明的目的。
惟以上所述者，僅為本發明之較佳實施例而已，當不能以此限定本發明實施之範圍，即大凡依本發明申請專利範圍及專利說明書內容所作之簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本發明專利涵蓋之範圍內。
S1~S6‧‧‧流程步驟
Claims (7)
- 一種儲存裝置的測試方法，由至少一儲存裝置配合一電腦裝置執行，該儲存裝置包含一第一介面、一第二介面及至少一個儲存模組，該儲存模組包括一電連接於該第一介面的第一傳輸埠、一電連接於該第二介面的第二傳輸埠及一記憶單元，該電腦裝置包含一運算單元及一控制介面，該測試方法包含以下步驟：(A)該電腦裝置的運算單元發出一第一控制指令至該控制介面，該控制介面依據該第一控制指令致能該儲存裝置的第一介面與該儲存模組的第一傳輸埠電性連接，並禁能該儲存裝置的第二介面與該儲存模組的第二傳輸埠電性連接；(B)該運算單元發出一第一測試信號至該控制介面，令該控制介面透過該儲存裝置之第一介面、該儲存模組之第一傳輸埠對該儲存模組之記憶單元進行資料存取；(C)該電腦裝置的運算單元發出一第二控制指令至該控制介面，該控制介面依據該第二控制指令致能該儲存裝置的第二介面與該儲存模組的第二傳輸埠電性連接，並禁能該儲存裝置的第一介面與該儲存模組的第一傳輸埠電性連接；及(D)該運算單元發出一第二測試信號至該控制介面，令該控制介面透過該儲存裝置之第二介面、該儲存模組之第二傳輸埠對該儲存模組之記憶單元進行資料存取 。
- 如請求項1所述之儲存裝置的測試方法，其中，該儲存裝置包含多個儲存模組，各該儲存模組的第一傳輸埠係電連接於該儲存裝置的第一介面，且各該儲存模組的第二傳輸埠係電連接於該儲存裝置的第二介面。
- 如請求項1所述之儲存裝置的測試方法，其中，該第一測試信號、該第二控制指令係關於該儲存裝置之效能測試、負載測試或壓力測試。
- 如請求項1所述之儲存裝置的測試方法，其中，該儲存裝置的數量為多個，且該等儲存裝置的第一介面與一第二介面係分別電連接於該儲存裝置的控制介面。
- 如請求項1所述之儲存裝置的測試方法，其中，該儲存裝置的數量為多個，該等儲存裝置還各包括一電連接於該第一介面的第一串接埠及一電連接於該第二介面的第二串接埠，各該儲存裝置的第一串接埠供另一儲存裝置的第一介面電性連接，且各該儲存裝置的第二串接埠供另一儲存裝置的第二介面電性連接；於步驟(B)該控制介面還透過各該第一串接埠對該等儲存模組之記憶單元進行資料存取；於步驟(D)該控制介面還透過各該第二串接埠對該等儲存模組之記憶單元進行資料存取。
- 如請求項1所述之儲存裝置的測試方法，其中，該控制介面係一硬碟陣列控制介面，該儲存裝置係一集束磁碟，該第一介面與該第二介面分別是一串接式小型電腦系統介面擴充器，該儲存模組係一串接式小型電腦系統介 面硬碟。
- 一種電腦程式產品，由一電腦裝置載入並執行後，可執行請求項1至6中任一項所述的測試方法。
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